JP2575271Y2 - Icテスタのケーブルクランプ構造 - Google Patents
Icテスタのケーブルクランプ構造Info
- Publication number
- JP2575271Y2 JP2575271Y2 JP1993048032U JP4803293U JP2575271Y2 JP 2575271 Y2 JP2575271 Y2 JP 2575271Y2 JP 1993048032 U JP1993048032 U JP 1993048032U JP 4803293 U JP4803293 U JP 4803293U JP 2575271 Y2 JP2575271 Y2 JP 2575271Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- test head
- tester
- cable clamp
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Insertion, Bundling And Securing Of Wires For Electric Apparatuses (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この考案はICテスタ本体とテス
トヘッドとの間を電気的に接続するケーブル束(複数の
ケーブルを束ねたもの)のクランプ構造に関する。
トヘッドとの間を電気的に接続するケーブル束(複数の
ケーブルを束ねたもの)のクランプ構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図5及び図6に従来のICテスタにおけ
るケーブルクランプ構造を示す。ICテスタの一つの型
式としてテストヘッドTHが基台1に対して表裏が反転
できるように支持された構造のものがある。つまりテス
トヘッドTHが図6に示す実線の姿勢にあるとき試験を
実行できる状態にある。試験する素子の品種を変更する
ような場合、部品を交換する都合からテストヘッドTH
を軸2を中心に回動させ表裏を反転させ点線で示す上向
きの姿勢で部品の交換作業を行う。
るケーブルクランプ構造を示す。ICテスタの一つの型
式としてテストヘッドTHが基台1に対して表裏が反転
できるように支持された構造のものがある。つまりテス
トヘッドTHが図6に示す実線の姿勢にあるとき試験を
実行できる状態にある。試験する素子の品種を変更する
ような場合、部品を交換する都合からテストヘッドTH
を軸2を中心に回動させ表裏を反転させ点線で示す上向
きの姿勢で部品の交換作業を行う。
【0003】テストヘッドTHとICテスタ本体3との
間にはケーブル束4が接続され、テストヘッドTHとI
Cテスタ本体3との間を電気的に接続している。テスト
ヘッドTHは先にも説明したように表裏が反転するよう
に回動するため、ケーブル束4はテストヘッドTHの回
動に追従してケーブル束の姿勢を変形させる機能を持つ
ケーブル支持装置によって支持されている。図中5は従
来のケーブル支持装置を示す。従来のケーブル支持装置
はICテスタ本体3の上面に装着したケーブルハンガ5
Aと、このケーブルハンガ5Aの突端に吊り下げたコイ
ルバネ5Bと、このコイルバネ5Bの遊端に取り付けた
ケーブル支持帯5Cとによって構成されている。
間にはケーブル束4が接続され、テストヘッドTHとI
Cテスタ本体3との間を電気的に接続している。テスト
ヘッドTHは先にも説明したように表裏が反転するよう
に回動するため、ケーブル束4はテストヘッドTHの回
動に追従してケーブル束の姿勢を変形させる機能を持つ
ケーブル支持装置によって支持されている。図中5は従
来のケーブル支持装置を示す。従来のケーブル支持装置
はICテスタ本体3の上面に装着したケーブルハンガ5
Aと、このケーブルハンガ5Aの突端に吊り下げたコイ
ルバネ5Bと、このコイルバネ5Bの遊端に取り付けた
ケーブル支持帯5Cとによって構成されている。
【0004】このケーブル支持装置5の構造によればテ
ストヘッドTHを回動させるとき、テストヘッドTHの
動きに追従してコイルバネ5Bが伸縮し、ケーブル束4
の位置を移動させ、テストヘッドTHを無理なく回動で
きるように動作する。
ストヘッドTHを回動させるとき、テストヘッドTHの
動きに追従してコイルバネ5Bが伸縮し、ケーブル束4
の位置を移動させ、テストヘッドTHを無理なく回動で
きるように動作する。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】従来のケーブル支持装
置5はケーブルハンガ5AがICテスタ本体3の上面に
固定されるため、ケーブルハンガ5Aの位置によってテ
ストヘッドTHの設置位置が限定される不都合がある。
つまり、テストヘッドTHの設置位置が固定されるため
他のシステムとの融通性がない。これがために1つのシ
ステムの占有床面積が大きくなってしまう欠点がある。
置5はケーブルハンガ5AがICテスタ本体3の上面に
固定されるため、ケーブルハンガ5Aの位置によってテ
ストヘッドTHの設置位置が限定される不都合がある。
つまり、テストヘッドTHの設置位置が固定されるため
他のシステムとの融通性がない。これがために1つのシ
ステムの占有床面積が大きくなってしまう欠点がある。
【0006】この考案の目的は、テストヘッドの設置位
置を自由に選択することができ、従って他のICテスト
システムとの配置の融通性を向上し、小さい床面積にI
Cテストシステムを多数組設置することができるICテ
スタのケーブルクランプ構造を提供しようとするもので
ある。
置を自由に選択することができ、従って他のICテスト
システムとの配置の融通性を向上し、小さい床面積にI
Cテストシステムを多数組設置することができるICテ
スタのケーブルクランプ構造を提供しようとするもので
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この考案では表裏が反転
できるように回動することができるテストヘッドを具備
したICテストシステムにおいて、テストヘッドとIC
テスタとの間にケーブルクランプ支持台を設け、このケ
ーブルクランプ支持台にケーブルクランプを水平面方向
及び垂直面方向の2方向に回転できるように支持し、こ
のケーブルクランプにテストヘッドとICテスタ本体と
の間を電気的に接続するケーブル束をクランプする構造
としたものである。
できるように回動することができるテストヘッドを具備
したICテストシステムにおいて、テストヘッドとIC
テスタとの間にケーブルクランプ支持台を設け、このケ
ーブルクランプ支持台にケーブルクランプを水平面方向
及び垂直面方向の2方向に回転できるように支持し、こ
のケーブルクランプにテストヘッドとICテスタ本体と
の間を電気的に接続するケーブル束をクランプする構造
としたものである。
【0008】この考案の構造によれば、ケーブルクラン
プが水平面方向及び垂直面方向の何れにも回転できるよ
うにケーブルクランプ支持台に支持されているから、テ
ストヘッドを回動操作するとき、ケーブル束を自由に変
形させることができる。よってテストヘッドを無理なく
回動させることができる。しかもケーブルクランプ支持
台はICテスタ本体とテストヘッドとの間に介在し、そ
の位置を自由に変えることができる。よってテストヘッ
ドの設置位置はケーブルの長さの範囲で自由となり、隣
接する他のテストシステムとの間でテストヘッドの設置
位置を融通することができる。これにより多数のICテ
ストシステムを小さい床面積に設置できる利点が得られ
る。
プが水平面方向及び垂直面方向の何れにも回転できるよ
うにケーブルクランプ支持台に支持されているから、テ
ストヘッドを回動操作するとき、ケーブル束を自由に変
形させることができる。よってテストヘッドを無理なく
回動させることができる。しかもケーブルクランプ支持
台はICテスタ本体とテストヘッドとの間に介在し、そ
の位置を自由に変えることができる。よってテストヘッ
ドの設置位置はケーブルの長さの範囲で自由となり、隣
接する他のテストシステムとの間でテストヘッドの設置
位置を融通することができる。これにより多数のICテ
ストシステムを小さい床面積に設置できる利点が得られ
る。
【0009】
【実施例】図1乃至図4にこの考案の一実施例を示す。
図5及び図6と対応する部分には同一符号を付して示
す。図中10はケーブルクランプ支持台を示す。このケ
ーブルクランプ支持台10は車輪11を有し、ICテス
タ本体3とテストヘッドTHの間の任意の位置に設置で
きる構造とされる。ケーブルクランプ支持台10にケー
ブルクランプ12が支持される。ケーブルクランプ12
はケーブルクランプ支持台10に対し、軸13によって
水平面方向H(図4参照)に回動自在に支持され、更に
軸14によって垂直面方向V(図3参照)に回転自在に
支持される。ここでケーブルクランプ12はおじぎ方向
には回動を許されないからケーブル束4を鉛直な姿勢に
支持することができる。ケーブル束4を鉛直な姿勢に支
持したまま水平方向Hと垂直方向Vに回動することがで
きる。
図5及び図6と対応する部分には同一符号を付して示
す。図中10はケーブルクランプ支持台を示す。このケ
ーブルクランプ支持台10は車輪11を有し、ICテス
タ本体3とテストヘッドTHの間の任意の位置に設置で
きる構造とされる。ケーブルクランプ支持台10にケー
ブルクランプ12が支持される。ケーブルクランプ12
はケーブルクランプ支持台10に対し、軸13によって
水平面方向H(図4参照)に回動自在に支持され、更に
軸14によって垂直面方向V(図3参照)に回転自在に
支持される。ここでケーブルクランプ12はおじぎ方向
には回動を許されないからケーブル束4を鉛直な姿勢に
支持することができる。ケーブル束4を鉛直な姿勢に支
持したまま水平方向Hと垂直方向Vに回動することがで
きる。
【0010】この例ではケーブル束4を2分割し、2本
のケーブル束を軸14の位置を中心に両側に振り分けて
配置し、重量をバランスさせ、垂直面方向Vの回動を容
易にした場合を示す。テストヘッドTHにも同様のケー
ブルクランプ15を設け、2本のケーブル束4をテスト
ヘッドTHに固定する。このように2方向に回動できる
ように支持したケーブルクランプ12によってケーブル
束4を支持する構造にしたことにより、テストヘッドT
Hの姿勢を表裏反転すべく回動させるとき、ケーブル束
4はケーブルクランプ12によって鉛直な姿勢に支持さ
れ、更にケーブルクランプ12が水平面方向H及び垂直
面方向Vに回動自在に支持されているから、ケーブル束
4をテストヘッドTHの回動に伴って自由に変形させる
ことができる。よってテストヘッドTHを無理なく回動
させることができる。
のケーブル束を軸14の位置を中心に両側に振り分けて
配置し、重量をバランスさせ、垂直面方向Vの回動を容
易にした場合を示す。テストヘッドTHにも同様のケー
ブルクランプ15を設け、2本のケーブル束4をテスト
ヘッドTHに固定する。このように2方向に回動できる
ように支持したケーブルクランプ12によってケーブル
束4を支持する構造にしたことにより、テストヘッドT
Hの姿勢を表裏反転すべく回動させるとき、ケーブル束
4はケーブルクランプ12によって鉛直な姿勢に支持さ
れ、更にケーブルクランプ12が水平面方向H及び垂直
面方向Vに回動自在に支持されているから、ケーブル束
4をテストヘッドTHの回動に伴って自由に変形させる
ことができる。よってテストヘッドTHを無理なく回動
させることができる。
【0011】
【考案の効果】以上説明したように、この考案によれば
2方向HとVに回動できるように支持したケーブルクラ
ンプ12によってケーブル束4を支持したから、テスト
ヘッドTHを表裏反転させる場合、テストヘッドTHを
無理なく回動させることができる。従って通常の試験運
用は従来のものと変わらずに取り扱うことができる。し
かも、この考案では特にケーブルクランプ支持台10を
ICテスタ本体3とテストヘッドTHとの間の任意の位
置に配置できるから、テストヘッドTHの設置位置を自
由に選定できる。従って隣接するICテストシステムと
の融通性が向上し、小さい床面積に多くの数のICテス
トシステムを設置することができる利点が得られる。
2方向HとVに回動できるように支持したケーブルクラ
ンプ12によってケーブル束4を支持したから、テスト
ヘッドTHを表裏反転させる場合、テストヘッドTHを
無理なく回動させることができる。従って通常の試験運
用は従来のものと変わらずに取り扱うことができる。し
かも、この考案では特にケーブルクランプ支持台10を
ICテスタ本体3とテストヘッドTHとの間の任意の位
置に配置できるから、テストヘッドTHの設置位置を自
由に選定できる。従って隣接するICテストシステムと
の融通性が向上し、小さい床面積に多くの数のICテス
トシステムを設置することができる利点が得られる。
【図1】この考案の一実施例を示す側面図。
【図2】図1を正面から見た正面図。
【図3】この考案による要部の構造を説明するための正
面図。
面図。
【図4】図3を上方から見た平面図。
【図5】従来の技術を説明するための側面図。
【図6】図5を正面から見た正面図。
1 基台 TH テストヘッド 2 軸 3 ICテスタ本体 4 ケーブル束 10 ケーブルクランプ支持台 11 車輪 12 ケーブルクランプ 13,14 軸 15 ケーブルクランプ
Claims (1)
- 【請求項1】 ICテスタ本体と、このICテスタ本体
から離されて配置され、基台に対して表裏が反転するよ
うに回動自在に支持されたテストヘッドを具備し、この
テストヘッドと上記ICテスタ本体との間にケーブル束
が接続されて構成されたICテスタにおいて、 上記ICテスタ本体と上記テストヘッドとの間にケーブ
ルクランプ支持台を設け、このケーブルクランプ支持台
にケーブルクランプを水平面方向及び垂直面方向の2方
向にわたって回動自在に支持し、このケーブルクランプ
に上記ICテスタ本体とテストヘッドとの間を接続する
ケーブル束をクランプした構造を特徴とするICテスタ
のケーブルクランプ構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993048032U JP2575271Y2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | Icテスタのケーブルクランプ構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993048032U JP2575271Y2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | Icテスタのケーブルクランプ構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0718487U JPH0718487U (ja) | 1995-03-31 |
| JP2575271Y2 true JP2575271Y2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=12791979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993048032U Expired - Fee Related JP2575271Y2 (ja) | 1993-09-03 | 1993-09-03 | Icテスタのケーブルクランプ構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2575271Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5431742B2 (ja) * | 2009-01-27 | 2014-03-05 | 株式会社アイ・アンド・ティー | 掛止金具、及び該掛止金具を備える引張コイルバネ並びにケーブルハンガー |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2599221B2 (ja) * | 1990-12-21 | 1997-04-09 | 富士通電装株式会社 | 可撓性線状部材保有装置 |
-
1993
- 1993-09-03 JP JP1993048032U patent/JP2575271Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0718487U (ja) | 1995-03-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980224 |
|
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