JP7107314B2 - Ｄｃ－ｄｃコンバータ、スイッチ素子による電圧降下を測定する方法、スイッチ素子の故障を検知する方法、３相インバータ - Google Patents

Description

本発明は、ＤＣ－ＤＣコンバータ、およびスイッチ素子による電圧降下を測定する方法、スイッチ素子の故障を検知する方法、３相インバータに関する。

ＤＣ－ＤＣコンバータに含まれるスイッチ素子による電圧降下を測定する方法として、スイッチ素子の両端電圧を検出する方法が採られることは知られている。例えば特許文献１には、スイッチ素子の両端電圧を検出する検出部を備えた昇圧チョッパ回路が開示されている。

日本国特許公報：特許第５４５４８１９号公報

ところで、昇圧形のＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、出力電圧を制御するためのスイッチ素子がオンである場合のスイッチ素子の両端電圧を精度良く測定することは困難である。これは、スイッチ素子がオンの場合（導通時）とオフの場合（非導通時）とでスイッチ素子の両端電圧の差が大きいためである。すなわち、スイッチ素子の両端電圧の変動幅が大きい場合に、スイッチ素子がオンのときの低電圧側の両端電圧を観測するためにオシロスコープの感度を上げると、オシロスコープ内部の増幅器が飽和する等の影響によってスイッチ素子の両端電圧を精度良く測定することができない。

そこで、スイッチ素子の両端電圧を定電圧ダイオードによって所定電圧にクランプし、代替的に定電圧ダイオードの両端電圧を観測することで、スイッチ素子がオンの場合の両端電圧を測定することが考えられる。しかし、以下の理由から、定電圧ダイオードの両端電圧を観測することが困難である。



すなわち、スイッチ素子の両端電圧が高電圧となるときに定電圧ダイオードに流れる電流を当該定電圧ダイオードの定格電流以下とするために、比較的高い抵抗値の抵抗素子を定電圧ダイオードと直列に接続する必要がある。当該抵抗素子に起因してスイッチ素子がオフからオンへ切り替わるときに定電圧ダイオードの放電に遅れが生ずるため、定電圧ダイオードの両端電圧が定常状態となるのに時間が掛かり、定電圧ダイオードの両端電圧を観測することが困難となる。スイッチ素子を高い周波数で動作させた場合、定電圧ダイオードの放電の遅れが特に問題となる。



なお、上記課題は、ＤＣ－ＤＣコンバータに限らず、３相インバータに対しても当てはまる。

そこで、本発明は、ＤＣ－ＤＣコンバータあるいは３相インバータにおいて、スイッチ素子の導通時の両端電圧を精度良く測定することを目的とする。

本願の例示的な第１発明は、入力電圧を昇圧させて出力電圧を得るＤＣ－ＤＣコンバータであって、低電位側の第１ノードと高電位側の第２ノードとの間を導通させる第１状態、又は導通させない第２状態のいずれかの状態となるスイッチ素子と、閾値電圧として、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ノードと前記第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧又は順方向電圧を有する第１ダイオードと、前記第１ダイオードに接続される第２ダイオードと、を備え、前記第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、前記第１ノードに接続され、前記第２ダイオードのアノード端子は、前記第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ前記第２ダイオードのカソード端子は、前記第２ノードに接続され、前記スイッチ素子が前記第２状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧となり、前記スイッチ素子が前記第１状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧未満となる。

本発明によれば、ＤＣ－ＤＣコンバータあるいは３相インバータにおいて、スイッチ素子の導通時の両端電圧を精度良く測定することができる。

図１は、第１の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータの回路図である。 図２は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータの回路図である。 図３は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオン・オフを繰り返すときの各部の電圧波形を示すタイミングチャートである。 図４ａは、第１の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオフの状態のときの動作を説明する図である。 図４ａは、第１の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオンの状態のときの動作を説明する図である。 図５は、第１の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオン・オフを繰り返すときの各部の電圧波形を示すタイミングチャートである。 図６は、第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータの回路図である。 図７ａは、第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオフの状態のときの動作を説明する図である。 図７ｂは、第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオンの状態のときの動作を説明する図である。 図８は、第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオン・オフを繰り返すときの各部の電圧波形を示すタイミングチャートである。 図９は、第２の実施形態の変形例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータの回路図である。 図１０は、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータの回路図である。 図１１ａは、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオフの状態のときの動作を説明する図である。 図１１ｂは、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオンの状態のときの動作を説明する図である。 図１２は、第４の実施形態に係る３相インバータの回路図である。 図１３は、図８のタイミングチャートの一部の拡大図である。

（１）第１の実施形態 第１の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１について、図１～５を参照して説明する。

（１－１）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の構成



図１は、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の回路図である。図１に示すように、本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１は、直流電圧源ＶＧ１による入力電圧を昇圧させて負荷Ｒ_Ｌに出力電圧を供給する非絶縁型コンバータである。昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１は、基本的な昇圧回路の構成として、インダクタＬ１、ダイオードＤ１、キャパシタＣ１、および、スイッチ素子の一例としてのＮＭＯＳトランジスタＱ１を含む。

直流電圧源ＶＧ１の負極端子はノードＮ１（第１ノードの一例）に接続され、直流電圧源ＶＧ１の正極端子はインダクタＬ１の一方の端子に接続されている。ノードＮ１の電位は基準電位（本実施形態の例では、接地電位）である。以下の説明において「電圧」は、特記しない限り、ノードＮ１の電位を基準とした電位差を意味する。



インダクタＬ１の他方の端子は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン端子とダイオードＤ１のアノード端子とに接続されている。ダイオードＤ１のカソード端子とノードＮ１の間には、負荷Ｒ_Ｌと並列にキャパシタＣ１が接続されている。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１のソース端子は、低電位側のノードＮ１に接続されている。ＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン端子は、インダクタＬ１とダイオードＤ１の間のノードである高電位側のノードＮ２（第２ノードの一例）に接続されている。ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート端子には、ＮＭＯＳトランジスタＱ１をオンさせてノードＮ１とノードＮ２を導通させる状態（第１状態）、又は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１をオフさせてノードＮ１とノードＮ２を導通させない状態（第２状態）とするゲート電圧Ｖ_Ｇが印加される。ゲート電圧Ｖ_Ｇは例えばパルス波形の電圧である。

本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１をオンにすると、インダクタＬ１に電流が流れてインダクタＬ１にエネルギーに蓄積される。このとき、ダイオードＤ１は非導通状態となっており、負荷Ｒ_Ｌに対してキャパシタＣ１から電流が供給される。



他方、ＮＭＯＳトランジスタＱ１をオフにすると、インダクタＬ１に蓄積されたエネルギーが逆起電力として放出されて、ダイオードＤ１が導通状態となる。そのため、インダクタＬ１に流れる電流は、キャパシタＣ１を充電すると同時に負荷Ｒ_Ｌへも供給される。このとき、負荷Ｒ_Ｌにかかる出力電圧は、直流電圧源ＶＧ１による入力電圧とインダクタＬ１で生ずる逆起電力の和からダイオードＤ１の順方向電圧を引いた値となる。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときのノードＮ２の電圧は極めて高い値（例えば、２００Ｖ）となる一方で、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときのノードＮ２の電圧は０Ｖに近い値となる。そのため、従来技術では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときのノードＮ１とノードＮ２の間の電圧降下（すなわち、ドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳ）を直接オシロスコープで測定することが困難である点は既に述べたとおりである。なお、以下の説明では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときのＮＭＯＳトランジスタＱ１によるノードＮ１とノードＮ２の間の電圧降下を「オン電圧」という。



本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を正確に測定するために、図１に示すように、定電圧ダイオード（ツェナーダイオード）ＺＤ１１，ダイオードＤ１２および抵抗素子Ｒ１を含む。



なお、本実施形態において、定電圧ダイオードＺＤ１１，ダイオードＤ１２は、それぞれ第１ダイオード、第２ダイオードの一例である。

定電圧ダイオードＺＤ１１は、閾値電圧として、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧よりも高い降伏電圧を有する。すなわち、第１ダイオードは、閾値電圧として、スイッチ素子が第１状態のときの第１ノードと第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧を有する。



定電圧ダイオードＺＤ１１のアノード端子（第１端子の一例）はノードＮ１に接続されている。すなわち、第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、第１ノードに接続されている。



ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ（第２状態）である場合に、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧が降伏電圧（閾値電圧の一例）となり、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオン（第１状態）である場合に、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧が降伏電圧未満となる。すなわち、スイッチ素子が第２状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧となり、スイッチ素子が第１状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧未満となる。



本実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳを直接測定するのではなく、代替的に定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１の測定値を取得する。

ダイオードＤ１２は、定電圧ダイオードＺＤ１１に接続されている。すなわち、第２ダイオードは、第１ダイオードに接続されている。



ダイオードＤ１２のアノード端子は、定電圧ダイオードＺＤ１１のカソード端子（第２端子の一例）に接続され、かつダイオードＤ１２のカソード端子は、ノードＮ２に接続されている。すなわち、第２ダイオードのアノード端子は、第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ第２ダイオードのカソード端子は、第２ノードに接続されている。



定電圧ダイオードＺＤ１１のカソード端子とノードＮ２との間に、抵抗素子Ｒ１（第１抵抗素子の一例）がダイオードＤ１２と並列に接続されている。すなわち、第１抵抗素子は、第１ダイオードの第２端子と第２ノードとの間に、第２ダイオードと並列に接続されている。抵抗素子Ｒ１は、ノードＮ２が高電圧になる場合に定電圧ダイオードＺＤ１１に流れ込む電流を制限するための抵抗素子である。前述したように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときにノードＮ２は高電圧となるため、抵抗素子Ｒ１の抵抗値は、定電圧ダイオードＺＤ１１に流れ込む電流が定電圧ダイオードＺＤ１１の定格電流を超えないように大きな値とする。

（１－２）比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００の構成および動作



次に、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００の構成および動作について、図２および図３を参照して説明する。図２は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００の回路図である。図３は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇ、ドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳ、および定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１のタイミングチャートの一例である。



昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００は、本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１との比較のために提示されるに過ぎず、本発明の一実施形態ではない。



図２に示すように、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００は、ダイオードＤ１２が抵抗素子Ｒ１と並列に接続されていない点で、本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１とは異なる。

図３に示す例では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇのデューティ比が５０％である場合を示している。時刻ｔ１～ｔ２，ｔ３～ｔ４，ｔ５～ｔ６においてＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフし、時刻ｔ２～ｔ３，ｔ４～ｔ５，ｔ６～ｔ７においてＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンする。ノードＮ１とノードＮ２の間の電圧、すなわちＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間電圧Ｖ_ＤＳは、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときに高電圧Ｖｈとなり、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときに比較的低電圧（つまり、オン電圧）となる。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフの場合（つまり、ドレイン－ソース間電圧Ｖ_ＤＳが高電圧の場合）には、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１は降伏電圧Ｖ_Ｚになる。しかし、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わる場合、図３に示すように、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１が降伏電圧Ｖ_Ｚから低下するときの応答性が低い（例えば、時刻ｔ２～ｔ３の電圧ＶＤ１１の波形を参照）。そのため、電圧ＶＤ１１が定常状態のオン電圧に達する前にＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンからオフに切り替わることから、オン電圧を測定することができないという問題がある。これは、上述したように、抵抗素子Ｒ１の抵抗値が大きいことから、定電圧ダイオードＺＤ１１の寄生容量（接合容量）に蓄積された電荷を放電するときの時定数が大きいためである。ＮＭＯＳトランジスタＱ１を高速でスイッチングを行う場合には、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン期間が短いため、特に電圧ＶＤ１１の低応答性が問題となる。

（１－３）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の動作およびオン電圧の測定



次に、図４ａ、図４ｂ、および図５を参照して、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の動作について説明する。図４ａは、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフの状態のときの動作を説明する図である。図４ｂは、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンの状態のときの動作を説明する図である。図５は、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇ、ドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳ、および定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１のタイミングチャートの一例である。



なお、図４ａおよび図４ｂは、説明のために定電圧ダイオードＺＤ１１の寄生容量Ｃｊを示している点で、図１とは異なる。図５において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇおよびドレイン－ソース間電圧Ｖ_ＤＳは、図３と同じである。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときの本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の動作は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００と同じである。すなわち、図４ａに示すように、インダクタＬ１に流れる電流は、キャパシタＣ１を充電すると同時に負荷Ｒ_Ｌへも供給される。さらに、インダクタＬ１を流れる電流は、ノードＮ２を経由して抵抗素子Ｒ１と定電圧ダイオードＺＤ１１を流れる。このとき、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１は降伏電圧Ｖ_Ｚとなり、寄生容量Ｃｊには電荷が蓄積される。



ノードＮ２が高電圧であるため、ダイオードＤ１２には電流は流れない。

他方、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときの本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１の動作は、比較例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１００とは異なる。



図４ｂに示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わると、ノードＮ１とノードＮ２が導通する。それと同時に、定電圧ダイオードＺＤ１１の寄生容量Ｃｊに蓄積されていた電荷が、ダイオードＤ１２→ノードＮ２→ＮＭＯＳトランジスタＱ１→ノードＮ１の経路によって素早く放電される。その結果、図５に示すように、昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わる場合において、降伏電圧Ｖ_Ｚから低下するときの定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１の応答性が高い。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンであるときには、抵抗素子Ｒ１および定電圧ダイオードＺＤ１１にはほとんど電流が流れないため、ノードＮ１とノードＮ２の間の電圧は、定常状態では、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１（降伏電圧Ｖ_Ｚ未満の値）と同一となる。従って、本実施形態におけるスイッチ素子が第１状態のときのスイッチ素子による電圧降下を測定する方法では、スイッチ素子による電圧降下として、スイッチ素子が第１状態のときの第１ダイオードの両端電圧の測定値を取得する。



図５に示す例では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わった直後には、抵抗素子Ｒ１、ダイオードＤ１２の順方向電圧降下および寄生容量の影響により、定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１はマイナス側にアンダーシュートした状態となる。しかし、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンに切り替わってからしばらく経過した後の時刻（例えば、時刻ｔ３や時刻ｔ５に近い時刻）には、電圧ＶＤ１１は比較的安定した値となる。そこで、本実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンに切り替わってからしばらく経過した後の時刻の定電圧ダイオードＺＤ１１の両端電圧ＶＤ１１の測定値を取得することが好ましい。それによって、当該方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を精度良く測定することができる。

（２）第２の実施形態



次に、第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａについて、図６～９を参照して説明する。

（２－１）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａの構成



図６は、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａの回路図である。なお、以下の説明では、図１と同一の構成要素については同一符号を付し、重複説明を省略する。



図６に示すように、本実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａは、定電圧ダイオードＺＤ２１（第１ダイオードの一例）と、直流電圧源ＶＧ２と、抵抗素子Ｒ２２と、ダイオードＤ２２（第２ダイオードの一例）とを有する。

定電圧ダイオードＺＤ２１は、閾値電圧として、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときのノードＮ１とノードＮ２との間の電圧よりも高い降伏電圧を有する。すなわち、第１ダイオードは、閾値電圧として、スイッチ素子が第１状態のときの第１ノードと第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧を有する。



定電圧ダイオードＺＤ２１のアノード端子（第１端子の一例）はノードＮ１に接続されている。すなわち、第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、第１ノードに接続されている。本実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳを直接測定するのではなく、代替的に定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１の測定値を取得する。



ダイオードＤ２２は、定電圧ダイオードＺＤ２１に接続されている。すなわち、第２ダイオードは、第１ダイオードに接続されている。



ダイオードＤ２２のアノード端子は、定電圧ダイオードＺＤ２１のカソード端子（第２端子の一例）に接続されている。定電圧ダイオードＺＤ２１のアノード端子は、ノードＮ１に接続されている。ダイオードＤ２２のカソード端子は、ノードＮ２に接続されている。すなわち、第２ダイオードのアノード端子は、第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ第２ダイオードのカソード端子は、第２ノードに接続されている。

直流電圧源ＶＧ２の負極端子はノードＮ１に接続されている。直流電圧源ＶＧ２の正極端子と定電圧ダイオードＺＤ２１のカソード端子との間には、抵抗素子Ｒ２２（第２抵抗素子の一例）が接続されている。すなわち、第２抵抗素子は、直流電圧源の正極端子と第１ダイオードの第２端子との間に接続されている。直流電圧源ＶＧ２の電圧値は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときに定電圧ダイオードＺＤ２１のカソード端子の電圧が定電圧ダイオードＺＤ２１の降伏電圧となるように、当該降伏電圧よりも高い値である。

（２－２）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａの動作およびオン電圧の測定



次に、図７ａ、図７ｂ、および図８を参照して、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａの動作について説明する。図７ａは、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａにおいて、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフの状態のときの動作を説明する図である。図７ｂは、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａにおいて、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンの状態のときの動作を説明する図である。図８は、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａにおいて、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇ、ドレイン－ソース間の電圧Ｖ_ＤＳ、および定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１のタイミングチャートの一例である。



図８において、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇおよびドレイン－ソース間電圧Ｖ_ＤＳは、図５と同じである。

図７ａに示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときにインダクタＬ１に流れる電流は、キャパシタＣ１を充電すると同時に負荷Ｒ_Ｌへも供給されるが、逆方向に接続されたダイオードＤ２２によって定電圧ダイオードＺＤ２１に流れ込むことはない。



一方、直流電圧源ＶＧ２から抵抗素子Ｒ２２を経由して定電圧ダイオードＺＤ２１に電流が流れることによって、定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧は降伏電圧Ｖ_Ｚとなり、定電圧ダイオードＺＤ２１の寄生容量Ｃｊには電荷が蓄積される。

図７ｂに示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わると、ノードＮ１とノードＮ２が導通する。それと同時に、定電圧ダイオードＺＤ２１の寄生容量Ｃｊに蓄積されていた電荷が、ダイオードＤ２２→ノードＮ２→ＮＭＯＳトランジスタＱ１→ノードＮ１の経路によって放電される。このとき、第１の実施形態とは異なり寄生容量Ｃｊに蓄積されていた電荷を放電するときの放電経路に抵抗素子がないこと、および、ダイオードＤ２２のアノード端子側に直流電圧源ＶＧ２が設けられていることから、電荷の放電は極めて速く行われる。



その結果、図８に示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わる場合、定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１が降伏電圧Ｖ_Ｚから低下した直後から、安定した測定値ＶＬ（降伏電圧Ｖ_Ｚ未満の値）を示すようになる。

なお、直流電圧源ＶＧ２によってダイオードＤ２２には順方向電圧降下が生じており、電圧ＶＤ２１の測定値ＶＬには、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧に、ダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆが加わった値となっている。そこで、本実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１の測定値ＶＬを取得した後、測定値ＶＬからダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆを減ずるようにする。従って、本実施形態において、スイッチ素子が第１状態のときのスイッチ素子による電圧降下を測定する方法では、スイッチ素子が第１状態のときの第１ダイオードの両端電圧の測定値を取得し、測定値から第２ダイオードの順方向電圧を減ずることにより、スイッチ素子による電圧降下を算出する。それによって、当該方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を精度良く測定することができる。

（２－３）第２の実施形態の変形例



図９を参照して、第２の実施形態の変形例について説明する。図９は、第２の実施形態の変形例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｂの回路図である。



図６に示した第２の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａでは、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定するために、定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１の測定値からダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆを減ずる必要がある。そこで、電圧ＶＤ２１の測定値からダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆを減ずる必要がないように、ダイオードＤ２２をオン抵抗が極めて低いスイッチ素子に置き換えてもよい。



図９に示すように、第２の実施形態の変形例に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｂは、ノードＮ２と定電圧ダイオードＺＤ２１のカソード端子の間に、ダイオードＤ２２に代えて、スイッチ素子Ｓ１を有する。スイッチ素子Ｓ１は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１と同期してオン／オフされる素子であれば如何なる素子でもよく、例えばＭＯＳＦＥＴやＩＧＢＴ等の半導体素子である。

（３）第３の実施形態



次に、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃについて、図１０、図１１ａ、および図１１ｂを参照して説明する。



第１および第２の実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、定電圧ダイオードの両端電圧の測定値を取得したが、その限りではない。本実施形態では、降伏電圧がないダイオードの両端電圧の測定値を取得する場合について説明する。

（３－１）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃの構成



図１０は、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃの回路図である。なお、以下の説明では、図６と同一の構成要素については同一符号を付し、重複説明を省略する。



図１０に示すように、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃは、図６に示した昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ａと比較して、定電圧ダイオードＺＤ２１に代えてダイオードＤ３１（第１ダイオードの例）が接続される点で異なる。すなわち、昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃでは、ダイオードＤ３１のアノード端子がダイオードＤ２２のアノード端子に接続され、ダイオードＤ３１のカソード端子がノードＮ１に接続される。



ダイオードＤ３１は、閾値電圧として、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオン（第１状態）のときのノードＮ１（第１ノード）とノードＮ２（第２ノード）との間の電圧（つまり、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧）よりも高い順方向電圧ＶＦを有する。すなわち、第１ダイオードは、閾値電圧として、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ノードと前記第２ノードとの間の電圧よりも高い順方向電圧を有する。

本実施形態では、ダイオードＤ３１の順方向電圧ＶＦを十分に大きな値に設定することが好ましい。より具体的には、ダイオードＤ３１の順方向電圧ＶＦは、ダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆに対してＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を加えた値よりも大きくする。例えば、ダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆが０．６Ｖであって、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧が最大０．６Ｖ程度の場合、ダイオードＤ３１の順方向電圧ＶＦを１．５Ｖとする。ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ（第２状態）である場合に、ダイオードＤ３１の両端電圧は順方向電圧（閾値電圧の一例）となり、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオン（第１状態）である場合に、ダイオードＤ３１の両端電圧は順方向電圧未満となる。すなわち、スイッチ素子が第２状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧となり、スイッチ素子が第１状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧未満となる。



本実施形態の直流電圧源ＶＧ２の電圧値は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときにダイオードＤ３１のアノード端子の電圧がダイオードＤ３１の順方向電圧となるように、ダイオードＤ３１の順方向電圧ＶＦよりも高い値である。

ダイオードＤ３１の逆回復時間(Trr)を短くすることが好ましい。ダイオードＤ３１の逆回復時間(Trr)が短い場合、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフになった後に短時間でダイオードＤ３１に順方向の電流が流れなくなり、ダイオードＤ３１の両端電圧を短時間で順方向電圧ＶＦ未満とすることができる。

（３－２）本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃの動作およびオン電圧の測定



次に、図１１ａおよび図１１ｂを参照して、本実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１Ｃの動作について説明する。図１１ａは、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオフの状態のときの動作を説明する図である。図１１ｂは、第３の実施形態に係る昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、ＮＭＯＳトランジスタがオンの状態のときの動作を説明する図である。

図１１ａに示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフのときには、図７ａの場合と同様に、インダクタＬ１に流れる電流は、逆方向に接続されたダイオードＤ２２によってダイオードＤ３１に流れ込むことはない。



一方、直流電圧源ＶＧ２から抵抗素子Ｒ２２を経由して、順方向に接続されたダイオードＤ３１に電流が流れることによって、ダイオードＤ３１の両端電圧は順方向電圧ＶＦ（例えば、１．５Ｖ）となり、ダイオードＤ３１の寄生容量Ｃｊには電荷が蓄積される。

図１１ｂに示すように、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフからオンに切り替わると、ノードＮ１とノードＮ２が導通する。それと同時に、定電圧ダイオードＺＤ１１の寄生容量Ｃｊに蓄積されていた電荷は、ダイオードＤ２２→ノードＮ２→ＮＭＯＳトランジスタＱ１→ノードＮ１の経路によって短時間で放電される。上述したように、ダイオードＤ３１を逆回復時間(Trr)の短いものとすることで、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフになった後に、より短時間でダイオードＤ３１の両端電圧を順方向電圧ＶＦ未満とすることができる。

直流電圧源ＶＧ２によってダイオードＤ２２には順方向電圧降下が生じており、ダイオードＤ３１の両端電圧ＶＤ３１の測定値には、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧に、ダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆが加わった値となっている。そこで、本実施形態のＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を測定する方法では、ダイオードＤ３１の両端電圧ＶＤ３１の測定値を取得した後、当該測定値からダイオードＤ２２の順方向電圧Ｖｆを減ずるようにする。それによって、当該方法では、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧を精度良く測定することができる。

（４）第４の実施形態



第１～第３の実施形態で述べた、ＮＭＯＳトランジスタのオン電圧を精度良く測定することができる方策は、Ｎ個（Ｎ：２以上の整数）のレグから構成されるブリッジ回路である３相インバータにも適用可能である。本実施形態では、一例として３個（Ｎ＝３）のレグから構成されるブリッジ回路である３相インバータ２について、図１２を参照して説明する。図１２は、本実施形態に係る３相インバータ２の回路図である。

図１２に示すように、本実施形態の３相インバータ２は、３個のレグＬＥＧ１，ＬＥＧ２，ＬＥＧ３から構成されるブリッジ回路である。それぞれのレグは、上側（ハイサイド）スイッチ素子と下側（ローサイド）スイッチ素子とを有する。すなわち、レグＬＥＧ１は、上側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ１２と、下側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ１１とを有する。レグＬＥＧ２は、上側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ２２と、下側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ２１とを有する。レグＬＥＧ３は、上側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ３２と、下側スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ３１とを有する。



なお、抵抗素子Ｒ１０２，Ｒ２０２，Ｒ３０２はシャント抵抗器であるが、必須の構成要素ではない。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１は、低電位側のノードＮ１（第１ノード）と高電位側のノードＮ２１，Ｎ２２，Ｎ２３（それぞれ第２ノード）との間を導通させる第１状態、又は導通させない第２状態のいずれかの状態とする。すなわち、それぞれの下側スイッチ素子は、低電位側の第１ノードと高電位側の第２ノードとの間を導通させる第１状態、又は導通させない第２状態のいずれかの状態とする。高電位側のノードＮ２１，Ｎ２２，Ｎ２３は、それぞれＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１のドレイン端子に接続され、Ｕ相電圧（U_phase）、Ｖ相電圧（V_phase）、Ｗ相電圧（W_phase）となるノードである。

本実施形態の３相インバータ２は、それぞれの下側スイッチ素子が第１状態のときの第１ノードと第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧（閾値電圧）を有する第１ダイオードと、第１ダイオードに接続される第２ダイオードと、を備える。図２に示す例では、下側スイッチ素子であるＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１に対応して、それぞれ、第１ダイオードとしての定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１、および、第２ダイオードとしてのダイオードＤ１０２，Ｄ２０２，Ｄ３０２が設けられている。図２に示す例では、閾値電圧はとしての定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１の降伏電圧は、ＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１のオン電圧よりも高い値に設定されている。

定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１の一方の端子であるアノード端子は、シャント抵抗器を介してノードＮ１（第１ノード）に接続されている。すなわち、第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、第１ノードに接続されている。



ダイオードＤ１０２，Ｄ２０２，Ｄ３０２のアノード端子は、それぞれ定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１のカソード端子（第２端子の例）に接続されている。第２ダイオードとしてのダイオードＤ１０２，Ｄ２０２，Ｄ３０２のカソード端子は、それぞれ第２ノードであるノードＮ２１，Ｎ２２，Ｎ２３に接続されている。すなわち、第２ダイオードのアノード端子は、第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ第２ダイオードのカソード端子は、第２ノードに接続されている。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１が第２状態（オフ）である場合に、それぞれに対応する定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１の両端電圧が閾値電圧となる。ＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１が第１状態（オン）である場合に、それぞれに対応する定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１の両端電圧が閾値電圧未満となる。すなわち、下側スイッチ素子が第２状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧となり、下側スイッチ素子が第１状態である場合に、第１ダイオードの両端電圧が閾値電圧未満となる。

上述したように、本実施形態の３相インバータ２では、各下側スイッチ素子であるＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１のドレイン端子とソース端子に接続される回路構成は、第１の実施形態において図１に示したＮＭＯＳトランジスタＱ１と同じである。そして、本実施形態の各下側スイッチ素子であるＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１のオン電圧を測定する方法では、定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１の両端電圧ＶＤ１０１，ＶＤ２０１，ＶＤ３０１の測定値を取得する。それによって、第１の実施形態と同様に、ＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１のオン電圧を精度良く測定することができる。

以上、本発明の複数の実施形態について説明したが、本発明は上記の各実施形態に限定されない。また、上記の各実施形態は、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更が可能である。例えば、第２および第３の実施形態で説明した構成は第４の実施形態の３相インバータに適用可能である。第２の実施形態の変形例で述べた事項は、第３および第４の実施形態にも適用可能である。



第４の実施形態の３相インバータにおいて、第３の実施形態（図１０）と同様の構成を適用する場合には、定電圧ダイオードＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１に代えて、第１ダイオードとしてそれぞれ降伏電圧がないダイオードが設けられる。その場合、第１ダイオードは、それぞれの下側スイッチ素子が第１状態（オン）のときの第１ノードと第２ノードとの間の電圧よりも高い順方向電圧（閾値電圧）を有する。



上述した各実施形態では、高電位側のノードと低電位側のノードの間を導通あるいは非導通とするスイッチ素子がＭＯＳＦＥＴである場合について説明したが、その限りではない。当該スイッチ素子は他の素子、例えばＩＧＢＴであってもよい。

（５）ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧の測定値の好ましい利用例



次に、本発明のスイッチ素子の一例であるＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧の測定値の好ましい利用例について説明する。



第１および第２の実施形態の昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ１，１Ａでは、定電圧ダイオードＺＤ１１，ＺＤ２１の降伏電圧を、マイクロコントローラのＡ／Ｄ(Analogue to Digital)変換器に取り込み可能な値以下（例えば、５Ｖあるいは３．３Ｖ等）とすることが好ましい。このような降伏電圧とすることで、定電圧ダイオードの両端電圧の測定値をマイクロコントローラ内でデジタル値に変換し、所定のソフトウェアを実行することで以下の(i)および／または(ii)を実現することができる。



(i) ＮＭＯＳトランジスタＱ１の故障診断（すなわち、ＮＭＯＳトランジスタＱ１が導通しているか否かについての診断）を行うこと



(ii) ＮＭＯＳトランジスタＱ１の温度と、ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧（およびそれと等価なオン抵抗）との既知の関係に基づき、サーミスタを用いずにＮＭＯＳトランジスタＱ１の温度を推定すること

なお、定電圧ダイオードの降伏電圧がＡ／Ｄ変換器に取り込み可能な値を超える場合には、当該降伏電圧がＡ／Ｄ変換器に取り込み可能な値未満となるように、定電圧ダイオードの両端電圧の測定値を分圧することも考えられる。しかし、その場合には、取り込まれる電圧の分圧値が小さく、上記(i)および／または(ii)を実現する上での閾値の設定が困難となる虞がある。そのため、定電圧ダイオードの両端電圧の測定値を分圧せずに直接、マイクロコントローラに取り込めることが好ましい。

上記(i)に関し、図１３を参照して説明する。図１３は、第２の実施形態についての図８のタイミングチャートの一部の拡大図である。より具体的には、図１３は、図８の時刻ｔ２～ｔ３におけるＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇおよび定電圧ダイオードＺＤ２１の両端電圧ＶＤ２１の波形を拡大した図である。図１３には、ＮＭＯＳトランジスタＱ１の故障判断のための閾値ＴＨの設定例が表されている。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１が正常である場合、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ時には、ドレイン－ソース間は導通していないため抵抗無限大であることから、ドレイン－ソース間の電圧が上昇する。ＮＭＯＳトランジスタＱ１が故障して短絡状態の場合、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ時には、抵抗値が低くなっているため、ドレイン－ソース間の電圧は上昇しない。



そこで、閾値を設定し、当該閾値と、測定したドレイン－ソース間電圧とを比較することで、ＮＭＯＳトランジスタＱ１の故障検知を行うことが考えられる。ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ時において、測定したＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間電圧が上述の閾値ＴＨを上回る場合には、マイクロコントローラはＮＭＯＳトランジスタＱ１が正常であると判断する。ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオフ時に、測定したＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間電圧が閾値ＴＨを超えない場合には、マイクロコントローラはＮＭＯＳトランジスタＱ１が故障してドレイン－ソース間が短絡する異常があると判断する。

また、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオン時に、測定したＮＭＯＳトランジスタＱ１のドレイン－ソース間電圧が閾値ＴＨよりも低い値にならない場合、マイクロコントローラはＮＭＯＳトランジスタＱ１が故障してドレイン－ソース間が開放となる異常があると判断してもよい。



すなわち、本明細書は、上述した実施形態で述べたＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、スイッチ素子としてのＮＭＯＳトランジスタＱ１の故障を検知する方法を開示する。当該方法は、スイッチ素子による電圧降下として、スイッチ素子が第１状態（オン）のときの第１ダイオードの両端電圧の測定値を取得すること、マイクロコントローラは当該測定値を取り込むこと、マイクロコントローラは測定値をデジタル値に変換すること、マイクロコントローラは当該デジタル値が所定の閾値を越えたかどうかを判断すること、を含む。

閾値ＴＨは、マイクロコントローラで実行される上記ソフトウェアのパラメータとして設定される。



閾値ＴＨは、例えば以下の(I)および／または(II)の方法により決定してもよい。



(I) ＮＭＯＳトランジスタＱ１のソース側に電流センサを設け、ＮＭＯＳトランジスタＱ１がオンのときの電流値Ｉｓを測定する。次いで、当該電流値Ｉｓに対して、ＮＭＯＳトランジスタＱ１の仕様書に記載されたドレイン－ソース間オン抵抗（Ｒ_{ＤＳ（ＯＮ）}）の最大値を乗算した値を、閾値ＴＨとする。



(II) ＮＭＯＳトランジスタＱ１の周囲に温度センサを設け、当該温度センサの測定値およびＮＭＯＳトランジスタＱ１のゲート電圧Ｖ_Ｇのデューティ比から上記電流値Ｉｓを推定する。次いで、推定した電流値Ｉｓに対して、ＮＭＯＳトランジスタＱ１の仕様書に記載されたドレイン－ソース間オン抵抗（Ｒ_{ＤＳ（ＯＮ）}）の最大値を乗算した値を、閾値ＴＨとする。

ＮＭＯＳトランジスタＱ１のオン電圧の測定値の好ましい利用例について説明したが、かかる利用例は、第４の実施形態の３相インバータにおいて下側スイッチ素子であるＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１についても当てはまる。すなわち、図２に示した３相インバータ２において、マイクロコントローラは、下側スイッチとしてのＮＭＯＳトランジスタＱ１１，Ｑ２１，Ｑ３１の各々のドレイン－ソース間電圧の測定値と閾値ＴＨとを比較して、下側スイッチ素子の短絡・開放故障の有無を検知し、それぞれのレグの正常・異常を判断する。

１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ，１００…昇圧形ＤＣ－ＤＣコンバータ、２…３相インバータ、ＶＧ１，ＶＧ２…直流電圧源、Ｌ１…インダクタ、Ｄ１…ダイオード、Ｑ１，Ｑ１１，Ｑ１２，Ｑ２１，Ｑ２２，Ｑ３１，Ｑ３２…ＮＭＯＳトランジスタ、Ｒ１，Ｒ２…抵抗素子、ＺＤ１１，ＺＤ２１，ＺＤ１０１，ＺＤ２０１，ＺＤ３０１…定電圧ダイオード（第１ダイオードの例）、Ｄ３１…ダイオード（第１ダイオードの例）、Ｃｊ…寄生容量、Ｄ１２，Ｄ２２，Ｄ１０２，Ｄ２０２，Ｄ３０２…ダイオード（第２ダイオードの例）、Ｃ１…キャパシタ、Ｒ_Ｌ…負荷、Ｓ１…スイッチ素子、Ｎ１，Ｎ２，Ｎ２１，Ｎ２２，Ｎ２３…ノード

Claims (5)

1. 入力電圧を昇圧させて出力電圧を得るＤＣ－ＤＣコンバータであって、
   低電位側の第１ノードと高電位側の第２ノードとの間を導通させる第１状態、又は導通させない第２状態のいずれかの状態となるスイッチ素子と、
   閾値電圧として、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ノードと前記第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧又は順方向電圧を有する第１ダイオードと、
   前記第１ダイオードに接続される第２ダイオードと、
   前記第２ダイオードと並列に接続される第１抵抗素子と、
   を備え、
   前記第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、前記第１ノードに接続され、
   前記第２ダイオードのアノード端子は、前記第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ前記第２ダイオードのカソード端子は、前記第２ノードに接続され、
   前記第１抵抗素子は、前記第１ダイオードの前記第２端子と前記第２ノードとの間に接続され、
   前記スイッチ素子が前記第２状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧となり、前記スイッチ素子が前記第１状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧未満となる、
   ＤＣ－ＤＣコンバータ。
2. 前記第１ダイオードは、定電圧ダイオードである、
   請求項１に記載されたＤＣ－ＤＣコンバータ。
3. 請求項１に記載されたＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記スイッチ素子による電圧降下を測定する方法であって、 前記スイッチ素子による電圧降下として、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ダイオードの両端電圧の測定値を取得する、
   スイッチ素子による電圧降下を測定する方法。
4. 請求項１に記載されたＤＣ－ＤＣコンバータにおいて、前記スイッチ素子の故障を検知する方法であって、
   前記スイッチ素子による電圧降下として、前記スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ダイオードの両端電圧の測定値を取得し、
   マイクロコントローラは、前記測定値を取り込み、
   前記マイクロコントローラは、前記測定値をデジタル値に変換し、
   前記マイクロコントローラは、前記デジタル値が、所定の閾値を越えたかどうかを判断する、
   スイッチ素子の故障を検知する方法。
5. Ｎ個（Ｎ：２以上の整数）のレグから構成されるブリッジ回路である３相インバータであって、
   それぞれのレグは、上側スイッチ素子と、下側スイッチ素子とを有し、
   それぞれの下側スイッチ素子は、低電位側の第１ノードと高電位側の第２ノードとの間を導通させる第１状態、又は導通させない第２状態のいずれかの状態とし、
   閾値電圧として、それぞれの前記下側スイッチ素子が前記第１状態のときの前記第１ノードと前記第２ノードとの間の電圧よりも高い降伏電圧又は順方向電圧を有する第１ダイオードと、
   前記第１ダイオードに接続される第２ダイオードと、
   前記第２ダイオードと並列に接続される第１抵抗素子と、
   を備え、
   前記第１ダイオードの一方の端子である第１端子は、前記第１ノードに接続され、
   前記第２ダイオードのアノード端子は、前記第１ダイオードの他方の端子である第２端子に接続され、かつ前記第２ダイオードのカソード端子は、前記第２ノードに接続され、
   前記第１抵抗素子は、前記第１ダイオードの前記第２端子と前記第２ノードとの間に接続され、
   前記下側スイッチ素子が前記第２状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧となり、前記下側スイッチ素子が前記第１状態である場合に、前記第１ダイオードの両端電圧が前記閾値電圧未満となる、
   ３相インバータ。

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