JP2022110076A - 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 - Google Patents
配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022110076A JP2022110076A JP2022079826A JP2022079826A JP2022110076A JP 2022110076 A JP2022110076 A JP 2022110076A JP 2022079826 A JP2022079826 A JP 2022079826A JP 2022079826 A JP2022079826 A JP 2022079826A JP 2022110076 A JP2022110076 A JP 2022110076A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- organic layer
- substrate
- layer
- outer edge
- wiring board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 19
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 316
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims abstract description 235
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 199
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 15
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 5
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005289 physical deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
Description
以下、本開示の実施の形態について説明する。まず、本実施の形態に係る配線基板10の構成について説明する。図1は、配線基板10を示す平面図である。また、図2は、図1の配線基板10をII-II方向から見た断面図である。
基板12は、第1面13、及び、第1面13の反対側に位置する第2面14を含む。また、基板12には、第1面13から第2面14に至る複数の貫通孔20が設けられている。
無アルカリガラスとは、ナトリウムやカリウムなどのアルカリ成分を含まないガラスである。無アルカリガラスは、例えば、アルカリ成分の代わりにホウ酸を含む。また、無アルカリガラスは、例えば、酸化カルシウムや酸化バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物を含む。無アルカリガラスの例としては、旭硝子製のEN-A1や、コーニング製のイーグルXGなどを挙げることができる。基板12がガラスを含む場合、基板12の厚みTは、例えば0.25mm以上且つ0.45mm以下である。基板12がガラスを含むことにより、基板12がシリコンからなる場合に比べて、基板12の絶縁性を高めることができる。
図3は、貫通孔20に設けられた貫通電極22を拡大して示す断面図である。貫通電極22は、貫通孔20の内部に少なくとも部分的に位置し、且つ導電性を有する部材である。本実施の形態において、貫通電極22の厚みは、貫通孔20の幅よりも小さく、このため、貫通孔20の内部には、貫通電極22が存在しない空間がある。すなわち、貫通電極22は、いわゆるコンフォーマルビアである。貫通電極22の厚みは、例えば5μm以上且つ22μm以下である。
次に、第1配線構造部30について説明する。第1配線構造部30は、基板12の第1面13側に電気的な回路を構成するよう第1面13側に設けられた導電層や有機層などの層を有する。本実施の形態において、第1配線構造部30は、第1面第1導電層31、第1面第1有機層32、第1面第2導電層33、第1面第2有機層34及び第1面第3導電層35を有する。
第1面第1導電層31は、基板12の第1面13側に位置する、導電性を有する金属材料を含む層である。本実施の形態において、第1面第1導電層31は、基板12の第1面13に直接的に接している。第1面第1導電層31は、貫通電極22に電気的に接続されていてもよい。また、第1面第1導電層31は、導電性を有する単一の層から構成されていてもよく、若しくは、導電性を有する複数の層を含んでいてもよい。例えば、第1面第1導電層31は、貫通電極22と同様に、基板12の第1面13上に順に積層された第1層221及び第2層222を含んでいてもよい。また、第1面第1導電層31は、第1層221及び第2層222のうちの一部の導電層のみを含んでいてもよい。第1面第1導電層31を構成する材料は、貫通電極22を構成する材料と同様である。第1面第1導電層31の厚みは、例えば100nm以上且つ20μm以下であり、5μm以上且つ20μm以下であってもよい。
第1面第1有機層32は、基板12の第1面13側に位置し、有機材料を含み、且つ絶縁性を有する層である。本実施の形態において、第1面第1有機層32は、第1面第1導電層31の上面を部分的に覆うよう配置されている。例えば図1及び図2に示すように、第1面第1有機層32は、基板12の外縁に近接する領域を除いて、基板12の第1面13のほぼ全域にわたって設けられている。例えば、基板12が、複数の辺を含む矩形などの多角形の輪郭を有する場合、第1面第1有機層32も同様に矩形などの多角形の輪郭を有している。また、図2に示すように、第1面第1有機層32の一部には、第1面第1導電層31上に位置する開口部が形成されている。
剥離は、特に第1面第1有機層32の外縁において発生し易い。このような課題を解決するため、本実施の形態においては、第1面第1有機層32の外縁と基板12の第1面13との間に、金属材料を含む第1面第1下地層371を設けることを提案する。第1面第1下地層371については後に詳細に説明する。なお本明細書において「第1面第1有機層32の外縁」とは、基板12の第1面13の法線方向に沿って第1面第1有機層32を見た場合に第1面第1有機層32の外形を規定している縁部のことである。基板12の外縁、第1面第2有機層34の外縁なども同様である。
第1面第2導電層33は、第1面第1有機層32などの有機層の上に位置する、導電性を有する金属材料を含む層である。第1面第2導電層33は、例えば、第1面第1有機層32上を延びる配線を構成する。図示はしないが、第1面第2導電層33は、貫通電極22、第1面第1導電層31、第1面第3導電層35などに電気的に接続されていてもよい。また、第1面第2導電層33は、第1配線構造部30に形成されるキャパシタやインダクタなどの部品の一部を構成していてもよい。
第1面第2有機層34は、第1面13側に位置し、有機材料を含み、且つ絶縁性を有する層である。本実施の形態において、第1面第2有機層34は、第1面第1有機層32上に位置する第1面第2導電層33の上面を部分的に覆うよう配置されている。例えば図1及び図2に示すように、第1面第2有機層34は、第1面第1有機層32の外縁に近接する領域を除いて、第1面第1有機層32上面のほぼ全域にわたって設けられている。例えば、第1面第1有機層32が、複数の辺を含む矩形などの多角形の輪郭を有する場合、第1面第2有機層34も同様に矩形などの多角形の輪郭を有している。また、図2に示すように、第1面第2有機層34の一部には、第1面第1導電層31上に位置する開口部が形成されていてもよい。
第1面第3導電層35は、第1面第2有機層34などの有機層上に位置する、導電性を有する層である。第1面第2導電層33は、例えば、第1面第2有機層34上を延びる配線を構成する。第1面第3導電層35は、貫通電極22、第1面第1導電層31、第1面第3導電層35などに電気的に接続されていてもよい。また、第1面第3導電層35は、第1配線構造部30に形成されるキャパシタやインダクタなどの部品の一部を構成していてもよい。
第1枠体37は、第1配線構造部30に含まれる有機層が剥離することを抑制するための部材である。第1枠体37は、第1面第1下地層371及び第1面第2下地層372を含む。図4は、第1枠体37を拡大して示す断面図である。
第1面第1下地層371は、第1面第1有機層32の外縁と基板12の第1面13との間に位置する、金属材料を含む層である。図1に示すように、第1面第1下地層371は、第1面第1有機層32の外縁が延びる外縁方向に沿って延びている。図1に示す例において、第1面第1下地層371は、第1面第1有機層32の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている。
(第1の理由)
ガラスやシリコンなどの無機材料に対する、チタン、クロム、ニッケル、銅などの金属材料の密着性は、無機材料に対する有機材料の密着性よりも高い。このため、第1面第1有機層32の外縁と基板12の第1面13との間に第1面第1下地層371を介在させることにより、第1面第1有機層32の外縁が剥離してしまうことを抑制することができる。
(第2の理由)
第1面第1下地層371は、例えば図4に示されているように、第1面第1有機層32の外縁と基板12の第1面13との間に局所的に介在されている。この場合、第1面第1下地層371に重なっている第1面第1有機層32の厚みが、周囲の第1面第1有機層32の厚みに比べて局所的に小さくなることに起因して、第1面第1有機層32と第1面第1下地層371との間の密着性が高まる。これにより、第1面第1有機層32の外縁が剥離してしまうことを抑制することができる。
なお、第1面第1下地層371を備える配線基板10においては、上述の第1の理由により密着性の向上が実現されていてもよく、若しくは、上述の第2の理由により密着性の向上が実現されていてもよく、若しくは、両方の理由により密着性の向上が実現されていてもよく、若しくは、その他の理由により密着性の向上が実現されていてもよい。
寸法W2は、例えば50μm以上且つ1mm以下であり、より好ましくは100μm以上且つ0.3mm以下である。寸法W2を50μm以上にすることにより、例えばフォトリソグラフィー法によって第1面第1有機層32を形成する場合に、アライメントの誤差に起因して第1面第1有機層32の外縁が第1面第1下地層371と重ならなくなることを抑制することができる。また、寸法W2を1mm以下にすることにより、第1面第1有機層32の外縁から基板12の外縁までのデッドスペースが広くなってしまうことを抑制することができる。
第1面第2下地層372は、第1面第2有機層34の外縁と第1面第1有機層32の上面との間に位置する、金属材料を含む層である。図1に示すように、第1面第2下地層372は、第1面第2有機層34の外縁が延びる方向に沿って延びている。図1に示す例において、第1面第2下地層372は、第1面第2有機層34の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている。
次に、第2配線構造部40について説明する。第2配線構造部40は、基板12の第2面14側に電気的な回路を構成するよう第2面14側に設けられた導電層や有機層などの層を有する。本実施の形態において、第2配線構造部40は、第2面第1導電層41及び第2面第1有機層42を有する。
第2面第1導電層41は、基板12の第2面14上に位置する、導電性を有する金属材料を含む層である。本実施の形態において、第2面第1導電層41は、基板12の第2面14に直接的に接している。第2面第1導電層41は、貫通電極22に電気的に接続されていてもよい。また、第2面第1導電層41は、導電性を有する単一の層から構成されていてもよく、若しくは、導電性を有する複数の層を含んでいてもよい。例えば、第2面第1導電層41は、貫通電極22と同様に、基板12の第2面14上に順に積層された第1層221及び第2層222を含んでいてもよい。また、第2面第1導電層41は、第1層221及び第2層222のうちの一部の導電層のみを含んでいてもよい。第2面第1導電層41を構成する材料は、貫通電極22を構成する材料と同様である。第2面第1導電層41の厚みは、例えば100nm以上且つ20μm以下であり、5μm以上且つ20μm以下であってもよい。
第2面第1有機層42は、基板12の第2面14側に位置し、有機材料を含み、且つ絶縁性を有する層である。第2面第1有機層42は、第1面第1有機層32や第1面第2有機層34と同様に、好ましくは0.003以下、より好ましくは0.002以下、更に好ましくは0.001以下の誘電正接を有する有機材料を含む。第2面第1有機層42の有機材料としては、第1面第1有機層32や第1面第2有機層34と同様に、ポリイミド、エポキシなどを用いることができる。
第2枠体47は、第2配線構造部40に含まれる有機層が剥離することを抑制するための部材である。第2枠体47は、第2面第1下地層471を含む。
第2面第1下地層471は、第2面第1有機層42の外縁と基板12の第2面14との間に位置する、金属材料を含む層である。第2面第1下地層471は、第2面第1有機層42の外縁が延びる方向に沿って延びている。例えば、第2面第1下地層471は、第2面第1有機層42の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている。
以下、配線基板10の製造方法の一例について、図5乃至図14を参照して説明する。
ここでは、1つの基板12に複数の第1配線構造部30、第1枠体37、第2配線構造部40及び第2枠体47を形成した後、基板12を切断して複数の配線基板10を得る方法について説明する。
まず、基板12を準備する。次に、第1面13又は第2面14の少なくともいずれかにレジスト層を設ける。その後、レジスト層のうち貫通孔20に対応する位置に開口を設ける。次に、レジスト層の開口において基板12を加工することにより、図5に示すように、基板12に貫通孔20を形成することができる。基板12を加工する方法としては、反応性イオンエッチング法、深掘り反応性イオンエッチング法などのドライエッチング法や、ウェットエッチング法などを用いることができる。
次に、貫通孔20の側壁21に貫通電極22を形成する。本実施の形態においては、貫通電極22と同時に、基板12の第1面13の一部分上に第1面第1導電層31及び第1面第1下地層371を形成し、基板12の第2面14の一部分上に第2面第1導電層41及び第2面第1下地層471を形成する例について説明する。
その後、図9Aに示すように、レジスト層39を除去する。続いて、図9Aに示すように、第1層221のうちレジスト層39によって覆われていた部分を、言い換えると第1層221のうち第2層222から露出している部分を、例えばウェットエッチングにより除去する。このようにして、第1層221及び第2層222を含む貫通電極22、第1面第1導電層31、第1面第1下地層371、第2面第1導電層41及び第2面第1下地層471を形成することができる。その後、第2層222などの導電層をアニールする工程を実施してもよい。
また、凹凸形状により、第1面第1下地層371と第1面第1有機層32との間の接触面積が増加する。このため、第1面第1下地層371と第1面第1有機層32との間の密着性を高めることができる。第2面第1導電層41と第2面第1下地層471との間の密着性についても同様である。
次に、図10Aに示すように、第1面13側に第1面第1有機層32を形成する。例えば、まず、有機材料を含む感光層と、基材とを有する、図示しない第1面側フィルムを、基板12の第1面13側に貼り付ける。続いて、第1面側フィルムに露光処理及び現像処理を施す。これによって、図10A及び図10Bに示すように、第1面側フィルムの感光層からなり、その外縁が第1面第1下地層371上に位置する第1面第1有機層32を、基板12の第1面13側に形成することができる。図10Aに示すように、基板12の第2面14側に、その外縁が第2面第1下地層471上に位置する第2面第1有機層42を形成してもよい。
上述の実施の形態においては、第1面第1下地層371によって剥離が抑制される第1面第1有機層32が、貫通電極22に電気的に接続された第1面第1導電層31を覆う有機層である例を示した。言い換えると、第1面第1有機層32を形成する前に第1面第1導電層31を形成する例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、図15に示すように、第1面第1下地層371によって剥離が抑制される第1面第1有機層32が、貫通電極22に電気的に接続された第1面第1導電層31と基板12の第1面13との間に位置する有機層であってもよい。言い換えると、第1面第1有機層32を形成した後に、貫通電極22に接続される第1面第1導電層31を形成してもよい。
上述の実施の形態においては、第1面第1下地層371が、第1面第1有機層32の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている例を示したが、これに限られることはない。図16に示すように、複数の第1面第1下地層371が、第1面第1有機層32の辺に沿って離散的に並んでいてもよい。図16に示す例によれば、第1面第1下地層371が連続的に延びる場合に比べて、第1面第1下地層371と第1面第1有機層32との間の接触面積を増加させることができる。このため、第1面第1下地層371と第1面第1有機層32との間の密着性を高めることができる。
図17は、配線基板10と、配線基板10に搭載された素子50と、を備える実装基板60の一例を示す平面図である。素子50は、ロジックICやメモリICなどのLSIチップである。また、素子50は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)チップであってもよい。MEMSチップとは、機械要素部品、センサ、アクチュエータ、電子回路などが1つの基板上に集積化された電子デバイスである。素子50は、配線基板10の第1面第3導電層35などの導電層に電気的に接続された端子を有する。
図18は、本開示の実施形態に係る配線基板10が搭載されることができる製品の例を示す図である。本開示の実施形態に係る配線基板10は、様々な製品において利用され得る。例えば、ノート型パーソナルコンピュータ110、タブレット端末120、携帯電話130、スマートフォン140、デジタルビデオカメラ150、デジタルカメラ160、デジタル時計170、サーバ180等に搭載される。
12 基板
13 第1面
14 第2面
16 インダクタ
20 貫通孔
21 側壁
22 貫通電極
221 第1層
222 第2層
30 第1配線構造部
31 第1面第1導電層
311 上面
312 側面
32 第1面第1有機層
32c 隅部
33 第1面第2導電層
34 第1面第2有機層
35 第1面第3導電層
36 第1面第3有機層
37 第1枠体
371 第1面第1下地層
372 第1面第2下地層
39 レジスト層
40 第2配線構造部
41 第2面第1導電層
42 第2面第1有機層
44 第2面第2有機層
47 第2枠体
471 第2面第1下地層
50 素子
51 端子
60 実装基板
C 切断線
Claims (19)
- 第1面及び前記第1面とは反対側に位置する第2面を有し、無機材料を含む基板と、
前記基板の前記第1面に位置する第1面第1導電層及び第1面第1有機層と、前記第1面第1有機層上に位置する第1面第2導電層と、を少なくとも含む第1配線構造部と、
前記第1面第1有機層の外縁と前記基板の前記第1面との間に位置し、金属材料を含む第1面第1下地層と、を備え、
前記第1面第2導電層は、前記第1配線構造部に形成されるキャパシタの一部を構成しており、
前記第1面第1下地層が、前記第1面第1有機層の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている、若しくは、複数の前記第1面第1下地層が、前記第1面第1有機層の外縁に沿って離散的に並んでいる、配線基板。 - 前記第1面第1有機層の外縁が延びる外縁方向における前記第1面第1下地層の寸法が、100μm以上である、請求項1に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層の外縁が延びる外縁方向に直交する方向における、前記第1面第1下地層のうち前記第1面第1有機層と重なる部分の寸法が、50μm以上且つ1mm以下である、請求項1又は2に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層の外縁が延びる外縁方向に直交する方向における、前記第1面第1下地層のうち前記第1面第1有機層から露出した部分の寸法が、50μm以上且つ1mm以下である、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層の外縁の全長に対する、前記第1面第1有機層の外縁のうち前記第1面第1下地層と重なっている部分の長さの比率が、50%以上である、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層の厚みに対する前記第1面第1下地層の厚みの比率が、50%以上である、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層の外縁は、複数の辺を含む多角形の輪郭を有し、
複数の前記第1面第1下地層が、前記第1面第1有機層の少なくとも1つの前記辺に沿って離散的に並んでいる、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の配線基板。 - 前記第1面第1有機層の2つの前記辺が接続される隅部が、50μm以上の曲率半径で湾曲した形状を有する、請求項7に記載の配線基板。
- 前記第1面第1下地層の下面と前記基板の前記第1面との間に隙間が存在し、前記隙間に前記第1面第1有機層が位置している、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層は、少なくとも部分的に前記第1面第1導電層を覆っている、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層は、前記第1面第1導電層と前記基板の前記第1面との間に位置している、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1下地層は、前記基板の外縁よりも内側に位置する、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1下地層が、金属材料を含む複数の層を有する、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記第1面第1有機層上に位置する第1面第2有機層と、
前記第1面第2有機層の外縁と前記第1面第1有機層の上面との間に位置し、金属材料を含む第1面第2下地層と、を更に備える、請求項1乃至13のいずれか一項に記載の配線基板。 - 前記基板が、ガラスを含む、請求項1乃至14のいずれか一項に記載の配線基板。
- 前記基板には貫通孔が設けられており、
前記配線基板は、前記貫通孔に位置し、前記第1面第1導電層に電気的に接続された貫通電極を更に備える、請求項1乃至15のいずれか一項に記載の配線基板。 - 前記基板の前記第2面に位置する第2面第1導電層及び第2面第1有機層を少なくとも含む第2配線構造部と、
前記第2面第1有機層の外縁と前記基板の前記第2面との間に位置し、金属材料を含む第2面第1下地層と、を更に備える、請求項1乃至16のいずれか一項に記載の配線基板。 - 請求項1乃至17のいずれか一項に記載の配線基板と、
前記配線基板に搭載された素子と、を備える、実装基板。 - 第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を含む基板を準備する工程と、
金属材料を含む第1面第1下地層を前記基板の前記第1面に形成する工程と、
前記基板の前記第1面に部分的に接する第1面第1有機層を、前記第1面第1有機層の外縁が少なくとも部分的に前記第1面第1下地層上に位置するように形成する工程と、
前記第1面第1有機層上に第1面第2導電層を形成する工程と、
前記第1面第1有機層を形成する前に、又は前記第1面第1有機層を形成した後に、第1面第1導電層を形成する工程と、を備え、
前記第1面第1導電層、前記第1面第1有機層及び前記第1面第2導電層を少なくとも含む第1配線構造部にはキャパシタが形成されており、
前記第1面第2導電層は、前記第1配線構造部に形成されるキャパシタの一部を構成しており、
前記第1面第1下地層が、前記第1面第1有機層の外縁を囲むように一周にわたって連続的に延びている、若しくは、複数の前記第1面第1下地層が、前記第1面第1有機層の外縁に沿って離散的に並んでいる、配線基板の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022079826A JP7405183B2 (ja) | 2017-11-13 | 2022-05-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
JP2023209583A JP7565018B2 (ja) | 2017-11-13 | 2023-12-12 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017218598A JP2019091767A (ja) | 2017-11-13 | 2017-11-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
JP2022079826A JP7405183B2 (ja) | 2017-11-13 | 2022-05-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017218598A Division JP2019091767A (ja) | 2017-11-13 | 2017-11-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023209583A Division JP7565018B2 (ja) | 2017-11-13 | 2023-12-12 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022110076A true JP2022110076A (ja) | 2022-07-28 |
JP7405183B2 JP7405183B2 (ja) | 2023-12-26 |
Family
ID=66836649
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017218598A Pending JP2019091767A (ja) | 2017-11-13 | 2017-11-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
JP2022079826A Active JP7405183B2 (ja) | 2017-11-13 | 2022-05-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
JP2023209583A Active JP7565018B2 (ja) | 2017-11-13 | 2023-12-12 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017218598A Pending JP2019091767A (ja) | 2017-11-13 | 2017-11-13 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023209583A Active JP7565018B2 (ja) | 2017-11-13 | 2023-12-12 | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (3) | JP2019091767A (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03253096A (ja) * | 1990-03-02 | 1991-11-12 | Nec Corp | ガラスセラミック多層配線基板 |
JPH05198948A (ja) * | 1992-01-21 | 1993-08-06 | Hitachi Ltd | 厚膜と薄膜の混成多層回路基板 |
JPH0846357A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Hitachi Ltd | セラミック薄膜混成基板の製造方法 |
WO2003007379A1 (fr) * | 2001-07-12 | 2003-01-23 | Hitachi, Ltd. | Composant de circuit electronique |
JP2005191243A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ビルドアップ多層配線基板 |
WO2008143138A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Toppan Printing Co., Ltd. | 配線基板、半導体パッケージ及び電子機器 |
WO2013146904A1 (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-03 | 株式会社フジクラ | 配線基板 |
WO2013168761A1 (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-14 | 日立化成株式会社 | 多層配線基板 |
WO2017094489A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | ナミックス株式会社 | 熱硬化性樹脂組成物、熱硬化性樹脂フィルム、プリント配線板、および半導体装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006031344A1 (de) | 2006-07-06 | 2008-01-10 | Epcos Ag | Elektrisches Bauelement mit einem Sensorelement, Verfahren zur Verkapselung eines Sensorelements und Verfahren zur Herstellung einer Plattenanordnung |
-
2017
- 2017-11-13 JP JP2017218598A patent/JP2019091767A/ja active Pending
-
2022
- 2022-05-13 JP JP2022079826A patent/JP7405183B2/ja active Active
-
2023
- 2023-12-12 JP JP2023209583A patent/JP7565018B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03253096A (ja) * | 1990-03-02 | 1991-11-12 | Nec Corp | ガラスセラミック多層配線基板 |
JPH05198948A (ja) * | 1992-01-21 | 1993-08-06 | Hitachi Ltd | 厚膜と薄膜の混成多層回路基板 |
JPH0846357A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Hitachi Ltd | セラミック薄膜混成基板の製造方法 |
WO2003007379A1 (fr) * | 2001-07-12 | 2003-01-23 | Hitachi, Ltd. | Composant de circuit electronique |
JP2005191243A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ビルドアップ多層配線基板 |
WO2008143138A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Toppan Printing Co., Ltd. | 配線基板、半導体パッケージ及び電子機器 |
WO2013146904A1 (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-03 | 株式会社フジクラ | 配線基板 |
WO2013168761A1 (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-14 | 日立化成株式会社 | 多層配線基板 |
WO2017094489A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | ナミックス株式会社 | 熱硬化性樹脂組成物、熱硬化性樹脂フィルム、プリント配線板、および半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7405183B2 (ja) | 2023-12-26 |
JP2024026349A (ja) | 2024-02-28 |
JP7565018B2 (ja) | 2024-10-10 |
JP2019091767A (ja) | 2019-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7091801B2 (ja) | 貫通電極基板及びその製造方法、並びに実装基板 | |
JP7207461B2 (ja) | 貫通電極基板、貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP7552789B2 (ja) | 有孔基板、有孔基板を備える実装基板及び有孔基板の製造方法 | |
JP7245452B2 (ja) | 実装基板及び実装基板の製造方法 | |
JP7068638B2 (ja) | 配線基板及び実装基板 | |
CN111328427A (zh) | 配线基板、半导体装置以及配线基板的制造方法 | |
JP2023120327A (ja) | キャパシタ内蔵部品及びキャパシタ内蔵部品を備える実装基板並びにキャパシタ内蔵部品の製造方法 | |
JP6852415B2 (ja) | 貫通電極基板及び貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP7405183B2 (ja) | 配線基板及び配線基板を備える実装基板並びに配線基板の製造方法 | |
JP2023040125A (ja) | 電子部品搭載基板およびその製造方法 | |
JP2018170440A (ja) | 貫通電極基板、貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP7236059B2 (ja) | 貫通電極基板及び貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP7182084B2 (ja) | 貫通電極基板およびその製造方法 | |
JP6965589B2 (ja) | 貫通電極基板及び貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP2018148086A (ja) | 貫通電極基板の製造方法及び貫通電極基板 | |
JP2021145125A (ja) | 電子部品およびその製造方法 | |
JP2018110157A (ja) | 貫通電極基板及び貫通電極基板を備える実装基板並びに貫通電極基板の製造方法 | |
JP2023052901A (ja) | 導電基板およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230616 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230814 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231114 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231127 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7405183 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |