JP2563410Y2 - マーキング装置 - Google Patents

マーキング装置

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JP2563410Y2 JP6211491U JP6211491U JP2563410Y2 JP 2563410 Y2 JP2563410 Y2 JP 2563410Y2 JP 6211491 U JP6211491 U JP 6211491U JP 6211491 U JP6211491 U JP 6211491U JP 2563410 Y2 JP2563410 Y2 JP 2563410Y2
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利隆 吉村
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、TAB(Tape Automat
ed Bonding)テープ上の外観不良のリードパターンにマ
ーキングを施すマーキング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、集積回路(IC)や液晶ディスプ
レイ(LCD)等のチップを基板上に実装する方式とし
てTAB方式が注目されており、該TABテープ上のリ
ードパターンにチップを実装する作業等を自動で行う装
置が各種開発されている。ところで、前記リードパター
ンは、下地材となるTABテープへのパンチング(穴あ
け)加工、銅箔貼着、エッチング等の工程を経て形成さ
れるが、これらの工程後に行われる出来上がり後のリー
ドパターンの外観検査は、従来は検査員の目視によって
行っているのが通常である。
【0003】ところが、前記人的作業によるリードパタ
ーンの外観検査は、検査員の負担が大きく、また、前記
TABテープの搬送を一時的に停止させながら行わなけ
ればならないので処理速度にも限度があり、リードパタ
ーンの形成からチップの実装までの一連の作業を自動化
して作業時間の短縮、効率化を図る場合の障害となるた
め、近年では、前記リードパターンの外観検査を自動化
する装置が開発されつつある。そして、前記自動化装置
の開発に伴って、外観の良否を判定した後にその判定結
果に基づいて不良と判定されたリードパターンを排除す
る手段も開発されつつあり、その一例としては、図5に
示すように、TABテープ1の搬送路上にパンチ装置2
を配設し、不良と判別されたリードパターン3を前記T
ABテープ1から打ち抜いて廃棄するものが挙げられ
る。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たパンチ装置2では、打ち抜き時に前記TABテープ1
の搬送を一時的に停止させなければならないので、リー
ドパターンの形成からチップの実装までの他の作業を自
動化する場合の処理速度に比べて速度が劣り、全体の作
業効率を低下させてしまうおそれがあった。また、上述
したパンチ装置2では、前記TABテープ1から不良の
リードパターン3を打ち抜く際に振動が発生し、また、
打ち抜かれたリードパターン3や打ち抜き時に発生する
粉塵を除去する装備が必要になるという不具合がある。
【0005】本考案は、上述の点に着目してなされたも
のであり、外観の良否を判定した後にその判定結果を機
械的或は人的に確認することができるようなマーキング
を、TABテープの搬送を停止させることなく簡略な構
成で前記TABテープ上に施すことができるマーキング
装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本考案は、回路素子接続用の複数本のリードを有する
リードパターンが間隔を置いて多数配設されたTABテ
ープ上に、前記リードパターンの良否を判定する判定手
段の判定結果をマーキングするマーキング装置であっ
て、前記TABテープの搬送路上に該TABテープの一
面に臨むように配設され、TABテープの搬送方向と直
交する方向を軸方向とする回転部材と、該回転部材に設
けられ、前記TABテープ面に接触可能な凸部と、前記
判定手段の判定結果に基づいて、前記凸部が前記リード
パターンのリードに接触するように、前記回転部材の回
転動作を制御する制御手段とを備える構成とした。ま
た、上記目的を達成するために本考案は、前記凸部は、
前記回転部材で支持されたブラシにより形成されている
ものとした。さらに、上記目的を達成するために本考案
は、前記TABテープを挟んで前記回転部材とは反対側
のTABテープ面に臨むように配設され、該TABテー
プの搬送方向と直交する方向を軸方向とする第2回転部
材と、該第2回転部材に設けられ、前記凸部に係合可能
な凹部とをさらに備え、前記制御手段は、前記判定手段
の判定結果に基づいて、前記凹部が前記凸部に係合する
するように、前記第2回転部材の回転動作を制御するも
のとした。
【0007】
【実施例】以下、本考案の実施例について図面に基づい
て説明する。図1は本考案の一実施例によるマーキング
装置を示すもので、図1(a)はその概略構成を一部ブ
ロックで示した説明図、図1(b)は図1(a)に示す
回転ローラのブラシがTABテープのインナーリードに
接した状態を示す説明図、図2は図1(a)に示すマー
キング装置が設けられた外観検査装置の概略構成を示す
説明図、図3はリードパターンが多数形成されたTAB
テープを示す説明図である。
【0008】図3において10は、両側部にパーフォレ
ーション11,11が形成されたTABテープであり、
その表面12、及び裏面13上には、例えばパンチング
(穴あけ)加工、銅箔貼着、エッチング等の工程を経て
形成されたリードパターン20,20,…が間隔を置い
て多数配列されて、その他の部分は余白14となってい
る。各リードパターン20は図3に示すように、複数の
パターン21a,21a,…が形成されたベース部21
と、該ベース部21の中央に形成されたデバイスホール
22内に突出し前記各リードパターン21aに連なる複
数本のインナーリード22a,22a,…と、前記ベー
ス部21の周囲に形成されたアウターリードホール23
側に突出し前記各パターン21aに連なる複数本のアウ
ターリード23a,23a,…とから概略構成されるも
のである。
【0009】この図3に示すようなリードパターン20
における、前記パターン21a、インナーリード22
a、アウターリード23aの外観、即ち欠損、欠落、不
整列等の検査を行う図2の検査装置30では、送り出し
リール31に巻回された被検査用のTABテープ10
が、搬送ローラ群32を介して、判定手段としての検査
部33,34に搬送され、その後、搬送ローラ群35を
介してマーキング装置40に搬送されて、さらに、搬送
ローラ36を介して巻き取りリール37に巻き取られる
ようになっている。
【0010】尚、前記送り出しリール31と搬送ローラ
群32との間の前記TABテープ10の搬送路上には、
TABテープ10のパーフォレーション11を例えばフ
ォトインタラプタ等を用いて光学的に検出する検出部6
0が配設されており、該検出部60は、前記パーフォレ
ーション11を検出した旨を示す信号を外部に出力す
る。また、前記検査部33,34は、前記TABテープ
10の表裏各面12,13について前述したような内容
の外観検査を行うものであり、前記TABテープ10上
のパターン21a、インナーリード22a、及びアウタ
ーリード23aを、例えば画像処理等によってパターン
認識することにより、これらにおける欠損、欠落、不整
列等の有無を判定し、その結果を信号で外部に出力す
る。
【0011】一方、前記マーキング装置40は、図2に
示すように前記搬送ローラ群35と搬送ローラ36との
間の搬送路上に配設されたものであり、図1(a)に示
すように、前記TABテープ10の裏面13に臨み、T
ABテープ10の搬送方向Pと直交する方向を軸方向と
して配設された回転軸41と、該回転軸41に設けられ
た回転ローラ42とを備えており、前記回転軸41と回
転ローラ42とで回転部材を構成している。この回転ロ
ーラ42は図1(a)に示すように、前記TABテープ
10と回転軸41との間の距離Lよりも小さい半径で形
成された円筒面43を有しており、該円筒面43は前記
TABテープ10に接触不可能とされている。また、前
記円筒面43上の前記回転軸41を挟んで対向する2箇
所には、前記回転ローラ42の幅方向全体に亘って、例
えばナイロン等からなるブラシ44,44が植設されて
いる。尚、本実施例の回転ローラ42では、前記ブラシ
44で凸部を形成しており、このブラシ44の高さと回
転ローラ42自体の半径とを合わせた長さは前記距離L
よりも大きい寸法で形成されて、前記ブラシ44の先端
部分44aが前記TABテープ10に接触可能とされて
いる。
【0012】また、前記マーキング装置40は図1
(a),(b)に示すように、前記検査装置30の検査
部33,34の判定結果に基づいて前記回転軸41の回
転動作を制御する手段としての制御部45を備えてい
る。前記制御部45には図1(a),(b)に示すよう
に、前記検査部33,34及び検出部60が接続されて
おり、これらから入力される信号に基づいて前記制御部
45は、検査部33,34によって外観不良と判定され
たリードパターン20が配置された部分のTABテープ
10にマーキングがなされるように、前記回転ローラ4
2乃至回転軸41の動作を制御する。
【0013】この場合、前記検査部33,34はマーキ
ング装置40から離れた箇所に位置しており、各検査部
33,34とマーキング装置40との距離は夫々異なる
ので、前記制御部45は、各検査部33,34からの判
定結果信号が入力された際に、どちらの検査部33,3
4から入力されたかを検出し、また、前記判定結果信号
の入力の時点から前記検出部60が出力する信号の数を
計数して前記TABテープ10の移動量を算出し、この
移動量が前記検出された判定結果信号の出力元に、前記
回転ローラ42乃至回転軸41を動作させる。
【0014】尚、前記回転軸41は、通常時には図1
(a)に示すように、前記回転ローラ42の円筒面43
が前記TABテープ10の裏面13に離間して臨む状態
で停止しており、マーキング動作時には、前記制御部4
5に制御される図示しない駆動手段の駆動により、前記
TABテープ10の搬送方向Pとは反対の図1(a),
(b)中矢印Aで示す回転方向に所定の時間回転する。
ここで、前記回転軸41の回転時における所定の時間と
は、前記制御部45が前記検出部60からの信号の入力
間隔に基づいて算出した前記TABテープ10の搬送速
度と、該TABテープ10の長手方向における前記リー
ドパターン20の1パターン分の長さとによって決定さ
れるものであり、これにより前記ブラシ44の先端部分
44aが、1パターン分のリードパターン20にのみ接
触するようにしている。
【0015】次に、上記構成による本実施例のマーキン
グ装置40のマーキング動作について説明する。前記パ
ターン21a、インナーリード22a、又はアウターリ
ード23aの欠損、欠落、不整列等の外観不良が生じた
リードパターン20が前記検査部33,34に送られる
と、該検査部33,34は前述したように画像処理等に
よるパターン認識で外観不良であることを判定し、外観
不良である旨の判定結果を示す信号を、前記マーキング
装置40の制御部45に出力する。この信号が入力され
た制御部45は、前記検出部60から入力される信号の
計数結果や、前記判定結果信号の出力元である検査部3
3,34と前記マーキング装置40との距離に基づい
て、前記検査部33,34によって外観不良であると判
別されたリードパターン20が配置された部分のTAB
テープ10が、前記マーキング装置40の位置に達する
タイミング、即ちマーキングのタイミングを決定する。
【0016】マーキングのタイミングが決定されると、
前記制御部45はそのタイミングの時点で前記回転軸4
1を図1(a),(b)に示すように矢印A方向に所定
の時間回転させる。尚、この場合、前記制御部45は、
前述したように前記検出部60から入力される信号に基
づいて前記TABテープ10の搬送速度を算出し、これ
に基づいて、前記回転ローラ42に植設されたブラシ4
4の先端部分44aが前記外観不良と判別されたリード
パターン20の全面をなぞるように、適切な回転軸41
の回転速度と回転時間長を決定して、その決定された時
間及び速度で前記回転軸41を回転させる。すると、前
記回転軸41の回転によって前記回転ローラ42の円筒
面43が図1(a)に示す状態から回転し、これに伴っ
て、図1(b)に示すように前記ブラシ44の先端部分
44aが前記TABテープ10上の外観不良のリードパ
ターン20に接触して、該リードパターン20内のイン
ナーリード22aを掻き上げ、該インナーリード22a
をTABテープ10の裏面13側に折曲する。
【0017】これにより、図3に示した前記検査装置3
0での検査の後工程として行われる電気テストの時点
で、前記インナーリード22aが隣接する他のインナー
リード22aに接触してショート状態となっていると判
別されたり、或は、前記後工程として行われる、前記図
示しないIC、LCD等を自動で実装する実装機(ボン
ダー)での実装の時点で、該インナーリード22aが欠
落して図示しないICやLCDを実装できない状態とな
っていると判別されて、これら外観不良のリードパター
ン20が容易に検出、排除できるようになる。
【0018】尚、このマーキングが終了した後も前記回
転軸41はさらに回転し、これに伴って回転ローラ42
が図1(a)に示す位置に戻ってその状態に維持される
ため、マーキング動作後のTABテープ10には搬送の
妨げとなる負荷が掛からない。また、マーキング動作中
においては、前記回転軸41乃至回転ローラ42が、前
記TABテープ10の搬送方向Pとは反対の図1
(a),(b)中矢印A方向に回転するが、前記TAB
テープ10に接するのがブラシ44の先端部分44aで
あり、該ブラシ44はTABテープ10への接触時に撓
むため、この間においても前記TABテープ10にはそ
の搬送の妨げとなるような方向の負荷が掛からない。逆
に、前記回転ローラ42乃至回転軸41を前記矢印A方
向とは反対の方向に回転させても、前記ブラシ44の先
端部分44aによって前記インナーリード22aを折曲
させることが可能である。即ち、TABテープ10はマ
ーキング動作中であるか否かに関わらず、停止或は減速
されることなく常に一定の速度で搬送される。
【0019】尚、本実施例のマーキング装置40では、
マーキング手段としてブラシ44を用いる構成とし、外
観不良のリードパターン20のインナーリード22aを
折曲するものについて説明したが、本考案はこのような
構成に限定されず、以下に説明するような構成を採用す
ることも可能である。
【0020】図4は本考案の他の実施例によるマーキン
グ装置を示すもので、図4(a)はその概略構成を一部
ブロックで示した説明図、図4(b)は図4(a)に示
す回転ローラの凸部がTABテープの裏面に接した状態
を示す説明図である。この図4(a)に示す構成のマー
キング装置50は、前記TABテープ10の表裏両面1
2,13に臨み、TABテープ10の搬送方向Pと直交
する方向を軸方向として配設された回転軸51,52
と、該回転軸51,52に夫々設けられた第1及び第2
回転ローラ53,56とを備えており、前記回転軸51
と第1回転ローラ53とで回転部材を構成していると共
に、前記回転軸52と第2回転ローラ56とで第2回転
部材を構成している。
【0021】前記回転軸51及び第1回転ローラ53は
前記TABテープ10の裏面13に臨むように配設され
ており、該第1回転ローラ53は図4(a)に示すよう
に、前記TABテープ10と回転軸51との間の距離L
1よりも小さい半径で形成された円筒面54を有してい
る。そして、該円筒面54は前記TABテープ10に接
触不可能とされている。また、前記円筒面54上の前記
回転軸51を挟んで対向する2箇所には、前記第1回転
ローラ53の幅方向全体に亘って凸部55,55が形成
されている。一方、前記回転軸52及び第2回転ローラ
56は前記TABテープ10の表面12に臨むように配
設されており、該第2回転ローラ56は図4(a)に示
すように、前記TABテープ10と回転軸52との間の
距離L2よりも小さい半径で形成された円筒面57を有
している。また、該円筒面57は前記TABテープ10
に接触不可能とされている。
【0022】また、前記円筒面57上の前記回転軸52
を挟んで対向する2箇所には、前記第2回転ローラ56
の幅方向全体に亘って、前記第1回転ローラ53の凸部
55,55に係合可能な凹部58,58が形成されてい
る。さらに、前記マーキング装置50は図4(a),
(b)に示すように、前記検査装置30の検査部33,
34の判定結果や、前記検出部60から入力される信号
に基づいて前記回転軸51,52の回転動作を制御する
手段としての制御部59を備えている。
【0023】尚、前記回転軸51,52は、通常時には
図4(a)に示すように、前記第1及び第2回転ローラ
53,56の円筒面54,57が前記TABテープ10
の表裏両面12,13に離間して臨む状態で停止してお
り、マーキング動作時には前記制御部59に制御される
図示しない駆動手段の駆動により、前記TABテープ1
0の搬送方向Pに合わせた図4(a),(b)中矢印B
で示す回転方向に半周分回転する。
【0024】そして、前述の実施例における制御部45
と同様にして決定されたマーキングのタイミングで、前
記制御部59が図示しない駆動手段を制御して前記回転
軸51,52を図4(a),(b)に示す矢印B方向に
半周分回転させると、前記第1回転ローラ53の円筒面
54及び第2回転ローラ56の円筒面57が図4(a)
に示す状態から回転し、前記前記第1回転ローラ53の
回転に伴って、図4(b)に示すように前記第1回転ロ
ーラ53の凸部55が前記TABテープ10上の外観不
良のリードパターン20に裏面13側から当接する。ま
た、前記第2回転ローラ56の回転に伴って該第2回転
ローラ56の凹部58が、前記第1回転ローラ53の凸
部55と係合するように、前記TABテープ10上の外
観不良のリードパターン20に表面12側から当接す
る。
【0025】これにより、前記外観不良のリードパター
ン20が配設された部分の前記TABテープ10が、前
記第1回転ローラ53の凸部55と第2回転ローラ56
の凹部58との係合により凹凸状に変形され、その変形
部分(図4ではインナーリード22aの部分の場合を示
している)における前記インナーリード22aやアウタ
ーリード23aが折曲される。よって、図3に示した前
記検査装置30での検査の後工程として行われる電気テ
ストの時点で、前記インナーリード22a或はアウター
リード23aが隣接する他のインナーリード22a或は
アウターリード23aに接触してショート状態となって
いると判別されたり、或は、前記後工程として行われ
る、前記図示しないIC、LCD等を自動で実装する実
装機(ボンダー)での実装の時点で、該インナーリード
22a或はアウターリード23aが欠落して図示しない
ICやLCDを実装できない状態となっていると判別さ
れて、これら外観不良のリードパターン20が容易に検
出、排除できるようになる。
【0026】尚、上述した2つの実施例におけるブラシ
44や、凸部55、凹部58は、前記TABテープ10
の全幅に亘って接する形状としてもよく、或は、前記リ
ードパターン20のインナーリード22a或はアウター
リード23aのみに接する形状としてもよよい。また、
本実施例では、前記検査部33,34による外観不良の
判定後にマーキング動作を行うタイミングを決定する際
に、前記TABテープ10のパーフォレーション11の
搬送数を基準としてこれを決定するものとしたが、その
他の方式で前記マーキングのタイミングを決定するよう
にしてもよい。
【0024】
【考案の効果】以上説明したように本考案のマーキング
装置によれば、判定手段の判定結果に基づいて回転部材
を回転させて、外観不良のリードパターンが配設された
部分のTABテープ面に回転部材の凸部を接触させるよ
うにしたので、前記外観不良のリードパターンの例えば
リードの部分が前記凸部の接触により折曲され、これに
より、外観不良であることを機械的或は人的に容易に確
認することができるようになると共に、前記リード等の
折曲によるマーキングを、TABテープの搬送を停止さ
せることなく簡略な構成で前記TABテープ上に施すこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例によるマーキング装置を示す
もので、図1(a)はその概略構成を一部ブロックで示
した説明図、図1(b)は図1(a)に示す回転ローラ
のブラシがTABテープのインナーリードに接した状態
を示す説明図である。
【図2】図1(a)に示すマーキング装置が設けられた
外観検査装置の概略構成を示す説明図である。
【図3】リードパターンが多数形成されたTABテープ
を示す説明図である。
【図4】本考案の他の実施例によるマーキング装置を示
すもので、図4(a)はその概略構成を一部ブロックで
示した説明図、図4(b)は図4(a)に示す回転ロー
ラの凸部がTABテープの裏面に接した状態を示す説明
図である。
【図5】外観不良のリードパターンをTABテープ上か
ら排除する手段の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
10 TABテープ 20 リードパターン 33,34 検査部(判定手段) 40,50 マーキング装置 41,51,52 回転軸(回転部材) 42,53,56 回転ローラ(回転部材) 44 ブラシ(凸部) 55 凸部 58 凹部 45,59 制御部(制御手段) P 搬送方向

Claims (3)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路素子接続用の複数本のリードを有す
    るリードパターンが間隔を置いて多数配設されたTAB
    テープ上に、前記リードパターンの良否を判定する判定
    手段の判定結果をマーキングするマーキング装置であっ
    て、 前記TABテープの搬送路上に該TABテープの一面に
    臨むように配設され、 TABテープの搬送方向と直交する方向を軸方向とする
    回転部材と、 該回転部材に設けられ、前記TABテープ面に接触可能
    な凸部と、 前記判定手段の判定結果に基づいて、前記凸部が前記リ
    ードパターンのリードに接触するように、前記回転部材
    の回転動作を制御する制御手段と、 を備えることを特徴とするマーキング装置。
  2. 【請求項2】 前記凸部は、前記回転部材で支持された
    ブラシにより形成されていることを特徴とする請求項1
    記載のマーキング装置。
  3. 【請求項3】 前記TABテープを挟んで前記回転部材
    とは反対側のTABテープ面に臨むように配設され、該
    TABテープの搬送方向と直交する方向を軸方向とする
    第2回転部材と、 該第2回転部材に設けられ、前記凸部に係合可能な凹部
    とをさらに備え、 前記制御手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、
    前記凹部が前記凸部に係合するするように、前記第2回
    転部材の回転動作を制御する、 ことを特徴とする請求項1記載のマーキング装置。
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