JP2560079Y2 - 細線径測定装置 - Google Patents
細線径測定装置Info
- Publication number
- JP2560079Y2 JP2560079Y2 JP1351193U JP1351193U JP2560079Y2 JP 2560079 Y2 JP2560079 Y2 JP 2560079Y2 JP 1351193 U JP1351193 U JP 1351193U JP 1351193 U JP1351193 U JP 1351193U JP 2560079 Y2 JP2560079 Y2 JP 2560079Y2
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- Japan
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- measured
- thin wire
- wire diameter
- wire
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、細線径測定装置に関
し、さらに詳しくは、フランフォーファ回折像を利用し
て被測定細線の線径を非接触で測定する細線径測定装置
に関する。
し、さらに詳しくは、フランフォーファ回折像を利用し
て被測定細線の線径を非接触で測定する細線径測定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６により、フランフォーファ回折像を
利用して被測定細線の線径を非接触で測定する原理を説
明する。レーザ光源１１と受光器１２とを十分遠い距離
に設け、レーザビームＢの途中に被測定細線Ｓを介在さ
せると、受光器１２にフランフォーファ回折像Ｆが投影
される。レーザビーム線の波長をλとし，被測定細線Ｗ
から受光器１２までの距離をＬとし，フランフォーファ
回折像Ｆの光の強さの極小位置の間隔をｄとし，補正係
数をαとするとき、被測定細線Ｓの線径φは、 φ＝α・λ・Ｌ／ｄ …(１) で求められる。
利用して被測定細線の線径を非接触で測定する原理を説
明する。レーザ光源１１と受光器１２とを十分遠い距離
に設け、レーザビームＢの途中に被測定細線Ｓを介在さ
せると、受光器１２にフランフォーファ回折像Ｆが投影
される。レーザビーム線の波長をλとし，被測定細線Ｗ
から受光器１２までの距離をＬとし，フランフォーファ
回折像Ｆの光の強さの極小位置の間隔をｄとし，補正係
数をαとするとき、被測定細線Ｓの線径φは、 φ＝α・λ・Ｌ／ｄ …(１) で求められる。
【０００３】従来のこの種の細線径測定装置としては、
例えば実開昭５９−５６５０８号公報に記載の細線外径
測定装置が知られている。この細線外径測定装置は、被
測定細線Ｓの線径φの範囲に対応して距離Ｌを可変と
し，間隔ｄの変化範囲を制限して、被測定細線Ｓの線径
φにかかわらず，受光器１２による間隔ｄの測定精度を
一定にするものである。
例えば実開昭５９−５６５０８号公報に記載の細線外径
測定装置が知られている。この細線外径測定装置は、被
測定細線Ｓの線径φの範囲に対応して距離Ｌを可変と
し，間隔ｄの変化範囲を制限して、被測定細線Ｓの線径
φにかかわらず，受光器１２による間隔ｄの測定精度を
一定にするものである。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】レーザビームＢの途中
に被測定細線Ｓを介在させる際、被測定細線Ｓに与える
張力が弱いと、たわみが生じて，真円度を測定するため
に被測定細線Ｓの方向を変えたときレーザビームＢから
外れてしまう。これに対し、張力が強いと、被測定細線
Ｓが伸びたり，切れてしまう。従って、被測定細線Ｓに
適度の張力を与えることが重要になるが、被測定細線Ｓ
は線径０．０１ｍｍ〜０．３ｍｍであり、極めて細い線
径のものが含まれるため、適度の張力の範囲が狭く、適
度の張力を与えるのは容易でない。しかし、上記従来の
細線外径測定装置では、被測定細線Ｓに与える張力につ
いて何ら考慮されていない。そこで、この考案の目的
は、適度の張力を与えて被測定細線を張設できるように
した細線径測定装置を提供することにある。
に被測定細線Ｓを介在させる際、被測定細線Ｓに与える
張力が弱いと、たわみが生じて，真円度を測定するため
に被測定細線Ｓの方向を変えたときレーザビームＢから
外れてしまう。これに対し、張力が強いと、被測定細線
Ｓが伸びたり，切れてしまう。従って、被測定細線Ｓに
適度の張力を与えることが重要になるが、被測定細線Ｓ
は線径０．０１ｍｍ〜０．３ｍｍであり、極めて細い線
径のものが含まれるため、適度の張力の範囲が狭く、適
度の張力を与えるのは容易でない。しかし、上記従来の
細線外径測定装置では、被測定細線Ｓに与える張力につ
いて何ら考慮されていない。そこで、この考案の目的
は、適度の張力を与えて被測定細線を張設できるように
した細線径測定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この考案の細線径測定装
置は、長尺固定台に、レーザビームを出射するレーザ光
源と、被測定細線の保持手段と、前記レーザビームによ
る被測定細線のフランフォーファ回折像を受光する受光
器とを設け、前記フランフォーファ回折像のパタンから
細線径を算出する細線径測定装置において、前記保持手
段が、被測定細線の両端部を固定する止め具と、Ｖ溝を
有する２箇所のダイスと、前記２箇所のダイス間以外に
おいて２つのダイスのＶ溝に架けられた被測定細線に適
度の張力を与えて，Ｖ溝の調心効果により被測定細線を
所定の測定位置に張架する押圧部材と、前記ダイスを保
持し且つ所定の方向に複数の測定孔を有する中空部材
と、前記止め具，ダイス，押圧部材および中空部材を設
置すると共に左右回転可能なホルダとを具備してなるこ
とを構成上の特徴とするものである。
置は、長尺固定台に、レーザビームを出射するレーザ光
源と、被測定細線の保持手段と、前記レーザビームによ
る被測定細線のフランフォーファ回折像を受光する受光
器とを設け、前記フランフォーファ回折像のパタンから
細線径を算出する細線径測定装置において、前記保持手
段が、被測定細線の両端部を固定する止め具と、Ｖ溝を
有する２箇所のダイスと、前記２箇所のダイス間以外に
おいて２つのダイスのＶ溝に架けられた被測定細線に適
度の張力を与えて，Ｖ溝の調心効果により被測定細線を
所定の測定位置に張架する押圧部材と、前記ダイスを保
持し且つ所定の方向に複数の測定孔を有する中空部材
と、前記止め具，ダイス，押圧部材および中空部材を設
置すると共に左右回転可能なホルダとを具備してなるこ
とを構成上の特徴とするものである。
【０００６】
【作用】この考案の細線径測定装置では、被測定細線の
両端部を止め具で固定し、被測定細線の中間部をＶ溝を
有する２箇所のダイスで支持する。そして、２箇所のダ
イス間以外の中間部において、押圧部材で被測定細線に
張力を与える。そこで、押圧部材を細線径に合せた強さ
とすれば、容易に適度の張力を被測定細線に与えること
が出来る。
両端部を止め具で固定し、被測定細線の中間部をＶ溝を
有する２箇所のダイスで支持する。そして、２箇所のダ
イス間以外の中間部において、押圧部材で被測定細線に
張力を与える。そこで、押圧部材を細線径に合せた強さ
とすれば、容易に適度の張力を被測定細線に与えること
が出来る。
【０００７】また、Ｖ溝の調心効果により被測定細線は
所定の測定位置（ホルダの左右回転の回転軸の位置）に
張架され，ダイスを保持する中空部材は複数の測定孔を
有し，さらに中空部材を設置するホルダは左右回転可能
であることにより、ホルダを左右回転させれば、被測定
細線の真円度を容易に測定することが出来る。
所定の測定位置（ホルダの左右回転の回転軸の位置）に
張架され，ダイスを保持する中空部材は複数の測定孔を
有し，さらに中空部材を設置するホルダは左右回転可能
であることにより、ホルダを左右回転させれば、被測定
細線の真円度を容易に測定することが出来る。
【０００８】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの考案をさら
に詳細に説明する。なお、これによりこの考案が限定さ
れるものではない。図１は、この考案の一実施例の細線
径測定装置の構成図である。この細線径測定装置１００
は、長尺固定台１２０に、被測定細線Ｓの保持具１１０
と、レーザビームＢを出射するレーザ光源１３０と、レ
ーザビームＢによる被測定細線Ｓのフランフォーファ回
折像を受光する受光器１４０とを設けて構成されてい
る。レーザ光源１３０は、Ｈe−Ｎeレーザ発振器であ
る。受光器１４０は、１次元イメージセンサである。
に詳細に説明する。なお、これによりこの考案が限定さ
れるものではない。図１は、この考案の一実施例の細線
径測定装置の構成図である。この細線径測定装置１００
は、長尺固定台１２０に、被測定細線Ｓの保持具１１０
と、レーザビームＢを出射するレーザ光源１３０と、レ
ーザビームＢによる被測定細線Ｓのフランフォーファ回
折像を受光する受光器１４０とを設けて構成されてい
る。レーザ光源１３０は、Ｈe−Ｎeレーザ発振器であ
る。受光器１４０は、１次元イメージセンサである。
【０００９】保持具１１０は、ホルダ１１１と、そのホ
ルダ１１１を着脱可能に支承する受け台１１２とから構
成される。受け台１１２は、バー１１３を手にもって回
転させることで、長尺固定台１２０に対して左右回転可
能である。このとき、ホルダ１１１も左右回転する。ま
た、受け台１１２には、回転角度を示す目盛が印字また
は刻印されている。
ルダ１１１を着脱可能に支承する受け台１１２とから構
成される。受け台１１２は、バー１１３を手にもって回
転させることで、長尺固定台１２０に対して左右回転可
能である。このとき、ホルダ１１１も左右回転する。ま
た、受け台１１２には、回転角度を示す目盛が印字また
は刻印されている。
【００１０】図２に示すように、ホルダ１１１は、Ｖ溝
を有する２つのダイス１，１と、当該ダイス１，１を所
定間隔で保持する中空部材２と、被測定細線Ｓの両端部
を挟んで固定する止め具３と、その止め具３に両端部を
挟んで固定され且つ前記２つのダイス１，１のＶ溝に中
間部を架けられた被測定細線Ｓに適度の張力を与えるコ
イルバネ４とから構成される。
を有する２つのダイス１，１と、当該ダイス１，１を所
定間隔で保持する中空部材２と、被測定細線Ｓの両端部
を挟んで固定する止め具３と、その止め具３に両端部を
挟んで固定され且つ前記２つのダイス１，１のＶ溝に中
間部を架けられた被測定細線Ｓに適度の張力を与えるコ
イルバネ４とから構成される。
【００１１】前記コイルバネ４の一端には、被測定細線
Ｓを引っ掛けて押すフック４１が設けられる。コイルバ
ネ４の他端は、ホルダ１１１に着脱可能に固定される。
着脱可能とするのは、被測定細線Ｓの径に合わせた強さ
のコイルバネ４に交換するためである。コイルバネ４が
被測定細線Ｓを押す方向は、図３に示すように、ダイス
１のＶ溝開口方向とほぼ逆方向（図中矢印方向）とす
る。Ｖ溝の底部１ａの内径は被測定細線Ｓの線径よりも
大なので、被測定細線ＳはＶ溝の底部１ａに押付けら
れ、位置決めされる（調心効果）。
Ｓを引っ掛けて押すフック４１が設けられる。コイルバ
ネ４の他端は、ホルダ１１１に着脱可能に固定される。
着脱可能とするのは、被測定細線Ｓの径に合わせた強さ
のコイルバネ４に交換するためである。コイルバネ４が
被測定細線Ｓを押す方向は、図３に示すように、ダイス
１のＶ溝開口方向とほぼ逆方向（図中矢印方向）とす
る。Ｖ溝の底部１ａの内径は被測定細線Ｓの線径よりも
大なので、被測定細線ＳはＶ溝の底部１ａに押付けら
れ、位置決めされる（調心効果）。
【００１２】図４は、被測定細線Ｓの線材と，線径と，
与えるべき適度の張力の対応表である。例えば被測定細
線Ｓが銅材で線径が０．０１ｍｍのときの適度の張力は
２ｇである。また、被測定細線ＳがＮiＣr合金材で線径
が０．０１ｍｍのときの適度の押圧力は１ｇである。従
って、各張力に対応した数種類のコイルバネ４を準備し
ておく。
与えるべき適度の張力の対応表である。例えば被測定細
線Ｓが銅材で線径が０．０１ｍｍのときの適度の張力は
２ｇである。また、被測定細線ＳがＮiＣr合金材で線径
が０．０１ｍｍのときの適度の押圧力は１ｇである。従
って、各張力に対応した数種類のコイルバネ４を準備し
ておく。
【００１３】図５は、中空部材２の端面図である。この
中空部材２は、４５゜ずつ４方向に貫通した測定孔２ａ
有するので、４方向から被測定細線Ｓを測定可能であ
る。
中空部材２は、４５゜ずつ４方向に貫通した測定孔２ａ
有するので、４方向から被測定細線Ｓを測定可能であ
る。
【００１４】以上の細線径測定装置１００によれば、被
測定細線Ｓに適度の張力を容易に与えられるので、被測
定細線Ｓにたわみ又は伸びが生じない。また、被測定細
線Ｓを所定位置に位置決めでき、左右回転させても位置
がずれない。従って、測定精度が向上し、正確に真円度
も測定できる。
測定細線Ｓに適度の張力を容易に与えられるので、被測
定細線Ｓにたわみ又は伸びが生じない。また、被測定細
線Ｓを所定位置に位置決めでき、左右回転させても位置
がずれない。従って、測定精度が向上し、正確に真円度
も測定できる。
【００１５】
【考案の効果】この考案の細線径測定装置によれば、被
測定細線に適度の張力を容易に与えられ、また、被測定
細線をレーザビーム内に正確に位置決めできるので、測
定精度が向上し、正確に真円度を測定できる。
測定細線に適度の張力を容易に与えられ、また、被測定
細線をレーザビーム内に正確に位置決めできるので、測
定精度が向上し、正確に真円度を測定できる。
【図１】この考案の一実施例の細線径測定装置の構成図
である。
である。
【図２】この考案にかかるホルダの斜視図である。
【図３】図１のホルダに使用するダイスの断面図であ
る。
る。
【図４】被測定細線の線材と線径と与えるべき適度の張
力の対応を示す図表である。
力の対応を示す図表である。
【図５】図１のホルダに使用する中空部材２の端面図で
ある。
ある。
【図６】従来の細線径測定装置の原理の説明図である。
１００ 細線径測定装置 １１０ 保持具 １１１ ホルダ １ ダイス ２ 中空部材 ３ 止め具 ４ コイルバネ １１２ 受け台 １１３ バー １２０ 長尺固定台 １３０ レーザ光源 １４０ 受光器 Ｓ 被測定細線 Ｂ レーザビーム
Claims (1)
- 【請求項１】 長尺固定台に、レーザビームを出射する
レーザ光源と、被測定細線の保持手段と、前記レーザビ
ームによる被測定細線のフランフォーファ回折像を受光
する受光器とを設け、前記フランフォーファ回折像のパ
タンから細線径を算出する細線径測定装置において、 前記保持手段が、被測定細線の両端部を固定する止め具
と、Ｖ溝を有する２箇所のダイスと、前記２箇所のダイ
ス間以外において２つのダイスのＶ溝に架けられた被測
定細線に適度の張力を与えて，Ｖ溝の調心効果により被
測定細線を所定の測定位置に張架する押圧部材と、前記
ダイスを保持し且つ所定の方向に複数の測定孔を有する
中空部材と、前記止め具，ダイス，押圧部材および中空
部材を設置すると共に左右回転可能なホルダとを具備し
てなることを特徴とする細線径測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1351193U JP2560079Y2 (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | 細線径測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1351193U JP2560079Y2 (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | 細線径測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0672003U JPH0672003U (ja) | 1994-10-07 |
| JP2560079Y2 true JP2560079Y2 (ja) | 1998-01-21 |
Family
ID=11835177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1351193U Expired - Lifetime JP2560079Y2 (ja) | 1993-03-23 | 1993-03-23 | 細線径測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2560079Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002192231A (ja) * | 2000-10-17 | 2002-07-10 | Kanai Hiroaki | 線径測定用金属線の回動装置 |
-
1993
- 1993-03-23 JP JP1351193U patent/JP2560079Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0672003U (ja) | 1994-10-07 |
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