JP2526543B2 - 物体の高さ測定装置 - Google Patents

物体の高さ測定装置

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JP2526543B2
JP2526543B2 JP61004759A JP475986A JP2526543B2 JP 2526543 B2 JP2526543 B2 JP 2526543B2 JP 61004759 A JP61004759 A JP 61004759A JP 475986 A JP475986 A JP 475986A JP 2526543 B2 JP2526543 B2 JP 2526543B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば工場で使用される産業用ロボット等
に適用して好適な物体の高さ測定装置に関する。
〔発明の概要〕
本発明は物体の高さ測定装置において、2個の撮像装
置を所定角間隔離して配して、これら2個の撮像装置で
基準面に配される物体を撮像し、その撮像結果より物体
の所定点の基準面からの高さを測定するようにしたこと
により、物体の高さ測定を正確に行なえるようにしたも
のである。
〔従来の技術〕
従来、工場の組立製造ラインへのロボットの導入が盛
んに行われている。このようなロボットにおいて物体を
認識するため、物体の高さ測定が必要となる場合があ
る。
従来、物体の高さ測定装置としては単一の撮像装置を
用いるものが提案されている。例えば、僅かに離れた位
置に配された2つの対物レンズによって左右2つの光学
像が単一の撮像装置の撮像部に供給されて撮像され、そ
の撮像結果である立体視像(左右像)の同一点の横方向
変位より物体の高さ(奥行き)を測定するものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような従来の物体の高さ測定装置では、
立体視像(左右像)より同一点の横方向の変位を知るこ
とが困難であり、正確な高さ測定が難しいものであっ
た。
本発明は斯る点に鑑み、正確な高さ測定を可能とする
ものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上述問題点を解決するため2個の撮像装置
を有して構成される。
即ち、基準面(2)に配される物体(3)を撮像する
第1の撮像装置(1a)と、この第1の撮像装置(1a)よ
り基準面(2)を中心に所定角度θだけ回転した位置に
実質的に配され物体(3)を撮像する第2の撮像装置
(1b)とを備えるものである。そして、第1の撮像装置
(1a)の撮像結果を基準として第2の撮像装置(1b)の
撮像結果より物体(3)の所定点の変位を知り、この変
位より物体(3)の所定点の基準面(2)からの高さを
求めるものである。
〔作用〕
上述構成において、第1の撮像装置(1a)の撮像結果
が基準とされるので、物体(3)の所定点の変位を第2
の撮像装置(1b)の撮像結果より容易正確に知ることが
でき、物体の所定点の基準面からの高さが正確に求めら
れる。
〔実施例〕
以下、第1図を参照しながら本発明の一実施例につい
て説明しよう。
同図において、(1a)は、例えばCCD(電荷結合素
子)を用いた固定撮像装置である。この撮像装置(1a)
の撮像部には、基準面(2)に配される物体(3)から
の像光がハーフミラー(4)で反射された後撮像レンズ
(5a)を介して供給され、物体(3)の撮像が行われ
る。そして、この撮像装置(1a)からの撮像信号Saは画
像処理回路(6)に供給される。
また、(1b)は、例えばCCDを用いた固体撮像装置で
ある。この撮像装置(1b)は、実質的に撮像装置(1a)
より基準面(2)を中心に所定角度θだけ回転した位置
に配される。
この撮像装置(1b)の撮像部には、物体(3)からの
像光がハーフミラー(4)を透過した後撮像レンズ(5
b)を介して供給され、物体(3)の撮像が行われる。
そして、この撮像装置(1b)からの撮像信号Sbは画像処
理回路(6)に供給される。
そして、画像処理回路(6)においては、撮像信号Sa
を基準として、撮像信号Sbより物体(3)の所定点の横
方向の変位を知り、この変位より物体(3)の所定点の
基準面(2)からの高さを求める画像処理がなされる。
以上の構成において、撮像装置(1a)では物体(3)
は、例えば第2図Aに示すように撮像され、高さを求め
るべき物体の所定点をPとすると、この点Pはx1の位置
に撮像される。一方、撮像装置(1b)では物体は第2図
Bに示すように撮像され、物体(3)の点Pはx2の位置
に撮像される。したがって、画像処理回路(6)におい
ては、撮像信号Sa,Sbより物体(3)の点Pの横方向の
変位をx2−x1と容易正確に知ることができ、この変位x2
−x1より物体(3)の点Pの基準面(2)からの高さh
を正確に求めることができる。
この高さhは、例えば、 と求められる。これは、第3図に示す説明図からも明ら
かである。
即ち、 となる。
尚、この第3図において、第1図と対応する部分には
同一符号を付して示している。また、第4図Aは撮像装
置(1a)で撮像された物体(3)の画像を示すものであ
り、同図Bは撮像装置(1b)で撮像された物体(3)の
画像を示すものである。
このように本例によれば、物体(3)の所定点の横方
向の変位を容易正確に知ることができ、所定点の基準面
(2)からの高さを正確に求めることができる。
〔発明の効果〕
以上述べた本発明によれば、2個の撮像装置を用い、
一方の撮像装置の撮像結果を基準とするもので、物体の
所定点の横方向の変位を容易正確に知ることができるの
で、その所定点の基準面からの高さを正確に求めること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図〜第4
図はその説明のための図である。 (1a)及び(1b)は撮像装置、(2)基準面、(3)は
物体、(6)は画像処理回路である。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基準面から被測距物体の所定点の高さを測
    定するための物体の高さ測定装置において、 上記基準面に略垂直な第1の光路に沿った像光を撮像す
    るように配置された第1の撮像装置と、上記第1の光路
    に対して所定の角度θだけ傾斜し上記第1の光路と上記
    基準面上で交差する第2の光路に沿った像光を撮像する
    ように配置された第2の撮像装置と、上記第1及び第2
    の撮像装置からの撮像信号を入力する画像処理回路と、
    を有し、 上記画像処理装置は、上記第1の撮像装置によって撮像
    された上記被測距物体の像より上記所定点の位置x1を検
    出し上記第2の撮像装置によって撮影された上記被測距
    物体の像より上記所定点の位置x2を検出し、式h=(x2
    −x1)/sinθによって上記基準面に対する上記所定点の
    距離を求めることを特徴とする物体の高さ測定装置。
  2. 【請求項2】特許請求の範囲第1項記載の物体の高さ測
    定装置において、上記第1の光路にミラーが配置され、
    上記第1の撮像装置は上記基準面に垂直な第1の光路に
    沿った像光を上記ミラーに反射させてから撮像するよう
    に構成されたことを特徴とする物体の高さ測定装置。
JP61004759A 1986-01-13 1986-01-13 物体の高さ測定装置 Expired - Lifetime JP2526543B2 (ja)

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JPS62162912A JPS62162912A (ja) 1987-07-18
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JPS5425861A (en) * 1977-07-29 1979-02-27 Mitsubishi Electric Corp Distance measuring equipment
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JPS57165709A (en) * 1981-04-06 1982-10-12 Nissan Motor Co Ltd Distance measuring method
JPS57169608A (en) * 1981-04-13 1982-10-19 Nissan Motor Co Ltd Distance measuring method

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