JP2021500754A - 機能化されたn−ヘテロサイクリックカルベン化合物を含むグラフェントランジスタ及びその製造方法、これを含むバイオセンサ - Google Patents
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Abstract
Description
性及び敏感度に影響を及ぼす点で、グラフェンの表面に対する改質が要求されている。
質及びバイオ探針の付着を容易にできるだけでなく、前記バイオ探針に結合される被検出物質の特異的結合によってグラフェンチャンネル層の電気伝導度がより敏感に変化し得るトランジスタを提供することを目的とする。
本発明の一実施形態は、グラフェントランジスタを提供する。
n−on−insulator)層、半導体−オン−絶縁体(semiconductor−on−insulator)層等を含んでよい。
具体的に、前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、下記の化学式(1)で表されてよい。
ら10のアルキレン基又はアルコキシアルキレン基であってよいが、グラフェンチャンネル層の電気伝導度の敏感性側面で、R1は、繰り返し単位が1から4であり、炭素数1から8であるアルキレン基又はアルコキシアルキレン基であるのが好ましく、繰り返し単位が1から4であり、炭素数2から5であるアルコキシアルキレン基であるのがより好ましい。
度が減少する問題がある。
本発明の他の実施形態は、グラフェントランジスタの製造方法を提供する。
クカルベン化合物溶液に常温で一定時間浸漬する方法により形成させてよい。
本発明のまた他の実施形態は、上記のようなグラフェントランジスタを含むバイオセンサを提供する。
プが形成されるため、バンドギャップの形成のための別途のドーピング処理を必要としないが、作動効率と信頼性の側面で、バンドギャップエネルギーを調節するためのドーピングが求められる。
物に直接バイオ探針部が結合する点で、グラフェンチャンネル層に対するドーピングとバイオ探針部の付着を同時に実施できるところ、工程の簡素化により経済性が向上される効果を発揮する。
しかし、これらの実施例は、本発明をより具体的に説明するためのものであって、本発明の範囲がこれにより限定されるのではない。
[製造例1]6−(4−アジドブトキシ−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデン(以下、「NHC1」と記載する)の合成
4−アミノ−3−ニトロフェノール(2.0g、13.0mmol)と1,4−ジブロモブタン(3.64g、16.9mmol)が含まれた無水アセトニトリル(65ml)溶液に、K2CO3(1.8g、13.0mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を80℃で12時間撹拌した。反応混合物を常温まで冷却した後、無機沈殿物をろ過してアセトニトリル(50ml)で洗浄した。次いで、溶媒を蒸発させ、粗生成物をn−ヘキサン:エチルアセテート勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.5g(67%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC10H13BrN2O3のESI−MS(m/z):288.01、Calc.:288.01であった。
4−(4−ブロモブトキシ)−2−ニトロアニリン(2.5g、8.65mmol)、鉄粉末(4.8g86.5mmol)及び塩化アンモニウム(4.6g、86.5mmol)が含まれたイソプロピルアルコール(60ml)に、ギ酸(45ml)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で16時間撹拌した後、これを常温まで冷却し、焼結ガラスろ過器でろ過した。得られた固形分をイソプロピルアルコール(3×50ml)で洗浄した。ろ過された液体を蒸発乾燥し、飽和炭酸水素ナトリウム溶液を添加してpH7になるまで中和した。次いで、懸濁液(suspension)を塩化メチレン(3×100ml)で抽出した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させた後、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.86g(80%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC11H13BrN2OのESI−MS(m/z):269.14、Calc.:269.14であった。
アルゴンの存在下で、5−(4−ブロモブトキシ)−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.86g、6.91mmol)をN,N−ジメチルホルムアミド(35ml)中のアジド化ナトリウム(NaN3、0.49g、7.6mmol)と共に80℃で8時間撹拌した。反応混合物を水(200ml)に入れてエチルアセテート(2×150ml)で抽出した。結合された有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させた後、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.4g(88%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC11H13N5OのESI−MS(m/z):231.25、Calc.:231.26であった。
5−(4−アジドブトキシ)−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.4g、6.05mmol)とアセトニトリル(60ml)中の炭酸セシウム(Cs2CO3、1.97g、6.05mmol)の懸濁液に2−ヨードプロパン(15.1ml、151mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で24時間撹拌した。次いで、過量の2−ヨードプロパン及び溶媒を真空で蒸発させた。粗生成物を塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.8g(67%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC17H26N5OIのESI−MS(m/z):316.20、Calc.:316.21であった。
5−(4−アジドブトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムヨウ化物(80mg、0.18mmol)を無水THF(3.6ml)に溶解し、グローブボックスで撹拌してプレカルベンを得た。基礎液としてTHF中の1M KHMDS(0.18ml、0.18mmol)を常温で混合物に滴加し15分間撹拌した。白色沈殿物(KI)が即刻に形成されることが観察できた。生成された混合物を0.2μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、0.05M濃度のカルベンで希釈することでNHC1を製造した。
4−アミノ−3−ニトロフェノール(2.0g、13.0mmol)及び1−ブロモ−2−(2−(2−(2−ブロモエトキシ)エトキシ)エトキシ)エタン(6.24g、19.5mmol)が含まれた無水アセトニトリル(65ml)溶液に、K2CO3(1.8g、13.0mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を80℃で12時間撹拌した。反応混合物を常温まで冷却した後、無機沈殿物をろ過してアセトニトリル(80ml)で洗浄した。次いで、溶媒を蒸発させ、粗生成物をn−ヘキサン:エチルアセテート勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製し、生成物を収得した。
このとき、収率:3.8g(75%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC14H21BrN2O4のESI−MS(m/z):393.06、Calc.:393.07であった。
4−(2−(2−(2−(2−ブロモエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ−2−ニトロアニリン(3.8g、9.66mmol)、鉄粉末(5.40g、96.6mmol)及び塩化アンモニウム(5.16g、96.6mmol)が含まれたイソプロピルアルコール(70ml)に、ギ酸(48ml)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で20時間撹拌した後、これを常温まで冷却し、焼結ガラスろ過器でろ過した。得られた固形分をイソプロピルアルコール(3×50ml)で洗浄した。ろ過された液体を蒸発乾燥し、飽和炭酸水素ナトリウム溶液を添加してpH7になるまで中和した。次いで、懸濁液(suspension)を塩化メチレン(3×100ml)で抽出した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させた後、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.8g(78%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC15H31BrN2O4のESI−MS(m/z):372.06、Calc.:372.07であった。
アルゴンの存在化で、5−(2−(2−(2−(2−ブロモエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(2.8g、7.5mmol)をN,N−ジメチルホルムアミド(40ml)中のアジド化ナトリウム(NaN3、0.536g、8.25mmol)と共に80℃で8時間撹拌した。反応混合物を水(200ml)に入れてEtOAc(2×150ml)で抽出した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させた後、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.0g(80%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC15H21N5O4のESI−MS(m/z):335.15、Calc.:335.16であった。
5−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.9g、5.66mmol)とアセトニトリル(60ml)中の炭酸セシウム(1.84g、5.66mmol)の懸濁液に2−ヨードプロパン(14ml、141mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で24時間撹拌した。次いで、過量の2−ヨードプロパン及び溶媒を真空で蒸発させた。粗生成物をジクロロメタン:メタノール勾配混合物を用いるシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.1g(70%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC21H34N5O4のESI−MS(m/z):420.26、Calc.:420.26であった。
5−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムヨウ化物(80mg、0.15mmol)を無水THF(3ml)に溶解し、グローブボックスで撹拌してプレカルベンを得た。基礎液としてTHF中の1M KHMDS(0.15ml、0.15mmol)を常温で混合物に滴加し15分間撹拌した。白色沈殿物(KI)が即刻に形成されることが観察できた。生成された混合物を0.2μmのPTFEシリンジフィルタ
ーでろ過し、0.05M濃度のカルベンで希釈することでNHC2を製造した。
5−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1,3−ジベンジル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.2g、3.58mmol)とアセトニトリル(36ml)中の炭酸セシウム(1.17g、3.58mmol)の懸濁液にベンジルブロム化物(11ml、82mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で24時間撹拌した。次いで、過量のベンジルブロム化物を真空で蒸発させた。粗生成物をジクロロメタン:メタノール勾配混合物を用いるシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.7g(80%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC29H34N5O4のESI−MS(m/z):516.26、Calc.:516.26であった。
5−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1,3−ジベンジル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムブロム化物(90mg、0.15mmol)を無水THF(3ml)に溶解し、グローブボックスで撹拌してプレカルベンを得た。基礎液としてTHF中の1M KHMDS THF(0.15ml、0.15mmol)を常温で混合物に滴加し15分間撹拌した。白色沈殿物 (KBr)
が即刻に形成されることが観察できた。生成された混合物を0.2μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、0.05M濃度のカルベンで希釈することでNHC3を製造した。
4−アミノ−3−ニトロフェノール(2.0g、13.0mmol)とN−(4−ブロモブチル)フタルイミド(4.03g、14.3mmol)が含まれた無水アセトニトリル(65ml)溶液に、K2CO3(1.8g、13.0mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を80℃で12時間撹拌した。反応混合物を常温まで冷却した後、無機沈殿物をろ過してアセトニトリル(50ml)で洗浄した。次いで、溶媒を蒸発させ、粗生成物をn−ヘキサン:エチルアセテート勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:3.65g(79%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC18H17N3O5のESI−MS(m/z):355.11、Calc.:355.12であった。
2−(4−(4−アミノ−3−ニトロフェノキシ)ブトキシ)イソインドリン−1,3
−ジオン(3.0g、8.44mmol)、鉄粉末(4.71g、84.4mmol)及び塩化アンモニウム(4.51g、84.4mmol)が含まれたイソプロピルアルコール(60ml)に、ギ酸(45ml)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で16時間撹拌した後、これを常温まで冷却し、焼結ガラスろ過器でろ過した。得られた固形分をイソプロピルアルコール(3×60ml)で洗浄した。ろ過された液体を蒸発乾燥し、飽和炭酸水素ナトリウム溶液を添加してpH7になるまで中和した。次いで、懸濁液(suspension)を塩化メチレン(3×100ml)で抽出した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させ、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.1g(75%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC11H13BrN2OのESI−MS(m/z):335.13、Calc.:335.13であった。
2−(4−((1H−ベンゾ[d]イミダゾール−5−イル)オキシ)ブチル)イソインドリン−1,3−ジオン(2.0g、5.96mmol)とアセトニトリル(60ml)中の炭酸セシウム(Cs2CO3、1.94g、5.96mmol)の懸濁液に、2−ヨードプロパン(15ml、149mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で24時間撹拌した。次いで、過量の2−ヨードプロパン及び溶媒を真空で蒸発させた。粗生成物を塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.1g(65%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC17H26N5OIのESI−MS(m/z):420.23、Calc.:420.23であった。
5−(4−(1,3−ジオキソイソインドリン−2−イル)ブトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムヨウ化物(99mg、0.18mmol)を無水THF(3.6ml)に溶解し、グローブボックスで撹拌してプレカルベンを得た。基礎液としてTHF中の1M KHMDS(0.18ml、0.18mmol)を常温で混合物に滴加し15分間撹拌した。白色沈殿物(KI)が即刻に形成されることが観察できた。生成された混合物を0.2μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、0.05M濃度のカルベンで希釈することでNHC4を製造した。
4−アミノ−3−ニトロフェノール(2.0g、13.0mmol)と1,4−ジブロモブタン(3.64g、16.9mmol)が含まれた無水アセトニトリル(65ml)溶液に、K2CO3(1.8g、13.0mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を80℃で12時間撹拌した。反応混合物を常温まで冷却した後、無機沈殿物をろ過してアセトニトリル(50ml)で洗浄した。次いで、溶媒を蒸発させ、粗生成物をn−ヘキサン:エチルアセテート勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:2.5g(67%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC10H13BrN2O3のESI−MS(m/z):288.01、Calc.:288.01であった。
4−(4−ブロモブトキシ)−2−ニトロアニリン(2.5g、8.65mmol)、鉄粉末(4.8g、86.5mmol)及び塩化アンモニウム(4.6g、86.5mmol)が含まれたイソプロピルアルコール(60ml)に、ギ酸(45ml)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で16時間撹拌した後、これを常温まで冷却し、焼結ガラスろ過器でろ過した。得られた固形分をイソプロピルアルコール(3×50ml)で洗浄した。ろ過された液体を蒸発乾燥し、飽和炭酸水素ナトリウム溶液を添加してpH7になるまで中和した。次いで、懸濁液(suspension)を塩化メチレン(3×100ml)で抽出した。有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させた後、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.86g(80%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC11H13BrN2OのESI−MS(m/z):269.14、Calc.:269.14であった。
アルゴンの存在下で、5−(4−ブロモブトキシ)−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.86g、6.91mmol)をN,N−ジメチルホルムアミド(35ml)中のアジド化ナトリウム(NaN3、0.49g、7.6mmol)と共に80℃で8時間撹拌した。反応混合物を水(200ml)に入れてエチルアセテート(2×150ml)で抽出した。結合された有機層を硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を蒸発させ、粗生成物と塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
このとき、収率:1.4g(88%)、1H NMR(600MHz、CDDl3):δC11H13N5OのESI−MS(m/z):231.25、Calc.:231.26であった。
5−(4−アジドブトキシ)−1H−ベンゾ[d]イミダゾール(1.4g、6.05mmol)とアセトニトリル(60ml)中の炭酸セシウム(Cs2CO3、1.97g、6.05mmol)の懸濁液に、ベンジルブロミド(20ml、20mmol)を添加した。アルゴンの存在下で、反応混合物を90℃で24時間撹拌した。次いで、過量のベンジルブロミド及び溶媒を真空で蒸発させた。粗生成物を塩化メチレン:メタノール勾配混合物を用いてシリカカラムクロマトグラフィーで精製した。
5−(4−アジドブトキシ)−1,3−ジベンジル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムブロム化物(80mg、0.18mmol)を無水THF(3.6ml)に溶解し、グローブボックスで撹拌してプレカルベンを得た。基礎液としてTHF中の1M
KHMDS(0.18ml、0.18mmol)を常温で混合物に滴加し15分間撹拌した。白色沈殿物(KI)が即刻に形成されることが観察できた。生成された混合物を0.2μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、0.05M濃度のカルベンで希釈することでNHC5を製造した。
前記のように製造されたNHC5の分子構造式を、核磁気共鳴分光法(NMR)を用いて確認した結果を図12に示した。
[実施例1]NHC1がリンカ層として適用されたグラフェントランジスタの製造
図15から図17に示された通り、銅ホイルをチャンバ内に位置させ、これを1,000℃まで加熱し、これをH2 90mTorr及び8sccmで30分(20分のプレアニーリングと10分の安定化)間維持した後、CH4を20sccmで40分間総圧力が560mTorrの状態で加えた後、これを35℃/minで200℃まで冷却し、炉(furnace)を常温まで冷却して前記銅ホイル上に単一のグラフェン層を形成した。
次いで、前記銅ホイル上に形成されたグラフェン層上にポリメチルメタクリレート(PMMA、MicroChem Corp、950PMMA A4、4% in anisole)溶液を1分当たり6,000rpmの速度でスピンコーティングし、エッチャントを用いて前記PMMAがコーティングされたグラフェン層を前記銅ホイルから分離した後、前記のように銅ホイルから分離されたグラフェン層を10分間脱イオン蒸留水に浸漬して前記グラフェン層に残っている残余エッチャントイオンを除去した。
前記のように洗浄されたグラフェン層を基板であるポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムで転写した後、前記グラフェン層上にPMMA溶液を投下し、前記グラフェン層をコーティングしているPMMAを除去することで、基板上にグラフェンチャンネル層を形成した。このとき、透明性は97.8%に維持された。
前記実施例[1−1]を介して基板上に形成されたグラフェンチャンネル層に、ポジティブフォトレジスト(AZ5214、Clariant Corp)をスピンコーティングした後、UV露光、ベーキング及び現像の過程を経てグラフェンチャンネル層をパターン化した。
前記のようにパターン化され整列されたグラフェンチャンネル層の両末端にRIE(oxygen plasma treatment)方法を介してパターン電極(幅/長さ=W/L=1、L=100μmのチャンネル長さ)を形成した後、イメージ反転、熱蒸着及びリフト−オフ(Lift−off)の工程を介して前記グラフェンチャンネル層上にマイクロパターン電極(W/L=5、L=100μmのチャンネル長さ)が形成されたグラフェントランジスタを製造した。
アルゴンの存在下で、ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムのヨード化物又はブロム化物0.25mmolが含まれている無水THF(5ml)を常温で掻きまぜながら、基礎液として1M HMDSが含まれているTHF(0.25mmol)を前記ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウム溶液に滴加した後、15分間撹拌して混合溶液を製造した。このとき、固体沈殿物(KI又はKBr)が即刻に形成されることが観察できた。次いで、前記混合溶液を0.25μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、濃度が0.05Mである製造例1のカルベン化合物で希釈し、NHC1が含まれたカルベン溶液を準備した。ろ過終了後、アルゴンの存在下で、前記実施例[1−2]で準備したグラフェントランジスタを前記カルベン溶液に常温で20分間浸漬してから、THF、脱イオン水(DI)及びIPAで洗浄し、真空状態で乾燥することで、グラフェンチャンネル層上にNHC1のカルベン化合物が付着された実施例1のグラフェントランジスタを製造した。
製造例2のN−ヘテロサイクリックカルベン化合物(NHC2)を用いたことを除いては、前記実施例1と同一の方法でグラフェントランジスタを製造した。
製造例3のN−ヘテロサイクリックカルベン化合物(NHC3)を用いたことを除いては、前記実施例1と同一の方法でグラフェントランジスタを製造した。
製造例4のN−ヘテロサイクリックカルベン化合物(NHC4)を用い、以下の化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition)を用いてグラフェンチャンネル層とNHC4を結合させたことを除いては、前記実施例1と同一の方法でグラフェントランジスタを製造した。
化学気相蒸着法(Chemical Vapor Deposition)を用いたグラフェンチャンネル層とNHC4の結合をより具体的に説明する。アルゴンの存在下で、ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウムヨウ化物又はブロム化物0.15〜0.25mmolが含まれている無水THF(5ml)を常温で掻きまぜながら、基礎液として1M KHMDS(0.15〜0.25mmol)が含まれているTHF(0.15〜0.25mmol)を前記ベンゾ[d]イミダゾール−3−リウム溶液に滴加した後、15分間撹拌して混合溶液を製造した。このとき、固体沈殿物(KI又はKBr)が即刻に形成されることが観察できた。次いで、前記混合溶液を0.25μmのPTFEシリンジフィルターでろ過し、濃度が0.05Mである製造例4のカルベン化合物で希釈し、NHC4が含まれたカルベン溶液を準備した。ろ過終了後、混合溶液中のTHF溶媒を50〜60℃で除去し、前記実施例[1−2]で準備したグラフェントランジスタを120〜150℃で500mTorrの圧力で15分〜30分間減圧することで、前記グラフェンチャンネル層上にNHC4のカルベン化合物を気相蒸着させ、これをTHF及びIPAに洗浄してから真空状態で乾燥し、グラフェンチャンネル層上にNHC4のカルベン化合物が付着された実施例4のグラフェントランジスタを製造した。
製造例5のN−ヘテロサイクリックカルベン化合物(NHC5)を用いたことを除いては、前記実施例1と同一の方法でグラフェントランジスタを製造した。
N−ヘテロサイクリックカルベン化合物を用いていないことを除いては、前記実施例1と同一の方法でグラフェントランジスタを製造した。
前記実施例[1−1]及び[1−2]を介して形成されたグラフェントランジスタを、1,5−ジアミノナフタレン(DAN)0.0015wt%を含んだメタノール溶液30mLに浸漬して反応を行った後、蒸留水を用いて残余反応物を除去し、窒素ガスを用いて水分を除去し、DANのナフタレン環がグラフェンチャンネル層とπ−πの相互作用を形成し、DANのアミン基(−NH2)が外部に露出されるようにすることで、グラフェンチャンネル層の表面がDANのアミン基で改質されたグラフェントランジスタ(DAN pi−pi interacted GT)を製造した。
N−ヘテロサイクリックカルベン化合物によるグラフェンチャンネル層との結合適合性の差、N−ヘテロサイクリックカルベン化合物によるバイオ探針部(H1N1 HA抗体)の付着可否、及び、グラフェンチャンネル層に対するn−ドーピング可否を確認するために、実施例1(図19のd)において、Alkyl−NHC−covalent GTで表される)、実施例2、実施例3(図19のd)及びe)において、Benzyl−NHC−covalent GTで表される)、比較例1(Bare GT)及び比較例2(DAN pi−pi interacted GT)のグラフェントランジスタを準備し、5ng/mL濃度のH1N1 HA抗体2μLを前記グラフェンチャンネル層に投入した後、EDC−NHS反応を介してH1N1 HA抗体がリンカ層上に付着されているバイオセンサを製造し、密度関数理論(Density Functional Theory、DFT)によるモデリングを行って電流−電圧特性及び転移曲線特性を測定し、その結果を図19に示した。
図19のa)〜c)によれば、NHC1からNHC3のN−ヘテロサイクリックカルベン化合物とグラフェンチャンネル層は、それぞれ0.51eV、0.443eV及び0.521eVの高いバンドギャップエネルギー(強い電子密度に対応される)を有するものと確認されたところ、本発明によるカルベン化合物は、グラフェンチャンネル層と優れた結合性を示すことが分かる。また、図19のd)によれば、比較例1(Bare GT)の電気抵抗が最も小さいことが分かるところ、これから実施例1、実施例3及び比較例1のグラフェンチャンネル層は、カルベン化合物と結合していることが分かる。また、比較例2(pi−pi interacted GT)に比べ実施例1(Alkyl−NHC−covalent)と実施例3(Benzyl−NHC−covalent)の電気抵抗が増加した点で、実施例1及び実施例3のグラフェントランジスタにはH1N1 HA抗体が成功的に付着されたことが分かる。
一方、図19のe)によれば、H1N1 HA抗原を投入した場合、転移曲線が左側に約0.1V移動した点から、グラフェンチャンネル層に対してN−ヘテロサイクリックカルベン化合物(NHC3)によるn−ドーピングが行われたことが分かる。
N−ヘテロサイクリックカルベン化合物及びN−ヘテロサイクリックカルベン化合物のn−ドーピングによるグラフェンチャンネル層の変化を観察するために、実施例1(Alkyl−NHC−covalent GT)、実施例3(Benzyl−NHC−covalent GT)、比較例1(Bare GT)及び比較例2(pi−pi interacted GT)のグラフェントランジスタを製造し、これに対してラマン分光法を行って電流−電圧特性を測定し、その結果を図20に示した。このとき、プリスティングラフェン(Pristine graphene)は、グラフェンチャンネル層がN−ヘテロサイクリックカルベン化合物で機能化されていないグラフェンを意味する。
図20のa)によれば、アジド基(NHC_N3_graphene、実施例1)又はフタルイミド基(NHC_Nph_graphene、実施例3)で機能化されたグラフェントランジスタは、1,600(cm−1)付近で大きく且つ鋭い(鋭利な)模様のピークを示した点で、グラフェンチャンネル層が単一層でなることが分かる。
一方、N−ヘテロサイクリックカルベン化合物で機能化されていないグラフェンを用いた比較例1の場合、2,600(cm−1)付近で最も大きいピークを示した点で、グラフェンチャンネル層が多層に形成されていることが分かる。
図20のb)によれば、比較例1、比較例2、実施例1及び実施例3の順にn−ドーピングが増加したところ、これにより一定のVgでIds値がマイナス増加した点で、N−ヘテロサイクリックカルベン化合物の付着量も増加したことが分かる。
バイオセンサの感度を確認するために、実施例3(benzyl−NHC−covalent GT)のカルベン化合物が形成されているグラフェントランジスタを準備し、5ng/mL濃度のH1N1 HA抗体2μL及びドパミン抗体2μLをそれぞれのグラフェンチャンネル層に投入した後、EDC−NHS反応を介してH1N1 HA抗体及びドパミン抗体が付着されているバイオセンサを製造し、PBS溶液を用いて各抗原に対し0.1nM〜100nM濃度のH1N1 HA抗原又は100nMのドパミンを処理して検出実験を行い、その結果を図13及び図14に示した。
図13及び図14に示された通り、本発明によるバイオセンサを介して1nM濃度のH1N1 HA抗原、そして100nM濃度のドパミンまでも検出できることを確認した。
また、実施例4のカルベン化合物が形成されているグラフェントランジスタを準備し、ゲオスミン(geosmin)に特異的なアプタマー(5’−CTCTCGGGACGACCCGTTTGTTCCTCGGCTTTTTAAGAGGTCTGGTTGATGTCGTCCC−3’、バイオニア社製)2μLをグラフェンチャンネル層に投入した後、EDC−NHS反応を介してゲオスミンに特異的なアプタマーが付着されているバイオセ
ンサを製造し、PBS溶液を用いて1〜100fg/mLのゲオスミンを処理して検出実験を行った結果、図21に示された通り、本発明によるバイオセンサを介して1fg/mLのゲオスミンまでも検出できることを確認した。
また、実施例5のカルベン化合物が形成されているグラフェントランジスタを準備し、5ng/mL濃度のAMP(Magainin 1、Lugen sci社製)2μLをグラフェンチャンネル層に投入した後、EDC−NHS反応を介してAMPが付着されているバイオセンサを製造し、PBS溶液を用いて10〜100CFU/mLのE.coliを処理して検出実験を行った結果、図22に示された通り、本発明によるバイオセンサを介して10CFU/mLのE.coliまでも検出できることを確認した。
Claims (13)
- 基板と、
前記基板に配置されるグラフェンチャンネル層と、
前記グラフェンチャンネル層の両端に離隔して配置される一対の金属と、
前記グラフェンチャンネル層上に配置され、N−ヘテロサイクリックカルベン化合物でなるリンカ層と、
を含むグラフェントランジスタ。 - 前記リンカ層は、前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物のカルベン基とグラフェンチャンネル層の共有結合によって形成され、前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、末端部位がアジド基又はフタルイミド基で機能化されて露出される、請求項1に記載のグラフェントランジスタ。
- 前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、下記化学式(1)の化学構造を有する、請求項1に記載のグラフェントランジスタ:
前記化学式(1)において、Aは、アジド基(azide)又はフタルイミド基(phthalimide)であり、R1は、繰り返し単位が1から5である炭素数1から10のアルキレン基又はアルコキシアルキレン基であり、R2及びR3は、互いに独立して、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリール基、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、アルコキシ基、アリールアルキル基でなる群から選択される何れか一つであってよい。 - 前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、6−4(−アジドブトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデン、6−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデン、6−(2−(2−(2−(2−アジドエトキシ)エトキシ)エトキシ)エトキシ)−1,3−ジベンジル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデン、6−(4−(1,3−ジイソインドリン−2−イル)ブトキシ)−1,3−ジイソプロピル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデン及び6−(4−アジドブトキシ−1,3−ジベンジル−1H−ベンゾ[d]イミダゾール−2−イリデンでなる群から選択される少なくとも何れか一つである、請求項3に記載のグラフェントランジスタ。
- 前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、一対の金属の間に露出されているグラフェンチャンネル層上に形成される、請求項1に記載のグラフェントランジスタ。
- 前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、自己結合単一層を形成する、請求項1に記載のグラフェントランジスタ。
- 前記リンカ層の厚さは、0.1nm〜1nmである、請求項1に記載のグラフェントランジスタ。
- 前記グラフェンチャンネル層は、単層又は二層(bi−layer)のグラフェンでなる、請求項1に記載のグラフェントランジスタ。
- 基板上に炭化水素ガスを炭素供給源として化学気相蒸着法によりグラフェンを成長させてグラフェンチャンネル層を形成する段階と、
前記グラフェンチャンネル層に熱蒸着工程により一対の金属を形成する段階と、
前記グラフェンチャンネル層の外部に露出される表面上にN−ヘテロサイクリックカルベン化合物を含む表面処理剤を用いてリンカ層を形成する段階と、
を含むグラフェントランジスタの製造方法。 - 前記N−ヘテロサイクリックカルベン化合物は、イミダゾリウム塩をソースとして用いて合成される、請求項9に記載のグラフェントランジスタの製造方法。
- 請求項1から8の何れか一項に記載のグラフェントランジスタを含むバイオセンサ。
- 前記バイオセンサは、グラフェントランジスタのリンカ層上に露出されているアジド基又はフタルイミド基に結合されるバイオ探針部を含み、
前記バイオ探針部は、DNA、RNA、抗原、抗体、ペプチドでなる群から選択される少なくとも一つでなるプローブ物質を含む、請求項11に記載のバイオセンサ。 - 前記抗原、抗体は、H1N1 HAである、請求項12に記載のバイオセンサ。
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KR102722427B1 (ko) * | 2021-04-22 | 2024-10-29 | 한국생명공학연구원 | 바이러스 수용체를 포함하는 그래핀 채널 부재, 이를 포함하는 센서 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003037791A1 (de) * | 2001-10-29 | 2003-05-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Derivatisierte nanoröhren oder nanozwiebeln, komposite mit diesen verbindungen, verfahren zur herstellung und verwendungen |
WO2014104156A1 (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-03 | 国立大学法人東京大学 | ガスセンサ及びガスセンサ構造体 |
US20170200909A1 (en) * | 2014-06-26 | 2017-07-13 | Tufts University | 3d graphene transistor |
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US7619257B2 (en) * | 2006-02-16 | 2009-11-17 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Devices including graphene layers epitaxially grown on single crystal substrates |
JP2010521429A (ja) * | 2007-03-07 | 2010-06-24 | マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー | ナノチューブおよびフラーレンを含むナノスケール物品の官能基化 |
KR101174870B1 (ko) * | 2009-02-06 | 2012-08-17 | 에이비씨상사 주식회사 | 그라펜 복합체 조성물 및 이를 이용한 투명한 전도성 필름 |
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KR20130023237A (ko) * | 2010-04-05 | 2013-03-07 | 더 보드 어브 트러스티스 어브 더 리랜드 스탠포드 주니어 유니버시티 | N-형 도핑된 유기 재료 및 이를 위한 방법 |
EP2655547A1 (en) * | 2010-12-20 | 2013-10-30 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Compositions for electronic applications |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003037791A1 (de) * | 2001-10-29 | 2003-05-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Derivatisierte nanoröhren oder nanozwiebeln, komposite mit diesen verbindungen, verfahren zur herstellung und verwendungen |
WO2014104156A1 (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-03 | 国立大学法人東京大学 | ガスセンサ及びガスセンサ構造体 |
US20170200909A1 (en) * | 2014-06-26 | 2017-07-13 | Tufts University | 3d graphene transistor |
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