JP2021192325A - 磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】磁気ヘッドの位置決め精度を向上させること。【解決手段】一つの実施形態によれば、磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、磁気ディスクを回転させるスピンドルモータと、モータドライバと、コントローラと、を備える。モータドライバは、スピンドルモータにモータ電流を供給し、スピンドルモータが１回転する毎にスピンドルモータの逆起電圧の測定を行う。コントローラは、磁気ディスクの回転が開始した後、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、設定された第１の位置に調整する、制御を実行する。【選択図】図１

Description

本実施形態は、磁気ディスク装置に関する。

従来、磁気ディスク装置における磁気ヘッドの位置決め誤差の一つの成分として、ＲＲＯ（Repeatable RunOut）が知られている。ＲＲＯとは、バーストパターンによって定義されるトラックの軌道と実際のトラックの軌道との位置ずれである。ＲＲＯは、磁気ディスク（およびスピンドルモータ）の回転に同期して変動する。

磁気ディスク装置の製造工程では、ＲＲＯが学習される。磁気ディスク装置が使用される際には、ＲＲＯの学習値を用いて磁気ヘッドの位置の補正が行われる。

米国特許第６４１４８１２号明細書 米国特許第５２７６５６９号明細書 米国特許第７０４２６６８号明細書

一つの実施形態は、磁気ヘッドの位置決め精度を向上させることを目的とする。

一つの実施形態によれば、磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、磁気ディスクを回転させるスピンドルモータと、モータドライバと、コントローラと、を備える。モータドライバは、スピンドルモータにモータ電流を供給し、スピンドルモータが１回転する毎にスピンドルモータの逆起電圧の測定を行う。コントローラは、磁気ディスクの回転が開始した後、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、設定された第１の位置に調整する、制御を実行する。

図１は、第１の実施形態の磁気ディスク装置の構成の一例を示す模式的な図である。 図２は、第１の実施形態の磁気ディスクの構成の一例を示す模式的な図である。 図３は、第１の実施形態にかかるモータ電流の値がゼロクロスするモータ位置を磁気ディスクの円周方向の位置に対応付けて示した図である。 図４は、第１の実施形態にかかる第１モードでのモータ電流の波形の一部を切り出したグラフである。 図５は、第１の実施形態にかかる第２モードでのモータ電流の波形の一部を切り出したグラフである。 図６は、ＲＲＯの学習の際の第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図７は、第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置において逆起電圧の測定が行われるモータ位置が対象のモータ位置に調整される例を説明するための図である。 図８は、ユーザが第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置を使用するときの磁気ディスク装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図９は、ＲＲＯの学習の際の第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図１０は、ユーザが第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置を使用するときの磁気ディスク装置の動作の一例を示すフローチャートである。

以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる磁気ディスク装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態の磁気ディスク装置１の構成の一例を示す模式的な図である。

磁気ディスク装置１は、ホスト２に接続される。磁気ディスク装置１は、ホスト２から、ライトコマンドやリードコマンドなどの、アクセスコマンドを受信することができる。

磁気ディスク装置１は、表面に磁性層が形成された磁気ディスク１１を備える。磁気ディスク装置１は、アクセスコマンドに応じて磁気ディスク１１にデータを書き込んだり磁気ディスク１１からデータを読み出したりする。

データの書き込みおよび読み出しは、磁気ヘッド２２を介して行われる。具体的には、磁気ディスク装置１は、磁気ディスク１１のほかに、スピンドルモータ１２、モータドライバＩＣ（Integrated Circuit）２１、磁気ヘッド２２、アクチュエータアーム１５、
ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１６、ランプ１３、ヘッドＩＣ２４、リードライトチャネル（ＲＷＣ）２５、ＲＡＭ２７、ＦＲＯＭ（Flash Read Only Memory）２８、バッフ
ァメモリ２９、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）２３、およびプロセッサ２６を備える。

磁気ディスク１１は、同軸に取り付けられたスピンドルモータ１２により、所定の回転速度で回転される。スピンドルモータ１２は、モータドライバＩＣ２１により駆動される。

モータドライバＩＣ２１は、スピンドルモータ１２の回転およびＶＣＭ１６の回転を制御する。特に、モータドライバＩＣ２１は、スピンドルモータ１２に生じる逆起電圧をスピンドルモータ１２が１回転する毎に１回以上測定し、逆起電圧の測定値に基づいてスピンドルモータ１２の現在の回転速度を取得する。そして、モータドライバＩＣ２１は、取得した現在の回転速度に基づいて、スピンドルモータ１２の速度制御を実行する。なお、モータドライバＩＣ２１は、モータドライバの一例である。

磁気ヘッド２２は、それに備わるライト素子２２ｗおよびリード素子２２ｒにより、磁気ディスク１１に対してデータのライトやリードを行う。また、磁気ヘッド２２は、アクチュエータアーム１５の先端に取り付けられている。磁気ヘッド２２は、モータドライバＩＣ２１によって駆動されるＶＣＭ１６により、磁気ディスク１１の径方向に沿って移動される。

磁気ディスク１１の回転が停止しているときなどは、磁気ヘッド２２は、ランプ１３上に移動される。ランプ１３は、磁気ヘッド２２を、磁気ディスク１１から離間した位置で保持するように構成されている。

ヘッドＩＣ２４は、読み出し時に、磁気ヘッド２２が磁気ディスク１１から読み出した信号を増幅して出力し、ＲＷＣ２５に供給する。また、ヘッドＩＣ２４は、ＲＷＣ２５か
ら供給された書き込み対象のデータに対応した信号を増幅して、磁気ヘッド２２に供給する。

ＨＤＣ２３は、Ｉ／Ｆ バスを介してホスト２との間で行われるデータの送受信の制御、バッファメモリ２９の制御、および読み出されたデータの誤り訂正処理などを行う。

バッファメモリ２９は、ホスト２との間で送受信されるデータのバッファとして用いられる。例えば、バッファメモリ２９は、磁気ディスク１１に書き込まれるデータ、または磁気ディスク１１から読み出されたデータ、を一時記憶するために用いられる。

バッファメモリ２９は、例えば、高速な動作が可能な揮発性メモリによって構成される。バッファメモリ２９を構成するメモリの種類は、特定の種類に限定されない。バッファメモリ２９は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、またはこれらの組み合わせによって構成され得る。

ＲＷＣ２５は、ＨＤＣ２３から供給される書き込み対象のデータを変調してヘッドＩＣ２４に供給する。また、ＲＷＣ２５は、磁気ディスク１１から読み出されヘッドＩＣ２４から供給された信号を復調してデジタルデータとしてＨＤＣ２３へ出力する。

プロセッサ２６は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）である。プロセッ
サ２６には、ＲＡＭ２７、ＦＲＯＭ（Flash Read Only Memory）２８およびバッファ
メモリ２９が接続されている。

ＦＲＯＭ２８は、不揮発性メモリである。ＦＲＯＭ２８には、ファームウェア（プログラムデータ）および各種の動作パラメータなどが格納される。なお、ファームウェアは、磁気ディスク１１に格納されてもよい。

ＲＡＭ２７は、例えばＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ、またはこれらの組み合わせによって構成される。ＲＡＭ２７は、プロセッサ２６によって動作用のメモリとして使用される。ＲＡＭ２７は、ファームウェアがロードされる領域や、各種の管理データが保持される領域として使用される。

プロセッサ２６は、ＦＲＯＭ２８または磁気ディスク１１に格納されているファームウェアに従って、この磁気ディスク装置１の全体的な制御を行う。例えば、プロセッサ２６は、ファームウェアをＦＲＯＭ２８または磁気ディスク１１からＲＡＭ２７にロードし、ロードされたファームウェアに従って、モータドライバＩＣ２１、ヘッドＩＣ２４、ＲＷＣ２５、ＨＤＣ２３などの制御を実行する。

なお、ＲＷＣ２５、プロセッサ２６およびＨＤＣ２３を含む構成は、コントローラ３０と見なすこともできる。コントローラ３０は、これらのほかに、他の要素（例えばＲＡＭ２７、ＦＲＯＭ２８、バッファメモリ２９、またはＲＷＣ２５など）を含んでいてもよい。

図２は、第１の実施形態の磁気ディスク１１の構成の一例を示す模式的な図である。

磁気ディスク１１には、製造工程において、例えばサーボライタによって、またはセルフサーボライト（ＳＳＷ）によって、サーボ情報が書き込まれる。図２によれば、サーボ情報が書き込まれたサーボ領域の配置の一例として放射状に配置されたサーボ領域４２が示されている。

サーボ情報は、セクタ／シリンダ情報、バーストパターン、およびポストコード、などを含む。セクタ／シリンダ情報は、磁気ディスク１１の円周方向のサーボ番地（サーボセクタ番地）および半径方向のサーボ番地（トラック番地）を与えることができる。磁気ディスク装置１の動作時には、セクタ／シリンダ情報は、磁気ヘッド２２を目標トラックまで移動させるシーク制御に使用される。

バーストパターンは、複数のトラックのそれぞれの位置を定義する。より詳しくは、バーストパターンは、各トラックの軌道を定義する。ここで、バーストパターンによって定義されるトラックの軌道は、サーボ情報の書き込み誤差などによって、実際のトラックの軌道からずれている場合がある。この位置ずれは、磁気ディスク（およびスピンドルモータ）の１回転を周期として繰り返し同じように発生するため、ＲＲＯと呼ばれている。製造工程においては、トラック毎にＲＲＯが学習され、ＲＲＯの学習値がポストコードとして磁気ディスク１１に書き込まれる。そして、磁気ディスク装置１の使用時において、磁気ヘッド２２を目標のトラックに位置決めする際には、ＲＲＯによる位置ずれをポストコードに基づいてキャンセルする制御が実行される。

なお、図２によれば、バーストパターンとポストコードとによって、同心円の複数のトラック４１が設定されている。各トラック４１の周回上のサーボ領域４２の間には、データがライトされ得るデータ領域４３が設けられている。データ領域４３には、複数のデータセクタが連続的に形成されている。各データセクタに対し、磁気ヘッド２２によって、データのライトおよびリードが実行される。

前述されたように、モータドライバＩＣ２１は、スピンドルモータ１２の現在の回転速度を得るために、スピンドルモータ１２の逆起電圧の測定を行う。モータドライバＩＣ２１は、スピンドルモータ１２が１回転する期間に１回以上現在の回転速度を得るために、スピンドルモータ１２が１回転する期間に１回以上、逆起電圧の測定を行う。

逆起電圧の測定は、スピンドルモータ１２に供給される電流（以降、モータ電流と表記する）の値がゼロクロスするタイミングにおいて実施される。モータ電流は、スピンドルモータ１２（より正確にはスピンドルモータ１２のロータ）が特定のモータ位置を通過するときにゼロクロスする。つまり、スピンドルモータ１２が１回転する毎に、毎回同じモータ位置においてモータ電流の値がゼロクロスする。なお、モータ位置は、ロータの角度と換言することができる。より詳しくは、モータ位置は、ロータとステータとの間の相対角度である。モータ位置は、０〜２πラジアンの範囲の値をとることとする。また、モータ電流の値がゼロクロスするとは、モータ電流が正の値から負の値に遷移したり、または負の値から正の値に遷移したりすることである。

モータ電流の値は、スピンドルモータ１２が１回転する期間に複数回、ゼロクロスする。そして、スピンドルモータ１２が１回転する期間内でモータ電流の値がゼロクロスする回数は、スピンドルモータ１２が有する磁極の数に応じて増加する。

図３は、第１の実施形態にかかるモータ電流の値がゼロクロスするモータ位置を磁気ディスク１１の円周方向の位置に対応付けて示した図である。

なお、図３以降の説明では、スピンドルモータ１２は１２個の磁極を有することとして説明する。また、モータ電流の値が正側から負側にゼロクロスするケースと、モータ電流の値が負側から正側にゼロクロスするケースと、のうちの一方のみを考慮し、他方は無視することとする。

磁気ヘッド２２による読み取り位置は、磁気ディスク１１の回転によって、磁気ディス
ク１１に対して円周方向に相対的に移動する。円周方向位置ＺＣ１〜ＺＣ６のそれぞれは、スピンドルモータ１２がモータ電流の値がゼロクロスするモータ位置にあるときの磁気ヘッド２２による読み取り位置を示している。例えば磁気ヘッド２２が磁気ディスク１１上にあるときには、６つの円周方向位置ＺＣ１〜ＺＣ６のそれぞれに磁気ヘッド２２が対向するときに、モータ電流の値がゼロクロスする。以降、磁気ヘッド２２が円周方向位置ＺＣＸに対向するようなモータ位置を、モータ位置ＺＣＸと表記することとする。ただし、Ｘは１から６までの整数である。

また、図３に示される例によれば、ゼロ番のサーボセクタ番地（以降、サーボセクタ番地＃０と表記する）が与えられたサーボセクタ＃０は、磁気ディスク１１の円周方向において円周方向位置ＺＣ１と円周方向位置ＺＣ６との間に位置している。よって、矢印６０が示す方向に磁気ディスク１１が回転する場合、磁気ヘッド２２による読み取り位置がサーボセクタ＃０を通過した後に１回転する期間に、スピンドルモータ１２は、モータ位置ＺＣ６、ＺＣ５、ＺＣ４、ＺＣ３、ＺＣ２、およびＺＣ１をこの順番で通過する。

モータドライバＩＣ２１は、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの何れのモータ位置においても逆起電圧の測定を実行することができる。

逆起電圧の測定時には、例えばモータ電流の供給が一時的に停止される。そして、モータ電流の供給が停止している間に、逆起電圧が測定される。つまり、逆起電圧の測定タイミングにおいてモータ電流の波形がひずむ。モータ電流の波形のひずみは、磁気ディスク１１の振動を引き起こし、磁気ヘッド２２の位置ずれの原因となる。

そして、スピンドルモータ１２が１回転する期間における、モータ電流の波形のひずみに起因した位置ずれの量の推移は、スピンドルモータ１２が１回転する期間における、逆起電圧の測定タイミングに応じて変わる。つまり、例えば、モータ位置ＺＣ６において逆起電圧が測定される場合と、モータ位置ＺＣ５において逆起電圧が測定される場合と、で位置ずれの推移が異なる。

ＲＲＯの学習時においては、モータ電流の波形のひずみに起因した位置ずれが加味されたトータルのずれ量が学習される。したがって、例えば、ＲＲＯの学習時と、ＲＲＯの学習値を用いた補正時と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が等しい場合、モータ電流の波形のひずみに起因した位置ずれを含むトータルの位置ずれを、ＲＲＯの学習値によって補正することができる。しかしながら、ＲＲＯの学習時と、ＲＲＯの学習値を用いた補正時と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が異なる場合、ＲＲＯの学習値では逆起電圧の測定に起因した位置ずれを正しく補正することができない。つまり、磁気ヘッドの位置決め精度が悪化する。

そこで、磁気ディスク装置１は、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、予め設定されたモータ位置に調整する機能を具備する。この機能により、磁気ディスク装置１は、ＲＲＯの学習時とＲＲＯの学習値を用いた補正時とで、同じモータ位置において逆起電圧の測定を行うことができる。したがって、ＲＲＯの学習時と、ＲＲＯの学習値を用いた補正時と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が異なる場合に比べて、磁気ヘッド２２の位置決め精度を向上させることができる。

以降、逆起電圧の測定が行われるモータ位置として予め設定されたモータ位置を、対象のモータ位置、と表記する。

なお、第１の実施形態では、一例として、モータドライバＩＣ２１は、第１モードと、第２モードと、の何れの動作モードでも動作することが可能に構成されている。第１モー
ドは、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの１つのモータ位置においてのみ逆起電圧を測定するモードである。第２モードは、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの全てのモータ位置において逆起電圧を測定するモードである。

図４は、第１の実施形態にかかる第１モードでのモータ電流の波形の一部を切り出したグラフである。なお、図４の説明では、モータ電流の値が正側から負側にゼロクロスするタイミングが、逆起電圧の測定が可能なゼロクロスタイミングとされる。モータ電流の値が負側から正側にゼロクロスするタイミングは考慮されない。

図４に示されるように、モータ電流は、基本的に正弦波の波形で推移する。そして、正弦波の波形で推移するモータ電流の値は、複数のタイミングでゼロクロスする。そして、それら複数のタイミングのうちの時刻ｔ１のタイミングにおいて、モータ電流の供給が一時的に停止されて、逆起電圧の測定が実施される。つまり、時刻ｔ１においてモータ電流の波形がひずんでいる。

なお、時刻ｔ１においては、スピンドルモータ１２は、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの１つに位置している。当該１つのモータ位置を、図４の説明において、特定のモータ位置と表記する。

時刻ｔ１において逆起電圧の測定が行われた後、逆起電圧の測定が行われることなく５周期のモータ電流が供給される。そして、時刻ｔ１から６周期のモータ電流が供給された時刻ｔ２において、スピンドルモータ１２が前述された特定のモータ位置に到達し、逆起電圧の測定が再び実行される。

このように、第１モードによれば、６周期のモータ電流が供給される毎に１回、逆起電圧の測定が行われる。これによって、スピンドルモータ１２が１回転する毎に、前回に逆起電圧の測定が行われたモータ位置と同じモータ位置で逆起電圧の測定が行われる。

なお、第１の実施形態では、逆起電圧の測定が行われるモータ位置は、第１モードでの動作が開始してからスピンドルモータ１２がモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６に至った回数、換言すると第１モードでの動作が開始してからモータ電流の値がゼロクロスした回数、に基づいて決定される。

より具体的には、モータドライバＩＣ２１は、例えば、第１モードでの動作が開始してからスピンドルモータ１２がモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６に至った回数（または第１モードでの動作が開始してからモータ電流の値がゼロクロスした回数）をカウントする。そして、カウント値が予め決められた値Ｎ（Ｎは例えば１から６までの整数）になったとき、モータドライバＩＣ２１は、第１モードでの動作が開始した後の初回の逆起電圧の測定を実行する。初回の逆起電圧の測定が終わると、モータドライバＩＣ２１は、スピンドルモータ１２のロータが１回転する毎に、初回の逆起電圧の測定が実行されたモータ位置と同じモータ位置において逆起電圧の測定を実行する。

一例として、値Ｎとして「１」が設定されている場合、第１モードでの動作が開始してからスピンドルモータ１２のロータがモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６に至った回数（または第１モードでの動作が開始してからモータ電流の値がゼロクロスした回数）が「１」になったとき、モータドライバＩＣ２１は、第１モードでの動作が開始した後の初回の逆起電圧の測定を実行する。以降、初回の逆起電圧の測定が行われたモータ位置と同じモータ位置で、逆起電圧の測定が実行される。

別の一例として、値Ｎとして「６」が設定されている場合、第１モードでの動作が開始
してからスピンドルモータ１２のロータがモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６に至った回数（または第１モードでの動作が開始してからモータ電流の値がゼロクロスした回数）が「６」になったとき、モータドライバＩＣ２１は、第１モードでの動作が開始した後の初回の逆起電圧の測定を実行する。以降、初回の逆起電圧の測定が行われたモータ位置と同じモータ位置で、逆起電圧の測定が実行される。

なお、設計者は、任意の値を値Ｎとして設定することができる。以降の説明では、一例として、値Ｎとして「６」が設定されていることとする。つまり、第１モードでの動作が開始してから６回目のゼロクロスタイミングに初回の逆起電圧の測定が実行されることとする。

図５は、第１の実施形態にかかる第２モードでのモータ電流の波形の一部を切り出したグラフである。本図においても、図４と同様、モータ電流の値が正側から負側にゼロクロスするタイミングが、逆起電圧の測定が可能なゼロクロスタイミングとされる。

図５に示されるように、モータ電流は、基本的に正弦波の波形で推移するが、モータ電流の値が正側から負側にゼロクロスする時刻ｔ１１〜ｔ１６の全てにおいて、逆起電圧の測定が実行される。よって、第２モードでは、スピンドルモータ１２が１回転する期間に、６回、逆起電圧の測定が行われる。

第２モードでは、第１モードに比べて逆起電圧を測定する頻度が高いため、第１モードに比べて高い頻度で現在の回転速度を取得することができる。よって、第２モードでは、第１モードに比べてきめ細かい速度制御を実行することが可能である。

その反面、第２モードでは、第１モードに比べてモータ電流の供給が一時停止される回数が多いため、第１モードに比べて磁気ディスク１１の振動による影響が大きい。

したがって、磁気ヘッド２２によって磁気ディスク１１に読み書きを行う場合には、コントローラ３０は、モータドライバＩＣ２１を第１モードで動作させる。また、第１モードにおいてＲＲＯの補正を精度良く実行できるように、ＲＲＯの学習の学習時には、コントローラ３０は、モータドライバＩＣ２１を第１モードで動作させる。

ここで、コントローラ３０は、磁気ディスク１１の回転が開始した後、モータドライバＩＣ２１をいったん第２モードで動作させ、その後、モータドライバＩＣ２１を第２モードから第１モードに遷移させる。コントローラ３０は、第２モードから第１モードに遷移した後において対象のモータ位置において逆起電圧を測定できるように、第２モードから第１モードへの遷移のタイミングを、磁気ヘッド２２によって読み取られたサーボ情報に基づいて判断する。

サーボ情報に基づいた第２モードから第１モードへの遷移のタイミングの判断方法は、特定の判断方法に限定されない。以下に、２つの例を説明する。

第１の例では、基準となる特定のサーボセクタ番地（例えばサーボセクタ番地＃０）が読み取られたタイミングで、第２モードから第１モードへの遷移が実行される。図３の例に従えば、サーボセクタ番地＃０が読み取られてすぐに第２モードから第１モードへの遷移が実行された場合、第２モードから第１モードへの遷移の直後の最初の１回転で、モータ位置ＺＣ６に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ５に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ４に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ３に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ２に対応したゼロクロスタイミング、およびモータ位置ＺＣ１に対応したゼロクロスタイミングが、この順番で到来する。よって、
値Ｎが「６」である場合、モータ位置ＺＣ１に対応したゼロクロスタイミングにおいて、第１モードでの動作を開始した後の初回の逆起電圧の測定が実行される。そして、以降、スピンドルモータ１２が１回転する毎に、モータ位置ＺＣ１に対応したゼロクロスタイミングにおいて逆起電圧の測定が実行される。

なお、第１の例によれば、対象のモータ位置は、値Ｎによって一意に決まる。図３の例に従えば、対象のモータ位置は、モータ位置ＺＣ（７−Ｎ）と表現され得る。

第２の例では、基準となる特定のサーボセクタ番地（例えばサーボセクタ番地＃０）が読み取られてから、ゼロクロスタイミングが所定の回数（Ｍ回とする）が経過したタイミングで、第２モードから第１モードへの遷移が実行される。ただし、Ｍは０から６までの整数とする。

例えば、値Ｎとして例えば「６」が設定され、値Ｍとして「２」が設定されている場合を考える。図３の例に従えば、サーボセクタ＃０が検出されてから位置ＺＣに対応したゼロクロスタイミングが２（＝Ｍ）回経過したとき、スピンドルモータ１２のロータは、モータ位置ＺＣ５を通過する。よって、第２モードから第１モードへの遷移の直後の最初の１回転で、モータ位置ＺＣ４に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ３に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ２に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ１に対応したゼロクロスタイミング、モータ位置ＺＣ６に対応したゼロクロスタイミング、およびモータ位置ＺＣ５に対応したゼロクロスタイミングが、この順番で到来する。そして、これらのゼロクロスタイミングのうちの６（＝Ｎ）回目に到来するゼロクロスタイミングであるモータ位置ＺＣ５に対応したゼロクロスタイミングにおいて、第１モードでの動作を開始した後の初回の逆起電圧の測定が実行される。そして、以降、スピンドルモータ１２が１回転する毎に、モータ位置ＺＣ５に対応したゼロクロスタイミングにおいて逆起電圧の測定が実行される。

第２の例が適用された場合、対象のモータ位置は、値Ｎと値Ｍとによって一意に決まる。図３の例に従えば、対象のモータ位置は、モータ位置ＺＣ（ｍｏｄ（（１３−Ｍ−Ｎ）、６））と表され得る。なお、ｍｏｄ（ａ、ｂ）は、ａをｂで除算して得られる剰余を示す。

設計者は、任意の値を値Ｍとして設定することができる。値Ｍとして「０」が設定された場合、第２の例における磁気ディスク装置１の挙動は、第１の例における磁気ディスク装置１の挙動と等しくなる。設計者は、第１の例では値Ｎ、第２の例では値Ｎおよび値Ｍを設定することによって、対象のモータ位置を設定することができる。

なお、第１モードへの遷移のタイミングの判断のための基準位置は、サーボセクタ番地＃０が示す位置に限定されない。設計者は、任意のサーボセクタ番地を第２モードから第１モードへの遷移のタイミングの判断のための基準位置として設定することができる。

図６は、ＲＲＯの学習の際の第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置１の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図６〜図８では、上記された第１の例が適用されていることとして説明する。また、サーボセクタ番地＃０が第２モードから第１モードへの遷移のタイミングの判断のための基準位置として設定されていることとする。

また、以降の説明において、コントローラ３０の動作は、具体的には例えばプロセッサ２６がＨＤＣ２３、ヘッドＩＣ２４、およびＲＷＣ２５を制御することによって実現される。なお、プロセッサ２６が行う制御のうちの一部または全部は、プロセッサ２６と異なる構成要素（例えばＨＤＣ２３）によって実現されてもよい。

ＲＲＯの学習は、例えば磁気ディスク装置１のハードウェアの製造が完成した後に実行される。ハードウェアの製造が完成した磁気ディスク装置１は、所定の装置（例えばコンピュータ）に接続されて、起動（パワーオン）される。磁気ディスク装置１が起動されると（Ｓ１０１）、コントローラ３０は、モータドライバＩＣ２１の動作モードを第１モードに設定する（Ｓ１０２）。モータドライバＩＣ２１は、第１モードでスピンドルモータ１２の回転を開始し、これによって磁気ディスク１１の回転が開始する（Ｓ１０３）。

モータドライバＩＣ２１は、Ｓ１０３によって第１モードでの動作を開始する。つまり、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの何れか１つのモータ位置ＺＣのみにおいて逆起電圧の測定を行い、得られた測定値に基づいて速度制御を実行する。

値Ｎが「６」である場合、Ｓ１０３によって第１モードの動作が開始してから、ゼロクロスタイミングが６回経過したときに、初回の逆起電圧の測定が行われる。よって、例えば、スピンドルモータ１２のロータの回転開始時の位置が、モータ位置ＺＣ３とモータ位置ＺＣ４との間である場合には、モータ位置ＺＣ４において初回の逆起電圧の測定が行われる。例えば、スピンドルモータ１２のロータの回転開始時の位置が、モータ位置ＺＣ５とモータ位置ＺＣ６との間である場合には、モータ位置ＺＣ６において初回の逆起電圧の測定が行われる。

つまり、Ｓ１０３によって開始された第１モードの動作においては、逆起電圧の測定が行われる位置は、起動時のスピンドルモータ１２の位置に依存してばらつく。

Ｓ１０３によって開始された第１モードの動作においてどのモータ位置において逆起電圧の測定が行われていたとしても、以降の処理によって、逆起電圧の測定が行われるモータ位置が、対象のモータ位置（図６〜８の例ではモータ位置ＺＣ１）に変更される。

Ｓ１０３に続いて、コントローラ３０は、磁気ヘッド２２をランプ１３から磁気ディスク１１にロードする（Ｓ１０４）。コントローラ３０は、磁気ヘッド２２によって、磁気ディスク１１における磁気ヘッド２２が対向する位置のサーボセクタ番地およびトラック番地を読み取ることができるようになる。

続いて、コントローラ３０は、磁気ヘッド２２によって逐次読み取られるサーボセクタ番号をモニタリングして、磁気ヘッド２２によってサーボセクタ番号＃０を読み取ったか否かを判定する（Ｓ１０５）。

サーボセクタ番号＃０を読み取っていない場合（Ｓ１０５：Ｎｏ）、コントローラ３０は、Ｓ１０５の判定処理を再び実行する。コントローラ３０は、サーボセクタ番号＃０を読み取るまで、Ｓ１０５の判定処理を繰り返し実行することで、サーボセクタ番号＃０を読み取ったタイミングの到来を待つ。

サーボセクタ番号＃０を読み取った場合（Ｓ１０５：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、すぐにモータドライバＩＣ２１の動作モードを第１モードから第２モードに遷移させる（Ｓ１０６）。これによって、モータドライバＩＣ２１は、第２モードでの動作を開始する。つまり、モータドライバＩＣ２１は、全てのゼロクロスタイミングにおいて逆起電圧を測定する。

そして、コントローラ３０は、磁気ヘッド２２によって逐次読み取られるサーボセクタ番号をモニタリングして、磁気ヘッド２２によってサーボセクタ番号＃０を読み取ったか否かを判定する（Ｓ１０７）。サーボセクタ番号＃０を読み取っていない場合（Ｓ１０７
：Ｎｏ）、コントローラ３０は、Ｓ１０７の判定処理を再び実行する。コントローラ３０は、サーボセクタ番号＃０を読み取るまで、Ｓ１０７の判定処理を繰り返し実行することで、サーボセクタ番号＃０を読み取ったタイミングの到来を待つ。

サーボセクタ番号＃０を読み取った場合（Ｓ１０７：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、すぐにモータドライバＩＣ２１の動作モードを第２モードから第１モードに遷移させる（Ｓ１０８）。これによって、モータドライバＩＣ２１は、第１モードでの動作を再び開始する。

ここでは、値Ｎとして「６」が設定されている。したがって、第１の例の説明で述べたように、Ｓ１０８によって第１モードでの動作が再開された後、モータ位置ＺＣ１において初回の逆起電圧の測定が行われる。つまり、初回の逆起電圧の測定が、対象のモータ位置において行われる。そして、第１モードでの動作が継続する限り、モータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの対象のモータ位置であるモータ位置ＺＣ１においてのみ、逆起電圧の測定が行われる。

なお、前述されたように、第２モードにおいては、第１モードに比べてきめ細かい速度制御を実行することが可能である。よって、例えば、Ｓ１０６の処理が行われた後、スピンドルモータ１２（つまり磁気ディスク１１）の回転速度が所定の速度に到達するまで、第２モードの動作が継続され、スピンドルモータ１２の所定の速度に到達した後に、Ｓ１０７の処理が行われるようにしてもよい。

なお、第１モードにおいても速度制御が可能である。よって、Ｓ１０６の処理が行われた後、スピンドルモータ１２（つまり磁気ディスク１１）の回転速度が所定の速度に到達することを待つことなくＳ１０７の処理が行われてもよいことはいうまでもない。

第１モードと第２モードとでは、モータ電流の波形が互いに異なる。動作モードが第２モードから第１モードに遷移したとき、モータ電流の波形が安定するまで若干の時間を要する。よって、Ｓ１０８の後、コントローラ３０は、モータ電流の波形が安定したか否かを判定する（Ｓ１０９）。モータ電流の波形が安定していない場合（Ｓ１０９：Ｎｏ）、コントローラ３０は、Ｓ１０９の判定処理を再び実行する。

モータ電流の波形が安定した場合（Ｓ１０９：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、同期が成功したか否かを判定する（Ｓ１１０）。

同期とは、対象のモータ位置（ここではモータ位置ＺＣ１）においてのみ逆起電圧の測定が実行されていることである。つまり、コントローラ３０は、Ｓ１１０では、モータ位置ＺＣ１において逆起電圧の測定が行われているか否かを判定する。

何らかの理由によって同期が成功しなかった場合には（Ｓ１１０：Ｎｏ）、コントローラ３０は、Ｓ１０５の処理から一連の処理をやり直す。

同期が成功した場合（Ｓ１１０：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、ＲＲＯの学習を開始する（Ｓ１１１）。ＲＲＯの学習が完了すると、コントローラ３０は、磁気ヘッド２２によって、ＲＲＯの学習値を磁気ディスク１１（より詳しくはサーボ領域４２）にポストコードとして書き込んで（Ｓ１１２）、ＲＲＯの学習の際の動作を終了する。

なお、図６に示された一連の処理におけるＳ１０５の判定処理は省略可能である。コントローラ３０は、サーボセクタ番号＃０の読み取りを待たずに第１モードから第２モードに遷移させてもよい。

また、コントローラ３０は、起動（Ｓ１０１）の後、Ｓ１０２においてモータドライバＩＣ２１を第２モードで動作させてもよい。そのような場合、Ｓ１０５およびＳ１０６の処理は省略される。

図７は、逆起電圧の測定が行われるモータ位置が対象のモータ位置に調整される例を説明するための図である。本図において、サーボインデックス（Ｓｅｒｖｏ Ｉｎｄｅｘ）は、サーボセクタ番地＃０が読み取られたタイミングを示している。具体的には、サーボインデックスがＨレベルになったタイミングが、サーボセクタ番地＃０が読み取られたタイミングを表す。

時刻ｔ２２までの期間では、図６のＳ１０２によって開始された第１モードの動作が行われている。サーボインデックスがＨレベルになる間隔、例えば時刻ｔ２１から時刻ｔ２２までの期間は、磁気ヘッド２２による読み取り位置がサーボセクタ番地＃０を基準として１回転する期間に相当する。時刻ｔ２２までの期間においては、サーボセクタ番地＃０が読み取られた後の最初にゼロクロスするタイミング、換言するとスピンドルモータ１２がモータ位置ＺＣ６に位置するタイミングで、逆起電圧の測定が行われている。つまり、対象のモータ位置と異なるモータ位置において逆起電圧の測定が行われている。

時刻ｔ２２においては、図６のＳ１０５の判定処理においてＹｅｓと判定されて、Ｓ１０６の処理によってすぐにモータドライバＩＣ２１の動作モードが第１モードから第２モードに遷移する。時刻ｔ２２においてサーボセクタ番地＃０が読み取られてから、スピンドルモータ１２は、モータ位置ＺＣ６、モータ位置ＺＣ５、モータ位置ＺＣ４、モータ位置ＺＣ３、モータ位置ＺＣ２、およびモータ位置ＺＣ１をこの順番で通過し、これらの全てのモータ位置において逆起電圧の測定が実行されている。

時刻ｔ２３においては、図６のＳ１０７の判定処理においてＹｅｓと判定されて、Ｓ１０８の処理によってすぐにモータドライバＩＣ２１の動作モードが第２モードから第１モードに遷移する。値Ｎとして「６」が設定されていることとしているので、時刻ｔ２３において第１モードでの動作が再開した後に６回目に到来するゼロクロスタイミングである、モータ位置ＺＣ１に対応したゼロクロスタイミングにおいて、逆起電圧の測定が実行される。

前述されたように、第１の例が適用された場合、変更先のモータ位置は、値Ｎによって一意に決まる。値Ｎが「６」である場合、変更先のモータ位置は、対象のモータ位置ＺＣ１である。つまり、図７の時刻ｔ２２までの状態として示されたように対象のモータ位置ＺＣ１と異なるモータ位置ＺＣ６において逆起電圧の測定が行われている場合であっても、時刻ｔ２２から時刻ｔ２３において実行された調整によって、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、対象のモータ位置ＺＣ１に変更することができる。

図８は、ユーザが第１の実施形態にかかる磁気ディスク装置１を使用するときの磁気ディスク装置１の動作の一例を示すフローチャートである。

ユーザは、ＲＲＯの学習が完了した状態の磁気ディスク装置１をホスト２に接続して使用する。磁気ディスク装置１は、ホスト２に接続されて、起動（パワーオン）される。ユーザ使用の際にも、磁気ディスク装置１は、起動（Ｓ１０１）から同期が成功したか否かの判定処理（Ｓ１１０）まで、ＲＲＯの学習時と同様の処理を実行する。これによって、ＲＲＯの学習時と同様に、第１モードでの動作時において逆起電圧の測定が実行されるモータ位置ＺＣを、対象のモータ位置ＺＣ１に調整することができる。

同期が成功した後（Ｓ１１０：Ｙｅｓ）、磁気ディスク装置１は、ポストコード、即ちＲＲＯの学習値、に基づいたＲＲＯの補正の制御を開始する（Ｓ３０１）。これによって、磁気ディスク１１への読み書きが行えるようになる。そして、ユーザによる第１の実施形態の磁気ディスク装置１の使用の際の磁気ディスク装置１の動作が終了する。

ＲＲＯの学習は、対象のモータ位置ＺＣ１において逆起電圧の測定が行われている状態において行われている。そして、ユーザが磁気ディスク装置１を使用する際には、対象のモータ位置ＺＣ１において逆起電圧の測定が行われる。つまり、ＲＲＯの学習時と、ユーザが磁気ディスク装置１を使用する際と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が等しい。よって、ユーザが磁気ディスク装置１を使用する際に生じる、モータ位置において逆起電圧の測定が行われることによる磁気ヘッド２２の位置ずれを、ＲＲＯの学習値によって精度よく補正することができる。

なお、図８においても、Ｓ１０５の判定処理は省略可能である。コントローラ３０は、サーボセクタ番号＃０の読み取りを待たずに第１モードから第２モードに遷移させてもよい。

また、コントローラ３０は、起動（Ｓ１０１）の後、Ｓ１０２においてモータドライバＩＣ２１を第２モードで動作させてもよい。そのような場合、Ｓ１０５およびＳ１０６の処理は省略される。

なお、図６〜図８の説明においては、第１の例が適用されているとした。第１の実施形態は、第２の例が適用されてもよい。第２の例が適用された場合には、コントローラ３０は、Ｓ１０７の判定処理においてＹｅｓと判定された後からゼロクロスタイミングがＭ回経過したときに、Ｓ１０８の処理を実行する。

以上述べたように、第１の実施形態によれば、コントローラ３０は、磁気ディスク１１の回転が開始した後、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、設定された第１の位置（対象のモータ位置、つまり図６〜図８の例によればモータ位置ＺＣ１）に調整する制御を実行する。

この構成により、磁気ディスク装置１は、ＲＲＯの学習時とＲＲＯの学習値を用いた補正時とで、同じモータ位置において逆起電圧の測定を行うことができる。よって、ＲＲＯの学習時と、ＲＲＯの学習値を用いた補正時と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が異なる場合に比べて、磁気ヘッド２２の位置決め精度を向上させることができる。

なお、対象のモータ位置である第１の位置は、第１の例では、値Ｎによって設定され得る。第２の例では、値Ｎと値Ｍとの組み合わせによって設定され得る。なお、第１の位置の設定方法は、これらに限定されない。

また、第１の実施形態によれば、コントローラ３０は、逆起電圧の測定が行われるモータ位置が、第１の位置（図６〜図８によればモータ位置ＺＣ１）と異なる第２の位置（例えばモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちのモータ位置ＺＣ１以外の任意の位置）にあったとしても、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を第２の位置から第１の位置に変更することができる。

よって、ＲＲＯの学習時と、ＲＲＯの学習値を用いた補正時と、で逆起電圧の測定が行われるモータ位置が異なる場合に比べて、磁気ヘッド２２の位置決め精度を向上させることができる。

また、第１の実施形態によれば、コントローラ３０は、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、モータ電流の値がゼロクロスする複数の第３の位置（例えばモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６）のうちの設定された１つのモータ位置に調整する。

また、第１の実施形態によれば、モータドライバＩＣ２１は、磁気ヘッド２２によって読み取られたサーボ情報に基づくタイミングで第２モードから第１モードに遷移する。

これによって、逆起電圧の測定が行われるモータ位置を対象のモータ位置に調整することが可能となる。

（第２の実施形態）
第１の実施形態においては、ＲＲＯの学習の際と、ユーザが磁気ディスク装置１を使用する際と、の両方において、逆起電圧の測定が行われるモータ位置の調整が行われた。

これに対し、第２の実施形態では、ＲＲＯの学習の際には、逆起電圧の測定が行われるモータ位置の調整が行われず、逆起電圧の測定が行われたモータ位置が記憶される。そして、ユーザが磁気ディスク装置１を使用する際には、逆起電圧の測定が行われるモータ位置が、予め記憶しておいたモータ位置に調整される。つまり、対象のモータ位置は、ＲＲＯの学習の際に決められる。

以降では、第１の実施形態と異なる事項について説明する。第１の実施形態と同じ事項については、簡略的に説明されるか、または説明が省略される。

図９は、ＲＲＯの学習の際の第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置１の動作の一例を示すフローチャートである。

磁気ディスク装置１が起動されると（Ｓ１０１）、第１の実施形態と同様の処理が、Ｓ１０５まで実行される。つまり、起動後、第１モードでの動作が開始し、基準位置の一例であるサーボセクタ番地＃０の読み取りが実行される。

磁気ヘッド２２によってサーボセクタ番地＃０を読み取った後（Ｓ１０５：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、逆起電圧の測定を実行するモータ位置を示す設定情報を記憶する（Ｓ４０１）。例えば、Ｓ１０２において第１モードでの動作が開始してから、或るモータ位置ＺＣにおいて逆起電圧の測定が実行されている場合、そのモータ位置ＺＣを特定できる情報が設定情報として記憶される。

例えば、コントローラ３０は、サーボセクタ番地＃０と、逆起電圧の測定が実行されているモータ位置と、の位置関係を、設定情報として記憶することができる。位置関係は、スピンドルモータ１２の角度差として表現されてもよいし、サーボセクタ番地＃０が読み取られた後に磁気ヘッド２２の読み取り位置がモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６の何れかを通過した回数（換言するとゼロクロスタイミングの回数）として表現されてもよい。

ここでは一例として、サーボセクタ番地＃０が読み取られた後から磁気ヘッド２２の読み取り位置が逆起電圧の測定が実行されているモータ位置ＺＣを通過するまでに磁気ヘッド２２の読み取り位置がモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６の何れかを通過した回数（換言するとゼロクロスタイミングの回数）が、設定情報として記憶されることとする。

設定情報の記憶場所は、特定の場所に限定されない。例えば、設定情報がＦＲＯＭ２８に記憶されてもよい。または、設定情報は、一時的にＲＡＭ２７に記憶され、磁気ディスク装置１の電源がオフされるまでの所定のタイミングで、ＲＡＭ２７からＦＲＯＭ２８ま
たは磁気ディスク１１などの不揮発性の記憶領域に移動されてもよい。

Ｓ４０１に続いて、コントローラ３０は、ＲＲＯの学習を開始する（Ｓ１１１）。ＲＲＯの学習が完了すると、コントローラ３０は、磁気ヘッド２２によって、ＲＲＯの学習値を磁気ディスク１１（より詳しくはサーボ領域４２）にポストコードとして書き込んで（Ｓ１１２）、ＲＲＯの学習の際の動作を終了する。

なお、Ｓ４０１の処理が実行されるタイミングは、必ずしもＳ１０５の処理の直後でなくてもよい。Ｓ１１２の後にＳ４０１の処理が実行されてもよい。

以上の動作により、ＲＲＯの学習が完了するとともに、ＲＲＯの学習が行われた際における逆起電圧の測定が行われたモータ位置ＺＣが対象のモータ位置として記憶される。

図１０は、ユーザが第２の実施形態にかかる磁気ディスク装置１を使用するときの磁気ディスク装置１の動作の一例を示すフローチャートである。

ユーザによって磁気ディスク装置１が使用される際は、磁気ディスク装置１が起動されると（Ｓ１０１）、第１の実施形態と同様の処理が、Ｓ１０７まで実行される。つまり、起動後、モータドライバＩＣ２１は、第１モードでの動作が開始し、その後、第２モードに遷移し、基準位置の一例であるサーボセクタ番地＃０の読み取りが実行される（Ｓ１０７）。

すると、サーボセクタ番地＃０が読み取られたタイミングと、設定情報と、に基づいて、対象のモータ位置（即ちＲＲＯの学習時と同じモータ位置）で逆起電圧の測定ができるように、第１モードへの遷移のタイミングの調整が実行される。

ここで、サーボセクタ番地＃０が読み取られてからゼロクロスタイミングが所定の回数（Ｐ回とする）が経過したタイミングで第２モードから第１モードへの遷移が実行される場合、第１モードに遷移した後に逆起電圧の測定が行われるモータ位置は、モータ位置ＺＣ（ｍｏｄ（（１３−Ｐ−Ｎ）、６））に一意に決まる。

そして、図１０の例によれば、サーボセクタ番地＃０が読み取られた後から磁気ヘッド２２の読み取り位置がモータ位置ＺＣを通過するまでに磁気ヘッド２２の読み取り位置がモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６の何れかを通過した回数（換言するとゼロクロスタイミングの回数）が、設定情報として記憶されている。設定情報に記録されている回数をＱ（ただしＱは１から６までの整数）と表すと、ＲＲＯの学習の際に逆起電圧の測定が行われたモータ位置ＺＣは、モータ位置ＺＣ（ｍｏｄ（（７−Ｑ）、６））と表せる。

よって、逆起電圧の測定が実行されるモータ位置ＺＣをＲＲＯの学習の際に逆起電圧の測定が行われたモータ位置ＺＣに調整するための値Ｐは、下記の式（１）を解くことで得られる。
ＺＣ（ｍｏｄ（（１３−Ｐ−Ｎ）、６））＝ＺＣ（ｍｏｄ（（７−Ｑ）、６）） ・・・（１）

値Ｎは「６」であることとしているので、式（１）によってＰ＝Ｑという解が得られる。即ち、コントローラ３０は、サーボセクタ番地＃０が読み取られた後、スピンドルモータ１２が設定情報が示すモータ位置を通過したタイミングで第２モードから第１モードに遷移させれば、モータ位置を、ＲＲＯの学習の際に逆起電圧の測定が行われたモータ位置に調整することが可能である。

磁気ヘッド２２によってサーボセクタ番地＃０を読み取った後（Ｓ１０７：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、スピンドルモータ１２が設定位置が示すモータ位置を通過したか否かを判定する（Ｓ５０１）。スピンドルモータ１２が設定位置が示すモータ位置ＺＣを通過していない場合（Ｓ５０１：Ｎｏ）、コントローラ３０は、Ｓ５０１の判定処理を再び実行する。

スピンドルモータ１２が設定位置が示すモータ位置ＺＣを通過した場合（Ｓ５０１：Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、すぐにモータドライバＩＣ２１の動作モードを第２モードから第１モードに遷移させる（Ｓ１０８）。これによって、ＲＲＯの学習の際において逆起電圧の測定が実行されたモータ位置ＺＣにおいて逆起電圧の測定を実行することが可能となる。

以降、第１の実施形態と同様、Ｓ１０８〜Ｓ３０１の処理が実行されて、ユーザによる第２の実施形態の磁気ディスク装置１の使用の際の磁気ディスク装置１の動作が終了する。

このように、第２の実施形態によれば、コントローラ３０は、ＲＲＯを学習し、前記ＲＲＯの学習値を磁気ディスク１１に書き込む、制御を実行する。モータドライバＩＣ２１は、ＲＲＯの学習の際に、第４の位置（例えばモータ位置ＺＣ１〜ＺＣ６のうちの任意の１つ）において逆起電圧の測定を実行する。そして、コントローラ３０は、第４の位置を第１の位置（即ち対象のモータ位置）として設定する。

これによって、ＲＲＯの学習の際には、モータ位置の調整の処理が不要となる。

また、第２の実施形態によれば、コントローラ３０は、サーボ情報に基づく基準位置（例えばサーボセクタ番地＃０）と第４の位置との位置関係を、設定情報として記憶する。

これによって、磁気ディスク装置１は、ＲＲＯの学習値を使用する際に、ＲＲＯの学習時において逆起電圧の測定が行われたモータ位置と同じモータ位置において逆起電圧の測定を行うことが可能となる。

なお、第１の実施形態および第２の実施形態においては、コントローラ３０がモータドライバＩＣ２１のモードの切り替えタイミングを制御することとして説明した。モードの切り替えタイミングを判定する機能は、モータドライバＩＣ２１に持たされてもよい。

例えば、図６および図８のＳ１０５からＳ１１０までの処理や、図１０のＳ１０５からＳ１１０までの処理は、モータドライバＩＣ２１単体によって実行されてもよい。例えば、コントローラ３０は、Ｓ１０４の処理が行われた後、モータドライバＩＣ２１に、逆起電圧の測定を行うモータ位置の調整を指示する。モータドライバＩＣ２１は、コントローラ３０からの指示に応じて、図６、図８、または図１０のＳ１０５からＳ１１０までの処理を実行することができる。

また、第１の実施形態および第２の実施形態においては、逆起電圧の測定を行うモータ位置の調整の際には、モータドライバＩＣ２１の動作モードがいったん第２モードに遷移して、その後、第１モードに遷移した。逆起電圧の測定を行うモータ位置の調整の際には、モータドライバＩＣ２１は、必ずしも第２モードに遷移しなくてもよい。モータドライバＩＣ２１は、第１モードで動作しているときに、逆起電圧の測定を行うモータ位置を、コントローラ３０からの指示に応じて、現在逆起電圧の測定を行っているモータ位置から対象のモータ位置に変更してもよい。

また、磁気ディスク装置１は、第１の実施形態および第２の実施形態に述べたような構成を有していることから、スピンドルモータ１２のモータ電流に関し、下記のような特徴的な挙動を示す。即ち、磁気ディスク装置１では、磁気ディスク１１の回転の開始の後の第１のタイミング（例えば図７において時刻ｔ２１から時刻ｔ２２までの期間におけるモータ位置ＺＣ６に対応したタイミング）において、スピンドルモータ１２のモータ位置が或る位置（例えばモータ位置ＺＣ６）にあるときにモータ電流の波形がひずみ、第１のタイミングよりも後の第２のタイミング（例えば図７において時刻ｔ２３以降におけるモータ位置ＺＣ１に対応したタイミング）において、モータ電流の波形が、前記された或る位置とは別の位置（例えばモータ位置ＺＣ１）においてひずむ。

また、スピンドルモータ１２の回転の開始の後に、磁気ヘッド２２のロードが行われる。モータ電流の波形がひずむ位置の移動は、磁気ヘッド２２のロードの後に起こる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ 磁気ディスク装置、２ ホスト、１１ 磁気ディスク、１２ スピンドルモータ、１３ ランプ、１５ アクチュエータアーム、１６ ＶＣＭ、２１ モータドライバＩＣ、２２ 磁気ヘッド、２２ｒ リード素子、２２ｗ ライト素子、２４ ヘッドＩＣ、２５ ＲＷＣ、２６ プロセッサ、２７ ＲＡＭ、２８ ＦＲＯＭ、２９ バッファメモリ、３０ コントローラ、４１ トラック、４２ サーボ領域、４３ データ領域、６０ 矢印。

Claims (10)

1. 磁気ディスクと、
   前記磁気ディスクを回転させるスピンドルモータと、
   前記スピンドルモータにモータ電流を供給し、前記スピンドルモータが１回転する毎に前記スピンドルモータの逆起電圧の測定を行うモータドライバと、
   前記磁気ディスクの回転が開始した後、前記逆起電圧の測定が行われるモータ位置を、設定された第１の位置に調整する、制御を実行する、コントローラと、
   を備える磁気ディスク装置。
2. 前記コントローラは、前記モータ位置を、前記第１の位置と異なる第２の位置から前記第１の位置に変更する、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記第１の位置は、複数の第３の位置のうちの設定された１つの位置であり、
   前記複数の第３の位置のそれぞれは、前記モータ電流の値がゼロクロスするモータ位置である、
   請求項１または２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記モータドライバは、前記複数の第３の位置のうちの１つにおいてのみ前記逆起電圧の測定を行う第１モードと、前記複数の第３の位置の全てにおいて前記逆起電圧の測定を行う第２モードと、の何れの動作モードにおいても動作することができ、
   前記磁気ディスクの回転が開始した後、前記モータドライバは、前記第２モードから前記第１モードに遷移して、前記第１の位置においてのみ前記逆起電圧の測定を行う、
   請求項３に記載の磁気ディスク装置。
5. 磁気ヘッドをさらに備え、
   前記磁気ディスクにはサーボ情報が記録され、
   前記コントローラは、前記磁気ヘッドによって前記サーボ情報を読み取り、
   前記モータドライバは、前記磁気ヘッドによって読み取られた前記サーボ情報に基づくタイミングで前記第２モードから前記第１モードに遷移する、
   請求項４に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記コントローラは、ＲＲＯ（Repeatable RunOut）を学習し、前記ＲＲＯの学習値を前記磁気ディスクに書き込む、制御を実行し、
   前記モータドライバは、前記ＲＲＯの学習の際に、第４の位置において前記逆起電圧の測定を実行し、
   前記コントローラは、前記第４の位置を前記第１の位置として設定する、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
7. 磁気ヘッドをさらに備え、
   前記磁気ディスクにはサーボ情報が記録され、
   前記コントローラは、前記サーボ情報に基づく基準位置と前記第４の位置との位置関係を記憶する、
   請求項６に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記モータドライバは、前記逆起電圧の測定値に基づいて前記スピンドルモータの回転速度を制御する、
   請求項１から７の何れか一項に記載の磁気ディスク装置。
9. 磁気ディスクと、
   モータ電流に基づいて前記磁気ディスクを回転させるスピンドルモータと、
   を備え、
   前記磁気ディスクの回転の開始の後の第１のタイミングにおいて、前記スピンドルモータのモータ位置が第１の位置にあるときに前記モータ電流の波形がひずみ、前記第１のタイミングよりも後の第２のタイミングにおいて、前記モータ電流の波形が、前記第１の位置とは異なる第２の位置においてひずむ、
   磁気ディスク装置。
10. 磁気ヘッドをさらに備え、
    前記磁気ディスクの回転の開始の後、前記磁気ヘッドのロードを実行し、前記磁気ヘッドのロードの実行後に、前記モータ電流の波形がひずむ位置が前記第１の位置から前記第２の位置に移動する、
    請求項９に記載の磁気ディスク装置。

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