JP2024035598A5 - - Google Patents
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Description
開示のひとつである半導体装置は、
上面に信号用のパッドと主電極である上部電極を有し、上面とは板厚方向において反対の面である下面に主電極であり、板厚方向から平面視した面積が上部電極よりも大きい下部電極を有する複数の半導体素子(40)と、
はんだを介して主電極に電気的に接続された複数の導体(50、60、70、80、81、82、92)と、を備え、
複数の半導体素子は、上下アーム回路(9)の上アーム(9H)を構成する第1半導体素子(40H)と、上下アーム回路の下アーム(9L)を構成し、板厚方向において上面が同じ側となるように板厚方向に直交する一方向において第1半導体素子と並んで配置された第2半導体素子(40L)と、を含み、
複数の導体は、第1半導体素子の上部電極に第1上部はんだ(101H、102H)を介して接続された第1上部導体(50H、70H)と、第1半導体素子の下部電極に第1下部はんだ(103H)を介して接続された第1下部導体(60H)と、第2半導体素子の上部電極に第2上部はんだ(101L、102L)を介して接続された第2上部導体(50L、70L)と、第2半導体素子の下部電極に第2下部はんだ(103L)を介して接続された第2下部導体(60L)と、第1上部導体と第2下部導体とを中継はんだ(104)を介して接続する継手導体(80、81)と、を含み、
各はんだは、CuおよびSnを含み、
各はんだの接続対象のそれぞれは、Ni層(801、811)を有し、
第1上部はんだ、第2上部はんだ、および中継はんだの少なくともひとつの粒径が、第1下部はんだおよび第2下部はんだの粒径よりも小さく、
第1下部はんだおよび第2下部はんだの粒径よりも小さいはんだである小粒はんだの内部、もしくは、小粒はんだの接続対象の表面に、粒径を小さくするための凝固の起点部を有する。
上面に信号用のパッドと主電極である上部電極を有し、上面とは板厚方向において反対の面である下面に主電極であり、板厚方向から平面視した面積が上部電極よりも大きい下部電極を有する複数の半導体素子(40)と、
はんだを介して主電極に電気的に接続された複数の導体(50、60、70、80、81、82、92)と、を備え、
複数の半導体素子は、上下アーム回路(9)の上アーム(9H)を構成する第1半導体素子(40H)と、上下アーム回路の下アーム(9L)を構成し、板厚方向において上面が同じ側となるように板厚方向に直交する一方向において第1半導体素子と並んで配置された第2半導体素子(40L)と、を含み、
複数の導体は、第1半導体素子の上部電極に第1上部はんだ(101H、102H)を介して接続された第1上部導体(50H、70H)と、第1半導体素子の下部電極に第1下部はんだ(103H)を介して接続された第1下部導体(60H)と、第2半導体素子の上部電極に第2上部はんだ(101L、102L)を介して接続された第2上部導体(50L、70L)と、第2半導体素子の下部電極に第2下部はんだ(103L)を介して接続された第2下部導体(60L)と、第1上部導体と第2下部導体とを中継はんだ(104)を介して接続する継手導体(80、81)と、を含み、
各はんだは、CuおよびSnを含み、
各はんだの接続対象のそれぞれは、Ni層(801、811)を有し、
第1上部はんだ、第2上部はんだ、および中継はんだの少なくともひとつの粒径が、第1下部はんだおよび第2下部はんだの粒径よりも小さく、
第1下部はんだおよび第2下部はんだの粒径よりも小さいはんだである小粒はんだの内部、もしくは、小粒はんだの接続対象の表面に、粒径を小さくするための凝固の起点部を有する。
Claims (8)
- 上面に信号用のパッドと主電極である上部電極を有し、前記上面とは板厚方向において反対の面である下面に主電極であり、前記板厚方向から平面視した面積が前記上部電極よりも大きい下部電極を有する複数の半導体素子(40)と、
はんだを介して前記主電極に電気的に接続された複数の導体(50、60、70、80、81、82、92)と、を備え、
前記複数の半導体素子は、上下アーム回路(9)の上アーム(9H)を構成する第1半導体素子(40H)と、前記上下アーム回路の下アーム(9L)を構成し、前記板厚方向において前記上面が同じ側となるように前記板厚方向に直交する一方向において前記第1半導体素子と並んで配置された第2半導体素子(40L)と、を含み、
前記複数の導体は、前記第1半導体素子の上部電極に第1上部はんだ(101H、102H)を介して接続された第1上部導体(50H、70H)と、前記第1半導体素子の下部電極に第1下部はんだ(103H)を介して接続された第1下部導体(60H)と、前記第2半導体素子の上部電極に第2上部はんだ(101L、102L)を介して接続された第2上部導体(50L、70L)と、前記第2半導体素子の下部電極に第2下部はんだ(103L)を介して接続された第2下部導体(60L)と、前記第1上部導体と前記第2下部導体とを中継はんだ(104)を介して接続する継手導体(80、81)と、を含み、
各はんだは、CuおよびSnを含み、
各はんだの接続対象のそれぞれは、Ni層(801、811)を有し、
前記第1上部はんだ、前記第2上部はんだ、および前記中継はんだの少なくともひとつの粒径が、前記第1下部はんだおよび前記第2下部はんだの粒径よりも小さく、
前記第1下部はんだおよび前記第2下部はんだの粒径よりも小さい前記はんだである小粒はんだの内部、もしくは、前記小粒はんだの接続対象の表面に、粒径を小さくするための凝固の起点部を有する、半導体装置。 - 前記第1上部導体は、第1本体部(50H)と、前記第1半導体素子の上部電極と前記第1本体部との間に介在する第1スペーサ部(70H)と、を有し、
前記第2上部導体は、第2本体部(50L)と、前記第2半導体素子の上部電極と前記第2本体部との間に介在する第2スペーサ部(70L)と、を有し、
前記第1上部はんだは、前記第1半導体素子の上部電極と前記第1スペーサ部との間、および、前記第1スペーサ部と前記第1本体部との間にそれぞれ介在し、
前記第2上部はんだは、前記第2半導体素子の上部電極と前記第2スペーサ部との間、および、前記第2スペーサ部と前記第2本体部との間にそれぞれ介在している、請求項1に記載の半導体装置。 - 前記継手導体は、前記中継はんだである第1中継はんだを介して前記第1上部導体と前記第2下部導体とを接続する第1継手導体であり、
前記複数の導体は、主端子(92)と、前記第2上部導体と前記主端子とを第2中継はんだ(105)を介して接続する第2継手導体(82)と、を含み、
前記第2中継はんだの粒径が、前記第1下部はんだおよび前記第2下部はんだの粒径よりも小さい、請求項1に記載の半導体装置。 - 前記起点部は、前記小粒はんだ内に配置され、前記小粒はんだの接続対象の表面に固定された複数のワイヤ片(120)である、請求項1~3いずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記小粒はんだの接続対象である前記導体は、前記Ni層上に、Niを主成分とし、表面が連続して凹凸をなす凹凸酸化膜(803)を有し、
前記起点部は、前記凹凸酸化膜を覆うボイド(121)である、請求項1~3いずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記小粒はんだの接続対象である前記導体は、溢れたはんだを収容する溝(83)を有し、
前記溝の内周端は、連続する凹凸状をなしており、
前記起点部は、前記溝の内周端の凹部および/または凸部である、請求項1~3いずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記小粒はんだには、導電性のボール(122)が添加されており、
前記起点部は、前記ボールである、請求項1~3いずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記ボールは、NiまたはCuを含む、請求項7に記載の半導体装置。
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