JPH0662346U - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プローブパルスの幅に応じて測定区間の帯域
を変更し、光パルス試験器の空間分解能とダイナミック
レンジを向上する。 【構成】 ディジタルアベレージャ５１と表示部６０の
間に、ディジタルアベレージャ５１から出力されるデー
タを、最初のサンプリングポイントから連続したｎ個の
サンプリングポイントまでの平均値を演算し、その平均
値を第ｎ番目のサンプリングポイントの波形データとし
て出力し、その後続けてサンプリングポイントを１個ず
つずらしながら同様にして、ｎ個ずつのデータの移動平
均値をそれぞれ算出してそのデータを各サンプリングポ
イントの波形データとして出力する移動平均処理部５２
を有する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、光ファイバ接続点や破断点等を検出するために、レーザ光等のパル スを出射して光ファイバ内で発生する後方散乱光や反射光の減衰量を測定する光 パルス試験器に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来のこの種の光パルス試験器は、図３に示すように、光源１１およびパルス 幅設定部１２を含む発光部１０と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑音の増 幅部３２からなるＯ／Ｅ変換部と、Ａ／Ｄ変換部４０と、ディジタルアベレージ ャ５１’からなるデータ演算部５０’と、表示部６０と、ＣＰＵ７０およびタイ ミング発生部８０からなり、表示部６０と、測定条件の切替え設定が可能な制御 パネルを含むＣＰＵ７０からなる本体に、光ファイバの種類や測定距離範囲等に 応じて、交換可能なプローブパルスの波長やパルス幅、ダイナミックレンジ等が 固定された複数のプラグインユニットを組合わせて使用されている。

【０００３】 この光パルス試験器の動作は、一般に次の通りである。

【０００４】 光源１１で発生されたレーザ光のプローブパルスは、パルス幅設定部１２によ り定められたパルス幅および周期で光スイッチ２０を経由して測定対象の光ファ イバ９０に繰返し出射される。このプローブパルスの出射光に対する光ファイバ ９０から入射される反射光や後方散乱光は、光スイッチ２０で分岐されて受光部 ３１に導かれる。この入射光は、受光部３１によって同じアナログ波形の電気信 号に変換され、増幅部３２で増幅されてＡ／Ｄ変換部４０に送られる。Ａ／Ｄ変 換部４０は、このアナログ波形の電気信号を設定されたタイミングでサンプリン グしてディジタルデータの電気信号に変換する。

【０００５】 ディジタルアベレージャ５１’は、このディジタルデータの信号を各プローブ パルスに対する同一順位のサンプリングポイントごとにその繰返し数ｍ個ずつ集 計してその平均値を演算し、その平均値のデータを各サンプリングポイントの波 形データとして出力する。

【０００６】 ディジタルアベレージャ５１’から出力されたデータは、対数変換され、表示 部６０のＣＲＴ、記録装置等によって表示または記録される。

【０００７】

【考案が解決しようとする課題】

従来の光パルス試験器は、光ファイバから入射する微弱な反射光、後方散乱光 のＳ／Ｎ比を改善するために、プローブパルスを繰返し光ファイバに出射し、各 プローブパルスに対する反射光等の波形をｍ個ずつ重ね合わせてその平均値を算 出し、この平均値による波形を表示していた。そして、測定対象の区間に応じて プローブパルスの幅や出入パワーのダイナミックレンジを選択して測定精度の向 上を計っていた。

【０００８】 しかし、接続点を含む通常の光ファイバからの反射光のデータは比較的安定し ているが、光ファイバの切断点等の伝搬特性の不連続点や遠距離の測定区間外等 からの反射波形は変動が大きく、図２のＢに示すように、これらの部分からの波 形データが大きく変動したまま残り、また、同一のプローブパルス幅に対して、 測定区間の帯域を高精度で変更できないという欠点があった。

【０００９】 本考案は、このような欠点を解消し、１組の回路でプローブパルスの幅に応じ て測定区間の帯域を変更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上できる光パ ルス試験器を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】

本考案の光パルス試験器は、Ａ／Ｄ変換された電気信号のデータを各プローブ パルスの同一順位のサンプリングポイントごとにプローブパルスの出射繰返し回 数に等しい数ずつ集計してそれぞれの平均値を演算するディジタルアベレージャ と、これらのサンプリングポイントごとの平均値を、最初のサンプリングポイン トから連続するｎ番目まで集計してその平均値を演算し、その結果を第ｎ番目の サンプリングポイントの波形データとして出力し、その後サンプリングポイント を１個ずつ後方に移動しながら同様にしてｎ個ずつの移動平均値を演算してそれ ぞれを第ｎ＋１番目以降のサンプリングポイントの波形データとして出力する移 動平均処理部とを含むデータ演算部を有する。

【００１１】

【作用】

移動平均処理部により、変動の大きい近接サンプリングポイント間のデータの 級間変動が平滑化され、したがって、表示部に表示される波形のノイズによる大 きな変動が減少される。

【００１２】

【実施例】

次に本考案の実施例について図面を参照して説明する。

【００１３】 図１は本考案の光パルス試験器の一実施例の構成を示すブロック図、図２は表 示部の表示例で、Ａは本実施例によるもの、Ｂは従来の表示例によるものである 。

【００１４】 図１において、本実施例の光パルス試験器は、光源１１とパルス幅設定部１２ を有する発光部１０と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑音の増幅部３２か らなるＯ／Ｅ変換部３０と、Ａ／Ｄ変換部４０と、ディジタイルアベレージャ５ １、移動平均処理部５２からなるデータ演算部５０と、表示部６０と、各部の動 作を制御するＣＰＵ７０、タイミング発生部８０とからなり、移動平均処理部５ ２以外の各部は、従来の光パルス試験器と同様の回路を使用することができる。 移動平均処理部５２は、ディジタルアベレージャ５１から出力される入射光の 波形をサンプリングして平均化された各サンプリングポイントごとのディジタル データを、最初のサンプリングポイントに対応するデータから連続してｎ個まで 合計してｎで除して平均値を算出し、その平均値を第ｎ番目のサンプリングポイ ントの波形データとして出力し、その後続けてサンプリングポイントを１個ずつ ずらしながら同様にしてｎ個ずつの移動平均値を演算してそれぞれを第ｎ＋１番 目から後のサンプリングポイントの波形データとして出力するディジタルフィル タである。ｎの値は、ＣＰＵ７０により外部から任意に指定される１以上の正の 整数である。

【００１５】 この移動平均処理部の動作は、ディジタルフィルタの代わりに、ＣＰＵ７０の ソフトウェアにより処理することもできる。

【００１６】

【考案の効果】

本考案の光パルス試験器は、ディジタルアベレージャと表示部との間に移動平 均処理部を設けることにより、変動の大きい近接サンプリングポイント間のデー タの級間変動がｎの平方根に逆比例して平滑化され、したがって、表示部に表示 される波形のノイズによる大きな変動が減少され、従来は２機種、もしくは２系 統の回路が必要であったものが、１機種、１系統の回路によりプローブパルスの 幅に応じて測定区間の帯域を変更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上で きるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の１実施例の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】表示部に表示される波形の例を示す図である。 ［Ａ］本実施例による波形である。 ［Ｂ］従来の装置による波形である。

【図３】従来の光パルス試験器の構成を示すブロック図
である。

【符号の説明】

１０ 発光部 １１ 光源 １２ パルス幅設定部 ２０ 光スイッチ ３０ Ｏ／Ｅ変換部 ３１ 受光部 ３２ 増幅部 ４０ Ａ／Ｄ変換部 ５０，５０’ データ演算部 ５１，５１’ ディジタルアベレージャ ５２ 移動平均処理部 ６０ 表示部 ７０ ＣＰＵ ８０ タイミング発生部 ９０ 光ファイバ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光のプローブパルスを複数回繰返
   して発光する発光部と、発光部で発光され測定対象の光
   ファイバに出射されるプローブパルスと光ファイバから
   の入射光とを分離する光スイッチと、光スイッチで分離
   された入射光をアナログ波形の電気信号に変換するＯ／
   Ｅ変換部と、前記アナログ波形の電気信号をサンプリン
   グしてデジタル形の電気信号のデータに変換するＡ／Ｄ
   変換部と、Ａ／Ｄ変換部で変換された電気信号のデータ
   を演算して波形のデータを生成するデータ演算部と、デ
   ータ演算部で生成された波形のデータを記憶および表示
   する表示部とからなる光パルス試験器において、 前記データ演算部は、Ａ／Ｄ変換部で変換された電気信
   号のデータを、各プローブパルスの同一順位のサンプリ
   ングポイントごとにプローブパルスの出射繰返し回数に
   等しい数ずつ集計してそれぞれの平均値を演算するディ
   ジタルアベレージャと、 前記サンプリングポイントごとの平均値を、最初のサン
   プリングポイントから連続するｎ番目まで集計してその
   平均値を演算し、その結果を第ｎ番目のサンプリングポ
   イントの波形データとして出力し、その後サンプリング
   ポイントを１個ずつ後方に移動しながら、同様にしてｎ
   個ずつの移動平均値を演算してそれぞれを第ｎ＋１番目
   以降のサンプリングポイントの波形データとして出力す
   る移動平均処理部とを含むことを特徴とする光パルス試
   験器。