CN111897147B - 一种压接机构及检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及显示面板检测技术领域,公开一种压接机构及检测设备。该压接机构包括支撑框架、承载组件和多个压接组件,支撑框架的上表面承载有PCB板,多个压接组件间隔设置于支撑框架上,压接组件的一端能够抵接于PCB板,承载组件上承载有待检测工件,承载组件设置于支撑框架的下方,承载组件能够沿竖直方向运动以靠近支撑框架,从而使压接组件的另一端抵接于待检测工件。本发明提供的压接机构,通过在支撑框架上间隔设置多个压接组件,当其中一个或者几个压接组件发生损坏时,可以单独拆卸并进行维修,方便快捷,且能够防止在维修过程中损坏其他未发生故障的压接组件,维修成本较低。
Description
技术领域
本发明涉及显示面板检测技术领域,尤其涉及一种压接机构及检测设备。
背景技术
显示面板即液晶屏幕,在很大程度上决定液晶显示器的亮度、对比度、色彩和可视角度,其质量的好坏不仅关系到液晶显示器自身的质量、价格和市场走向,还关系到整个产品的功能参数、显示效果和使用寿命等。
在生产的各个环节中,显示面板都有可能出现生产不良导致产品不合格,因此,在生产过程中对显示面板进行严格的检测就显得极为重要。对显示面板的检测通常采用自动光学检测设备来分析待测显示面板的图像与标准图像是否一致。现有的检测设备的压接机构通常包括固定支架和可升降地设置于固定支架上的压接组件,通过压接组件沿竖直方向的运动,以使压接组件抵接于显示面板并对其进行检测。但是,现有的压接组件通常是一个整体结构,在对压接组件的探针进行维修时,需要将压接组件整体拆卸,而在拆卸过程中,容易损坏其他未发生损坏的探针,从而造成维修成本的增加。
发明内容
基于以上所述,本发明的目的在于提供一种压接机构及检测设备,能够单独对发生损坏的压接组件进行拆卸并维修,方便快捷,维修成本较低。
为达上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种压接机构,包括:
支撑框架,所述支撑框架的上表面承载有PCB板;
多个压接组件,多个所述压接组件间隔设置于所述支撑框架上,所述压接组件的一端能够抵接于所述PCB板;
承载组件,其上承载有待检测工件,所述承载组件设置于所述支撑框架的下方,所述承载组件能够沿竖直方向运动以靠近所述支撑框架,从而使所述压接组件的另一端抵接于所述待检测工件。
作为一种压接机构的优选方案,每个所述压接组件均包括:
压接固定部,其设置于所述支撑框架上;
检测部,所述检测部包括检测固定杆和两个检测件,所述检测固定杆设置于所述压接固定部上,两个所述检测件分别设置于所述检测固定杆的两端,并能够分别抵接于所述PCB板和所述待检测工件。
作为一种压接机构的优选方案,在所述检测固定杆和所述检测件之间设置有缓冲件。
作为一种压接机构的优选方案,每个所述压接固定部上均设置有多个所述检测部。
作为一种压接机构的优选方案,所述压接固定部可拆卸连接于所述支撑框架。
作为一种压接机构的优选方案,所述压接固定部上设置有第一定位孔,所述支撑框架上设置有与所述第一定位孔对应的第二定位孔,定位销依次穿设于所述第一定位孔和所述第二定位孔内。
作为一种压接机构的优选方案,所述压接机构还包括接地组件,所述接地组件设置于所述支撑框架上,所述接地组件能够与大地相连接。
作为一种压接机构的优选方案,所述接地组件包括接地固定部和导电件,所述接地固定部设置于所述支撑框架上,所述导电件设置于所述接地固定部上。
为达上述目的,本发明还提供一种检测设备,包括如以上任一方案所述的压接机构。
作为一种检测设备的优选方案,所述检测设备还包括PC控制器和连接组件,所述PCB板通过所述连接组件电连接于所述PC控制器。
本发明的有益效果为:
本发明提供一种压接机构,包括支撑框架、承载组件和多个压接组件,通过设置承载组件,用于承载待检测工件;支撑框架用于承载PCB板和压接组件,支撑框架起到了整体支撑的作用;通过设置压接组件,压接组件的两端能够分别抵接于PCB板和待检测工件,以实现对待检测工件的精确检测;通过在支撑框架上间隔设置多个压接组件,当其中一个或者几个压接组件发生损坏时,可以单独拆卸并进行维修,方便快捷,且能够防止在维修过程中损坏其他未发生故障的压接组件,维修成本较低。此外,承载组件能够沿竖直方向运动以靠近支撑框架,从而使压接组件抵接于待检测工件,相较于现有技术中通过压接组件的移动来使压接组件与待检测工件相抵接的方式,本发明提供的压接机构可以防止压接组件在运动过程中与其他结构发生碰撞造成压接组件发生损坏的情况。
本发明提供一种检测设备,该检测设备包括上述压接机构,通过设置上述压接机构,可以实现对待检测工件的检测,且方便对压接组件的维修,维修成本较低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的压接机构在一个视角下的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的压接机构在另一个视角下的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的压接机构的压接组件在一个视角下的结构示意图;
图4是本发明实施例提供的压接机构的压接组件在另一个视角下的结构示意图;
图5是本发明实施例提供的压接机构的检测部的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的压接机构的压接固定部的结构示意图;
图7是本发明实施例提供的压接机构的接地组件的结构示意图。
图中:
100-待检测工件;
1-支撑框架;11-第一支架;12-第二支架;
2-压接组件;21-压接固定部;211-连接板;2111-第一定位孔;2112-第一连接孔;2113-第一避让槽;212-中间板;2121-中间避让槽;213-顶板;2131-第二避让槽;22-检测部;221-检测固定杆;222-检测件;
3-接地组件;31-接地固定部;32-导电件;
4-连接组件;41-连接接头;42-转接板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
在本发明的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本实施例的描述中,术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述和简化操作,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分,并没有特殊的含义。
如图1-图2所示,本实施例提供一种压接机构,该压接机构包括支撑框架1、承载组件和多个压接组件2,其中,支撑框架1的上表面承载有PCB板,多个压接组件2间隔设置于支撑框架1上,压接组件2的一端能够抵接于PCB板,承载组件上承载有待检测工件100,承载组件设置于支撑框架1的下方,承载组件能够沿竖直方向运动以靠近支撑框架1,从而使压接组件2的另一端能够抵接于待检测工件100。在本实施例中,待检测工件100主要是指显示面板。
本实施例提供的压接机构,通过设置承载组件,用于承载待检测工件100;支撑框架1用于承载PCB板和压接组件2,支撑框架1起到了整体支撑的作用;通过设置压接组件2,压接组件2的两端能够分别抵接于PCB板和待检测工件100,以实现对待检测工件100的精确检测;通过在支撑框架1上间隔设置多个压接组件2,当其中一个或者几个压接组件2发生损坏时,可以单独拆卸并进行维修,方便快捷,且能够防止在维修过程中损坏其他未发生故障的压接组件2,维修成本较低。此外,承载组件能够沿竖直方向运动以靠近支撑框架1,从而使压接组件2抵接于待检测工件100,相较于现有技术中通过压接组件2的移动来使压接组件2与待检测工件100相抵接的方式,本实施例提供的压接机构可以防止压接组件2在运动过程中与其他结构发生碰撞造成压接组件2发生损坏的情况。
进一步地,如图3-图5所示,每个压接组件2均包括压接固定部21和检测部22,压接固定部21设置于支撑框架1上,检测部22包括检测固定杆221和两个检测件222,检测固定杆221设置于压接固定部21上,两个检测件222分别设置于检测固定杆221的两端,并能够分别抵接于PCB板和待检测工件100。在本实施例中,待检测工件100包括玻璃组件,在玻璃组件上设置有多个信号点,检测固定杆221上靠近待检测工件100一端的检测件222能够与信号点相抵接并电连接。
进一步地,在检测固定杆221和检测件222之间设置有缓冲件。通过设置缓冲件,可以在承载组件带动待检测工件100向靠近支撑框架1的方向运动时提供缓冲,避免待检测工件100与检测件222之间发生刚性碰撞导致待检测工件100的信号点发生损坏。优选地,缓冲件为弹簧,弹簧的弹性较好,且制造成本较低。优选地,在检测固定杆221的两端均设置有容纳孔,缓冲件设置于容纳孔内,且缓冲件的两端分别连接容纳孔的孔底和检测件222。通过设置容纳孔,可以为弹簧提供容纳空间,也能够为检测件222沿竖直方向的运动提供导向。
优选地,如图2所示,每个压接固定部21上均设置有多个检测部22。具体而言,多个压接组件2在支撑框架1上的排布方式与待检测工件100上的信号点的排布方式相匹配,且多个压接组件2的检测部22的数量与信号点的数量相等,且一一对应。
进一步地,压接固定部21可拆卸连接于支撑框架1。具体而言,如图4所示,在压接固定部21上设置有第一连接孔2112,在支撑框架1上设置有第二连接孔,连接件依次穿设于第一连接孔2112和第二连接孔内,以实现压接固定部21和支撑框架1之间的固定连接。在本实施例中,第一连接孔2112和第二连接孔均具体为螺纹孔,连接件具体为连接螺栓,螺栓连接具有加工简单、拆装方便的优势,在对压接组件2进行拆卸时,作业人员只需要进行简单的旋拧动作即可实现,方便快捷。
进一步地,在本实施例中,检测部22与待检测工件100上的信号点的连接相当于点连接,因此该压接机构对压接组件2在支撑框架1上的位置的定位要求较高。具体地,压接固定部21上设置有第一定位孔2111,支撑框架1上设置有第二定位孔,定位销依次穿设于第一定位孔2111和第二定位孔内。采用这种方式,可以保证压接组件2在支撑框架1上精确定位。
需要说明的是,检测部22为较精密的结构,如果检测部22发生损坏,则需要较高的维修费用,因此,在本实施例中,将压接组件2设置为固定于支撑框架1上,而承载组件能够向靠近或者远离支撑框架1的方向运动,能够防止压接组件2在运动过程中与其他结构发生碰撞造成损坏而引起的维修成本过高的现象。
进一步地,如图6所示,压接固定部21包括依次连接的连接板211、中间板212和顶板213,第一连接孔2112和第一定位孔2111均设置于连接板211上,连接板211通过连接螺栓与支撑框架1相连接。在顶板213和连接板211上均设置有多个压针固定孔,中间板212上对应多个压针固定孔设置有中间避让槽2121,检测部22依次穿设于顶板213和连接板211上的压针固定孔并固定于压针固定孔内,通过在中间板212上设置中间避让槽2121,可以避免由于压针固定孔的长度过长导致的加工精度低的现象,防止检测部22无法同时固定于连接板211和顶板213。优选地,在连接板211上还设置有与中间避让槽2121相连通的第一避让槽2113,在顶板213上还设置有与中间避让槽2121相连通的第二避让槽2131,第一避让槽2113、中间避让槽2121及第二避让槽2131相配合,可以进一步减小顶板213和连接板211上的压针固定孔的轴向长度,提高压针固定孔的加工精度。
进一步地,如图2和图7所示,该压接机构还包括接地组件3,接地组件3设置于支撑框架1上,接地组件3能够与大地相连接,用于将静电导入大地,可以防止在检测过程中产生的静电对待检测工件100的检测结果造成影响,保证检测结果的精确性。具体地,接地组件3包括接地固定部31和导电件32,接地固定部31设置于支撑框架1上,导电件32设置于接地固定部31上。在本实施例中,导电件32为导电橡胶,导电效果好,且制作成本较低。优选地,接地固定部31通过连接螺栓固定于支撑框架1上。
优选地,如图2所示,支撑框架1的截面形状为L形结构,支撑框架1包括相互垂直连接的第一支架11和第二支架12,多个压接组件2沿第一支架11的长度方向间隔设置于第一支架11上,接地组件3设置于第二支架12上,避免压接组件2与接地组件3之间发生干涉。
本实施例还提供一种检测设备,包括上述压接机构,通过设置上述压接机构,可以实现对待检测工件100较精确的检测,且方便对压接组件2的维修,维修成本较低。
进一步地,如图1所示,该检测设备还包括PC控制器和连接组件4,PCB板通过连接组件4电连接于PC控制器。具体地,连接组件4包括连接接头41和转接板42,连接接头41设置于支撑框架1上并与PCB板电连接,连接接头41通过转接板42电连接于PC控制器。采用这种方式,可以将检测部22对待检测工件100的检测结果传输至PC控制器,以便作业人员对测试结果进行分析。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (8)
1.一种压接机构,其特征在于,包括:
支撑框架(1),所述支撑框架(1)的上表面承载有PCB板,支撑框架(1)包括相互垂直连接的第一支架(11)和第二支架(12);
多个压接组件(2),多个压接组件(2)沿第一支架(11)的长度方向间隔设置于第一支架(11)上,所述压接组件(2)的一端能够抵接于所述PCB板;
承载组件,其上承载有待检测工件(100),所述承载组件设置于所述支撑框架(1)的下方,所述承载组件能够沿竖直方向运动以靠近所述支撑框架(1),从而使所述压接组件(2)的另一端抵接于所述待检测工件(100);
每个所述压接组件(2)均包括:
压接固定部(21),可拆卸连接于所述支撑框架(1)上;
检测部(22),所述检测部(22)包括检测固定杆(221)和两个检测件(222),所述检测固定杆(221)设置于所述压接固定部(21)上,两个所述检测件(222)分别设置于所述检测固定杆(221)的两端,并能够分别抵接于所述PCB板和所述待检测工件(100)。
2.根据权利要求1所述的压接机构,其特征在于,在所述检测固定杆(221)和所述检测件(222)之间设置有缓冲件。
3.根据权利要求1所述的压接机构,其特征在于,每个所述压接固定部(21)上均设置有多个所述检测部(22)。
4.根据权利要求1所述的压接机构,其特征在于,所述压接固定部(21)上设置有第一定位孔(2111),所述支撑框架(1)上设置有与所述第一定位孔(2111)对应的第二定位孔,定位销依次穿设于所述第一定位孔(2111)和所述第二定位孔内。
5.根据权利要求1-4任一项所述的压接机构,其特征在于,所述压接机构还包括接地组件(3),所述接地组件(3)设置于所述支撑框架(1)上,所述接地组件(3)能够与大地相连接。
6.根据权利要求5所述的压接机构,其特征在于,所述接地组件(3)包括接地固定部(31)和导电件(32),所述接地固定部(31)设置于所述支撑框架(1)上,所述导电件(32)设置于所述接地固定部(31)上。
7.一种检测设备,其特征在于,包括如权利要求1-6任一项所述的压接机构。
8.根据权利要求7所述的检测设备,其特征在于,所述检测设备还包括PC控制器和连接组件(4),所述PCB板通过所述连接组件(4)电连接于所述PC控制器。
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CN201909917U (zh) * | 2010-12-29 | 2011-07-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试治具 |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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