JP2023120928A - はんだ印刷位置測定方法、はんだ印刷位置測定装置およびプリント基板製品 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 296
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 248
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims abstract 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 48
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 48
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 48
- 239000000155 melt Substances 0.000 abstract description 3
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 33
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 31
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 11
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 11
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
【課題】はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずに、はんだの印刷位置を測定することができること。【解決手段】はんだが印刷される複数のパッド2および測定用パッド3が配置されたプリント基板1と、複数の開口部5と、測定用パッド3に対し第1方向に第1距離、離されて配置される測定用開口部6とを有するメタルマスク4と、を用いて、はんだの印刷位置を測定する。はんだ印刷位置測定方法は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせし、メタルマスク4の複数の開口部5および測定用開口部6を介してプリント基板1上にはんだを印刷する印刷ステップと、測定用パッド3上のはんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだの第1方向の印刷位置を測定する測定ステップと、を備える。【選択図】図1
Description
本開示は、プリント基板上のはんだ印刷位置を測定するはんだ印刷位置測定方法、はんだ印刷位置測定装置およびプリント基板製品に関する。
リフローはんだ付けでは、印刷機によってプリント基板上の銅箔部分にクリームはんだの印刷を行い、その上にはんだ付けをする電子部品を搭載し、電子部品が搭載されたプリント基板をリフロー炉内で加熱してはんだを溶融することではんだ付けが行われる。この際、はんだ印刷位置にずれがあると、正常にはんだ付けがなされず、短絡、解放、実装位置ずれなどの不良が発生する。
特許文献1では、プリント基板上へのクリームはんだの印刷位置を把握するために、クリームはんだ印刷後にはんだ印刷検査装置を配置して、はんだ印刷位置の測定を行っている。
特許文献1の技術では、はんだ印刷位置を知るために専用のはんだ印刷検査装置が必要であり、装置コストがかかるという課題がある。また、特許文献1は、はんだ印刷後のはんだ溶融前に測定する技術であり、リフロー工程にてはんだが溶融した後では、はんだ印刷位置の測定ができないという課題がある。
本開示は、上記に鑑みてなされたものであって、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずに、はんだの印刷位置を測定することができるはんだ印刷位置測定方法を得ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本開示におけるはんだ印刷位置測定方法は、はんだが印刷される複数のパッドおよび第1測定用パッドが配置されたプリント基板と、複数のパッドに対応する位置に配置された複数の開口部と、プリント基板と位置合わせされたときに、第1測定用パッドに対し第1方向に第1距離、離されて配置される第1測定用開口部とを有するマスク部材と、を用いて、はんだの印刷位置を測定する。はんだ印刷位置測定方法は、プリント基板とマスク部材とを位置合わせし、マスク部材の複数の開口部および第1測定用開口部を介してプリント基板上にはんだを印刷する印刷ステップと、第1測定用パッド上のはんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだの第1方向の印刷位置を測定する測定ステップと、を備える。
本開示のはんだ印刷位置測定方法によれば、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずに、はんだの印刷位置を測定することができるという効果を奏する。
以下に、実施の形態にかかるはんだ印刷位置測定方法、はんだ印刷位置測定装置およびプリント基板製品を図面に基づいて詳細に説明する。
実施の形態1.
図1は、実施の形態1のはんだ印刷位置測定方法を説明するためのプリント基板などの構成を示す斜視図である。図1において、プリント基板1には、実装部品である電子部品を実装し、はんだ付けするための銅箔である複数のパッド2が設けられている。パッド2としては、スルーホールまたはビアの周囲にある実装部品の取り付けまたは層間接続用の銅箔であるランドの概念も含むものとする。また、パッド2としては、銅以外の材料で形成されているパッドまたはランドも含むものとする。プリント基板1の一辺に平行な方向をX方向とし、X方向に垂直な方向をY方向とする。
図1は、実施の形態1のはんだ印刷位置測定方法を説明するためのプリント基板などの構成を示す斜視図である。図1において、プリント基板1には、実装部品である電子部品を実装し、はんだ付けするための銅箔である複数のパッド2が設けられている。パッド2としては、スルーホールまたはビアの周囲にある実装部品の取り付けまたは層間接続用の銅箔であるランドの概念も含むものとする。また、パッド2としては、銅以外の材料で形成されているパッドまたはランドも含むものとする。プリント基板1の一辺に平行な方向をX方向とし、X方向に垂直な方向をY方向とする。
図1において、プリント基板1の上方には、マスク部材としてのメタルマスク4が示されている。メタルマスク4には、各パッド2の位置に対応する位置にはんだ付け用の複数の開口部5が設けられている。複数のパッド2に複数の開口部5が重なるようにプリント基板1とメタルマスク4とが位置合わせされた状態で、印刷機によって、各開口部5の開口を介してクリームはんだが各パッド2に印刷される。プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、各パッド2上に、クリームはんだが印刷される。その後、マウンターによって、クリームはんだが各パッド2に印刷されたプリント基板1上に、電子部品が搭載される。さらに、電子部品が搭載されたプリント基板1をリフロー炉内に入れて加熱してはんだを溶融することではんだ付けが行われる。
ここで、プリント基板1上には、第1測定用パッドとしての位置ずれ測定用パッド3が設けられている。以下、位置ずれ測定用パッド3を単に測定用パッド3と呼ぶこともある。測定用パッド3は、プリント基板1上において、配線、電子部品が存在しない孤立した箇所、例えば、4辺の角部に配置される。また、メタルマスク4には、第1測定用開口部としての位置ずれ測定用開口部6が設けられている。以下、位置ずれ測定用開口部6を単に測定用開口部6と呼ぶこともある。測定用開口部6は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3に重なる位置に設けるのではなく、測定用パッド3に対し第1方向に予め設定した距離を離して配置される。図1の場合は、測定用開口部6は測定用パッド3に対し+X方向に距離x1を離して配置されている。したがって、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、測定用パッド3から離れた位置に測定用開口部6によるクリームはんだ印刷が行われる。距離x1は第1距離に対応する。
次に、位置ずれ測定用パッド3および位置ずれ測定用開口部6を用いて印刷されたクリームはんだの位置ずれの測定方法について説明する。図2は、実施の形態1において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド3と印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図2の左図はリフロー前の状態を示し、図2の右図はリフロー後の状態を示している。プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたとき、測定用パッド3と測定用開口部6は+X方向に距離x1だけ離れているので、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、図2の左図に示すように、測定用開口部6によるはんだ印刷部7は測定用パッド3から+X方向に距離x1だけ離れて印刷される。この状態でリフロー工程を経た場合、図2の右図に示すように、はんだ溶融後でも、測定用パッド3と溶融後のはんだ8は接触することはない。
図3は、実施の形態1において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがある場合の測定用パッド3と印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図3の左図はリフロー前の状態を示し、図3の右図はリフロー後の状態を示している。図3の場合は、プリント基板1に対してメタルマスク4の位置が、-X方向にずれている状態を示している。-X方向に距離x1以上の印刷位置ずれがある場合は、図3の左図に示すように、測定用開口部6によるはんだ印刷部7は測定用パッド3に接触する。この状態でリフロー工程を経た場合、図3の右図に示すように、はんだ溶融後でも測定用パッド3上には、溶融後のはんだ8の一部が残る。このため、はんだ溶融後であっても、はんだ印刷時にはんだが接触していたことがわかる。
図4は、実施の形態1のはんだ印刷位置測定方法を示すフローチャートである。まず、はんだ印刷後のリフロー前に、測定用パッド3と測定用開口部6によるはんだ印刷部7とが観察されるか、あるいはリフロー後に、測定用パッド3と測定用開口部6による溶融後のはんだ8とが観察される(ステップS10)。この観察は、目視による観察あるいはカメラなどの観察機器による観察のいずれでもよい。つぎに、リフロー前の測定であれば、測定用パッド3と測定用開口部6によるはんだ印刷部7との接触の有無が測定され、リフロー後の測定であれば、測定用パッド3と測定用開口部6による溶融後のはんだ8との接触の有無が測定される(ステップS11)。そして、接触がない場合は(ステップS11:No)、両者のずれは距離x1未満であると判定され(ステップS12)、接触がある場合は(ステップS11:Yes)、両者のずれは距離x1以上であると判定される(ステップS13)。
つまり、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定用パッド3と測定用開口部6によるはんだとの接触の有無を目視あるいは観察機器によって測定すること、-X方向に距離x1以上のずれがあるか否かを判定することができる。
リフロー工程が終了し、複数のパッド2上に電子部品が搭載され、完成後の製品であるプリント基板製品が製造される。複数のパッド2上に電子部品が搭載され、配線が形成された完成後の正常な製品であるプリント基板製品においては、測定用パッド3から第1方向に第1距離、離された位置にはんだが形成されている。プリント基板製品では、測定用パッド3は、電子部品および配線と接続されておらず、測定用パッド3から第1方向に第1距離、離されて配置されるはんだも、電子部品および配線と接続されていない。
このように実施の形態1によれば、プリント基板1上に測定用パッド3を設け、メタルマスク4に測定用開口部6を設け、測定用パッド3と測定用開口部6とを予め設定した距離x1だけ離して配置したので、その後、測定用パッド3と測定用開口部6によるはんだとの接触の有無を測定すれば、はんだ位置ずれが距離x1未満か距離x1以上であるかを判定することができる。これにより、測定装置を持たないプリント基板組立設備でもはんだ印刷位置を測定することができる。また、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、はんだの印刷位置を測定することができる。
なお、実施の形態1において、測定用パッド3と測定用開口部6とを離間させる方向は、XY平面に含まれる方向であれば、Y方向でもよいし、±X方向成分および±Y方向成分を含む他の任意の方向としてもよい。
実施の形態2.
実施の形態2では、第1測定用パッド、第2測定用パッドとしての2つの測定用パッド3a,3bを2箇所に配置し、2つの測定用パッド3a,3bの間に、測定用開口部6を測定用パッド3a,3bから距離を離して配置している。具体的には、測定用開口部6は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3aから+X方向に、第1距離である距離x2を離して配置され、測定用パッド3bから-X方向に、第2距離である距離x3を離して配置されている。+方向は正方向に対応し、-方向は負方向に対応する。図5は、実施の形態2において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド3a,3bと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図5の左図はリフロー前の状態を示し、図5の右図はリフロー後の状態を示している。
実施の形態2では、第1測定用パッド、第2測定用パッドとしての2つの測定用パッド3a,3bを2箇所に配置し、2つの測定用パッド3a,3bの間に、測定用開口部6を測定用パッド3a,3bから距離を離して配置している。具体的には、測定用開口部6は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3aから+X方向に、第1距離である距離x2を離して配置され、測定用パッド3bから-X方向に、第2距離である距離x3を離して配置されている。+方向は正方向に対応し、-方向は負方向に対応する。図5は、実施の形態2において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド3a,3bと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図5の左図はリフロー前の状態を示し、図5の右図はリフロー後の状態を示している。
プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたとき、測定用パッド3aと測定用開口部6とは+X方向に距離x2だけ離れ、測定用パッド3bと測定用開口部6とは-X方向に距離x3だけ離れているので、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、図5の左図に示すように、測定用開口部6によるはんだ印刷部7は、測定用パッド3aから+X方向に距離x2だけ離れ、かつ測定用パッド3bから-X方向に距離x3だけ離れて印刷される。この状態でリフロー工程を経た場合、図5の右図に示すように、はんだ溶融後でも、測定用パッド3a,3bと溶融後のはんだ8は接触することはない。
図6は、実施の形態2において、プリント基板1に対してメタルマスク4が-X方向に位置ずれした場合の測定用パッド3a,3bと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図6の左図はリフロー前の状態を示し、図6の右図はリフロー後の状態を示している。-X方向に距離x2以上の印刷位置ずれがある場合は、図6の左図に示すように、測定用開口部6によるはんだ印刷部7は測定用パッド3aに接触する。この状態でリフロー工程を経た場合、図6の右図に示すように、はんだ溶融後でも測定用パッド3a上には、溶融後のはんだ8の一部が残る。このため、はんだ溶融後であっても、はんだ印刷時にはんだが接触していたことがわかる。
図7は、実施の形態2において、プリント基板1に対してメタルマスク4が+X方向に位置ずれした場合の測定用パッド3a,3bと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態およびリフロー後の状態を示す図である。図7の左図はリフロー前の状態を示し、図7の右図はリフロー後の状態を示している。+X方向に距離x3以上の印刷位置ずれがある場合は、図7の左図に示すように、測定用開口部6によるはんだ印刷部7は測定用パッド3bに接触する。この状態でリフロー工程を経た場合、図7の右図に示すように、はんだ溶融後でも測定用パッド3b上には、溶融後のはんだ8の一部が残る。このため、はんだ溶融後であっても、はんだ印刷時にはんだが接触していたことがわかる。
図8は、実施の形態2のはんだ印刷位置測定方法を示すフローチャートである。まず、はんだ印刷後のリフロー前に、測定用パッド3a,3bと測定用開口部6によるはんだ印刷部7とが観察されるか、あるいはリフロー後に、測定用パッド3a,3bと測定用開口部6による溶融後のはんだ8とが観察される(ステップS20)。この観察は、目視による観察あるいはカメラなどの観察機器による観察のいずれでもよい。つぎに、リフロー前の測定であれば、測定用パッド3aと測定用開口部6によるはんだ印刷部7との接触の有無が測定され、リフロー後の測定であれば、測定用パッド3aと測定用開口部6による溶融後のはんだ8との接触の有無が測定される(ステップS21)。ステップS21の判断がNoである場合、リフロー前の測定であれば、測定用パッド3bと測定用開口部6によるはんだ印刷部7との接触の有無が測定され、リフロー後の測定であれば、測定用パッド3bと測定用開口部6による溶融後のはんだ8との接触の有無が測定される(ステップS22)。
そして、測定用パッド3a,3bに対する接触がない場合は(ステップS22:No)、はんだ位置ずれは、-X方向に距離x2未満で、かつ+X方向に距離x3未満であると判定される(ステップS23)。一方の測定用パッド3bに対する接触がある場合は(ステップS22:Yes)、はんだ位置ずれは、+X方向に距離x3以上であると判定される(ステップS24)。他方の測定用パッド3aに対する接触がある場合は(ステップS21:Yes)、はんだ位置ずれは、-X方向に距離x2以上であると判定される(ステップS25)。
つまり、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定用パッド3a,3bと測定用開口部6によるはんだとの接触の有無を目視あるいは観察機器によって測定すること、-X方向に距離x2以上のずれがあるか否かと、+X方向に距離x3以上のずれがあるか否かを判定することができる。
このように実施の形態2によれば、プリント基板1上に2つの測定用パッド3a,3bを設け、測定用パッド3a,3bの間に、測定用開口部6を測定用パッド3a,3bから距離を離して配置しているので、その後、測定用パッド3a,3bと測定用開口部6によるはんだとの接触の有無を測定すれば、はんだ位置ずれが+X方向に距離x3以上であるか否かと、-X方向に距離x2以上であるか否かを判定することができる。これにより、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずに、一次元方向のはんだの印刷位置を測定することができる。
なお、実施の形態2において、測定用パッド3a,3bと測定用開口部6とを離間させる方向は、XY平面に含まれる方向であれば、Y方向でもよいし、±X方向成分および±Y方向成分を含む他の任意の方向としてもよい。また、X方向に並ぶ測定用パッド3a,3bおよび測定用開口部6の他に、Y方向に並ぶ2つの測定用パッドと測定用開口部を設ければ、二次元方向の+側、-側への印刷位置を測定することができる。
実施の形態3.
実施の形態3では、同一方向に異なる距離を離間された複数組の測定用パッドと測定用開口部とを用いて印刷位置ずれが測定される。図9は、実施の形態3において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド3c,3d,3eと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態を示す図である。実施の形態3では、具体的には、はんだ印刷部7aを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6a(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3cから+X方向に距離x4を離して配置されている。また、はんだ印刷部7bを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6b(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3dから+X方向に距離x5を離して配置されている。また、はんだ印刷部7cを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6c(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3eから+X方向に距離x6を離して配置されている。x4<x5<x6である。例えば、測定用パッド3cが第1測定用パッドに対応し、測定用パッド3dが第3測定用パッドに対応し、実施の形態3の測定用開口部6aが第1測定用開口部に対応し、実施の形態3の測定用開口部6bが第2測定用開口部に対応し、距離x4が第1距離に対応し、距離x5が第3距離に対応する。
実施の形態3では、同一方向に異なる距離を離間された複数組の測定用パッドと測定用開口部とを用いて印刷位置ずれが測定される。図9は、実施の形態3において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド3c,3d,3eと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態を示す図である。実施の形態3では、具体的には、はんだ印刷部7aを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6a(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3cから+X方向に距離x4を離して配置されている。また、はんだ印刷部7bを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6b(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3dから+X方向に距離x5を離して配置されている。また、はんだ印刷部7cを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6c(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド3eから+X方向に距離x6を離して配置されている。x4<x5<x6である。例えば、測定用パッド3cが第1測定用パッドに対応し、測定用パッド3dが第3測定用パッドに対応し、実施の形態3の測定用開口部6aが第1測定用開口部に対応し、実施の形態3の測定用開口部6bが第2測定用開口部に対応し、距離x4が第1距離に対応し、距離x5が第3距離に対応する。
プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたとき、測定用パッド3cと測定用開口部6aとは+X方向に距離x4だけ離れ、測定用パッド3dと測定用開口部6bとは+X方向に距離x5だけ離れ、測定用パッド3eと測定用開口部6cとは+X方向に距離x6だけ離れている。このため、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、図9に示すように、測定用開口部6aによるはんだ印刷部7aは測定用パッド3cから+X方向に距離x4だけ離れて印刷され、測定用開口部6bによるはんだ印刷部7bは測定用パッド3dから+X方向に距離x5だけ離れて印刷され、測定用開口部6cによるはんだ印刷部7cは測定用パッド3eから+X方向に距離x6だけ離れて印刷される。また、前述したように、この状態でリフロー工程を経た場合、はんだ溶融後でも、測定用パッド3c,3d,3eと溶融後のはんだが接触することはない。
図10は、実施の形態3のはんだ印刷位置測定方法を示すフローチャートである。以下では、はんだ印刷後のリフロー前の測定について説明するが、リフロー後の測定についても、前述と同様にして実施することが可能である。まず、測定用パッド3cおよびはんだ印刷部7aと、測定用パッド3dおよびはんだ印刷部7bと、測定用パッド3eおよびはんだ印刷部7cとが観察される(ステップS30)。この観察は、目視による観察あるいはカメラなどの観察機器による観察のいずれでもよい。つぎに、測定用パッド3cとはんだ印刷部7aとの接触の有無が測定される(ステップS31)。また、ステップS31の判断がYesである場合、測定用パッド3dとはんだ印刷部7bとの接触の有無が測定される(ステップS32)。また、ステップS32の判断がYesである場合、測定用パッド3eとはんだ印刷部7cとの接触の有無が測定される(ステップS33)。
そして、測定用パッド3cに対する接触がない場合は(ステップS31:No)、はんだ位置ずれは、+X方向に距離x4未満であると判定される(ステップS34)。また、測定用パッド3dに対する接触がない場合は(ステップS32:No)、はんだ位置ずれは、+X方向に距離x4以上であって距離x5未満であると判定される(ステップS35)。また、測定用パッド3eに対する接触がない場合は(ステップS33:No)、はんだ位置ずれは、+X方向に距離x5以上であって距離x6未満であると判定される(ステップS36)。また、測定用パッド3eに対する接触がある場合は(ステップS33:Yes)、はんだ位置ずれは、+X方向に距離x6以上であると判定される(ステップS37)。
このように、実施の形態3では、同一方向に複数の異なる距離を離間された複数組の測定用パッド3c,3d,3eと測定用開口部6a,6b,6cとを用いて印刷位置ずれを測定しているので、その後、測定用パッド3c,3d,3eと測定用開口部6a,6b,6cによるはんだとの接触の有無を測定すれば、はんだ位置ずれが複数の異なる距離の範囲内であるか否かを細かく判定することができる。これにより、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずにはんだの印刷位置を高精度に測定することができる。
なお、実施の形態3において、測定用パッド3c,3d,3eと測定用開口部6a,6b,6cとを離間させる方向は、XY平面に含まれる方向であれば、Y方向でもよいし、±X方向成分および±Y方向成分を含む他の任意の方向としてもよい。
また、X方向に並ぶ測定用パッド3c,3d,3eおよび測定用開口部6a,6b,6cの他に、Y方向に並ぶ複数の測定用パッドと複数の測定用開口部を設ければ、二次元方向の+側、-側への印刷位置を測定することができる。例えば、プリント基板1は、第4測定用パッドおよび第5測定用パッドを有し、メタルマスク4は、第4測定用パッドに対し第2方向としてのY方向に、第4距離、離されて配置される第3測定用開口部と、第5測定用パッドに対しY方向に、第5距離、離されて配置される第4測定用開口部と、を有し、第4測定用パッドおよび第5測定用パッド上のはんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだのY方向における印刷位置を測定するようにしてもよい。
さらに、測定用パッドと測定用開口部との組数を増加させれば、より広範囲および高精度の測定を行うことができる。また、測定用パッドと測定用開口部との距離についても、短距離の箇所で測定用パッドと測定用開口部との組数を多くし、長距離の箇所で測定用パッドと測定用開口部との組数を少なくすることで、より測定精度を細かく調整することができる。
実施の形態4.
実施の形態4では、同心円状に等間隔に配置された複数の測定用パッドと、複数の測定用パッドの同心円の中心に配置された測定用開口部とを用いて印刷位置ずれが測定される。図11は、実施の形態4において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド11a~11hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態と、測定用パッド12a~12hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態とを示す図である。測定用パッド11a~11hが第6測定用パッドに対応し、測定用パッド12a~12hが第7測定用パッドに対応する。
実施の形態4では、同心円状に等間隔に配置された複数の測定用パッドと、複数の測定用パッドの同心円の中心に配置された測定用開口部とを用いて印刷位置ずれが測定される。図11は、実施の形態4において、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド11a~11hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態と、測定用パッド12a~12hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態とを示す図である。測定用パッド11a~11hが第6測定用パッドに対応し、測定用パッド12a~12hが第7測定用パッドに対応する。
実施の形態4では、はんだ印刷部7dを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6d(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド11a~11hから距離x7を離して配置されている。また、はんだ印刷部7eを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部6e(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド12a~12hから距離x8を離して配置されている。x7<x8である。実施の形態4の測定用開口部6dが第5測定用開口部に対応し、測定用開口部6eが第6測定用開口部に対応し、距離x7が第6距離に対応し、距離x8が第7距離に対応する。
プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたとき、測定用パッド11a~11hと測定用開口部6dはそれぞれ距離x7だけ離れ、測定用パッド12a~12hと測定用開口部6eはそれぞれ距離x8だけ離れている。このため、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、図11に示すように、測定用開口部6dによるはんだ印刷部7dは測定用パッド11a~11hからそれぞれ距離x7だけ離れて印刷され、測定用開口部6eによるはんだ印刷部7eは測定用パッド12a~12hからそれぞれ距離x8だけ離れて印刷される。また、前述したように、この状態でリフロー工程を経た場合、はんだ溶融後でも、測定用パッド11a~11hと溶融後のはんだが接触することはなく、測定用パッド12a~12hと溶融後のはんだが接触することはない。
しかし、はんだ印刷時にプリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがある場合は、測定用パッド11a~11hおよび測定用パッド12a~12hのうちの何れかと、はんだ印刷部7d,7eとの接触が発生し、その接触状態は、位置ずれの大きさおよび方向によって変化する。このため、測定用パッド11a~11hおよび測定用パッド12a~12hのうち接触が発生した測定用パッドがどれであるかを判定することで、位置ずれの大きさおよび方向を判定することができる。
図12は、実施の形態4の変形例を示す図である。図12に示す変形例では、測定用パッドと測定用開口部との位置関係を図11と逆にしている。図12では、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合の測定用パッド13a~13hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態と、測定用パッド14a~14hと印刷されたクリームはんだのリフロー前の状態とを示している。測定用パッド13a~13hが第8測定用パッドに対応し、測定用パッド14a~14hが第9測定用パッドに対応する。
図12の変形例では、はんだ印刷部7f~7nを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部15a~15h(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド13a~13hから距離x9を離して、測定用パッド13a~13hの外側に配置されている。また、はんだ印刷部7o~7vを形成するクリームはんだを通過させる測定用開口部16a~16h(不図示)は、プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたときに、測定用パッド14a~14hから距離x10を離して、測定用パッド14a~14hの外側に配置されている。x9<x10である。実施の形態4の測定用開口部15a~15hが第7測定用開口部に対応し、測定用開口部16a~16hが第8測定用開口部に対応し、距離x9が第8距離に対応し、距離x10が第9距離に対応する。
プリント基板1とメタルマスク4とを位置合わせしたとき、測定用パッド13a~13hと測定用開口部15a~15hはそれぞれ距離x9だけ離れ、測定用パッド14a~14hと測定用開口部16a~16hはそれぞれ距離x10だけ離れている。このため、プリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがない場合には、図12に示すように、測定用開口部15a~15hによるはんだ印刷部7f~7nは測定用パッド13a~13hからそれぞれ距離x9だけ離れて印刷され、測定用開口部16a~16hによるはんだ印刷部7o~7vは測定用パッド14a~14hからそれぞれ距離x10だけ離れて印刷される。また、前述したように、この状態でリフロー工程を経た場合、はんだ溶融後でも、測定用パッド13a~13hと溶融後のはんだが接触することはなく、測定用パッド14a~14hと溶融後のはんだが接触することはない。
しかし、はんだ印刷時にプリント基板1とメタルマスク4との位置ずれがある場合は、測定用パッド13a~13hおよび測定用パッド14a~14hのうちの何れかと、はんだ印刷部7f~7n,7o~7vとの接触が発生し、その接触状態は、位置ずれの大きさおよび方向によって変化する。このため、測定用パッド13a~13hおよび測定用パッド14a~14hのうち接触が発生した測定用パッドがどれであるかを判定することで、位置ずれの大きさおよび方向を判定することができる。
なお、図11、図12においては、測定用パッドの個数、測定用開口部の個数、測定用パッドと測定用開口部との組の個数、測定用パッドと測定用開口部との距離を変えることで、測定可能な位置ずれの範囲、測定精度を調整することが可能である。
このように、実施の形態4によれば、はんだ印刷後のはんだ溶融前であっても、リフロー工程後のはんだ溶融後であっても、測定装置を用いずに、はんだの二次元的な印刷位置を測定することができる。
以上の実施の形態に示した構成は、本開示の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本開示の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。
1 プリント基板、2 パッド、3,3a~3e,11a~11h,12a~12h,13a~13h,14a~14h 測定用パッド、4 メタルマスク、5 開口部、6 測定用開口部、7,7a~7v はんだ印刷部、8 溶融後のはんだ。
Claims (13)
- はんだが印刷される複数のパッドおよび第1測定用パッドが配置されたプリント基板と、
前記複数のパッドに対応する位置に配置された複数の開口部と、前記プリント基板と位置合わせされたときに、前記第1測定用パッドに対し第1方向に第1距離、離されて配置される第1測定用開口部とを有するマスク部材と、
を用いて、前記はんだの印刷位置を測定するはんだ印刷位置測定方法であって、
前記プリント基板と前記マスク部材とを位置合わせし、前記マスク部材の複数の前記開口部および前記第1測定用開口部を介して前記プリント基板上にはんだを印刷する印刷ステップと、
前記第1測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいて前記はんだの前記第1方向の印刷位置を測定する測定ステップと、
を備えることを特徴とするはんだ印刷位置測定方法。 - 前記測定ステップでは、前記第1方向の前記はんだの位置ずれが前記第1距離以上であるか否かが判定される
ことを特徴とする請求項1に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - 前記プリント基板は、前記第1測定用開口部を挟んで前記第1測定用パッドの前記第1方向における負方向に、前記プリント基板と前記マスク部材とを位置合わせしたときに、前記第1測定用開口部に対し第2距離、離されて配置される第2測定用パッド
を有し、
前記測定ステップでは、前記第1測定用パッドおよび前記第2測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだの前記第1方向の印刷位置を測定する
ことを特徴とする請求項1に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - 前記測定ステップでは、
前記第1測定用パッド上の前記はんだの接触の有りが判定された場合、前記はんだの前記第1方向の正負方向のうちの一方の方向への位置ずれが前記第1距離以上であると判定され、
前記第2測定用パッド上の前記はんだの接触の有りが判定された場合、前記はんだの前記第1方向の正負方向のうちの他方の方向への位置ずれが前記第2距離以上であると判定される
ことを特徴とする請求項3に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - 前記プリント基板は、第3測定用パッドを有し、
前記マスク部材は、前記第3測定用パッドに対し前記第1方向に、前記第1距離より長い第3距離、離されて配置される第2測定用開口部を有し、
前記測定ステップでは、前記第1測定用パッドおよび前記第3測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだの第1方向の印刷位置を測定する
ことを特徴とする請求項1に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - 前記測定ステップでは、
前記第1測定用パッド上の前記はんだの接触の無しが判定された場合、前記第1方向の前記はんだの位置ずれが前記第1距離未満であると判定され、
前記第1測定用パッド上の前記はんだの接触の有りが判定され、前記第3測定用パッド上の前記はんだの接触の無しが判定された場合、前記第1方向の前記はんだの位置ずれが前記第1距離以上で前記第3距離未満であると判定され、
前記第3測定用パッド上の前記はんだの接触の有りが判定された場合、前記第1方向の前記はんだの位置ずれが前記第3距離以上であると判定される
ことを特徴とする請求項5に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - 前記プリント基板は、第4測定用パッドおよび第5測定用パッドを有し、
前記マスク部材は、前記第4測定用パッドに対し前記第1方向と異なる第2方向に、第4距離、離されて配置される第3測定用開口部と、前記第5測定用パッドに対し前記第2方向に、第5距離、離されて配置される第4測定用開口部と、を有し、
前記測定ステップでは、前記第4測定用パッドおよび前記第5測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいてはんだの前記第2方向における印刷位置を測定する
ことを特徴とする請求項5または6に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - はんだが印刷される複数のパッドが配置され、複数の第6測定用パッドが同心円状に配置されるプリント基板と、
前記複数のパッドに対応する位置に配置された複数の開口部と、前記プリント基板と位置合わせされたときに、複数の前記第6測定用パッドの中心に、前記第6測定用パッドに対し第6距離、離されて配置される第5測定用開口部と、を有するマスク部材と、
を用いて、前記はんだの印刷位置を測定するはんだ印刷位置測定方法であって、
前記プリント基板と前記マスク部材とを位置合わせし、前記マスク部材の複数の前記開口部および複数の前記第6測定用パッドを介して前記プリント基板上にはんだを印刷する印刷ステップと、
複数の前記第6測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいて前記はんだの印刷位置を測定する測定ステップと、
を備えることを特徴とするはんだ印刷位置測定方法。 - 前記プリント基板は、複数の第7測定用パッドが同心円状に配置され、
前記マスク部材は、複数の前記第7測定用パッドの中心に、複数の前記第7測定用パッドに対し第7距離、離されて配置される第6測定用開口部、を有し、
前記測定ステップでは、複数の前記第6測定用パッドおよび複数の前記第7測定用パッド上の前記はんだの接触の有無が判定され、判定結果に基づいて前記はんだの印刷位置が測定される
ことを特徴とする請求項8に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - はんだが印刷される複数のパッドが配置され、複数の第8測定用パッドが同心円状に配置されるプリント基板と、
前記複数のパッドに対応する位置に配置された複数の開口部と、前記プリント基板と位置合わせされたときに、複数の第8測定用パッドの外側に、複数の前記第8測定用パッドに対し第8距離、それぞれ離されて同心円状に配置される複数の第7測定用開口部と、を有するマスク部材と、
を用いて、前記はんだの印刷位置を測定するはんだ印刷位置測定方法であって、
前記プリント基板と前記マスク部材とを位置合わせし、前記マスク部材の複数の前記開口部および複数の前記第8測定用パッドを介して前記プリント基板上にはんだを印刷する印刷ステップと、
複数の前記第8測定用パッド上の前記はんだの接触の有無を判定し、判定結果に基づいて前記はんだの印刷位置を測定する測定ステップと、
を備えることを特徴とするはんだ印刷位置測定方法。 - 前記プリント基板は、複数の第9測定用パッドが同心円状に配置され、
前記マスク部材は、複数の前記第9測定用パッドの外側に、複数の前記第9測定用パッドに対し第9距離、それぞれ離されて同心円状に配置される複数の第8測定用開口部、を有し、
前記測定ステップでは、複数の前記第8測定用パッドおよび複数の前記第9測定用パッド上の前記はんだの接触の有無が判定され、判定結果に基づいて前記はんだの印刷位置が測定される
ことを特徴とする請求項10に記載のはんだ印刷位置測定方法。 - はんだが印刷される複数のパッドおよび第1測定用パッドが配置されたプリント基板と、
前記複数のパッドに対応する位置に配置された複数の開口部と、前記プリント基板と位置合わせされたときに、前記第1測定用パッドに対し第1方向に第1距離、離されて配置される第1測定用開口部とを有するマスク部材と、
を備え、
前記マスク部材の複数の前記開口部および前記第1測定用開口部を介して前記プリント基板上にはんだを印刷した後の、前記第1測定用パッド上の前記はんだの接触の有無に基づいて前記はんだの前記第1方向の印刷位置を測定する
ことを特徴とするはんだ印刷位置測定装置。 - 電子部品が搭載され、配線が形成されたプリント基板と、
前記プリント基板上に配置され、前記電子部品および前記配線と接続されていない第1測定用パッドと、
前記第1測定用パッドに対し第1方向に第1距離、離されて配置され、前記電子部品および前記配線と接続されていないはんだと、
を備えることを特徴とするプリント基板製品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022024076A JP2023120928A (ja) | 2022-02-18 | 2022-02-18 | はんだ印刷位置測定方法、はんだ印刷位置測定装置およびプリント基板製品 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2022024076A Pending JP2023120928A (ja) | 2022-02-18 | 2022-02-18 | はんだ印刷位置測定方法、はんだ印刷位置測定装置およびプリント基板製品 |
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