JP2566293B2 - 光電スイッチ - Google Patents

光電スイッチ

Info

Publication number
JP2566293B2
JP2566293B2 JP63177316A JP17731688A JP2566293B2 JP 2566293 B2 JP2566293 B2 JP 2566293B2 JP 63177316 A JP63177316 A JP 63177316A JP 17731688 A JP17731688 A JP 17731688A JP 2566293 B2 JP2566293 B2 JP 2566293B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
circuit
light
level
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63177316A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0227214A (ja
Inventor
勝広 寺前
淳之 広野
慎司 坂本
由明 本多
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP63177316A priority Critical patent/JP2566293B2/ja
Publication of JPH0227214A publication Critical patent/JPH0227214A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2566293B2 publication Critical patent/JP2566293B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ビームを投受光して被検知物体の存在を
検知する三角測距方式の反射型光電スイッチに関するも
のである。
〔従来の技術〕
第6図に従来の三角測距方式による反射型光電スイッ
チの光学ブロック及び電子回路ブロックを示す。被検知
物体Xに対して光ビームPを投光する投光手段1は、投
光タイミングを設定するクロックパルスを発生する発振
回路10、発光素子12を駆動するドライブ回路11、及び凸
レンズよりなる投光用光学系13とで構成されており、発
光素子12から発せされる光を投光用光学系13にて光ビー
ムPとして、検知エリアに投光するようになっている。
この投光手段1から所定距離をもって側方に配設され、
被検知物体Xによる光ビームPの反射光Rを集光する受
光用光学系2も、凸レンズにて形成されている。この光
学系2の集光面に配設され集光スポットの位置に対した
位置信号IA,IBを出力する位置検出手段4は、例えば1
次元位置検出素子(PSD)や、分割式フォトダイオー
ド、あるいは所定距離を置いて配設された複数のフォト
ダイオードなどより構成されており、この位置信号IA,I
Bは相反した信号となっている。この位置検出手段4出
力に基づいて被検知物体Xが所定の検知エリアに存在す
るかどうかを判別して、出力回路6を制御する判別制御
手段5は、位置検出手段4から出力される位置信号(相
反する電流信号IA,IB)を夫々増幅して、電圧信号VA,VB
に変換する受光回路21a,21bと、受光回路21a,21b出力を
対数増幅する対数増幅回路22a,22bと、対数増幅回路22
a,22b出力lnVA,lnVBの減算を行う減算回路23と、減算回
路23出力ln(VA/VB)と距離設定用ボリュームVRにて設
定された基準電圧VRとを比較して、減算回路23出力ln
(VA/VB)が基準電圧VR以下のとき(被検知物体Xが検
知エリア内に存在するとき)に出力が“H"レベルとなる
比較回路24と、比較回路24出力を発振回路10出力である
クロックパルスに同期してレベル判定し、このときの比
較回路24の出力状態を保持する信号処理回路25とで構成
しており、信号処理回路25から物体検知信号が出力され
たとき、出力回路6を駆動するようになっている。とこ
ろで、上記信号処理回路25では、発振回路10出力に基づ
いてチェック(クロックパルスに同期してレベル判定)
することにより誤動作を防止するようにしてある。な
お、第7図は電圧信号VA及びVBの一列を示している。
第8図は他の従来例を示す。この従来例も基本構成は
第6図の光電スイッチの回路構成と同じで、比較回路24
にヒステリシスを持たせてある点が第6図の光電スイッ
チと異なる。即ち、この光電スイッチでは、検知エリア
内の被検知物体Xの存在が検知され、比較回路24出力が
“H"レベルとなったとき、比較回路24の基準電圧VRを上
げて、減算回路23出力の僅かな変動で比較回路24出力が
ばたついたりすることがないようにしてある。
ところが、この光電スイッチでは、被検知物体Xが黒
色あるいは反射率が低いものである場合や被検知物体X
が遠方にある場合などでは、比較回路24出力がオン,オ
フを繰り返すという問題がある。つまり、この場合には
反射光Rの光量レベルが低下するため、電圧信号VA,VB
がS/N比の低いものとなり、このため減算回路23出力ln
(VA/VB)が変動するためである。従って、上述の場合
には物体検知の信頼性が低くなるという問題があった。
そこで、光量レベルが被検知物体Xの検知動作を保証
できる最低光量レベルに応じた所定レベル以下に低下し
たとき、信号処理回路25出力が出力回路6に入力されな
いようにした光電スイッチがある。この光電スイッチを
第9図に示す。この光電スイッチでは、受光回路21b出
力である電圧信号VBを最低光量レベルに応じた所定レベ
ルと比較する比較回路29と、この比較回路29の出力のレ
ベル判定を発振回路10のクロックパルスに応じて行う信
号処理回路30と、この信号処理回路30出力に応じて、つ
まりは光量レベルが最低光量レベル以下である場合、信
号処理回路25出力を出力回路6に出力することを禁止す
る論理回路31とを設けてある。なお、この比較回路29も
ヒステリシス動作させてある。
このように、現実の反射型光電スイッチでは、信頼性
の向上のために上記最低光量レベルの判定以外にも補足
的な信号処理のための回路を加える必要がある。例え
ば、検知判定が幾度か同じく続く時に最終判定とする場
合、光量レベルに応じて検知判定回数を変えて誤動作を
防止したり、あるいは被検知物体に応じて位置信号IA,I
Bを補正して検知出力誤差を減少させたりする光電スイ
ッチの信頼性につながる信号処理のための回路、または
各判別のヒステリシス量を複数の判別結果に応じて変化
させる(例えば、光量の低い時と充分な時とでヒステリ
シス量を変える)などの性能向上につながる信号処理の
ための回路などを加える必要がある。ところが、このよ
うな補足的な信号処理のための回路を複数加えると、構
成が複雑になるだけでなく、各信号処理のための回路毎
に判定誤差が生じ(例えば信号VBを基準電圧V1,V2と比
較する時、V1>V2にも拘らず、VB<V2,VB>V1となる場
合など)、総合的な最終判定の信頼性が低下する。これ
を防止するためには、各信号処理のための回路を高精度
なものとする必要があるが、これには限界があり、従っ
て従来の光電スイッチでは第9図回路程度の構成を設け
ることしかできないという問題があった。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は上述の点に鑑みて為されたものであり、その
目的とするところは、判別制御手段で複数の演算処理を
行っても各演算処理間の判定誤差が小さく抑えられ、且
つ各演算処理毎に適切なヒステリシスを持たせることが
でき、しかも構成を小規模とすることができる光電スイ
ッチを提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明は位置検出手段出
力に基づいて被検知物体が所定の検知エリア内に存在す
るかどうかを判別して出力回路を制御するとともに、被
検知物体の存在検知以外に存在検知の信頼性が低くなる
光量レベルの判定などの複数の演算処理を行い、上記位
置検出手段出力をアナログデータとして記憶し、このア
ナログデータを用いて被検知物体の存在検知と同一構成
の回路を用いて複数の演算処理を時分割で行う判別制御
手段と、この判別制御手段出力に応じて各演算処理毎に
適宜ヒステリシス量を制御するヒステリシス量制御手段
とを備えている。
(作 用) 本発明では上述のように判別制御手段で被検知物体の
存在検知と同一構成の回路を用いて複数の演算処理を時
分割で行うことにより、複数の演算処理を行っても各演
算処理間の判定誤差が小さく抑えられるようにし、且つ
この判定誤差の少ない判別制御手段の出力でヒステリシ
ス量を制御することにより、各演算処理毎に適宜のヒス
テリシスがかかるようにし、しかも判別制御手段の大部
分の構成を共用して、比較的に回路構成が小規模となる
ようにしたものである。
(実施例) 第1図乃至第5図に本発明の一実施例を示す。本実施
例の基本構成は上述の従来例と同一であるので、以下の
説明では本実施例の特徴とする部分についてのみ説明す
る。本実施例は、複数の信号処理を如何に効率良く行
い、且つ複数処理の間の判定誤差を小さく抑え、また演
算処理結果に応じて各演算処理のヒステリシス量を適切
に制御でき、しかも小規模に構成できる光電スイッチと
したものである。このために、本実施例では、受光回路
21a,21bの出力を記憶するアナログメモリ32a,32bと、各
演算処理毎に用いられる電圧を出力する演算処理用電圧
発生回路39と、この演算処理用電圧発生回路39出力及び
上記アナログメモリ32a,32b出力を加算する加算回路33
と、加算出力を対数変換する対数変換回路34と、対数変
換出力を減算する差動増幅回路35と、異なる時点で差動
増幅回路35から出力される2個の差動増幅出力を比較す
る比較回路36と、この比較出力を記憶する演算結果メモ
リ37と、この演算結果メモリ37に記憶された比較出力に
生じて物体検知や最低光量レベルの判定などを行うと共
に、各演算処理動作に夫々適宜のヒステリシスを持たせ
る論理演算回路38と、発振回路10出力に応じて各演算処
理を分割で行うための適宜タイミング信号を出力するタ
イミング回路40とを備えている。
第2図にアナログメモリ32から比較回路36までのアナ
ログ演算部の具体構成を示す。アナログメモリ32は、出
力信号VA,VBを蓄えるもので、バッファB2、アナログス
イッチAS11,AS12,AS21,AS22,ASA,ASB,ASr、コンデンサC
A,CB,C11,C12、基準電圧回路41で構成してある。アナロ
グスイッチAS11,AS12,AS21,AS22は、発振回路10のクロ
ックパルスに同期した検波用タイミング信号φsと、そ
の反転信号▲▼で駆動されるもので、アナログスイ
ッチAS11,AS21がオンのときに、コンデンサCA,CBに位置
信号VA,VBを夫々蓄える。アナログスイッチASA,ASBはコ
ンデンサCA,CBに蓄えられたアナログデータを出力する
もので、タイミング信号φAで駆動される。アナロ
グスイッチASrは、信号0Vを設定する目的で基準電圧Vre
f1を出力するもので、タイミング信号φrで駆動され
る。
演算処理用電圧発生回路39は、演算処理内容に応じた
電圧を発生するもので、アナログスイッチAS0,AS10,AS
20,ASR,ASR0、ボリュームVR及び抵抗で構成され、夫々
のアナログスイッチAS0,AS10,AS20,ASR,ASR0は夫々に対
応するタイミング信号φ〜φ2RR0により選択さ
れて駆動され、夫々電圧V0〜V2,VR,VR0を出力する。な
お、ボリュームVRは距離設定用のボリュームである。ま
た、電圧V0はこの演算処理用電圧発生回路39の基準電圧
として用いられる。
加算回路33は、上記アナログメモリ32出力と演算処理
用電圧発生回路39出力とを加算するもので、オペアンプ
OP4で構成してある。
対数変換回路34は、アナログメモリ32のアナログスイ
ッチASrがオンのときに出力される信号0Vに相当する出
力と、演算処理用電圧発生回路39の基準電圧V0とを加算
器33で加算した出力を基準として、演算処理に合わせて
加算回路33の出力を対数変換するもので、オペアンプOP
5、コンデンサC30、アナログスイッチAS30,AS31、ダイ
オードD1などで構成してある。アナログスイッチAS30,A
S31はタイミング信号φで駆動され、このタイミング
信号φが“H"レベルのとき、コンデンサC30にアナロ
グメモリ32のアナログスイッチASrがオンのときに出力
される信号0Vに相当する出力と、演算処理用電圧発生回
路39の基準電圧V0とを加算器33で加算した出力を充電
し、“L"レベルのとき充電された電圧を基準に対数変換
を行う。
差動増幅回路35は、所定タイミングにおける対数変換
回路34出力と、異なる所定タイミングにおける対数変換
回路34出力との減算を行うもので、オペアンプOP6、バ
ッファB3、アナログスイッチAS40、コンデンサC40、基
準電圧回路42で構成してある。アナログスイッチAS40
タイミング信号φで駆動されるもので、このアナログ
スイッチAS40がオンのときに対数変換回路34出力でコン
デンサC40を充電する。この差動増幅回路35では、アナ
ログスイッチAS40のオフ時に、コンデンサC40の充電電
圧とそのときの対数変換回路34出力との減算を行い、基
準電圧Vref2を基準として減算値を出力する。
比較回路36は、差動増幅回路35から出力される異なる
時点の2個の減算出力を夫々記憶し、これら減算出力の
比較を行うもので、オペアンプOP7、アナログスイッチA
S50,AS60、コンデンサC50,C60で構成してある。アナロ
グスイッチAS50,AS60は夫々タイミング信号φ5
駆動され、タイミング信号φが“H"レベルの時点で差
動増幅回路35の減算出力をコンデンサC50に充電すると
共に、タイミング信号φが“H"レベルの時点でコンデ
ンサC60に他の減算出力を充電する。
上記アナログ演算部の動作を第3図のタイムチャート
に従って説明する。t0〜t1の期間には、タイミング信号
φ0,φr,φ3が“H"レベルとなり、このときにはア
ナログスイッチAS0がオンして演算処理用電圧発生回路3
9から基準電圧V0が出力されるとともに、アナログスイ
ッチASrがオンしてアナログメモリ32から基準電圧Vref1
が出力される。これら基準電圧V0,Vref1は加算回路33で
加算され、この加算出力はアナログスイッチAS30のオン
により対数変換回路34のコンデンサC30に充電される。
上述の動作により対数増幅回路34の基準電圧の設定が行
われることになる。
t1〜t5の期間においては被検知物体Xの存在検知処理
が行われる。t1〜t2の期間にはタイミング信号φ0B,
φが“H"レベルとなる。このときには、コンデンサCB
に蓄えられた位置信号VBであるアナログデータがアナロ
グメモリ32から出力され、このデータが加算回路33で基
準電圧V0に加算され、この加算出力を対数変換回路34で
対数変換し、その対数変換回路34出力lnVBをコンデンサ
C40に充電する。次に、t2〜t3の期間には、タイミング
信号φ0Aが“H"レベルとなる。このときはコン
デンサCAに蓄えられた位置信号VAであるアナログデータ
がアナログメモリ32から出力され、このデータが加算回
路33で基準電圧V0に加算され、この加算出力を対数変換
回路34で対数変換する。このときの対数変換回路34出力
lnVAは、差動増幅回路35でコンデンサC40に充電された
先の出力lnVBと減算される。そして、この減算出力ln
(VA/VB)が、比較回路36のアナログスイッチAS50のオ
ンにより、コンデンサC50に充電される。t3〜t4の期間
には、タイミング信号φr,φR0が“H"レベルにな
り、アナログメモリ32から基準電圧Vref1が出力され、
演算処理用電圧発生回路39から距離設定用の基準電圧V0
が出力され、これら出力を加算回路33で加算して、この
加算出力を対数変換回路34で対数変換し、この出力lnV
R0をコンデンサC40に充電する。t4〜t5の期間には、タ
イミング信号φr,φRが“H"レベルになり、演算処
理用電圧発生回路39から距離設定信号VRが出力され、こ
の出力VRが加算回路33でアナログメモリ32の基準電圧Vr
ef1と加算され、この加算出力を対数変換回路34で対数
変換してlnVRを得る。この対数変換回路34出力lnVRとコ
ンデンサC40に充電された出力lnVR0との減算が差動増幅
回路35で行われ、この減算出力ln(VR/VR0)はアナログ
スイッチAS60のオンにより、コンデンサC60に充電され
る。従って、比較回路36でln(VA/VB)とIn(VR/VR0
とが比較される。つまりは、ln(VR/VR0)を基準電圧と
して、ln(VA/VB)より被検知物体Xが検知エリア内に
存在するかどうかを判別する。
t5〜t9の期間においては、光量レベルが最低光量レベ
ル以上であるかどうかの判断を行う。t5〜t6の期間では
タイミング信号φr,φ1が“H"レベルになる。この
とき、アナログメモリ32から基準電圧Vref1が、演算処
理用発生回路39からは電圧V1が出力され、これら電圧Vr
ef1,V1を加算回路33で加算し、この加算出力を対数変換
回路34で対数変換した出力lnV1がコンデンサC40に充電
される。t6〜t7の期間においては、φr,φ1が“H"
レベルになり、上述の場合と同様にして引き続き電圧V1
を対数変換してlnV1を得、このlnV1と上記t5〜t6の期間
にコンデンサC40に充電されたlnV1との差動増幅回路35
で減算し、この減算出力ln(V1/V1)をコンデンサC50
充電する。このようにln(V1/V1)、つまりはln1を得
て、t5〜t7の期間にアナログ演算部のオフセット誤差を
取り除く。t7〜t8の期間には、t5〜t6の期間と同様に、
タイミング信号φr,φ1が“H"レベルになり、引き
続き電圧V1を対数変換した出力lnV1を得て、この出力を
コンデンサC40に充電する。次いで、t8〜t9の期間にタ
イミング信号φ0Bを“H"レベルとし、アナログ
メモリ32から位置信号VBに相当するアナログデータ、演
算処理用電圧発生回路39から電圧V0を出力し、これら出
力VB,V0を加算回路33で加算し、この加算出力を対数変
換回路34で対数変換してln(VB)を得る。この対数変換
出力は差動増幅回路35でコンデンサC40に充電してある
先の対数変換出力lnV1との減算が行われ、この減算結果
ln(VB/V1)が比較回路36のコンデンサC60に充電され
る。このときには、比較回路36でln(V1/V1)とln(VB/
V1)との比較が行われる。つまり、ln1を基準電圧とし
てln(VB/V1)の比較を行って、位置信号VBのレベルが
電圧V1として設定された最低光量レベルに応じた電圧以
下であるかどうかを判定する。
さらに、t9〜t11の期間においては余裕レベルの判定
を行う。なお、余裕レベルとは、位置信号VA,VBが受光
回路21a,21bの内部発生ノイズの影響を充分に無視でき
るレベルである。まず、t9〜t10の期間に、タイミング
信号φr,φ2を“H"レベルとし、電圧V2を対数変換
して、この対数変換出力lnV2をコンデンサC40に充電す
る。次に、t10〜t11の期間にタイミング信号φ0B
を“H"レベルとし、位置信号VBを対数変換し、その対
数変換出力lnVBをコンデンサC60の充電電圧In(V2)と
減算し、この減算出力In(VB/V2)をコンデンサC60に充
電する。この場合には先の最低光量レベルの判定のとき
にコンデンサC50に充電されたln1をそのまま使用し、こ
のln1とln(VB/V2)との比較を比較回路36で行う。これ
により、位置信号VBと電圧V2との間に余裕があるかどう
かを判定する。
上記アナログ演算部の動作結果を比較回路36の出力で
まとめると、ln(VA/VB)<ln(VR/VR0)のとき、0<l
n(VB/V1)のとき、0<ln(VB/V2)のとき、比較回路3
6出力が夫々“H"レベルになる。
以上がアナログ演算部の説明であったが、次に比較回
路36の出力に基づいて論理演算を行うと共に、差動増幅
回路35や演算処理用電圧発生回路39のヒステリシス量の
設定を行う論理演算回路38などについて説明する。この
部分の具体回路を第4図に示す。演算結果メモリ37は、
物体検知、最低光量レベル判定、余裕レベル判定用の3
個のDフリップフロップFF2〜FF4で構成され、夫々のD
フリップフロップFF2〜FF4はタイミング信号φ〜φ
をクロックとして比較回路36の出力を取り込んで記憶す
る。論理演算回路38は、物体検知出力が位置信号VA,VB
が最低光量レベル以上のとき得られ、さらにこの状態が
第5図に示す周期t0〜t12を1周期とする2周期以上続
いた場合に比較回路36出力を出力回路6に出力すると共
に、このときの出力で差動増幅回路35及び演算処理用電
圧発生回路39のヒステリシス量を変えるもので、Dフリ
ップフロップFF5,FF6、SRフリップフロップFF7、アンド
ゲートAND1〜AND10及びインバータINV3〜INV6で構成し
てある。なお、この論理演算回路38では、被検知物体X
が上記2周期の間、引き続き検知されない場合に、出力
をリセットする機能を有する。ところで、この光電スイ
ッチでは、物体検知に関するヒステリシスは、差動増幅
回路35に持たせてあり、このため第2図の基準電圧回路
42をアナログスイッチAS70〜AS72及び分圧抵抗で構成し
てあり、余裕レベル判定出力が“H"レベルのときと“L"
レベルのときとでヒステリシス量を異ならせてある。ま
た、最低光量レベル及び余裕レベルに関するヒステリシ
スは、演算処理用電圧発生回路39に持たせてあり、この
ために第2図の電圧V1,V2として夫々V11,V12,V21,V22
分圧抵抗で作成し、アナログスイッチAS10,AS20を夫々
アナログスイッチAS11,AS12、AS21,AS22としてあり、論
理演算回路38の最終段の出力及び余裕レベルの判定出力
で夫々の電圧V11,V12及びV21,V22を切り換える。
以下、上記回路部の動作を説明する。上述したアナロ
グ演算部の動作により、比較回路36の物体検知出力は第
5図のタイムチャートに示すように、タイミング信号φ
が“H"レベルとなるt5〜t6の期間にDフリップフロッ
プFF2に記憶され、最低光量レベルの判定出力はタイミ
ング信号φが“H"レベルとなるt9〜t10の期間にDフ
リップフロップFF3に記憶され、余裕レベルの判定出力
はタイミング信号φが“H"レベルになるt11〜t12の期
間にDフリップフロップFF4に記憶される。そして、比
較回路36の物体検知出力が“H"レベルで、最低光量レベ
ルの判定出力も“H"、つまりは光量レベルが最低光量レ
ベル以上のときに被検知物体Xの存在が検知されたと
き、論理演算回路38のアンドゲートAND1の出力が“H"レ
ベルとなり、物体検知、最低光量レベルの判定、余裕レ
ベルの判定の演算処理が終了した時点、つまりはタイミ
ング信号φが“H"レベルとなった時点で、Dフリップ
フロップFF5にラッチされ、さらに第5図に示す次の1
周期で上述の場合と同様に光量レベルが最低光量レベル
以上の状態で被検知物体Xの存在が検知されたときに、
DフリップフロップFF5,FF6の両出力が“H"レベルとな
ることにより、アンドゲートAND2が“H"レベルになり、
SRフリップフロップFF7がセットされ、このとき初めて
物体を検知したことを示す出力が出力回路6に出力され
る。なお、この論理演算回路38では、上記物体検知出力
及び最低光量レベルの判定出力のいずれかが“L"レベル
である状態が、上述と同様の2周期の間継続すると、ア
ンドゲートAND3出力が“H"レベルとなることにより、SR
フリップフロップFF7をリセットして、物体が存在する
ことを示す検知出力の出力状態を解除する。このように
論理演算回路38の最終出力が反転したときには、この出
力及びこの出力の反転出力の夫々とタイミング信号φ
とのアンドをとるアンドゲートAND7,AND8でアナログス
イッチAS11,AS12が切り換えられる。つまりは、被検知
物体Xの存在が検知され、SRフリップフロップFF7出力
が“H"レベルとなった場合には、タイミング信号φ
“H"レベルになったときに、アンドゲートAND7出力が
“H"レベルとなり、最低光量レベルの判定電圧である演
算処理用電圧発生回路39の出力として電圧V12を出力す
る。また、逆にSRフリップフロップFF7出力が“L"レベ
ルとなった場合には、タイミング信号φが“H"レベル
となったとき、アンドゲートAND8出力が“H"レベルとな
り、電圧V11を出力する。
次に、物体検知の場合のヒステリシスをかける動作を
説明する。この場合は上述したように差動増幅回路35の
基準電圧回路42出力である基準電圧を可変するようにし
てあり、この切換はタイミング信号φが“H"レベルの
ときに行う。なお、この光電スイッチでは、余裕レベル
の判定結果に応じてヒステリシス量を可変している。つ
まり、光量レベルが充分である時は、ヒステリシス量を
少なくして微少物体の検知を可能とし、逆に光量レベル
が比較的に少ない時には、ヒステリシス量を大きくし
て、回路の安定性を高めるためである。今、物体が検知
されておらず、論理演算回路38の最終出力が“L"である
とすると、この出力とタイミグ信号φとのアンドをと
るアンドゲートAND4出力は“L"レベルであるので、この
出力をインバータINV6で反転した出力でアナログスイッ
チAS70がオンし、基準電圧回路42出力として基準電圧Vr
ef2が出力される。次に、比較回路36の余裕レベル判定
出力が“H"レベルであり、論理演算回路38の最終出力が
“H"レベルになった場合は、タイミング信号φが“H"
レベルである間、アンドゲートAND4出力が“H"レベルと
なり、アンドゲートAND5の出力が“H"レベルになり、基
準電圧回路42出力として電圧V71が出力される。ここ
で、比較回路36の余裕レベルの判定出力が“L"レベルで
ある場合には、アンドゲートAND6出力が“H"レベルにな
り、基準電圧回路42出力として電圧V72が出力される。
つまり、光量レベルが充分である時は、基準電圧回路42
の出力電圧を高くして、ヒステリシス量を少なくし、微
少物体の検知を可能とし、逆に光量レベルが比較的に少
ない時には、基準電圧回路42の出力電圧を低くして、ヒ
ステリシス量を大きくし、回路の安定性を高める。
さらに、余裕レベルの判定動作にヒステリシスを持た
せるためには、上記DフリップフロップFF4出力及びそ
の反転出力の夫々と、タイミング信号φとのアンドを
アンドゲートAND9,AND10でとって行うようにしてあり、
この場合にはDフリップフロップFF4出力を用い、タイ
ミングがタイミング信号φとなっただけで、上述の最
低光量レベルの判定動作にヒステリシスを持たせた場合
と略同様の動作でヒステリシスが与えられる。なお、位
置信号VA,VBに余裕がある場合、演算処理用電圧発生回
路39出力として電圧V22を出力して、余裕がないときに
電圧V21を出力する。つまり、余裕があるときに演算処
理用電圧発生回路39出力を下げ、余裕がないときには上
げる。このように本実施例によれば複数の演算処理を同
一の構成の回路で行うことができ、各演算処理間の判定
誤差を低減することができる。しかも演算処理結果で各
ヒステリシス量を制御するようにしてあるので、演算処
理の高精度化も図れる。さらに、上記機能を備えている
にも拘わらず、比較的に小規模に構成することができる
利点がある。
〔発明の効果〕
本発明では上述のように、発光素子の発する光を投光
用光学系で光ビームに成形して、検知エリアに投光する
投光手段と、投光手段の側方に所定距離をもって配設さ
れ、被検知物体からの光ビームの反射光を集光する受光
用光学系と、この受光用光学系の集光面に配設され、被
検知物体までの距離に応じて集光面で移動する集光スポ
ットの位置に対応した位置信号を出力する位置検出手段
と、位置検出手段出力に基づいて被検知物体が所定の検
知エリア内に存在するかどうかを判別して出力回路を制
御するとともに、被検知物体の存在検知以外に存在検知
の信頼性が低くなる光量レベルの判定などの複数の演算
処理を行い、上記位置検出手段出力をアナログデータと
して記憶し、このアナログデータを用いて被検出物体の
存在検知と同一構成の回路を用いて複数の演算処理を時
分割で行う判別制御手段と、この判別制御手段出力に応
じて各演算処理毎に適宜ヒステリシス量を制御するヒス
テリシス量制御手段とを備えたものであり、判定制御手
段で被検知物体の存在検知と同一構成の回路を用いて複
数の演算処理を時分割で行うことにより、複数の演算処
理を行っても各演算処理間の判定誤差が小さく抑えら
れ、且つこの判定誤差の少ない判別制御手段の出力でヒ
ステリシス量を制御することにより、各演算処理毎に適
宜のヒステリシスがかかり、しかも判定制御手段の大部
分の構成を共用しているので、比較的に回路構成が小規
模となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の回路構成を示すブロック図、第2図は
同上の要部の具体回路図、第3図は同上の動作を示すタ
イムチャート、第4図は同上の他の要部の具体回路図、
第5図は同上の動作を示すタイムチャート、第6図は従
来例の回路構成を示すブロック図、第7図は距離に対す
る電圧信号特性図、第8図及び第9図は夫々他の従来例
の回路構成を示すブロック図である。 1は投光手段、2,13は光学系、4は位置検出手段、5は
判定制御手段、6は出力回路、11′はドライブ回路、12
は発光素子、21a′,21b′は受光回路、26は比較回路、2
7は信号処理回路、28は基準電圧発生回路、32はアナロ
グメモリ、33は加算回路、34は対数変換回路、35は差動
増幅回路、36は比較回路、37は演算結果メモリ、38は論
理演算回路、39は演算処理用電圧発生回路、40はタイミ
ング回路である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 本多 由明 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電 工株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−202085(JP,A) 特開 昭63−140531(JP,A) 特開 昭60−227112(JP,A) 特開 昭61−102576(JP,A) 特開 昭61−102575(JP,A) 特開 昭54−54281(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発光素子の発する光を投光用光学系で光ビ
    ームに成形して、検知エリアに投光する投光手段と、投
    光手段の側方に所定距離をもって配設され、被検知物体
    からの光ビームの反射光を集光する受光用光学系と、こ
    の受光用光学系の集光面に配設され、被検知物体までの
    距離に応じて集光面で移動する集光スポットの位置に対
    応した位置信号を出力する位置検出手段と、位置検出手
    段出力に基づいて被検知物体が所定の検知エリア内に存
    在するかどうかを判別して出力回路を制御するととも
    に、被検知物体の存在検知以外に存在検知の信頼性が低
    くなる光量レベルの判定などの複数の演算処理を行い、
    上記位置検出手段出力をアナログデータとして記憶し、
    このアナログデータを用いて被検知物体の存在検知と同
    一構成の回路を用いて複数の演算処理を時分割で行う判
    別制御手段と、この判別制御手段出力に応じて各演算処
    理毎に適宜ヒステリシス量を制御するヒステリシス量制
    御手段とを備えて成る光電スイッチ。
JP63177316A 1988-07-15 1988-07-15 光電スイッチ Expired - Lifetime JP2566293B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63177316A JP2566293B2 (ja) 1988-07-15 1988-07-15 光電スイッチ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63177316A JP2566293B2 (ja) 1988-07-15 1988-07-15 光電スイッチ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0227214A JPH0227214A (ja) 1990-01-30
JP2566293B2 true JP2566293B2 (ja) 1996-12-25

Family

ID=16028854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63177316A Expired - Lifetime JP2566293B2 (ja) 1988-07-15 1988-07-15 光電スイッチ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2566293B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4771778B2 (ja) * 2005-09-30 2011-09-14 パナソニック電工Sunx株式会社 光電センサ

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59202085A (ja) * 1983-04-30 1984-11-15 Matsushita Electric Works Ltd 反射型光電スイツチ
JPH0746052B2 (ja) * 1984-04-25 1995-05-17 三菱電機株式会社 光変位計
JP2507370B2 (ja) * 1986-12-02 1996-06-12 株式会社東芝 試料面位置測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0227214A (ja) 1990-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6606123B2 (en) Photosensitive device
US4533241A (en) Distance measuring device and automatic focusing system using same
JP2000346643A (ja) 光位置検出装置および距離センサ
JP2566293B2 (ja) 光電スイッチ
US4758082A (en) Distance detection apparatus
US4479706A (en) Distance measuring circuit
US4573783A (en) Focusing controlling device
JP2779380B2 (ja) 測距装置
JP2001074842A (ja) 測距装置
JP2638607B2 (ja) 測距装置
JPH0812070B2 (ja) 光電スイッチ
JP2696980B2 (ja) 距離測定装置
SU1525598A1 (ru) Устройство дл определени максимума импульсного сигнала
JPH0618665A (ja) 距離計測装置
US5294802A (en) Digitally active distance measurement apparatus for camera or the like
JPH0536732B2 (ja)
JP2807039B2 (ja) 光電スイッチ
JP3749638B2 (ja) 測距装置
JPH0370765B2 (ja)
JP3248285B2 (ja) 光電スイッチ
JP3311772B2 (ja) 光電スイッチ及び光電スイッチ制御装置
JPS59202731A (ja) 光電スイツチ
JP2586932B2 (ja) 測距演算処理装置
JPH0550686B2 (ja)
JPH0621796A (ja) 光電検出装置における干渉防止装置