JP2504003B2 - 時間変化曲線の記憶および表示方法 - Google Patents
時間変化曲線の記憶および表示方法Info
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- JP2504003B2 JP2504003B2 JP26136086A JP26136086A JP2504003B2 JP 2504003 B2 JP2504003 B2 JP 2504003B2 JP 26136086 A JP26136086 A JP 26136086A JP 26136086 A JP26136086 A JP 26136086A JP 2504003 B2 JP2504003 B2 JP 2504003B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- time
- memory
- scheduled time
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は分光光度計による時間送り測定のように被測
定量の時間的変化を測定する場合における測定出力の記
憶およびCRTによる表示の方法に関する。
定量の時間的変化を測定する場合における測定出力の記
憶およびCRTによる表示の方法に関する。
ロ．従来の技術 被測定量の時間的な変化曲線を測定表示する場合、測
定の時間幅が短い場合は、メモリ容量も多くを要しない
し、表示もCRTで容易に行うことができる。長時間にわ
たる測定では測定結果の記録および表示は記録計を用い
て記録紙上に画かれた曲線として表示記録するのが普通
である。しかしこの方法によるときは長時間の記録の全
体を一眼で見たいとき甚だ不便であり、測定期間中の任
意の時点で、それまでの被測定量の変化状況を直ちに把
握すると云うようなことが困難である。また測定結果が
紙上に曲線として記録されているだけであるから、測定
結果に対して、記録の拡大，縮小，微分演算等のデータ
処理ができない。測定時間が予め決まっている場合は、
CRT表示とかメモリの使用に当って、CRTにおけるＸ軸の
可能な最大振幅を測定時間幅に設定し、メモリ容量に合
わせて測定値のサンプリング間隔を設定することができ
るが、測定時間が不定の場合、このような方法では途中
までしか測定データの記憶および表示ができないおそれ
があり、そのため測定時間の予定長さを大き目に予想し
て、データサンプリング間隔を設定するようになり、予
想より測定時間が短かった場合、相対的にサンプリング
間隔が粗くなって測定の価値が低下する。例えばメモリ
が1001点のデータを記憶する容量を持っている場合、10
000秒の時間にわたって測定しようとすると、サンプリ
ング間隔は10秒となる。所が実際の測定は一時間弱で終
わったような場合、サンプリング間隔は３秒とすること
ができたのであり、装置の能力が充分活用されていない
ことになる。
定の時間幅が短い場合は、メモリ容量も多くを要しない
し、表示もCRTで容易に行うことができる。長時間にわ
たる測定では測定結果の記録および表示は記録計を用い
て記録紙上に画かれた曲線として表示記録するのが普通
である。しかしこの方法によるときは長時間の記録の全
体を一眼で見たいとき甚だ不便であり、測定期間中の任
意の時点で、それまでの被測定量の変化状況を直ちに把
握すると云うようなことが困難である。また測定結果が
紙上に曲線として記録されているだけであるから、測定
結果に対して、記録の拡大，縮小，微分演算等のデータ
処理ができない。測定時間が予め決まっている場合は、
CRT表示とかメモリの使用に当って、CRTにおけるＸ軸の
可能な最大振幅を測定時間幅に設定し、メモリ容量に合
わせて測定値のサンプリング間隔を設定することができ
るが、測定時間が不定の場合、このような方法では途中
までしか測定データの記憶および表示ができないおそれ
があり、そのため測定時間の予定長さを大き目に予想し
て、データサンプリング間隔を設定するようになり、予
想より測定時間が短かった場合、相対的にサンプリング
間隔が粗くなって測定の価値が低下する。例えばメモリ
が1001点のデータを記憶する容量を持っている場合、10
000秒の時間にわたって測定しようとすると、サンプリ
ング間隔は10秒となる。所が実際の測定は一時間弱で終
わったような場合、サンプリング間隔は３秒とすること
ができたのであり、装置の能力が充分活用されていない
ことになる。
ハ．発明が解決しようとする問題点 本発明は測定時間が予め決まっていない長時間測定に
おけるデータの記録およびCRTによる表示における上述
した問題点を解消しようとするものである。
おけるデータの記録およびCRTによる表示における上述
した問題点を解消しようとするものである。
ニ．問題点解決のための手段 測定開始から一定の時間Ｔを定め、これを基底時間と
する。測定開始からこの基底時間に達するまでは測定出
力のサンプリング間隔をΔＴとしてメモリに格納し、CR
Tにおいてはこの基底時間が表示画面のＸ軸の最大幅に
なるようにＸ軸目盛（時間目盛）を定めて表示を行い、
測定が基底時間を越えてなお継続しているときは、基底
時間ＴをＮ倍した予定時間T1を設定し、サンプリング間
隔をＮΔＴとする（粗くする）と共に、既にメモリに格
納されたデータからＮ個とびにデータを取出してメモリ
に圧縮して再格納した上で測定を継続し、CRT表示は画
面のＸ軸全長をT1＝NTに相当するよう時間目盛を圧縮し
て表示する。以後更に測定が継続するに従い、予定時間
をT2＝Ｎ′T1に延長し、サンプリング間隔をＮ・Ｎ・Δ
Ｔに広げ、既にメモリに格納されたデータを間引いて圧
縮再格納し、CRT画面のＸ軸目盛を圧縮すると云う操作
を繰返して行く。
する。測定開始からこの基底時間に達するまでは測定出
力のサンプリング間隔をΔＴとしてメモリに格納し、CR
Tにおいてはこの基底時間が表示画面のＸ軸の最大幅に
なるようにＸ軸目盛（時間目盛）を定めて表示を行い、
測定が基底時間を越えてなお継続しているときは、基底
時間ＴをＮ倍した予定時間T1を設定し、サンプリング間
隔をＮΔＴとする（粗くする）と共に、既にメモリに格
納されたデータからＮ個とびにデータを取出してメモリ
に圧縮して再格納した上で測定を継続し、CRT表示は画
面のＸ軸全長をT1＝NTに相当するよう時間目盛を圧縮し
て表示する。以後更に測定が継続するに従い、予定時間
をT2＝Ｎ′T1に延長し、サンプリング間隔をＮ・Ｎ・Δ
Ｔに広げ、既にメモリに格納されたデータを間引いて圧
縮再格納し、CRT画面のＸ軸目盛を圧縮すると云う操作
を繰返して行く。
ホ．作用 今メモリのデータ記憶容量をＰ個とすると、最初サン
プリング間隔ΔＴを基底時間Ｔに対して（Ｐ−１）ΔＴ
＝Ｔとなるように決める。測定開始から基底時間Ｔに達
するまでの期間を第１期、次にNT時間に達するまでを第
２期等と呼ぶことにすると、第１図に示すように第１期
では測定時間Ｔの間のデータがＰ個のデータとしてメモ
リに格納され、CRT表示画面ではＸ軸（時間軸）は最大
値をＴとして測定データを表示し、第２期では目標時間
NTを時間軸の最大値として表示するので、第１期の結果
は1/Nに圧縮されて表示され、それに引続いて第２期の
測定結果の表示が延びて行く。またメモリにおいては第
１期において採取されたＰ個のデータからＮ個とびのデ
ータが間引かれて圧縮されてメモリに再格納され、メモ
リの空いた所に第２期の測定データがＮΔＴの間隔でサ
ンプリングされ、目標時間T1に達するとメモリは一杯と
なる。こゝで予定時間はＮ・Ｎ′Ｔに延長され、上述し
たのと同じことが行われる。このようにして行くと、測
定時間が幾ら長くなっても、メモリ容量は一定のまゝで
よく、CRT表示も時間軸が段階的に圧縮されて来るの
で、全体の表示が可能であり、測定が何時終わっても、
その終了時点が第何期に属するかに従って始めからデー
タサンプリング間隔をメモリ容量に応じて決めたのと同
じ結果になり、限られたメモリ容量で任意期間の測定記
録とCRT表示が行われることになる。
プリング間隔ΔＴを基底時間Ｔに対して（Ｐ−１）ΔＴ
＝Ｔとなるように決める。測定開始から基底時間Ｔに達
するまでの期間を第１期、次にNT時間に達するまでを第
２期等と呼ぶことにすると、第１図に示すように第１期
では測定時間Ｔの間のデータがＰ個のデータとしてメモ
リに格納され、CRT表示画面ではＸ軸（時間軸）は最大
値をＴとして測定データを表示し、第２期では目標時間
NTを時間軸の最大値として表示するので、第１期の結果
は1/Nに圧縮されて表示され、それに引続いて第２期の
測定結果の表示が延びて行く。またメモリにおいては第
１期において採取されたＰ個のデータからＮ個とびのデ
ータが間引かれて圧縮されてメモリに再格納され、メモ
リの空いた所に第２期の測定データがＮΔＴの間隔でサ
ンプリングされ、目標時間T1に達するとメモリは一杯と
なる。こゝで予定時間はＮ・Ｎ′Ｔに延長され、上述し
たのと同じことが行われる。このようにして行くと、測
定時間が幾ら長くなっても、メモリ容量は一定のまゝで
よく、CRT表示も時間軸が段階的に圧縮されて来るの
で、全体の表示が可能であり、測定が何時終わっても、
その終了時点が第何期に属するかに従って始めからデー
タサンプリング間隔をメモリ容量に応じて決めたのと同
じ結果になり、限られたメモリ容量で任意期間の測定記
録とCRT表示が行われることになる。
ヘ．実施例 この実施例は測定時間無限定のモード（本発明が目的
としているモード）と予め時間を設定した限定モードの
両方が選択できるようになっている。またこの実施例で
は前述した基底時間Ｔを10秒とし、測定出力サンプリン
グの基本間隔ΔＴを1/100秒としている。第２図にこの
実施例における制御系の動作のフローチャートを示す。
測定に先立ちオペレータは測定モードを選択設定してお
く。測定の制御動作をスタートさせると、まず設定モー
ドが限定か否かを調べ（イ）、限定モードのとき（YE
S）はそれに応じた制御動作によって測定出力のサンプ
リング、メモリ及び表示を行って動作は終了する。無限
定モードのとき（NO）は、（ロ）のステップで倍数Ｎを
１とし、次に測定予定時間NTを算出設定（ハ）する。当
初Ｎ＝１だから予定時間は基底時間Ｔである。ステップ
（ニ）に進んでサンプリング間隔ＮΔＴを算定する。こ
れも当初は基本サンプリング間隔ΔＴである。NT及びＮ
ΔＴが決められたら以後、測定を開始して測定出力のサ
ンプリング（ホ）、サンプリングデータのメモリへの格
納（ヘ）を行い、（ト）のステップで測定終了の相図が
入っているか否かチェックし、測定終了（YES）なら動
作は終わり、NOの場合、次のステップ（チ）で時間NTが
経過したか否かチェックし、未経過（NO）のときは動作
（ホ）に戻り、NT経過（YES）のときは（リ）のステッ
プに進んで期数Ｎを２倍にし、メモリからデータを一個
置きに取出して再格納し（ヌ）、動作は（ハ）に戻る。
このようにして測定の期番号が進む毎に目標時間は２倍
の関係で延長されて行き、サンプリング間隔も同じ関係
で広がって行く。
としているモード）と予め時間を設定した限定モードの
両方が選択できるようになっている。またこの実施例で
は前述した基底時間Ｔを10秒とし、測定出力サンプリン
グの基本間隔ΔＴを1/100秒としている。第２図にこの
実施例における制御系の動作のフローチャートを示す。
測定に先立ちオペレータは測定モードを選択設定してお
く。測定の制御動作をスタートさせると、まず設定モー
ドが限定か否かを調べ（イ）、限定モードのとき（YE
S）はそれに応じた制御動作によって測定出力のサンプ
リング、メモリ及び表示を行って動作は終了する。無限
定モードのとき（NO）は、（ロ）のステップで倍数Ｎを
１とし、次に測定予定時間NTを算出設定（ハ）する。当
初Ｎ＝１だから予定時間は基底時間Ｔである。ステップ
（ニ）に進んでサンプリング間隔ＮΔＴを算定する。こ
れも当初は基本サンプリング間隔ΔＴである。NT及びＮ
ΔＴが決められたら以後、測定を開始して測定出力のサ
ンプリング（ホ）、サンプリングデータのメモリへの格
納（ヘ）を行い、（ト）のステップで測定終了の相図が
入っているか否かチェックし、測定終了（YES）なら動
作は終わり、NOの場合、次のステップ（チ）で時間NTが
経過したか否かチェックし、未経過（NO）のときは動作
（ホ）に戻り、NT経過（YES）のときは（リ）のステッ
プに進んで期数Ｎを２倍にし、メモリからデータを一個
置きに取出して再格納し（ヌ）、動作は（ハ）に戻る。
このようにして測定の期番号が進む毎に目標時間は２倍
の関係で延長されて行き、サンプリング間隔も同じ関係
で広がって行く。
他方制御装置はメモリに格納されている測定データを
繰返し読出してCRTに表示している。この場合、メモリ
で測定データ格納のため０番から1000番までのアドレス
が用意されていて、測定期間の如何に関せず、測定デー
タは常にこの０から1000までのアドレスに格納されてい
るので、CRTの表示は常に1001個のデータが画面一杯に
なるようにしておけばよい。
繰返し読出してCRTに表示している。この場合、メモリ
で測定データ格納のため０番から1000番までのアドレス
が用意されていて、測定期間の如何に関せず、測定デー
タは常にこの０から1000までのアドレスに格納されてい
るので、CRTの表示は常に1001個のデータが画面一杯に
なるようにしておけばよい。
上述実施例では測定モードが時間無限定の場合だけ目
標時間を切換えて行く構成になっているが、目標時間を
設定した場合にも同じ動作を行わせるようにしてもよ
い。例えば基底時間を10秒とし、１期毎に目標時間を２
倍に延長して行くとして、測定時間を２分と設定した場
合、測定は第５期におよぶが、目標時間を10秒,20秒,40
秒と切換えて行って、第５期で目標時間は160秒とな
り、第５期の途中、始めから120秒の所で測定を終了さ
せればよい。なおこのように測定が或る期番の途中で終
わった場合、CRT画面の表示は時間軸上の一部にだけ現
れる。上例では120分/160分＝3/4で画面幅の3/4の範囲
に全測定データが表示されることになるが、測定終了
後、この表示を時間軸幅一杯に広げて表示させるように
することは容易である。
標時間を切換えて行く構成になっているが、目標時間を
設定した場合にも同じ動作を行わせるようにしてもよ
い。例えば基底時間を10秒とし、１期毎に目標時間を２
倍に延長して行くとして、測定時間を２分と設定した場
合、測定は第５期におよぶが、目標時間を10秒,20秒,40
秒と切換えて行って、第５期で目標時間は160秒とな
り、第５期の途中、始めから120秒の所で測定を終了さ
せればよい。なおこのように測定が或る期番の途中で終
わった場合、CRT画面の表示は時間軸上の一部にだけ現
れる。上例では120分/160分＝3/4で画面幅の3/4の範囲
に全測定データが表示されることになるが、測定終了
後、この表示を時間軸幅一杯に広げて表示させるように
することは容易である。
また上述実施例では目標時間を基底時間の２倍,2倍と
拡大して行くようにしているが、これは２倍に限るもの
でなく、倍率が各期同一である必要もない。期毎に返て
もよいのである。
拡大して行くようにしているが、これは２倍に限るもの
でなく、倍率が各期同一である必要もない。期毎に返て
もよいのである。
更に測定時間の経過と共に平均的に測定出力が増加或
は減少して行くような場合もあるが、測定出力の表示で
縦軸目盛幅も、測定開始から前期までの測定値中の最大
最小に基づいて、今期の目盛幅を決める動作を併用する
ことも可能である。
は減少して行くような場合もあるが、測定出力の表示で
縦軸目盛幅も、測定開始から前期までの測定値中の最大
最小に基づいて、今期の目盛幅を決める動作を併用する
ことも可能である。
ト．効果 本発明は上述したように、予定測定時間を自動的に切
換え拡大して行くと共に、測定出力サンプリング間隔を
測定予定時間に合わせて拡げて行き、予定測定時間内の
全サンプリングデータが一定のメモリ容量に納まるよう
にしているので、測定時間が予め決まっていなくても、
限られたメモリ容量で用心して不必要に測定データを間
引くと云うようなことをしないで測定を行うことがで
き、CRTに表示すべきデータは数の上限が常に決まって
いるから、その上限がCRT画面の適当幅一杯になるよう
にしておくことで現時点までの測定データの全体をCRT
画面の一部に圧縮してしまうことなく、常に見易い大き
さで表示することができる。
換え拡大して行くと共に、測定出力サンプリング間隔を
測定予定時間に合わせて拡げて行き、予定測定時間内の
全サンプリングデータが一定のメモリ容量に納まるよう
にしているので、測定時間が予め決まっていなくても、
限られたメモリ容量で用心して不必要に測定データを間
引くと云うようなことをしないで測定を行うことがで
き、CRTに表示すべきデータは数の上限が常に決まって
いるから、その上限がCRT画面の適当幅一杯になるよう
にしておくことで現時点までの測定データの全体をCRT
画面の一部に圧縮してしまうことなく、常に見易い大き
さで表示することができる。
第１図は本発明の作用を説明するグラフ、第２図は本発
明の一実施例における制御装置の動作のフローチャート
である。
明の一実施例における制御装置の動作のフローチャート
である。
Claims (1)
- 【請求項１】測定予定時間を基底時間Ｔとその倍数の時
間とし、測定開始時に測定予定時間を基底時間に設定
し、設定された予定時間が経過しても測定が終了しない
ときは、測定予定時間をN1×Ｔに切換え、N1×Ｔ時間が
経過しても測定が終了しないときは予定時間をN1×N2×
Ｔに切換え、以下同様にして予定時間を一般にN1×N2×
…Ｔに順次切換えて行くと共に、測定出力のサンプリン
グ間隔を測定予定時間の基底時間に対する倍数だけ、基
本間隔より拡大し、予定時間切換えの際、測定データメ
モリの内容を次の予定時間に応じて間引いて上記メモリ
に圧縮して再格納することで予定時間経過のとき測定デ
ータがメモリから溢れないようにし、上記測定データメ
モリの内容を、同メモリの全アドレスがCRTの画面適当
幅に納まるようにCRTに表示することを特徴とする時間
変化曲線の記憶および表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26136086A JP2504003B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 時間変化曲線の記憶および表示方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26136086A JP2504003B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 時間変化曲線の記憶および表示方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63115019A JPS63115019A (ja) | 1988-05-19 |
| JP2504003B2 true JP2504003B2 (ja) | 1996-06-05 |
Family
ID=17360760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26136086A Expired - Lifetime JP2504003B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 時間変化曲線の記憶および表示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2504003B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2715532B2 (ja) * | 1989-03-27 | 1998-02-18 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP26136086A patent/JP2504003B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63115019A (ja) | 1988-05-19 |
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