JPH03211402A - チューブの折径測定方法 - Google Patents
チューブの折径測定方法Info
- Publication number
- JPH03211402A JPH03211402A JP640690A JP640690A JPH03211402A JP H03211402 A JPH03211402 A JP H03211402A JP 640690 A JP640690 A JP 640690A JP 640690 A JP640690 A JP 640690A JP H03211402 A JPH03211402 A JP H03211402A
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、プラスチックからなる熱収縮性チューブや
、その他のプラスチックチューブなどの管状体(以下、
単にチューブという。)の折径(W状体を平坦に押しつ
ぶして帯状体にしたときの幅寸法)を測定する方法に係
わるものである。
、その他のプラスチックチューブなどの管状体(以下、
単にチューブという。)の折径(W状体を平坦に押しつ
ぶして帯状体にしたときの幅寸法)を測定する方法に係
わるものである。
(従来の技術)
チューブの折径21定するには、チューブに物差の目壷
部を強く押しつけて測定する、又は筆記用具等にチュー
ブを巻きつけてノギスで測定する方法が知られているが
、測定の都度チューブに大きな応力がかかって変形を起
し、また応力の強さの大小によって変形の程度も測定の
都度変ってくるので測定結果が不正確になる。
部を強く押しつけて測定する、又は筆記用具等にチュー
ブを巻きつけてノギスで測定する方法が知られているが
、測定の都度チューブに大きな応力がかかって変形を起
し、また応力の強さの大小によって変形の程度も測定の
都度変ってくるので測定結果が不正確になる。
また、チューブの内部に×体を入れて内圧をかけ、円筒
状態にふくらませ、その外径を測定し、折径値に換算す
る方法が知られている。その円筒の外径を測定するため
に用いる装置として光学式外径測定器が知られている。
状態にふくらませ、その外径を測定し、折径値に換算す
る方法が知られている。その円筒の外径を測定するため
に用いる装置として光学式外径測定器が知られている。
この測定器の測定磯構の概要図を第2図に示す6第2図
に示すものは、レーザ光線を利用した光学式外径測定器
であって、半導体レーザ光源11から発4r!されたレ
ーザ光線は矢印方向に回(する8面ポリゴンミラー12
、次いで反射ミラー13で反射された後、フリメータレ
ンズ14により平行光線にされる。被測定物(即ち円筒
状に膨らまされたチューブ)17はその円筒体が横置さ
れた状態に置かれ、回転する3面ポリゴンミラーにより
、レーザ光線は、横置された被測定物】7を輪切りにす
るように走査する。
に示すものは、レーザ光線を利用した光学式外径測定器
であって、半導体レーザ光源11から発4r!されたレ
ーザ光線は矢印方向に回(する8面ポリゴンミラー12
、次いで反射ミラー13で反射された後、フリメータレ
ンズ14により平行光線にされる。被測定物(即ち円筒
状に膨らまされたチューブ)17はその円筒体が横置さ
れた状態に置かれ、回転する3面ポリゴンミラーにより
、レーザ光線は、横置された被測定物】7を輪切りにす
るように走査する。
被測定物17を走査したレーザ光線は受光レンズ15で
wk紙され、受光素子16に送られる。フリメータレン
で14を通った光線は被測定物17によって連ぎられる
。即ち図中Hで示す長さの部分が連ぎられるのであるが
、その長さは被測定物17の外径寸法に相当するもので
ある。そして、li被測定物の径の大小は二の連ぎられ
ている時間(即も、被測定物をJt*するレーザ光線が
、連げられ始めてから、連ぎられるのが終了するまでの
vF闇)に比例する。これが信号としてコントローラー
18に送られて演tされ、記録計19上記!tされる。
wk紙され、受光素子16に送られる。フリメータレン
で14を通った光線は被測定物17によって連ぎられる
。即ち図中Hで示す長さの部分が連ぎられるのであるが
、その長さは被測定物17の外径寸法に相当するもので
ある。そして、li被測定物の径の大小は二の連ぎられ
ている時間(即も、被測定物をJt*するレーザ光線が
、連げられ始めてから、連ぎられるのが終了するまでの
vF闇)に比例する。これが信号としてコントローラー
18に送られて演tされ、記録計19上記!tされる。
以上のようにして、チューブを膨らませて円筒状とし、
その円筒の外径を測定し、これを折径寸法に換算するこ
とができるが、チューブを膨らませるとさ、プラスチッ
クチューブは弾性を有rるので、外径が大きくなったり
、小さくなったりして一定せず、測定結果は不正確なも
のとなる。
その円筒の外径を測定し、これを折径寸法に換算するこ
とができるが、チューブを膨らませるとさ、プラスチッ
クチューブは弾性を有rるので、外径が大きくなったり
、小さくなったりして一定せず、測定結果は不正確なも
のとなる。
光学式外径測定器による外径測定にはL記のような問題
点はあるが、この測定器は、測定方式としては効率的な
面があり、本発明者は、L記問屋点を解消できれば工業
的に有用な測定方法が得られるとの観点から研究を重ね
本発明を完成した。
点はあるが、この測定器は、測定方式としては効率的な
面があり、本発明者は、L記問屋点を解消できれば工業
的に有用な測定方法が得られるとの観点から研究を重ね
本発明を完成した。
<ysMを解決するための手段)
本発明は投光部から発せられる平行光線を、被測定物に
当てた後、受光部で受け、被測定物によって遮ぎられた
光線の割合に基いて被測定物の寸法を演算し、測定する
装置を用いて、平坦にされた帯状のプラスチックチュー
ブの折径を測定する方法であって、玉記装置の被測定物
を配置する箇所に被測定チューブを当てがう支持体を固
定し、この支持体には光線を通すスリットを形成し、上
記帯状のプラスチックチューブの長手方向中心軸をト記
スリットと直交するように密着させ、スリットを通過す
る平行光線の一部をさえぎらせ、その遮光度に基いて被
測定物の折径を測定する方法に係わるものである。
当てた後、受光部で受け、被測定物によって遮ぎられた
光線の割合に基いて被測定物の寸法を演算し、測定する
装置を用いて、平坦にされた帯状のプラスチックチュー
ブの折径を測定する方法であって、玉記装置の被測定物
を配置する箇所に被測定チューブを当てがう支持体を固
定し、この支持体には光線を通すスリットを形成し、上
記帯状のプラスチックチューブの長手方向中心軸をト記
スリットと直交するように密着させ、スリットを通過す
る平行光線の一部をさえぎらせ、その遮光度に基いて被
測定物の折径を測定する方法に係わるものである。
以下、本発明を添付図面の説明に併せて詳説する。
!1!21は本発明方法を実施する装置の一例の斜視略
図である。この装置はレーザ光線を利用した先学式外径
測定器であって、1はこの測定器の投光部であり、第2
図中、被測定物17よりも右の方に示している機能が収
容されており、2は測定器の受光部であり、第2図中、
被測定物17よりら左の方に示しである機能が収容され
ている(同相、第1図と141J2図とでは、投光部と
受光部とが反対もγ置で示されている。)。3は測定さ
れる帯状にされたチューブが当てかわれる支持体、4は
被測定物の位置決め用突出部であって、支持体3よりも
側方に突出しており、第2図に示されるように、被測定
物の帯状チューブの下縁部がこの突出部に乗せられるよ
うになっている。5は、支持体3に形成されたスリット
、6は被測定物である帯状のチューブである。
図である。この装置はレーザ光線を利用した先学式外径
測定器であって、1はこの測定器の投光部であり、第2
図中、被測定物17よりも右の方に示している機能が収
容されており、2は測定器の受光部であり、第2図中、
被測定物17よりら左の方に示しである機能が収容され
ている(同相、第1図と141J2図とでは、投光部と
受光部とが反対もγ置で示されている。)。3は測定さ
れる帯状にされたチューブが当てかわれる支持体、4は
被測定物の位置決め用突出部であって、支持体3よりも
側方に突出しており、第2図に示されるように、被測定
物の帯状チューブの下縁部がこの突出部に乗せられるよ
うになっている。5は、支持体3に形成されたスリット
、6は被測定物である帯状のチューブである。
支持体3は図示のものでは円柱体からなり、5のスリッ
トは円柱体ハ反対側まで貫通、開口している。従って投
光部1から発振され、産前するレーザ光線はスリット5
を通り、受光部2に達するが、途中でVL測定物である
チューブが支持体3に密着しており、スリット2をふさ
いでいる箇所ではレーザ光線は連ぎられ、受光部2に到
達しないことになる。走査するレーザ光線が、ヒ記のチ
ューブによって遮断されている時間の長さを知り、その
長さがフン)ローラーで演tされ、チューブ6の折径の
寸法が測定される。
トは円柱体ハ反対側まで貫通、開口している。従って投
光部1から発振され、産前するレーザ光線はスリット5
を通り、受光部2に達するが、途中でVL測定物である
チューブが支持体3に密着しており、スリット2をふさ
いでいる箇所ではレーザ光線は連ぎられ、受光部2に到
達しないことになる。走査するレーザ光線が、ヒ記のチ
ューブによって遮断されている時間の長さを知り、その
長さがフン)ローラーで演tされ、チューブ6の折径の
寸法が測定される。
支持体3に形成されるスリット5の幅は狭いほど測定精
度が良く、幅が広くなると測定精度が悪くなる。このス
リット5の幅は測定器の投光部1から発振される投光幅
によって決まり、レーザ光線の場合は、光線幅が1゛・
−2μmのように狭く、支持体3に形成するスリットの
幅を最低0.2糟−までにできるが、外径測定器に付設
する支持体3の垂直、水夢精度の高いこと(それぞれ垂
直角度の上れ及び水平方向のずれが少ないこと)が′g
I求される。
度が良く、幅が広くなると測定精度が悪くなる。このス
リット5の幅は測定器の投光部1から発振される投光幅
によって決まり、レーザ光線の場合は、光線幅が1゛・
−2μmのように狭く、支持体3に形成するスリットの
幅を最低0.2糟−までにできるが、外径測定器に付設
する支持体3の垂直、水夢精度の高いこと(それぞれ垂
直角度の上れ及び水平方向のずれが少ないこと)が′g
I求される。
二のため、図示のような円柱状の支持体3では、スリッ
ト2は投光部1に向う側は狭く、受光部2に向う側を幾
分広く(即ち横断面でみると台形をなしている)するの
が精度の許′g範囲が広がるのでよい。
ト2は投光部1に向う側は狭く、受光部2に向う側を幾
分広く(即ち横断面でみると台形をなしている)するの
が精度の許′g範囲が広がるのでよい。
また被測定物であるチューブ6と支持体3に形成しであ
るスリット5との直交精度(スリットの長さ方向中心軸
と、被測定物であるチューブ6の長さ方向中心軸とは直
角に2差していなければならぬが、それが直角からどの
位はずれているかの精度)であるが、支持体3の下部に
、側方に突出している位置決め用突出部4があり、その
突出部4のFに被測定物のチューブ6が乗せられて測定
が行なわれるので、測定時に一定の直2精度を保つこと
ができ、測定に悪い影響を与えることばな次に、被測定
物であるチューブ6と支持体3のスリット5との密着度
であるが、チューブ6の材質、硬度によって異なり、測
定値が最大値を示すまで密着することで精度の高い測定
値が得られる。
るスリット5との直交精度(スリットの長さ方向中心軸
と、被測定物であるチューブ6の長さ方向中心軸とは直
角に2差していなければならぬが、それが直角からどの
位はずれているかの精度)であるが、支持体3の下部に
、側方に突出している位置決め用突出部4があり、その
突出部4のFに被測定物のチューブ6が乗せられて測定
が行なわれるので、測定時に一定の直2精度を保つこと
ができ、測定に悪い影響を与えることばな次に、被測定
物であるチューブ6と支持体3のスリット5との密着度
であるが、チューブ6の材質、硬度によって異なり、測
定値が最大値を示すまで密着することで精度の高い測定
値が得られる。
また、チューブ6の張力を一定に保つことにより、安定
した密着度が甑めで容易に得られる。
した密着度が甑めで容易に得られる。
第1図に示すf3力では、支持体3として円柱形状のも
のを示したが、円柱を長さ方向に?観した半円柱状体或
いは例えば8角形のような多角柱体であってもよい。ま
た、直立する円筒形でもよく、或いは円筒を長さ方向に
切った半円筒状のもの、多角筒状のもの、多角筒状のも
のを長さ方向に半裁したもの、更には平坦な板状であっ
てもよい6そしてこれらのものには光線を通すためのス
リットが設けられ、更に被測定物であるチューブ6を、
スリット5に対して直交する位置に置(ための位置決め
用突出部4を設ける。
のを示したが、円柱を長さ方向に?観した半円柱状体或
いは例えば8角形のような多角柱体であってもよい。ま
た、直立する円筒形でもよく、或いは円筒を長さ方向に
切った半円筒状のもの、多角筒状のもの、多角筒状のも
のを長さ方向に半裁したもの、更には平坦な板状であっ
てもよい6そしてこれらのものには光線を通すためのス
リットが設けられ、更に被測定物であるチューブ6を、
スリット5に対して直交する位置に置(ための位置決め
用突出部4を設ける。
第1図に示すものでは、光学式外径測定器としてレーザ
光線を使用したものを示したが、その他、市販されてい
る光学式外径測定器も使用できる。
光線を使用したものを示したが、その他、市販されてい
る光学式外径測定器も使用できる。
しかしながらレーザ式外径測定器は光線発振幅が非常に
狭く、高精度の測定値が得られるので好ましい。
狭く、高精度の測定値が得られるので好ましい。
mtiな泊共を付設するだけでチューブ類の精度高い折
径訓電ができる。例えば熱収縮性チューブの利用分野で
ある電子部品には折径精度の高いものが要ボされるが、
本発明方法はこれら製品の品質W埋に極めて有用である
。更に本発明方法は、帯状のチューブを支持体に密着さ
せながら移動し、連続して折径を測定、記録することが
でき乙。
径訓電ができる。例えば熱収縮性チューブの利用分野で
ある電子部品には折径精度の高いものが要ボされるが、
本発明方法はこれら製品の品質W埋に極めて有用である
。更に本発明方法は、帯状のチューブを支持体に密着さ
せながら移動し、連続して折径を測定、記録することが
でき乙。
第1図は本発明方法を実施する装置の一例の斜視略図、
第2図は、従来、外径を測定するために用いられた光学
式外径測定器の機構の概要を示す説明図である。 図中1は、光学式外径測定器の投光部、2は同測定器の
受光部、3は被測定物のチューブが当てかわれる支持体
、5は支持体3に形成されたスリット、6は被測定物で
ある帯状のチューブである。 第 図 第2図
第2図は、従来、外径を測定するために用いられた光学
式外径測定器の機構の概要を示す説明図である。 図中1は、光学式外径測定器の投光部、2は同測定器の
受光部、3は被測定物のチューブが当てかわれる支持体
、5は支持体3に形成されたスリット、6は被測定物で
ある帯状のチューブである。 第 図 第2図
Claims (1)
- (1)投光部から発せられる平行光線を、被測定物に当
てた後、受光部で受け、被測定物によって遮ぎられた光
線の割合に基いて被測定物の寸法を演算し、測定する装
置を用いて、平坦にされた帯状のプラスチックチューブ
の折径を測定する方法であって、上記装置の被測定物を
配置する箇所に被測定チューブを当てがう支持体を固定
し、この支持体には光線を通すスリットを形成し、上記
帯状のプラスチックチューブの長手方向中心軸を上記ス
リットと直交するように密着させ、スリットを通過する
平行光線の一部をさえぎらせ、その遮光度に基いて被測
定物の折径を測定する方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP640690A JPH03211402A (ja) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | チューブの折径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP640690A JPH03211402A (ja) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | チューブの折径測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03211402A true JPH03211402A (ja) | 1991-09-17 |
Family
ID=11637489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP640690A Pending JPH03211402A (ja) | 1990-01-17 | 1990-01-17 | チューブの折径測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03211402A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102505711A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-06-20 | 上海交通大学 | 一种监测沉管隧道基础施工管段位移的系统及方法 |
-
1990
- 1990-01-17 JP JP640690A patent/JPH03211402A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102505711A (zh) * | 2011-10-20 | 2012-06-20 | 上海交通大学 | 一种监测沉管隧道基础施工管段位移的系统及方法 |
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