JP2022069419A - 回路基板に接続された電子部品を除去及び/又は再配置するための方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
Description
4 マイクロLED
4x 除去すべき欠陥があるマイクロLED
5 接触領域
6 回路基板
8 真空吸引ノズル
10 吸引口
11 レーザビームエミッタ
12 レーザビーム
14 制御及び駆動手段
16 IR温度センサ
18 光学系
20 モノフィラメント導光ファイバ
22 プロセスガスノズル
24 プロセスガス
25 ビームスプリッタ
26 画像認識手段
28 カメラ
30 処理ユニット
31 コンタクトパッド
32 半田
Claims (21)
- 接触領域(5)において回路基板(6)に接続された電子部品(4x)を除去及び又は再配置する方法であって、
a)除去又は再配置すべき前記電子部品(4x)と、前記電子部品(4x)と前記回路基板(6)との前記接触領域(5)とをレーザビーム(12)により選択的に加熱する工程と、
b)前記回路基板(6)から/に前記電子部品(4x)を除去又は再配置する工程と、
を備え、
前記工程b)は、前記電子部品(4x)の近傍に真空吸引ノズル(8)を位置決めして、前記電子部品(4x)を真空吸引により除去又は再配置する工程を含む、方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記レーザビーム(12)は、前記真空吸引ノズル(8)を介して前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)に方向付けられる、方法。 - 請求項1又は請求項2に記載の方法であって、さらに、
前記加熱する工程a)の間の温度を制御するために前記工程a)の間の温度を測定する工程を備える、方法。 - 請求項3に記載の方法であって、
前記測定される温度が変化したとき、前記工程a)の加熱を停止する、方法。 - 請求項1から請求項4までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)とその接触領域(5)とをプロセスガスに曝す、方法。 - 請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記接触領域(5)には、前記レーザビーム(12)によって加熱されるコンタクトパッドが設けられている、方法。 - 請求項1から請求項6までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)は、回路基板(8)に半田付けされている、方法。 - 請求項1から請求項7までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記再配置工程b)の間、前記電子部品(4x)は、前記真空吸引ノズル(8)の先端に保持され、その後、その接触領域(5)又はコンタクトパッド上に適切に配置される、方法。 - 請求項1から請求項8までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記加熱工程a)の前に、前記電子部品(4x)の除去又は再配置を行うか否かを識別する画像認識処理を行う、方法。 - 請求項1から請求項9までのいずれか一項に記載の方法であって、
前記除去又は再配置すべき電子部品は、LEDであり、特にマイクロLED(4x)である、方法。 - 請求項8に記載の方法であって、
前記LED又はマイクロLED(4x)は、他のLED又はマイクロLED(4)と共にマトリクス状に配置され、
前記加熱工程a)の前に、前記除去又は再配置すべきLED又はマイクロLED(4x)を識別するために、前記回路基板(6)に電力が供給される、方法。 - 請求項1から請求項11までのいずれか一項に記載の方法を実行する装置であって、
レーザビームエミッタ(11)と、
前記回路基板(6)から/に電子部品(4x)を除去及び/又は再配置する除去/再配置手段(2)と、
前記レーザビームエミッタ(11)から前記レーザビーム(12)を前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)に方向付けて前記除去すべき電子部品(4x)を加熱し、前記除去/再配置手段(2)を制御して前記加熱された電子部品(4x)を前記回路基板(6)から/に除去又は再配置する制御及び駆動手段(14)と、
を備え、
前記除去/再配置手段(2)は、吸引口(10)を有する真空吸引ノズル(8)である、装置。 - 請求項12に記載の装置であって、
前記レーザビームエミッタ(11)からのレーザビーム(12)は、前記真空吸引ノズル(8)及び前記吸引口(10)を介して前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)に方向付けられる、装置。 - 請求項12に記載の装置であって、
前記レーザビームエミッタ(11)は、前記真空吸引ノズル(8)の外側に固定的に取り付けられている、装置。 - 請求項12から請求項14までのいずれか一項に記載の装置であって、さらに、
前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)の温度と前記接触領域(5)の温度とを測定する温度センサ(16)を備え、
前記温度センサ(16)は、前記制御及び駆動手段(14)に接続されている、装置。 - 請求項15に記載の装置であって、
前記温度センサは、IR温度センサ(16)である、装置。 - 請求項16に記載の装置であって、
前記IR温度センサ(16)は、前記除去又は再配置すべき電子部品(4x)の近傍に終端を有する導光ファイバ(20)を含む、装置。 - 請求項12から請求項17までのいずれか一項に記載の装置であって、
前記制御及び駆動手段(14)は、前記真空吸引ノズル(8)と前記レーザビーム(12)とを平面内に位置決めするよう構成されている、装置。 - 請求項12から請求項18までのいずれか一項に記載の装置であって、
再配置のために、前記吸引口(10)は、再配置すべき電子部品4xが前記真空吸引ノズル8の先端に保持されるように構成されている、装置。 - 請求項12から請求項19までのいずれか一項に記載の装置であって、さらに、
前記電子部品(4x)を除去又は再配置すべきかを識別するための画像認識手段(26)を備える、装置。 - 請求項12から請求項20までのいずれか一項に記載の装置であって、さらに、
前記回路基板(6)に電力を供給する手段を備える、装置。
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