JP2022039970A - 磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、及び磁気テープドライブの動作方法 - Google Patents

Abstract

【課題】磁気テープが幅方向に変形したとしても、磁気テープと複数の磁気素子との位置関係の補正に寄与することができる磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、及び磁気テープドライブの動作方法を提供する。【解決手段】磁気テープカートリッジは、磁気テープが収容されるケースと、ケースに設けられた記憶媒体と、を備える。ケースから引き出された磁気テープは、直線状に配置された複数の磁気素子によって、データの読み取り及び書き込みのうちの少なくとも一方が行われる。複数の磁気素子の配置方向は、磁気テープの幅方向に対して磁気テープの全長方向側に傾斜している。記憶媒体は、幅方向に対する配置方向の傾斜の特徴を示す傾斜特徴情報を記憶する。【選択図】図３１Ａ

Description

本開示の技術は、磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、及び磁気テープドライブの動作方法に関する。

磁気テープが収容される磁気テープカートリッジには、情報を記憶するカートリッジメモリが搭載されている。特許文献１には、磁気テープドライブにおけるデータの記録時の情報をカートリッジメモリに記憶しておき、データの読み取り時にカートリッジメモリから情報を読み出して参照することが記載されている。情報は、データの記録時に走行中の磁気テープに掛けられた張力の情報を含む。

特許文献２には、磁気テープを収容するカートリッジケースと、カートリッジケースに設けられ、磁気テープのデータ記録前における情報であって、磁気テープのデータ記録時又はデータ再生時において磁気テープの幅を調整するための情報を記憶するメモリと、を具備するカートリッジが開示されている。

特許第６６６９３２６号 特許第６６６９３０２号

磁気テープカートリッジは磁気テープドライブに装填されて使用される。磁気テープドライブには、ヘッドが設けられている。ヘッドは、磁気テープドライブ内で磁気テープカートリッジから引き出された磁気テープに対してデータの読み書きを行う。磁気テープ内の指定されたトラックに対してデータの読み書きを正確に行うには、磁気テープの幅方向について、トラッキング制御によって、トラックの位置に対してヘッド内の磁気素子の位置を正確に合わせる必要がある。

トラッキング制御は、複数のサーボパターンと複数のサーボ読取素子とを用いることによって実現される。複数のサーボパターンは、磁気テープに形成されており、複数のサーボ読取素子は、ヘッドに搭載されている。磁気テープにおいて、複数のサーボパターンは、磁気テープの幅方向で離間した位置に磁気テープの全長方向に沿って形成されており、ヘッド内において、複数のサーボ読取素子は、複数のサーボパターンに対応するように配置されている。トラッキング制御を高めるには、前提として、複数のサーボ読取素子の位置と複数のサーボパターンの位置とを正確に合わせることが必要となる。

しかし、磁気テープの幅方向のサイズは、磁気テープカートリッジ内においてリールに巻きかけられた状態で磁気テープにかかる応力、磁気テープが保存されている環境、及び／又は磁気テープが不使用の状態で保存されている時間等によって変化してしまう。

本開示の技術に係る一つの実施形態は、磁気テープが幅方向に変形したとしても、磁気テープと複数の磁気素子との位置関係の補正に寄与することができる磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、及び磁気テープドライブの動作方法を提供する。

本開示の技術に係る第１の態様は、磁気テープが収容されるケースと、ケースに設けられた記憶媒体と、を備える磁気テープカートリッジであって、ケースから引き出された磁気テープが、直線状に配置された複数の磁気素子によって、データの読み取り及び書き込みのうちの少なくとも一方が行われ、複数の磁気素子の配置方向が、磁気テープの幅方向に対して磁気テープの全長方向側に傾斜しており、記憶媒体が、幅方向に対する配置方向の傾斜の特徴を示す傾斜特徴情報を記憶する磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第２の態様は、特徴が、傾斜の方向を含む第１の態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第３の態様は、磁気テープが、複数のトラックを有し、複数の磁気素子の各々が、複数のトラックの各々に対応しており、複数のトラックのうちの隣接トラックの各々に対して方向として相反する方向が割り当てられている第２の態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第４の態様は、特徴が、傾斜の角度を含む第１の態様から第３の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第５の態様は、記憶媒体が、非接触式読み書き装置によって非接触式で情報の読み書きが行われる非接触式通信媒体の内蔵メモリを含む第１の態様から第４の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第６の態様は、記憶媒体が、磁気テープの一部領域を含む第１の態様から第５の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第７の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンドの幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶する第１の態様から第６の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第８の態様は、ピッチ情報に、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる第７の態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第９の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置と、複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の複数の位置における磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、ピッチは、サーボパターン距離情報を用いて検出された位置であって、複数の磁気素子の複数のサーボバンド内における幅方向の位置に対応している第８の態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第１０の態様は、磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって複数のサーボバンドが読み取られた結果と、複数のサーボ読取素子間の距離に基づいてピッチが算出されている第８の態様又は第９の態様に係る磁気テープカートリッジである。

本開示の技術に係る第１１の態様は、第１の態様から第１０の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジが装填され、複数の磁気素子が搭載されたヘッドを磁気テープの幅方向に対して磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構と、記憶媒体に記憶されている傾斜特徴情報に応じて傾斜機構を制御する制御装置と、を備える磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１２の態様は、磁気テープに対して張力を付与する張力付与機構を更に備える第１１の態様に係る磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１３の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンドの幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を記憶し、制御装置が、ピッチ情報に基づいて磁気テープに付与される張力を調整する第１１の態様又は第１２の態様に係る磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１４の態様は、ピッチ情報に、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる第１３の態様に係る磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１５の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置と、複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の複数の位置における磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、制御装置は、サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、複数の磁気素子の複数のサーボバンド内における幅方向の位置に対応したピッチを用いて、磁気テープに付与される張力を調整する第１４の態様に係る磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１６の態様は、制御装置は、磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって複数のサーボバンドが読み取られた結果と、複数のサーボ読取素子間の距離に基づいてピッチを算出する第１４の態様又は第１５の態様に係る磁気テープドライブである。

本開示の技術に係る第１７の態様は、磁気テープシステムであって、第１の態様から第１０の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジと、複数の磁気素子が搭載されたヘッドを磁気テープの幅方向に対して磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構と、記憶媒体に記憶されている傾斜特徴情報に応じて傾斜機構を制御する制御装置と、を備える磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第１８の態様は、磁気テープに対して張力を付与する張力付与機構を更に備える第１７の態様に係る磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第１９の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンドの幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を記憶し、制御装置が、ピッチ情報に基づいて磁気テープに付与される張力を調整する第１７の態様又は第１８の態様に係る磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第２０の態様は、ピッチ情報に、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる第１９の態様に係る磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第２１の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置と、複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の複数の位置における磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、制御装置は、サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、複数の磁気素子の複数のサーボバンド内における幅方向の位置に対応したピッチを用いて、磁気テープに付与される張力を調整する第２０の態様に係る磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第２２の態様は、制御装置は、磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって複数のサーボバンドが読み取られた結果と、複数のサーボ読取素子間の距離に基づいてピッチを算出する第２０の態様又は第２１の態様に係る磁気テープシステムである。

本開示の技術に係る第２３の態様は、第１の態様から第１０の態様の何れか１つの態様に係る磁気テープカートリッジに含まれる記憶媒体に記憶されている傾斜特徴情報を取得することと、複数の磁気素子が搭載されたヘッドを磁気テープの幅方向に対して磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構を、取得した傾斜特徴情報に応じて制御することと、を含む、磁気テープドライブの動作方法である。

本開示の技術に係る第２４の態様は、磁気テープに対して張力を付与することを更に含む、第２３の態様に係る磁気テープドライブの動作方法である。

本開示の技術に係る第２５の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンドの幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶し、ピッチ情報に基づいて磁気テープに付与される張力を調整することを更に含む、第２３の態様又は第２４の態様に係る磁気テープドライブの動作方法である。

本開示の技術に係る第２６の態様は、ピッチ情報に、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる第２５の態様に係る磁気テープドライブの動作方法である。

本開示の技術に係る第２７の態様は、記憶媒体が、複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置と、複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の複数の位置における磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、複数の磁気素子の複数のサーボバンド内における幅方向の位置に対応したピッチを用いて、磁気テープに付与される張力を調整することを更に含む第２６の態様に係る磁気テープドライブの動作方法である。

本開示の技術に係る第２８の態様は、前記磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって前記複数のサーボバンドが読み取られた結果と、前記複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて前記ピッチを算出することを更に含む第２６の態様又は第２７の態様に係る磁気テープドライブの動作方法である。

磁気テープシステムの構成の一例を示すブロック図である。 磁気テープカートリッジの外観の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジの下ケースの内側の右後端部の構造の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジの下ケースの内面に設けられた支持部材の一例を示す側面視断面図である。 磁気テープドライブのハードウェア構成の一例を示す概略構成図である。 磁気テープカートリッジの下側から非接触式読み書き装置によって磁界が放出されている態様の一例を示す概略斜視図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリに対して非接触式読み書き装置から磁界が付与されている態様の一例を示す概念図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの基板の裏面の構造の一例を示す概略底面図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの基板の表面の構造の一例を示す概略平面図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリの回路構成の一例を示す概略回路図である。 磁気テープカートリッジ内のカートリッジメモリに搭載されているＩＣチップのコンピュータの電気系のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 磁気テープドライブの電気系のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。 記録ヘッド、読取ヘッド、及び磁気テープの位置関係の一例を示す概念図である。 データバンドと記録ヘッド側磁気素子との位置関係の一例を示す概念図である。 データバンドと記録ヘッド側磁気素子との位置関係の一例を示す概念図である。 記録素子とデータトラック群に含まれるデータトラックとの対応関係の一例を示す概念図である。 データバンドと読取ヘッド側磁気素子との位置関係の一例を示す概念図である。 データバンドと読取ヘッド側磁気素子との位置関係の一例を示す概念図である。 読取素子とデータトラック群に含まれるデータトラックとの対応関係の一例を示す概念図である。 磁気テープの幅が時間の経過と共に縮む態様の一例を示す概念図である。 記録ヘッド内の２つのサーボ読取素子と磁気テープドライブのＡＳＩＣの機能との関係の一例を示す概念図である。 サーボパターンの一例を示す概念図である。 理想的なサーボパターンと実際のサーボパターンの一例を示す概念図である。 サーボパターン距離情報の一例を示す概念図である。 カートリッジメモリのＮＶＭにピッチ情報を記憶する態様の一例を示すブロック図である。 ピッチ情報の一例を示す概念図である 磁気テープドライブのＡＳＩＣの機能の一例を示すブロック図である。 走行制御部によってモータ制御信号が補正される方法の一例を示す概念図である。 傾斜制御部によって傾斜特徴情報が算出される方法の一例を示す概念図である。 カートリッジメモリに傾斜特徴情報が記憶される場合の処理内容の一例を示すブロック図である。 磁気テープドライブのＡＳＩＣによって実行されるテープ幅制御処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図３１Ａに示すフローチャートの続きである。 ＢＯＴ領域に傾斜特徴情報が書き込まれる態様の一例を示す概念図である。 カートリッジメモリに記憶されている傾斜特徴情報がＢＯＴ領域に書き込まれる態様の一例を示す概念図である。

以下、添付図面に従って本開示の技術に係る磁気テープカートリッジ、磁気テープドライブ、磁気テープシステム、及び磁気テープドライブの動作方法の実施形態の一例について説明する。

先ず、以下の説明で使用される文言について説明する。

ＣＰＵとは、“Central Processing Unit”の略称を指す。ＲＡＭとは、“Random Access Memory”の略称を指す。ＤＲＡＭとは、“Dynamic Random Access Memory”の略称を指す。ＳＲＡＭとは、“Static Random Access Memory”の略称を指す。ＮＶＭとは、“Non-Volatile Memory”の略称を指す。ＲＯＭとは、“Read Only Memory”の略称を指す。ＥＥＰＲＯＭとは、“Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory”の略称を指す。ＳＳＤとは、“Solid State Drive”の略称を指す。ＨＤＤとは、“Hard Disk Drive”の略称を指す。ＡＳＩＣとは、“Application Specific Integrated Circuit”の略称を指す。ＰＬＤとは、“Programmable Logic Device”の略称を指す。ＦＰＧＡとは、“Field-Programmable Gate Array”の略称を指す。ＳｏＣとは、“System-on-a-Chip”の略称を指す。ＩＣとは、“Integrated Circuit”の略称を指す。ＲＦＩＤとは、“Radio Frequency Identifier”の略称を指す。ＬＴＯとは、“Linear Tape-Open”の略称を指す。ＩＢＭとは、“International Business Machines Corporation”の略称を指す。ＩＤとは、“Identification Data”の略称を指す。ＢＯＴとは、“Beginning Of Tape”の略称を指す。ＥＯＴとは、“End Of Tape”の略称を指す。ＭＦＭとは、“Magnetic Force Microscope”の略称を指す。ＳＥＭとは、“Scanning Electron Microscope”の略称を指す。ＱＲとは、“Quick Response”の略称を指す。

一例として図１に示すように、磁気テープシステム２は、磁気テープカートリッジ１０及び磁気テープドライブ３０を備えている。磁気テープドライブ３０には、磁気テープカートリッジ１０が装填される。磁気テープカートリッジ１０は磁気テープＭＴを収容している。磁気テープドライブ３０は、装填された磁気テープドライブ３０から磁気テープＭＴを引き出し、引き出した磁気テープＭＴを走行させながら、磁気テープＭＴに対してデータを記録したり、磁気テープＭＴからデータを読み取ったりする。

次に、図２～図４を参照しながら、磁気テープカートリッジ１０の構成の一例について説明する。なお、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、磁気テープカートリッジ１０の磁気テープドライブ３０（図５参照）への装填方向を矢印Ａで示し、矢印Ａ方向を磁気テープカートリッジ１０の前方向とし、磁気テープカートリッジ１０の前方向の側を磁気テープカートリッジ１０の前側とする。以下に示す構造の説明において、「前」とは、磁気テープカートリッジ１０の前側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、矢印Ａ方向と直交する矢印Ｂ方向を右方向とし、磁気テープカートリッジ１０の右方向の側を磁気テープカートリッジ１０の右側とする。以下に示す構造の説明において、「右」とは、磁気テープカートリッジ１０の右側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、矢印Ｂ方向と逆の方向を左方向とし、磁気テープカートリッジ１０の左方向の側を磁気テープカートリッジ１０の左側とする。以下に示す構造の説明において、「左」とは、磁気テープカートリッジ１０の左側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、矢印Ａ方向及び矢印Ｂ方向と直交する方向を矢印Ｃで示し、矢印Ｃ方向を磁気テープカートリッジ１０の上方向とし、磁気テープカートリッジ１０の上方向の側を磁気テープカートリッジ１０の上側とする。以下に示す構造の説明において、「上」とは、磁気テープカートリッジ１０の上側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、磁気テープカートリッジ１０の前方向と逆の方向を磁気テープカートリッジ１０の後方向とし、磁気テープカートリッジ１０の後方向の側を磁気テープカートリッジ１０の後側とする。以下に示す構造の説明において、「後」とは、磁気テープカートリッジ１０の後側を指す。

また、以下の説明では、説明の便宜上、図２～図４において、磁気テープカートリッジ１０の上方向と逆の方向を磁気テープカートリッジ１０の下方向とし、磁気テープカートリッジ１０の下方向の側を磁気テープカートリッジ１０の下側とする。以下に示す構造の説明において、「下」とは、磁気テープカートリッジ１０の下側を指す。

また、以下の説明では、磁気テープカートリッジ１０の仕様としてＬＴＯを例に挙げて説明するが、これはあくまでも一例に過ぎず、ＩＢＭ３５９２の磁気テープカートリッジの仕様に準じていてもよい。

また、以下の説明において、特に断りがない限り、角度が深い（大きい）又は浅い（小さい）とは、現時点の角度に比べて角度が深い又は浅い、ということを意味する。また、以下の説明において、特に断りがない限り、磁気テープＭＴの幅が広い又は狭いとは、基準の幅に比べて広い又は狭い、ということを意味する。基準の幅は、固定値又は可変値である。また、以下の説明において、特に断りがない限り、走行中の磁気テープＭＴにかかる張力が強い又は弱いとは、基準の張力に比べて強い又は弱い、ということを意味する。基準の張力は、固定値又は可変値である。ここで、可変値とは、例えば、外部から与えられた指示、及び／又は、予め定められた条件に応じて変動する値である。

一例として図２に示すように、磁気テープカートリッジ１０は、平面視略矩形であり、かつ、箱状のケース１２を備えている。ケース１２は、本開示の技術に係る「ケース」の一例である。ケース１２には、磁気テープＭＴが収容される。ケース１２は、ポリカーボネート等の樹脂製であり、上ケース１４及び下ケース１６を備えている。上ケース１４及び下ケース１６は、上ケース１４の下周縁面と下ケース１６の上周縁面とを接触させた状態で、溶着（例えば、超音波溶着）及びビス止めによって接合されている。接合方法は、溶着及びビス止めに限らず、他の接合方法であってもよい。

ケース１２の内部には、カートリッジリール１８が回転可能に収容されている。カートリッジリール１８は、リールハブ１８Ａ、上フランジ１８Ｂ１、及び下フランジ１８Ｂ２を備えている。リールハブ１８Ａは、円筒状に形成されている。リールハブ１８Ａは、カートリッジリール１８の軸心部であり、軸心方向がケース１２の上下方向に沿っており、ケース１２の中央部に配置されている。上フランジ１８Ｂ１及び下フランジ１８Ｂ２の各々は円環状に形成されている。リールハブ１８Ａの上端部には上フランジ１８Ｂ１の平面視中央部が固定されており、リールハブ１８Ａの下端部には下フランジ１８Ｂ２の平面視中央部が固定されている。なお、リールハブ１８Ａと下フランジ１８Ｂ２が一体として成型されていてもよい。

リールハブ１８Ａの外周面には、磁気テープＭＴが巻き回されており、磁気テープＭＴの幅方向の端部は上フランジ１８Ｂ１及び下フランジ１８Ｂ２によって保持されている。

ケース１２の右壁１２Ａの前側には、開口１２Ｂが形成されている。磁気テープＭＴは、開口１２Ｂから引き出される。

一例として図３に示すように、下ケース１６にはカートリッジメモリ１９が設けられている。具体的には、下ケース１６の右後端部に、カートリッジメモリ１９が収容されている。カートリッジメモリ１９は、本開示の技術に係る「非接触式通信媒体」の一例である。本実施形態では、いわゆるパッシブ型のＲＦＩＤタグがカートリッジメモリ１９として採用されている。

カートリッジメモリ１９には、磁気テープＭＴに関する情報が記憶されている。磁気テープＭＴに関する情報とは、例えば、磁気テープカートリッジ１０を管理する管理情報を指す。管理情報には、例えば、カートリッジメモリ１９に関する情報、磁気テープカートリッジ１０を特定可能な情報、磁気テープＭＴの記録容量、磁気テープＭＴに記録されているデータの概要、データの項目、及びデータの記録形式等を示す情報が含まれている。

カートリッジメモリ１９は、非接触式読み書き装置との間で非接触通信を行う。非接触式読み書き装置としては、例えば、磁気テープカートリッジ１０の製造工程で使用される非接触式読み書き装置、及び、磁気テープドライブ（例えば、図５に示す磁気テープドライブ３０）内で使用される非接触式読み書き装置（例えば、図５～図７に示す非接触式読み書き装置５０）が挙げられる。

非接触式読み書き装置は、カートリッジメモリ１９に対して、非接触式で各種情報の読み書きを行う。詳しくは後述するが、カートリッジメモリ１９は、非接触式読み書き装置から与えられた磁界ＭＦ（図６等参照）に対して電磁的に作用することで電力を生成する。そして、カートリッジメモリ１９は、生成した電力を用いて作動し、磁界ＭＦを介して非接触式読み書き装置と通信を行うことで非接触式読み書き装置との間で各種情報の授受を行う。なお、通信方式は、例えば、ＩＳＯ１４４４３又はＩＳＯ１８０９２等の公知の規格に準じる方式であってもよいし、ＥＣＭＡ３１９のＬＴＯ仕様に準じる方式等であってもよい。

一例として図３に示すように、下ケース１６の右後端部の底板１６Ａの内面には、支持部材２０が設けられている。支持部材２０は、カートリッジメモリ１９を傾斜させた状態で下方から支持する一対の傾斜台である。一対の傾斜台は、第１傾斜台２０Ａ及び第２傾斜台２０Ｂである。第１傾斜台２０Ａ及び第２傾斜台２０Ｂは、ケース１２の左右方向に間隔を隔てて配置されており、下ケース１６の後壁１６Ｂの内面及び底板１６Ａの内面に一体化されている。第１傾斜台２０Ａは、傾斜面２０Ａ１を有しており、傾斜面２０Ａ１は、後壁１６Ｂの内面から底板１６Ａの内面に向けて下り傾斜している。また、第２傾斜台２０Ｂは、傾斜面２０Ｂ１を有しており、傾斜面２０Ｂ１も、後壁１６Ｂの内面から底板１６Ａの内面に向けて下り傾斜している。

支持部材２０の前方側には、一対の位置規制リブ２２が左右方向に間隔を隔てて配置されている。一対の位置規制リブ２２は、底板１６Ａの内面に立設されており、支持部材２０に配置された状態のカートリッジメモリ１９の下端部の位置を規制する。

一例として図４に示すように、底板１６Ａの外面には基準面１６Ａ１が形成されている。基準面１６Ａ１は、平面である。ここで、平面とは、底板１６Ａを下側にして下ケース１６を水平面に置いた場合において、水平面に対して平行な面を指す。ここで、「平行」とは、完全な平行の他に、本開示の技術が属する技術分野で一般的に許容される誤差であって、本開示の技術の趣旨に反しない程度の誤差を含めた意味合いでの平行を指す。支持部材２０の傾斜角度θ、すなわち、傾斜面２０Ａ１及び傾斜面２０Ｂ１（図３参照）の傾斜角度は、基準面１６Ａ１に対して４５度である。なお、４５度は、あくまでも一例に過ぎず、“０度＜傾斜角度θ＜４５度”であってもよいし、４５度以上であってもよい。

カートリッジメモリ１９は、基板２６を備えている。基板２６は、基板２６の裏面２６Ａを下側に向けて支持部材２０上に置かれ、支持部材２０は、基板２６の裏面２６Ａを下方から支持する。基板２６の裏面２６Ａの一部は、支持部材２０の傾斜面、すなわち、傾斜面２０Ａ１及び２０Ｂ１（図３参照）に接触しており、基板２６の表面２６Ｂは、上ケース１４の天板１４Ａの内面１４Ａ１側に露出している。

上ケース１４は、複数のリブ２４を備えている。複数のリブ２４は、ケース１２の左右方向に間隔を隔てて配置されている。複数のリブ２４は、上ケース１４の天板１４Ａの内面１４Ａ１から下側に突設されており、各リブ２４の先端面２４Ａは、傾斜面２０Ａ１及び２０Ｂ１（図３参照）に対応した傾斜面を有する。すなわち、各リブ２４の先端面２４Ａは、基準面１６Ａ１に対して４５度に傾斜している。

カートリッジメモリ１９が支持部材２０に配置された状態で、上述したように上ケース１４が下ケース１６に接合されると、各リブ２４の先端面２４Ａは、基板２６に対して表面２６Ｂ側から接触し、基板２６は、各リブ２４の先端面２４Ａと支持部材２０の傾斜面２０Ａ１及び２０Ｂ１（図３参照）とで挟み込まれる。これにより、カートリッジメモリ１９の上下方向の位置がリブ２４によって規制される。

一例として図５に示すように、磁気テープドライブ３０は、搬送装置３４、記録ヘッド３６Ａ、読取ヘッド３６Ｂ、及び制御装置３８を備えている。磁気テープドライブ３０には、磁気テープカートリッジ１０が装填される。磁気テープドライブ３０は、磁気テープカートリッジ１０から磁気テープＭＴを引き出し、引き出した磁気テープＭＴに記録ヘッド３６Ａの複数の読取素子ＤＲ（図１３参照）を用いてデータを記録し、かつ、引き出した磁気テープＭＴから読取ヘッド３６Ｂの複数の記録素子ＤＷ（図１３参照）を用いてデータをリニアサーペンタイン方式で読み取る装置である。また、詳しくは後述するが、記録ヘッド３６Ａ及び読取ヘッド３６Ｂは何れも、磁気テープＭＴ上でスキューするスキューヘッドである。本実施形態において、データの読み取りとは、換言すると、データの再生を指す。なお、以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、記録ヘッド３６Ａ及び読取ヘッド３６Ｂを磁気ヘッド３６と表記する。

制御装置３８は、磁気テープドライブ３０の全体の動作を制御する。本実施形態において、制御装置３８は、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）によって実現されているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、制御装置３８は、ＦＰＧＡによって実現されるようにしてもよい。また、制御装置３８は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭを含むコンピュータによって実現されるようにしてもよい。また、ＡＳＩＣ１２０、ＦＰＧＡ、及びコンピュータのうちの２つ以上を組み合わせて実現されるようにしてもよい。すなわち、制御装置３８は、ハードウェア構成とソフトウェア構成との組み合わせによって実現されるようにしてもよい。

搬送装置３４は、磁気テープＭＴを順方向及び逆方向に選択的に搬送する装置であり、送出モータ４０、巻取リール４２、巻取モータ４４、複数のガイドローラＧＲ、及び制御装置３８を備えている。なお、ここで、順方向とは、磁気テープＭＴの送り出し方向を指し、逆方向とは、磁気テープＭＴの巻き戻し方向を指す。

送出モータ４０は、制御装置３８の制御下で、磁気テープカートリッジ１０内のカートリッジリール１８を回転させる。制御装置３８は、送出モータ４０を制御することで、カートリッジリール１８の回転方向、回転速度、及び回転トルク等を制御する。

磁気テープＭＴが巻取リール４２によって巻き取られる場合（ロードする場合）には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが順方向に走行するように送出モータ４０を回転させる。送出モータ４０の回転速度及び回転トルク等は、巻取リール４２によって巻き取られる磁気テープＭＴの速度に応じて調整される。

巻取モータ４４は、制御装置３８の制御下で、巻取リール４２を回転させる。制御装置３８は、巻取モータ４４を制御することで、巻取リール４２の回転方向、回転速度、及び回転トルク等を制御する。

磁気テープＭＴが巻取リール４２によって巻き取られる場合には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが順方向に走行するように巻取モータ４４を回転させる。巻取モータ４４の回転速度及び回転トルク等は、巻取リール４２によって巻き取られる磁気テープＭＴの速度に応じて調整される。このようにして送出モータ４０及び巻取モータ４４の各々の回転速度及び回転トルク等が制御装置３８によって調整されることで、磁気テープＭＴに張力が付与される。なお、送出モータ４０及び巻取モータ４４は、本開示の技術に係る「張力付与機構」の一例である。

なお、磁気テープＭＴをカートリッジリール１８に巻き戻す場合（アンロードする場合）には、制御装置３８は、磁気テープＭＴが逆方向に走行するように送出モータ４０及び巻取モータ４４を回転させる。

本実施形態では、送出モータ４０及び巻取モータ４４の回転速度及び回転トルク等が制御されることにより磁気テープＭＴに掛けられる張力が制御されているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、磁気テープＭＴに掛けられる張力は、ダンサローラを用いて制御されるようにしてもよいし、バキュームチャンバに磁気テープＭＴを引き込むことによって制御されるようにしてもよい。

複数のガイドローラＧＲの各々は、磁気テープＭＴを案内するローラである。磁気テープＭＴの走行経路は、複数のガイドローラＧＲが磁気テープカートリッジ１０と巻取リール４２との間において磁気ヘッド３６を跨ぐ位置に分けて配置されることによって定められている。

記録ヘッド３６Ａは、磁気素子ユニット４６Ａ及びホルダ４８Ａを備えている。磁気素子ユニット４６Ａは、走行中の磁気テープＭＴに接触するようにホルダ４８Ａによって保持されている。磁気素子ユニット４６Ａは、後述するサーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２と、後述する記録素子ＤＷ１、ＤＷ２、ＤＷ３、ＤＷ４、ＤＷ５、ＤＷ６、ＤＷ７及びＤＷ８と、を有する。磁気素子ユニット４６Ａは、搬送装置３４によって搬送される磁気テープＭＴにデータを記録したり、搬送装置３４によって搬送される磁気テープＭＴからサーボパターン５１（図１３参照）を読み取ったりする。

読取ヘッド３６Ｂは、磁気素子ユニット４６Ｂ及びホルダ４８Ｂを備えている。磁気素子ユニット４６Ｂは、走行中の磁気テープＭＴに接触するようにホルダ４８Ｂによって保持されている。磁気素子ユニット４６Ｂは、後述するサーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２と、後述する読取素子ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７及びＤＲ８と、を有する。磁気素子ユニット４６Ｂは、搬送装置３４によって搬送される磁気テープＭＴにデータを記録したり、搬送装置３４によって搬送される磁気テープＭＴからサーボパターン５１（図１３参照）を読み取ったりする。

磁気テープドライブ３０は、非接触式読み書き装置５０を備えている。非接触式読み書き装置５０は、磁気テープカートリッジ１０が装填された状態の磁気テープカートリッジ１０の下側にてカートリッジメモリ１９の裏面２６Ａに正対するように配置されている。なお、磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填された状態とは、例えば、磁気ヘッド３６による磁気テープＭＴに対するデータの読み取りを開始する位置として事前に定められた位置に、磁気テープカートリッジ１０が到達した状態を指す。

一例として図６に示すように、非接触式読み書き装置５０は、磁気テープカートリッジ１０の下側からカートリッジメモリ１９に向けて磁界ＭＦを放出する。磁界ＭＦは、カートリッジメモリ１９を貫通する。

一例として図７に示すように、非接触式読み書き装置５０は、制御装置３８に接続されている。制御装置３８は、制御信号を非接触式読み書き装置５０に出力する。制御信号は、カートリッジメモリ１９を制御する信号である。非接触式読み書き装置５０は、制御装置３８から入力された制御信号に従って、磁界ＭＦをカートリッジメモリ１９に向けて放出する。磁界ＭＦは、カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａ側から表面２６Ｂ側に貫通する。

非接触式読み書き装置５０は、カートリッジメモリ１９との間で非接触通信を行うことで、制御信号に応じたコマンド信号をカートリッジメモリ１９に与える。より詳しく説明すると、非接触式読み書き装置５０は、制御装置３８の制御下で、コマンド信号をカートリッジメモリ１９に空間伝送する。詳しくは後述するが、コマンド信号は、カートリッジメモリ１９に対する指令を示す信号である。

コマンド信号が非接触式読み書き装置５０からカートリッジメモリ１９に空間伝送される場合、磁界ＭＦには、非接触式読み書き装置５０によって、制御装置３８からの指示に応じたコマンド信号が含まれる。換言すると、磁界ＭＦには、非接触式読み書き装置５０によってコマンド信号が重畳される。すなわち、非接触式読み書き装置５０は、制御装置３８の制御下で、磁界ＭＦを介してコマンド信号をカートリッジメモリ１９に送信する。

カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂには、ＩＣチップ５２及びコンデンサ５４が搭載されている。ＩＣチップ５２及びコンデンサ５４は、表面２６Ｂに接着されている。また、カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂにおいて、ＩＣチップ５２及びコンデンサ５４は封止材５６によって封止されている。ここでは、封止材５６として、紫外線に反応して硬化する紫外線硬化樹脂が採用されている。なお、紫外線硬化樹脂は、あくまでも一例に過ぎず、紫外線以外の波長域の光に反応して硬化する光硬化樹脂を封止材５６として使用してもよいし、熱硬化性樹脂を封止材５６として使用してもよいし、他の接着剤を封止材５６として使用してもよい。

一例として図８に示すように、カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａには、コイル６０がループ状に形成されている。ここでは、コイル６０の素材として、銅箔が採用されている。銅箔は、あくまでも一例に過ぎず、例えば、アルミニウム箔等の他種類の導電性素材であってもよい。コイル６０は、非接触式読み書き装置５０から与えられた磁界ＭＦ（図６及び図７参照）が作用することで誘導電流を誘起する。

カートリッジメモリ１９の裏面２６Ａには、第１導通部６２Ａ及び第２導通部６２Ｂが設けられている。第１導通部６２Ａ及び第２導通部６２Ｂは、はんだを有しており、表面２６ＢのＩＣチップ５２（図７及び図９参照）及びコンデンサ５４（図７及び図９参照）に対してコイル６０の両端部を電気的に接続している。

一例として図９に示すように、カートリッジメモリ１９の表面２６Ｂにおいて、ＩＣチップ５２及びコンデンサ５４は、ワイヤ接続方式で互いに電気的に接続されている。具体的には、ＩＣチップ５２の正極端子及び負極端子のうちの一方の端子が配線６４Ａを介して第１導通部６２Ａに接続されており、他方の端子が配線６４Ｂを介して第２導通部６２Ｂに接続されている。また、コンデンサ５４は、一対の電極を有する。図９に示す例では、一対の電極は、電極５４Ａ及び５４Ｂである。電極５４Ａは、配線６４Ｃを介して第１導通部６２Ａに接続されており、電極５４Ｂは、配線６４Ｄを介して第２導通部６２Ｂに接続されている。これにより、コイル６０に対して、ＩＣチップ５２及びコンデンサ５４は並列に接続される。

一例として図１０に示すように、ＩＣチップ５２は、内蔵コンデンサ８０、電源回路８２、コンピュータ８４、クロック信号生成器８６、及び信号処理回路８８を備えている。ＩＣチップ５２は、磁気テープカートリッジ１０以外の用途にも使用可能な汎用タイプのＩＣチップである。

カートリッジメモリ１９は、電力生成器７０を備えている。電力生成器７０は、非接触式読み書き装置５０から与えられた磁界ＭＦがコイル６０に対して作用することで電力を生成する。具体的には、電力生成器７０は、共振回路９２を用いて交流電力を生成し、生成した交流電力を直流電力に変換して出力する。

電力生成器７０は、共振回路９２及び電源回路８２を有する。共振回路９２は、コンデンサ５４、コイル６０、及び内蔵コンデンサ８０を備えている。内蔵コンデンサ８０は、ＩＣチップ５２に内蔵されているコンデンサであり、電源回路８２もＩＣチップ５２に内蔵されている回路である。内蔵コンデンサ８０は、コイル６０に対して並列に接続されている。

コンデンサ５４は、ＩＣチップ５２に対して外付けされたコンデンサである。ＩＣチップ５２は、本来、磁気テープカートリッジ１０とは異なる用途でも用いることが可能な汎用のＩＣチップである。そのため、内蔵コンデンサ８０の容量は、磁気テープカートリッジ１０で用いられるカートリッジメモリ１９で要求される共振周波数を実現するには不足している場合がある。そこで、カートリッジメモリ１９では、磁界ＭＦが作用することで共振回路９２を予め定められた共振周波数で共振させる上で必要な容量値を有するコンデンサとして、ＩＣチップ５２に対してコンデンサ５４が後付けされている。なお、予め定められた共振周波数に相当する周波数（例えば、１３．５６ＭＨｚ）であり、カートリッジメモリ１９及び／又は非接触式読み書き装置５０の仕様等によって適宜決定されればよい。また、コンデンサ５４の容量は、内蔵コンデンサ８０の容量の実測値に基づいて定められている。また、ここでは、コンデンサ５４が外付けされている形態例を挙げているが、本開示の技術はこれに限定されず、ＩＣチップ５２に対してコンデンサ５４が事前に組み込まれていてもよい。

共振回路９２は、磁界ＭＦがコイル６０を貫通することでコイル６０によって誘起された誘導電流を用いて、予め定められた共振周波数の共振現象を発生させることで交流電力を生成し、生成した交流電力を電源回路８２に出力する。

電源回路８２は、整流回路及び平滑回路等を有する。整流回路は、複数のダイオードを有する全波整流回路である。全波整流回路は、あくまでも一例に過ぎず、半波整流回路であってもよい。平滑回路は、コンデンサ及び抵抗を含んで構成されている。電源回路８２は、共振回路９２から入力された交流電力を直流電力に変換し、変換して得た直流電力（以下、単に「電力」とも称する）をＩＣチップ５２内の各種の駆動素子に供給する。各種の駆動素子としては、コンピュータ８４、クロック信号生成器８６、及び信号処理回路８８が挙げられる。このように、電力生成器７０によってＩＣチップ５２内の各種の駆動素子に対して電力が供給されることで、ＩＣチップ５２は、電力生成器７０によって生成された電力を用いて動作する。

コンピュータ８４は、カートリッジメモリ１９の全体の動作を制御する。クロック信号生成器８６は、クロック信号を生成して信号処理回路８８等に出力する。信号処理回路８８等は、クロック信号生成器８６から入力されたクロック信号に従って動作する。クロック信号生成器８６は、コンピュータ８４の指示に従って、クロック信号の周波数を変更する。

信号処理回路８８は、共振回路９２に接続されている。信号処理回路８８は、復号回路（図示省略）及び符号化回路（図示省略）を有する。信号処理回路８８の復号回路は、コイル６０によって受信された磁界ＭＦからのコマンド信号を抽出して復号し、コンピュータ８４に出力する。コンピュータ８４は、コマンド信号に対する応答信号を信号処理回路８８に出力する。すなわち、コンピュータ８４は、信号処理回路８８から入力されたコマンド信号に応じた処理を実行し、処理結果を応答信号として信号処理回路８８に出力する。コンピュータ８４から応答信号が入力されると、信号処理回路８８の符号化回路は、応答信号を符号化することで変調して共振回路９２に出力する。共振回路９２は、信号処理回路８８の符号化回路から入力された応答信号を、磁界ＭＦを介して非接触式読み書き装置５０に送信する。

一例として図１１に示すように、コンピュータ８４は、ＣＰＵ９４、ＮＶＭ９６、及びＲＡＭ９８を備えている。ＣＰＵ９４、ＮＶＭ９６、及びＲＡＭ９８は、バス１００に接続されている。

ＣＰＵ９４は、コンピュータ８４の動作を制御する。ＮＶＭ９６は、本開示の技術に係る「記憶媒体」及び「内蔵メモリ」の一例である。ＮＶＭ９６の一例としては、ＥＥＰＲＯＭが挙げられる。ＥＥＰＲＯＭは、これはあくまでも一例に過ぎず、例えば、ＥＥＰＲＯＭに代えて強誘電体メモリであってもよく、ＩＣチップ５２に搭載可能な不揮発性メモリであれば如何なるメモリであってもよい。ＮＶＭ９６には、管理情報等が記憶されている。ＲＡＭ９８は、各種情報を一時的に記憶し、ワークメモリとして用いられる。ＲＡＭ９８の一例としては、ＤＲＡＭ又はＳＲＡＭ等が挙げられる。

ＣＰＵ９４は、信号処理回路８８から入力されたコマンド信号に応じて、ポーリング処理、読出処理、及び書込処理等を選択的に行う。ポーリング処理は、非接触式読み書き装置５０との間で通信を確立する処理であり、例えば、読出処理及び書込処理の前段階の準備処理として行われる。読出処理は、ＮＶＭ９６から管理情報等を読み出す処理である。書込処理は、ＮＶＭ９６に管理情報等を書き込む処理である。

一例として図１２に示すように制御装置３８は、ＡＳＩＣ１２０及びストレージ１２２を備えている。ＡＳＩＣ１２０及びストレージ１２２は、バス１２４に接続されている。この接続方式は、あくまでも一例に過ぎず、ストレージ１２２等の各種デバイスはＡＳＩＣ１２０に対して個別に直接接続されていてもよい。また、バス１２４には、送出モータ４０、巻取モータ４４、及び非接触式読み書き装置５０も接続されている。ＡＳＩＣ１２０は、送出モータ４０及び巻取モータ４４を制御する。送出モータ４０及び巻取モータ４４は、ＡＳＩＣ１２０の制御下で、磁気テープＭＴを順方向及び逆方向に選択的に搬送する。また、送出モータ４０及び巻取モータ４４は、ＡＳＩＣ１２０の制御下で、磁気テープＭＴに対して許容範囲内の張力を付与し、かつ、許容範囲内で磁気テープＭＴにかかる張力を調整する。

なお、ここで、許容範囲とは、磁気ヘッド３６によるデータの記録及び／又は読み取りを問題なく行うことが可能な張力の範囲として、コンピュータ・シミュレーション及び／又は実機による試験等により予め得られた範囲を指す。許容範囲は、例えば、テーブル形式で規定されており、磁気テープカートリッジ１０の新製品がリリースされる度に更新されるようにしてもよいし、外部から与えられた指示、又は、予め定められた条件等によって変更されるようにしてもよいし、固定されていてもよい。

ＡＳＩＣ１２０は、非接触式読み書き装置５０を制御する。非接触式読み書き装置５０は、ＡＳＩＣ１２０の制御下で、コマンド信号をカートリッジメモリ１９に送信する。また、非接触式読み書き装置５０は、カートリッジメモリ１９に送信したコマンド信号に応じてカートリッジメモリ１９から送信された応答信号を受信する。

バス１２４には、記録ヘッド３６Ａ及び読取ヘッド３６Ｂも接続されており、ＡＳＩＣ１２０は、記録ヘッド３６Ａ及び読取ヘッド３６Ｂを制御する。記録ヘッド３６Ａは、ＡＳＩＣ１２０の制御下で、磁気テープＭＴに対してデータを記録するデータ記録動作、及び磁気テープＭＴからサーボパターン５１（図１４参照）を読み取るサーボ読取動作等を行う。読取ヘッド３６Ｂは、ＡＳＩＣ１２０の制御下で、磁気テープＭＴからデータを読み取るデータ読取動作、及びサーボ読取動作等を行う。

磁気テープドライブ３０は、第１移動機構１２９Ａを備えている。第１移動機構１２９Ａは、第１移動アクチュエータ１２９Ａ１を有する。第１移動アクチュエータ１２９Ａ１としては、例えば、ボイスコイルモータ及び／又はピエゾアクチュエータが挙げられる。第１移動アクチュエータ１２９Ａ１は、バス１２４に接続されており、ＡＳＩＣ１２０は、第１移動アクチュエータ１２９Ａ１を制御する。第１移動アクチュエータ１２９Ａ１は、ＡＳＩＣ１２０の制御下で動力を生成する。第１移動機構１２９Ａは、第１移動アクチュエータ１２９Ａ１によって生成された動力を受けることで動作する。ＡＳＩＣ１２０は、第１移動機構１２９Ａを用いたサーボ制御を行う。ここで、第１移動機構１２９Ａを用いたサーボ制御とは、記録ヘッド３６Ａによるサーボ読取動作によって磁気テープＭＴから読み取られたサーボパターン５１に従って第１移動機構１２９Ａを動作させることで記録ヘッド３６Ａを磁気テープＭＴの幅方向に移動させる制御を指す。

磁気テープドライブ３０は、第２移動機構１２９Ｂを備えている。第２移動機構１２９Ｂは、第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１を有する。第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１としては、例えば、ボイスコイルモータ及び／又はピエゾアクチュエータが挙げられる。第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１は、バス１２４に接続されており、ＡＳＩＣ１２０は、第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１を制御する。第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１は、ＡＳＩＣ１２０の制御下で動力を生成する。第２移動機構１２９Ｂは、第２移動アクチュエータ１２９Ｂ１によって生成された動力を受けることで動作する。ＡＳＩＣ１２０は、第２移動機構１２９Ｂを用いたサーボ制御を行う。ここで、第２移動機構１２９Ｂを用いたサーボ制御とは、読取ヘッド３６Ｂによるサーボ読取動作によって磁気テープＭＴから読み取られたサーボパターン５１に従って第２移動機構１２９Ｂを動作させることで読取ヘッド３６Ｂを磁気テープＭＴの幅方向に移動させる制御を指す。

磁気テープドライブ３０は、第１傾斜機構１３１Ａを備えている。第１傾斜機構１３１Ａは、本開示の技術に係る「傾斜機構」の一例である。第１傾斜機構１３１Ａは、第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１を有する。第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１としては、例えば、ボイスコイルモータ及び／又はピエゾアクチュエータが挙げられる。第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１は、バス１２４に接続されており、ＡＳＩＣ１２０は、第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１を制御する。第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１は、ＡＩＳＣ１２０の制御下で動力を生成する。第１傾斜機構１３１Ａは、第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１によって生成された動力を受けることで、記録ヘッド３６Ａを磁気テープＭＴの幅方向ＷＤ（図１３参照）に対して磁気テープＭＴの全長方向側に傾斜させる。

磁気テープドライブ３０は、第２傾斜機構１３１Ｂを備えている。第２傾斜機構１３１Ｂは、本開示の技術に係る「傾斜機構」の一例である。第２傾斜機構１３１Ｂは、第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１を有する。第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１としては、例えば、ボイスコイルモータ及び／又はピエゾアクチュエータが挙げられる。第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１は、バス１２４に接続されており、ＡＳＩＣ１２０は、第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１を制御する。第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１は、ＡＩＳＣ１２０の制御下で動力を生成する。第２傾斜機構１３１Ｂは、第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１によって生成された動力を受けることで、読取ヘッド３６Ｂを磁気テープＭＴの幅方向ＷＤ（図１３参照）に対して磁気テープＭＴの全長方向側に傾斜させる。なお、以下では、特に区別して説明する必要がない場合、第１傾斜機構１３１Ａ及び第２傾斜機構１３１Ｂを傾斜機構１３１と表記する。

一例として図１３に示すように、磁気テープＭＴの表面１３９には、サーボバンドＳＢ１、ＳＢ２及びＳＢ３と、データバンドＤＢ１及びＤＢ２と、が形成されている。なお、以下では、説明の便宜上、特に区別する必要がない場合、サーボバンドＳＢ１～ＳＢ３をサーボバンドＳＢと称し、データバンドＤＢ１及びＤＢ２をデータバンドＤＢと称する。

サーボバンドＳＢ１～ＳＢ３とデータバンドＤＢ１及びＤＢ２は、磁気テープＭＴの全長方向に沿って形成されている。ここで、磁気テープＭＴの全長方向とは、換言すると、磁気テープＭＴの長手方向（順方向及び逆方向）を指す。

サーボバンドＳＢ１～ＳＢ３は、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤで離間した位置に配列されている。例えば、サーボバンドＳＢ１～ＳＢ３は、幅方向ＷＤに沿って等間隔に配列されている。なお、本実施形態において、「等間隔」とは、完全な等間隔の他に、本開示の技術が属する技術分野で一般的に許容される誤差であって、本開示の技術の趣旨に反しない程度の誤差を含めた意味合いでの等間隔を指す。

データバンドＤＢ１は、サーボバンドＳＢ１とサーボバンドＳＢ２との間に配されており、データバンドＤＢ２は、サーボバンドＳＢ２とサーボバンドＳＢ３との間に配されている。つまり、サーボバンドＳＢとデータバンドＤＢとは、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに沿って交互に配列されている。

サーボバンドＳＢには、磁気テープＭＴの全長方向に沿ってサーボパターン５１が既定の間隔毎に形成されている。サーボパターン５１は、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂを有する。磁化領域５１Ａ及び５１Ｂは、幅方向ＷＤに沿った仮想的な直線に対して線対称に傾けられた一対の線状の磁化領域である。磁化領域５１Ａ及び５１Ｂは、互いに非平行であり、かつ、磁気テープＭＴの全長方向側の相反する方向に既定角度だけ傾いて形成されている。

なお、図１３に示す例では、３本のサーボバンドＳＢと２本のデータバンドＤＢとが示されているが、これはあくまでも一例に過ぎず、２本のサーボバンドＳＢと１本のデータバンドＤＢであってもよいし、４本以上のサーボバンドＳＢと３本以上のデータバンドＤＢであっても本開示の技術は成立する。

記録ヘッド３６Ａは、磁気テープＭＴの全長方向において読取ヘッド３６Ｂよりも巻取リール４２側に配置されている。記録ヘッド３６Ａは、複数の磁気素子を備えている。記録ヘッド３６Ａは、複数の磁気素子として、複数のサーボ読取素子ＷＳＲ及び複数の記録素子ＤＷを有する。

記録ヘッド３６Ａは、長尺方向に沿って磁気テープＭＴよりも幅広に形成されている。例えば、記録ヘッド３６Ａの長尺方向の長さは、最大の傾斜角度として予め定められた角度で記録ヘッド３６Ａを傾斜させた状態で、磁気素子ユニット４６Ａによって磁気テープＭＴの何れかのデータバンドＤＢに対してデータの書き込み（記録）が行われる場合に、少なくとも磁気テープＭＴを幅方向ＷＤに沿って覆う程度の長さである。複数のサーボ読取素子ＷＳＲ及び複数の記録素子ＤＷは、記録ヘッド３６Ａの平面視中央部に設けられており、記録ヘッド３６Ａの長尺方向に沿って直線状に間隔を空けて配置されている。

図１３に示す例では、複数のサーボ読取素子ＷＳＲとして、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２が例示されている。以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２をサーボ読取素子ＷＳＲと表記する。また、以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、サーボ読取素子ＷＳＲ及び記録素子ＤＷを、符号を付さずに「記録ヘッド側磁気素子」と表記する。

サーボ読取素子ＷＳＲは、サーボバンドＳＢに対応する位置に設けられている。図１３に示す例では、サーボ読取素子ＷＳＲ１は、サーボバンドＳＢ１に対応する位置に設けられており、サーボ読取素子ＷＳＲ２は、サーボバンドＳＢ２に対応する位置に設けられている。第１移動機構１２９Ａは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、サーボバンドＳＢによって読み取られたサーボパターン５１に従って記録ヘッド３６Ａを幅方向ＷＤに移動させる。

また、磁気素子ユニット４６Ａによるデータの書き込み対象とされるデータバンドＤＢが変更される場合（図１３に示す例では、磁気素子ユニット４６Ａによるデータの書き込み対象とされるデータバンドＤＢがデータバンドＤＢ１及びＤＢ２のうちの一方から他方に変更される場合）、第１移動機構１２９Ａは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、記録ヘッド３６Ａを幅方向ＷＤに移動させることで、サーボ読取素子ＷＳＲの位置を変更する。すなわち、第１移動機構１２９Ａは、記録ヘッド３６Ａを幅方向ＷＤに移動させることで、サーボ読取素子ＷＳＲ１を、サーボバンドＳＢ１に対応する位置及びサーボバンドＳＢ２に対応する位置のうちの一方から他方に移動させ、サーボ読取素子ＷＳＲ２を、サーボバンドＳＢ２に対応する位置及びサーボバンドＳＢ３に対応する位置のうちの一方から他方に移動させる。そして、トラッキング制御が行われることで、少なくとも１つの記録素子ＤＷによってデータバンドＤＢ内の指定箇所に対するデータの書き込みが行われる。

複数の記録素子ＤＷは、サーボ読取素子ＷＳＲ１とサーボ読取素子ＷＳＲ２との間に設けられている。すなわち、複数の記録素子ＤＷは、隣接するサーボ読取素子ＷＳＲ間に設けられている。複数の記録素子ＤＷは、記録ヘッド３６Ａの長手方向に沿って間隔を空けて（例えば、記録ヘッド３６Ａの長手方向に沿って等間隔に）配置されている。隣接するサーボバンドＳＢ間のデータバンドＤＢには、複数の記録素子ＤＷによってデータの記録が行われる。例えば、図１３に示すように、サーボ読取素子ＷＳＲ１の位置がサーボバンドＳＢ１の位置に対応しており、サーボ読取素子ＷＳＲ２の位置がサーボバンドＳＢ２の位置に対応している場合、複数の読取素子ＤＷは、データバンドＤＢ１へのデータの記録を行う。

読取ヘッド３６Ｂは、複数の磁気素子を備えている。読取ヘッド３６Ｂは、複数の磁気素子として、複数のサーボ読取素子ＲＳＲ及び複数の読取素子ＤＲを有する。読取ヘッド３６Ｂは、記録ヘッド３６Ａと同様に、長尺方向に沿って磁気テープＭＴよりも幅広に形成されている。例えば、読取ヘッド３６Ｂの長尺方向の長さは、最大の傾斜角度として予め定められた角度（例えば、記録ヘッド３６Ａと同一の角度）で読取ヘッド３６Ｂを傾斜させた状態で、磁気素子ユニット４６Ｂによって磁気テープＭＴの何れかのデータバンドＤＢに対してデータの読み取りが行われる場合に、少なくとも磁気テープＭＴを幅方向ＷＤに沿って覆う程度の長さである。複数のサーボ読取素子ＲＳＲ及び複数の読取素子ＤＲは、読取ヘッド３６Ｂの平面視中央部に設けられており、読取ヘッド３６Ｂの長尺方向に沿って直線状に間隔を空けて配置されている。

図１３に示す例では、複数のサーボ読取素子ＲＳＲとして、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２が例示されている。以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２をサーボ読取素子ＲＳＲと表記する。また、以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、サーボ読取素子ＷＳＲ及びサーボ読取素子ＲＳＲをサーボ読取素子ＳＲと表記する。また、以下では、説明の便宜上、特に区別して説明する必要がない場合、サーボ読取素子ＲＳＲ及び読取素子ＤＲを、符号を付さずに「読取ヘッド側磁気素子」と表記する。

サーボ読取素子ＲＳＲは、サーボバンドＳＢに対応する位置に設けられている。図１３に示す例では、サーボ読取素子ＲＳＲ１は、サーボバンドＳＢ１に対応する位置に設けられており、サーボ読取素子ＲＳＲ２は、サーボバンドＳＢ２に対応する位置に設けられている。第２移動機構１２９Ｂは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、サーボバンドＳＢによって読み取られたサーボパターン５１に従って読取ヘッド３６Ｂを幅方向ＷＤに移動させる。

また、磁気素子ユニット４６Ｂによるデータの読み取り対象とされるデータバンドＤＢが変更される場合（図１３に示す例では、磁気素子ユニット４６Ｂによるデータの読み取り対象とされるデータバンドＤＢがデータバンドＤＢ１及びＤＢ２のうちの一方から他方に変更される場合）、第２移動機構１２９Ｂは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、読取ヘッド３６Ｂを幅方向ＷＤに移動させることで、サーボ読取素子ＲＳＲの位置を変更する。すなわち、第２移動機構１２９Ｂは、読取ヘッド３６Ｂを幅方向ＷＤに移動させることで、サーボ読取素子ＲＳＲ１を、サーボバンドＳＢ１に対応する位置及びサーボバンドＳＢ２に対応する位置のうちの一方から他方に移動させ、サーボ読取素子ＲＳＲ２を、サーボバンドＳＢ２に対応する位置及びサーボバンドＳＢ３に対応する位置のうちの一方から他方に移動させる。そして、トラッキング制御が行われることで、少なくとも１つの読取素子ＤＲによってデータバンドＤＢ内の指定箇所に対するデータの読み取りが行われる。

複数の読取素子ＤＲは、サーボ読取素子ＲＳＲ１とサーボ読取素子ＲＳＲ２との間に設けられている。すなわち、複数の読取素子ＤＲは、隣接するサーボ読取素子ＲＳＲ間に設けられている。複数の読取素子ＤＲは、読取ヘッド３６Ｂの長手方向に沿って間隔を空けて（例えば、読取ヘッド３６Ｂの長手方向に沿って等間隔に）配置されている。隣接するサーボバンドＳＢ間のデータバンドＤＢには、複数の読取素子ＤＲによってデータの読み取りが行われる。例えば、図１３に示すように、サーボ読取素子ＲＳＲ１の位置がサーボバンドＳＢ１の位置に対応しており、サーボ読取素子ＲＳＲ２の位置がサーボバンドＳＢ２の位置に対応している場合、複数の読取素子ＤＲは、データバンドＤＢ１からのデータの読み取りを行う。

記録ヘッド３６Ａは、回転軸ＲＡ１を備えている。回転軸ＲＡ１は、記録ヘッド３６Ａの平面視中央部に設けられている。記録ヘッド３６Ａは、回転軸ＲＡ１を介して第１傾斜機構１３１Ａに回転可能に保持されている。記録ヘッド３６Ａは、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して磁気テープＭＴの全長方向側に傾斜した状態で第１傾斜機構１３１Ａによって保持されている。図１３に示す例では、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している。

第１傾斜機構１３１Ａは、第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１（図１２参照）の動力を受けることで、磁気テープＭＴの表面１３９上で回転軸ＲＡ１を中心にして記録ヘッド３６Ａを回転させる。第１傾斜機構１３１Ａは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、磁気テープＭＴの表面１３９上で回転軸ＲＡ１を中心にして記録ヘッド３６Ａを回転させることで、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向（アジマス）及び傾斜の角度を変更する。

読取ヘッド３６Ｂは、回転軸ＲＡ２を備えている。回転軸ＲＡ２は、読取ヘッド３６Ｂの平面視中央部に設けられている。読取ヘッド３６Ｂは、回転軸ＲＡ２を介して第２傾斜機構１３１Ｂに回転可能に保持されている。読取ヘッド３６Ｂは、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して磁気テープＭＴの全長方向側に傾斜した状態で第２傾斜機構１３１Ｂによって保持されている。図１３に示す例では、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している。

第２傾斜機構１３１Ｂは、第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１（図１２参照）の動力を受けることで、磁気テープＭＴの表面１３９上で回転軸ＲＡ２を中心にして読取ヘッド３６Ｂを回転させる。第２傾斜機構１３１Ｂは、ＡＳＩＣ１２０（図１２参照）の制御下で、磁気テープＭＴの表面１３９上で回転軸ＲＡ２を中心にして読取ヘッド３６Ｂを回転させることで、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向（アジマス）及び傾斜の角度を変更する。以下では、説明の便宜上、回転軸ＲＡ１及びＲＡ２を区別して説明する必要がない場合、回転軸ＲＡと表記する。

なお、図１３に示す例では、３本のサーボバンドＳＢが磁気テープＭＴに形成されているが、これはあくまでも一例に過ぎない。例えば、２本のサーボバンドＳＢのみが磁気テープＭＴに形成されているようにしてもよいし、４本以上のサーボバンドＳＢが磁気テープＭＴに形成されているようにしてもよい。また、サーボバンドＳＢの本数分だけサーボバンドＳＢに対応する位置にサーボ読取素子ＲＳＲが読取ヘッド３６Ｂに設けられ、サーボバンドＳＢの本数分だけサーボバンドＳＢに対応する位置にサーボ読取素子ＷＳＲが記録ヘッド３６Ａに設けられるようにしてもよい。

一例として図１４に示すように、データバンドＤＢ１には、データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７及びＤＴ８が形成されている。データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７及びＤＴ８は、本開示の技術に係る「複数のトラック」の一例である。

記録ヘッド３６Ａは、複数の記録素子ＤＷとして、幅方向ＷＤに沿って、サーボ読取素子ＷＳＲ１とサーボ読取素子ＷＳＲ２との間に、記録素子ＤＷ１、ＤＷ２、ＤＷ３、ＤＷ４、ＤＷ５、ＤＷ６、ＤＷ７及びＤＷ８を有する。記録素子ＤＷ１～ＤＷ８は、データトラックＤＴ１～ＤＴ８に１対１で対応している。

図１４に示す例では、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している。複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してどの程度傾斜しているかは、例えば、サーボ読取素子ＷＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１が読み取られることで得られる信号と、サーボ読取素子ＷＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１のサーボパターン５１が読み取られることで得られる信号との位相差からＡＳＩＣ１２０によって特定される。これ以外にも、サーボ読取素子ＷＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２の磁化領域５１Ａが読み取られたタイミングと、サーボ読取素子ＷＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１の磁化領域５１Ａが読み取られたタイミングとの時間差、及び／又は、サーボ読取素子ＷＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２の磁化領域５１Ｂが読み取られたタイミングと、サーボ読取素子ＷＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１の磁化領域５１Ｂが読み取られたタイミングとの時間差等からＡＳＩＣ１２０によって特定される、という方法もある。

一例として図１４に示すように、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態では、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行する。そして、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している間に記録素子ＤＷ１～ＤＷ８によってデータの記録が行われる。

なお、図示は省略するが、データバンドＤＢ２にも、データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７及びＤＴ８に相当する複数のデータトラックＤＴが形成されている。

また、以下では、特に区別する必要がない場合、データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７及びＤＴ８をデータトラックＤＴと表記し、記録素子ＤＷ１、ＤＷ２、ＤＷ３、ＤＷ４、ＤＷ５、ＤＷ６、ＤＷ７及びＤＷ８を記録素子ＤＷと表記する。また、以下では、特に区別する必要がない場合、読取素子ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７及びＤＲ８を記録素子ＤＲと表記する。

一例として図１５に示すように、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態では、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行する。そして、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している間に記録素子ＤＷ１～ＤＷ８によってデータの記録が行われる。

ここで、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態とは、図１４に示す記録ヘッド３６Ａが、幅方向ＷＤに沿って回転軸ＲＡ１（図１３参照）を通る仮想的な直線を軸にして線対称となる位置に傾斜している状態を指す。すなわち、磁気テープＭＴの全長方向において、図１５に示す記録ヘッド３６Ａ内の複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向は、図１４に示す記録ヘッド３６Ａ内の複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向と相反する方向である。

一例として図１６に示すように、データトラックＤＴの各々は、データトラック群ＤＴＧを１つずつ有する。すなわち、データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７、及びＤＴ８は、データトラック群ＤＴＧ１、ＤＴＧ２、ＤＴＧ３、ＤＴＧ４、ＤＴＧ５、ＤＴＧ６、ＤＴＧ７、及びＤＴＧ８に対応している。

データトラック群ＤＴＧ１は、データトラックＤＴ１＿１、ＤＴ１＿２、ＤＴ１＿３、ＤＴ１＿４、・・・及びＤＴ１＿１２が含まれている。記録素子ＤＷ１は、データトラック群ＤＴＧ１へのデータの記録、すなわち、データトラックＤＴ１＿１、ＤＴ１＿２、ＤＴ１＿３、ＤＴ１＿４、・・・及びＤＴ１＿１２へのデータの記録を担う。

具体的に言えば、データトラックＤＴ１＿１に対してデータの記録を行う場合、第１移動機構１２９Ａは記録ヘッド３６Ａを磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに移動させることで、記録素子ＤＷ１をデータトラックＤＴ１＿１上の位置（例えば、磁気テープＭＴのデータトラックＤＴ１＿１と正対する位置）まで移動させる。また、データトラックＤＴ１＿２に対してデータの記録を行う場合、第１移動機構１２９Ａは記録ヘッド３６Ａを磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに移動させることで、記録素子ＤＷ１をデータトラックＤＴ１＿２上の位置まで移動させる。データトラック群ＤＴＧ２～ＤＴＧ８、及び記録素子ＤＷ２～ＤＷ８についても同様である。

なお、以下では、説明の便宜上、データトラックＤＴ１、ＤＴ２、ＤＴ３、ＤＴ４、ＤＴ５、ＤＴ６、ＤＴ７、及びＤＴ８の末尾の符号を特に区別して説明する必要がない場合、“ｎ”と表記する。また、以下では、説明の便宜上、データトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちの末尾の符号を特に区別して説明する必要がない場合、“ｍ”と表記し、データトラックＤＴｎ＿ｍと称する。また、また、以下では、説明の便宜上、データトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちの末尾の符号が偶数の符号を特に区別して説明する必要がない場合、“ｍＥ”と表記し、偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥと称する。また、以下では、説明の便宜上、データトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちの末尾の符号が奇数の符号を特に区別して説明する必要がない場合、“ｍＯ”と表記し、奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯ“と称する。

ここで、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している場合、記録素子ＤＷ１～ＤＷ８によって奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯに対してデータの記録が行われる。また、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している場合、記録素子ＤＷ１～ＤＷ８によって偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥに対してデータの記録が行われる。

なお、このようなデータの記録方法はあくまでも一例に過ぎず、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している場合に、記録素子ＤＷ１～ＤＷ８によって偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥに対してデータの記録が行われ、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している場合に奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯに対してデータの記録が行われるようにしてもよい。

また、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している状態でデータトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちのデータトラックＤＴｎ＿１～ＤＴｎ＿６に対してデータの記録が行われ、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している状態でデータトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちのデータトラックＤＴｎ＿７～ＤＴｎ＿１２に対してデータの記録が行われる場合、偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥに対してデータの記録が行われる場合と奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯに対してデータの記録が行われる場合とで、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向を磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜させる態様と複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向を磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜させる態様とを切り替えるようにすればよい。

図１４～図１６に示したように、奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯに対してデータの記録が行われる場合には、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態とされるのに対し（図１４参照）、偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥに対してデータの記録が行われる場合には、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態とされる（図１５参照）。これは、複数のデータトラックＤＴのうちの隣接トラック、すなわち、奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯ及び偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥの各々に対して、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向として、相反する方向が割り当てられていることを意味する。

一例として図１７に示すように、読取ヘッド３６Ｂは、複数の読取素子ＤＲとして、幅方向ＷＤに沿って、サーボ読取素子ＲＳＲ１とサーボ読取素子ＲＳＲ２との間に、読取素子ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７及びＤＲ８を有する。読取素子ＤＲ１～ＤＲ８は、データトラックＤＴ１～ＤＴ８に１対１で対応している。

図１７に示す例では、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している。複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してどの程度傾斜しているかは、例えば、サーボ読取素子ＲＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１が読み取られることで得られる信号と、サーボ読取素子ＲＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１のサーボパターン５１が読み取られることで得られる信号との位相差からＡＳＩＣ１２０によって特定される。これ以外にも、サーボ読取素子ＲＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２の磁化領域５１Ａが読み取られたタイミングと、サーボ読取素子ＲＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１の磁化領域５１Ａが読み取られたタイミングとの時間差、及び／又は、サーボ読取素子ＲＳＲ２によってサーボバンドＳＢ２の磁化領域５１Ｂが読み取られたタイミングと、サーボ読取素子ＲＳＲ１によってサーボバンドＳＢ１の磁化領域５１Ｂが読み取られたタイミングとの時間差等からＡＳＩＣ１２０によって特定される、という方法もある。

一例として図１７に示すように、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態では、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行する。そして、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している間に読取素子ＤＲ１～ＤＲ８によってデータの読み取りが行われる。

一例として図１８に示すように、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態では、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行する。そして、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している間に読取素子ＤＲ１～ＤＲ８によってデータの読み取りが行われる。

読取素子ＤＲ１は、データトラック群ＤＴＧ１からのデータの読み取り、すなわち、データトラックＤＴ１＿１、ＤＴ１＿２、ＤＴ１＿３、ＤＴ１＿４、・・・、ＤＴ１＿１１及びＤＴ１＿１２からのデータの読み取りを担う。具体的に言えば、データトラックＤＴ１＿ｍに対してデータの記録を行う場合、第２移動機構１２９Ｂは読取ヘッド３６Ｂを磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに移動させることで、読取素子ＤＲ１をデータトラックＤＴ１＿ｍ上の位置（例えば、磁気テープＭＴの厚さ方向側でデータトラックＤＴ１＿１と正対する位置）まで移動させる。データトラック群ＤＴＧ２～ＤＴＧ８、及び記録素子ＤＲ２～ＤＲ８についても同様である。

ここで、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している場合、読取素子ＤＲ１～ＤＲ８によって奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯからデータの読み取りが行われる。また、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している場合、読取素子ＤＲ１～ＤＲ８によって偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥからデータの読み取りが行われる。

なお、このようなデータの読み取り方法はあくまでも一例に過ぎず、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している場合に、読取素子ＤＲ１～ＤＲ８によって偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥからデータの読み取りが行われ、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態で、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している場合に奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯからデータの読み取りが行われるようにしてもよい。

また、磁気テープＭＴが順方向に沿って走行している状態でデータトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちのデータトラックＤＴｎ＿１～ＤＴｎ＿６からデータの読み取りが行われ、磁気テープＭＴが逆方向に沿って走行している状態でデータトラックＤＴｎ＿１、ＤＴｎ＿２、ＤＴｎ＿３、ＤＴｎ＿４、・・・・ＤＴｎ＿１２のうちのデータトラックＤＴｎ＿７～ＤＴｎ＿１２からデータの読み取りが行われる場合、偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥからデータの読み取りが行われる場合と奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯからデータの読み取りが行われる場合とで、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向を磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜させる態様と複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向を磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜させる態様とを切り替えるようにすればよい。

図１７～図１９に示したように、奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯからデータの読み取りが行われる場合には、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対して巻取リール４２側に傾斜している状態とされるのに対し（図１７参照）、偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥからデータの読み取りが行われる場合には、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向が磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対してカートリッジリール１８側に傾斜している状態とされる（図１８参照）。これは、複数のデータトラックＤＴのうちの隣接トラック、すなわち、奇数データトラックＤＴｎ＿ｍＯ及び偶数データトラックＤＴｎ＿ｍＥの各々に対して、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向として、相反する方向が割り当てられていることを意味する。

ところで、一例として図２０に示すように、複数のサーボバンドＳＢが形成された磁気テープＭＴの幅は、時間の経過と共に縮まる。図２０に示す例では、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤの幅が縮まる態様が示されているが、逆に、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤの幅が拡がることもあり得る。磁気テープＭＴの幅が縮んだり拡がったりする要因としては、磁気テープＭＴの保存環境、及び磁気テープカートリッジ１０に装填された磁気テープＭＴにかかる応力等が考えられる。

例えば、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤの幅が時間の経過と共に縮まると、サーボ読取素子ＳＲのサーボパターン５１に対する位置が設計的に定められた既定位置（例えば、磁化領域５１Ａ及び磁化領域５１Ｂの中心位置）から外れてしまう。サーボ読取素子ＳＲのサーボパターン５１に対する位置が設計的に定められた既定位置から外れてしまうと、サーボ制御の精度が低下し、記録素子ＤＷとデータトラックＤＴとの位置がずれ、読取素子ＤＲとデータトラックＤＴとの位置もずれてしまう。

このような事情に鑑み、磁気テープシステム２では、図２１以降に示す処理が行われる。一例として図２１に示すように、磁気テープドライブ３０のＡＳＩＣ１２０は、第１位置検出部１２０Ａ、第２位置検出部１２０Ｂ、及びピッチ算出部１２０Ｄを有する。

第１位置検出部１２０Ａには、データバンドＤＢにデータが記録される前段階で、サーボ読取素子ＷＳＲ１によって読み取られたサーボバンドＳＢ１のサーボパターン５１に基づく第１サーボ信号が入力される。第１サーボ信号は、サーボバンドＳＢ１の磁化領域５１Ａ及び５１Ｂに対応する断続的なパルスである。第１位置検出部１２０Ａは、サーボ読取素子ＷＳＲ１から入力された第１サーボ信号のパルスの間隔に基づいて、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所（例えば、数メートル～数十メートルの一定間隔を空けた複数の箇所）で、サーボ読取素子ＷＳＲ１がサーボバンドＳＢ１の幅方向ＷＤのどの位置にあるかを検出し、検出結果をピッチ算出部１２０Ｄに出力する。

第２位置検出部１２０Ｂには、データバンドＤＢにデータが記録される前段階で、サーボ読取素子ＷＳＲ２によって読み取られたサーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１に基づく第２サーボ信号が入力される。第２サーボ信号は、サーボバンドＳＢ２の磁化領域５１Ａ及び５１Ｂに対応する断続的なパルスである。第２位置検出部１２０Ｂは、サーボ読取素子ＷＳＲ２から入力された第２サーボ信号のパルスの間隔に基づいて、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所で、サーボ読取素子ＷＳＲ２がサーボバンドＳＢ２の幅方向ＷＤのどの位置にあるかを検出し、検出結果をピッチ算出部１２０Ｄに出力する。

ここで、サーボ読取素子ＷＳＲがサーボバンドＳＢの幅方向ＷＤのどの位置にあるかを検出する具体的手法について説明する。

一例として図２２は、図１３に示したサーボパターン５１の１つを示している。サーボパターン５１の磁化領域５１Ａ及び５１Ｂは、幅方向ＷＤに沿った仮想的な直線に対して線対称に傾けられた一対の線状の磁化領域である。サーボ読取素子ＷＳＲは、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂを読み取るとそれぞれ磁化領域５１Ａ及び５１Ｂに対応したパルスを発生する。従って、磁気テープＭＴが順方向又は逆方向に走行している状態で、サーボ読取素子ＷＳＲがサーボパターン５１を読み取った場合、サーボ読取素子ＷＳＲの幅方向ＷＤに沿った位置により、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂによって発生するパルスの間隔に時間差が生じることになる。なお、サーボパターン５１は、必ずしも幅方向ＷＤに沿った仮想的な直線に対して線対称に傾けられた一対の線状である必要はない。サーボパターン５１は非平行な一対の線状の磁化領域であればよく、例えば磁化領域５１Ａが幅方向ＷＤに沿った仮想的な直線に対して平行で、磁化領域５１Ｂが幅方向ＷＤに沿った仮想的な直線に対して傾斜してもよい。

一方、送出モータ４０及び巻取モータ４４の回転速度及び回転トルクはＡＳＩＣ１２０によって制御されることから、ＡＳＩＣ１２０によって磁気テープＭＴの速度が算出可能である。従って、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂに対応したパルスの間隔と磁気テープＭＴの速度とから、サーボ読取素子ＳＲの幅方向ＷＤに沿った位置における磁化領域５１Ａから磁化領域５１Ｂまでの距離Ｄが得られる。なお、距離Ｄは、磁気テープＭＴの全長方向に沿った磁化領域５１Ａから磁化領域５１Ｂまでの距離である。

本実施形態では、複数のサーボ位置の各々について、距離Ｄが予め規定されている。複数のサーボ位置とは、例えば、各々のサーボバンドＳＢ内における幅方向ＷＤに沿った複数の位置を指す。例えば、サーボ位置は、幅方向ＷＤの一端側から他端側にかけてサーボバンドＳＢ毎に“１”から昇順に並ぶ番号により表される。各々のサーボバンドＳＢ内におけるサーボ読取素子ＷＳＲの幅方向ＷＤに沿った位置は、距離Ｄに基づいて特定される。本実施形態では、サーボ位置毎に予め規定されている距離Ｄを含む情報として、サーボパターン距離情報１４８が用いられる。サーボパターン距離情報１４８は、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階で磁気テープカートリッジ１０のＮＶＭ９６に記憶される。なお、距離Ｄは、本開示の技術に係る「複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の複数の位置における磁気テープの全長方向の距離」の一例である。また、サーボ位置は、本開示の技術に係る「複数のサーボバンド内における幅方向の複数の位置」の一例である。

ところで、サーボパターン５１は、サーボライタ（図示省略）によってサーボバンドＳＢに記録される。サーボライタは、サーボ信号書込ヘッド（図示省略）を有しており、サーボ信号書込ヘッドによってサーボバンドＳＢに磁化領域５１Ａ及び５１Ｂが形成される。一例として図２２に示すように、サーボバンドＳＢ上のサーボパターン５１は、直線状に記録されることが理想である。しかしながら、実際には、サーボ信号書込ヘッドの加工誤差により、一例として図２３に示すように、サーボパターン５１の磁化領域５１Ａ及び５１Ｂは直線状にならず湾曲することがある。なお、図２３に示したサーボパターン５１の例は、説明の便宜上、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂの歪みをわかりやすく模式化して示したものであり、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂの実際の歪みよりも強調している。

サーボバンドＳＢ内にサーボパターン５１を記録するサーボ信号書込ヘッドのギャップパターンは、サーボ信号書込ヘッドに形成されている。ギャップパターンは、サーボパターン５１と同じく一対の線状のパターンである。ギャップパターンの一対のパターンはサーボパターン５１と同じく互いに非平行であり、かつ、磁気テープＭＴの全長方向側の相反する方向に既定角度だけ傾いてサーボ信号書込ヘッドに形成されている。すなわち、ギャップパターンからの漏れ磁束が磁気テープＭＴの各々のサーボバンドＳＢを磁化することで、ギャップパターンと同じ形のサーボパターン５１が各々のサーボバンドＳＢに記録される。従って、サーボ信号書込ヘッドの加工誤差によりギャップパターンが湾曲していると、磁気テープＭＴ上に記録されるサーボパターン５１も湾曲することとなる。サーボ信号書込ヘッドのギャップパターンにおける磁気テープＭＴの全長方向に沿った一対のパターン間の距離が測定されることで、各々のサーボバンドＳＢ内における幅方向ＷＤに沿った複数のサーボ位置毎の距離Ｄが測定される。

一例として図２４は、サーボパターン距離情報１４８を示している。図２４に示す例では、サーボパターン距離情報１４８の一例として、サーボバンドＳＢ毎にサーボ位置、距離Ｄ、及びサーボ距離が定められた情報が示されている。図２４に示すサーボパターン距離情報１４８の例では、サーボバンドＳＢを識別する識別番号毎に、サーボ位置、距離Ｄ、及びサーボ距離が対応付けられている。換言すると、サーボパターン距離情報１４８には、各サーボバンドＳＢに対して複数のサーボ位置が対応付けられており、各サーボ位置に対して距離Ｄ及びサーボ距離が対応付けられている。すなわち、サーボパターン距離情報１４８には、サーボバンドＳＢとサーボ位置との組み合わせの各々に対する距離Ｄと、各々のサーボ位置に対応するサーボ距離が含まれている。サーボ距離は、サーボバンドＳＢの幅方向ＷＤにおける中点１４９の位置を基準とする各サーボ位置に対応した幅方向ＷＤにおける距離である。

図２４に示すサーボパターン距離情報１４８の例では、各々のサーボバンドＳＢ上にそれぞれ１９個のサーボ位置が設定されているが、サーボバンドＳＢ上に設定されるサーボ位置の数に制約はなく、複数のサーボ位置が設定されていればよい。また、図２４に示すサーボパターン距離情報１４８の例では、例えばサーボバンドＳＢの幅方向ＷＤにおける中点１４９に対応したサーボ位置のサーボ距離を０μｍとしている。その上で、中点１４９からの幅方向ＷＤに沿った距離が遠くにあるサーボ位置ほど、各サーボ位置におけるサーボ距離は長くなる。図２４に示すサーボパターン距離情報１４８の例では、中点１４９に対応したサーボ位置の距離Ｄより距離Ｄが短くなるサーボ位置のサーボ距離は正値（＋）で表され、中点に対応したサーボ位置の距離Ｄより距離Ｄが長くなるサーボ位置のサーボ距離は負値（－）で表される。

第１位置検出部１２０Ａ（図２１参照）は、第１サーボ信号のパルスの間隔から距離Ｄを算出し、サーボパターン距離情報１４８を参照することで、算出した距離Ｄに対応したサーボ読取素子ＷＳＲ１のサーボ位置を検出する。

第２位置検出部１２０Ｂ（図２１参照）は、第２サーボ信号のパルスの間隔から距離Ｄを算出し、サーボパターン距離情報１４８を参照することで、算出した距離Ｄに対応したサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボ位置を検出する。

ピッチ算出部１２０Ｄは、第１位置検出部１２０Ａ及び第２位置検出部１２０Ｂの各々から入力された検出結果に基づいて、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所で、幅方向ＷＤのサーボパターン５１のピッチを算出する。幅方向ＷＤのサーボパターン５１のピッチとは、サーボバンドＳＢ１のサーボパターン５１とサーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１とのピッチ、及び、サーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１とサーボバンドＳＢ３のサーボパターン５１とのピッチを指す。

図２１に示す例では、サーボバンドＳＢ１のサーボパターン５１とサーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１とのピッチがピッチ算出部１２０Ｄによって算出される態様が示されているが、これはあくまでも一例に過ぎない。例えば、磁気ヘッド３６を幅方向ＷＤに沿って移動させることで、サーボ読取素子ＷＳＲ１をサーボバンドＳＢ２上に位置させ、かつ、サーボ読取素子ＷＳＲ２をサーボバンドＳＢ３上に位置させれば、サーボバンドＳＢ２のサーボパターン５１とサーボバンドＳＢ３のサーボパターン５１とのピッチを、ピッチ算出部１２０Ｄに対して第１サーボ信号及び第２サーボ信号に基づいて算出させることが可能となる。

また、図２１に示す例では、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２によってサーボパターン５１が読み取られた結果に基づく第１及び第２サーボ信号が第１及び第２位置検出部１２０Ａ及び１２０Ｂに入力され、第１及び第２位置検出部１２０Ａ及び１２０Ｂが第１及び第２サーボ信号に基づいてサーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２がサーボバンドＳＢの幅方向ＷＤのどの位置にあるかを検出する形態例を挙げて説明したが、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２によってサーボパターン５１が読み取られた場合も、第１及び第２位置検出部１２０Ａ及び１２０Ｂによって同様の処理が行われる。すなわち、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２がサーボバンドＳＢの幅方向ＷＤのどの位置にあるかが検出される。

なお、以下では、特に区別して説明する必要がない場合は、第１位置検出部１２０Ａ及び第２位置検出部１２０Ｂを位置検出部１２１と表記し、第１サーボ信号及び第２サーボ信号をサーボ信号と表記する。

一例として図２５に示すように、ピッチ算出部１２０Ｄは、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所での幅方向ＷＤのサーボバンドＳＢ間のピッチを特定可能なピッチ情報１４２（例えば、サーボバンドＳＢ間のピッチそのものを示す情報）を非接触式読み書き装置５０に出力する。非接触式読み書き装置５０は、データバンドＤＢにデータが記録される前段階で、ピッチ情報１４２の書込指令を、コマンド信号としてカートリッジメモリ１９に空間伝送する。ＣＰＵ９４は、非接触式読み書き装置５０からのコマンド信号に応じて、ピッチ情報１４２をＮＶＭ９６に書き込む書込処理を行う。これにより、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所でのピッチ情報１４２がＮＶＭ９６に記憶される。

ここで、データバンドＤＢにデータが記録される前段階としては、例えば、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階が挙げられるが、本開示の技術はこれに限定されず、データバンドＤＢにデータが記録される前段階は、ユーザが初めて磁気テープドライブ３０に磁気テープカートリッジ１０を装填して初期化が行われた直後であってもよいし、磁気テープドライブ３０に磁気テープカートリッジ１０が装填される毎であってもよいし、磁気テープドライブ３０に磁気テープカートリッジ１０が装填されてからデータの記録が行われる前に磁気テープＭＴを１往復させながらピッチ情報１４２が取得され、取得されたピッチ情報１４２がＮＶＭ９６に記憶されるようにしてもよい。

図２６はピッチ情報１４２の一例を示す図である。ピッチ情報１４２は、サーボバンドＳＢ毎にサーボ位置及びピッチが定められた情報である。図２６に示す例では、サーボバンドＳＢを識別する識別番号毎に、サーボ位置及びピッチが対応付けられている。換言すると、ピッチ情報１４２には、各サーボバンドＳＢに対して複数のサーボ位置が対応付けられており、各サーボ位置に対してピッチが対応付けられている。すなわち、ピッチ情報１４２には、サーボバンドＳＢとサーボ位置の組み合わせの各々に対するピッチが含まれている。ピッチ情報１４２は、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所毎に測定され、ＮＶＭ９６に記憶される。

なお、ＮＶＭ９６に記憶されるピッチ情報１４２は、複数の磁気テープドライブ３０のうち、基準となる磁気テープドライブ３０（以下、「基準ドライブ」とも称する）から得られた情報である。なお、ここで言う「基準ドライブ」とは、世の中の標準的な磁気テープドライブ３０という意味ではない。如何なる磁気テープドライブ３０であっても、磁気テープカートリッジ１０にとって初回に使用される磁気テープドライブ３０であれば、ピッチを測定することが可能な「基準ドライブ」になり得る。

なお、磁気テープドライブ３０は、磁気テープドライブ３０によってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子ＳＲによって複数のサーボバンドＳＢが読み取られた結果と、複数のサーボ読取素子ＳＲ間の距離に基づいて算出したピッチを用いてピッチ情報１４２を生成してもよい。

具体的には、第１移動機構１２９Ａ及び第２移動機構は、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所で、それぞれサーボ読取素子ＷＳＲ１及びサーボ読取素子ＷＳＲ２、並びに、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びサーボ読取素子ＲＳＲ２をサーボバンドＳＢ上の位置に移動させる。位置検出部１２１は、複数の箇所で各サーボバンドＳＢの幅方向ＷＤに沿ったサーボ読取素子ＳＲのそれぞれの位置における距離Ｄを算出し、距離Ｄに対応したサーボ位置を検出する。ＡＳＩＣ１２０は、サーボ読取素子ＳＲのサーボ位置におけるサーボ距離と、サーボ読取素子間距離を用いて、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所におけるサーボ位置毎のピッチ情報１４２を生成する。距離Ｄに対応したサーボ位置は、本開示の技術に係る「複数のサーボ読取素子によって複数のサーボバンドが読み取られた結果」の一例である。

例えば、サーボ読取素子間距離が２８５８．６μｍで、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボ距離がそれぞれ２３．５５５μｍ及び２３．４５５μｍであるとする。この場合、サーボ読取素子ＷＳＲのサーボ位置におけるピッチは２８５８．５μｍ（２８５８．５＝２８５８．６－（２３．５５５－２３・４５５））となる。

このようにして、ＡＳＩＣ１２０は、サーボパターン距離情報１４８に規定されるサーボ位置毎のサーボ読取素子ＳＲのサーボ距離と、磁気テープドライブ３０のストレージ１２２に格納されているサーボ読取素子間距離を用いて、図２６に示すピッチ情報１４２を生成してもよい。

磁気テープドライブ３０の制御装置３８（図１２参照）において、一例として図２７に示すように、ＡＳＩＣ１２０は、位置検出部１２１、サーボ制御部１２３、記録制御部１２５、データ取得部１３０、読取制御部１３２、データ出力部１３４、傾斜制御部１３６、及び走行制御部１４０を有する。

走行制御部１４０は、送出モータ４０及び巻取モータ４４の各々の駆動を制御することで磁気テープＭＴを順方向及び逆方向に選択的に走行させる。送出モータ４０の駆動は、送出モータ制御信号（図示省略）に従って制御され、巻取モータ４４の駆動は、巻取モータ制御信号（図示省略）に従って制御される。送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号は、走行制御部１４０によって生成される。送出モータ制御信号は、走行制御部１４０によって送出モータ４０に供給され、巻取モータ制御信号は、走行制御部１４０によって巻取モータ４４に供給される。なお、以下では、特に区別する必要がない場合、送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号をモータ制御信号と称する。

走行制御部１４０は、カートリッジメモリ１９からピッチ情報１４２を取得し、取得したピッチ情報１４２をストレージ１２２に格納する。詳しくは後述するが、走行制御部１４０は、ストレージ１２２内のピッチ情報１４２によって特定される磁気ヘッド３６の幅方向ＷＤでの位置におけるピッチに従って、送出モータ４０及び巻取モータ４４の各々の回転速度及び回転トルクを調整することで、磁気テープＭＴの走行速度及び張力を適値に調整する。磁気テープＭＴの走行速度及び張力の調整は、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について行われる。このように磁気テープＭＴの張力が調整されることによって磁気テープＭＴの幅が調整される。送出モータ４０及び巻取モータ４４の各々の回転速度及び回転トルクの調整は、送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号が走行制御部１４０によってピッチ情報１４２に従って補正されることで実現される。

走行制御部１４０は、ピッチ情報１４２によって特定される磁気ヘッド３６の幅方向ＷＤでの位置におけるピッチに従って補正されたモータ制御信号に基づいて、磁気テープＭＴにかかっている張力（以下、単に「張力」とも称する）を算出する。走行制御部１４０による張力の算出は、例えば、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について行われる。この場合、例えば、走行制御部１４０は、モータ制御信号を独立変数とし、張力を従属変数とした演算式を用いて張力を算出する。ここで用いられる演算式は、実機による試験及び／又はコンピュータ・シミュレーションによって予め得られた演算式である。

走行制御部１４０は、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について、モータ制御信号に基づいて算出した張力を示す張力情報を傾斜制御部１３６に出力する。

位置検出部１２１には、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２により読み取られたサーボパターン５１に基づく２通りのサーボ信号（以下、「記録ヘッド側サーボ信号」とも称する）と、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２により読み取られたサーボパターン５１に基づく２通りのサーボ信号（以下、「読取ヘッド側サーボ信号」とも称する）とが入力される。位置検出部１２１は、サーボ読取素子ＷＳＲ１のサーボバンドＳＢ内の位置及びサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボバンドＳＢ内の位置を検出し、検出した位置の平均値を算出する。そして、位置検出部１２１は、算出した平均値に基づいて、記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置を検出する。

なお、位置検出部１２１には、カートリッジメモリ１９からサーボパターン距離情報１４８が入力されてもよい。この場合、位置検出部１２１は、記録ヘッド側サーボ信号を用いて、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２で読み取りを行った各々のサーボバンドＳＢにおけるサーボパターン５１の距離Ｄを算出する。位置検出部１２１は、サーボパターン距離情報１４８を参照し、算出した各々の距離Ｄに対応するサーボ位置を、サーボ読取素子ＷＳＲ１のサーボバンドＳＢ内の位置及びサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボバンドＳＢ内の位置として検出し、検出した位置の平均値を算出する。そして、位置検出部１２１は、算出した平均値に基づいて、記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置を検出してもよい。

例えば、サーボバンドＳＢ１におけるサーボ読取素子ＷＳＲ１のサーボ位置が“１”で、サーボバンドＳＢ２におけるサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボ位置が“３”であれば、“２”によって表されるサーボ位置が、記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置となる。なお、図２４のサーボパターン距離情報１４８の例では、１９個のサーボ位置が設定されているが、サーボ位置の検出においては、サーボ位置を距離Ｄ及びサーボパターン距離情報１４８に基づいて演算し、サーボパターン距離情報１４８に設定されているサーボ位置の中間の値としてもよい。

また、位置検出部１２１は、サーボ読取素子ＲＳＲ１のサーボバンドＳＢ内の位置及びサーボ読取素子ＲＳＲ２のサーボバンドＳＢ内の位置を検出し、検出した位置の平均値を算出する。そして、位置検出部１２１は、算出した平均値に基づいて、読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置を検出する。

なお、位置検出部１２１は、読取ヘッド側サーボ信号を用いて、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２で読み取りを行った各々のサーボバンドＳＢにおけるサーボパターン５１の距離Ｄを算出してもよい。この場合、位置検出部１２１は、サーボパターン距離情報１４８を参照し、算出した各々の距離Ｄに対応するサーボ位置を、サーボ読取素子ＲＳＲ１のサーボバンドＳＢ内の位置及びサーボ読取素子ＲＳＲ２のサーボバンドＳＢ内の位置として検出し、検出した位置の平均値を算出する。そして、位置検出部１２１は、算出した平均値に基づいて、読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置を検出してもよい。

例えば、サーボバンドＳＢ１におけるサーボ読取素子ＲＳＲ１のサーボ位置が“１”で、サーボバンドＳＢ２におけるサーボ読取素子ＲＳＲ２のサーボ位置が“２”であれば、“１．５”によって表されるサーボ位置が、読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置となる。サーボ位置＝“１．５”は、図２４に示したサーボパターン距離情報１４８の例に設定されているサーボ位置の中間の値の一例である。

位置検出部１２１は、検出した記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置、及び検出した読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置をそれぞれサーボ制御部１２３及び走行制御部１４０に出力する。

以降では、磁気ヘッド３６の幅方向ＷＤでの位置の検出結果を、単に「磁気ヘッド３６の幅方向位置」ということにする。

サーボ制御部１２３は、位置検出部１２１からの記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置の検出結果（以下、「記録ヘッド側検出結果」とも称する）と、記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの目標位置（以下、「記録ヘッド側目標位置」とも称する）とを比較する。また、サーボ制御部１２３は、位置検出部１２１から読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置の検出結果（以下、「読取ヘッド側検出結果」とも称する）と、読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの目標位置（以下、「読取ヘッド側目標位置」とも称する）とを比較する。なお、記録ヘッド側目標位置及び読取ヘッド側目標位置は、例えば、磁気テープドライブ３０で磁気テープカートリッジ１０にデータの記録及び／又は読み取りを行う毎に、ＡＳＩＣ１２０によってサーボ位置を用いて指定される。

サーボ制御部１２３は、記録ヘッド側検出結果が記録ヘッド側目標位置と同じであった場合、第１移動機構１２９Ａに対して何もしない。サーボ制御部１２３は、記録ヘッド側検出結果が記録ヘッド側目標位置からずれていた場合、サーボ制御部１２３は、サーボ制御信号を第１移動機構１２９Ａに出力する。第１移動機構１２９Ａは、サーボ制御部１２３から入力されたサーボ制御信号に従って作動することで、記録ヘッド３６Ａの幅方向ＷＤでの位置を記録ヘッド側目標位置に合わせる。

サーボ制御部１２３は、読取ヘッド側検出結果が読取ヘッド側目標位置と同じであった場合、第２移動機構１２９Ｂに対して何もしない。サーボ制御部１２３は、読取ヘッド側検出結果が読取ヘッド側目標位置からずれていた場合、サーボ制御部１２３は、サーボ制御信号を第２移動機構１２９Ｂに出力する。第２移動機構１２９Ｂは、サーボ制御部１２３から入力されたサーボ制御信号に従って作動することで、読取ヘッド３６Ｂの幅方向ＷＤでの位置を読取ヘッド側目標位置に合わせる。

データ取得部１３０は、記録ヘッド３６ＡによりデータバンドＤＢに記録するデータを外部装置（図示省略）から取得する。外部装置としては、例えば、複数の磁気テープドライブ３０を管理するホストコンピュータ、又は、磁気テープドライブ３０に対して通信可能に接続されたパーソナル・コンピュータ等が挙げられる。データ取得部１３０は、外部装置から取得したデータを記録制御部１２５に出力する。

記録制御部１２５は、データ取得部１３０から入力されたデータを記録用のデジタル信号にエンコードする。そして、記録制御部１２５は、デジタル信号に応じたパルス電流を記録ヘッド３６Ａに含まれる複数の記録素子ＤＷに対して選択的に供給することで、データバンドＤＢ内の指定されたデータトラックＤＴにデータを記録させる。

読取制御部１３２は、読取ヘッド３６Ｂの読取素子ＤＲの動作を制御することで、読取素子ＤＲに対して、データバンドＤＢ内の指定されたデータトラックＤＴからデータを読み取らせる。読取素子ＤＲによってデータトラックＤＴから読み取られたデータは、パルス状のデジタル信号である。読取制御部６５は、パルス状のデジタル信号をデータ出力部１３４に出力する。

データ出力部１３４は、読取制御部１３２から入力されたパルス状のデジタル信号をデコードする。データ出力部１３４は、デコードして得たデータを既定の出力先（例えば、ホストコンピュータ、パーソナル・コンピュータ、ディスプレイ（図示省略）、及び／又は記憶装置（例えば、ストレージ１２２等））に出力する。

詳しくは後述するが、傾斜制御部１３６は、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について、走行制御部１４０から入力された張力情報に基づいて傾斜特徴情報１４４を算出し、算出した傾斜特徴情報１４４をストレージ１２２に格納する。

傾斜特徴情報１４４は、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する磁気ヘッドの長手方向の傾斜の特徴を示す情報である。磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する磁気ヘッドの長手方向の傾斜の特徴とは、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する記録ヘッド３６Ａの長手方向の傾斜の特徴、及び磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する読取ヘッド３６Ｂの長手方向の傾斜の特徴を指す。記録ヘッド３６Ａの長手方向の傾斜の特徴とは、複数の記録ヘッド側磁気素子の配列方向の磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する磁気テープＭＴの全長方向側への傾斜の特徴を意味する。また、読取ヘッド３６Ｂの傾斜の特徴とは、複数の読取ヘッド側磁気素子の配列方向の磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する磁気テープＭＴの全長方向側への傾斜の特徴を意味する。ここで、傾斜の特徴とは、傾斜の方向及び傾斜の角度を指す。

傾斜特徴情報１４４は、第１傾斜特徴情報及び第２傾斜特徴情報を含む。第１傾斜特徴情報は、傾斜制御部１３６によって第１傾斜機構制御信号に基づいて算出される。第２傾斜特徴情報は、傾斜制御部１３６によって第２傾斜機構制御信号に基づいて算出される。

第１傾斜特徴情報は、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の記録ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の特徴を示す情報である。第１傾斜特徴情報には、記録ヘッド３６Ａの傾斜の方向、すなわち、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の記録ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の方向（例えば、カートリッジリール１８側であるか、或いは、巻取リール４２側であるか）を示す第１傾斜方向情報が含まれる。また、第１傾斜特徴情報には、記録ヘッド３６Ａの傾斜の角度、すなわち、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の記録ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の角度を示す第１傾斜角度情報が含まれる。

第２傾斜特徴情報は、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の読取ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の特徴を示す情報である。第２傾斜特徴情報には、読取ヘッド３６Ｂの傾斜の方向、すなわち、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の読取ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の方向（例えば、カートリッジリール１８側であるか、或いは、巻取リール４２側であるか）を示す第２傾斜方向情報が含まれる。また、第２傾斜特徴情報には、読取ヘッド３６Ｂの傾斜の角度、すなわち、磁気テープＭＴの幅方向ＷＤに対する複数の読取ヘッド側磁気素子の配列方向の傾斜の角度を示す第２傾斜角度情報が含まれる。

傾斜制御部１３６は、第１傾斜特徴情報に基づいて第１傾斜機構制御信号を生成し、第２傾斜特徴情報に基づいて第２傾斜機構制御信号を生成する。傾斜制御部１３６は、生成した第１傾斜機構制御信号を第１傾斜機構１３１Ａに出力し、生成した第２傾斜機構制御信号を第２傾斜機構１３１Ｂに出力する。第１傾斜機構制御信号は、第１傾斜アクチュエータ１３１Ａ１（図１２参照）の駆動を制御する信号であり、第２傾斜機構制御信号は、第２傾斜アクチュエータ１３１Ｂ１（図１２参照）の駆動を制御する信号である。以下では、特に区別して説明する必要がない場合、第１傾斜機構制御信号及び第２傾斜機構制御信号を傾斜機構制御信号と称する。

第１傾斜機構１３１Ａは、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について、第１傾斜機構制御信号に基づいて第１傾斜機構１３１Ａを作動させることで記録ヘッド３６Ａの傾斜の方向及び傾斜の角度を調整する。すなわち、第１傾斜機構１３１Ａは、記録ヘッド３６Ａの傾斜の方向及び傾斜の角度を、第１傾斜特徴情報により示される傾斜の方向及び傾斜の角度にするように、回転軸ＲＡ１（図１３参照）を中心にして記録ヘッド３６Ａを回転させる。

第２傾斜機構１３１Ｂは、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所の各々について、第２傾斜機構制御信号に基づいて第２傾斜機構１３１Ｂを作動させることで読取ヘッド３６Ｂの傾斜の方向及び傾斜の角度を調整する。すなわち、第２傾斜機構１３１Ｂは、読取ヘッド３６Ｂの傾斜の方向及び傾斜の角度を、第２傾斜特徴情報により示される傾斜の方向及び傾斜の角度にするように、回転軸ＲＡ２（図１３参照）を中心にして読取ヘッド３６Ｂを回転させる。

一例として図２８に示すように、走行制御部１４０は、ストレージ１２２内のピッチ情報１４２から特定される磁気ヘッド３６の幅方向位置におけるピッチを独立変数とし、送出モータ制御信号を補正する補正値（以下、「送出モータ制御信号補正値」とも称する）及び巻取モータ制御信号を補正する補正値（以下、「巻取モータ制御信号補正値」とも称する）を従属変数とした演算式１４６を用いて、送出モータ制御信号補正値及び巻取モータ制御信号補正値を算出する。

送出モータ制御信号補正値及び巻取モータ制御信号補正値は、磁気テープＭＴの幅が目標の幅になるように磁気テープＭＴに付与する許容範囲内の張力を実現する上で必要な送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号を得るために送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号に対して用いられる補正値である。

なお、ここで、目標の幅とは、磁気ヘッド３６の記録素子ＤＷ又は読取素子ＤＲがデータの記録又は読み取りの対象となっているデータバンドＤＢ内の指定されたデータトラックＤＴ上に位置するように磁気テープＭＴに張力を加えた場合の磁気テープＭＴの幅である。目標の幅は、実機による試験及び／又はコンピュータ・シミュレーション等によって予め得られた固定値であってもよいし、外部から与えられた指示、及び／又は、予め定められた条件等に応じて変更される可変値であってもよい。

また、走行制御部１４０によって用いられる演算式１４６は、磁気テープＭＴの幅が目標の幅になるように磁気テープＭＴに付与する許容範囲内の張力を実現する上で必要な送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号を得るために送出モータ制御信号及び巻取モータ制御信号に対して用いられる補正値を算出するための演算式として、実機による試験及び／又はコンピュータ・シミュレーション等によって予め得られた演算式である。

走行制御部１４０は、算出した送出モータ制御信号補正値で送出モータ制御信号を補正してから送出モータ４０に供給することで送出モータ４０の駆動を制御し、かつ、算出した巻取モータ制御信号補正値で巻取モータ制御信号を補正してから巻取モータ４４に供給することで巻取モータ４４の駆動を制御する。これにより、許容範囲内の張力が磁気テープＭＴに付与されて磁気テープＭＴの幅が目標の幅に一致するように又は近付くように調整される。

例えば、データバンドＤＢ１の各データトラック群ＤＴＧの中央に位置するデータトラックＤＴに対してデータの記録及び／又は読み取りを行うものとする。この場合、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ１の幅方向ＷＤの中央（例えば、磁化領域５１Ａ及び５１Ｂの中心位置）にサーボ読取素子ＷＳＲ１（ＲＳＲ１）が位置し、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ２の幅方向ＷＤの中央にサーボ読取素子ＷＳＲ２（ＲＳＲ２）が位置するように磁気テープＭＴにかかる張力を許容範囲内で調整する制御が走行制御部１４０によって行われることで磁気テープＭＴの幅が調整される。

なお、ここでは、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ１の幅方向ＷＤの中央にサーボ読取素子ＷＳＲ１（ＲＳＲ１）を位置させ、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ２の幅方向ＷＤの中央にサーボ読取素子ＷＳＲ２（ＲＳＲ２）を位置させる形態例を挙げているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、データバンドＤＢ２の各データトラック群ＤＴＧの中央に位置するデータトラックＤＴに対してデータの記録及び／又は読み取りを行うものとする。この場合、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ２の幅方向ＷＤの中央にサーボ読取素子ＷＳＲ１（ＲＳＲ１）が位置し、磁気テープＭＴのサーボバンドＳＢ３の幅方向ＷＤの中央にサーボ読取素子ＷＳＲ２（ＲＳＲ２）が位置するように磁気テープＭＴにかかる張力を許容範囲内で調整する制御が走行制御部１４０によって行われることで磁気テープＭＴの幅が調整されるようにしてもよい。

一例として図２９に示すように、傾斜制御部１３６は、走行制御部１４０から入力された張力情報（図２７参照）により示される張力が許容範囲内であるか否かを判定する。許容範囲の上限値は、例えば、磁気テープＭＴに対して塑性変形等の不可逆的なダメージが与えられる虞がない張力の最大値として予め定められた値であり、許容範囲の下限値は、走行中の磁気テープＭＴがばたつく虞がない張力の最小値として予め定められた値である。

傾斜制御部１３６は、張力情報により示される張力が許容範囲外の場合に演算式１４８を用いて傾斜特徴情報１４４を算出する。張力情報により示される張力が許容範囲外の場合とは、張力情報により示される張力が許容範囲の上限値を超えている場合、及び張力情報により示される張力が許容範囲の下限値を下回っている場合を指す。

傾斜制御部１３６は、張力情報により示される張力が許容範囲の上限値を超えている場合に、張力情報により示される張力と許容範囲の上限値との差分（ここでは、一例として、張力情報により示される張力から許容範囲の上限値を減じて得た値）を算出する。

一方、傾斜制御部１３６は、張力情報により示される張力が許容範囲の下限値を下回っている場合に、張力情報により示される張力と許容範囲の下限値との差分（ここでは、一例として、張力情報により示される張力から許容範囲の下限値を減じて得た値）を算出する。なお、以下では、説明の便宜上、張力情報により示される張力と許容範囲の上限値との差分と、張力情報により示される張力と許容範囲の下限値との差分とを区別して説明する必要がない場合、「張力差分」と称する。

演算式１４８は、張力差分を独立変数とし、傾斜特徴情報１４４を従属変数とした演算式である。傾斜制御部１３６は、張力差分を演算式１４８に代入することで傾斜特徴情報１４４を算出する。なお、演算式１４８は、例えば、回転軸ＲＡを中心にして磁気ヘッドを回転させることによって磁気テープＭＴの指定されたサーボバンドＳＢ１の幅方向ＷＤの位置にサーボ読取素子ＷＳＲ１（ＲＳＲ１）を位置させ、磁気テープＭＴの指定されたサーボバンドＳＢ２の幅方向ＷＤの位置にサーボ読取素子ＷＳＲ２（ＲＳＲ２）を位置させる上で必要な傾斜特徴情報１４４を得るための演算式として、実機による試験及び／又はコンピュータ・シミュレーション等によって予め得られた演算式である。

一例として図３０に示すように、ＡＳＩＣ１２０は、ストレージ１２２から傾斜特徴情報１４４を取得し、取得した傾斜特徴情報１４４を非接触式読み書き装置５０に出力する。非接触式読み書き装置５０は、データバンドＤＢにデータが記録される前段階（例えば、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階）で、傾斜特徴情報１４４の書込指令を、コマンド信号としてカートリッジメモリ１９に空間伝送する。ＣＰＵ９４は、非接触式読み書き装置５０からのコマンド信号に応じて、傾斜特徴情報１４４をＮＶＭ９６に書き込む書込処理を行う。これにより、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所での傾斜特徴情報１４４がＮＶＭ９６に記憶される。なお、ＮＶＭ９６に記憶される傾斜特徴情報１４４は、ピッチ情報１４２と同様に、基準ドライブから得られた情報である。

このように、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に傾斜特徴情報１４４が記憶されており、かつ、ストレージ１２２に傾斜特徴情報１４４が記憶されていない場合、傾斜制御部１３６は、演算式１４８を用いて傾斜特徴情報１４４を算出する必要はなく、ＮＶＭ９６から傾斜特徴情報１４４を取得する。そして、傾斜制御部１３６は、ＮＶＭ９６から取得した傾斜特徴情報１４４をストレージ１２２に格納する。傾斜制御部１３６は、ストレージ１２２内の傾斜特徴情報１４４に従って傾斜機構信号を生成し、生成した傾斜機構信号に基づいて傾斜機構１３１を作動させる。

次に、磁気テープシステム２の作用について図３１Ａ及び図３１Ｂを参照しながら説明する。

図３１Ａ及び図３１Ｂは、磁気テープドライブ３０のＡＳＩＣ１２０によって実行されるテープ幅制御処理の流れの一例を示すフローチャートである。

図３１Ａに示すテープ幅制御処理では、先ず、ステップＳＴ１０で、走行制御部１４０は、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に傾斜特徴情報１４４が記憶されていないか否かを判定する。ステップＳＴ１０において、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に傾斜特徴情報１４４が記憶されている場合は、判定が否定されて、図３１Ｂに示すステップＳＴ３６へ移行する。ステップＳＴ１０において、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に傾斜特徴情報１４４が記憶されていない場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ１２へ移行する。

ステップＳＴ１２で、走行制御部１４０は、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６からＣＰＵ９４及び非接触式読み書き装置５０を介してピッチ情報１４２及びサーボパターン距離情報１４８の少なくとも一方を取得する。走行制御部１４０は、取得したピッチ情報１４２及びサーボパターン距離情報１４８をストレージ１２２に格納する。このようにストレージ１２２にピッチ情報１４２を格納させておけば、走行制御部１４０は、再びカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６からピッチ情報１４２を取得する必要がなくなる。また、ストレージ１２２にパターン距離情報１４８を格納させておけば、位置検出部１２１は、再びカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６からサーボパターン距離情報１４８を取得する必要がなくなる。

次のステップＳＴ１４で、走行制御部１４０は、送出モータ４０及び巻取モータ４４を制御することで磁気テープＭＴの走行を開始させる。

次のステップＳＴ１６で、走行制御部１４０は、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達したか否かを判定する。既定位置とは、磁気テープＭＴの全長にわたって間隔を空けた複数の箇所のうちの１つの箇所の位置を指す。なお、既定位置に到達したか否かは、例えば、サーボ読取素子ＷＳＲから位置検出部１２１に入力されたサーボ信号に基づいて判定されるようにしてもよいし、磁気テープＭＴが走行を開始してから経過した時間に基づいて判定されるようにしてもよいし、送出モータ４０及び巻取モータ４４の駆動量に基づいて判定されるようにしてもよい。

ステップＳＴ１６において、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達していない場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ３２へ移行する。ステップＳＴ１６において、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達した場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ１７へ移行する。

ステップＳＴ１７で、位置検出部１２１は、記録ヘッド側サーボ信号を用いて、サーボ読取素子ＷＳＲ１及びＷＳＲ２で読み取りを行った各々のサーボバンドＳＢにおけるサーボパターン５１の距離Ｄを算出する。

位置検出部１２１は、算出した距離Ｄに対応するサーボ位置をステップＳ１２で取得したサーボパターン距離情報１４８から取得する。取得したサーボ位置が、各サーボバンドＳＢにおけるサーボ読取素子ＷＳＲのサーボ位置となる。位置検出部１２１は、サーボ読取素子ＷＳＲ１のサーボ位置とサーボ読取素子ＷＳＲ２のサーボ位置の平均値を、記録ヘッド３６Ａの幅方向位置として検出する。

なお、位置検出部１２１は、算出した距離Ｄに一致するサーボ位置がサーボパターン距離情報１４８に規定されていない場合、算出した距離Ｄと、サーボパターン距離情報１４８に規定されているサーボ位置の距離Ｄを用いたサーボ位置の補間を行うことで、算出した距離Ｄに対応するサーボ位置を検出することができる。

例えば、算出した距離Ｄが“２２．００１μｍ”であれば、図２４に示したサーボパターン距離情報１４８において、算出した距離Ｄはサーボ位置が“１”と“２”に対応した距離Ｄの範囲に含まれる。従って、位置検出部１２１は、サーボ位置が“１”に対応した距離Ｄ、及びサーボ位置が“２”に対応した距離Ｄの間を補間することで、算出した距離Ｄに対応するサーボ位置を求めればよい。サーボ位置の補間には公知の補間手法が用いられる。具体的には、例えば線形補間の他、ラグランジュ補間及びスプライン補間といった非線形補間が用いられる。

なお、位置検出部１２１は、算出した距離Ｄに一致するサーボ位置がサーボパターン距離情報１４８に規定されていない場合、算出した距離Ｄに最も近い距離Ｄに対応したサーボ位置を、算出した距離Ｄに対応するサーボ位置としてもよい。

更に、位置検出部１２１は、読取ヘッド側サーボ信号を用いて、サーボ読取素子ＲＳＲ１及びＲＳＲ２で読み取りを行った各々のサーボバンドＳＢにおけるサーボパターン５１の距離Ｄを算出する。以下、位置検出部１２１は、上述した記録ヘッド３６Ａの幅方向位置の検出に係る処理と同じ処理を行って、読取ヘッド３６Ｂの幅方向位置を検出する。

サーボ制御部１２３は、検出した記録ヘッド３６Ａの幅方向位置が記録ヘッド側目標位置に近づくように第１移動機構１２９Ａを制御することで、記録ヘッド３６Ａの位置決め制御を行う。これにより、記録ヘッド３６Ａの幅方向位置が記録ヘッド側目標位置に移動する。

また、サーボ制御部１２３は、検出した読取ヘッド３６Ｂの幅方向位置が読取ヘッド側目標位置に近づくように第２移動機構１２９Ｂを制御することで、読取ヘッド３６Ｂの位置決め制御を行う。これにより、読取ヘッド３６Ｂの幅方向位置が読取ヘッド側目標位置に移動する。

ステップＳＴ１８で、走行制御部１４０は、ステップＳＴ１２で取得したピッチ情報１４２から特定されるピッチを演算式１４６に代入することで演算式１４６から送出モータ制御信号補正値及び巻取モータ制御信号補正値を算出する。

ピッチ情報１４２から特定されるピッチとは、ピッチ情報１４２を用いて得られるピッチであって、ステップＳＴ１７で検出した磁気ヘッド３６の幅方向位置を表すサーボ位置に対応したピッチのことである。すなわち、走行制御部１４０は、磁気ヘッド３６の幅方向位置毎に、データバンドＤＢ内の指定されたデータトラックＤＴからデータの記録及び／又は読み取りを正しく行うためのピッチを取得する。

したがって、演算式１４６によって、ステップＳＴ１７で移動した磁気ヘッド３６の幅方向位置で、データバンドＤＢ内の指定されたデータトラックＤＴからデータの記録及び／又は読み取りを正しく行うための送出モータ制御信号補正値及び巻取モータ制御信号補正値が算出される。

次のステップＳＴ２０で、走行制御部１４０は、ステップＳＴ１８で算出した送出モータ制御信号補正値で送出モータ制御信号を補正し、ステップＳＴ１８で算出した巻取モータ制御信号補正値で巻取モータ制御信号を補正する。走行制御部１４０は、ステップＳＴ１８で補正して得たモータ制御信号に基づいて、磁気テープＭＴにかかる張力を算出し、算出した張力を示す張力情報を傾斜制御部１３６に出力する。

なお、補正済みの送出モータ制御信号は送出モータ４０に供給され、補正済みの巻取モータ制御信号は巻取モータ４４に供給される。これにより、送出モータ４０及び巻取モータ４４の駆動が制御されて磁気テープＭＴの幅が調整される。

次のステップＳＴ２２で、傾斜制御部１３６は、走行制御部１４０から入力された張力情報により示される張力が許容範囲外であるか否かを判定する。ステップＳＴ２２において、走行制御部１４０から入力された張力情報により示される張力が許容範囲内の場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ３２へ移行する。ステップＳＴ２２において、走行制御部１４０から入力された張力情報により示される張力が許容範囲外の場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ２４へ移行する。

ステップＳＴ２４で、傾斜制御部１３６は、張力差分を算出する。すなわち、張力情報により示される張力が許容範囲の上限値を上回っている場合は、張力差分として、張力情報により示される張力と許容範囲の上限値との差分が算出される。また、張力情報により示される張力が許容範囲の下限値を下回っている場合は、張力差分として、張力情報により示される張力と許容範囲の下限値との差分が算出される。

次のステップＴ２６で、傾斜制御部１３６は、張力差分に基づいて傾斜特徴情報１４４を算出する。すなわち、演算式１４８に張力差分が代入されることによって傾斜特徴情報１４４が算出される。

次のステップＳＴ２８で、傾斜制御部１３６は、ステップＳＴ２６で算出した傾斜特徴情報１４４を用いて傾斜機構１３１を制御する。すなわち、傾斜制御部１３６は、傾斜特徴情報１４４に応じた傾斜機構制御信号を生成し、生成した傾斜機構制御信号を傾斜機構１３１に供給することで傾斜機構１３１を作動させて磁気ヘッド３６を傾斜させる（磁気ヘッド３６の傾斜の方向及び傾斜の角度を調整する）。

次のステップＳＴ３０で、傾斜制御部１３６は、ステップＳＴ２６で算出した傾斜特徴情報１４４をストレージに格納する。

次のステップＳＴ３２で、走行制御部１４０は、磁気ヘッド３６の基準位置（例えば、読取ヘッド３６Ｂ内のサーボ読取素子ＲＳＲ１）が磁気テープＭＴの終端に到達したか否かを判定する。ステップＳＴ３２において、磁気ヘッド３６の基準位置が磁気テープＭＴの終端に到達していない場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ１６へ移行する。ステップＳＴ３２において、磁気ヘッド３６の基準位置が磁気テープＭＴの終端に到達した場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ３４へ移行する。

ステップＳＴ３４で、ＡＳＩＣ１２０は、ストレージ１２２から傾斜特徴情報１４４を取得し、取得した傾斜特徴情報１４４を非接触式読み書き装置５０に出力する。非接触式読み書き装置５０は、傾斜特徴情報１４４の書込指令を、コマンド信号としてカートリッジメモリ１９に空間伝送する。カートリッジメモリ１９のＣＰＵ９４は、非接触式読み書き装置５０からのコマンド信号に応じて、傾斜特徴情報１４４をＮＶＭ９６に書き込む書込処理を行う。これにより、傾斜特徴情報１４４がＮＶＭ９６に記憶される。ステップＳＴ３４の処理が実行された後、テープ幅制御処理が終了する。

図３１Ｂに示すステップＳＴ３６で、ＡＳＩＣ１２０は、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６からＣＰＵ９４及び非接触式読み書き装置５０を介してピッチ情報１４２、傾斜特徴情報１４４、及びサーボパターン距離情報１４８を取得する。

次のステップＳＴ３８で、走行制御部１４０は、送出モータ４０及び巻取モータ４４を制御することで磁気テープＭＴの走行を開始させる。

次のステップＳＴ４０で、走行制御部１４０は、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達したか否かを判定する。ステップＳＴ４０において、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達していない場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ５０へ移行する。ステップＳＴ４０において、磁気テープＭＴに対する磁気ヘッド３６の位置が既定位置に到達した場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ４１へ移行する。

ステップＳＴ４１で、走行制御部１４０は、ステップＳ３６で取得したサーボパターン距離情報１４８とサーボ信号を用いて、磁気ヘッド３６の幅方向位置を検出する。更に、サーボ制御部１２３は、磁気ヘッド３６の幅方向位置が目標位置に近づくように第１移動機構１２９Ａ及び第２移動機構１２９Ｂを制御することで、磁気ヘッド３６の位置決め制御を行う。

ステップＳＴ４２で、走行制御部１４０は、ステップＳＴ３６で取得したピッチ情報１４２から特定されるピッチを演算式１４６に代入することで演算式１４６から送出モータ制御信号補正値及び巻取モータ制御信号補正値を算出する。

次のステップＳＴ４４で、走行制御部１４０は、ステップＳＴ１８で算出した送出モータ制御信号補正値で送出モータ制御信号を補正し、ステップＳＴ１８で算出した巻取モータ制御信号補正値で巻取モータ制御信号を補正する。

次のステップＳＴ４６で、傾斜制御部１３６は、ステップＳＴ３６で取得した傾斜特徴情報１４４を参照して、磁気ヘッド３６を傾斜させる必要があるか否か（磁気ヘッド３６の傾斜の方向及び傾斜の角度を調整する必要があるか否か）を判定する。ステップＳＴ４６において、磁気ヘッド３６を傾斜させる必要がない場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ５０へ移行する。ステップＳＴ４６において、磁気ヘッド３６を傾斜させる必要がある場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ４８へ移行する。

ステップＳＴ４８で、傾斜制御部１３６は、ステップＳＴ３６で取得した傾斜特徴情報１４４を用いて傾斜機構１３１を制御する。

次のステップＳＴ５０で、走行制御部１４０は、磁気ヘッド３６の基準位置が磁気テープＭＴの終端に到達したか否かを判定する。ステップＳＴ５０において、磁気ヘッド３６の基準位置が磁気テープＭＴの終端に到達していない場合は、判定が否定されて、テープ幅制御処理はステップＳＴ４０へ移行する。ステップＳＴ５０において、磁気ヘッド３６の基準位置が磁気テープＭＴの終端に到達した場合は、判定が肯定されて、テープ幅制御処理が終了する。

以上説明したように、本実施形態では、傾斜特徴情報１４４がカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に記憶されている。傾斜特徴情報１４４が記憶されたＮＶＭ９６を有するカートリッジメモリ１９が搭載された磁気テープカートリッジ１０は、基準ドライブ以外の磁気テープドライブ３０にも装填されて使用される。

このように構成された磁気テープカートリッジ１０が磁気テープドライブ３０に装填されて、磁気テープカートリッジ１０内の磁気テープＭＴが引き出されて磁気ヘッド３６によって記録動作又は読取動作が行われる場合、磁気テープドライブ３０の傾斜制御部１３６によってカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６から傾斜特徴情報１４４が取得される。そして、傾斜制御部１３６によって、磁気ヘッド３６の傾斜が傾斜特徴情報１４４に応じた傾斜となるように傾斜機構１３１が制御される。従って、本構成によれば、磁気テープＭＴが幅方向ＷＤに変形したとしても、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係の補正に寄与することができる。

また、本実施形態では、傾斜特徴情報１４４に磁気ヘッド３６の傾斜の方向を示す情報が含まれている。従って、本構成によれば、傾斜特徴情報１４４に磁気ヘッド３６の傾斜の方向を示す情報が含まれていない場合に比べ、磁気テープＭＴが幅方向ＷＤに変形したとしても、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係の高精度な補正に寄与することができる。

また、本実施形態では、傾斜特徴情報１４４に磁気ヘッド３６の傾斜の角度を示す情報が含まれている。従って、本構成によれば、傾斜特徴情報１４４に磁気ヘッド３６の傾斜の角度を示す情報が含まれていない場合に比べ、磁気テープＭＴが幅方向ＷＤに変形したとしても、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係の高精度な補正に寄与することができる。

また、本実施形態では、複数のデータトラックＤＴのうちの隣接トラック、すなわち、奇数データトラックＤｎ＿ｍＯ及び偶数データトラックＤｎ＿ｍＥの各々に対して、複数の記録ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向として、相反する方向が割り当てられている。これにより、データトラックＤＴ毎に記録ヘッド３６Ａの傾斜の方向（アジマス）を変えながら読み書きが行われることになる。また、複数のデータトラックＤＴのうちの隣接トラック、すなわち、奇数データトラックＤｎ＿ｍＯ及び偶数データトラックＤｎ＿ｍＥの各々に対して、複数の読取ヘッド側磁気素子の配置方向の幅方向ＷＤに対する傾斜の方向として、相反する方向が割り当てられている。従って、読取時（再生時）に、読取素子ＤＲが、本来読み取るべきデータトラックＤＴに隣接するデータトラックＤＴに対して磁気的な影響を及ぼし難くなる（クロストークが発生し難くなる）。換言すると、読取素子ＤＲとアジマスが一致しているデータトラックＤＴに対する読み取りが行われる場合は、アジマス損失は少なく（ほぼゼロ）、読取素子ＤＲとアジマスが一致していないデータトラックＤＴ（例えば、隣接するデータトラックＤＴ）に対する読み取りが行われる場合は、アジマス損失が多くなる。

また、本実施形態では、カートリッジメモリ１９が、非接触式読み書き装置５０によって非接触でデータの読み書きが行われるＮＶＭ９６を有している。従って、本構成によれば、何らかのメモリ等と接触式でデータの読み書きが行われる場合に比べ、カートリッジメモリ１９に対して物理的な損傷を与えることなくピッチ情報１４２及び傾斜特徴情報１４４を記憶させることができる。

更に、本実施形態では、磁気テープＭＴにかかる張力がピッチ情報１４２に基づいて調整される。従って、本構成によれば、磁気テープＭＴが幅方向ＷＤに変形したとしても、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係を補正することができる。また、傾斜特徴情報１４４に基づいて磁気ヘッド３６の傾斜も調整されるので、磁気テープＭＴにかかる張力のみが調整される場合に比べ、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係を高精度に補正することができる。

本実施形態では、複数のサーボバンドＳＢ内におけるサーボ位置毎のピッチがピッチ情報１４２に含まれる。従って、本構成によれば、磁気ヘッド３６の幅方向位置にかかわらずピッチを固定値とした場合と比べ、磁気テープＭＴと複数の磁気素子との位置関係を高精度に補正することができる。

また、本実施形態では、サーボバンドＳＢ内におけるサーボ位置が、各々のサーボバンドＳＢ内における複数のサーボ位置と、サーボバンドＳＢの各々に形成されているサーボパターン５１を構成する一対の磁化領域５１Ａ及び５１Ｂ間の各サーボ位置における距離Ｄとを対応付けたサーボパターン距離情報１４８を用いて特定される。従って、本構成によれば、サーボ読取素子ＳＲで読み取ったパルスの変化を用いて磁化領域５１Ａから磁化領域５１Ｂまでの距離Ｄを測定することで、各々のサーボバンドＳＢ内におけるサーボ読取素子ＳＲのサーボ位置を特定することができる。

また、本実施形態では、磁気テープＭＴに対して磁気テープドライブ３０によってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子ＳＲによって、幅方向ＷＤに隣接するサーボバンドＳＢのサーボパターン５１が読み取られた結果と、複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて、幅方向ＷＤのサーボパターン５１間のピッチが算出される。従って、本構成によれば、サーボ読取素子間の距離が予め測定されていれば、複数のサーボ読取素子ＳＲが位置するサーボ位置での距離Ｄを用いてピッチ情報１４２を生成することができる。

なお、上記実施形態では、記憶媒体としてカートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６を例示したが、これに限らない。例えば、図３２に示すように、磁気テープカートリッジ１０が最初に装填された場合、又は磁気テープＭＴが初期化された場合のいずれかのタイミングで、制御装置３８のＡＳＩＣ１２０は、磁気ヘッド３６の動作を制御することで、傾斜特徴情報１４４を磁気テープＭＴの先頭に設けられたＢＯＴ領域１５８に書き込むようにしてもよい。ＢＯＴ領域１５８に傾斜特徴情報１４４が書き込まれた場合、ＡＳＩＣ１２０は、磁気ヘッド３６の動作を制御することで、ＢＯＴ領域１５８から傾斜特徴情報１４４を読み取る。なお、ＢＯＴ領域１５８は、本開示の技術に係る「磁気テープの一部領域」の一例である。

このように、図３２に示す例では、記憶媒体として、磁気テープＭＴのＢＯＴ領域１５８が用いられる。従って、本構成によれば、カートリッジメモリ１９を用意したり、カートリッジメモリ１９のＮＶＭ９６に傾斜特徴情報１４４を記憶したりする手間を省くことができる。

図３２に示す例では、ＢＯＴ領域１５８に傾斜特徴情報１４４が書き込まれる形態例が示されているが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、ＢＯＴ領域１５８にピッチ情報１４２、サーボパターン距離情報１４８、及び／又は傾斜特徴情報１４４を書き込むようにしてもよい。

なお、磁気テープカートリッジ１０が製造される段階、磁気テープカートリッジ１０が検品される段階、又は磁気テープカートリッジ１０が出荷される段階のいずれかのタイミングで、工場に配置された磁気テープドライブ３０の磁気ヘッド３６により、ピッチ情報１４２、サーボパターン距離情報１４８、及び／又は傾斜特徴情報１４４をＢＯＴ領域１５８に記憶するようにしてもよい。

また、一例として図３３に示すように、非接触式読み書き装置５０によりカートリッジメモリ１９から読み出した傾斜特徴情報１４４がＡＳＩＣ１２０によりＢＯＴ領域１５８に書き込まれるようにしてもよい。この場合、ＮＶＭ９６とＢＯＴ領域１５８の両方に傾斜特徴情報１４４が記憶されることになる。このため、ＮＶＭ９６に記憶された傾斜特徴情報１４４と、ＢＯＴ領域１５８に記憶された傾斜特徴情報１４４とを突き合わせて、傾斜特徴情報１４４の信頼性を確かめることができる。また、ＮＶＭ９６とＢＯＴ領域１５８の何れか一方に不具合が生じたとしても、他方から傾斜特徴情報１４４を得ることができる。

また、カートリッジメモリ１９にピッチ情報１４２、サーボパターン距離情報１４８、及び／又は傾斜特徴情報１４４が記憶されている場合、非接触式読み書き装置５０によりカートリッジメモリ１９から読み出したピッチ情報１４２、サーボパターン距離情報１４８、及び／又は傾斜特徴情報１４４がＡＳＩＣ１２０によりＢＯＴ領域１５８に書き込まれるようにしてもよい。

なお、ＢＯＴ領域１５８に代えて、あるいは加えて、磁気テープＭＴの後尾に設けられたＥＯＴ領域（図示省略）にピッチ情報１４２、サーボパターン距離情報１４８、及び／又は傾斜特徴情報１４４が記憶されるようにしてもよい。また、磁気テープＭＴのＢＯＴ領域１５８及びＥＯＴ領域に限らず、例えば、二次元バーコード又はマトリクス型二次元コード（例えば、ＱＲコード（登録商標））等を記憶媒体として用いてもよい。

上記実施形態では、磁気テープＭＴにかかる張力と磁気ヘッド３６の傾斜との両方を調整する形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、基本的に磁気ヘッド３６を傾斜させずに（例えば、図２１に示す記録ヘッド３６Ａと磁気テープＭＴとの位置関係を参照）、磁気テープＭＴにかかる張力が調整されるようにし、磁気テープＭＴにかかる張力が許容範囲の下限値を下回る場合にのみ、磁気ヘッド３６を傾斜させるようにしてもよい。

また、例えば、基本的に磁気テープＭＴにかかる張力を調整せずに、磁気ヘッド３６をデータトラックＤＴの位置に応じて傾斜させるようにしてもよい。この場合、傾斜制御部１３６は、磁気テープＭＴの全長の幅変化に応じて、幅が広い位置では磁気ヘッド３６の傾斜の角度を浅くし、幅が狭い位置では磁気ヘッド３６の傾斜の角度を深くするように傾斜機構１３１を制御する。但し、磁気ヘッド３６の傾斜の角度を変化させる度合いが予め定められた上限を超える場合、走行制御部１４０によって、磁気テープＭＴにかかる張力が調整されるようにする。すなわち、磁気テープＭＴの幅が広い位置で磁気ヘッド３６の傾斜の角度を浅くしたとしても足りない場合（データトラックＤＴに磁気素子を位置させることができない場合）は、磁気テープＭＴにかかる張力を強める。逆に、磁気テープＭＴの幅が狭い位置で磁気ヘッド３６の傾斜の角度を深くしたとしても足りない場合（データトラックＤＴに磁気素子を位置させることができない場合）は、磁気テープＭＴにかかる張力を弱める。

上記実施形態では、磁気テープＭＴにデータが記録される前段階で傾斜特徴情報１４４が傾斜制御部１３６によって取得される形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、磁気テープドライブ３０は、磁気テープＭＴにかかる張力を規定値に保持した状態で磁気テープＭＴに対するデータの記録動作を開始し、サーボ読取素子で磁気テープＭＴの幅を特定する情報を随時取得しながらリアルタイムで磁気テープＭＴにかかる張力を調整し（磁気テープＭＴの幅が広ければ張力を強め、磁気テープＭＴの幅が狭ければ張力を弱くし）つつ、磁気テープＭＴにかかる張力が許容範囲の上下限値近くになったら磁気ヘッド３６の傾斜の角度を調整するようにしてもよい。この場合、磁気テープドライブ３０は、磁気テープＭＴに対するデータの記録動作が終了してから、カートリッジメモリ１９及び／又はＢＯＴ領域１５８等に傾斜特徴情報１４４に書き込むようにすればよい。

上記実施形態では、記録ヘッド３６Ａ及び読取ヘッド３６Ｂを例示したが、本開示の技術はこれに限定されず、記録ヘッド３６Ａと読取ヘッド３６Ｂとを一体化した磁気ヘッドであってもよい。すなわち、記録素子ＤＷと読取素子ＤＲとが一体化した磁気素子（記録素子ＤＷと読取素子ＤＲとが対を成す磁気素子）を有する磁気ヘッドであっても本開示の技術は成立する。

上記実施形態では、磁気ヘッド３６によって磁気テープＭＴに対するデータの読み取りとデータの書き込みとの両方が行われる形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されず、磁気テープＭＴに対してデータの読み取り及びデータの書き込みのうちの一方が行われるようにしてもよい。

上記実施形態では、カートリッジメモリ１９がケース１２に収容されている形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されず、カートリッジメモリ１９は、ケース１２の外面に貼り付けられていてもよい。

制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源としては、次に示す各種のプロセッサを用いることができる。プロセッサとしては、例えば、ソフトウェア、すなわち、プログラムを実行することで処理を実行するハードウェア資源として機能する汎用的なプロセッサであるＣＰＵが挙げられる。また、プロセッサとしては、例えば、ＦＰＧＡ、ＰＬＤ、又は例示のＡＳＩＣ１２０等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路が挙げられる。いずれのプロセッサにもメモリが内蔵又は接続されており、いずれのプロセッサもメモリを使用することで処理を実行する。

制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源は、これらの各種のプロセッサのうちの１つで構成されてもよいし、同種または異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡの組み合わせ、又はＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ）で構成されてもよい。また、制御装置３８の処理を実行するハードウェア資源は１つのプロセッサであってもよい。

１つのプロセッサで構成する例としては、第１に、１つ以上のＣＰＵとソフトウェアの組み合わせで１つのプロセッサを構成し、このプロセッサが処理を実行するハードウェア資源として機能する形態がある。第２に、ＳｏＣ等に代表されるように、処理を実行する複数のハードウェア資源を含むシステム全体の機能を１つのＩＣチップで実現するプロセッサを使用する形態がある。このように、制御装置３８の処理は、ハードウェア資源として、上記各種のプロセッサの１つ以上を用いて実現される。

更に、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造としては、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路を用いることができる。また、上記の制御装置３８の処理はあくまでも一例である。従って、主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりしてもよいことは言うまでもない。

本開示の技術は、上述の種々の実施形態及び／又は種々の変形例を適宜組み合わせることも可能である。また、上記実施形態に限らず、要旨を逸脱しない限り種々の構成を採用し得ることはもちろんである。さらに、本開示の技術は、プログラムに加えて、プログラムを非一時的に記憶する記憶媒体にもおよぶ。

以上に示した記載内容及び図示内容は、本開示の技術に係る部分についての詳細な説明であり、本開示の技術の一例に過ぎない。例えば、上記の構成、機能、作用、及び効果に関する説明は、本開示の技術に係る部分の構成、機能、作用、及び効果の一例に関する説明である。よって、本開示の技術の主旨を逸脱しない範囲内において、以上に示した記載内容及び図示内容に対して、不要な部分を削除したり、新たな要素を追加したり、置き換えたりしてもよいことはいうまでもない。また、錯綜を回避し、本開示の技術に係る部分の理解を容易にするために、以上に示した記載内容及び図示内容では、本開示の技術の実施を可能にする上で特に説明を要しない技術常識等に関する説明は省略されている。

本明細書において、「Ａ及び／又はＢ」は、「Ａ及びＢのうちの少なくとも１つ」と同義である。つまり、「Ａ及び／又はＢ」は、Ａだけであってもよいし、Ｂだけであってもよいし、Ａ及びＢの組み合わせであってもよい、という意味である。また、本明細書において、３つ以上の事柄を「及び／又は」で結び付けて表現する場合も、「Ａ及び／又はＢ」と同様の考え方が適用される。

本明細書に記載された全ての文献、特許出願及び技術規格は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。

２ 磁気テープシステム
１０ 磁気テープカートリッジ
１２ ケース
１２Ａ 右壁
１２Ｂ 開口
１４ 上ケース
１４Ａ 天板
１４Ａ１ 内面
１６ 下ケース
１６Ａ 底板
１６Ａ１ 基準面
１６Ｂ 後壁
１８ カートリッジリール
１８Ａ リールハブ
１８Ｂ１ 上フランジ
１８Ｂ２ 下フランジ
１９ カートリッジメモリ
２０ 支持部材
２０Ａ 第１傾斜台
２０Ａ１，２０Ｂ１ 傾斜面
２０Ｂ 第２傾斜台
２２ 位置規制リブ
２４ リブ
２４Ａ 先端面
２６ 基板
２６Ａ 裏面
２６Ｂ 表面
３０ 磁気テープドライブ
３４ 搬送装置
３６ 磁気ヘッド
３６Ａ 記録ヘッド
３６Ｂ 読取ヘッド
３８ 制御装置
４０ 送出モータ
４２ 巻取リール
４４ 巻取モータ
４６Ａ，４６Ｂ 磁気素子ユニット
４８Ａ，４８Ｂ ホルダ
５０ 非接触式読み書き装置
５１ サーボパターン
５１Ａ，５１Ｂ 磁化領域
５２ ＩＣチップ
５４ コンデンサ
５４Ａ，５４Ｂ 電極
５６ 封止材
６０ コイル
６２Ａ 第１導通部
６２Ｂ 第２導通部
６４Ａ，６４Ｂ，６４Ｃ，６４Ｄ 配線
７０ 電力生成器
８０ 内蔵コンデンサ
８２ 電源回路
８４ コンピュータ
８６ クロック信号生成器
８８ 信号処理回路
９２ 共振回路
９４ ＣＰＵ
９６ ＮＶＭ
９８ ＲＡＭ
１００，１２４ バス
１２０ ＡＳＩＣ
１２０Ａ 第１位置検出部
１２０Ｂ 第２位置検出部
１２０Ｃ 第３位置検出部
１２０Ｄ ピッチ算出部
１２１ 位置検出部
１２２ ストレージ
１２３ サーボ制御部
１２５ 記録制御部
１２９Ａ 第１移動機構
１２９Ａ１ 第１移動アクチュエータ
１２９Ｂ 第２移動機構
１２９Ｂ１ 第２移動アクチュエータ
１３１Ａ 第１傾斜機構
１３１Ａ１ 第１傾斜アクチュエータ
１３１Ｂ 第２傾斜機構
１３１Ｂ１ 第２傾斜アクチュエータ
１３０ データ取得部
１３１ 読取制御部
１３４ データ出力部
１３６ 傾斜制御部
１３９ 表面
１４０ 走行制御部
１４２ ピッチ情報
１４４ 傾斜特徴情報
１４６，１４８ 演算式
１５８ ＢＯＴ領域
ＤＢ，ＤＢ１，ＤＢ２ データバンド
ＤＲ，ＤＲ１～ＤＲ８ 読取素子
ＤＷ，ＤＷ１～ＤＷ８ 記録素子
ＤＴ，ＤＴ１～ＤＴ８，ＤＴ１＿１～ＤＴ１＿１２，ＤＴ２＿１～ＤＴ２＿１２，ＤＴ８＿１～ＤＴ８＿１２ データトラック
ＤＴＧ，ＤＴＧ１～ＤＴＧ８ データトラック群
ＧＲ ガイドローラ
ＭＦ 磁界
ＭＴ 磁気テープ
ＲＡ，ＲＡ１，ＲＡ２ 回転軸
ＲＳＲ，ＲＳＲ１，ＲＳＲ２，ＷＳＲ，ＷＳＲ１，ＷＳＲ２ サーボ読取素子
ＳＢ，ＳＢ１，ＳＢ２，ＳＢ３ サーボバンド
ＷＤ 幅方向
θ 傾斜角度

Claims (28)

1. 磁気テープが収容されるケースと、
   前記ケースに設けられた記憶媒体と、を備える磁気テープカートリッジであって、
   前記ケースから引き出された前記磁気テープは、直線状に配置された複数の磁気素子によって、データの読み取り及び書き込みのうちの少なくとも一方が行われ、
   前記複数の磁気素子の配置方向は、前記磁気テープの幅方向に対して前記磁気テープの全長方向側に傾斜しており、
   前記記憶媒体は、前記幅方向に対する前記配置方向の傾斜の特徴を示す傾斜特徴情報を記憶する
   磁気テープカートリッジ。
2. 前記特徴は、前記傾斜の方向を含む
   請求項１に記載の磁気テープカートリッジ。
3. 前記磁気テープは、複数のトラックを有し、
   前記複数の磁気素子の各々は、前記複数のトラックの各々に対応しており、
   前記複数のトラックのうちの隣接トラックの各々に対して前記方向として相反する方向が割り当てられている
   請求項２に記載の磁気テープカートリッジ。
4. 前記特徴は、前記傾斜の角度を含む
   請求項１から請求項３の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジ。
5. 前記記憶媒体は、非接触式読み書き装置によって非接触式で情報の読み書きが行われる非接触式通信媒体の内蔵メモリを含む
   請求項１から請求項４の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジ。
6. 前記記憶媒体は、前記磁気テープの一部領域を含む
   請求項１から請求項５の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジ。
7. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンドの前記幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶する
   請求項１から請求項６の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジ。
8. 前記ピッチ情報に、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる
   請求項７に記載の磁気テープカートリッジ。
9. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置と、前記複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の前記複数の位置における前記磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、
   前記ピッチは、前記サーボパターン距離情報を用いて検出された位置であって、前記複数の磁気素子の前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の位置に対応している
   請求項８に記載の磁気テープカートリッジ。
10. 前記磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって前記複数のサーボバンドが読み取られた結果と、前記複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて前記ピッチが算出されている
    請求項８又は請求項９に記載の磁気テープカートリッジ。
11. 請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジが装填され、
    前記複数の磁気素子が搭載されたヘッドを前記磁気テープの幅方向に対して前記磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構と、
    前記記憶媒体に記憶されている前記傾斜特徴情報に応じて前記傾斜機構を制御する制御装置と、
    を備える磁気テープドライブ。
12. 前記磁気テープに対して張力を付与する張力付与機構を更に備える
    請求項１１に記載の磁気テープドライブ。
13. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンドの前記幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶し、
    前記制御装置は、前記ピッチ情報に基づいて前記磁気テープに付与される張力を調整する
    請求項１１又は請求項１２に記載の磁気テープドライブ。
14. 前記ピッチ情報に、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる
    請求項１３に記載の磁気テープドライブ。
15. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置と、前記複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の前記複数の位置における前記磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、
    前記制御装置は、前記サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、前記複数の磁気素子の前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の位置に対応したピッチを用いて、前記磁気テープに付与される張力を調整する
    請求項１４に記載の磁気テープドライブ。
16. 前記制御装置は、前記磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって前記複数のサーボバンドが読み取られた結果と、前記複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて前記ピッチを算出する
    請求項１４又は請求項１５に記載の磁気テープドライブ。
17. 磁気テープシステムであって、
    請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジと、
    前記複数の磁気素子が搭載されたヘッドを前記磁気テープの幅方向に対して前記磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構と、
    前記記憶媒体に記憶されている前記傾斜特徴情報に応じて前記傾斜機構を制御する制御装置と、
    を備える磁気テープシステム。
18. 前記磁気テープに対して張力を付与する張力付与機構を更に備える
    請求項１７に記載の磁気テープシステム。
19. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンドの前記幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶し、
    前記制御装置は、前記ピッチ情報に基づいて前記磁気テープに付与される張力を調整する
    請求項１７又は請求項１８に記載の磁気テープシステム。
20. 前記ピッチ情報に、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる
    請求項１９に記載の磁気テープシステム。
21. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置と、前記複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の前記複数の位置における前記磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、
    前記制御装置は、前記サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、前記複数の磁気素子の前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の位置に対応したピッチを用いて、前記磁気テープに付与される張力を調整する
    請求項２０に記載の磁気テープシステム。
22. 前記制御装置は、前記磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって前記複数のサーボバンドが読み取られた結果と、前記複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて前記ピッチを算出する
    請求項２０又は請求項２１に記載の磁気テープシステム。
23. 請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の磁気テープカートリッジに含まれる前記記憶媒体に記憶されている前記傾斜特徴情報を取得することと、
    前記複数の磁気素子が搭載されたヘッドを前記磁気テープの幅方向に対して前記磁気テープの全長方向側に傾斜させる傾斜機構を、取得した前記傾斜特徴情報に応じて制御することと、を含む
    磁気テープドライブの動作方法。
24. 前記磁気テープに対して張力を付与することを更に含む、
    請求項２３に記載の磁気テープドライブの動作方法。
25. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンドの前記幅方向のピッチを特定可能なピッチ情報を更に記憶し、
    前記ピッチ情報に基づいて前記磁気テープに付与される張力を調整することを更に含む、
    請求項２３又は請求項２４に記載の磁気テープドライブの動作方法。
26. 前記ピッチ情報に、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置でのピッチが含まれる
    請求項２５に記載の磁気テープドライブの動作方法。
27. 前記記憶媒体は、前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の複数の位置と、前記複数のサーボバンドの各々に形成されているサーボパターンを構成する一対の磁化領域間の前記複数の位置における前記磁気テープの全長方向の距離とを対応付けたサーボパターン距離情報を更に記憶し、
    前記サーボパターン距離情報を用いて検出した位置であって、前記複数の磁気素子の前記複数のサーボバンド内における前記幅方向の位置に対応したピッチを用いて、前記磁気テープに付与される張力を調整することを更に含む
    請求項２６に記載の磁気テープドライブの動作方法。
28. 前記磁気テープに対して磁気テープドライブによってデータの記録が行われる前段階で、複数のサーボ読取素子によって前記複数のサーボバンドが読み取られた結果と、前記複数のサーボ読取素子間の距離に基づいて前記ピッチを算出することを更に含む
    請求項２６又は請求項２７に記載の磁気テープドライブの動作方法。

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