JP7271473B2 - 電圧変化率検出回路、半導体装置及び電力変換器 - Google Patents
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Description
前記測定対象ノードと第1基準電圧ノードとの間に直列接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
前記出力ノードと第2基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
前記第1基準電圧ノードと前記出力ノードとを短絡するか否かを切り替える第1スイッチと、
前記出力ノードから、前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに流れる電流を許容し、前記接続ノードから前記出力ノードへの電流を遮断する整流回路と、を備える、電圧変化率検出回路が提供される。
図1は第1の実施形態による電圧変化率検出回路1を備えた電力変換器2の回路図である。電力変換器2は、電圧変化率検出回路1と電力変換回路3を備えている。電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力ノードである測定対象ノードn1に接続されている。電力変換回路3は、例えば、スイッチング素子Q11,Q12を用いて直流電圧を交流電圧に変換する。図1の電力変換回路3は、直流電源4と、キャパシタC10と、スイッチング素子Q11,Q12とを有するが、電力変換回路3の具体的な回路構成は問わない。
T≧2.2×R×(C1+C2) …(1)
Vout=C1×R×(dv/dt)×[1-exp{-t/R(C1+C2)}] …(2)
第1の実施形態による電圧変化率検出回路1は、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧が立ち下がる際の時間変化率dv/dtを検出したが、電力変換回路3の出力ノードn1の電圧が立ち上がる際の時間変化率dv/dtも併せて検出してもよい。
(第3の実施形態)
第3の実施形態は、第1又は第2の実施形態による電圧変化率検出回路1、1’から出力された直流信号に基づいて電力変換回路3を制御するものである。
Claims (20)
- 測定対象ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードと、
前記測定対象ノードと第1基準電圧ノードとの間に直列接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
前記出力ノードと第2基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
前記第1基準電圧ノードと前記出力ノードとを短絡するか否かを切り替える第1スイッチと、
前記出力ノードから、前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに流れる電流を許容し、前記接続ノードから前記出力ノードへの電流を遮断する整流回路と、を備える、電圧変化率検出回路。 - 前記第2キャパシタは、前記測定対象ノードの電圧が立ち下がる際の前記時間変化率に応じた電荷を保持する、請求項1に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第2キャパシタは、前記第1スイッチにより前記第1基準電圧ノードと前記出力ノードとを開放させている間に前記測定対象ノードの電圧が立ち下がる際の時間変化率に応じた電荷を保持する、請求項2に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記整流回路は、前記出力ノードに接続されるアノードと、前記接続ノードに接続されるカソードと、を有するダイオードを含む、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第1基準電圧ノードは、前記第2基準電圧ノードよりも電圧レベルが高い、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第1基準電圧ノードと前記第2基準電圧ノードとの間に直列接続される第2抵抗及び第2スイッチとを備え、
前記第1スイッチは、前記第2抵抗及び前記第2スイッチの接続ノードの電圧によりオン又はオフし、
前記第2スイッチは、前記測定対象ノードの電圧が立ち下がる際の時間変化率に応じた電荷を前記第2キャパシタが保持した後に一時的にオンする、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。 - 前記第1スイッチは、第1トランジスタを有し、
前記第2スイッチは、前記第1トランジスタとは異なる導電型の第2トランジスタを有し、
前記第1トランジスタは、前記測定対象ノードの電圧の低下分に応じて、前記出力ノードの電圧を下げる、請求項6に記載の電圧変化率検出回路。 - 前記第2トランジスタは、前記第1トランジスタの制御端子を前記第2基準電圧ノードと同電位にするか否かを制御する、請求項7に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第2トランジスタは、前記第2キャパシタが前記測定対象ノードの電圧の時間変化率に応じた電荷を保持した後に、前記第1トランジスタの制御端子を前記第2基準電圧ノードと同電位に一時的に設定する、請求項8に記載の電圧変化率検出回路。
- 初期設定時と、前記第2キャパシタが前記測定対象ノードの電圧の時間変化率に応じた電荷を保持した後の所定期間とに、前記第1トランジスタの制御端子を前記第2基準電圧ノードと同電位に一時的に設定するためのパルス信号を前記第2トランジスタの制御端子に供給する、リセット回路を備える、請求項9に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第1トランジスタはP型トランジスタであり、
前記第2トランジスタはN型トランジスタであり、
前記第1トランジスタのソースは前記第1基準電圧ノードに接続され、
前記第1トランジスタのドレインは前記出力ノードに接続され、
前記第1トランジスタのゲートは前記第2トランジスタのドレインに接続され、
前記第2トランジスタのソースは前記第2基準電圧ノードに接続され、
前記第2トランジスタのゲートには前記リセット回路が接続される、請求項10に記載の電圧変化率検出回路。 - 前記第1トランジスタのドレイン-ソース間に接続される第3キャパシタを備える、請求項11に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記第1キャパシタは、前記測定対象ノードの出力容量の1/10以下の容量値を有する、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記測定対象ノードの電圧変化が生じてから、前記測定対象ノードの電圧変化に応じた前記直流信号が前記出力ノードから出力されるまでに要する時定数が100n秒以下になるように、前記第1抵抗の抵抗値、前記第1キャパシタの容量、及び前記第2キャパシタの容量が設定される、請求項1乃至13のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
- 前記時定数Tが式(1)を満たすように、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値R1が設定される、請求項14に記載の電圧変化率検出回路。
T≧2.2×R1×(C1+C2) …(1) - 前記出力ノードの電圧Voutは、前記測定対象ノードの電圧の時間変化率dv/dt、前記第1キャパシタの容量C1、前記第2キャパシタの容量C2、及び前記第1抵抗の抵抗値R1を用いて、式(2)で表される、請求項1乃至15のいずれか一項に記載の電圧変化率検出回路。
Vout=C1×R×(dv/dt)×[1-exp{-t/R(C1+C2)}] …(2) - 電圧変化率検出回路を基板上に配置した半導体装置であって、
前記電圧変化率検出回路は、
測定対象ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードと、
前記測定対象ノードと第1基準電圧ノードとの間に直列接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
前記出力ノードと第2基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
前記第1基準電圧ノードと前記出力ノードとを短絡するか否かを切り替える第1スイッチと、
前記出力ノードから、前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに流れる電流を許容し、前記接続ノードから前記出力ノードへの電流を遮断する整流回路と、を有する、半導体装置。 - 前記電圧変化率検出回路は、
前記第1基準電圧ノードと前記第2基準電圧ノードとの間に直列接続される第2抵抗及び第2スイッチとを備え、
前記第1スイッチは、前記第2抵抗及び前記第2スイッチの接続ノードの電圧によりオン又はオフし、
前記第2スイッチは、前記測定対象ノードの電圧が立ち下がる際の時間変化率に応じた電荷を前記第2キャパシタが保持した後に一時的にオンする、請求項17に記載の半導体装置。 - 電力変換を行う電力変換回路と、
前記電力変換回路の出力電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する電圧変化率検出回路と、
前記直流信号に基づいて前記電力変換回路を制御する制御回路と、を備える電力変換器であって、
前記電圧変化率検出回路は、
測定対象ノードの電圧の時間変化率を示す直流信号を出力する出力ノードと、
前記測定対象ノードと第1基準電圧ノードとの間に直列接続される第1キャパシタ及び第1抵抗と、
前記出力ノードと第2基準電圧ノードとの間に接続される第2キャパシタと、
前記第1基準電圧ノードと前記出力ノードとを短絡するか否かを切り替える第1スイッチと、
前記出力ノードから、前記第1キャパシタ及び前記第1抵抗の接続ノードに流れる電流を許容し、前記接続ノードから前記出力ノードへの電流を遮断する整流回路と、を有する、電力変換器。 - 前記電力変換回路は、前記測定対象ノードに接続されるスイッチング素子を有し、
前記制御回路は、前記直流信号が所定の電圧レベルになるように、前記直流信号に基づいて前記スイッチング素子の制御端子の電圧を制御する、請求項19に記載の電力変換器。
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