JP2590190Y2 - 表示パネル検査用テストヘッド - Google Patents
表示パネル検査用テストヘッドInfo
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- JP2590190Y2 JP2590190Y2 JP1992090331U JP9033192U JP2590190Y2 JP 2590190 Y2 JP2590190 Y2 JP 2590190Y2 JP 1992090331 U JP1992090331 U JP 1992090331U JP 9033192 U JP9033192 U JP 9033192U JP 2590190 Y2 JP2590190 Y2 JP 2590190Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、液晶パネル等の表示パ
ネルに信号を流して正常に点灯発光するか否かを検査す
る点灯検査に用いる表示パネル検査用テストヘッドに関
するものである。
ネルに信号を流して正常に点灯発光するか否かを検査す
る点灯検査に用いる表示パネル検査用テストヘッドに関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、表示パネルとしてＬＣＤ（液晶デ
ィスプレイ）パネルやＬＥＤ（発光ダイオードディスプ
レイ）パネルや蛍光表示パネルおよびＰＤＰ（プラズマ
ディスプレイパネル）等が汎用されている。そして、こ
れらの表示パネルの製造過程において、正常に点灯発光
するか否かを検査しなければならない。
ィスプレイ）パネルやＬＥＤ（発光ダイオードディスプ
レイ）パネルや蛍光表示パネルおよびＰＤＰ（プラズマ
ディスプレイパネル）等が汎用されている。そして、こ
れらの表示パネルの製造過程において、正常に点灯発光
するか否かを検査しなければならない。
【０００３】図４は、表示パネルとしてのＬＣＤパネル
の点灯検査装置の従来例の概略構成平面図である。ＬＣ
Ｄパネル１０に引き出された駆動電極群１２，１２…に
対して、駆動制御用ＩＣ１４，１４…がそれぞれに搭載
された駆動制御用基板（ＴＡＢと通称される）１６，１
６…が直付けでそれぞれに接続固定される。そして、こ
れらの駆動制御用基板１６，１６…に、ＬＣＤパネル１
０を点灯駆動させるためのドライバー１８，１８…が接
続され、ドライバー１８，１８…からの信号に応じて駆
動制御用基板１６，１６…からＬＣＤパネル１０に適宜
な信号が実際に流されて点灯検査がなされる。
の点灯検査装置の従来例の概略構成平面図である。ＬＣ
Ｄパネル１０に引き出された駆動電極群１２，１２…に
対して、駆動制御用ＩＣ１４，１４…がそれぞれに搭載
された駆動制御用基板（ＴＡＢと通称される）１６，１
６…が直付けでそれぞれに接続固定される。そして、こ
れらの駆動制御用基板１６，１６…に、ＬＣＤパネル１
０を点灯駆動させるためのドライバー１８，１８…が接
続され、ドライバー１８，１８…からの信号に応じて駆
動制御用基板１６，１６…からＬＣＤパネル１０に適宜
な信号が実際に流されて点灯検査がなされる。
【０００４】この図４に示す点灯検査装置にあっては、
ＬＣＤパネル１０が実際に製品等に組み込まれて駆動さ
れるのに最も近い状況で検査することができる点で優れ
ている。しかるに、検査する時点で、ＬＣＤパネル１０
に駆動制御用基板１６，１６…が直付けで接続固定され
ているために、ＬＣＤパネル１０の品質に問題があれ
ば、駆動制御用ＩＣ１４，１４…を搭載した駆動制御用
基板１６，１６…もともに不良品として処分されること
となり、不経済であるという不具合があった。
ＬＣＤパネル１０が実際に製品等に組み込まれて駆動さ
れるのに最も近い状況で検査することができる点で優れ
ている。しかるに、検査する時点で、ＬＣＤパネル１０
に駆動制御用基板１６，１６…が直付けで接続固定され
ているために、ＬＣＤパネル１０の品質に問題があれ
ば、駆動制御用ＩＣ１４，１４…を搭載した駆動制御用
基板１６，１６…もともに不良品として処分されること
となり、不経済であるという不具合があった。
【０００５】そこで、ＬＣＤパネル１０の品質に問題が
あっても、駆動制御用ＩＣ１４，１４…まで不良品とし
て処分する必要がない点灯検査装置として、図５および
図６に示す点灯検査装置が提案されている。
あっても、駆動制御用ＩＣ１４，１４…まで不良品とし
て処分する必要がない点灯検査装置として、図５および
図６に示す点灯検査装置が提案されている。
【０００６】図５に示す点灯検査装置は、ＬＣＤパネル
１０の駆動電極群１２，１２…に導電ゴム２０の一端面
を当接させ、この導電ゴム２０の他端面に変換基板２２
を当接させ、この変換基板２２が駆動制御用ＩＣ１４，
１４…を搭載したドライバー２４にフラットリボンケー
ブル２６等を介して配線接続される。ドライバー２４か
らＬＣＤパネル１０の駆動電極群１２，１２…へ直に駆
動用の信号が与えられる。
１０の駆動電極群１２，１２…に導電ゴム２０の一端面
を当接させ、この導電ゴム２０の他端面に変換基板２２
を当接させ、この変換基板２２が駆動制御用ＩＣ１４，
１４…を搭載したドライバー２４にフラットリボンケー
ブル２６等を介して配線接続される。ドライバー２４か
らＬＣＤパネル１０の駆動電極群１２，１２…へ直に駆
動用の信号が与えられる。
【０００７】また、図６に示す点灯検査装置は、ＬＣＤ
パネル１０の駆動電極群１２，１２…にプローブカード
（プローバと称される）２８に設けられたプローブ針３
０，３０…が当接される。このプローブカード２８が、
フラットリボンケーブル２６を介してドライバー２４に
配線接続される。
パネル１０の駆動電極群１２，１２…にプローブカード
（プローバと称される）２８に設けられたプローブ針３
０，３０…が当接される。このプローブカード２８が、
フラットリボンケーブル２６を介してドライバー２４に
配線接続される。
【０００８】
【考案が解決しようとする課題】図５および図６を参照
して説明した従来装置例にあっては、ＬＣＤパネル１０
が不良であれば、それ自体を処分すれば良く、駆動制御
用ＩＣ１４，１４…等までも処分する必要がなく、経済
的である。
して説明した従来装置例にあっては、ＬＣＤパネル１０
が不良であれば、それ自体を処分すれば良く、駆動制御
用ＩＣ１４，１４…等までも処分する必要がなく、経済
的である。
【０００９】しかるに、図５に示す点灯検査装置にあっ
ては、導電ゴム２０をＬＣＤパネル１０に当接させるた
めに、導電ゴム２０の汚れがＬＣＤパネル１０に付着し
易いという不具合がある。さらに、導電ゴム２０の抵抗
成分およびフラットリボンケーブル２４の抵抗成分とイ
ンダクタンス成分等により、ＬＣＤパネル１０には実際
の駆動状況とは異なる信号が与えられ、正確な点灯検査
を行なうことができないという不具合がある。
ては、導電ゴム２０をＬＣＤパネル１０に当接させるた
めに、導電ゴム２０の汚れがＬＣＤパネル１０に付着し
易いという不具合がある。さらに、導電ゴム２０の抵抗
成分およびフラットリボンケーブル２４の抵抗成分とイ
ンダクタンス成分等により、ＬＣＤパネル１０には実際
の駆動状況とは異なる信号が与えられ、正確な点灯検査
を行なうことができないという不具合がある。
【００１０】また、図６に示す点灯検査装置にあって
は、プローブ針３０が、ＬＣＤパネル１０への当接側よ
りプローブカード２８側が扇状に開いており、ＬＣＤパ
ネル１０の駆動電極群１２，１２…の全ての電極に同時
に当接することができず、駆動電極群１２，１２…を区
画してその各区画された電極毎に点灯検査することとな
り、ＬＣＤパネル１０全体の色むら等の検査ができない
という不具合がある。
は、プローブ針３０が、ＬＣＤパネル１０への当接側よ
りプローブカード２８側が扇状に開いており、ＬＣＤパ
ネル１０の駆動電極群１２，１２…の全ての電極に同時
に当接することができず、駆動電極群１２，１２…を区
画してその各区画された電極毎に点灯検査することとな
り、ＬＣＤパネル１０全体の色むら等の検査ができない
という不具合がある。
【００１１】本考案は、上述のごとき従来の検査装置の
事情に鑑みてなされたもので、検査で表示パネルを汚染
することなしに、表示パネルを実際の駆動状態に近い状
況で点灯検査できるとともに、表示パネルが不良であっ
ても駆動制御用ＩＣ等までも処分しなくても良い表示パ
ネル検査用テストヘッドを提供することを目的とする。
事情に鑑みてなされたもので、検査で表示パネルを汚染
することなしに、表示パネルを実際の駆動状態に近い状
況で点灯検査できるとともに、表示パネルが不良であっ
ても駆動制御用ＩＣ等までも処分しなくても良い表示パ
ネル検査用テストヘッドを提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本考案の表示パネル検査用テストヘッドは、絶縁
材からなるヘッド本体に、両端に軸方向に摺動自在で突
出方向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプラン
ジャーを有するプローブをその一端のプランジャーが被
検査のための表示パネルに引き出された駆動電極群に当
接し得るように多数配列するとともに、これらのプロー
ブの他端のプランジャーに電極群を当接させて駆動制御
用ＩＣを搭載した駆動制御用基板を配設し、この駆動制
御用基板に設けられた配線用電極群を介して前記表示パ
ネルを点灯駆動させるためのドライバーと配線接続し、
前記表示パネルに当接する前記プランジャーの前記プロ
ーブから突出した部分の中間部に鍔部を設け、前記ヘッ
ド本体に、前記プランジャーの先端部を前記鍔部の外径
より小さい径のガイド孔によりガイドするとともに前記
鍔部を包囲する空間部を有するガイド部材を配設して構
成されている。
めに、本考案の表示パネル検査用テストヘッドは、絶縁
材からなるヘッド本体に、両端に軸方向に摺動自在で突
出方向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプラン
ジャーを有するプローブをその一端のプランジャーが被
検査のための表示パネルに引き出された駆動電極群に当
接し得るように多数配列するとともに、これらのプロー
ブの他端のプランジャーに電極群を当接させて駆動制御
用ＩＣを搭載した駆動制御用基板を配設し、この駆動制
御用基板に設けられた配線用電極群を介して前記表示パ
ネルを点灯駆動させるためのドライバーと配線接続し、
前記表示パネルに当接する前記プランジャーの前記プロ
ーブから突出した部分の中間部に鍔部を設け、前記ヘッ
ド本体に、前記プランジャーの先端部を前記鍔部の外径
より小さい径のガイド孔によりガイドするとともに前記
鍔部を包囲する空間部を有するガイド部材を配設して構
成されている。
【００１３】そして、前記ガイド部材の空間部に、この
空間部内の異物を吸い出すための吸引孔を連通して構成
することもできる。
空間部内の異物を吸い出すための吸引孔を連通して構成
することもできる。
【００１４】
【作 用】ヘッド本体に多数配列されたプローブによ
り、表示パネルの駆動電極群と駆動制御用ＩＣを搭載し
た駆動制御用基板の電極群を電気的接続させることで、
表示パネルを実際の駆動状態に極めて近い状況で点灯検
査し得る。そして、表示パネルが不良であれば、それだ
けを処分すれば良い。また、軸方向に摺動自在で突出方
向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプランジャ
ーのプローブから突出した部分の中間部に鍔部を設ける
ので、プローブ内でプランジャーが摺動することにより
生ずる金属摩耗粉がプローブより落下しても、鍔部によ
り直下に落下することが防げられる。さらに、ガイド部
材のガイド孔の径をこの鍔部の外径より小さく設定する
ので、金属摩耗粉が鍔部から落下しても、鍔部のほぼ外
径より内側には落下することがなく、ガイド孔を介して
表示パネル上に落下してこれを汚染することがない。し
かも、鍔部を包囲する空間部により、鍔部上の金属摩耗
粉が風などで落下することもない。
り、表示パネルの駆動電極群と駆動制御用ＩＣを搭載し
た駆動制御用基板の電極群を電気的接続させることで、
表示パネルを実際の駆動状態に極めて近い状況で点灯検
査し得る。そして、表示パネルが不良であれば、それだ
けを処分すれば良い。また、軸方向に摺動自在で突出方
向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプランジャ
ーのプローブから突出した部分の中間部に鍔部を設ける
ので、プローブ内でプランジャーが摺動することにより
生ずる金属摩耗粉がプローブより落下しても、鍔部によ
り直下に落下することが防げられる。さらに、ガイド部
材のガイド孔の径をこの鍔部の外径より小さく設定する
ので、金属摩耗粉が鍔部から落下しても、鍔部のほぼ外
径より内側には落下することがなく、ガイド孔を介して
表示パネル上に落下してこれを汚染することがない。し
かも、鍔部を包囲する空間部により、鍔部上の金属摩耗
粉が風などで落下することもない。
【００１５】そして、ガイド部材の空間部に吸引孔を連
通するならば、プランジャーで生じた金属摩耗粉を吸引
排出させて空間部内を清浄にするならば、表示パネルの
汚染を確実に防止し得る。
通するならば、プランジャーで生じた金属摩耗粉を吸引
排出させて空間部内を清浄にするならば、表示パネルの
汚染を確実に防止し得る。
【００１６】
【実施例】以下、本考案の一実施例を、図１ないし図３
を参照して説明する。図１は、表示パネルの駆動電極群
毎の本考案の表示パネル検査用テストヘッドの一実施例
の要部平面図であり、図２は、図１の側面図であり、図
３は、図１の縦断面拡大図である。
を参照して説明する。図１は、表示パネルの駆動電極群
毎の本考案の表示パネル検査用テストヘッドの一実施例
の要部平面図であり、図２は、図１の側面図であり、図
３は、図１の縦断面拡大図である。
【００１７】図１ないし図３において、絶縁材からなる
ヘッド本体４０には、両端に軸方向に摺動自在で突出方
向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプランジャ
ー４２，４２…，４４，４４…をそれぞれ有するプロー
ブ４６，４６…が、ＬＣＤパネル１０に対して垂直方向
でしかも駆動電極群１２，１２…にその一端が当接でき
るように多数配列される。
ヘッド本体４０には、両端に軸方向に摺動自在で突出方
向に弾性付勢されるとともに抜け止めされたプランジャ
ー４２，４２…，４４，４４…をそれぞれ有するプロー
ブ４６，４６…が、ＬＣＤパネル１０に対して垂直方向
でしかも駆動電極群１２，１２…にその一端が当接でき
るように多数配列される。
【００１８】ＬＣＤパネル１０に当接する一方のプラン
ジャー４２，４２…のプローブ４６、４６…から突出し
た部分の中間部には、鍔部４８，４８…が設けられてい
る。そして、ヘッド本体４０のＬＣＤパネル１０側の面
には、絶縁材からなるガイド部材５０が配設され、この
ガイド部材５０にプランジャー４２，４２…の鍔部４
８，４８…およびこの鍔部４８、４８…よりも基部側を
包囲する空間部５２が設けられるとともに、この空間部
５２の底部にプランジャー４２，４２…の先端部が挿入
されてガイドとして作用するガイド孔５４，５４…が穿
設される。このガイド孔５４，５４…の径は、鍔部４
８，４８…の外径より小さく穿設される。また、空間部
５２は、ガイド孔５４，５４…を除いて気密構造に形成
されるが、この空間部５２に外部と連通した吸引孔５６
が設けられ、ゴムホース等を介して真空源（図示せず）
に接続される。
ジャー４２，４２…のプローブ４６、４６…から突出し
た部分の中間部には、鍔部４８，４８…が設けられてい
る。そして、ヘッド本体４０のＬＣＤパネル１０側の面
には、絶縁材からなるガイド部材５０が配設され、この
ガイド部材５０にプランジャー４２，４２…の鍔部４
８，４８…およびこの鍔部４８、４８…よりも基部側を
包囲する空間部５２が設けられるとともに、この空間部
５２の底部にプランジャー４２，４２…の先端部が挿入
されてガイドとして作用するガイド孔５４，５４…が穿
設される。このガイド孔５４，５４…の径は、鍔部４
８，４８…の外径より小さく穿設される。また、空間部
５２は、ガイド孔５４，５４…を除いて気密構造に形成
されるが、この空間部５２に外部と連通した吸引孔５６
が設けられ、ゴムホース等を介して真空源（図示せず）
に接続される。
【００１９】また、ヘッド本体４０のＬＣＤパネル１０
と反対側の面には、基板配設用補助部材５８が固定配設
される。この基板配設用補助部材５８に、他方のプラン
ジャー４４，４４…に電極群が当接するように駆動制御
用基板６０が配設される。この駆動制御用基板６０上に
駆動制御用ＩＣ６２が搭載される。
と反対側の面には、基板配設用補助部材５８が固定配設
される。この基板配設用補助部材５８に、他方のプラン
ジャー４４，４４…に電極群が当接するように駆動制御
用基板６０が配設される。この駆動制御用基板６０上に
駆動制御用ＩＣ６２が搭載される。
【００２０】さらに、駆動制御用基板６０に設けられた
配線用電極群６４が、フラットリボンケーブル（図示せ
ず）を介してドライバー（図示せず）に配線接続され
る。
配線用電極群６４が、フラットリボンケーブル（図示せ
ず）を介してドライバー（図示せず）に配線接続され
る。
【００２１】しかも、ヘッド本体５０とプローブ４６，
４６…とガイド部材５０と基板配設用補助部材５８と駆
動制御用基板６０および駆動制御用ＩＣ６２からなる本
考案の表示パネル検査用テストヘッドが、上下に駆動さ
れるアーム７０に固定され、アーム７０の下動によりＬ
ＣＤパネル１０にプローブ４６，４６…が当接し、アー
ム７０の上動によりＬＣＤパネル１０から分離される。
４６…とガイド部材５０と基板配設用補助部材５８と駆
動制御用基板６０および駆動制御用ＩＣ６２からなる本
考案の表示パネル検査用テストヘッドが、上下に駆動さ
れるアーム７０に固定され、アーム７０の下動によりＬ
ＣＤパネル１０にプローブ４６，４６…が当接し、アー
ム７０の上動によりＬＣＤパネル１０から分離される。
【００２２】そして、上述の本考案の表示パネル検査用
テストヘッドが、ＬＣＤパネル１０の駆動電極群１２，
１２…毎に設けられ、ＬＣＤパネル１０に対して、アー
ム７０により同時に当接および分離が適宜になされる。
テストヘッドが、ＬＣＤパネル１０の駆動電極群１２，
１２…毎に設けられ、ＬＣＤパネル１０に対して、アー
ム７０により同時に当接および分離が適宜になされる。
【００２３】かかる構成において、アーム７０が下動し
てＬＣＤパネル１０にプローブ４６，４６…が当接した
状態で、ドライバーからの信号に応じて駆動制御用ＩＣ
６２の動作により駆動制御用基板６０からプローブ４
６，４６…を介してＬＣＤパネル１０に適宜な信号が実
際に流されて点灯検査がなされる。
てＬＣＤパネル１０にプローブ４６，４６…が当接した
状態で、ドライバーからの信号に応じて駆動制御用ＩＣ
６２の動作により駆動制御用基板６０からプローブ４
６，４６…を介してＬＣＤパネル１０に適宜な信号が実
際に流されて点灯検査がなされる。
【００２４】ここで、プローブ４６，４６…の抵抗成分
が極めて小さいことから、この点灯検査は、ＬＣＤパネ
ル１０の駆動電極群１２，１２…に駆動制御用基板６
０，６０…が直付けで接続固定されて実際に製品に組み
込まれて駆動されるのに極めて近い状況で検査すること
ができる。しかも、万一にＬＣＤパネル１０が不良であ
っても、駆動制御用基板６０，６０…等が無駄となるこ
とがなく、経済的である。
が極めて小さいことから、この点灯検査は、ＬＣＤパネ
ル１０の駆動電極群１２，１２…に駆動制御用基板６
０，６０…が直付けで接続固定されて実際に製品に組み
込まれて駆動されるのに極めて近い状況で検査すること
ができる。しかも、万一にＬＣＤパネル１０が不良であ
っても、駆動制御用基板６０，６０…等が無駄となるこ
とがなく、経済的である。
【００２５】また、プランジャー４２，４２…，４４，
４４…の摺動によりプローブ４６，４６…から金属摩耗
粉等が生じても、鍔部４８，４８…によりそのまま直下
に落下することがなく、すくなくとも鍔部４８，４８…
のほぼ外径より内側には落下しない。そして、鍔部４
８，４８…のほぼ外径で空間部５２の底部に落下して
も、これより小径のガイド孔５４，５４…を介してＬＣ
Ｄパネル１０上に落下することがない。しかも、鍔部４
８，４８…は空間部５２で包囲されるので、鍔部４８，
４８…上の金属摩耗粉が風などのより落下することもな
い。さらに、空間部５２を吸引孔５６を介して定期的に
または常時吸引するならば、金属摩耗粉等の異物が空間
部５２から吸引排出され、空間部５２が清浄に維持され
る。そこで、金属摩耗粉がＬＣＤパネル１０上に落下し
てこれを汚染して不良品となるのを確実に防止できる。
しかも、プランジャー４２，４２…の当接によって、Ｌ
ＣＤパネル１０が汚染されることもない。
４４…の摺動によりプローブ４６，４６…から金属摩耗
粉等が生じても、鍔部４８，４８…によりそのまま直下
に落下することがなく、すくなくとも鍔部４８，４８…
のほぼ外径より内側には落下しない。そして、鍔部４
８，４８…のほぼ外径で空間部５２の底部に落下して
も、これより小径のガイド孔５４，５４…を介してＬＣ
Ｄパネル１０上に落下することがない。しかも、鍔部４
８，４８…は空間部５２で包囲されるので、鍔部４８，
４８…上の金属摩耗粉が風などのより落下することもな
い。さらに、空間部５２を吸引孔５６を介して定期的に
または常時吸引するならば、金属摩耗粉等の異物が空間
部５２から吸引排出され、空間部５２が清浄に維持され
る。そこで、金属摩耗粉がＬＣＤパネル１０上に落下し
てこれを汚染して不良品となるのを確実に防止できる。
しかも、プランジャー４２，４２…の当接によって、Ｌ
ＣＤパネル１０が汚染されることもない。
【００２６】なお、上記実施例にあっては、表示パネル
としてＬＣＤパネル１０により説明したが、これに限ら
れず、他のＬＥＤパネル等に適用しても良いことは勿論
である。また、上記実施例にあっては、本考案の表示パ
ネル検査用テストヘッドが表示パネルの駆動電極群毎に
構成されているが、複数の駆動電極群を１つのテストヘ
ッドに配列されたプローブで当接するようにしても良
い。
としてＬＣＤパネル１０により説明したが、これに限ら
れず、他のＬＥＤパネル等に適用しても良いことは勿論
である。また、上記実施例にあっては、本考案の表示パ
ネル検査用テストヘッドが表示パネルの駆動電極群毎に
構成されているが、複数の駆動電極群を１つのテストヘ
ッドに配列されたプローブで当接するようにしても良
い。
【００２７】
【考案の効果】以上説明したように、本考案の表示パネ
ル検査用テストヘッドは構成されているので、以下のご
とき格別な効果を奏する。
ル検査用テストヘッドは構成されているので、以下のご
とき格別な効果を奏する。
【００２８】請求項１記載の表示パネル検査用テストヘ
ッドにあっては、プローブを介して表示パネルと駆動制
御用ＩＣを搭載した駆動制御用基板が電気的接続される
ので、実際の駆動状態に極めて近い状況で点灯検査がで
き、検査の精度が優れている。そして、万一に表示パネ
ルが不良であっても、表示パネルだけを処分すれば良
く、経済的に点灯検査を行なうことができる。また、軸
方向に摺動自在で突出方向に弾性付勢されるとともに抜
け止めされたプランジャーの摺動によりプローブ内で金
属摩耗粉が生じ、この金属摩耗粉がプローブから落下し
ても、鍔部により直下に落下することがない。そして、
この鍔部上の金属摩耗粉が落下してもほぼその外径寸法
の径で落下してそれより内側には落下しないので、ガイ
ド孔の径を鍔部の外径より小さく設定することで、ガイ
ド孔を介して金属摩耗粉が表示パネル上に落下する虞が
ない。そこで、表示パネルの汚染を確実に防止できる。
ッドにあっては、プローブを介して表示パネルと駆動制
御用ＩＣを搭載した駆動制御用基板が電気的接続される
ので、実際の駆動状態に極めて近い状況で点灯検査がで
き、検査の精度が優れている。そして、万一に表示パネ
ルが不良であっても、表示パネルだけを処分すれば良
く、経済的に点灯検査を行なうことができる。また、軸
方向に摺動自在で突出方向に弾性付勢されるとともに抜
け止めされたプランジャーの摺動によりプローブ内で金
属摩耗粉が生じ、この金属摩耗粉がプローブから落下し
ても、鍔部により直下に落下することがない。そして、
この鍔部上の金属摩耗粉が落下してもほぼその外径寸法
の径で落下してそれより内側には落下しないので、ガイ
ド孔の径を鍔部の外径より小さく設定することで、ガイ
ド孔を介して金属摩耗粉が表示パネル上に落下する虞が
ない。そこで、表示パネルの汚染を確実に防止できる。
【００２９】そして、請求項２記載の表示パネル検査用
テストヘッドにあっては、金属摩耗粉を空間部より吸引
排出できるので、表示パネル上に落下する異物がなく、
確実に汚染を防止できる。
テストヘッドにあっては、金属摩耗粉を空間部より吸引
排出できるので、表示パネル上に落下する異物がなく、
確実に汚染を防止できる。
【図１】表示パネルの駆動電極群毎の本考案の表示パネ
ル検査用テストヘッドの一実施例の要部平面図である。
ル検査用テストヘッドの一実施例の要部平面図である。
【図２】図１の側面図である。
【図３】図１の縦断面拡大図である。
【図４】ＬＣＤパネルの従来の点灯検査装置の概略構成
平面図である。
平面図である。
【図５】導電ゴムを用いた従来の点灯検査装置の概略構
成側面図である。
成側面図である。
【図６】プローブカードを用いた従来の点灯検査装置の
概略構成平面図である。
概略構成平面図である。
１０ ＬＣＤパネル １２ 駆動電極群 ４０ ヘッド本体 ４２，４４ プランジャー ４６ プローブ ４８ 鍔部 ５０ ガイド部材 ５２ 空間部 ５４ ガイド孔 ５６ 吸引孔 ６０ 駆動制御用基板 ６２ 駆動制御用ＩＣ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 1/067 G02F 1/13 101 H01R 23/68
Claims (2)
- 【請求項１】 絶縁材からなるヘッド本体に、両端に軸
方向に摺動自在で突出方向に弾性付勢されるとともに抜
け止めされたプランジャーを有するプローブをその一端
のプランジャーが被検査のための表示パネルに引き出さ
れた駆動電極群に当接し得るように多数配列するととも
に、これらのプローブの他端のプランジャーに電極群を
当接させて駆動制御用ＩＣを搭載した駆動制御用基板を
配設し、この駆動制御用基板に設けられた配線用電極群
を介して前記表示パネルを点灯駆動させるためのドライ
バーと配線接続し、前記表示パネルに当接する前記プラ
ンジャーの前記プローブから突出した部分の中間部に鍔
部を設け、前記ヘッド本体に、前記プランジャーの先端
部を前記鍔部の外径より小さい径のガイド孔によりガイ
ドするとともに前記鍔部を包囲する空間部を有するガイ
ド部材を配設して構成したことを特徴とする表示パネル
検査用テストヘッド。 - 【請求項２】 請求項１記載の表示パネル検査用テスト
ヘッドにおいて、前記ガイド部材の空間部に、この空間
部内の異物を吸い出すための吸引孔を連通して構成した
ことを特徴とする表示パネル検査用テストヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992090331U JP2590190Y2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | 表示パネル検査用テストヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992090331U JP2590190Y2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | 表示パネル検査用テストヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0647875U JPH0647875U (ja) | 1994-06-28 |
| JP2590190Y2 true JP2590190Y2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=13995542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992090331U Expired - Lifetime JP2590190Y2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | 表示パネル検査用テストヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2590190Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02304369A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Seiko Epson Corp | 液晶パネル表示検査用プローブ |
| EP0462706A1 (en) * | 1990-06-11 | 1991-12-27 | ITT INDUSTRIES, INC. (a Delaware corporation) | Contact assembly |
-
1992
- 1992-12-09 JP JP1992090331U patent/JP2590190Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0647875U (ja) | 1994-06-28 |
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