JP2539732Y2 - ウェーハ洗浄装置 - Google Patents

ウェーハ洗浄装置

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JP2539732Y2
JP2539732Y2 JP172591U JP172591U JP2539732Y2 JP 2539732 Y2 JP2539732 Y2 JP 2539732Y2 JP 172591 U JP172591 U JP 172591U JP 172591 U JP172591 U JP 172591U JP 2539732 Y2 JP2539732 Y2 JP 2539732Y2
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JP
Japan
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pure water
water
vortex chamber
wafer cleaning
nozzle
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JP172591U
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Inventor
和彦 山口
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関西日本電気株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は、半導体の製造工程に
おけるウェーハ洗浄装置に関し、特に水洗装置の構造に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の水洗装置は、図4に示す
ように水洗槽1の中にウェーハ3の入ったキャリア4を
のせるすのこ2があり、すのこ2の下に図5に示すよう
な一定間隔でノズルがあいている純水ノズル配管5が各
キャリア4毎に2本走っている。キャリア4にはそれぞ
れ最大25枚のウェーハ3が等間隔で並んでおり、すの
こ2の決められた場所にのせる構造である。各ノズル配
管には、図4にて流れ方向bで示すように、ウェーハの
中央に純水が当たるよう、等間隔でノズル6があいてい
る。各ノズル6から噴出させた純水は、図5にて示すよ
うに各ウェーハ3の間を下から上へと流れ(b)その純
水の流れによりウェーハ3を洗浄する。下から上へと流
れた純水は、最終的にオーバーフローし(c)排出され
る。以上のような構造となっていた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】ところで、上記の従来
のウェーハ洗浄装置では、純水ノズル配管5に開いてい
るノズル6の間隔が粗であり、また純水も一定方向にの
み噴出する構造となっているため、ウェーハ3全体に均
一に純水が当たらない。また、キャリア4の位置によっ
ても純水の当り方がばらばらであり、ウェーハ3の洗浄
効果が不十分である。また、洗浄装置の槽1内にて純水
がよどむ部分(a)が発生し、洗浄効果を低下させると
いう欠点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】この考案は以上のような
問題点を解決するために、水洗が自動的に発振する渦室
発振素子7を純水ノズル6の代わりに利用し、ウェーハ
の洗浄効果を上げることを特徴とする。渦室発振素子7
とは図3に示すように、内面が曲面で構成され、一方に
純水の供給口,その反対側に供給口より大きめの流出口
を持つ構造である。供給口からの水流は水の粘性のた
め、渦室9の片側の壁に沿って回転し渦を作る(g)。
この渦に引かれて出口側8の水流は渦のある方向に曲が
る(e)。この時、流出口10は供給口11より広いた
め、渦のできていない方の窒素が吸い出され、圧力が弱
まる(f)。そのため、水流がそちら側に引かれて反対
側に渦が生じる。窒素は常に吸い出されるため、ある一
定の圧力で窒素供給口8より供給しておく。その結果、
出口側10の水流は発振し左右に振動する。この渦室発
振素子7を図2に示すように1列に複数個並べて構成さ
れている。
【0005】
【作用】上記の構成によると、渦室発振素子より噴出す
る水流は最大120度の角度で発振し(d)、ウェーハ
表面にムラなく当てることが可能となる。また、強い水
流が発生するため、槽1内部で純水がよどむ箇所(a)
もなくなり、洗浄効果は上がる。
【0006】
【実施例】以下、本考案の実施例を図面により説明す
る。図1にウェーハ洗浄装置の断面図を示す。図におい
て、2はウェーハ2の入ったキャリア4を固定するため
のすのこである。7は純水が噴出される渦室発振素子で
ある。図2はウェーハ洗浄装置を横から見た断面図を示
す。キャリア4の下に複数個の渦室発振素子7を並べて
ある。図3は渦室発振素子7の拡大断面図である。次に
上記の渦室発振素子7の動作について説明する。純水供
給口11より供給された純水は、水の粘性により渦室の
片方の壁に沿って回転し渦を作る(g)。この渦のた
め、出口の水流は渦側に曲がる(e)。この時、純水出
口10が広くなっているため、渦のできてない方の窒素
が吸い出され、圧力が弱まる(f)。そのため、渦室内
の水流が低くなった圧力側に引き寄せられ渦が反対側に
発生する。
【0007】以上の減少の繰り返しにより、出口側10
の水流が発振する(d)。その水流がキャリア4内のウ
ェーハ3間を下から上へ勢いよく流れ、ウェーハ上のゴ
ミ・汚れを除去するのである。上記実施例は、渦室発振
素子を用いる純水供給ノズルを水洗槽の底部に設定した
場合であるが、本考案はこれに限定する意図はなく、都
合によっては純水供給ノズルを例えば,ジェットスクラ
ブ式装置等に適用して、個々のウェーハへ直接純水を供
給する渦室発振素子を用いるノズルとしてもよい。
【0008】
【考案の効果】以上、説明したように、この考案はウェ
ーハ洗浄装置における純水ノズルに渦室発振素子を利用
したことにより、水洗槽内のよどみをなくし、ウェーハ
上のゴミ・汚れ除去効果を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の一実施例を示すウェーハ洗浄装置の
断面図
【図2】 本考案の一実施例のウェーハ洗浄装置を横か
ら見た断面図
【図3】 本考案にて利用した渦室発振素子の断面図
【図4】 従来の水洗装置の断面図
【図5】 従来の水洗装置にてキャリア部を斜め横より
見た図
【符号の説明】
1 水洗槽 2 すのこ 3 ウェーハ 4 キャリア 5 純水ノズル配管 6 ノズル 7 渦室発振素子 8 N2 供給口 9 渦室 10 純水出口 11 純水供給口 a 純水のよどむ部分 b ノズルからの流水方向 c オーバーフローした純水 d 渦室発振素子からの流水方向 e 純水の流れ f 吸い出されるN2 g 渦の発生

Claims (2)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウェーハの洗浄工程における水洗装
    置において、内面が曲面で形成された空洞部の一方に純
    水の供給口があり、反対側に供給口より大きめの流出口
    を持ち、供給口より水を供給し水の粘性による渦を発生
    させ、その時発生する空洞内の圧力巻により水流を発振
    させる渦室発振素子を純水供給ノズルとして用いたこと
    を特徴とするウェーハ洗浄装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載した渦室発振素子を用いる
    純水供給ノズルを、個々の半導体ウェーハへ直接純水を
    供給するノズルとしたことを特徴とするウェーハ洗浄装
    置。
JP172591U 1991-01-24 1991-01-24 ウェーハ洗浄装置 Expired - Lifetime JP2539732Y2 (ja)

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JPH0499534U JPH0499534U (ja) 1992-08-27
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018160506A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置およびノズル構造

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2018160506A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置およびノズル構造

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JPH0499534U (ja) 1992-08-27

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