JP2021179429A - マウント治具およびそれを用いたx線回折方法 - Google Patents

マウント治具およびそれを用いたx線回折方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021179429A
JP2021179429A JP2021079073A JP2021079073A JP2021179429A JP 2021179429 A JP2021179429 A JP 2021179429A JP 2021079073 A JP2021079073 A JP 2021079073A JP 2021079073 A JP2021079073 A JP 2021079073A JP 2021179429 A JP2021179429 A JP 2021179429A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capillary
mounting
jig
magnet
main body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2021079073A
Other languages
English (en)
Inventor
勝史 小野
Katsushi Ono
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Publication of JP2021179429A publication Critical patent/JP2021179429A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】X線回折測定の測定効率を向上させる。【解決手段】X線回折装置の試料装着部にキャピラリホルダを取り付けるためのマウント治具であって、本体部と、本体部の一端に設けられ、キャピラリホルダを取り付けるための取付部と、本体部の他端に設けられる磁石と、を備え、試料装着部に対して磁石で支持固定される、マウント治具である。【選択図】図1

Description

本発明は、マウント治具およびそれを用いたX線回折方法に関する。
X線回折装置は、X線源から放射されたX線を試料に照射し、試料から反射または透過してくる回折X線を検出して、試料の結晶構造等を分析するための分析装置であり、各種物質の非破壊分析に広く用いられている。
X線回折装置にて粉末試料の測定を行う場合、粉末粒子が所定の結晶方位に揃ってしまうことで、一部の回折ピークが強く検出されて、試料本来の結晶構造解析、定量分析に誤差が生じてしまうことがある。
そこで、粉末試料を測定する場合は粒子配向による影響を抑制すべく、粉末試料をガラス製のキャピラリに充填することが提案されている(例えば特許文献1や2を参照)。具体的には、片端部が封止されたガラス製のキャピラリに微量の粉末試料を導入して充填した後、キャピラリを適宜の長さに切断する。次に、所定の長さに切断されたキャピラリをキャピラリホルダに支持固定する。そして、キャピラリホルダをマウント治具(例えばゴニオメータヘッドなど)に装着し、このマウント治具をX線回折装置のゴニオメータの試料装着部に配置して測定を行う。
特開2005−291817号公報 特許第6001067号公報
ところで、キャピラリを用いたX線回折測定では、透過法により測定を行うのが一般的である。透過法では、キャピラリをその長手方向の中心線を回転軸として回転させながらX線照射を行い、検出器を走査しながら粉末試料を透過した回折X線を検出する。
透過法においてキャピラリを回転させる際、キャピラリの回転軸がゴニオメータの回転軸とずれて偏心していると、回折X線の検出角度位置がずれて、粉末試料中の結晶相を同定しにくくなったり、格子定数がばらついたりすることで測定精度が低くなるおそれがある。そのため、透過法では、キャピラリを偏心させることなく回転させることが重要であり、キャピラリが回転軸から傾かないよう、キャピラリの試料装着部への取り付け角度を調整する必要がある。
具体的には、X線回折装置用のマウント治具は取り付けたキャピラリの角度を調整できるように構成されているので、キャピラリを装着したキャピラリホルダをマウント治具に取り付けた後に、キャピラリの回転軸がゴニオメータの回転軸と一致するようにキャピラリの取り付け角度を調整する。
キャピラリの取り付け角度を調整した後、キャピラリホルダを装着したマウント治具をX線回折装置のゴニオメータの試料装着部に配置し、マウント治具をX線回折装置に対してネジ止めで固定する。取り付け後、キャピラリが偏心していないかどうか例えばCCDカメラなどで確認する。偏心がなければ測定を行うが、偏心が確認されればマウント治具を取り外してキャピラリの取り付け角度を再度調整し、偏心がなくなるまで角度調整を繰り返し行う。
しかし、マウント治具をネジ止めで固定する場合、ネジを締め付ける際に例えば振動などでキャピラリの取り付け角度が変動してしまうことがある。この場合、再度マウント治具でのキャピラリの角度調整からゴニオメータの試料装着部への取り付け作業といった一連の作業をキャピラリが偏心しなくなるまで繰り返し行う必要があり、測定効率が著しく低くなる。
本発明は、X線回折測定の測定効率を向上させる技術を提供することを一目的とする。
本発明の第1の態様は、
X線回折装置の試料装着部にキャピラリホルダを取り付けるためのマウント治具であって、
本体部と、
前記本体部の一端に設けられ、前記キャピラリホルダを取り付けるための取付部と、
前記本体部の他端に設けられる磁石と、を備え、
前記試料装着部に対して前記磁石で支持固定される、マウント治具である。
本発明の第2の態様は、第1の態様において、
前記本体部の他端に設けられる前記磁石を第1の磁石としたときに、前記取付部は第2の磁石を備え、前記キャピラリホルダを前記第2の磁石で固定できるように構成される。
本発明の第3の態様は、
粉末試料が充填されたキャピラリをキャピラリホルダに装着する工程と、
本体部と、前記本体部の一端に設けられ、前記キャピラリホルダを取り付けるための取付部と、前記本体部の他端に設けられる磁石と、を備えるマウント治具を準備する工程と、
前記キャピラリが装着された前記キャピラリホルダを前記マウント治具の前記取付部に取り付ける工程と、
X線回折装置の試料装着部に対して、前記キャピラリホルダが取り付けられた前記マウント治具を前記磁石により固定する工程と、を有するX線回折方法である。
本発明によれば、X線回折測定の測定効率を向上させることができる。
図1は、本発明の一実施形態に係るマウント治具の概略図であり、(a)は断面視図であり、(b)は上面視図であり、(c)は底面視図である。 図2は、キャピラリホルダにキャピラリを取り付けたときを説明するための図である。 図3は、本発明の一実施形態に係るマウント治具をX線回折装置に取り付けたときを説明するための図である。 図4は、本発明の他の実施形態に係るマウント治具の断面概略図である。 図5は、本発明の他の実施形態に係るマウント治具をX線回折装置に取り付けたときを説明するための図である。 図6は、本発明の他の実施形態に係るマウント治具の概略図である。
<本発明の一実施形態>
以下、本発明の一実施形態にかかるマウント治具およびそれを用いたX線回折方法について説明する。以下では、マウント治具およびX線回折方法の説明に先立ち、粉末試料を充填するキャピラリ、およびキャピラリを保持するキャピラリホルダについて説明する。図1は、本発明の一実施形態に係るマウント治具の概略図であり、(a)は断面視図であり、(b)は上面視図であり、(c)は底面視図である。図1(a)はマウント治具を軸方向に切断したときの断面図であり、図1(b)は(a)の上方から見たときの上面視図であり、図1(c)は(a)の下方から見たときの底面視図である。図2は、キャピラリホルダにキャピラリを取り付けたときを説明するための図である。図3は、マウント治具をX線回折装置に取り付けたときを説明するための図である。
(キャピラリ)
キャピラリは、X線回折装置で微小量の粉末試料を測定するために使用される試料容器であり、例えば石英ガラス、リンデマンガラス、ボロシリケートガラス、ソーダガラスなどの材料から形成される。具体的には、キャピラリは、粉末試料を充填するための一端が閉じた管状部と、管状部の他端の開口に接続され、管状部に粉末試料を導入するための外側に向かって拡径する漏斗状部とを備えて構成され、キャピラリは、漏斗状部から管状部へと粉末試料を導入して充填した後、漏斗状部を切断して、キャピラリホルダに装着される。
(キャピラリホルダ)
キャピラリホルダは、キャピラリをマウント治具に取り付けるためのホルダである。キャピラリホルダは、例えば図2に示すように、中空部を有する筒状体からなる。キャピラリホルダ20の一端には、キャピラリ30を軸方向に向かって挿入する挿入孔21があり、挿入孔21にキャピラリ30を粉末試料の充填部分31が突出するように差し込むことで、キャピラリ30を保持させることができる。なお、キャピラリホルダ20の材質は、特に限定されず、例えば金属、プラスチックなど所望の強度が得られるものを用いることができる。この中でも、比重が高く、加工精度が高いことから金属が好ましい。また、キャピラリホルダ20の寸法(径や長さ)は、X線回折装置における試料装着部から入射X線までの距離、やマウント治具の大きさに応じて適宜変更するとよい。
(マウント治具)
次に、本実施形態のマウント治具について図を用いて説明する。
マウント治具は、粉末試料を充填するキャピラリを保持するキャピラリホルダを取り付けられるように構成され、マウント治具をX線回折装置の試料装着部に取り付けることでX線回折装置内に粉末試料を導入するものである。具体的には、本実施形態のマウント治具10は、図1に示すように、本体部11と、取付部12と、磁石13と、を備えて構成される。
本体部11は、キャピラリホルダ20を介して取り付けられるキャピラリ30の角度を調整する角度調整部(図示略)を備えている。角度調整部は、例えばキャピラリ30を回転させる回転機構と、キャピラリ30を軸方向に直交する平面に並進移動させる並進移動機構とを備える。角度調整部によれば、回転機構や並進移動機構によりキャピラリ30を回転移動させることで、キャピラリ30が偏心しないようキャピラリ30の回転軸をゴニオメータの回転軸に一致させることができる。なお、本体部11には取り付けるキャピラリホルダ20をネジ止めするためのネジ孔14が設けられている。
本体部11の材質は、特に限定されず、例えば金属、プラスチックなど所望の強度が得られるものを用いることができる。この中でも、比重が高く、加工精度が高いことから金属が好ましい。
本体部11は、その一端に取付部12が設けられ、キャピラリホルダ20を取り付けられるように構成されている。本実施形態では、取付部12はキャピラリホルダ20を嵌め込み可能なように窪みで構成される。取付部12は、キャピラリホルダ20を安定して保持できる構造であれば、窪みに限定されない。取付部12によれば、図3に示すように、キャピラリ30の先端が突出するようにキャピラリホルダ20を取り付けて保持することができる。
本体部11には、取付部12とは反対側の他端に、磁石13が設けられている。本実施形態では、本体部11に窪み部が設けられ、その窪み部に磁石13が嵌め込まれて、磁石13が本体部11と面一となっている。磁石13の本体部11への取り付けは、本体部11が磁性材料から形成される場合は磁石13をそのまま取り付けてもよいが、本体部11が非磁性材料から形成される場合は例えばテープや接着剤、ろう等で接着させて取り付けるとよい。
また、磁石13の磁力は、特に限定されず、マウント治具10を試料装着部41に対して安定して固定することができ、かつ、測定の際にマウント治具10の位置ずれを生じさせないような大きさであればよい。また、磁石13の形状も特に限定されず、マウント治具10の形状や大きさに応じて適宜変更することができる。
本実施形態のマウント治具10は、磁石13を有するので、X線回折装置におけるゴニオメータ40の試料装着部41に対して磁力で装着することができる。上述したように、従来のマウント治具では試料装着部への装着はネジ止めにより行われていたが、ネジを締める際にマウント治具がずれてキャピラリが偏心して配置されてしまうことがあった。この点、本実施形態のマウント治具10によれば、磁力で装着できるので、ネジ止めによるマウント治具10の位置ずれを防止し、キャピラリ30を偏心しないようにX線回折装置に配置することができる。
(X線回折測定方法)
続いて、上述したマウント治具10を用いたX線回折測定を行う方法について説明する。
まず、キャピラリ30に粉末試料を充填し、その漏斗状部を切断することで、管状のキャピラリ30を準備する。具体的には、キャピラリ30の漏斗状部から粉末試料を少量ずつ添加し、キャピラリ30をタッピングすることで粉末試料を管状部へ導入する。この操作を、粉末試料が管状部において所定の位置となるまで、繰り返し行う。そして、粉末試料が所定位置まで充填された後、漏斗状部と管状部との間を切断する。これにより、粉末試料が充填されたキャピラリ30を準備する。
次に、図2に示すように、キャピラリ30をキャピラリホルダ20の挿入孔21に差し込み、粉末試料の充填部分31が挿入孔21から突出するようにキャピラリ30を保持する。キャピラリ30を安定して固定させる観点からは、キャピラリ30と挿入孔21の周縁部とを固着材32で固着させることが好ましい。固着材32としては、例えばワックス(ろう)、接着剤、粘土および熱収縮チューブのいずれかを用いることができる。ワックス(ろう)および粘土としては、取り扱いが容易なことから、手で触れたときに軟化変形できるような物を用いるとよい。熱収縮チューブとしては、その材質は特に限定されず、キャピラリ30の耐熱性に応じて適宜選択するとよい。熱収縮チューブを用いる場合は、熱収縮チューブを細い筒状に成形してキャピラリ30と挿入孔21の周縁部との間に設けた後に加熱するとよい。
次に、キャピラリ30を保持したキャピラリホルダ20をマウント治具10に取り付ける。具体的には、図3に示すように、マウント治具10の取付部12にキャピラリホルダ20を嵌め込み、キャピラリ30が突出するように取り付ける。その後、マウント治具10に設けられたネジ孔14にネジ(図示略)を挿入してキャピラリホルダ20に押し当てることにより、キャピラリホルダ20をマウント治具10に固定する。
次に、キャピラリ30の回転軸が偏心しないようにキャピラリ30の角度調整を行う。具体的には、マウント治具10の本体部11における角度調整部(図示略)を使用して、キャピラリ30を回転軸に対して偏心しないようキャピラリ30の角度を調整する。
次に、キャピラリホルダ20を取り付けたマウント治具10を、磁石13により、X線回折装置におけるゴニオメータ40の試料装着部41に取り付ける。試料装着部41が磁性材料から形成される場合は、マウント治具10をそのまま取り付けてもよいが、試料装着部41が非磁性材料から形成される場合は、例えば試料装着部41に磁性材料からなる平板(図示略)などを貼り付けてマウント治具を平板を介して試料装着部41に取り付けるとよい。
次に、例えばCCDカメラなどを用いて、キャピラリ30の回転軸が偏心していないことを確認する。確認が取れた後、キャピラリ30を回転させながら表面にX線を照射し、透過する回折X線を検出することで、キャピラリ30に充填される粉末試料の情報を取得する。
以上のように、本実施形態のマウント治具10によれば、磁石13により試料装着部41に取り付けることができるので、ネジ止めにより生じるマウント治具10の位置ずれを回避することができる。そのため、キャピラリ30の回転軸とゴニオメータ40の回転軸とを一致させるまで、マウント治具10の取り付けを繰り返す必要がないので、測定効率を高めることができる。
<他の実施形態>
本発明は、上述した実施形態に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々に改変することができる。
上述した実施形態では、マウント治具10に対してキャピラリホルダ20をネジ止めして固定する場合を説明したが、本発明はこれに限定されず、キャピラリホルダ20の固定は磁石で行ってもよい。具体的には、図4に示すように、マウント治具10において、本体部11の試料装着部41の側に設けられる磁石を第1の磁石13aとしたとき、取付部12の底に第2の磁石13bを設けることが好ましい。第2の磁石13bによれば、例えばキャピラリホルダ20が磁性を有する金属から形成される場合、キャピラリホルダ20をマウント治具10に対して磁力で付けることができ、測定効率をより高めることができる。また例えばキャピラリホルダ20が非磁性材料から形成される場合であっても、キャピラリホルダ20の底面に磁性を有する平板(図示略)などを貼り付けて、キャピラリホルダ20を磁性を有する平板を介してマウント治具10に対して磁力で付けることができる。このようなマウント治具10によれば、図5に示すように、キャピラリホルダ20およびマウント治具10の固定を磁力で行えるので、ネジ止めを省略することができる。なお、第1および第2の磁石13a、13bは互いに反発し合わないように配置するとよい。
また、上述の実施形態では、マウント治具10を試料装着部41にそのまま付けているが、試料装着部41に別の磁石を取り付け、この試料装着部41上の磁石とマウント治具10とを付けることが好ましい。2つの磁石で引き付けさせることで、試料装着部41に対してマウント治具10をより強固に固定することができる。
また、上述の実施形態では、マウント治具10における本体部11の底面(キャピラリホルダ20を取り付ける取付部12とは反対側の面)の中央部に1つの磁石13を本体部11と面一となるように配置する場合を説明したが、マウント治具10を磁力により試料装着部41に固定できれば、磁石13の数や形状は特に限定されない。
例えば、2以上の複数の磁石13を取り付けてもよく、本体部11の底面の中央部や外縁部に設けてもよい。また例えば、磁石13の形状はリング状でもよく、本体部11の底面の外縁部に嵌め込むように配置してもよい。
また例えば、磁石13は、マウント治具10の本体部11の底面に面一となるように嵌め込まれた状態ではなく、図6に示すように、本体部11の底面上に取り付けてもよい。図6は、本発明の他の実施形態に係るマウント治具の概略図であり、側面から見たときの側面図である。図6のように磁石13を設けることにより、上述した実施形態と比較して磁石13の面積を大きくするができ、マウント治具10の磁力による固定をより強固にすることができる。
10 マウント治具
11 本体部
12 取付部
13 磁石
13a 第1の磁石
13b 第2の磁石
14 ネジ孔
20 キャピラリホルダ
21 挿入孔
30 キャピラリ
31 粉末試料
32 固着材
40 ゴニオメータ
41 試料装着部

Claims (3)

  1. X線回折装置の試料装着部にキャピラリホルダを取り付けるためのマウント治具であって、
    本体部と、
    前記本体部の一端に設けられ、前記キャピラリホルダを取り付けるための取付部と、
    前記本体部の他端に設けられる磁石と、を備え、
    前記試料装着部に対して前記磁石で支持固定される、マウント治具。
  2. 前記本体部の他端に設けられる前記磁石を第1の磁石としたときに、前記取付部は第2の磁石を備え、前記キャピラリホルダを前記第2の磁石で固定できるように構成される、
    請求項1に記載のマウント治具。
  3. 粉末試料が充填されたキャピラリをキャピラリホルダに装着する工程と、
    本体部と、前記本体部の一端に設けられ、前記キャピラリホルダを取り付けるための取付部と、前記本体部の他端に設けられる磁石と、を備えるマウント治具を準備する工程と、
    前記キャピラリが装着された前記キャピラリホルダを前記マウント治具の前記取付部に取り付ける工程と、
    X線回折装置の試料装着部に対して、前記キャピラリホルダが取り付けられた前記マウント治具を前記磁石により固定する工程と、を有する
    X線回折方法。
JP2021079073A 2020-05-11 2021-05-07 マウント治具およびそれを用いたx線回折方法 Pending JP2021179429A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020083242 2020-05-11
JP2020083242 2020-05-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021179429A true JP2021179429A (ja) 2021-11-18

Family

ID=78511252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021079073A Pending JP2021179429A (ja) 2020-05-11 2021-05-07 マウント治具およびそれを用いたx線回折方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021179429A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2713383C (en) Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of a mineral sample
JP5732006B2 (ja) 試料冷却ホルダー及び冷却源容器
Murakami et al. Upgrade of automated sample exchanger SPACE
JP7520419B2 (ja) 試料ホルダユニット
JP2021179429A (ja) マウント治具およびそれを用いたx線回折方法
US9312096B2 (en) Sample holder
CN1620602A (zh) 用于衍射分析的衍射仪及方法
JP2021179430A (ja) キャピラリホルダおよびそれを用いたx線回折方法
CN113302484B (zh) 单晶x射线构造解析装置用试样保持架单元
Parrish et al. Instrumentation for synchrotron X-ray powder diffractometry
JP7462164B2 (ja) 単結晶x線構造解析装置用試料ホルダ、試料ホルダユニットおよび吸蔵方法
JP7484551B2 (ja) 試料容器ホルダ
JP3519292B2 (ja) 微小部x線回折測定方法及び微小部x線回折装置
CN113056669A (zh) 单晶x射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器
JP4453985B2 (ja) X線分析装置
JP7462146B2 (ja) 単結晶x線構造解析装置および試料ホルダ
JP2008122337A (ja) 多機能x線検査装置
JP7237373B2 (ja) 単結晶x線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置
CN211627417U (zh) 一种用于块体材料精密x射线衍射测试的样品架
JP6326341B2 (ja) 試料ホルダー、および電子顕微鏡
CN113287003B (zh) 单晶x射线结构解析装置用试样保持架组件
JP2000258366A (ja) 微小部x線回折装置
JP2013080605A (ja) 試料ホルダー先端部、試料ホルダー、及び当該試料ホルダー先端部の製造方法
JPH07294400A (ja) X線回折装置の試料保持装置
JP2002107313A (ja) X線分析用試料ホルダおよびx線分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240117