JP2023109886A - 電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器 - Google Patents

電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器 Download PDF

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Abstract

【課題】スイッチング素子をオン・オフさせて生成される交流電圧等の測定対象ノードの電圧の時間変化率を簡易かつ精度よく検出できる。【解決手段】測定対象ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路は、測定対象ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続された第1キャパシタ及び第1抵抗と、前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器に関する。
EV車やHV車などでは、モータを駆動するために大きな駆動電圧を必要とするため、100Vを超える直流電圧を交流電圧に変換する電力変換器が設けられる。電力変換器は、パワーMOSFETやIGBT等のスイッチング素子をオン・オフさせて交流電圧を生成するが、ノイズや負荷変動等により、スイッチング素子で生成される交流電圧の時間変化率が変動すると、モータの動作が不安定になるおそれがある。
スイッチング素子をオン・オフさせて生成される交流電圧は、時間に応じて電圧レベルが大きく変動するため、その時間変化率を精度よく計測するのは容易ではない。例えば、オシロスコープなどの計測器の表示部に交流電圧の電圧波形を表示させ、その電圧波形から時間変化率を換算することが考えられるが、手間がかかる上に、リアルタイムに交流電圧の時間変化率を検出できないという問題がある。
特許第3774350号公報
本発明の一態様は、スイッチング素子をオン・オフさせて生成される交流電圧等の測定対象ノードの電圧の時間変化率を簡易かつ精度よく検出可能な電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器を提供するものである。
上記の課題を解決するために、本発明の一態様では、測定対象ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路であって、
測定対象ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続された第1キャパシタ及び第1抵抗と、
前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、を備える、電圧変化率検出回路が提供される。
第1の実施形態による電圧変化率検出回路を備えた電力変換器の回路図。 電力変換回路の出力ノードの電圧波形を示す図。 電圧変化率検出回路内の回路パラメータを決定する手順を示す図。 本実施形態による電圧変化率検出回路のシミュレーションに用いた回路図。 図4Aにダイオードを追加した回路図。 図4Aの交流電源の出力電圧が0Vから立ち上がる過渡状態のシミュレーションによる電圧波形図。 図5Aの電圧が与えられたときに、シミュレーションにより得られた図4Aの電圧変化率検出回路の出力電圧波形図。 図1の電圧変化率検出回路の実験結果を示す電圧波形図。 電圧変化率検出回路の検出感度を示すグラフ。 一変形例による電圧変化率検出回路の回路図。 一変形例による電圧変化率検出回路の回路図。 一変形例による電圧変化率検出回路の回路図。 図10の第1切替器の回路図。 第2の実施形態による電圧変化率検出回路を備えた電力変換器の概略構成を示すブロック図。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は第1の実施形態による電圧変化率検出回路1を備えた電力変換器2の回路図である。図1の電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力ノードである測定対象ノードn1に接続されている。電力変換器2は、電圧変化率検出回路1と電力変換回路3を備えている。電力変換回路3は、例えば、スイッチング素子Q1,Q2を用いて直流電圧を交流電圧に変換する。図1の電力変換回路3は、直流電源4と、キャパシタC10と、スイッチング素子Q1,Q2とを有するが、電力変換回路3の具体的な回路構成は問わない。
図1の電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力電圧の時間変化率dv/dtを検出する。以下では、電力変換回路3の出力ノードを測定対象ノードn1と呼ぶ。図1の電圧変化率検出回路1は、第1キャパシタC1と、第1抵抗R1と、第1整流回路D1と、第2キャパシタC2とを有する。第1キャパシタC1と第1抵抗R1は、測定対象ノードn1と基準電圧ノードVssとの間に直列に接続されている。基準電圧ノードVssとは、例えば接地ノードである。図1の電力変換回路3の少なくとも一部の構成部品は、基板上に半導体プロセスにより形成でき、チップ化することが可能である。
第1整流回路D1は、例えばダイオードD1である。図1の例では、ダイオードD1のアノードは、第1キャパシタC1と第1抵抗R1との接続ノードに接続されている。ダイオードD1のカソードは、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTに接続されている。第2キャパシタC2は、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTと基準電圧ノードVssとの間に接続されている。第2キャパシタC2は、電力変換回路3の出力電圧の時間変化率dv/dtに応じた電荷を蓄積する。よって、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTからは、第2キャパシタC2の蓄積電荷に応じた電圧レベルを持つ直流信号が出力される。この直流信号は、電力変換回路3の出力ノードの時間変化率dv/dtを示す信号である。
また、図1の電圧変化率検出回路1は、第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電するか否かを切り替える第1切替器SW1を有する。第1切替器SW1は、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTと基準電圧ノードVssとの間に接続されている。すなわち、第2キャパシタC2と第1切替器SW1は、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTと基準電圧ノードVssとの間に並列接続されている。
電力変換回路3の出力電圧の時間変化率dv/dtを検出するという観点では、第1切替器SW1は必須の構成部品ではないが、ある時刻での時間変化率dv/dtに応じた直流信号が電圧変化率検出回路1から出力された後は、第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電させない限り、別の時刻での電力変換回路3の出力電圧の時間変化率dv/dtを検出できない。このため、定期的に第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電させるために第1切替器SW1が設けられている。
次に、図1の電圧変化率検出回路1の動作を説明する。電力変換回路3の出力ノードn1の電圧が上昇すると、過渡的に第1キャパシタC1を介して第1抵抗R1に電流が流れる。これにより、第1抵抗R1の両端電圧が大きくなるとともに、ダイオードD1を介して第2キャパシタC2にも電流が流れて電荷が蓄積され、それに応じて電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧レベルが大きくなる。電力変換回路3の出力ノードn1の電圧がピーク値に達したり、あるいは下がり始めても、第2キャパシタC2の蓄積電荷は第1切替器SW1がオフである限りは放電しないため、第2キャパシタC2の一端に接続された出力ノードOUTの電圧レベルは保持される。よって、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTからは、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtに応じた電圧レベルの直流信号が出力される。
電力変換回路3の出力ノードn1の電圧は周期的に変化するため、dv/dtに応じた電荷が第2キャパシタC2に蓄積された後、次に、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧のdv/dtを検出したいタイミングに到達する前に、第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電する必要がある。具体的には、第1切替器SW1をオンすることで、第2キャパシタC2の蓄積電荷が放電される。第2キャパシタC2の放電後は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtに応じた電荷が再び第2キャパシタC2に蓄積され、dv/dtに応じた電圧レベルの直流信号が電圧変化率検出回路1から出力される。
このように、図1の電圧変化率検出回路1は、第1切替器SW1にて第2キャパシタC2を放電するたびに、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを直流信号として検出できる。
図2は電力変換回路3の出力ノード(測定対象ノードn1)の電圧波形を示す図である。電力変換回路3は、その出力ノードn1から、周期的に電圧レベルが変化する交流電圧を出力する。図2は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧レベルが0Vから立ち上がる過渡状態の電圧波形を示している。本実施形態による電圧変化率検出回路1は、図2に示した過渡状態の電圧波形における、電圧の時間変化率dv/dtの値を電圧レベルとする直流信号を出力する。図2の電圧波形に示すように、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtは過渡状態においてほぼ一定であり、このときの時間変化率dv/dtに応じた電荷が第2キャパシタC2に蓄積され、この蓄積電荷に応じて、出力ノードOUTからは直流信号が出力される。
本実施形態による電圧変化率検出回路1内の第1キャパシタC1及び第2キャパシタC2の容量値と第1抵抗R1の抵抗値は、図3に示す手順で決定される。まず、第1キャパシタC1の容量値を決定する(ステップS1)。ここでは、例えば、第1キャパシタC1の容量値を、電力変換回路3の寄生容量の1/10以下に設定する。これにより、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧を迅速に変化させることができる。
次に、第1抵抗R1の抵抗値を決定する(ステップS2)。第1抵抗R1の抵抗値によって、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTから出力される直流信号の電圧レベル、すなわち利得を制御することができる。
ここで、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTから出力される直流信号Voutは、以下の式(1)で表すことができる。式(1)は、入力から出力までの伝達関数をラプラス変換することにより得られる。
Vout=C1×R×(dv/dt)×[1-exp{-t/R(C1+C2)}] …(1)
次に、第2キャパシタC2の容量値を決定する(ステップS3)。ここでは、電力変換回路3の時定数Tと、第1キャパシタC1及び第2キャパシタC2の容量値と、第1抵抗R1の抵抗値との関係が以下の式(2)を満たすように、第2キャパシタC2の容量値を決定する。ステップS2とS3を統合して、式(2)を満たすように、第1抵抗R1の抵抗値と第2キャパシタC2の容量値とを決定してもよい。式(2)の右辺の2.2は、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧が10%から90%になるまでの時間に対応する係数である。
T≧2.2×R×(C1+C2) …(2)
ここで、電力変換回路3の出力ノードn1の時定数Tは、例えば100n秒以下に設定される。この場合、式(2)より、第1抵抗R1の抵抗値と第2キャパシタC2の容量値は以下の式(3)を満たすように決定される。
45.5≧R×(C1+C2) …(3)
図4Aは本実施形態による電圧変化率検出回路1のシミュレーションに用いた回路図である。図4Aの回路は、図1の電圧変化率検出回路1からダイオードD1を省略した回路構成になっている。本来であれば、ダイオードD1は図4Bに示すように、キャパシタC1,C2の間に接続される。図4Aの電力変換回路3の代わりに交流電源10を接続している。図5Aは図4Aの交流電源10の出力電圧が0Vから立ち上がる過渡状態のシミュレーションによる電圧波形図である。図5Bは、交流電源10の出力電圧として図5Aの電圧が与えられたときに、シミュレーションにより得られた図4Aの電圧変化率検出回路1の出力電圧波形図である。
図5Bの電圧波形からわかるように、交流電源10の電圧が線形に上昇すると、それに伴って、図4Aの電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧も急激に上昇し、第2キャパシタC2にフルに電荷が蓄積されると、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧は一定になる。これは、図1の電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtの値に応じた直流信号を出力している状態である。
図4Aの電圧変化率検出回路1はダイオードD1を持たないため、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧がピークに達した時点で、第2キャパシタC2の蓄積電荷が第1抵抗R1を通して放電される。
仮に、図4Bのように、第1キャパシタC1及び第2キャパシタC2の接続ノードと、第2キャパシタC2との間にダイオードD1が接続されている場合には、図1の電圧変化率検出回路1と同じになり、図5Bに破線で示すように、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧は、一定の電圧振幅を保持することになる。
図6は図1の電圧変化率検出回路1の実験結果を示す電圧波形図である。図6の波形w1は電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧波形、波形w2は波形w1の一部を拡大した電圧波形図、波形w3は電力変換回路3の出力ノードn1の電圧波形図である。波形w1~w3は、オシロスコープで測定した電圧波形である。
図6に示すように、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧が0Vから立ち上がると、波形w2に示すように、しばらくの間は、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧は大きく変動するが、0.8μ秒を過ぎると、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧に応じたほぼ直流信号になる。安定化した直流信号の電圧レベルの時間変化率dv/dtは、35V/n秒程度である。
一方、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧は、波形w3に示すように、極めて短い時間だけ変化しており、そのピーク値は35V/n秒程度である。波形w3とw2を比較すればわかるように、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTから出力される電圧レベルは、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtの値と同程度である。このことから、図1の電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを正しく検出していることがわかる。
図7は、電圧変化率検出回路1の検出感度を示すグラフである。図7のグラフg1は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを変化させた場合に、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの電圧がどのように変化するかを示すグラフである。また、グラフg2は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを変化させた場合に、電圧変化率検出回路1の検出感度がどのように変化するかを示すグラフである。
グラフg2からわかるように、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtが変化しても、電圧変化率検出回路1の検出感度はほとんど変化しないことから、電圧変化率検出回路1の実用性及び信頼性が十分に高いことが分かる。また、グラフg1からわかるように、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtの変化に対して略線形に、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTの直流信号レベルを変化させることができ、線形性に優れていることがわかる。
図1の電圧変化率検出回路1は、第1整流回路D1内に1つのダイオードD1のみを有し、このダイオードD1のアノードは第1キャパシタC1と第1抵抗R1との接続ノードに接続されており、ダイオードD1のカソードは出力ノードOUTに接続されているため、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧が立ち上がる際しか、dv/dtに応じた直流信号を出力できない。電力変換回路3の出力ノード電圧が立ち上がる場合だけでなく、立ち下がる場合にも、dv/dtに応じた直流信号を出力するには、電圧変化率検出回路1は例えば図8のような回路構成が考えられる。
図8の電圧変化率検出回路1は、第1電圧変化率検出部1aと、第2電圧変化率検出部1bとを有する。第1電圧変化率検出部1aは、電力変換回路3の出力ノード(測定対象ノードn1)に接続されており、測定対象ノードn1の立ち上がり電圧の時間変化率dv/dtを示す第1直流信号を第1出力ノードOUT1から出力する。第1電圧変化率検出部1aの回路構成は、図1の電圧変化率検出回路1の回路構成と同様である。
より具体的には、第1電圧変化率検出部1aは、第1キャパシタC1に対応する第3キャパシタC3と、第1抵抗R1に対応する第2抵抗R2と、第1整流回路D1に対応する第2整流回路D2と、第2キャパシタC2に対応する第4キャパシタC4と、第1切替器SW1に対応する第2切替器SW2とを有する。
第2電圧変化率検出部1bは、電力変換回路3の出力ノード(測定対象ノードn1)に接続されており、測定対象ノードn1の立ち上がり電圧の時間変化率dv/dtを示す第2直流信号を第2出力ノードOUT2から出力する。第2電圧変化率検出部1bの回路構成は、図1の電圧変化率検出回路1の回路構成と同様である。
より具体的には、第2電圧変化率検出部1bは、第1キャパシタC1に対応する第5キャパシタC5と、第1抵抗R1に対応する第3抵抗R3と、第1整流回路D1に対応する第3整流回路D3と、第2キャパシタC2に対応する第6キャパシタC6と、第1切替器SW1に対応する第3切替器SW3とを有する。
図8の電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力ノードの電圧が立ち上がる場合の回路(第1電圧変化率検出部1a)と、立ち下がる場合の回路(第2電圧変化率検出部1b)とを別個に設けるため、回路規模が図1の電圧変化率検出回路1の約2倍になる。
図9は図8よりも回路構成を簡略化した電圧変化率検出回路1の他の一例を示す回路図である。図9の電圧変化率検出回路1は、第3電圧変化率検出部1cと、第4電圧変化率検出部1dとを有する。
第3電圧変化率検出部1cは、第1キャパシタC1及び第1抵抗R1の接続ノードに接続され、測定対象ノードn1の立ち上がり電圧の時間変化率dv/dtを示す信号を第1出力ノードOUT1から出力する。より具体的には、第3電圧変化率検出部1cは、第1整流回路D1に対応する第4整流回路D4と、第2キャパシタC2に対応する第7キャパシタC7とを有する。また、第3電圧変化率検出部1cは、第7キャパシタC7に並列接続された第4切替器SW4を有する。第4切替器SW4は、第7キャパシタC7の蓄積電荷を放電するか否かを切り替える。第4整流回路D4は、第1キャパシタC1と第1抵抗R1との間に接続されるアノードと、第1出力ノードOUTに接続されるカソードとを有するダイオードである。
第4電圧変化率検出部1dは、第1キャパシタC1及び第1抵抗R1の接続ノードに接続され、測定対象ノードn1の立ち下がり電圧の時間変化率dv/dtを示す信号を第2出力ノードOUTから出力する。より具体的には、第4電圧変化率検出部1dは、第1整流回路D1に対応する第5整流回路D5と、第2キャパシタC2に対応する第8キャパシタC8とを有する。また、第4電圧変化率検出部1dは、第8キャパシタC8に並列接続された第5切替器SW5を有する。第5切替器SW5は、第8キャパシタの蓄積電荷を放電するか否かを切り替える。第5整流回路D5は、第1キャパシタC1と第1抵抗R1との間に接続されるアノードと、第2出力ノードOUTに接続されるカソードとを有するダイオードである。
図9の電圧変化率検出回路1は、第3電圧変化率検出部1cと第4電圧変化率検出部1dが、第1キャパシタC1と第1抵抗R1を共有するため、図8の電圧変化率検出回路1よりも、回路構成を簡略化できる。
図10は図9よりも回路構成を簡略化した電圧変化率検出回路1の他の一例を示す回路図である。図10の電圧変化率検出回路1は、図1の電圧変化率検出回路1とは第1整流回路D1の内部構成が異なっている。より具体的には、図10の第1整流回路D1は、第1ダイオードd1と第2ダイオードd2を有する。第1ダイオードd1は、図1のダイオードと同様に、第1キャパシタC1及び第1抵抗R1の接続ノードに接続されるアノードと、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTに接続されるカソードとを有する。第2ダイオードd2は、第1キャパシタC1及び第1抵抗R1の接続ノードに接続されるカソードと、電圧変化率検出回路1の出力ノードOUTに接続されるアノードとを有する。
図10の電圧変化率検出回路1内の第1切替器SW1は、例えば図11に示すように、カスコード接続されたPMOSトランジスタQ3及びNMOSトランジスタQ4を有する。PMOSトランジスタQ3とNMOSトランジスタQ4のそれぞれには、ソースに接続されるアノードと、ドレインに接続されるカソードとを有するボディダイオードD6,D7が内蔵されている。これらボディダイオードD6,D7の接続方向は互いに逆であるため、第1ダイオードD4と第2ダイオードD5の動作を妨げるおそれがない。
このように、第1の実施形態では、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを、直流信号として検出するため、オシロスコープ等を使って計測した電力変換回路3の出力ノードn1の電圧波形からdv/dtを算出しなくて済み、dv/dtを簡易かつ精度よく検出できる。特に、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の立ち上がり期間や立ち下がり期間が終了した後でも、電圧変化率検出回路1は、dv/dtに応じた電圧レベルの直流信号を出力するため、事後的にdv/dtの解析を行うことができる。
また、本実施形態による電圧変化率検出回路1は、第1キャパシタC1、第1抵抗R1、第1整流回路D1及び第2キャパシタC2を含む簡易な回路で構成できるため、低コストでdv/dtの値を検出できる。
さらに、本実施形態による電圧変化率検出回路1は、第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電させる第1切替器SW1を有するため、定期的に第2キャパシタC2の蓄積電荷を放電することにより、継続的に電力変換回路3の出力電圧の時間変化率dv/dtに応じた直流信号を出力できる。
本実施形態による電圧変化率検出回路1から出力された直流信号は、電力変換回路3の出力電圧の時間変化率の情報を含んでいるため、後述するように、電力変換回路3の電力変換動作に帰還させることができる。すなわち、電圧変化率検出回路1から出力された直流信号により、電力変換回路3の電力変換動作が正常か否かを判断できるため、この直流信号を帰還させて電力変換回路3内のスイッチング素子Q1,Q2のゲート電圧を制御することで、電力変換回路3の電力変換動作を最適化することができる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態は、電圧変化率検出回路1から出力された直流信号を、電力変換回路3の制御に用いるものである。
図12は第2の実施形態による電圧変化率検出回路1を備えた電力変換器2の概略構成を示すブロック図である。図12の電力変換器2は、電圧変化率検出回路1と、電力変換回路3と、制御回路11とを備えている。
電圧変化率検出回路1は、上述した図1、図8、図9又は図10と同様の回路構成を有する。電力変換回路3は、例えば、カスコード接続された複数のスイッチング素子Q1,Q2と、各スイッチング素子Q1,Q2のゲートに接続された可変抵抗器12,13と、を有する。なお、電力変換回路3の内部構成は任意であり、種々の回路構成が考えられる。電力変換回路3で電力変換された交流電圧は、例えばモータなどの負荷を駆動するために用いられる。
制御回路11は、電圧変化率検出回路1から出力された直流信号の電圧レベルに応じて、各スイッチング素子Q1,Q2のゲート電圧を制御する。より具体的な一例では、制御回路11は、直流信号の電圧レベルに応じて可変抵抗器12,13の抵抗値を制御することにより、各スイッチング素子Q1,Q2のゲート電圧を制御する。
電力変換回路3内のスイッチング素子Q1,Q2は、予め定めた周波数及びデューティでスイッチング動作を行うことが期待されている。温度や電圧変動、あるいは負荷変動などにより、スイッチング素子Q1,Q2のスイッチング動作が所望の動作からずれることがあり、その場合には、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtが所望の値とは異なる値になる。そこで、本実施形態では、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtを電圧変化率検出回路1でモニタし、電圧変化率検出回路1から出力されたdv/dtに応じた電圧レベルの直流信号を制御回路11に供給する。制御回路11は、この直流信号の電圧レベルに基づいて、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧の時間変化率dv/dtが所望の値になるように、電力変換回路3内のスイッチング素子Q1,Q2のゲート電圧を制御する。
このように、電圧変化率検出回路1から、電力変換回路3の出力電圧の時間変化率を示す直流信号を出力することで、この直流信号を用いて電力変換回路3の電力変換動作を最適化することができる。より具体的には、上述した直流信号にて、電力変換回路3内のスイッチング素子Q1,Q2のゲート電圧を制御することで、簡易な回路構成でありながら、電力変換回路3の出力電圧波形を所望の電圧波形に制御できる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1 電圧変化率検出回路、1a 第1電圧変化率検出部、1b 第2電圧変化率検出部、1c 第3電圧変化率検出部、1d 第4電圧変化率検出部、2、2a、2b、2c、2d 電力変換器、3 電力変換回路、4 直流電源、D1 第1整流回路、D2 第2整流回路、D3 第3整流回路、D4 第4整流回路、D5 第5整流回路、d1 第1ダイオード、d2 第2ダイオード

Claims (21)

  1. 電力変換を行う電力変換回路の出力電圧ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路であって、
    出力電圧ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
    前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
    前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す第1直流信号を第1出力ノードから出力する第1電圧変化率検出部と、
    前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す第2直流信号を第2出力ノードから出力する第2電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第1電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第3キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第2抵抗と、前記第1整流回路に対応する第2整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第4キャパシタとを有し、
    前記第2電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第5キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第3抵抗と、前記第1整流回路に対応する第3整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第6キャパシタとを有する、電圧変化率検出回路。
  2. 電力変換を行う電力変換回路の出力電圧ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路であって、
    出力電圧ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
    前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す信号を第1出力ノードから出力する第3電圧変化率検出部と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す信号を第2出力ノードから出力する第4電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第3電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第4整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第7キャパシタとを有し、
    前記第4電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第5整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第8キャパシタとを有する、電圧変化率検出回路。
  3. 前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続され、前記第2キャパシタの蓄積電荷を放電するか否かを切り替える切替器を備える、請求項1又は2に記載の電圧変化率検出回路。
  4. 前記切替器は、前記出力ノードから出力される前記直流信号の電圧レベルが安定した後にオンして、前記第2キャパシタを放電させる、請求項3に記載の電圧変化率検出回路。
  5. 前記第1キャパシタは、前記出力電圧ノードの寄生容量の1/10以下の容量値を有する、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  6. 前記出力電圧ノードの電圧変化に応じた前記直流信号が前記出力ノードから出力されるまでに要する時定数が100n秒以下になるように、前記第1キャパシタの容量、前記第2キャパシタの容量及び前記第1抵抗の抵抗値が設定される、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  7. 前記時定数Tが式(1)を満たすように、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値Rが設定される、請求項6に記載の電圧変化率検出回路。
    T≧2.2×R×(C1+C2) …(1)
  8. 前記出力ノードの電圧Voutは、前記出力電圧ノードの電圧の時間変化率dv/dt、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値Rを用いて、式(2)で表される、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
    Vout=C1×R×(dv/dt)×[1-exp{-t/R(C1+C2)}] …(2)
  9. 出力電圧ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路を基板上に配置した半導体装置であって、
    前記電圧変化率検出回路は、
    出力電圧ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
    前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
    前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す第1直流信号を第1出力ノードから出力する第1電圧変化率検出部と、
    前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す第2直流信号を第2出力ノードから出力する第2電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第1電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第3キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第2抵抗と、前記第1整流回路に対応する第2整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第4キャパシタとを有し、
    前記第2電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第5キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第3抵抗と、前記第1整流回路に対応する第3整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第6キャパシタとを有する、半導体装置。
  10. 出力電圧ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路を基板上に配置した半導体装置であって、
    前記電圧変化率検出回路は、
    出力電圧ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
    前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す信号を第1出力ノードから出力する第3電圧変化率検出部と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す信号を第2出力ノードから出力する第4電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第3電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第4整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第7キャパシタとを有し、
    前記第4電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第5整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第8キャパシタとを有する、半導体装置。
  11. 電力変換を行う電力変換回路と、
    前記電力変換回路の出力電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードを有する電圧変化率検出回路と、
    前記直流信号に基づいて前記電力変換回路を制御する制御回路と、を備える電力変換器であって、
    前記電圧変化率検出回路は、
    前記電力変換回路で電力変換された電圧を出力する測定対象ノードと基準電圧ノードとの間に直列に接続された第1キャパシタ及び第1抵抗と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードと、前記出力ノードとの間に接続される第1整流回路と、
    前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、を有する、電力変換器。
  12. 前記電力変換回路は、前記測定対象ノードに接続されるスイッチング素子を有し、
    前記制御回路は、前記直流信号が所定の電圧レベルになるように、前記直流信号に基づいて前記スイッチング素子の制御端子の電圧を制御する、請求項12に記載の電力変換器。
  13. 前記出力ノードと前記基準電圧ノードとの間に接続され、前記第2キャパシタの蓄積電荷を放電するか否かを切り替える切替器を備える、請求項11又は12に記載の電圧変化率検出回路。
  14. 前記切替器は、前記出力ノードから出力される前記直流信号の電圧レベルが安定した後にオンして、前記第2キャパシタを放電させる、請求項13に記載の電圧変化率検出回路。
  15. 前記第1キャパシタは、前記出力電圧ノードの寄生容量の1/10以下の容量値を有する、請求項11乃至14のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  16. 前記出力電圧ノードの電圧変化に応じた前記直流信号が前記出力ノードから出力されるまでに要する時定数が100n秒以下になるように、前記第1キャパシタの容量、前記第2キャパシタの容量及び前記第1抵抗の抵抗値が設定される、請求項11乃至15のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  17. 前記時定数Tが式(1)を満たすように、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値Rが設定される、請求項16に記載の電圧変化率検出回路。
    T≧2.2×R×(C1+C2) …(1)
  18. 前記出力ノードの電圧Voutは、前記出力電圧ノードの電圧の時間変化率dv/dt、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値Rを用いて、式(2)で表される、請求項11乃至17のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
    Vout=C1×R×(dv/dt)×[1-exp{-t/R(C1+C2)}] …(2)
  19. 前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す第1直流信号を第1出力ノードから出力する第1電圧変化率検出部と、
    前記出力電圧ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す第2直流信号を第2出力ノードから出力する第2電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第1電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第3キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第2抵抗と、前記第1整流回路に対応する第2整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第4キャパシタとを有し、
    前記第2電圧変化率検出部は、前記第1キャパシタに対応する第5キャパシタと、前記第1抵抗に対応する第3抵抗と、前記第1整流回路に対応する第3整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第6キャパシタとを有する、請求項11乃至18のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  20. 前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち上がり電圧の時間変化率を示す信号を第1出力ノードから出力する第3電圧変化率検出部と、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続され、前記出力電圧ノードの立ち下がり電圧の時間変化率を示す信号を第2出力ノードから出力する第4電圧変化率検出部と、を備え、
    前記第3電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第4整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第7キャパシタとを有し、
    前記第4電圧変化率検出部は、前記第1整流回路に対応する第5整流回路と、前記第2キャパシタに対応する第8キャパシタとを有する、請求項11乃至18のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
  21. 前記第1整流回路は、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続されるアノードと、前記出力ノードに接続されるカソードとを有する第1ダイオードと、
    前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに接続されるカソードと、前記出力ノードに接続されるアノードとを有する第2ダイオードと、を有する、請求項11乃至18のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
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