JP2506178B2 - ドロップアウト計測回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明はレーザーディスクなどの光ディスクのドロ
ップアウト計測回路にかかり、さらに詳言すればピット
の形状異常に起因するドロップアウトの起生率を計測す
るドロップアウト計測回路に関する。

（従来技術） レーザディスク等の光ディスクの評価のために通常の
ドロップアウト計測は、映像信号磁器記録装置（VTR）
においても採用されているエンベロープ検出、すなわち
FM変調されたRF信号をエンベロープ検波し、その波形を
観測する方法が知られている。

（発明が解決しようとする課題） しかしピットの形状異常に起因して発生するドロップ
アウト（以下、このドロップアウトをマイクロドロップ
アウトと記す）が生じていても、上記した如き従来の方
法によれば、エンベロープに変化はなく、マイクロドロ
ップアウトをエンベロープ検出では検出できない問題点
があった。

このためマイクロドロップアウトを有効に計測する手
段がなく、最終的には再生画像をモニタするという目視
によるチェックでマイクロドロップアウトを検出してい
る。この結果、検出効率は悪く、しかも客観的に乏しい
という問題点があった。

（課題を解決するための手段） この発明のドロップアウト計測装置は、FM変調もしく
はデジタル変調された信号がピットにより記録された光
ディスクから読み取った信号を波形整形する波形整形手
段と、 前記波形整形手段からの出力の前縁を基準時としてピ
ットの形状が正常なときにおける前記波形整形手段から
の出力の最小周期の期間前記波形整形手段からの出力を
遅延させた第１遅延信号と最大周期の期間前記波形整形
手段からの出力を遅延させた第２遅延信号とを出力させ
るパルス遅延手段と、 前記第１および第２遅延信号を受けて前記最小周期期
間経過時から前記最大周期期間経過時までのパルス幅を
有するウインドパルスを出力するウインドパルス発生手
段と、 前記波形整形手段からの出力の前縁が前記ウインドパ
ルス外に存在するときのみ前記波形整形手段からの出力
の前縁に同期したパルスを出力するパルス発生手段と、 前記パルス発生手段からの出力パルスを所定期間周期
で計数する起生率計測カウンタと を備えたことを特徴とする。

（作用） 上記の如く構成したこの発明では、ピットの形状が正
常の場合には波形整形手段からの出力の前縁はウィンド
パルス内に位置することになって、パルス発生手段から
パルスの発生はなく、起生率計測カウンタの計数値は零
である。

ピットの形状が異常の場合は波形整形手段からの出力
の前縁はウィンドパルス外に位置することになる。した
がってパルス発生手段からパルスが出力されることにな
り、起生率計測カウンタにてその出力回数が所定期間周
期で計数される。

この結果、起生率計測カウンタの計数値によって再生
信号上、障害となるマイクロドロップアウトが発生した
ことが判る。

（実施例） 以下、この発明を実施例により説明する。

第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図
である。

光ディスク、たとえばレーザディスクから読み取った
RF信号をたとえばゼロクロス検出器からなる波形整形回
路１に供給して波形整形する。波形整形回路１は上記RF
信号をパルス幅測定が可能なように２値化するためのも
のである。

波形整形回路１によって波形整形されたRF信号は、入
力を２種類の第１遅延時間ａおよび第２遅延時間ｂ（ｂ
＞ａ）だけ遅延して出力させるパルス遅延器２に供給し
て遅延させる。パルス遅延器２によって第１遅延時間ａ
だけ遅延された波形整形回路１からの出力でエッジトリ
ガフリップフロップ３をセットし、第２遅延時間ｂだけ
遅延された出力でエッジトリガフリップフロップ４をセ
ットし、エッジトリガフリップフロップ３のＱ出力およ
びエッジトリガフリップフロップ４の出力をアンドゲ
ート６に供給する。一方、波形整形回路１からの出力は
リセットパルス発生器５に供給し、リセットパルス発生
器５から出力されるリセットパルスはエッジトリガフリ
ップフロップ３にクリアパルスとして送出する。また、
エッジトリガフリップフロップ３のＱ出力はエッジトリ
ガフリップフロップ４にクリアパルスとして送出する。
パルス遅延器２、エッジトリガフリップフロップ３およ
び４、リセットパルス発生器５およびアンドゲート６は
〔第２遅延時間（ｂ）−第１遅延時間（ａ）〕のパルス
幅を有するパルスを出力するウィンドパルス発生器10を
構成している。ここでウィンドパルス発生器10から出力
されるパルス幅はピットの形状異常でないときに波形整
形回路１から出力される波形整形されたRF信号の立上り
エッジがウィンドパルス内に入るパルス幅に設定してあ
ることになる。

ウィンドパルス発生器10から出力されるウィンドパル
スは、波形整形回路１からの出力と共にパルス発生回路
７に入力する。パルス発生回路７は波形整形回路１から
の出力の立上りエッジがウィンドパルスの発生区間外に
あるときのみ、波形整形回路１からの出力の立上りエッ
ジに同期したパルスを発生するパルス発生回路である。
パルス発生回路７からの出力パルスは、入力パルスが所
定期間内に何個入ったかを計数する起生率計測カウンタ
８に送出し、起生率計測カウンタ８で所定期間周期でパ
ルス発生回路７からの出力パルス数を計数する。

レーザーディスクから検出したRF信号のメインキャリ
ヤである映像信号はFM変調されて記録されており、FM変
調の変移量は6.9MHZ〜10.5MHZである。したがってRF信
号を波形整形回路１からの出力は第２図に示す如く周期
95〜145nsのパルス列である。第３図（ａ）は第２図を
再記したものである。ここでレーザディスクの場合、第
１遅延時間ａは95nsecに、第２遅延時間ｂは145nsecに
設定されている。

波形整形回路１からの出力の立上りエッジでリセット
パルス発生器５からリセットパルスが発生されて、エッ
ジトリガフリップフロップ３はクリアされ、かつエッジ
トリガフリップフロップ３のＱ出力でエッジトリガフリ
ップフロップ４はクリアされ、波形整形回路１からの出
力はパルス遅延器２で第１遅延時間ａおよび第２遅延時
間ｂ遅れて出力される。したがって、ウィンドパルス発
生器10からは第３図（ｂ）に示す如く波形整形回路１か
らの出力の立上りエッジを基準にして、第１遅延時間ａ
〜第２遅延時間ｂまでの期間、論理“1"のウィンドパル
スが出力される。ウィンドパルス発生器10からの出力が
論理“1"の期間、パルス発生回路７はあたかもゲートが
閉止された如くに制御される。したがって波形整形回路
１からの出力の立上りエッジがウィンドパルスの論理
“1"の期間内にあるとき、パルス発生回路７からはパル
スが出力されない。この場合は波形整形回路１からの出
力の立上りエッジは、その直前に出力された波形整形回
路１からの出力の立上りエッジ発生時から95nsec〜145n
sec内に発生しており、ピットの形状が正常な場合であ
る。

ピットの形状が異常な場合は波形整形回路１からの出
力の周期は95nsec〜145nsec外となる。この結果、波形
整形回路１からの出力の立上りエッジは、その直前に出
力された波形整形回路１からの出力の立上りより発生時
から95nsec未満または145nsecを超えた時点に発生す
る。したがって波形整形回路１からの出力の立上りエッ
ジはウィンドパルスの発生期間内に入らず、パルス発生
回路７からはパルスが発生し、この発生パルスは起生率
計測カウンタ８で計数される。この計数は所定期間毎、
継続して繰り返される。

したがって起生率計測カウンタ８の計数値によりマイ
クロドロップアウトの発生が客観的に判る。さらに本実
施例において、波形整形回路の出力の立上りエッジが、
後続する立上りエッジ位置の可否を判別するウィンドパ
ルス発生の基準位置として機能する。この結果連続する
ピットの形状の良否が検出できる。

なお、以上説明した一実施例の場合はレーザディス評
価の場合を例示したが有限なパルス周期をもつ変調方式
を利用した光ディスクにも、パルス遅延器２の第１およ
び第２遅延時間の設定を変更することにより適用するこ
とができる。

（発明の効果） 以上説明した如くこの発明によれば、光ディスクから
読み取った信号を波形整形手段によって波形整形し、波
形整形手段からの出力の前縁を基準時としてピットの形
状が正常なときにおける波形整形手段からの出力の最小
周期期間経過時から最大周期期間経過時までのパルス幅
を有するウィンドパルスを生成し、波形整形手段からの
出力の前縁がウィンドパルス外にあるときパルス発生手
段によってパルスを発生させて、起生率計測カウンタで
計数するようにしたため、ピットの形状が異常なときは
波形整形手段からの出力の前縁はウィンドパルス外に位
置することになって、パルス発生手段からパルスが出力
される。したがって起生率計測カウンタの計数値により
ピットの形状が連続的に異常であったことが判る。した
がって再生画像をモニタする必要もなくなり、効率よく
マイクロドロップアウトの発生回数が計測できると共
に、光ディスクの良否の評価に対する客観性も著しく向
上する効果がある。

さらに、従来のエンベロープ検出によるドロップアウ
ト測定のような時定数部分が少なく、計測値の再現性も
良い効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図。 第２図および第３図はこの発明の一実施例の作用の説明
に供する波形図およびタイミング図。 １……波形整形回路、２……パルス遅延器、３および４
……エッジトリガフリップフロップ、５……リセットパ
ルス発生器、６……アンドゲート、７……パルス発生回
路、８……起生率計測カウンタ、10……ウィンドパルス
発生器。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】FM変調もしくはデジタル変調された信号が
   ピットにより記録された光ディスクから読み取った信号
   を波形整形する波形整形手段と、 前記波形整形手段からの出力の前縁を基準時としてピッ
   トの形状が正常なときにおける前記波形整形手段からの
   出力の最小周期の期間前記波形整形手段からの出力を遅
   延させた第１遅延信号と最大周期の期間前記波形整形手
   段からの出力を遅延させた第２遅延信号とを出力させる
   パルス遅延手段と、 前記第１および第２遅延信号を受けて前記最小周期期間
   経過時から前記最大周期期間経過時までのパルス幅を有
   するウインドパルスを出力するウインドパルス発生手段
   と、 前記波形整形手段からの出力の前縁が前記ウインドパル
   ス外に存在するときのみ前記波形整形手段からの出力の
   前縁に同期したパルスを出力するパルス発生手段と、 前記パルス発生手段からの出力パルスを所定期間周期で
   計数する起生率計測カウンタと を備えたことを特徴とするドロップアウト計測回路。