JP2021167814A - ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法｛ａｎａｌｙｓｉｓ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ ａｎｄ ｃｏｌｏｒ ａｎａｌｙｓｉｓ ｍｅｔｈｏｄ ｔｈｅｒｅｏｆ｝ - Google Patents

ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法｛ａｎａｌｙｓｉｓ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ ａｎｄ ｃｏｌｏｒ ａｎａｌｙｓｉｓ ｍｅｔｈｏｄ ｔｈｅｒｅｏｆ｝ Download PDF

Info

Publication number
JP2021167814A
JP2021167814A JP2021066510A JP2021066510A JP2021167814A JP 2021167814 A JP2021167814 A JP 2021167814A JP 2021066510 A JP2021066510 A JP 2021066510A JP 2021066510 A JP2021066510 A JP 2021066510A JP 2021167814 A JP2021167814 A JP 2021167814A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display device
calibration
inspection
color
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2021066510A
Other languages
English (en)
Inventor
スンヒョン キム
Seung Hyun Kim
ギリョン チョイ
Gi Ryong Choi
ジニ オー
Jin Hee Oh
ユンヒョク リー
Yoon Hyuk Lee
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Vieworks Co Ltd
Original Assignee
Vieworks Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vieworks Co Ltd filed Critical Vieworks Co Ltd
Publication of JP2021167814A publication Critical patent/JP2021167814A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/506—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors measuring the colour produced by screens, monitors, displays or CRTs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/52—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
    • G01J3/524—Calibration of colorimeters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/2003—Display of colours
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G01J2003/2813—2D-array
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/06—Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693—Calibration of display systems
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、発光型ディスプレイ装置（ＯＬＥＤ、ＱＬＥＤ、ＡＭＯＬＥＤなど）に対して全体イメージ撮影、色測定、および色分析を同時に行うことによって、迅速な色測定が可能であり、検査効率が向上するディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法を提供する。
【解決手段】本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムは、被検査用ディスプレイ装置から出力される検査用画像を撮影し、撮影された画像から検査用ＲＧＢ値を取得する画像撮影装置、および予め用意された色変換関数を用いて前記検査用ＲＧＢ値をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換し、変換された前記ＣＩＥ ＸＹＺ値を用いて前記被検査用ディスプレイ装置の不良有無を判断する検査制御部を含む。
【選択図】図１

Description

本発明は、ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法に関し、一例として画像撮影装置を用いたディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法に関する。
ディスプレイ装置は、ＴＶ、モニター、スマートフォンなどに適用され、ユーザが目で見ることができる画像を出力する装置である。ディスプレイ装置は、自ら光を出す発光型と外部の光により動作する受光型に分けることができる。
発光型には、ＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ−Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）、ＯＬＥＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅｓ）、ＡＭＯＬＥＤ（Ａｃｔｉｖｅ Ｍａｔｒｉｘ Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）、ＱＬＥＤ（Ｑｕａｎｔｕｍ ｄｏｔ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅｓ）などがある。受光型としては、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）が代表的である。
このようなディスプレイ装置の中でもＯＬＥＤディスプレイパネルは、視野角が広く、コントラストに優れ、さらには応答速度が速いという長所を有しており、最近、携帯型ディスプレイ装置、スマートフォン、タブレットＰＣなどに広く使われているだけでなく、大型化を通じた次世代ディスプレイ装置として注目されている。
特に、ＯＬＥＤディスプレイパネルは、無機発光ディスプレイ装置に比べて、輝度、駆動電圧、応答速度などの特性に優れ、多色化が可能であるという長所がある。
このようなＯＬＥＤディスプレイ装置の場合、製造工程下、様々な薄膜形成工程とエッチング工程などを通じてＴＦＴ（Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）層が形成される基板を備える。ＴＦＴ層上には下部電極と有機膜層（例えば、正孔輸送層、発光層、電子輸送層）、および上部電極からなる有機発光層が形成され、その後、封止基板を用いてＴＦＴ層および有機発光層が形成された基板を封止することによってＯＬＥＤディスプレイ装置が完成される。
一方、ＯＬＥＤを含めて最終完成された様々なディスプレイ装置は基板上に形成されたセルに対する検査工程が行われ、良品であるか否かを確認するための検査工程としては検査信号を印加するＴＦＴ層の機能検査、補正回路検査、画質検査、分光検査、イメージ検査、および表面異質物検査などがあり、それぞれの検査工程のための様々な装置が開発されている。
従来、検査工程の中でも画質検査とイメージ検査の場合、カラー信号発生器が基準ディスプレイ装置に伝送する第１ＲＧＢ値、基準ディスプレイ装置から出力される色表をスペクトロメータ（Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ）で撮影して測定されるＣＩＥ ＸＹＺ値、および基準ディスプレイ装置の色表をカメラ装置で撮影して測定される第２ＲＧＢ値の関係を通じて変換テーブルを作成する。ここで、ＣＩＥ ＸＹＺ値は、国際照明委員会で定義した色空間標準の代表的な例である。
その後、撮影装置を用いて被検査体（ディスプレイ装置）を撮影し、予め作成された変換テーブルを用いてディスプレイ装置から測定されたＲＧＢ値をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換する。
しかし、ＲＧＢ値は撮影装置に入ってくる光の波長を撮影装置の感度に応じて積分した値をデジタル値として還元した値であるため、制約条件なしにＲＧＢ値が標準色座標であるＣＩＥ ＸＹＺ値に変換されるのは難しい。
特に、一般的な光源（照明）から出る光を反射した受光型ディスプレイ装置の光の波長と、発光型ディスプレイ装置から出力される光の波長とは相当に異なるため、二つの波長の場合、リファレンス（Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ）として使用し難い。
このような問題を解決するためには、較正用（リファレンス）ディスプレイ装置と被検査用ディスプレイ装置とを同一の種類に限定し、正確なキャリブレイション（Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）を行うことが求められる。
大韓民国登録特許第１０−１９７５３１４号
そこで、本発明は、前記事情を考慮して導き出されたものであり、発光型ディスプレイ装置（ＯＬＥＤ、ＱＬＥＤ、ＡＭＯＬＥＤなど）に対して全体イメージ撮影、色測定、および色分析を同時に行うことによって、迅速な色測定が可能であり、検査効率が向上するディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法を提供することを目的とする。
前記目的を達成するための本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムは、被検査用ディスプレイ装置から出力される検査用画像を撮影し、撮影された画像から検査用ＲＧＢ値を取得する画像撮影装置、および予め用意された色変換関数を用いて前記検査用ＲＧＢ値を検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換し、変換された前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を用いて前記被検査用ディスプレイ装置の不良有無を判断する検査制御部を含む。
前記被検査用ディスプレイ装置は、発光型ディスプレイ装置であってもよい。
前記検査制御部は、前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較し一致有無に応じて前記被検査用ディスプレイ装置の不良有無を判断してもよい。
前記検査制御部は、前記被検査用ディスプレイ装置の出力を制御する検査画像出力部、前記画像撮影装置と通信を行って前記検査用ＲＧＢ値を受信する通信処理部、および前記色変換関数を用いて前記検査用ＲＧＢ値を前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換する色変換部を含んでもよい。
較正用ディスプレイ装置の較正用画像を撮影し、撮影された画像のスペクトルを測定する色分析装置をさらに含んでもよい。
前記較正用ディスプレイ装置は、前記被検査用ディスプレイ装置と同一種類の発光型ディスプレイ装置であってもよい。
前記色分析装置は、前記スペクトルから光波長を取得し、取得した光波長を較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換してもよい。
前記画像撮影装置は、前記較正用ディスプレイ装置から出力される較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＲＧＢ値を取得してもよい。
前記較正用ＲＧＢ値と前記色分析装置により取得された前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値とを用いて色変換関数を算出する較正制御部をさらに含んでもよい。
前記較正制御部は、前記較正用ディスプレイ装置の出力を制御する較正画像出力部、前記色分析装置または前記画像撮影装置と通信を行って前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値と前記較正用ＲＧＢ値とを受信する通信処理部、および前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値と前記較正用ＲＧＢ値とを用いて前記色変換関数を生成する色演算部を含んでもよい。
前記較正用ディスプレイ装置が取り付けられる取り付け部と、前記取り付け部を向き合う位置に構成され、前記色分析装置と前記画像撮影装置が据え置きされる据置部と、を含むジグ装置をさらに含んでもよい。
前記ジグ装置は、前記取り付け部と前記据置部を連結するように構成され、前後左右にスライディング動作が可能となるように構成されるスライディング構造を含んでもよい。
前記スライディング構造を制御して前記画像撮影装置の位置を調節することによって前記較正用ディスプレイ装置の中央部と外郭部に対する撮影を可能にする較正制御部をさらに含んでもよい。
前記目的を達成するための本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法は、検査用画像を撮影し、撮影された画像から検査用ＲＧＢ値を取得する検査用ＲＧＢ画像撮影ステップ、および予め用意された色変換関数と前記検査用ＲＧＢ値とを用いて前記検査用画像の不良有無を判断する不良検査ステップを含む。
前記較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＲＧＢ値を取得する較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ、前記較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値を取得する標準色撮影ステップ、および前記較正用ＲＧＢ値と前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値とを用いて色変換関数を算出する色変換関数演算ステップをさらに含んでもよい。
前記色変換関数を格納する色変換関数格納ステップをさらに含んでもよい。
前記色変換関数と前記検査用ＲＧＢ値とを用いて検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を算出する検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値算出ステップをさらに含んでもよい。
前記不良検査ステップは、前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較し一致有無に応じて前記検査用画像の不良有無を判断してもよい。
前記較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ、および前記標準色撮影ステップにおいて、ジグ装置を用いて前記較正用画像の中央部と外郭部に対して撮影してもよい。
前記較正用画像および前記検査用画像は、発光型ディスプレイ装置から出力されてもよい。
本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法によれば、発光型ディスプレイ装置（ＯＬＥＤ、ＱＬＥＤ、ＡＭＯＬＥＤなど）のようなディスプレイ装置に対する全体イメージ撮影、色測定、および色分析を同時に行うことによって、迅速な色測定が可能であり、検査効率が向上することができる。
また、一般的な画像撮影装置を用いて検査することを可能にすることによって、ディスプレイ装置に対する簡単で安価な検査を可能にするという効果がある。
なお、画像撮影装置で撮影したＣＩＥ ＸＹＺ値、ＲＧＢ値といった２種類のデータを用いて変換式を生成することによって、従来に比べて変換効率が向上するという効果がある。
本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムのブロック図である。 図１の較正装置の概略的な構成図である。 ＯＬＥＤディスプレイ装置のサブピクセルを説明するための図である。 実際撮影された画像の一例を示す図である。 実際撮影された画像にＲＧＢフィルタ位置の値に応じてＲＧＢの値を適用した図である。 ピクセル別に色復元が必要であるかを説明するためのベイヤーパターンを示す図である。 線形補間方法の一例を説明するための図である。 ディスプレイ装置から出力される画像に対して距離に応じた色の分布と推定グラフを示す図である。 ディスプレイ装置の実際明るさ（曲線グラフ）と色分析装置１０が受けた入力値（棒グラフ）を示す図である。 色演算部を用いた色変換関数の生成方式を説明するための図である。 本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法の第１フローチャートである。 本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法の第２フローチャートである。
以下では、本発明の好ましい実施形態について添付図面を参照して詳しく説明する。先ず、各図面の構成要素に参照符号を付する際、同一の構成要素に対しては、他の図面上に示すときにも可能な限り同一の符号を付するようにしていることに留意しなければならない。また、以下では本発明の好ましい実施形態について説明するが、本発明の技術的思想はこれに限定または制限されるものではなく、当業者により変形されて多様に実施できることは勿論である。
図１は、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムのブロック図である。
本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システム１は、ディスプレイ装置の色分析を通じて不良有無を検査するためのものである。
図１を参照すれば、本発明に係るディスプレイ装置分析システム１は、較正装置２と検査装置３とを含む。
較正装置２は、較正用ディスプレイ装置４を用いて被検査用ディスプレイ装置５の検査に用いられる変換基準値（例えば、色変換関数）を用意する装置である。
検査装置３は、較正装置２によって用意された変換基準値を考慮して被検査用ディスプレイ装置５の不良有無を検査する装置である。以下では、較正装置２を先に説明し、その後に検査装置３について説明する。
較正装置２は、色分析装置１０、画像撮影装置２０、および較正制御部３０を含むことができる。
色分析装置１０は、較正用ディスプレイ装置４においてディスプレイされた較正用画像を撮影し、撮影された画像のスペクトルを測定する装置である。ここで、較正用ディスプレイ装置４は、ＯＬＥＤ、ＱＬＥＤ、ＡＭＯＬＥＤなどの発光型ディスプレイ装置であってもよい。較正用ディスプレイ装置４は、較正制御部３０により制御されて単一色または様々な色を表現する較正用画像を出力することができる。
色分析装置１０は、撮影された画像のスペクトルに含まれた三つの光波長（Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３）のうち少なくとも一つ以上を取得することができる。ここで、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３は任意の色座標値を示すことができる。一実施形態において、色分析装置１０は、スペクトロメータ（Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ）、三刺激値測色計（Ｔｒｉｓｔｉｍｕｌｕｓ Ｃｏｌｏｒｉｍｅｔｅｒ）、およびスペクトロメータが内蔵されたＲＧＢ測色計（ＲＧＢ Ｃｏｌｏｒｉｍｅｔｅｒ）を含むことができる。色分析装置１０は、任意の色座標値をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換するカラーマッチング機能（Ｃｏｌｏｒ Ｍａｔｃｈｉｎｇ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）を備えることができる。色分析装置１０は、カラーマッチング機能を用いて、Ｌ１、Ｌ２、およびＬ３それぞれの光波長をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換することができる。色分析装置１０は、変換されたＣＩＥ ＸＹＺ値を較正制御部３０に伝達することができる。一実施形態において、色分析装置１０により取得されたＣＩＥ ＸＹＺ値は較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値に定義できる。
画像撮影装置２０は、較正用ディスプレイ装置４においてディスプレイされた較正用画像を撮影し、撮影された画像からＲＧＢ値を取得する装置である。一実施形態において、画像撮影装置２０は、ＣＭＯＳセンサを用いるＲＧＢカメラであってもよい。ここで、較正用画像から取得されたＲＧＢ値は較正用ＲＧＢ値に定義できる。較正制御部３０は、較正用ディスプレイ装置４の画像出力を制御する装置であって、較正画像出力部３１、通信処理部３３、および色演算部３５を含むことができる。
較正画像出力部３１は、較正用画像と関連した信号を較正用ディスプレイ装置４に伝送することによって較正用ディスプレイ装置４の出力を制御することができる。較正画像出力部３１は、外部入力または自体的に較正用画像を生成することができる。較正画像出力部３１は、単一色の画像または様々な色が混合された画像を生成することができる。
通信処理部３３は、色分析装置１０または画像撮影装置２０と通信を行う装置である。通信処理部３３は、色分析装置１０との通信を通じて較正用画像に対するＣＩＥ ＸＹＺ値を受信することができる。通信処理部３３は、画像撮影装置２０との通信を通じて較正用画像に対するＲＧＢ値を受信することができる。
通信処理部３３は、色分析装置１０または画像撮影装置２０との通信を通じて撮影命令を伝送することができる。
色演算部３５は、入力を受けたＣＩＥ ＸＹＺ値とＲＧＢ値とを用いて変換基準値（例えば、色変換関数）を生成することができる。色演算部３５は、ポリノミアル（Ｐｏｌｙｎｏｍｉａｌ）、線形変換（Ｌｉｎｅａｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）、ニューラルネットワーク（Ｎｅｕｒａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ルックアップテーブル（Ｌｏｏｋｕｐ Ｔａｂｌｅ）、およびマルチスペクトル変換（Ｍｕｌｔｉｓｐｅｃｔｒａｌ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）方式などを用いて色変換関数を生成することができる。色変換関数の生成方法は図８を参照して後述する。
色演算部３５は、通信処理部３３を介して色変換関数を検査装置３に伝達することができる。色変換関数は、検査装置３において被検査用ディスプレイ装置５の不良有無の判断に利用することができる。検査装置３は、検査制御部４０、および画像撮影装置５０を含むことができる。ここで、画像撮影装置５０は、較正装置２の画像撮影装置２０と同一の種類であってもよいが、これに限定されるものではない。画像撮影装置５０は、被検査用ディスプレイ装置５においてディスプレイされた検査用画像を撮影し、撮影された画像からＲＧＢ値を取得することができる。一実施形態において、検査用画像から取得されたＲＧＢ値は検査用ＲＧＢ値に定義できる。
被検査用ディスプレイ装置５は、不良有無に対する検査対象であって、較正用ディスプレイ装置４と同一種類のディスプレイ装置であってもよい。一実施形態において、被検査用ディスプレイ装置５は、ＯＬＥＤ、ＱＬＥＤ、ＡＭＯＬＥＤなどの発光型ディスプレイ装置であってもよい。被検査用ディスプレイ装置５は、検査制御部４０により制御されて単一色または様々な色を表現する検査用画像を出力することができる。
検査制御部４０は、被検査用ディスプレイ装置５の画像出力を制御する装置であって、検査画像出力部４１、通信処理部４３、および色変換部４５を含むことができる。
検査画像出力部４１は、検査用画像と関連した信号を被検査用ディスプレイ装置５に伝送することによって被検査用ディスプレイ装置５の出力を制御することができる。ここで、検査用画像は較正用画像と同一であってもよいが、これに限定されるものではない。
通信処理部４３は、画像撮影装置５０と通信を行う装置である。通信処理部４３は、画像撮影装置５０との通信を通じて撮影命令を伝送することができる。通信処理部４３は、画像撮影装置５０との通信を通じて検査用画像に対する検査用ＲＧＢ値を受信することができる。
色変換部４５は、入力を受けた検査用ＲＧＢ値をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換することができる。色変換部４５は、色演算部３５によって用意された色変換関数を用いて検査用ＲＧＢ値をＣＩＥ ＸＹＺ値に変換することができる。一実施形態において、色変換部４５により取得されたＣＩＥ ＸＹＺ値は検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値に定義できる。
検査制御部４０は、被検査用ディスプレイ装置５の不良有無の検査時、色分析装置１０を利用しなくても色変換部４５を介して検査用画像に対するＣＩＥ
ＸＹＺ値を取得することができる。
また、検査制御部４０は、予め用意された基準ＣＩＥ ＸＹＺ値と色変換部４５により取得されたＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較して、被検査用ディスプレイ装置５の不良有無を判断することができる。ここで、基準ＣＩＥ ＸＹＺ値は、検査画像出力部４１から被検査用ディスプレイ装置５に出力した信号に対応する値であってもよい。検査制御部４０の比較結果に応じた不良判断には所定の誤差が許容できる。
図２は、図１の較正装置の概略的な構成図である。
図２を参照すれば、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システム１の較正装置２は、図１で説明した構成を含むが、ジグ装置６０をさらに含むことができる。また、較正制御部３０の機能は、ディスプレイ用コンピュータ１００、制御コンピュータ２００、および通信装置３００に分散適用できる。以下、図１で説明した構成については詳しい説明を省略する。
ジグ装置６０は、較正用ディスプレイ装置４を取り付けできるように取り付け部６１が構成されることができる。ジグ装置６０は、取り付け部６１を向き合う位置に色分析装置１０と画像撮影装置２０を据え置きできるように据置部６３が備えられることができる。ここで、色分析装置１０と画像撮影装置２０は、据置部６３に左右または上下方向に並んで据え置きできる。据置部６３は、色分析装置１０と画像撮影装置２０間の位置変換が可能となるように中心軸を中心に回転可能に構成されることができる。
ジグ装置６０は、据置部６３が取り付け部６１に向かって前後左右に移動可能にするスライディング構造６５が形成されることができる。色分析装置１０と画像撮影装置２０は、スライディング構造６５の動きによって較正用ディスプレイ装置４の中央部と外郭部を全て撮影できるようになる。
ディスプレイ用コンピュータ１００は、較正用ディスプレイ装置４の出力制御のためのディスプレイプログラムが設置されることができる。ディスプレイ用コンピュータ１００は、較正用画像を生成することができる。ディスプレイ用コンピュータ１００は、較正用画像の出力のために較正用ディスプレイ装置４を制御することができる。
制御コンピュータ２００は、ディスプレイ装置分析システム１の全体的な制御を担当する。制御コンピュータ２００は、制御サーバ２１０とジグ制御部２２０とを含むことができる。
制御サーバ２１０は、通信装置３００を介して連結されたディスプレイ用コンピュータ１００に画像表示命令を伝送することができる。例えば、制御サーバ２１０は、Ｒ、Ｇ、Ｂ値それぞれが［３１、６３、９５、１２７、１５９、１９１、２２３、２２５］を順次表示する画像表示命令を伝送することができる。ディスプレイ用コンピュータ１００は、画像表示命令に応じてディスプレイ値を調節して約５１２個の色が出力される較正用画像を生成し、それを較正用ディスプレイ装置４を介して出力することができる。
また、制御サーバ２１０は、色分析装置１０または画像撮影装置２０に撮影命令を伝送することができる。制御サーバ２１０は、色分析装置１０または画像撮影装置２０から撮影された画像のＣＩＥ ＸＹＺ値またはＲＧＢ値を受信することができる。制御サーバ２１０は、較正用ディスプレイ装置４に対する撮影時、ＣＩＥ ＸＹＺ値とＲＧＢ値とを用いて色変換関数を生成することができる。ジグ制御部２２０は、ジグ装置６０の制御のためのプログラムが設置される。ジグ制御部２２０は、ジグ装置６０に設けられたモータ（図示せず）に制御信号を印加することによって据置部６３の位置を調節することができる。ジグ制御部２２０は、据置部６３の位置を適切に調節することによって、据置部６３に据え置きされた色分析装置１０および画像撮影装置２０を適切な位置に移動させることができる。
通信装置３００は、ＬＡＮ通信装置であってもよい。通信装置３００は、ディスプレイ用コンピュータ１００と制御コンピュータ２００の通信連結を行う。
図３は、ＯＬＥＤディスプレイ装置のサブピクセルを説明するための図である。
図３を参照すれば、ＯＬＥＤディスプレイ装置のサブピクセルを確認することができる。ＯＬＥＤディスプレイ装置のピクセルは、サブピクセルの組み合わせにより構成されることができる。ＯＬＥＤディスプレイ装置から出力される較正用画像の撮影時、各サブピクセル別に色を測定することが好ましい。
図４Ａは実際撮影された画像の一例を示し、図４Ｂは実際撮影された画像にＲＧＢフィルタ位置の値に応じてＲＧＢの値を適用した図である。
図４Ａにおいて、各サブピクセルの強さは位置に応じて均一ではなく、外郭に行くほど暗く表れる。図４Ｂにおいて、可視性のために画像処理したイメージを確認することができる。これは、実際イメージにＲＧＢフィルタ位置の値に応じてＲＧＢの値を適用して取得することができる。色分析装置１０はスポット（ｓｐｏｔ）を撮影するスペクトロメータであるため、サブピクセル別に値を取ることができない。したがって、色分析装置１０は、サブピクセルの値を組み合わせて一般ピクセルの値に変更しなければならない。このためには二つの過程が必要である。二つの過程は、各パターンの値を適切に補間（Ｉｎｔｅｒｐｏｌａｔｉｏｎ）して各位置において未知のカラー値を復元する過程、および取得したイメージに基づいてサブピクセルを確認し、各値を組み合わせる過程を含む。
図５は、ピクセル別に色復元が必要であるかを説明するためのベイヤーパターンを示す図である。
図５を参照すれば、ベイヤーパターンは、各ピクセルにＲ、Ｇ、Ｂのフィルタが割り当てられて色を検知するようになる。一つのピクセルでは一つの色だけを検知することができる。したがって、一般的に認識できるイメージを生成するためには、補間によって色を復元しなければならない。
図６は、線形補間方法の一例を説明するための図である。
図６を参照すれば、補間の中でも線形補間（Ｌｉｎｅａｒ Ｉｎｔｅｒｐｏｌａｔｉｏｎ）方法を確認することができる。線形補間方法は、各ピクセル間の中間部分を周辺値の中間値で満たす方法である。一般的なイメージの場合、線形補間が特に問題なく動作することができる。しかし、一つのピクセルの色が重要なイメージである場合、線形補間方法の正確度が大きく落ちる。本発明の検査システムの場合、従来の線形補間方法の代わりに、ピクセル間の差をモデリングで補間する方式を選択適用する。
図７Ａはディスプレイ装置から出力される画像に対して距離に応じた色の分布と推定グラフを示し、図７Ｂはディスプレイ装置の実際明るさ（曲線グラフ）と色分析装置１０が受けた入力値（棒グラフ）を示す。
図７Ａにおいて、一つのサブピクセルを非常に大きい大きさで撮影した後、該当色の分布と距離を通じてサブピクセルの明るさ変化をモデリングすることができる。既に与えられた値に基づいてモデルに適用すれば、図７Ｂのような曲線グラフに対応するディスプレイ装置の明るさ曲線を推定することができる。これは、実際センサの値をそのまま使うより正確である。
図７Ｂにおいて、実際明るさとセンサが取得した値に差があるが、これは、センサの最小単位であるピクセルとディスプレイ装置との間の大きさ差が大きくなく、ディスプレイ装置の位置に応じた明るさ変化を全て検知することができないためである。
本発明の検査システム１は、このように取得した各ピクセル情報を総合して、各カラー当たりに一つの値になるようにリファレンスＲＧＢ値を生成する。リファレンスＲＧＢ値が測定位置ごとに異なりうるため、本発明の場合、最も正確な値を得ることができる中央部近くの値をリファレンスＲＧＢ値に設定する。また、測定した値を一つの値に変換するのに様々な方法があるが、本発明の場合、各サブピクセルの最大値を求めた後に平均を出す方法を適用する。
図８は、色演算部を用いた色変換関数の生成方式を説明するための図である。
図８を参照すれば、較正用ディスプレイ装置４の較正用画像に対する色分析装置１０と画像撮影装置２０の撮影が完了すれば、色演算部３５は、５１２組のＲＧＢ、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３値を取得することができる。一実施形態において、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３値は、ＣＩＥ ＸＹＺ値として取得される。色演算部３５は、ＲＧＢ値とＣＩＥ ＸＹＺと値を用いて色変換関数ｆ（Ｒ）を生成することができる。一実施形態において、色演算部３５は、ポリノミアル（Ｐｏｌｙｎｏｍｉａｌ）、線形変換（Ｌｉｎｅａｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）、ニューラルネットワーク（Ｎｅｕｒａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ルックアップテーブル（Ｌｏｏｋｕｐ Ｔａｂｌｅ）、およびマルチスペクトル変換（Ｍｕｌｔｉｓｐｅｃｔｒａｌ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）方式などを用いて色変換関数ｆ（Ｒ）を生成することができる。
図９は、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法の第１フローチャートである。
図１および図９を参照すれば、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法は、配置ステップ（Ｓ９１０）、較正用画像出力ステップ（Ｓ９２０）、較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ（Ｓ９３０）、標準色撮影ステップ（Ｓ９４０）、較正用画像出力終了ステップ（Ｓ９５０）、色変換関数演算ステップ（Ｓ９６０）、および色変換関数格納ステップ（Ｓ９７０）を含む。
配置ステップ（Ｓ９１０）において、較正用ディスプレイ装置４が配置される。ここで、較正用ディスプレイ装置４は、他の光の干渉を最小化するために暗室に配置される。
較正用画像出力ステップ（Ｓ９２０）において、較正制御部３０は、較正用ディスプレイ装置４が指定された位置に設けられた後、較正用ディスプレイ装置４を制御して較正用画像を出力する。較正用画像は、予め用意された色リストに応じた色を含めて構成されることができる。一実施形態において、色リストは、Ａ番目からＺ番目の色を含むことができる。Ａ番目の色は赤色であってもよく、Ｚ番目の色は青色であってもよいが、これに限定されるものではない。Ａ番目の色とＺ番目の色の間の色は適切に設定できる。色リストＡからＺ番目の色のうちＣ番目の色とＩ番目の色の間の色が含まれた較正用画像が出力されるが、これに限定されるものではない。
較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ（Ｓ９３０）において、画像撮影装置２０は、較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＲＧＢ値を取得する。この時、画像撮影装置２０は、ジグ装置６０によって位置調節されて、較正用ディスプレイ装置４の中央部と外郭部に対して撮影を行うことができる。
標準色撮影ステップ（Ｓ９４０）において、色分析装置１０は、較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値を取得する。この時、色分析装置１０は、撮影された画像のスペクトルから光波長と関連したＬ１、Ｌ２、Ｌ３値を取得しそれを変換することによって較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値を取得することができる。
前記較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ（Ｓ９３０）と標準色撮影ステップ（Ｓ９４０）は、その実行順が順次進行することに限定されるものではなく、互いに同一順に行われるか、または互いに逆順に行われてもよい。
較正用画像出力終了ステップ（Ｓ９５０）において、較正制御部３０は、画像撮影装置２０と色分析装置１０の撮影が完了すれば、較正用ディスプレイ装置４を制御して較正用画像の出力を終了する。
色変換関数演算ステップ（Ｓ９６０）において、較正制御部３０は、較正用ディスプレイ装置４の画像出力が終了すれば、較正用ＲＧＢ値と較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値とを用いて色変換関数を生成する。ここで、較正制御部３０は、ポリノミアル（Ｐｏｌｙｎｏｍｉａｌ）、線形変換（Ｌｉｎｅａｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）、ニューラルネットワーク（Ｎｅｕｒａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ルックアップテーブル（Ｌｏｏｋｕｐ Ｔａｂｌｅ）、およびマルチスペクトル変換（Ｍｕｌｔｉｓｐｅｃｔｒａｌ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）方式などを用いて色変換関数を生成することができる。
色変換関数格納ステップ（Ｓ９７０）において、較正制御部３０は、生成された色変換関数を格納装置に格納する。格納された色変換関数は、被検査用ディスプレイ装置５の不良検査の実行に利用される。被検査用ディスプレイ装置５に対する不良検査の実行は図１０から確認することができる。
図１０は、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法の第２フローチャートである。
図１および図１０を参照すれば、本発明の好ましい実施形態によるディスプレイ装置分析システムの色分析方法は、配置ステップ（Ｓ１１１０）、検査用画像出力ステップ（Ｓ１１２０）、検査用ＲＧＢ画像撮影ステップ（Ｓ１１３０）、検査用画像出力終了ステップ（Ｓ１１４０）、検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値算出ステップ（Ｓ１１５０）、不良検査ステップ（Ｓ１１６０）、正常判断ステップ（Ｓ１１７０）、および不良判断ステップ（Ｓ１１８０）をさらに含むことができる。
配置ステップ（Ｓ１１１０）において、被検査用ディスプレイ装置５が配置される。ここで、被検査用ディスプレイ装置５は、他の光の干渉を最小化するために暗室に配置される。
検査用画像出力ステップ（Ｓ１１２０）において、検査制御部４０は、被検査用ディスプレイ装置５が指定された位置に設けられた後、被検査用ディスプレイ装置５を制御して検査用画像を出力する。検査用画像は、予め用意された色リストに応じた色を含めて構成されることができる。一実施形態において、色リストＡ番目からＺ番目の色のうちＣ番目からＩ番目の間の色を含む検査用画像が出力されるが、これに限定されるものではない。
検査用ＲＧＢ画像撮影ステップ（Ｓ１１３０）において、画像撮影装置５０は、検査用画像を撮影し、撮影された画像からＲＧＢ値を取得する。この時、画像撮影装置５０は、較正用ディスプレイ装置４とは異なり、被検査用ディスプレイ装置５の中央部に対してのみ撮影してもよい。
検査用画像出力終了ステップ（Ｓ１１４０）において、検査制御部４０は、画像撮影装置５０の撮影が終了すれば、被検査用ディスプレイ装置５を制御して検査用画像の出力を終了する。
検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値算出ステップ（Ｓ１１５０）において、検査制御部４０は、被検査用ディスプレイ装置５の画像出力が終了すれば、予め用意された色変換関数と検査用ＲＧＢ値とを用いて検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を算出する。ここで、検査用ＲＧＢ値はレンズ歪み補正を通じて補正された値であってもよい。一方、検査制御部４０は、算出された検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を光波長Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３に変換することもできる。
不良検査ステップ（Ｓ１１６０）において、検査制御部４０は、検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較して一致有無を判断する。検査制御部４０は、検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を用いて色平坦度検査などを行うこともできる。
正常判断ステップ（Ｓ１１７０）において、検査制御部４０は、検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値が一致する場合、被検査用ディスプレイ装置５の正常に判断することができる。
不良判断ステップ（Ｓ１１８０）において、検査制御部４０は、検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値が一致しない場合、被検査用ディスプレイ装置５の不良に判断することができる。
以上の説明は本発明の技術思想を例示的に説明したものに過ぎず、本発明が属する技術分野における通常の知識を有した者であれば、本発明の本質的な特性から逸脱しない範囲内で様々な修正、変更および置換が可能である。よって、本発明に開示された実施形態および添付された図面は本発明の技術思想を限定するためのものではなく説明するためのものであって、このような実施形態および添付された図面によって本発明の技術思想の範囲が限定されるものではない。
本発明に係るステップおよび／または動作は、技術分野の通常の技術者によって理解できることのように、他の順に、または並列的に、または他のエポック（ｅｐｏｃｈ）などのために他の実施形態において同時に発生してもよい。
実施形態によっては、ステップおよび／または動作の一部または全部は、一つ以上の非一時的コンピュータ−読み取り可能な媒体に格納された命令、プログラム、相互作用データ構造（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ ｄａｔａ ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ）、クライアントおよび／またはサーバを駆動する一つ以上のプロセッサを用いて少なくとも一部が実現されるかまたは実行されてもよい。一つ以上の非一時的コンピュータ−読み取り可能な媒体は、例示的にソフトウェア、ファームウェア、ハードウェア、および／またはそれらのいかなる組み合わせであってもよい。また、本明細書で議論された「モジュール」の機能は、ソフトウェア、ファームウェア、ハードウェア、および／またはそれらのいかなる組み合わせで実現されてもよい。
１ ・・・ディスプレイ装置分析システム
２ ・・・較正装置
３ ・・・検査装置
４ ・・・較正用ディスプレイ装置
５ ・・・被検査用ディスプレイ装置
１０ ・・・色分析装置
２０、５０ ・・・画像撮影装置
３０ ・・・較正制御部
３１ ・・・較正画像出力部
３３ ・・・通信処理部
３５ ・・・色演算部
４０ ・・・検査制御部
４１ ・・・検査画像出力部
４３ ・・・通信処理部
４５ ・・・色変換部
６０ ・・・ジグ装置
１００ ・・・ディスプレイ用コンピュータ
２００ ・・・制御コンピュータ
２１０ ・・・制御サーバ
２２０ ・・・ジグ制御部
３００ ・・・通信装置

Claims (20)

  1. 被検査用ディスプレイ装置から出力される検査用画像を撮影し、撮影された画像から検査用ＲＧＢ値を取得する画像撮影装置、および
    予め用意された色変換関数を用いて前記検査用ＲＧＢ値を検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換し、変換された前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を用いて前記被検査用ディスプレイ装置の不良有無を判断する検査制御部
    を含むディスプレイ装置分析システム。
  2. 前記被検査用ディスプレイ装置は、発光型ディスプレイ装置であることを特徴とする、請求項１に記載のディスプレイ装置分析システム。
  3. 前記検査制御部は、
    前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較し一致有無に応じて前記被検査用ディスプレイ装置の不良有無を判断することを特徴とする、請求項１に記載のディスプレイ装置分析システム。
  4. 前記検査制御部は、
    前記被検査用ディスプレイ装置の出力を制御する検査画像出力部、
    前記画像撮影装置と通信を行って前記検査用ＲＧＢ値を受信する通信処理部、および
    前記色変換関数を用いて前記検査用ＲＧＢ値を前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換する色変換部
    を含むことを特徴とする、請求項１に記載のディスプレイ装置分析システム。
  5. 較正用ディスプレイ装置の較正用画像を撮影し、撮影された画像のスペクトルを測定する色分析装置をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載のディスプレイ装置分析システム。
  6. 前記較正用ディスプレイ装置は、
    前記被検査用ディスプレイ装置と同一種類の発光型ディスプレイ装置であることを特徴とする、請求項５に記載のディスプレイ装置分析システム。
  7. 前記色分析装置は、
    前記スペクトルから光波長を取得し、取得した光波長を較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値に変換することを特徴とする、請求項５に記載のディスプレイ装置分析システム。
  8. 前記画像撮影装置は、
    前記較正用ディスプレイ装置から出力される較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＲＧＢ値を取得することを特徴とする、請求項７に記載のディスプレイ装置分析システム。
  9. 前記較正用ＲＧＢ値と前記色分析装置により取得された前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値とを用いて色変換関数を算出する較正制御部をさらに含むことを特徴とする、請求項８に記載のディスプレイ装置分析システム。
  10. 前記較正制御部は、
    前記較正用ディスプレイ装置の出力を制御する較正画像出力部、
    前記色分析装置または前記画像撮影装置と通信を行って前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値と前記較正用ＲＧＢ値とを受信する通信処理部、および
    前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値と前記較正用ＲＧＢ値とを用いて前記色変換関数を生成する色演算部
    を含むことを特徴とする、請求項９に記載のディスプレイ装置分析システム。
  11. 前記較正用ディスプレイ装置が取り付けられる取り付け部と、前記取り付け部を向き合う位置に構成され、前記色分析装置と前記画像撮影装置が据え置きされる据置部と、を含むジグ装置をさらに含むことを特徴とする、請求項５に記載のディスプレイ装置分析システム。
  12. 前記ジグ装置は、
    前記取り付け部と前記据置部を連結するように構成され、前後左右にスライディング動作が可能となるように構成されるスライディング構造を含むことを特徴とする、請求項１１に記載のディスプレイ装置分析システム。
  13. 前記スライディング構造を制御して前記画像撮影装置の位置を調節することによって前記較正用ディスプレイ装置の中央部と外郭部に対する撮影を可能にする較正制御部をさらに含むことを特徴とする、請求項１２に記載のディスプレイ装置分析システム。
  14. 検査用画像を撮影し、撮影された画像から検査用ＲＧＢ値を取得する検査用ＲＧＢ画像撮影ステップ、および
    予め用意された色変換関数と前記検査用ＲＧＢ値とを用いて前記検査用画像の不良有無を判断する不良検査ステップ
    を含むディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  15. 較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＲＧＢ値を取得する較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ、
    前記較正用画像を撮影し、撮影された画像から較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値を取得する標準色撮影ステップ、および
    前記較正用ＲＧＢ値と前記較正用ＣＩＥ ＸＹＺ値とを用いて色変換関数を算出する色変換関数演算ステップ
    をさらに含むことを特徴とする、請求項１４に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  16. 前記色変換関数を格納する色変換関数格納ステップ、
    をさらに含むことを特徴とする、請求項１５に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  17. 前記色変換関数と前記検査用ＲＧＢ値とを用いて検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値を算出する検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値算出ステップをさらに含むことを特徴とする、請求項１４に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  18. 前記不良検査ステップは、
    前記検査用ＣＩＥ ＸＹＺ値と基準ＣＩＥ ＸＹＺ値とを比較し一致有無に応じて前記検査用画像の不良有無を判断することを特徴とする、請求項１７に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  19. 前記較正用ＲＧＢ画像撮影ステップ、および前記標準色撮影ステップにおいて、
    ジグ装置を用いて前記較正用画像の中央部と外郭部に対して撮影することを特徴とする、請求項１５に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
  20. 前記較正用画像および前記検査用画像は、
    発光型ディスプレイ装置から出力されることを特徴とする、請求項１５に記載のディスプレイ装置分析システムの色分析方法。
JP2021066510A 2020-04-10 2021-04-09 ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法｛ａｎａｌｙｓｉｓ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ ａｎｄ ｃｏｌｏｒ ａｎａｌｙｓｉｓ ｍｅｔｈｏｄ ｔｈｅｒｅｏｆ｝ Pending JP2021167814A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200044219A KR102326955B1 (ko) 2020-04-10 2020-04-10 디스플레이 장치 분석 시스템 및 그것의 색상 분석 방법
KR10-2020-0044219 2020-04-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021167814A true JP2021167814A (ja) 2021-10-21

Family

ID=78006381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021066510A Pending JP2021167814A (ja) 2020-04-10 2021-04-09 ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法｛ａｎａｌｙｓｉｓ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ ａｎｄ ｃｏｌｏｒ ａｎａｌｙｓｉｓ ｍｅｔｈｏｄ ｔｈｅｒｅｏｆ｝

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11530981B2 (ja)
JP (1) JP2021167814A (ja)
KR (1) KR102326955B1 (ja)
CN (1) CN113514226A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114299070B (zh) * 2022-03-09 2022-05-31 深圳精智达技术股份有限公司 一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置
KR102502210B1 (ko) * 2022-11-21 2023-02-23 주식회사 아이스크림아트 그림 색채 분석 방법 및 시스템

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1194735A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Horiba Ltd 分光光度測定と多変量解析法とを用いた試料特性の定量分析装置およびその定量分析装置を用いた分析方法。
JP2002247394A (ja) * 2001-02-14 2002-08-30 Sharp Corp 色変換規則作成方法、色変換方法、カラー画像形成装置
JP2005011266A (ja) * 2003-06-20 2005-01-13 Minolta Co Ltd 入力プロファイルの作成方法およびコンピュータプログラム
US20120026315A1 (en) * 2010-07-29 2012-02-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Display panel test apparatus and method of testing a display panel using the same
JP2016145829A (ja) * 2015-02-09 2016-08-12 インストルメント システムズ オプティッシェ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔ Ｓｙｓｔｅｍｓ Ｏｐｔｉｓｃｈｅ Ｍｅｓｓｔｅｃｈｎｉｋ ＧｍｂＨ ディスプレイ検査のための測色システム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH102800A (ja) 1996-06-17 1998-01-06 Hitachi Ltd カラーディスプレイ装置の画質評価方法と画質評価装置およびカラーディスプレイ装置の製造方法
JPH11313346A (ja) 1998-04-28 1999-11-09 Sharp Corp 投影映像検査装置
KR100817131B1 (ko) * 2002-03-15 2008-03-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법
KR100484675B1 (ko) * 2002-09-04 2005-04-20 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법
JP2005114530A (ja) * 2003-10-07 2005-04-28 Olympus Corp 画像表示装置及び画像表示方法
KR100703694B1 (ko) * 2004-12-01 2007-04-05 삼성전자주식회사 디스플레이 검사 장치
US20070088535A1 (en) * 2005-10-17 2007-04-19 Eastman Kodak Company Generic spectral model for imaging devices
JP5504188B2 (ja) 2011-02-08 2014-05-28 Ｅｉｚｏ株式会社 測定システム、表示装置、測定装置、補正装置及び測定方法
KR20140007583A (ko) * 2012-07-09 2014-01-20 삼성디스플레이 주식회사 표시패널 검사 장치 및 그 방법
KR20140054719A (ko) 2012-10-29 2014-05-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시장치의 색편차 보정정보 생성장치 및 방법
KR101946581B1 (ko) * 2012-12-03 2019-04-22 엘지디스플레이 주식회사 패널 검사 방법
KR101362329B1 (ko) * 2013-09-12 2014-02-12 한동희 디스플레이용 패널의 검사장치
JP7185388B2 (ja) * 2016-11-21 2022-12-07 日東電工株式会社 検査装置及び検査方法
KR102581846B1 (ko) * 2016-11-30 2023-09-21 엘지디스플레이 주식회사 표시 패널의 보상 데이터 생성 방법 및 장치
KR101975314B1 (ko) 2017-11-15 2019-05-07 박진영 디스플레이 패널용 검사장치
GB201806945D0 (en) * 2018-04-27 2018-06-13 Univ Manchester Apparatus and method for processing colour image data
US11361474B2 (en) * 2018-08-03 2022-06-14 Magic Leap, Inc. Method and system for subgrid calibration of a display device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1194735A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Horiba Ltd 分光光度測定と多変量解析法とを用いた試料特性の定量分析装置およびその定量分析装置を用いた分析方法。
JP2002247394A (ja) * 2001-02-14 2002-08-30 Sharp Corp 色変換規則作成方法、色変換方法、カラー画像形成装置
JP2005011266A (ja) * 2003-06-20 2005-01-13 Minolta Co Ltd 入力プロファイルの作成方法およびコンピュータプログラム
US20120026315A1 (en) * 2010-07-29 2012-02-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Display panel test apparatus and method of testing a display panel using the same
JP2016145829A (ja) * 2015-02-09 2016-08-12 インストルメント システムズ オプティッシェ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔ Ｓｙｓｔｅｍｓ Ｏｐｔｉｓｃｈｅ Ｍｅｓｓｔｅｃｈｎｉｋ ＧｍｂＨ ディスプレイ検査のための測色システム

Also Published As

Publication number Publication date
US11530981B2 (en) 2022-12-20
CN113514226A (zh) 2021-10-19
KR20210126406A (ko) 2021-10-20
KR102326955B1 (ko) 2021-11-16
US20210318232A1 (en) 2021-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI626433B (zh) 二維空間解析測量方法及用於進行該測量之成像色度計系統
CN107479222B (zh) 量测显示面板的量测方法及其装置
JP2021167814A (ja) ディスプレイ装置分析システムおよびそれの色分析方法｛ａｎａｌｙｓｉｓ ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ ａｎｄ ｃｏｌｏｒ ａｎａｌｙｓｉｓ ｍｅｔｈｏｄ ｔｈｅｒｅｏｆ｝
JP4534825B2 (ja) 欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP2011196685A (ja) 欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム
CN108418997B (zh) 去除图像摩尔纹的方法
CN112885289B (zh) 一种显示屏的校准方法及设备
JP2016050982A (ja) 輝度補正装置及びこれを備えるシステム並びに輝度補正方法
JP2007093477A (ja) 色測定装置の校正方法および校正装置、色測定方法、色測定装置
JP2002267574A (ja) カラー表示装置の測色装置、測色方法、画質調整・検査装置、画質調整・検査方法
JPH10260109A (ja) カラーディスプレイ装置の画質評価方法およびそれを用いたカラーディスプレイ装置の製造方法
KR20180062571A (ko) 표시 패널의 보상 데이터 생성 방법 및 장치
WO2005064584A1 (ja) 表示システム
JP2010139324A (ja) 色ムラ測定方法、および色ムラ測定装置
CN106782233B (zh) Oled显示屏检测系统及其应用
JPH102800A (ja) カラーディスプレイ装置の画質評価方法と画質評価装置およびカラーディスプレイ装置の製造方法
JP2003167530A (ja) ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置
US20110157584A1 (en) Method of calibrating a light source
KR100849940B1 (ko) 컬러 디스플레이 패널의 화질 검사방법 및 화질 검사장치
JPH11234706A (ja) テレビカメラ映像調整装置
KR19990018136A (ko) 칼라화질검사방법 및 장치
KR102571243B1 (ko) 색채측정 장치 및 방법
CN113419909A (zh) 显示均匀性检测方法和计算机设备
JP2013113588A (ja) 光特性ムラ測定装置及び光特性ムラ測定方法
JP2010139323A (ja) 色ムラ測定方法、および色ムラ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210409

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20210413

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220513

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20220906