JP2022058069A - 太陽電池及び太陽電池モジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜の光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和して、高い開回路電圧を実現するとともに、電池の短絡電流を向上させることができる太陽電池及び太陽電池モジュールを提供する。【解決手段】第1の表面10及び第2の表面20を有する半導体基板と、第1の誘電体層101と、第1のN+ドープ層102と、第1のパッシベーション層及び第1の反射防止層103と、第1の電極104と、第2の誘電体層201と、第1のP+ドープ層202と、第2のパッシベーション層及び第2の反射防止層203と、第2の電極204と、を備える太陽電池。【選択図】図1

Description

本発明は太陽電池技術分野に関し、特に太陽電池及び太陽電池モジュールに関する。
近年、科学技術等の発展に伴い、太陽電池は最初の理論的な最もクリーンで無尽蔵なエネルギーから一歩一歩進めて、今の安定的に大量生産・エネルギー供給可能なエネルギーとなっており、太陽電池の生産量も年々上昇している。そして、太陽光発電産業の発展に伴い、太陽電池の変換効率を向上することも太陽光発電企業が追求する目標となった。太陽電池の高効率を実現するために、多くの電池構造が設計されており、その中で、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト技術(TOPCon;Tunnel Oxide Passivated Contact)とは、電池の裏面に1層の極薄のトンネル酸化膜及び1層の高濃度ドーピング多結晶シリコン薄層を製造することにより、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を形成するものであり、高効率が高く、寿命が長く、LIDがなく、弱光応答性が高いといった利点を有する。また、従来の太陽電池において、両面太陽電池は両面で光線を吸収できるため、単位面積の電池の光電気変換効率を大幅に向上させ、従って、ますます各産業に注目されるようになっている。
現在、よく見られるN型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池において、基板がN型シリコンであり、電池の正面がp+型ドープ層であり、裏面が極薄の酸化ケイ素層及びn+高濃度ドーピング多結晶シリコン層である。以上から分かるように、一般的なトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトが電池の裏面に設置され、電池正面のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクト又は電池両面のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトを実現するために、HIT(Heterojunction with intrinsic Thinlayer)電池構造を模倣して、電池の正面にITO(透明な導電層)を用いて極薄の多結晶シリコンの横方向輸送の問題を解決しなければならない。ところが、ITOは透明な導電性酸化物であるが、一定の光吸収損失を引き起こして、電池の変換効率に影響することとなるだけでなく、ITOは使用された後、従来の高温生産ライン及び高温金属化プロセスに適用できず、従来の電池生産ラインのアップグレードのため高コストを必要とする。
本発明の目的は、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜の光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和して、高い開回路電圧を実現するとともに、電池の短絡電流を向上させることができる太陽電池及び太陽電池モジュールを提供することである。
上記目的を実現するために、本発明は以下の技術案を提供する。
本発明の一態様において、
対向して設置される第1の表面及び第2の表面を有する半導体基板と、
前記第1の表面に位置する第1の誘電体層と、
前記第1の誘電体層の表面に位置する第1のN+ドープ層と、
前記第1のN+ドープ層の表面に位置する第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層と、
前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層の表面に位置する第1の電極と、
前記第2の表面に位置する第2の誘電体層と、
前記第2の誘電体層の表面に位置する第1のP+ドープ層と、
前記第1のP+ドープ層の表面に位置する第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層と、
前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層の表面に位置する第2の電極と、を備える太陽電池を提供する。
1つの好ましい実施態様において、前記第1の誘電体層は酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又は酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
前記第1の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のN+ドープ層のドーピング濃度が5×1019~6×1020cm-3であり、
前記第1のN+ドープ層の厚さが5nm~30nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層は窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素又は炭化ケイ素のうちの少なくとも1つを含み、
前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層の厚さが70nm~180nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第2の誘電体層は酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又は酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
前記第2の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のP+ドープ層のドーピング濃度が5×1019~6×1020cm-3であり、
前記第1のP+ドープ層の厚さが80nm~300nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素又は炭化ケイ素のうちの少なくとも1つを含み、
前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層の厚さが70nm~180nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記半導体基板がN型半導体基板であり、前記第1の表面が前記半導体基板の正面であり、前記第2の表面が前記半導体基板の裏面である。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のN+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域に更に第3の誘電体層及び第2のN+ドープ層が設置され、前記第1の電極が前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層を貫通して前記第2のN+ドープ層と接触し、
前記第1のN+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域が前記第1の電極の領域に対応する。
1つの好ましい実施態様において、前記第3の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又は酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
前記第3の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第2のN+ドープ層の厚さが50nm~150nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のN+ドープ層における少なくとも1つの領域には増肉されたN+ドープ層領域が設置され、前記第1の電極が前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層を貫通して前記増肉されたN+ドープ層領域と接触し、
前記第1のN+ドープ層における少なくとも1つの領域が前記第1の電極の領域に対応する。
1つの好ましい実施態様において、前記増肉されたN+ドープ層領域の厚さが80nm~200nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記半導体基板がP型半導体基板であり、前記第1の表面が前記半導体基板の裏面であり、前記第2の表面が前記半導体基板の正面である。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のP+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域に更に第4の誘電体層及び第2のP+ドープ層が設置され、前記第2の電極が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層を貫通して前記第2のP+ドープ層と接触し、
前記第1のP+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域が前記第2の電極の領域に対応する。
1つの好ましい実施態様において、前記第4の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又は酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
前記第4の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第2のP+ドープ層の厚さが50nm~150nmである。
1つの好ましい実施態様において、前記第1のP+ドープ層における少なくとも1つの領域には増肉されたP+ドープ層領域が設置され、前記第2の電極が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層を貫通して前記増肉されたP+ドープ層領域と接触し、
前記第1のP+ドープ層における少なくとも1つの領域が前記第2の電極の領域に対応する。
1つの好ましい実施態様において、前記増肉されたP+ドープ層領域の厚さが80nm~200nmである。
なお、上記数値範囲はいずれも端点値を含む。
本発明の他の態様において、上記太陽電池を複数備え、前記複数の太陽電池の少なくとも一部がスプライシング(splicing)又はシングリング(shingling)の形式で接続されてパッケージ材料で封止されることを特徴とする太陽電池モジュールを提供する。
従来技術に比べて、本発明に係る技術案は以下の有益な効果を実現することができる。
本発明に係る太陽電池において、半導体基板の第1の表面に第1の誘電体層、第1のN+ドープ層、第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層、及び第1の電極が形成され、半導体基板の第2の表面に第2の誘電体層、第1のP+ドープ層、第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層、及び第2の電極が形成される。このように、両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの効果を実現することができ、また、基板材料の補助作用によってより低い横方向輸送抵抗を実現し、つまり、基板材料を利用してキャリアの横方向における輸送を補助して、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和して、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができ、従来のITO又はより厚い多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避することができる。
本発明の太陽電池モジュールは上記太陽電池を備え、少なくとも上記した太陽電池のすべての特徴と利点を有し、ここで詳細な説明は省略する。
なお、以上の一般的な説明及び以下の詳細な説明は例示的なものであり、本発明を制限するためのものではない。
本発明の具体的な実施形態又は従来技術の技術案をより明確に説明するために、以下に具体的な実施形態又は従来技術の記述に必要な図面を簡単に説明するが、当然ながら、以下に記載する図面は単に本発明の実施形態の一例を示すものに過ぎず、当業者であれば、創造的な労力を必要とせずに、これらの図面に基づいて他の態様を示す図面を想到しうる。
は本発明の例示的な一つの実施形態に係るN型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。 は本発明の例示的な別の実施形態に係るN型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。 は本発明の例示的な別の実施形態に係るN型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。 は本発明の例示的な一つの実施形態に係るP型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。 は本発明の例示的な別の実施形態に係るP型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。 は本発明の例示的な別の実施形態に係るP型トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト太陽電池の構造模式図である。
本発明の目的、技術案及び利点をより明確にするために、以下に図面を参照しながら実施例によって本発明を更に詳しく説明する。なお、ここで説明される具体的な実施例は本発明を解釈するためのものであり、本発明を制限するためのものではない。
なお、本明細書に使用される用語「及び/又は」は関連対象の関連関係を説明するためのものに過ぎず、3つの関係が存在可能であることを示す。例えば、「A及び/又はB」は「Aが独立して存在する」、「AとBが同時に存在する」、及び「Bが独立して存在する」という3つの状況を示すことが可能である。
なお、本発明の実施例に記載の「上」、「下」等の方位用語は、図面に示される角度から説明したものであり、本発明の実施例を制限するものであると理解すべきではない。また、「一方の部材が他方の部材の「上」又は「下」に接続される」と記載する場合、一方の部材が、他方の部材の「上」又は「下」に直接接続されることができるだけでなく、中間部材を介して他方の素子の「上」又は「下」に間接的に接続されることも可能である。さらに、文脈に他の意味を明確に示さない限り、本発明の実施例及び添付の特許請求の範囲に使用される単数形式の「1種」、「前記」及び「該」は、複数形式を含むように意図する。
従来技術の欠点を解決するために、本発明の実施例の技術案は太陽電池及び該太陽電池を備える太陽電池モジュールを提供することにより、光吸収損失を低減して、電池の変換効率を向上させて、開回路電圧及び電池の短絡電流を向上させることが期待される。
これに鑑みて、図1~図6に示すように、本発明の実施例で提供された太陽電池は、
対向して設置される第1の表面10及び第2の表面20を有する半導体基板と、
前記第1の表面10に位置する第1の誘電体層101と、
前記第1の誘電体層101の表面に位置する第1のN+ドープ層102と、
前記第1のN+ドープ層102の表面に位置する第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103と、
前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103の表面に位置する第1の電極104と、
前記第2の表面20に位置する第2の誘電体層201と、
前記第2の誘電体層201の表面に位置する第1のP+ドープ層202と、
前記第1のP+ドープ層202の表面に位置する第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203と、
前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203の表面に位置する第2の電極204と、を備える。
該太陽電池は両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの効果を実現することができ、また、基板材料の補助作用によってより低い横方向輸送抵抗を実現し、つまり、基板材料を利用してキャリアの横方向における輸送を補助して、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和して、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができ、従来のITO又はより厚い多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避することができる。
上記半導体基板は結晶性シリコン基板(シリコン基板)であってもよく、例えば多結晶シリコン基板、単結晶シリコン基板又は擬似単結晶シリコン基板等が挙げられるが、本発明の実施例には、半導体基板の具体的なタイプや種類を制限しない。
上記第1の表面10は半導体基板の裏面、第2の表面20は半導体基板の正面であってもよく、又は、第1の表面10は半導体基板の正面、第2の表面20は半導体基板の裏面であってもよい。
いくつかの実施例には、半導体基板の正面は太陽に向かう表面、すなわち、日光の照射方向に向かう表面であり、半導体基板の裏面は太陽と反対側の表面である。
上記半導体基板はP型ドープ又はN型ドープであってもよく、つまり、該半導体基板はP型半導体基板又はN型半導体基板であってもよい。本発明の実施例の太陽電池は両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池であってもよいし、両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池であってもよい。
以下、本発明の実施例に関する図面を参照しながら、両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池及び両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池を分別に明確且つ完全に説明するが、説明される実施例は本発明の実施例の一例であり、実施例のすべてではない。本発明の実施例に基づき、当業者が進歩性のある労働を必要とせずに得られる他の実施例は、いずれも本発明の保護範囲に属する。
[N型太陽電池]
具体的に図1~図3に示すように、いくつかの実施例においては、太陽電池を提供し、該太陽電池は両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池であり、具体的に、N型半導体基板1を備え、
該N型半導体基板1は対向して設置される第1の表面10及び第2の表面20を有し、第1の表面10が半導体基板の正面であり、第2の表面20が前記半導体基板の裏面である。
該N型半導体基板1の正面は順に第1の誘電体層101、第1のN+ドープ層102、第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103、第1の電極104を含み、
該N型半導体基板1の裏面は順に第2の誘電体層201、第1のP+ドープ層202、第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203、第2の電極204を含む。
該裏面接合型両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池において、正面の第1のN+ドープ層102とN型半導体基板1(N型シリコン基板)とがN+N接合を形成し、第1のN+ドープ層薄膜が極めて薄い場合、N型シリコン基板の補助作用によって、より低い横方向輸送抵抗を実現でき、且つ、裏面には第1のP+ドープ層202により裏面エミッターを形成し、より厚いP+ドープ層(例えば、通常のP+ドープ層の厚さ)を用いていても電池の光吸収に影響することがない。前記N+N接合とは、高濃度ドーピングN+ドープ半導体材料層とN型半導体基板とが形成した高低接合を指す。
これにより、本発明の実施例の裏面接合型両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池において、N+N高低接合によって基板材料を利用してキャリアの横方向における輸送を補助することができる。また、1回の正面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトは、高シート抵抗の極薄のドープ多結晶シリコンでパッシベーション・コンタクトを行う方式で実現してもよく、従来のITO又はより厚いドープ多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避し、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜の光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和し、高い開回路電圧を実現するとともに、電池の短絡電流を向上させることができる。更に、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を緩和し、例えば正面のエミッタ接合には、少なくとも2種類の選択的なトンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を設置してもよい。
いくつかの実施例においては、N型半導体基板1の正面及び裏面はいずれも表面形態が極めて不平滑な綿毛状表面構造を有してもよく、前記綿毛状表面は、正ピラミッド状、逆ピラミッド状、及び、RIE(反応性イオンによるテクスチャ化)又はMCT(金属触媒の補助作用によるテクスチャ化)により製造された穴状の粗面を含んでもよい。
本発明の実施例においては、テクスチャ化によって半導体基板の表面に綿毛状表面構造を有させ、光トラッピング効果を発生させ、太陽電池の光線に対する吸収量を増加させ、これにより、太陽電池の変換効率を向上させることができる。
いくつかの実施例においては、該N型半導体基板1の厚さは100μm~300μmであってもよく、更に100μm~250μmであってもよく、更に120μm~240μmであってもよく、例えば100μm、120μm、150μm、180μm、200μm、240μm、250μm、280μm、300μm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよく、ここで制限しない。
上記第1の誘電体層101及び第2の誘電体層201それぞれの具体的なタイプは様々あり、当業者が実際の状況に応じて選択して設定してもよく、本発明の実施例には該誘電体層の種類を制限しない。例示的に、いくつかの実施例においては、第1の誘電体層101が、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含む。例えば、該第1の誘電体層101は二酸化ケイ素誘電体層、窒化ケイ素誘電体層、酸化アルミニウム誘電体層、酸化ハフニウム誘電体層、酸化チタン誘電体層、酸窒化ケイ素誘電体層のうちのいずれか1つであってもよいし、本分野における既知又は開発されたばかりの他の誘電体層であってもよい。例えば、他の実施例においては、第1の誘電体層101は更にリン又は他の元素をドープした他の誘電体膜層であってもよい。
上記構成と類似に、いくつかの実施例においては、第2の誘電体層201は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含む。例えば、該第2の誘電体層201が、二酸化ケイ素誘電体層、窒化ケイ素誘電体層、酸化アルミニウム誘電体層、酸化ハフニウム誘電体層、酸化チタン誘電体層、酸窒化ケイ素誘電体層のうちのいずれか1つであってもよいし、本分野における既知又は開発したばかりの他の誘電体層であってもよい。例えば、他の実施例には、第2の誘電体層201は更に他の元素をドープした他の誘電体膜層であってもよい。
いくつかの実施例においては、上記第1の誘電体層101はトンネル酸化膜であってもよい。上記第2の誘電体層201はトンネル酸化膜であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第1の誘電体層101の厚さが0.5nm~3nmであり、更に1.0nm~2.5nmであってもよく、例えば0.5nm、0.8nm、1nm、1.5nm、2nm、2.5nm、3nm等であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第2の誘電体層201の厚さが0.5nm~3nmであり、更に1.0nm~2.5nmであってもよく、例えば0.5nm、0.8nm、1nm、1.5nm、2nm、2.5nm、3nm等であってもよい。
上記第1の誘電体層101、第2の誘電体層201は、半導体基板の表面に対してパッシベーション作用を果たすだけでなく、更にキャリアをトンネリングにより透過させる必要もある。誘電体層の厚さが小さすぎる場合、パッシベーション作用を果たすことができず、誘電体層の厚さが大きすぎる場合、キャリアを効果的にトンネリングさせることができない。
該N型太陽電池において、そのPN接合が電池の裏面に位置し、つまり、裏面接合型構造設計が用いられる。また、正面には、第1のN+ドープ層102を利用してN型半導体基板1とN+N高低接合を形成する。電池の正面及び裏面は、いずれもトンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を用いており、電池の開回路電圧及び短絡電流の向上に有利である。第1のN+ドープ層102は第1のN+ドープ多結晶シリコン層であってもよいが、それに限られない。そのドープされたドーパントは、例えば、リン、ヒ素、アンチモン等のN型元素であってもよい。第1のP+ドープ層202は、第1のP+ドープ多結晶シリコン層であってもよいが、それに限られない。そのドープされたドーパントは、例えば、ホウ素、インジウム、ガリウム、アルミニウム等のP型元素であってもよい。
具体的に、いくつかの実施例においては、前記第1のN+ドープ層102のドーピング濃度が、5×1019~6×1020cm-3であり、例えば、該第1のN+ドープ層102のドーピング濃度が、5×1019cm-3、6×1019cm-3、7×1019cm-3、8×1019cm-3、9×1019cm-3、1×1020cm-3、2×1020cm-3、4×1020cm-3、5×1020cm-3、6×1020cm-3等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第1のN+ドープ層102の厚さが5nm~30nmであり、例えば5nm、8nm、10nm、15nm、18nm、20nm、22nm、25nm、30nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
第1のN+ドープ層102のドーパント濃度を上記範囲内に制御することにより、製造された太陽電池を、その性能需要を満たすようにすることができ、太陽電池の光電気変換効率及び太陽電池の性能の向上に寄与しうる。そして、該第1のN+ドープ層102の厚さがより小さく、5nm~30nmの範囲内にあることが好ましい。このように、高シート抵抗の極薄のドープ多結晶シリコンでパッシベーション・コンタクトを行うことにより、従来のITO又は厚さのより大きな多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避することができる。
いくつかの実施例においては、前記第1のP+ドープ層202のドーピング濃度が、5×1019~6×1020cm-3であり、例えば、該第1のP+ドープ層202のドーピング濃度が5×1019cm-3、6×1019cm-3、7×1019cm-3、8×1019cm-3、9×1019cm-3、1×1020cm-3、2×1020cm-3、4×1020cm-3、5×1020cm-3、6×1020cm-3等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第1のP+ドープ層202の厚さが80nm~300nmであり、例えば80nm、100nm、150nm、180nm、200nm、220nm、250nm、280nm、300nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
第1のP+ドープ層202のドーパント濃度を上記範囲内に制御することにより、製造された太陽電池を、その性能需要を満たすようにすることができ、太陽電池の光電気変換効率及び太陽電池の性能の向上に寄与しうる。そして、該第1のP+ドープ層202の厚さが適宜であり、80nm~300nmの範囲内にあることが好ましい。このように、電池の裏面には、P+ドープ多結晶シリコン層を用いてN型シリコン基板と裏面エミッターを形成し、厚さのより厚いP+ドープ多結晶シリコン層を使用しても、電池の光吸収に影響することがない。
いくつかの実施例においては、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちのいずれか1つ又は複数の組み合わせからなる積層構造を含むが、それらに限られない。当然ながら、第1のパッシベーション層、第1の反射防止層は、他のタイプの材質を用いてもよく、例えば、更に、酸化アルミニウム、アモルファスシリコン等を用いてもよい。好ましくは、いくつかの実施例においては、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103が、第1のパッシベーション層及び第1の反射防止層を含む。
いくつかの実施例においては、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちのいずれか1つ又は複数の組み合わせからなる積層構造を含むが、それらに限られない。当然ながら、第2のパッシベーション層、第2の反射防止層は、更に他のタイプの材質を用いてもよく、例えば、更に、酸化アルミニウム、アモルファスシリコン等を用いてもよい。好ましくは、いくつかの実施例においては、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203が、第2のパッシベーション層である。
具体的に、本発明の実施例に基づき、上記第1のパッシベーション層は正面パッシベーション層であり、第1の反射防止層は正面反射防止層である。該正面パッシベーション層及び正面反射防止層は、いずれも積層膜で構成されてもよく、その膜成分は、酸化アルミニウム、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素、窒化ケイ素、酸化ガリウム、炭化ケイ素、アモルファスシリコン、オキシ炭化ケイ素等の物質を含んでもよく、なお、正面パッシベーション層及び正面反射防止層の材質は更に他のタイプを含んでもよく、本発明の実施例においては制限されない。上記パッシベーション層は、半導体基板に対して良好なパッシベーション効果を奏し得、電池の変換効率の向上に寄与しうる。該反射防止層の設置目的は、光線の反射を減少させて太陽電池の光線吸収量を増加させるだけでなく、パッシベーション効果も実現し、太陽電池の効率を向上させることである。上記と対応するように、上記第2のパッシベーション層は裏面パッシベーション層であり、第2の反射防止層は裏面反射層である。同様に、該裏面パッシベーション層及び裏面反射層はいずれも積層膜で構成されてもよく、その膜成分は酸化アルミニウム、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素、窒化ケイ素、酸化ガリウム、炭化ケイ素、アモルファスシリコン、オキシ炭化ケイ素等の物質を含んでもよく、本発明の実施例においては制限されない。
上記正面パッシベーション層及び正面反射防止層(抗反射層)については、一般的に、正面に直接接触する膜層がパッシベーション層と見なされ、主に表面ダングリングボンドへのパッシベーション及びキャリアの表面領域での再結合を防止する作用を奏する。また、パッシベーション層上の抗反射層は、シリコン基板の表面を離れるため、一部のパッシベーション作用を奏することができていても、その主な目的は、透明膜層全体の屈折率を調整し、光吸収の反射防止作用を増加させることである。同時に、抗反射層は、更にシリコン電池を保護し、耐候性を向上させ、外部環境における酸素、水、金属イオン等の不純物がシリコン電池内に入って欠陥を形成して効率の低下を起こすことを回避することができる。従って、表面膜層構造を判断するとき、主にパッシベーション作用を果たす、シリコン基板の表面に密着する膜層をパッシベーション層とし、パッシベーション層上にシリコン基板に直接接触しない膜層を抗反射層とする。例えば、表面構造がシリコン基板/酸化ケイ素/窒化ケイ素である場合、酸化ケイ素はパッシベーション層、窒化ケイ素は抗反射層と見なされるべきである。同様に、酸化アルミニウム/窒化ケイ素、酸化ケイ素/酸窒化ケイ素、酸化アルミニウム/酸窒化ケイ素からなるパッシベーション構造において、酸化アルミニウム及び酸化ケイ素はパッシベーション層、窒化ケイ素及び酸窒化ケイ素は抗反射層と見なされるべきである。また、酸化ケイ素/酸化アルミニウム/窒化ケイ素の構造において、酸化アルミニウムは高密度の負電荷を含有してフィールドパッシベーション作用を奏しうるため、酸化ケイ素/酸化アルミニウムはパッシベーション層、窒化ケイ素は抗反射層と見なされる。
該裏面パッシベーション層及び裏面反射層についての理解は、正面の構造、すなわち、正面パッシベーション層及び正面抗反射層についての理解を参照してもよく、つまり、パッシベーション層及び反射層を主な作用及び機能によって理解してもよく、ここで詳細な説明は省略する。
いくつかの実施例においては、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103の厚さが70nm~180nmであり、例えば70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203の厚さが70nm~180nmであり、例えば70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
上記パッシベーション層、反射防止層の厚さが上記範囲内であれば、良好なパッシベーション効果及び反射防止効果の実現に有利である。
上記第1の電極104は金属電極であり、金属電極は導電性物質からなり、正面反射防止層及び正面パッシベーション層を貫通して第1のN+ドープ層に接触し、光電気により発生したキャリアを収集して導出する。上記第2の電極204は金属電極であり、金属電極は導電性物質からなり、裏面反射層及び裏面パッシベーション層を貫通して第1のP+ドープ層に接触し、光電気により発生したキャリアを収集して導出する。なお、本発明の実施例においては、第1の電極104及び第2の電極204を構成する具体的な材質を制限せず、例えば銀電極、アルミニウム電極、銀アルミニウム電極等であってもよい。
図2に示すように、上記実施例に基づき、更に、該両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池は、更に第3の誘電体層105及び第2のN+ドープ層106を備える。具体的に、いくつかの実施例においては、前記第1のN+ドープ層102の表面上における少なくとも1つの領域には順に第3の誘電体層105及び第2のN+ドープ層106が形成され、前記第1の電極104が前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103を貫通して前記第2のN+ドープ層106と接触し、且つ、前記第1のN+ドープ層102の表面上における少なくとも1つの領域が前記第1の電極104の領域に対応する。
該構造の両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池において、第1の電極104に対応する領域には、第3の誘電体層105及び第2のN+ドープ層106が形成され、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができるだけでなく、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を解決することにも役立つ。
具体的に、いくつかの実施例においては、第3の誘電体層105は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素又は酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含むが、それらに限られない。例えば、該第3の誘電体層105は、二酸化ケイ素誘電体層、窒化ケイ素誘電体層、酸化アルミニウム誘電体層、酸化ハフニウム誘電体層、酸化チタン誘電体層、及び酸窒化ケイ素誘電体層のうちのいずれか1つであってもよいし、本分野における既知又は開発したばかりの他の誘電体層であってもよい。
また、本発明の実施例は誘電体層を形成するための具体的な操作方式を制限しない。例示的に、第1の誘電体層、第3の誘電体層の形成方式は、化学気相成長法、高温熱酸化法、硝酸酸化法等のうちのいずれか1つ又は複数を含むが、それらに限られない。
いくつかの実施例においては、前記第3の誘電体層105の厚さが0.5nm~3nmであり、更に1.0nm~2.5nmであってもよく、例えば0.5nm、0.8nm、1nm、1.5nm、2nm、2.5nm、3nm等であってもよい。
いくつかの実施例においては、前記第2のN+ドープ層106の厚さが50nm~150nmであり、例えば50nm、60nm、70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。該第2のN+ドープ層106の厚さが第1のN+ドープ層の厚さより大きくすることにより、太陽電池の性能需要を満たして、太陽電池の性能を向上させることに有利である。
なお、本発明の実施例はN+ドープ層を形成する具体的な操作方式を制限しない。例示的に、第1のN+ドープ層102、第2のN+ドープ層106の形成方式は、化学気相成長法(CVD)又は物理気相成長法(PVD)又は原子層成長法(ALD)等を含むが、それらに限られない。更に、プラズマ化学気相成長法(PECVD)、減圧化学気相成長法(LPCVD)等であってもよい。なお、第3の誘電体層、第2のN+ドープ層の形成は、パターン化したマスクで実現してもよい。
図3に示すように、上記実施例に基づき、更に、該両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池は更に増肉されたN+ドープ層領域107を有してもよい。具体的に、いくつかの実施例においては、前記第1のN+ドープ層102における少なくとも1つの領域には、増肉されたN+ドープ層領域107が設置され、前記第1の電極104は、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103を貫通して前記増肉されたN+ドープ層領域107と接触し、且つ、前記第1のN+ドープ層102における少なくとも1つの領域は、前記第1の電極104の領域に対応する。
該構造の両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトN型太陽電池において、第1の電極104に対応する領域には、増肉されたN+ドープ層領域107が形成されることによって、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができるだけでなく、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を解決することにも役立つ。
いくつかの実施例においては、前記増肉されたN+ドープ層領域107の厚さが80nm~200nmであり、例えば80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm、200nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
なお、該第1のN+ドープ層102は、一般的な厚さのN+ドープ層領域及び増肉されたN+ドープ層領域107を有してもよく、該一般的な厚さのN+ドープ層領域の厚さの範囲が5nm~30nmであり、該増肉されたN+ドープ層領域107の厚さの範囲が80nm~200nmである。該増肉されたN+ドープ層領域の厚さが第1の電極の領域に対応する。
[P型太陽電池]
図4~図6に示すように、いくつかの実施例においては、両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池である太陽電池を提供しており、具体的に、当該太陽電池は、P型半導体基板2を備え、
該P型半導体基板2は、対向して設置される第1の表面10及び第2の表面20を有し、第1の表面10が半導体基板の裏面であり、第2の表面20が前記半導体基板の正面である。
該P型半導体基板2の正面は、順に第2の誘電体層201、第1のP+ドープ層202、第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203、第2の電極204を含み、
該P型半導体基板2の裏面には、順に第1の誘電体層101、第1のN+ドープ層102、第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103、第1の電極104を含む。
該裏面接合型両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池において、正面の第1のP+ドープ層202とP型半導体基板2(P型シリコン基板)とがP+P接合を形成する。第1のP+ドープ層薄膜が極めて薄い場合、P型シリコン基板の補助作用によってより低い横方向輸送抵抗を実現する。そして、裏面に第1のN+ドープ層102で裏面エミッターを形成し、より厚いN+ドープ層(例えば、通常のN+ドープ層の厚さ)を用いていても電池の光吸収に影響することがない。なお、P+P接合とは、高濃度ドーピングP+ドープ半導体材料層とP型半導体基板とが形成した高低接合を指す。
これにより、本発明の実施例における裏面接合型両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池において、P+P高低接合によって基板材料を利用してキャリアの横方向における輸送を補助することができる。1回の正面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトは、高シート抵抗の極薄のドープ多結晶シリコンでパッシベーション・コンタクトを行う方式で実現してもよく、従来のITO又はより厚いドープ多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避し、トンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を電池の正面に応用する際に横方向輸送と多結晶シリコン膜の光吸収とのバランスを取る必要性による制限を緩和し、高い開回路電圧を実現するとともに、電池の短絡電流を向上させることができる。更に、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を緩和し、例えば正面のエミッタ接合には、少なくとも2種類の選択的なトンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を設置してもよい。
いくつかの実施例においては、P型半導体基板2の正面及び裏面はいずれも表面形態が極めて不平滑な綿毛状表面構造を有してもよく、綿毛状表面は正ピラミッド状、逆ピラミッド状、及び、RIE(反応性イオンによるテクスチャ化)又はMCT(金属触媒の補助作用によるテクスチャ化)により製造された穴状の粗面を含んでもよい。本発明の実施例においては、テクスチャ化によって半導体基板の表面に綿毛状表面構造を有させ、光トラッピング効果を発生させ、太陽電池の光線に対する吸収量を増加させ、これにより太陽電池の変換効率を向上させることができる。
いくつかの実施例においては、該P型半導体基板2の厚さは100μm~300μmであってもよく、更に100μm~250μmであってもよく、更に120μm~240μmであってもよく、例えば100μm、120μm、150μm、180μm、200μm、240μm、250μm、280μm、300μm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよく、ここで制限しない。
該P型太陽電池において、第2の誘電体層201及び第1の誘電体層101それぞれの具体的なタイプも様々あり、当業者が実際の状況に応じて選択して設定してもよく、本発明の実施例には該誘電体層の種類を制限しない。例示的に、いくつかの実施例においては、第2の誘電体層201、第1の誘電体層101はそれぞれ酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含むが、それらに限られない。例えば、二酸化ケイ素誘電体層、窒化ケイ素誘電体層、酸化アルミニウム誘電体層、酸化ハフニウム誘電体層、酸化チタン誘電体層、及び酸窒化ケイ素誘電体層のうちのいずれか1つであってもよいし、本分野における既知又は開発したばかりの他の誘電体層であってもよい。なお、他の実施例においては、第2の誘電体層201、第1の誘電体層101は、更にリン又は他の元素をドープした他の誘電体膜層であってもよい。
いくつかの実施例においては、上記第2の誘電体層201はトンネル酸化膜であってもよい。上記第1の誘電体層101はトンネル酸化膜であってもよい。
いくつかの実施例においては、第2の誘電体層201の厚さが0.5nm~3nmであり、更に1.0nm~2.5nmであってもよく、例えば0.5nm、0.8nm、1nm、1.5nm、2nm、2.5nm、3nm等であってもよい。第1の誘電体層101の厚さが0.5nm~3nmであり、更に1.0nm~2.5nmであってもよく、例えば0.5nm、0.8nm、1nm、1.5nm、2nm、2.5nm、3nm等であってもよい。第2の誘電体層201、第1の誘電体層101は半導体基板の表面に対してパッシベーション作用を果たすだけでなく、更にキャリアをトンネリングにより透過させる必要もある。誘電体層の厚さが小さすぎる場合、パッシベーション作用を果たすことができず、誘電体層の厚さが大きすぎる場合、キャリアを効果的にトンネリングさせることができない。
該P型太陽電池において、そのPN接合が電池の裏面に位置し、つまり、裏面接合型構造設計が用いられる。また、正面には、第1のP+ドープ層202を利用してP型半導体基板2とP+P高低接合を形成する。電池の正面及び裏面は、いずれもトンネル酸化膜パッシベーションコンタクト構造を用いており、電池の開回路電圧及び短絡電流の向上に有利である。第1のP+ドープ層202は第1のP+ドープ多結晶シリコン層であってもよいが、それに限られない。そのドープされたドーパントは、例えば、ホウ素、インジウム、ガリウム、アルミニウム等のP型元素であってもよい。第1のN+ドープ層102は第1のN+ドープ多結晶シリコン層であってもよいが、それに限られない。そのドープされたドーパントは、例えば、リン、ヒ素、アンチモン等のN型元素であってもよい。
いくつかの実施例においては、該P型太陽電池において、前記第1のP+ドープ層202のドーピング濃度が5×1019~6×1020cm-3であり、例えば、該第1のP+ドープ層202のドーピング濃度が5×1019cm-3、6×1019cm-3、7×1019cm-3、8×1019cm-3、9×1019cm-3、1×1020cm-3、2×1020cm-3、4×1020cm-3、5×1020cm-3、6×1020cm-3等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。いくつかの実施例においては、前記第1のP+ドープ層202の厚さが5nm~30nmであり、例えば5nm、8nm、10nm、15nm、18nm、20nm、22nm、25nm、30nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
第1のP+ドープ層202のドーパント濃度を上記範囲内に制御することにより、製造された太陽電池を、その性能需要を満たすようにすることができ、太陽電池の光電気変換効率及び太陽電池の性能の向上に寄与しうる。そして、該第1のP+ドープ層202の厚さがより小さく、5nm~30nmの範囲内にあることが好ましい。このように、高シート抵抗の極薄のドープ多結晶シリコンでパッシベーション・コンタクトを行うことにより、従来のITO又は厚さのより大きな多結晶シリコンに起因する光吸収の問題を回避することができる。
いくつかの実施例においては、該P型太陽電池において、前記第1のN+ドープ層102のドーピング濃度は、5×1019~6×1020cm-3であり、例えば、該第1のN+ドープ層102のドーピング濃度が5×1019cm-3、6×1019cm-3、7×1019cm-3、8×1019cm-3、9×1019cm-3、1×1020cm-3、2×1020cm-3、4×1020cm-3、5×1020cm-3、6×1020cm-3等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。いくつかの実施例においては、前記第1のN+ドープ層102の厚さが80nm~300nmであり、例えば80nm、100nm、150nm、180nm、200nm、220nm、250nm、280nm、300nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
第1のN+ドープ層102のドーパント濃度を上記範囲内に制御することにより、製造された太陽電池を、その性能需要を満たすようにすることができ、太陽電池の光電気変換効率及び太陽電池の性能の向上に寄与しうる。そして、該第1のN+ドープ層102の厚さが適宜であり、80nm~300nmの範囲内にあることが好ましい。このように、電池の裏面には、N+ドープ多結晶シリコン層を用いてP型シリコン基板と裏面エミッターを形成し、厚さのより厚いN+ドープ多結晶シリコン層を使用しても電池の光吸収に影響することがない。
いくつかの実施例においては、該P型太陽電池において、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちのいずれか1つ又は複数の組み合わせからなる積層構造を含むが、それらに限られない。当然ながら、第2のパッシベーション層、第2の反射防止層は、更に他のタイプの材質を用いてもよく、例えば、更に、酸化アルミニウム、アモルファスシリコン等を用いてもよい。好ましくは、いくつかの実施例において、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層は第2のパッシベーション層及び第2の反射防止層を含む。
上記と対応するように、前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちのいずれか1つ又は複数の組み合わせからなる積層構造を含むが、それらに限られない。当然ながら、第1のパッシベーション層、第1の反射防止層は、更に他のタイプの材質を用いてもよく、例えば、更に、酸化アルミニウム、アモルファスシリコン等を用いてもよい。
具体的に、本発明の実施例により、該P型太陽電池において、第2のパッシベーション層は正面パッシベーション層であり、第2の反射防止層は正面反射防止層である。第1のパッシベーション層は裏面パッシベーション層であり、第1の反射防止層は裏面反射層である。正面パッシベーション層、正面反射防止層、裏面パッシベーション層、裏面反射層の具体的な材質、主な作用及び機能等については、上記N型太陽電池における対応部分に関する説明を参照してもよく、ここで詳細な説明は省略する。
いくつかの実施例においては、前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203の厚さは70nm~180nmであり、例えば70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層103の厚さが70nm~180nmであり、例えば70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。上記パッシベーション層、反射防止層の厚さが上記範囲内であれば、高いパッシベーション効果及び反射防止効果の発生に有利である。
上記したように、本発明の実施例においては、第2の電極204及び第1の電極104の具体的な材質を制限せず、例えば銀電極、アルミニウム電極、銀アルミニウム電極等であってもよい。
図5に示すように、上記実施例に基づき、更に、該両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池は更に第4の誘電体層205及び第2のP+ドープ層206を含む。具体的に、いくつかの実施例においては、前記第1のP+ドープ層202の表面上における少なくとも1つの領域には更に第4の誘電体層205及び第2のP+ドープ層206が設置される。前記第2の電極204が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203を貫通して前記第2のP+ドープ層206と接触し、且つ、前記第1のP+ドープ層202の表面上における少なくとも1つの領域が前記第2の電極204の領域に対応する。
該構造の両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池において、第2の電極204に対応する領域には第4の誘電体層205及び第2のP+ドープ層206が形成され、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができるだけでなく、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を解決することにも寄与しうる。
具体的に、いくつかの実施例においては、前記第4の誘電体層205は酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、前記第4の誘電体層205の厚さが0.5nm~3nmである。
該第4の誘電体層205は上記第3の誘電体層105と類似し、第4の誘電体層205の具体的なタイプや形成方式等については、上記第3の誘電体層105に関する説明を参照してもよく、ここで詳細な説明は省略する。
いくつかの実施例においては、前記第2のP+ドープ層206の厚さが50nm~150nmであり、例えば50nm、60nm、70nm、80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。該第2のP+ドープ層206の厚さが第1のP+ドープ層202の厚さより大きくすることにより、太陽電池の性能需要を満たして太陽電池の性能を向上させることに寄与しうる。
図6に示すように、上記実施例に基づき、更に、該両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池は更に増肉されたP+ドープ層領域207を有してもよい。具体的に、いくつかの実施例においては、前記第1のP+ドープ層202における少なくとも1つの領域には増肉されたP+ドープ層領域207が設置され、前記第2の電極204が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層203を貫通して前記増肉されたP+ドープ層領域207と接触し、かつ、前記第1のP+ドープ層202における少なくとも1つの領域が前記第2の電極204の領域に対応する。
該構造の両面トンネル酸化膜パッシベーションコンタクトP型太陽電池において、第2の電極204に対応する領域には増肉されたP+ドープ層領域207が形成されることにより、開回路電圧及び短絡電流を向上させることができるだけでなく、高温金属ペーストによる極薄のトンネル酸化膜パッシベーションコンタクトの溶落ち損傷問題を解決することにも寄与しうる。
いくつかの実施例においては、前記増肉されたP+ドープ層領域207の厚さが80nm~200nmであり、例えば80nm、90nm、100nm、120nm、140nm、150nm、160nm、180nm、200nm等であってもよく、当然ながら、上記範囲内の他の数値であってもよい。
なお、該第1のP+ドープ層202は一般的な厚さのP+ドープ層領域及び増肉されたP+ドープ層領域207を有してもよく、該一般的な厚さのP+ドープ層領域の厚さの範囲が5nm~30nmであり、該増肉されたP+ドープ層領域207の厚さの範囲が80nm~200nmである。該増肉されたP+ドープ層領域の厚さが第2の電極の領域に対応する。
本発明の実施例は、更に、上記太陽電池を複数備え、前記複数の太陽電池の少なくとも一部がスプライシング又はシングリングの形式で接続されてパッケージ材料で封止されることを特徴とする太陽電池モジュールを提供する。
いくつかの実施例においては、複数の太陽電池同士を同じ平面に設置して互いに一定の隙間(小さな隙間)を持って又は隙間なしに電気的に接続して前記太陽電池モジュールを形成する。いくつかの実施例においては、複数の太陽電池同士を互いに積層する(つまり、異なる平面に位置する)ことで電気的に接続して前記太陽電池モジュールを形成する。前記太陽電池は図1~図6に示されるいずれか1つの電池を用いてもよい。
当業者であれば理解できるように、該太陽電池モジュールと上記太陽電池とが同一の技術的思想に基づくものであり、以上に太陽電池に対して説明された特徴及び利点は同様に該太陽電池モジュールの応用に適するため、該太陽電池モジュールは少なくとも上記太陽電池と同様又は類似の特徴及び利点を有し、ここで詳細な説明は省略する。
例示的に、該太陽電池モジュールは、下から上までの順に、バックシート、パッケージ材料、電池ストリング、パッケージ材料及びガラスを備える。その中で、パッケージ材料は、EVA、POE等の本分野でよく知られているパッケージ用フィルム材料であってもよい。電池ストリングは、上記太陽電池がスプライシング又はシングリング等の形式で形成されたものであってもよく、且つ、スプライシングの形式で形成される際には、電池同士の間に隙間があってもよいし、なくてもよい。
以上の説明は本発明の好適な実施例であるが、本発明を制限するためのものではなく、当業者であれば、本発明に対して種々の変更や変化を実施することができる。本発明の趣旨及び原則内に行われたいかなる修正、等価置換、改良等は、いずれも本発明の保護範囲内に含まれるべきである。
なお、本特許出願書類の一部は著作権により保護される内容を含む。特許庁よりの特許文献又は記録された特許ドキュメントの内容をコピーする以外に、著作権者が著作権を保留する。
1 N型半導体基板
2 P型半導体基板
10 第1の表面
20 第2の表面
101 第1の誘電体層
102 第1のN+ドープ層
103 第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層
104 第1の電極
105 第3の誘電体層
106 第2のN+ドープ層
107 増肉されたN+ドープ層領域
201 第2の誘電体層
202 第1のP+ドープ層
203 第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層
204 第2の電極
205 第4の誘電体層
206 第2のP+ドープ層
207 増肉されたP+ドープ層領域

Claims (20)

  1. 対向して設置される第1の表面及び第2の表面を有し半導体基板と、
    前記第1の表面に位置する第1の誘電体層と、
    前記第1の誘電体層の表面に位置する第1のN+ドープ層と、
    前記第1のN+ドープ層の表面に位置する第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層と、
    前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層の表面に位置する第1の電極と、
    前記第2の表面に位置する第2の誘電体層と、
    前記第2の誘電体層の表面に位置する第1のP+ドープ層と、
    前記第1のP+ドープ層の表面に位置する第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層と、
    前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層の表面に位置する第2の電極と、を備えることを特徴とする太陽電池。
  2. 前記第1の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
    前記第1の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  3. 前記第1のN+ドープ層のドーピング濃度が5×1019~6×1020cm-3であり、
    前記第1のN+ドープ層の厚さが5nm~30nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  4. 前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも1つを含み、
    前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層の厚さが70nm~180nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  5. 前記第2の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
    前記第2の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  6. 前記第1のP+ドープ層のドーピング濃度が5×1019~6×1020cm-3であり、
    前記第1のP+ドープ層の厚さが80nm~300nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  7. 前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層は、窒化ケイ素、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも1つを含み、
    前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層の厚さが70nm~180nmである、請求項1に記載の太陽電池。
  8. 前記半導体基板がN型半導体基板であり、前記第1の表面が前記半導体基板の正面であり、前記第2の表面が前記半導体基板の裏面である、請求項1~7のいずれか1項に記載の太陽電池。
  9. 前記第1のN+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域に更に第3の誘電体層及び第2のN+ドープ層が設置され、前記第1の電極が前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層を貫通して前記第2のN+ドープ層と接触し、
    前記第1のN+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域が前記第1の電極の領域に対応する、請求項8に記載の太陽電池。
  10. 前記第3の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
    前記第3の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである、請求項9に記載の太陽電池。
  11. 前記第2のN+ドープ層の厚さが50nm~150nmである、請求項9に記載の太陽電池。
  12. 前記第1のN+ドープ層における少なくとも1つの領域には増肉されたN+ドープ層領域が設置され、前記第1の電極が前記第1のパッシベーション層及び/又は第1の反射防止層を貫通して前記増肉されたN+ドープ層領域と接触し、
    前記第1のN+ドープ層における少なくとも1つの領域が前記第1の電極の領域に対応する、請求項8に記載の太陽電池。
  13. 前記増肉されたN+ドープ層領域の厚さが80nm~200nmである、請求項12に記載の太陽電池。
  14. 前記半導体基板がP型半導体基板であり、前記第1の表面が前記半導体基板の裏面であり、前記第2の表面が前記半導体基板の正面である、請求項1~7のいずれか1項に記載の太陽電池。
  15. 前記第1のP+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域に更に第4の誘電体層及び第2のP+ドープ層が設置され、前記第2の電極が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層を貫通して前記第2のP+ドープ層と接触し、
    前記第1のP+ドープ層の表面上における少なくとも1つの領域が前記第2の電極の領域に対応する、請求項14に記載の太陽電池。
  16. 前記第4の誘電体層は、酸化ケイ素、酸化ハフニウム、酸化チタン、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素及び酸化アルミニウムのうちの少なくとも1つを含み、
    前記第4の誘電体層の厚さが0.5nm~3nmである、請求項15に記載の太陽電池。
  17. 前記第2のP+ドープ層の厚さが50nm~150nmである、請求項15に記載の太陽電池。
  18. 前記第1のP+ドープ層における少なくとも1つの領域には増肉されたP+ドープ層領域が設置され、前記第2の電極が前記第2のパッシベーション層及び/又は第2の反射防止層を貫通して前記増肉されたP+ドープ層領域と接触し、
    前記第1のP+ドープ層における少なくとも1つの領域が前記第2の電極領域に対応する、請求項14に記載の太陽電池。
  19. 前記増肉されたP+ドープ層領域の厚さが80nm~200nmである、請求項18に記載の太陽電池。
  20. 請求項1~19のいずれか1項に記載の太陽電池を複数備える太陽電池モジュールであって、前記複数の太陽電池の少なくとも一部がスプライシング又はシングリングの形式で接続されてパッケージ材料で封止されることを特徴とする太陽電池モジュール。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11791426B1 (en) 2022-09-08 2023-10-17 Zhejiang Jinko Solar Co., Ltd. Photovoltaic cell and photovoltaic module
US11923468B1 (en) 2022-09-08 2024-03-05 Zhejiang Jinko Solar Co., Ltd. Photovoltaic cell and photovoltaic module
JP7562796B2 (ja) 2023-02-02 2024-10-07 ジョジアン ジンコ ソーラー カンパニー リミテッド 太陽電池及びその製造方法、光起電力モジュール

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117080277A (zh) * 2021-02-23 2023-11-17 浙江晶科能源有限公司 太阳能电池及其制作方法、光伏组件
CN113066874A (zh) * 2021-03-19 2021-07-02 浙江爱旭太阳能科技有限公司 异质结太阳能电池及其制备方法
CN113345969B (zh) * 2021-04-28 2024-05-14 中科研和(宁波)科技有限公司 钝化接触结构及其制备方法和应用
CN117766595A (zh) 2021-08-20 2024-03-26 上海晶科绿能企业管理有限公司 太阳能电池及光伏组件
CN115132851B (zh) 2021-08-26 2023-06-16 上海晶科绿能企业管理有限公司 太阳能电池及其制作方法、光伏组件
CN114497241A (zh) * 2021-10-27 2022-05-13 天合光能股份有限公司 一种钝化接触的太阳能电池
CN113838941B (zh) * 2021-11-23 2022-02-11 浙江爱旭太阳能科技有限公司 一种太阳能电池的选择性钝化接触结构和双面太阳能电池
CN114447142B (zh) * 2021-12-24 2024-03-01 青海黄河上游水电开发有限责任公司西宁太阳能电力分公司 一种N型TOPCon太阳能电池及其制作方法
CN114864740A (zh) * 2022-04-11 2022-08-05 青海黄河上游水电开发有限责任公司西宁太阳能电力分公司 一种双面局域钝化接触太阳能电池及其制作方法
CN116364794A (zh) * 2022-04-11 2023-06-30 浙江晶科能源有限公司 太阳能电池、光伏组件及太阳能电池的制备方法
CN116960193A (zh) * 2022-04-15 2023-10-27 隆基绿能科技股份有限公司 一种太阳能电池及其生产方法、光伏组件
CN115188844A (zh) * 2022-06-27 2022-10-14 隆基乐叶光伏科技(西咸新区)有限公司 一种太阳能电池及其制备方法、光伏组件
CN117673176A (zh) * 2022-09-08 2024-03-08 浙江晶科能源有限公司 太阳能电池及光伏组件
CN115985974B (zh) * 2023-01-04 2024-07-05 隆基绿能科技股份有限公司 背接触太阳能电池及其制备方法、光伏组件
CN116072741B (zh) * 2023-03-06 2023-08-15 通威太阳能(眉山)有限公司 太阳电池及其制备方法、光伏组件、用电装置
CN117457757A (zh) * 2023-10-18 2024-01-26 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 一种太阳能电池和太阳能电池的制作方法
CN117276360B (zh) * 2023-11-22 2024-02-09 长三角物理研究中心有限公司 一种新型晶硅异质结太阳能电池结构及制备方法和应用
CN117525180B (zh) * 2024-01-05 2024-03-12 通威太阳能(眉山)有限公司 太阳电池及其制备方法、光伏组件
CN117525179B (zh) * 2024-01-05 2024-04-02 通威太阳能(眉山)有限公司 太阳电池及其制备方法、光伏组件
CN117995919B (zh) * 2024-03-29 2024-08-16 天合光能股份有限公司 太阳能电池及其制作方法、光伏组件及光伏系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014204128A (ja) * 2013-04-03 2014-10-27 エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド 太陽電池
CN110071182A (zh) * 2019-05-23 2019-07-30 泰州中来光电科技有限公司 一种多层隧道结的钝化太阳能电池及制备方法
CN210897294U (zh) * 2019-10-29 2020-06-30 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 太阳能电池

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101733055B1 (ko) * 2010-09-06 2017-05-24 엘지전자 주식회사 태양 전지 모듈
TWI435454B (zh) * 2010-10-25 2014-04-21 Au Optronics Corp 太陽能電池
TWI420700B (zh) * 2010-12-29 2013-12-21 Au Optronics Corp 太陽能電池
KR20120129264A (ko) * 2011-05-19 2012-11-28 삼성디스플레이 주식회사 태양 전지 및 이의 제조방법
TW201349520A (zh) * 2012-05-22 2013-12-01 Neo Solar Power Corp 太陽能電池及其模組
TWI492400B (zh) * 2013-02-21 2015-07-11 茂迪股份有限公司 太陽能電池及其製造方法與太陽能電池模組
JP6648986B2 (ja) * 2014-05-28 2020-02-19 京セラ株式会社 太陽電池素子および太陽電池モジュール
KR102219804B1 (ko) * 2014-11-04 2021-02-24 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 그의 제조 방법
US9947822B2 (en) * 2015-02-02 2018-04-17 Tesla, Inc. Bifacial photovoltaic module using heterojunction solar cells
US10566483B2 (en) * 2015-03-17 2020-02-18 Lg Electronics Inc. Solar cell
US10686087B2 (en) * 2016-09-19 2020-06-16 Lg Electronics Inc. Solar cell and method for manufacturing the same
TWI580058B (zh) * 2016-10-26 2017-04-21 財團法人工業技術研究院 太陽能電池
CN108074989A (zh) * 2016-11-14 2018-05-25 Lg电子株式会社 太阳能电池及其制造方法
NL2017872B1 (en) * 2016-11-25 2018-06-08 Stichting Energieonderzoek Centrum Nederland Photovoltaic cell with passivating contact
JP2019204870A (ja) * 2018-05-23 2019-11-28 京セラ株式会社 太陽電池素子および太陽電池素子の製造方法
WO2019242761A1 (zh) * 2018-06-22 2019-12-26 晶澳太阳能有限公司 晶体硅太阳能电池及其制备方法、光伏组件
CN209232797U (zh) * 2018-10-17 2019-08-09 晶澳太阳能有限公司 硅基太阳能电池及光伏组件
CN109346549A (zh) * 2018-10-23 2019-02-15 上海神舟新能源发展有限公司 N型双面太阳电池及其制备方法
CN109461783A (zh) * 2018-12-26 2019-03-12 苏州腾晖光伏技术有限公司 一种双面晶硅太阳能电池及其制作方法
CN111524982A (zh) * 2019-02-01 2020-08-11 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 太阳电池
CN209675297U (zh) * 2019-02-25 2019-11-22 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种钝化接触结构及太阳能电池
CN109841693A (zh) * 2019-02-25 2019-06-04 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种钝化接触结构及太阳能电池
CN209658197U (zh) * 2019-04-11 2019-11-19 深圳市捷佳伟创新能源装备股份有限公司 具有透明导电层的单多晶n型双面topcon电池
CN110021673A (zh) * 2019-04-18 2019-07-16 苏州腾晖光伏技术有限公司 一种双面太阳能电池及其制备方法
CN109980022A (zh) * 2019-04-24 2019-07-05 通威太阳能(成都)有限公司 一种p型隧穿氧化物钝化接触太阳能电池及其制备方法
CN110299422B (zh) * 2019-06-28 2021-05-28 天合光能股份有限公司 一种激光硼掺杂选择性发射极TOPCon结构电池及其制备方法
CN110416324A (zh) * 2019-08-22 2019-11-05 浙江正泰太阳能科技有限公司 一种太阳能电池及其制备方法
CN110890432A (zh) * 2019-11-21 2020-03-17 协鑫集成科技股份有限公司 一种高效多晶硅太阳能电池及其制备方法
CN111524983B (zh) * 2020-04-03 2021-07-27 常州大学 一种双面选择性发射极高效晶硅电池及其制备方法
CN111628052B (zh) * 2020-07-13 2022-03-11 苏州腾晖光伏技术有限公司 一种钝化接触电池的制备方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014204128A (ja) * 2013-04-03 2014-10-27 エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド 太陽電池
CN110071182A (zh) * 2019-05-23 2019-07-30 泰州中来光电科技有限公司 一种多层隧道结的钝化太阳能电池及制备方法
CN210897294U (zh) * 2019-10-29 2020-06-30 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 太阳能电池

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11791426B1 (en) 2022-09-08 2023-10-17 Zhejiang Jinko Solar Co., Ltd. Photovoltaic cell and photovoltaic module
JP7410252B1 (ja) 2022-09-08 2024-01-09 ジョジアン ジンコ ソーラー カンパニー リミテッド 太陽電池および光起電力モジュール
US11923468B1 (en) 2022-09-08 2024-03-05 Zhejiang Jinko Solar Co., Ltd. Photovoltaic cell and photovoltaic module
JP7562796B2 (ja) 2023-02-02 2024-10-07 ジョジアン ジンコ ソーラー カンパニー リミテッド 太陽電池及びその製造方法、光起電力モジュール
US12119423B2 (en) 2023-02-02 2024-10-15 Zhejiang Jinko Solar Co., Ltd. Solar cell and photovoltaic module

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