JP2024057378A - バイト切削装置及びバイト切削方法 - Google Patents

バイト切削装置及びバイト切削方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2024057378A
JP2024057378A JP2022164075A JP2022164075A JP2024057378A JP 2024057378 A JP2024057378 A JP 2024057378A JP 2022164075 A JP2022164075 A JP 2022164075A JP 2022164075 A JP2022164075 A JP 2022164075A JP 2024057378 A JP2024057378 A JP 2024057378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting
workpiece
unit
bit
holding table
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022164075A
Other languages
English (en)
Inventor
真 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2022164075A priority Critical patent/JP2024057378A/ja
Publication of JP2024057378A publication Critical patent/JP2024057378A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

【課題】被加工物の帯電を抑制することができること。【解決手段】バイト切削装置1は、被加工物200の表面保護テープ210の表面211を露出させた状態で被加工物200を保持する保持テーブル10と、保持テーブル10で保持した被加工物200の表面保護テープ210の表面211を切削するバイト21を有したバイト切削ユニット20と、保持テーブル10で保持した被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射するイオン噴射ユニット70と、を備える。【選択図】図4

Description

本発明は、バイト切削装置及びバイト切削方法に関する。
半導体デバイスの製造工程において、半導体デバイスウェーハの表面に表面保護テープを貼着した後、表面保護テープの上面をバイトで切削して平坦化する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2013-021017号公報
しかしながら、特許文献1等のように、表面保護テープ等の被加工物をバイトで切削すると静電気が生じて被加工物上面が帯電する。帯電によって切削屑が被加工物上面に付着すると、後の裏面研削時に切削屑を研削装置のチャックテーブルとの間に挟み込んだ状態で被加工物を保持してしまい、被加工物の破損や、切削屑に対応した領域の被加工物が局所的に薄く研削されてしまう等の不具合が生じかねない。そのため、改善が切望されている。
本発明の目的は、被加工物の帯電を抑制することができるバイト切削装置及びバイト切削方法を提供することである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のバイト切削装置は、被加工物の被切削面を露出させた状態で被加工物を保持する保持テーブルと、該保持テーブルで保持した被加工物の該被切削面を切削するバイトを有したバイト切削ユニットと、該保持テーブルで保持した被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射するイオン噴射ユニットと、を備えたことを特徴とする。
前記バイト切削装置において、該バイトに加工液を供給する加工液供給ノズルを更に備えても良い。
前記バイト切削装置において、該バイト切削ユニットと該加工液供給ノズルとを収容するとともに該バイト切削ユニットで被加工物を加工する加工位置の該保持テーブルを収容する加工室と、該加工室の外の退避位置と該加工位置とに該保持テーブルを移動させる移動ユニットと、を備え、該加工室には該保持テーブルの出入りを許容する出入り口が形成され、該イオン噴射ユニットは、該加工室内で該出入り口から該バイト切削ユニットに向かってイオン化されたエアーを噴射しても良い。
前記バイト切削装置において、該バイト切削ユニットは、該保持テーブルで保持した被加工物を乾式で加工し、該イオン噴射ユニットは、被加工物を切削中の該バイトに対してイオン化されたエアーを噴射するとともに被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射し、吸引源に接続され、該保持テーブルを挟んで該イオン噴射ユニットに対面した吸引口が形成された集塵ユニットを備えても良い。
本発明のバイト切削方法は、被加工物を保持テーブルで保持して被加工物の被切削面を露出させる保持ステップと、該保持ステップを実施した後、該被切削面をバイトで切削するバイト切削ステップと、を備え、該バイト切削ステップの実施中に被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射することを特徴とする。
前記バイト切削方法において、該バイト切削ステップの実施中に該バイトに加工液を供給しても良い。
前記バイト切削方法において、該バイト切削ステップの実施中に該バイトにイオン化されたエアーを噴射するとともに該被切削面にイオン化されたエアーを噴射しても良い。
前記バイト切削方法において、被加工物の少なくとも該被切削面は絶縁体でも良い。
本発明は、被加工物の帯電を抑制することができるという効果を奏する。
図1は、実施形態1に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。 図2は、図1に示されたバイト切削装置の加工対象の被加工物を示す斜視図である。 図3は、実施形態1に係るバイト切削方法の流れを示すフローチャートである。 図4は、図3に示されたバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。 図5は、図3に示されたバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す平面図である。 図6は、実施形態2に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。 図7は、実施形態2に係るバイト切削方法のバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。 図8は、実施形態3に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。 図9は、実施形態3に係るバイト切削方法のバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換または変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係るバイト切削装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示されたバイト切削装置の加工対象の被加工物を示す斜視図である。
実施形態1に係る図1に示すバイト切削装置は、図2に示す被加工物200をバイト切削する装置である。実施形態1に係るバイト切削方法の加工対象の被加工物200は、図2に示すように、ウエーハ201と、表面保護テープ210とを備える。ウエーハ201は、シリコン(Si)、ガリウムヒ素(GaAs)または炭化ケイ素(SiC)等を基板202とする円板状の半導体ウエーハ、光デバイスウエーハ等のウエーハである。
被加工物200は、図1に示すように、表面203の複数の分割予定ライン204によって区画された領域にそれぞれデバイス205が形成されている。デバイス205は、例えば、IC(Integrated Circuit)又はLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、又は各種のメモリ(半導体記憶装置)である。また、実施形態1では、デバイス205は、電極等に接続した導電性の球状のバンプ(図示せず)を備える。
表面保護テープ210は、絶縁性、可撓性及び粘着性を有する樹脂により構成された糊層と、糊層に積層されかつ絶縁性、可撓性及び非粘着性を有する樹脂により構成された基材層とを備える。表面保護テープ210は、糊層がウエーハ201の表面203に貼着されて、ウエーハ201の表面203を被覆している。なお、表面保護テープ210の基材層の表面211は、バイト切削加工(以下、旋回切削加工という)される被切削面である。このために、実施形態1において、被切削面である表面211は、絶縁体である。
実施形態1に係る図1に示されたバイト切削装置1は、被加工物200の表面203に貼着した表面保護テープ210の上層を平坦に旋回切削加工して、被加工物200の表面保護テープ210の表面211を平坦に形成する加工装置である。バイト切削装置1は、図1に示すように、装置基台2と、保持テーブル10と、バイト切削ユニット20と、加工送りユニット30と、切り込み送りユニット40と、制御ユニット100とを備える。
保持テーブル10は、被加工物200の裏面206側を保持面11で保持して、被加工物200の表面保護テープ210の表面211を露出させた状態で被加工物200を保持するものである。保持テーブル10は、ステンレス鋼等の金属材により構成され、かつ円板状の基台12と、基台12の外周部に形成された環状の外周環状保持部13とを備え、外周環状保持部13の内側に吸引凹部14が形成されている。また、保持テーブル10は、吸引凹部14内に設けられた複数の円柱状の図示しない支持ピンを備えている。
吸引凹部14に設けられた複数の支持ピンは、等間隔に配置されている。このように構成された保持テーブル10の外周環状保持部13および複数の支持ピンは、母材がステンレス鋼に構成され、外周環状保持部13の上面及び支持ピンの上面にニッケルにより構成されたメッキ層が形成されている。外周環状保持部73の上面及び支持ピンの上面は、被加工物200を保持する水平方向と平行な保持面11を構成する。
保持テーブル10に形成された吸引凹部14は、図示しない吸引源に接続されており、吸引源により吸引されることにより、保持面11上に載置された被加工物200を吸引保持する。保持テーブル10は、Z軸方向と平行な軸心回りに回転自在な図示しない支持基台に支持されている。なお、Z軸方向は、鉛直方向と平行であり保持面11と直交する方向である。実施形態1において、保持テーブル10は、保持面11が支持ピンの上面により構成される所謂ピンチャックテーブルである。
バイト切削ユニット20は、スピンドル83の下端に装着されたバイト21を含むバイトホイール22で保持テーブル10で保持した被加工物200の表面保護テープ210の基材層の表面211を旋回切削するものである。バイト切削ユニット20は、切り込み送りユニット40を介して装置基台2に立設した立設壁3に支持されている。バイト切削ユニット20は、スピンドル23と、スピンドル23を軸心回りに回転させるモータ24と、スピンドル23の下端に装着されたバイトホイール22とを有する。
スピンドル23の軸心は、Z軸方向に沿って配置されている。バイトホイール22は、円板状に形成されかつスピンドル23の下端に装着されるホイール基台25と、ホイール基台25の下面から凸でかつ被加工物200の表面保護テープ210の表面211を旋回切削するバイト21とを有する。
加工送りユニット30は、装置基台2上に設置され、保持テーブル10をバイト切削ユニット20に対して保持面11と平行な加工送り方向であるX軸方向に相対移動させるものである。加工送りユニット30は、保持テーブル10を支持した支持基台をX軸方向に移動させることで、保持テーブル10をバイト切削ユニット20から離間して保持テーブル10に被加工物200が搬入出される退避位置110とバイト切削ユニット20の下方に位置してバイト切削ユニット20により被加工物200が旋回切削される加工位置111とに亘って移動させる。加工送りユニット30は、退避位置110と加工位置111とに保持テーブル10を移動させる移動ユニットである。
切り込み送りユニット40は、装置基台2に立設する立設壁3に取り付けられ、バイト切削ユニット20を保持面11と直交する切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させるものである。切り込み送りユニット40は、バイト切削ユニット20を下降させてバイト21を加工位置111の保持テーブル10に保持された被加工物200に近付け、バイト切削ユニット20を上昇させてバイト21を加工位置111の保持テーブル10に保持された被加工物200から遠ざける。
加工送りユニット30及び切り込み送りユニット40は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のパルスモータ及び保持テーブル10又はバイト切削ユニット20をY軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。
また、バイト切削装置1は、装置基台2にカセット4,5が設置される。バイト切削装置1は、位置合わせユニット7と、カセット4,5から保持テーブル10との間で被加工物200を搬送する搬送手段である搬送ユニット50と、旋回切削加工後の被加工物200を洗浄する洗浄ユニット6と、位置合わせユニット7とを備える。
カセット4,5は、被加工物200を複数枚収容する収容器であり、装置基台2の退避位置110側の端部に設置される。カセット4,5は、旋回切削加工前後の被加工物200を収容する。実施形態1では、カセット4,5は、ウエーハ201が下方に位置し表面保護テープ210が上方に位置した状態で、被加工物200を複数枚収容する。位置合わせユニット7は、カセット4,5から取り出された旋回切削加工前後の被加工物200が仮置きされて、その中心位置合わせを行うためのテーブルである。
搬送ユニット50は、搬入出ユニット51と、搬入ユニット52と、搬出ユニット53とを備える。搬入出ユニット51は、例えばU字型ハンドを備えるロボットピックであり、U字型ハンドによって被加工物200を吸着保持して搬送する。具体的には、搬入出ユニット51は、旋回切削加工前の被加工物200をカセット4,5から位置合わせユニット7へ搬出するとともに、旋回切削加工後の被加工物200を洗浄ユニット6からカセット4,5へ搬入する。
搬入ユニット52は、カセット4,5から搬出し位置合わせユニット7で位置合わせされた旋回切削加工前の被加工物200を退避位置110に位置する保持テーブル10上に搬入する。搬出ユニット53は、退避位置110に位置する保持テーブル10上に保持された旋回切削加工後の被加工物200を保持テーブル10から搬出して洗浄ユニット6に搬入する。
制御ユニット100は、バイト切削装置1を構成する上述した各構成要素をそれぞれ制御するものである。即ち、制御ユニット100は、被加工物200に対する加工動作をバイト切削装置1に実行させるものである。制御ユニット100は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インタフェース装置とを有し、コンピュータプログラムを実行可能なコンピュータである。
制御ユニット100の演算処理装置は、ROMに記憶されているコンピュータプログラムをRAM上で実行して、バイト切削装置1を制御するための制御信号を生成する。制御ユニット100の演算処理装置は、生成した制御信号を入出力インタフェース装置を介してバイト切削装置1の各構成要素に出力する。また、制御ユニット100は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される図示しない表示手段や、オペレータが加工条件を登録する際に用いる入力手段と接続されている。入力手段は、表示手段に設けられたタッチパネルと、キーボード等とのうち少なくとも一つにより構成される。
バイト切削装置1は、図1に示すように、加工室60と、イオン噴射ユニット70と、加工液供給ノズル80と、集塵ユニット90とを備える。加工室60は、バイト切削ユニット20とイオン噴射ユニット70と加工液供給ノズル80と集塵ユニット90を収容するとともにバイト切削ユニット20で被加工物200を旋回切削加工する加工位置111の保持テーブル10を収容するものである。
実施形態1では、加工室60は、加工位置111の保持テーブル10とバイト切削ユニット20とイオン噴射ユニット70と加工液供給ノズル80と集塵ユニット90を取り囲む複数の隔壁61(図1には、一部のみ示す)により構成されている。加工室60は、退避位置110の保持テーブル10を収容しない。即ち退避位置110の保持テーブル10は、加工室60の外に位置している。
また、加工室60を構成する隔壁61には、保持テーブル10の加工室60への出入りを許容する出入り口62が形成されている。保持テーブル10は、出入り口62を通って、加工送りユニット30によりX軸方向に沿って退避位置110と加工位置111とに亘って移動される。
イオン噴射ユニット70は、被加工物200を旋回切削中のバイト21に対してイオン化されたエアー71を噴射するとともに保持テーブル10で保持した被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射して、被加工物200の表面211の帯電を中和して、被加工物200の表面211の静電気を除去するものである。
実施形態1では、イオン噴射ユニット70は、隔壁61の加工室60の内側の内面に支持され、出入り口62の上方に配置されている。イオン噴射ユニット70は、出入り口62の水平方向と平行でかつX軸方向に対して直交するY軸方向の全長に亘って出入り口62の上方に配置されている。
実施形態1では、イオン噴射ユニット70は、Y軸方向に沿って直線状に延在し、かつ図示しないエアー供給ユニットから供給されたイオン化されたエアー71を噴射する噴射口72をY軸方向に沿って間隔をあけて配置している。噴射口72は、旋回切削中のバイト切削ユニット20のバイト21及び保持テーブル10に保持された被加工物200の表面211に向けてイオン化されたエアー71を噴射する。こうして、実施形態1において、イオン噴射ユニット70は、加工室60内で出入り口62からバイト切削ユニット20に向かってイオン化されたエアー71を噴射する。
加工液供給ノズル80は、旋回切削中のバイト21に加工液81を供給するものである。実施形態1において、加工液供給ノズル80は、加工位置111の保持テーブル10のY軸方向の隣に配置されている。加工液供給ノズル80は、X軸方向に沿って直線状に延在し、かつ図示しない加工液供給源から供給された加工液81を噴射する加工液ノズル82をX軸方向に沿って間隔をあけて配置している。加工液ノズル82は、旋回切削中のバイト切削ユニット20のバイト21に向けて加工液81を供給する。
集塵ユニット90は、開閉弁91を介して吸引源92に接続され、加工液供給ノズル80とY軸方向に保持テーブル10を挟んで加工液供給ノズル80に対面した吸引口93が形成されている。実施形態1において、集塵ユニット90は、加工位置111の保持テーブル10のY軸方向の隣に配置され、Y軸方向に沿って加工液供給ノズル80との間に保持テーブル10を挟む位置に配置されている。集塵ユニット90は、X軸方向に沿って直線状に延在し、かつ加工液供給ノズル80とY軸方向に対面する吸引口93が形成されている。集塵ユニット90は、吸引源92により吸引されることで、旋回切削中に生じる切削屑及び加工液81を吸引口93を通して吸引する。
次に、実施形態1に係るバイト切削方法を図面に基づいて説明する。図3は、実施形態1に係るバイト切削方法の流れを示すフローチャートである。図4は、図3に示されたバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。図5は、図3に示されたバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す平面図である。
実施形態1に係るバイト切削方法は、前述した構成のバイト切削装置1が被加工物200の表面保護テープ210の表面211を旋回切削加工する加工動作でもある。実施形態1に係るバイト切削方法は、図3に示すように、保持ステップ1001と、バイト切削ステップ1002とを備える。
前述した構成のバイト切削装置1は、オペレータ等により旋回切削加工前の被加工物200を収容したカセット4,5が装置基台2に設置され、オペレータ等により入力された加工条件を制御ユニット100が受け付ける。バイト切削装置1は、オペレータが入力した加工動作の開始指示を制御ユニット100が受け付けると、加工動作を開始し、モータ84を駆動してスピンドル83及びバイトホイール22の軸心回りの回転、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、加工液供給ノズル80からの加工液81の供給、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を開始し、保持ステップ1001を実施する。
(保持ステップ)
保持ステップ1001は、被加工物200を保持テーブル10で保持して被加工物200の表面保護テープ210の表面211を露出させるステップである。実施形態1において、保持ステップ1001では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が搬入出ユニット51を制御してカセット4,5から被加工物200を1枚取り出させ、位置合わせユニット7へ搬出させる。
保持ステップ1001では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が位置合わせユニット7を制御して被加工物200の中心位置合わせを行わせ、搬入ユニット52を制御して位置合わせユニット7により位置合わせされた被加工物200を退避位置110に位置する保持テーブル10上に搬入させる。保持ステップ1001では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が吸引源を動作させて保持テーブル10の保持面11に被加工物200の裏面206側を吸引保持させて、表面203に密着した表面保護テープ210の表面211を上方に露出させて、バイト切削ステップ1002に進む。
(バイト切削ステップ)
バイト切削ステップ1002は、保持ステップ1001を実施した後、被加工物200 の表面保護テープ210の表面211をバイト21で旋回切削加工するステップである。実施形態1において、バイト切削ステップ1002では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が切り込み送りユニット40を制御して保持面11からの高さが所定の高さとなる位置にバイト21の先端を位置付け、図4及び図5に示すように、加工送りユニット30を制御して被加工物200を吸引保持した保持テーブル10を加工位置111に搬送する。なお、図5は、バイト21の回転軌跡を破線で示している。
バイト切削ステップ1002では、バイト切削装置1が、加工位置111の保持テーブル10上に保持された被加工物200の表面保護テープ210の上層にバイト21を切り込ませて、表面保護テープ210の表面211に旋回切削加工を施す。バイト切削ステップ1002では、バイト切削装置1が、被加工物200の表面保護テープ210の表面211を平坦に形成する。
バイト切削ステップ1002では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が加工送りユニット30を制御して旋回切削加工を施した被加工物200を吸引保持した保持テーブル10を退避位置110まで搬送させるとともに、退避位置110において保持テーブル10の吸引保持を停止させる。バイト切削ステップ1002では、バイト切削装置1は、制御ユニット100が搬出ユニット53を制御して洗浄ユニット6に搬送させ、洗浄ユニット6に洗浄させた後、搬入出ユニット51を制御して被加工物200をカセット4,5に収容させる。なお、バイト切削装置1は、カセット4,5内の被加工物200に順に保持ステップ1001及びバイト切削ステップ1002を実施し、カセット4,5内の全ての被加工物200に保持ステップ1001及びバイト切削ステップ1002を実施すると、加工動作を終了する。
なお、実施形態1において、加工動作を開始すると、バイト切削装置1は、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、加工液供給ノズル80からの加工液81の供給、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を開始し、加工動作中、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、加工液供給ノズル80からの加工液81の供給、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を継続している。このために、実施形態1において、バイト切削装置1は、図4及び図5に示すように、バイト切削ステップ1002の実施中に被加工物200の表面保護テープ210の表面 にイオン化されたエアー71を噴射し、バイト切削ステップ1002の実施中にバイト21に加工液81を供給する。
以上説明したように、実施形態1に係るバイト切削装置1及びバイト切削方法は、バイト切削ステップ1002中にイオン噴射ユニット70の噴射口72から被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射するため、旋回切削加工中に被加工物200が帯電するおそれを低減できる。その結果、実施形態1に係るバイト切削装置1及びバイト切削方法は、被加工物200の帯電を抑制することができ、被加工物200の表面211等に切削屑等の異物が付着することを抑制することができるという効果を奏する。
また、実施形態1に係るバイト切削装置1及びバイト切削方法は、加工室60の出入り口62側から加工室60の奥に向かってイオン化されたエアー71を噴射することで、加工室60の外に切削屑が出て行くことを抑制できる。
〔実施形態2〕
実施形態2に係るバイト切削装置及びバイト切削方法を図面に基づいて説明する。図6は、実施形態2に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。図7は、実施形態2に係るバイト切削方法のバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。図6及び図7は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を詳細する。
実施形態2において、バイト切削装置1-2は、図6に示すように、イオン噴射ユニット70を加工液供給ノズル80の上方に配置している。
実施形態2では、イオン噴射ユニット70は、加工液供給ノズル80のX軸方向の全長に亘って加工液供給ノズル80上方に配置されている。実施形態2では、イオン噴射ユニット70は、図7に示すように、X軸方向に沿って直線状に延在し、かつ図示しないエアー供給ユニットから供給されたイオン化されたエアー71を噴射する噴射口72をX軸方向に沿って間隔をあけて配置している。
また、実施形態2では、集塵ユニット90は、吸引源92に接続され、イオン噴射ユニット70とY軸方向に保持テーブル10を挟んでイオン噴射ユニット70に対面した吸引口93が形成されている。
実施形態2においても、バイト切削装置1-2が加工動作を開始すると、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、加工液供給ノズル80からの加工液81の供給、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を開始し、加工動作中、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、加工液供給ノズル80からの加工液81の供給、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を継続する。即ち、実施形態2においても、バイト切削方法は、バイト切削ステップ1002の実施中に被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射し、バイト切削ステップ1002の実施中にバイト21に加工液81を供給する。
実施形態2に係るバイト切削装置1-2及びバイト切削方法は、バイト切削ステップ1002中にイオン噴射ユニット70の噴射口72から被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射するため、旋回切削加工中に被加工物200が帯電するおそれを低減でき、実施形態1と同様に、被加工物200の帯電を抑制することができ、被加工物200の表面211等に切削屑等の異物が付着することを抑制することができるという効果を奏する。
また、実施形態2に係るバイト切削装置1-2及びバイト切削方法は、吸引口93に向かって加工液81と同じ方向にイオン化されたエアー71を噴射するので、加工液81の被加工物200への供給を妨げないとともに、イオン化されたエアー71の噴射によって切削屑を飛散させることなく吸引口93を通じて吸引することができる。
〔実施形態3〕
実施形態3に係るバイト切削装置及びバイト切削方法を図面に基づいて説明する。図8は、実施形態3に係るバイト切削装置の構成例を示す斜視図である。図9は、実施形態3に係るバイト切削方法のバイト切削ステップを一部断面で模式的に示す側面図である。図8及び図9は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を詳細する。
実施形態3において、バイト切削装置1-3は、図8に示すように、イオン噴射ユニット70を加工位置111の保持テーブル10のY軸方向の隣に配置して、加工液供給ノズル80を備えていない。
実施形態3では、イオン噴射ユニット70は、図9に示すように、X軸方向に沿って直線状に延在し、かつ図示しないエアー供給ユニットから供給されたイオン化されたエアー71を噴射する噴射口72をX軸方向に沿って間隔をあけて配置している。また、実施形態3では、集塵ユニット90は、吸引源92に接続され、イオン噴射ユニット70とY軸方向に保持テーブル10を挟んでイオン噴射ユニット70に対面した吸引口93が形成されている。
実施形態3においても、バイト切削装置1が加工動作を開始すると、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を開始し、加工動作中、イオン噴射ユニット70からのイオン化されたエアー71の噴射、集塵ユニット90の吸引口93を通しての吸引を継続する。即ち、実施形態3においても、バイト切削方法は、バイト切削ステップ1002の実施中に被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射する。また、実施形態3に係るバイト切削装置1-3は、加工液供給ノズル80を備えていないので、バイト切削ユニット20は、加工液81が供給されることなく、保持テーブル10で保持した被加工物200を乾式で旋回切削加工する。
実施形態3に係るバイト切削装置1-3及びバイト切削方法は、バイト切削ステップ1002中にイオン噴射ユニット70の噴射口72から被加工物200の表面保護テープ210の表面211にイオン化されたエアー71を噴射するため、旋回切削加工中に被加工物200が帯電するおそれを低減でき、実施形態1と同様に、被加工物200の帯電を抑制することができ、被加工物200の表面211等に切削屑等の異物が付着することを抑制することができるという効果を奏する。
また、実施形態3に係るバイト切削装置1-3及びバイト切削方法は、加工液81の代わりにイオン化されたエアー71が加工中のバイト21を冷却するとともに切削屑を加工点から排出することができる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。なお、本発明では、被加工物200の被切削面は、表面保護テープ210の表面211に限定されない。
1,1-2,1-3 バイト切削装置
10 保持テーブル
20 バイト切削ユニット
21 バイト
30 加工送りユニット(移動ユニット)
60 加工室
62 出入り口
70 イオン噴射ユニット
71 イオン化されたエアー
80 加工液供給ノズル
81 加工液
90 集塵ユニット
92 吸引源
93 吸引口
110 退避位置
111 加工位置
200 被加工物
211 表面(被切削面)
1001 保持ステップ
1002 バイト切削ステップ

Claims (8)

  1. 被加工物の被切削面を露出させた状態で被加工物を保持する保持テーブルと、
    該保持テーブルで保持した被加工物の該被切削面を切削するバイトを有したバイト切削ユニットと、
    該保持テーブルで保持した被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射するイオン噴射ユニットと、を備えた、バイト切削装置。
  2. 該バイトに加工液を供給する加工液供給ノズルを更に備えた、請求項1に記載のバイト切削装置。
  3. 該バイト切削ユニットと該加工液供給ノズルとを収容するとともに該バイト切削ユニットで被加工物を加工する加工位置の該保持テーブルを収容する加工室と、
    該加工室の外の退避位置と該加工位置とに該保持テーブルを移動させる移動ユニットと、を備え、
    該加工室には該保持テーブルの出入りを許容する出入り口が形成され、
    該イオン噴射ユニットは、該加工室内で該出入り口から該バイト切削ユニットに向かってイオン化されたエアーを噴射する、請求項2に記載のバイト切削装置。
  4. 該バイト切削ユニットは、該保持テーブルで保持した被加工物を乾式で加工し、
    該イオン噴射ユニットは、被加工物を切削中の該バイトに対してイオン化されたエアーを噴射するとともに被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射し、
    吸引源に接続され、該保持テーブルを挟んで該イオン噴射ユニットに対面した吸引口が形成された集塵ユニットを備えた、請求項1に記載のバイト切削装置。
  5. 被加工物を保持テーブルで保持して被加工物の被切削面を露出させる保持ステップと、
    該保持ステップを実施した後、該被切削面をバイトで切削するバイト切削ステップと、を備え、
    該バイト切削ステップの実施中に被加工物の該被切削面にイオン化されたエアーを噴射する、バイト切削方法。
  6. 該バイト切削ステップの実施中に該バイトに加工液を供給する、請求項5に記載のバイト切削方法。
  7. 該バイト切削ステップの実施中に該バイトにイオン化されたエアーを噴射するとともに該被切削面にイオン化されたエアーを噴射する、請求項5に記載のバイト切削方法。
  8. 被加工物の少なくとも該被切削面は絶縁体である、請求項5から請求項7のうちいずれか一項に記載のバイト切削方法。
JP2022164075A 2022-10-12 2022-10-12 バイト切削装置及びバイト切削方法 Pending JP2024057378A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022164075A JP2024057378A (ja) 2022-10-12 2022-10-12 バイト切削装置及びバイト切削方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022164075A JP2024057378A (ja) 2022-10-12 2022-10-12 バイト切削装置及びバイト切削方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2024057378A true JP2024057378A (ja) 2024-04-24

Family

ID=90778863

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022164075A Pending JP2024057378A (ja) 2022-10-12 2022-10-12 バイト切削装置及びバイト切削方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2024057378A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6909621B2 (ja) ウォータージェット加工装置
JP6877207B2 (ja) ウエーハ加工システム
JP2014024158A (ja) バイト切削装置
JP5318536B2 (ja) 研削装置
JP2011108746A (ja) ウエーハの加工方法
JP2024057378A (ja) バイト切削装置及びバイト切削方法
JP2018060872A (ja) ウエーハの加工方法及び研磨装置
JP6044976B2 (ja) ウェーハの加工方法
JP5384246B2 (ja) 研削装置
JP7051225B2 (ja) 被加工物の処理方法及び処理装置
JP5954978B2 (ja) バイト切削装置
KR101687423B1 (ko) 가공 장치
JP2012151412A (ja) 硬質基板の研削方法
JP7433709B2 (ja) 洗浄装置及び洗浄方法
JP2020131406A (ja) 加工方法
JP2015109324A (ja) スピンナー洗浄装置
JP2002307286A (ja) 研削装置
CN110707017A (zh) 被加工物的干燥方法和切削装置
JP2024065554A (ja) 加工装置及び加工方法
US20230115306A1 (en) Cleaning assembly
JP2021141263A (ja) 加工方法
JP7323342B2 (ja) 加工装置
JP6987450B2 (ja) 切削装置
JP7154870B2 (ja) バイト切削装置
JP2014175422A (ja) 切削装置