JP2563368Y2 - 螢光x線分析装置の試料室開機構 - Google Patents
螢光x線分析装置の試料室開機構Info
- Publication number
- JP2563368Y2 JP2563368Y2 JP7723192U JP7723192U JP2563368Y2 JP 2563368 Y2 JP2563368 Y2 JP 2563368Y2 JP 7723192 U JP7723192 U JP 7723192U JP 7723192 U JP7723192 U JP 7723192U JP 2563368 Y2 JP2563368 Y2 JP 2563368Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shield cover
- main body
- sample chamber
- support frame
- opening mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は螢光X線分析装置の試料
室開機構に係り、詳しくはロック解除動作に連係して試
料室が自動的に開放されるようにした試料室開機構に関
する。
室開機構に係り、詳しくはロック解除動作に連係して試
料室が自動的に開放されるようにした試料室開機構に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の螢光X線分析装置では、測定中に
X線が外部に漏洩することのないように、試料室をシー
ルドカバーで覆っていた。そのシールドカバーは、装置
本体の上部に俯仰自在に支持され、閉状態では、ロック
手段によってロックされ、かつその閉動作によって連動
機構を介してシャッターが開かれるとともに、X線管か
ら一次X線が試料に向けて照射され、測定がおこなわれ
るように構成されていた。
X線が外部に漏洩することのないように、試料室をシー
ルドカバーで覆っていた。そのシールドカバーは、装置
本体の上部に俯仰自在に支持され、閉状態では、ロック
手段によってロックされ、かつその閉動作によって連動
機構を介してシャッターが開かれるとともに、X線管か
ら一次X線が試料に向けて照射され、測定がおこなわれ
るように構成されていた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】ところで、試料によっ
ては、試料室内を真空に調圧して測定した方が好ましい
場合があり、そのような場合には、試料室内を気密状態
として、これにホースを介してポンプを接続し、予め真
空引きをおこなうようにしていた。
ては、試料室内を真空に調圧して測定した方が好ましい
場合があり、そのような場合には、試料室内を気密状態
として、これにホースを介してポンプを接続し、予め真
空引きをおこなうようにしていた。
【0004】しかるに、試料室内を気密状態にするに
は、ロック状態下のシールドカバーを、試料台のまわり
に密接させなければならなかった。またシールドカバー
は、大気圧に耐える必要があるため重量が比較的大きく
なる。
は、ロック状態下のシールドカバーを、試料台のまわり
に密接させなければならなかった。またシールドカバー
は、大気圧に耐える必要があるため重量が比較的大きく
なる。
【0005】一方、取り扱いを簡便にするためには、ロ
ックを解除する動作と連動してシールドカバーが自動的
に開かれるようにすることが望まれていた。ところが、
そのような重いシールドカバーを開かせるためには、大
きな持ち上げ力を必要とする。しかし、シールドカバー
に大きな持ち上げ力を作用させる付勢手段を設けると、
シールドカバーのロック状態下で、試料室内の気密性を
高めるのがむつかしくなるという厄介な問題があった。
ックを解除する動作と連動してシールドカバーが自動的
に開かれるようにすることが望まれていた。ところが、
そのような重いシールドカバーを開かせるためには、大
きな持ち上げ力を必要とする。しかし、シールドカバー
に大きな持ち上げ力を作用させる付勢手段を設けると、
シールドカバーのロック状態下で、試料室内の気密性を
高めるのがむつかしくなるという厄介な問題があった。
【0006】本考案はこのような実情に鑑みてなされ、
ロック解除動作と連動してシールドカバーが自動的に開
放される気密性の良好な螢光X線分析装置の試料室開機
構を提供することを目的としている。
ロック解除動作と連動してシールドカバーが自動的に開
放される気密性の良好な螢光X線分析装置の試料室開機
構を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本考案は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、装置本体に対して俯仰自在に支持された支持枠
を、その装置本体に対してロックするためのロック手段
が設けられ、X線の外部への漏洩を防止するためのシー
ルドカバー本体が、前記ロック手段のロック状態下で前
記支持枠に対して下動自在となるように支持される一
方、ロック解除下で前記支持枠をシールドカバー本体と
ともに挙上させる付勢手段が設けられていることを特徴
としている。
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、装置本体に対して俯仰自在に支持された支持枠
を、その装置本体に対してロックするためのロック手段
が設けられ、X線の外部への漏洩を防止するためのシー
ルドカバー本体が、前記ロック手段のロック状態下で前
記支持枠に対して下動自在となるように支持される一
方、ロック解除下で前記支持枠をシールドカバー本体と
ともに挙上させる付勢手段が設けられていることを特徴
としている。
【0008】
【作用】支持枠が装置本体にロックされた状態下では、
シールドカバー本体がその支持枠に対して下動自在に支
持されていることから、シールドカバー本体が、付勢手
段の付勢力の影響を受けることなく、その自重で装置本
体に密接してその内部に気密な試料室を形成する。
シールドカバー本体がその支持枠に対して下動自在に支
持されていることから、シールドカバー本体が、付勢手
段の付勢力の影響を受けることなく、その自重で装置本
体に密接してその内部に気密な試料室を形成する。
【0009】一方、装置本体に対する支持枠のロックが
解除されると、シールドカバー本体が支持枠とともに、
付勢手段の付勢力で挙上され、試料室が開放される。
解除されると、シールドカバー本体が支持枠とともに、
付勢手段の付勢力で挙上され、試料室が開放される。
【0010】
【実施例】以下に本考案の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は螢光X線分析装置1の試料室開機構
2の要部構成を示し、符号3は測定中にX線の外部への
漏洩を防止するためのシールドカバー本体で、上底を有
する円筒容器状に形成され、その下部周縁にはOリング
4が装着されており、実線で示す閉状態では、装置本体
5の上部に載設された台板6と密接し、その内部に気密
な試料室7が形成される。
に説明する。図1は螢光X線分析装置1の試料室開機構
2の要部構成を示し、符号3は測定中にX線の外部への
漏洩を防止するためのシールドカバー本体で、上底を有
する円筒容器状に形成され、その下部周縁にはOリング
4が装着されており、実線で示す閉状態では、装置本体
5の上部に載設された台板6と密接し、その内部に気密
な試料室7が形成される。
【0011】8はそのシールドカバー本体3を可動状態
に支持する支持枠で、コの字形状に形成されたフレーム
部材よりなり(図2参照)、その両側端部が装置本体5
の後部上端縁に枢支される一方、そのシールドカバー本
体3は支持枠8に固定された外被部材9によって被わ
れ、これらシールドカバー本体3、支持枠8および外被
部材9とでシールドカバー11が構成され、そのシールド
カバー11が装置本体5に対して俯仰自在となっている。
に支持する支持枠で、コの字形状に形成されたフレーム
部材よりなり(図2参照)、その両側端部が装置本体5
の後部上端縁に枢支される一方、そのシールドカバー本
体3は支持枠8に固定された外被部材9によって被わ
れ、これらシールドカバー本体3、支持枠8および外被
部材9とでシールドカバー11が構成され、そのシールド
カバー11が装置本体5に対して俯仰自在となっている。
【0012】その支持枠8の両側部には上下方向の長孔
12が穿設形成される一方、シールドカバー本体3の両側
部を平坦状に形成して支持枠8の両側部の内側にその両
平坦部を対応させてシールドカバー本体3を嵌め入れ、
その両長孔12,12に外側から遊嵌状態に嵌挿させたツバ
付ボルト13,13を各平坦部に螺着固定している。これに
より、シールドカバー本体3が閉状態下で支持枠8に対
して上下方向に可動となるように支持される。
12が穿設形成される一方、シールドカバー本体3の両側
部を平坦状に形成して支持枠8の両側部の内側にその両
平坦部を対応させてシールドカバー本体3を嵌め入れ、
その両長孔12,12に外側から遊嵌状態に嵌挿させたツバ
付ボルト13,13を各平坦部に螺着固定している。これに
より、シールドカバー本体3が閉状態下で支持枠8に対
して上下方向に可動となるように支持される。
【0013】一方、上述の支持枠8の一側部と装置本体
5の後部との間には、シールドカバー11を挙上させるた
めの付勢手段であるガススプリング14が介設されてお
り、また、その支持枠8の一側前部には、ロック手段21
を構成する被掛止部材15が固定され、図示実線のように
シールドカバー11を閉じたときには、装置本体5の前部
に設けられた掛止部材16に対してその被掛止部材15がロ
ック掛止されるようになっている。
5の後部との間には、シールドカバー11を挙上させるた
めの付勢手段であるガススプリング14が介設されてお
り、また、その支持枠8の一側前部には、ロック手段21
を構成する被掛止部材15が固定され、図示実線のように
シールドカバー11を閉じたときには、装置本体5の前部
に設けられた掛止部材16に対してその被掛止部材15がロ
ック掛止されるようになっている。
【0014】より詳しくは、その掛止部材16はスプリン
グ22(図2,図3参照)によってロック方向に付勢さ
れ、シールドカバー11の開放下では、ストッパー23に当
接してロック解除の位置に設定されており、シールドカ
バー11を閉じると、被掛止部材15によってそのストッパ
ー23が押し下げられて掛止部材16がスプリング22の付勢
でロック方向に移動し、被掛止部材15が掛止されシール
ドカバー11がロックされる。
グ22(図2,図3参照)によってロック方向に付勢さ
れ、シールドカバー11の開放下では、ストッパー23に当
接してロック解除の位置に設定されており、シールドカ
バー11を閉じると、被掛止部材15によってそのストッパ
ー23が押し下げられて掛止部材16がスプリング22の付勢
でロック方向に移動し、被掛止部材15が掛止されシール
ドカバー11がロックされる。
【0015】このようなロック状態下では、ガススプリ
ング14の拡長付勢力が支持枠8に作用するが、シールド
カバー本体3は、支持枠8に対して可動支持されている
ことからガススプリング14の拡長付勢力の影響を受ける
ことがなく、その自重で、Oリング4を介して台板6上
に密接し試料室7内を気密状態にすることができる。
ング14の拡長付勢力が支持枠8に作用するが、シールド
カバー本体3は、支持枠8に対して可動支持されている
ことからガススプリング14の拡長付勢力の影響を受ける
ことがなく、その自重で、Oリング4を介して台板6上
に密接し試料室7内を気密状態にすることができる。
【0016】その試料室7は、装置本体5とは別に設け
られたロータリーポンプ17(図4参照)とホース18を介
して接続され、真空引きによりその内部を1torr以下の
真空状態に調圧できるようになっている。なお、試料室
7内の台板6には試料台受19が載設され、その中央部に
円板状の試料台20が着脱自在に嵌装されている。図1
中、符号25は試料である。また、図4中、符号24はCP
Uを内蔵したマイコンで、分析測定のための各種演算を
おこない、かつ分析値をCRT画面に表示する。
られたロータリーポンプ17(図4参照)とホース18を介
して接続され、真空引きによりその内部を1torr以下の
真空状態に調圧できるようになっている。なお、試料室
7内の台板6には試料台受19が載設され、その中央部に
円板状の試料台20が着脱自在に嵌装されている。図1
中、符号25は試料である。また、図4中、符号24はCP
Uを内蔵したマイコンで、分析測定のための各種演算を
おこない、かつ分析値をCRT画面に表示する。
【0017】一方、その掛止部材16と一体に前方に突設
されたレバー16aを右方向に操作すると、ロック手段21
のロックを解除することができ、そのロック解除動作と
連動して、ガススプリング14の付勢力でシールドカバー
11が図1の二点鎖線で示す位置に開き、試料室7が開放
される。他方、ストッパー23が突出して掛止部材16がロ
ック解除の位置に設定されるようになっている。
されたレバー16aを右方向に操作すると、ロック手段21
のロックを解除することができ、そのロック解除動作と
連動して、ガススプリング14の付勢力でシールドカバー
11が図1の二点鎖線で示す位置に開き、試料室7が開放
される。他方、ストッパー23が突出して掛止部材16がロ
ック解除の位置に設定されるようになっている。
【0018】なお、図示は省略するが、支持枠8の両側
部に開放した長孔12内にスプリングを嵌装して、ツバ付
ボルト13を下方に付勢させるようにすれば、シールドカ
バー11をロックしたときに、シールドカバー本体3の自
重に加えてスプリングの付勢力をも作用させて、試料室
7内をよりタイトな気密状態にすることができ、シール
ドカバー本体3の重量を軽減することもできる。
部に開放した長孔12内にスプリングを嵌装して、ツバ付
ボルト13を下方に付勢させるようにすれば、シールドカ
バー11をロックしたときに、シールドカバー本体3の自
重に加えてスプリングの付勢力をも作用させて、試料室
7内をよりタイトな気密状態にすることができ、シール
ドカバー本体3の重量を軽減することもできる。
【0019】また、長孔12とそれに遊嵌するツバ付ボル
ト13に代えて、摺動自在な凹凸嵌合による案内手段をシ
ールドカバー本体3と支持枠8との間に設けてもよく、
あるいは、リンク機構によってシールドカバー本体3を
支持枠8に対して上下可動に支持させてもよい。
ト13に代えて、摺動自在な凹凸嵌合による案内手段をシ
ールドカバー本体3と支持枠8との間に設けてもよく、
あるいは、リンク機構によってシールドカバー本体3を
支持枠8に対して上下可動に支持させてもよい。
【0020】
【考案の効果】以上説明したように、本考案の螢光X線
分析装置の試料室開機構によれば、装置本体に対して俯
仰自在に支持された支持枠を、その装置本体に対してロ
ックするロック手段を設け、X線の外部への漏洩を防止
するためのシールドカバー本体を、前記ロック手段のロ
ック状態下で前記支持枠に対して下動自在となるように
支持させる一方、ロック解除下で前記支持枠をシールド
カバー本体とともに挙上させる付勢手段を設けているの
で、ロック状態下では、シールドカバー本体が、その自
重で装置本体に密接してその内部に気密な試料室を形成
することができ、ロックを解除すると、シールドカバー
本体が支持枠とともに付勢手段の付勢力で挙上され、き
わめて取り扱い易いものとなった。
分析装置の試料室開機構によれば、装置本体に対して俯
仰自在に支持された支持枠を、その装置本体に対してロ
ックするロック手段を設け、X線の外部への漏洩を防止
するためのシールドカバー本体を、前記ロック手段のロ
ック状態下で前記支持枠に対して下動自在となるように
支持させる一方、ロック解除下で前記支持枠をシールド
カバー本体とともに挙上させる付勢手段を設けているの
で、ロック状態下では、シールドカバー本体が、その自
重で装置本体に密接してその内部に気密な試料室を形成
することができ、ロックを解除すると、シールドカバー
本体が支持枠とともに付勢手段の付勢力で挙上され、き
わめて取り扱い易いものとなった。
【図1】本考案の螢光X線分析装置の試料室開機構の一
実施例を示す要部側面図である。
実施例を示す要部側面図である。
【図2】同一部断面平面図である。
【図3】同ロック手段の斜視図である。
【図4】同装置の全体構成を示す斜視図である。
3…シールドカバー本体、5…装置本体、7…試料室、
8…支持枠、14…付勢手段、21…ロック手段。
8…支持枠、14…付勢手段、21…ロック手段。
Claims (1)
- 【請求項1】 装置本体に対して俯仰自在に支持された
支持枠を、その装置本体に対してロックするためのロッ
ク手段が設けられ、X線の外部への漏洩を防止するため
のシールドカバー本体が、前記ロック手段のロック状態
下で前記支持枠に対して下動自在となるように支持され
る一方、ロック解除下で前記支持枠をシールドカバー本
体とともに挙上させる付勢手段が設けられていることを
特徴とする螢光X線分析装置の試料室開機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7723192U JP2563368Y2 (ja) | 1992-10-11 | 1992-10-11 | 螢光x線分析装置の試料室開機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7723192U JP2563368Y2 (ja) | 1992-10-11 | 1992-10-11 | 螢光x線分析装置の試料室開機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0635956U JPH0635956U (ja) | 1994-05-13 |
JP2563368Y2 true JP2563368Y2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=13628093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7723192U Expired - Lifetime JP2563368Y2 (ja) | 1992-10-11 | 1992-10-11 | 螢光x線分析装置の試料室開機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2563368Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5434841B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2014-03-05 | 株式会社島津製作所 | 分析装置のカバー開閉機構 |
JP5240258B2 (ja) * | 2010-09-02 | 2013-07-17 | 株式会社島津製作所 | X線分析装置 |
JP2011022163A (ja) * | 2010-10-29 | 2011-02-03 | Shimadzu Corp | X線分析装置 |
JP7389719B2 (ja) * | 2020-07-09 | 2023-11-30 | 株式会社日立ハイテク | 開閉蓋装置およびそれを備えた自動分析装置 |
-
1992
- 1992-10-11 JP JP7723192U patent/JP2563368Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0635956U (ja) | 1994-05-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |