JP2021150661A - 信号発生装置及び信号発生方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本開示は、アナログ信号のレベル調整を行うモジュールにおいて、アナログ信号の出力レベルが予め定められた上限値を超えることを防ぐことを目的とする。【解決手段】本開示は、試験用のデジタルベースバンド信号をＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号に変換して出力するＲＦベースモジュール（１２）と、制御部（１８）と、を備える信号発生装置において、前記ＲＦベースモジュールは、ＩＦ信号が周波数変換されたアナログＲＦ信号を出力するＲＦコンバータ（２０）に接続され、前記制御部は、前記ＲＦコンバータから出力される前記アナログＲＦ信号の出力レベルに基づいて、前記ＲＦベースモジュールから出力される前記ＩＦ信号をクリップすることを特徴とする、信号発生装置である。【選択図】図１

Description

本開示は、試験信号を発生するための信号発生装置及び信号発生方法に関する。

移動体通信装置の試験を行う試験信号を発生するための信号発生装置が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１の信号発生装置は、試験用のアナログ信号を変調し、変調後のアナログ信号を増幅し、増幅後のアナログ信号のレベル調整を行い、試験用のアナログＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号を出力端から出力する。

アナログ信号の増幅及びレベル調整を行うモジュールは、モジュール内部やモジュールに入力される信号の状態に応じてアナログ信号の出力レベルが変動する。増幅後のアナログ信号が出力レベルの上限値を超えた場合、アナログ信号のレベル調整を行うモジュールにおいて故障が発生する可能性がある。

特開２０１９−１２９３３３号公報

そこで、本開示は、アナログ信号のレベル調整を行うモジュールにおいて、アナログ信号の出力レベルが予め定められた上限値を超えることを防ぐことを目的とする。

本開示の信号発生装置は、
試験用のデジタルベースバンド信号をＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号に変換して出力するＲＦベースモジュール（１２）と、制御部（１８）と、を備える信号発生装置において、
前記ＲＦベースモジュールは、前記ＩＦ信号が入力され、前記ＩＦ信号が周波数変換されたアナログＲＦ信号を出力するＲＦコンバータ（２０）に接続され、
前記制御部は、前記ＲＦコンバータから出力される前記アナログＲＦ信号の出力レベルに基づいて、前記ＩＦ信号をクリップするように前記ＲＦベースモジュールを制御することを特徴とする。

本開示の信号発生方法は、
試験用のデジタルベースバンド信号をＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号に変換して出力するＲＦベースモジュール（１２）と、制御部（１８）と、を備える信号発生装置が実行する信号発生方法において、
前記ＲＦベースモジュールは、前記ＩＦ信号が入力され、前記ＩＦ信号が周波数変換されたアナログＲＦ信号を出力するＲＦコンバータ（２０）に接続され、
前記制御部は、前記ＲＦコンバータから出力される前記アナログＲＦ信号の出力レベルに基づいて、前記ＲＦベースモジュールから出力される前記ＩＦ信号をクリップすることを特徴とする。

本開示によれば、アナログ信号のレベル調整を行うモジュールにおいて、クレストファクタのマージンが定められているなかで、出力レベルを調整することで、ＲＦコンバータに対する過大入力を防止することができる。

第１の実施形態に係るシステム構成の一例を示す。 参照テーブルの一例を示す。 第２の実施形態に係るシステム構成の一例を示す。 実施形態に係るＲＦコンバータの状態遷移図の一例を示す。

以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（第１の実施形態）
図１に、本実施形態に係るシステム構成の一例を示す。本実施形態に係るシステムは、試験用のアナログＲＦ信号を生成するための構成を備える。具体的には、本実施形態に係るシステムは、中間周波数帯のアナログ信号（以下、ＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号と称することがある。）を生成する信号源１０、ＩＦ信号を変調してアナログＲＦ信号を生成するＲＦコンバータ２０、ＲＦコンバータ２０において生成するアナログＲＦ信号の設定、あるいは周波数キャリブレーションの操作を行う試験インタフェース４０を備える。なお、一例ではあるが、中間周波数帯のアナログ信号の周波数は４．５ＧＨｚであり、アナログＲＦ信号の周波数は２４．２５ＧＨｚ〜２９．５ＧＨｚである。

信号源１０及びＲＦコンバータ２０は、交換可能なＲＦケーブル３０で接続されている。試験インタフェース４０は、信号源１０にのみ接続されている。試験インタフェース４０がアナログＲＦ信号を設定し、信号源１０及びＲＦコンバータ２０が設定に応じたアナログＲＦ信号を生成する。生成されたアナログＲＦ信号は、ＲＦコンバータ２０に備わる出力端子より出力される。出力端子には出力ケーブルが接続される。アナログＲＦ信号は、出力ケーブルに備わるアンテナ２９から無線送信することができる。

本実施形態に係るシステムは、ＲＦコンバータ２０の出力端におけるアナログＲＦ信号の出力レベルを調整するための構成を備える。具体的には、本実施形態に係るシステムは、ＲＦコンバータ制御部３１、温度記憶部３２、周波数キャリブレーション実行部３３、を備える。ＲＦコンバータ制御部３１及び周波数キャリブレーション実行部３３は、信号源１０及びＲＦコンバータ２０に接続されている。

本開示の信号発生装置は、信号源１０を含む。本開示の信号発生装置は、信号源１０に加え、ＲＦコンバータ２０、周波数キャリブレーション実行部３３、ＲＦコンバータ制御部３１及び温度記憶部３２を含んでいてもよい。本開示の装置は、コンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。

信号源１０は、デジタルベースバンド信号を出力するＢＢＭ（Ｂａｓｅ Ｂａｎｄ Ｍｏｄｕｌｅ）１１と、ＩＦ信号を出力するＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）ベースモジュール１２と、これらを制御する制御部として機能するＣＴＭ（Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｍｏｄｕｌｅ）１８と、参照テーブルを保持する参照テーブル記憶部１９と、を備える。ＢＢＭ１１は、任意のパターンの試験信号を発生する。ＲＦベースモジュール１２は、デジタル信号をアナログ信号に変換するＤＡコンバータ（Ｄｉｇｉｔａｌ ｔｏ Ａｎａｌｏｇ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）を備え、ＢＢＭ１１からのデジタル信号を中間周波数帯のＩＦ信号に変換する。

本実施形態のＲＦコンバータ２０は、アナログ信号を増幅するパワーアンプであるＰＡ２１（Ｐｏｗｅｒ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を経由する経路２２と、ＰＡ２１をバイパスする経路２３と、ＲＦコンバータ２０内の温度を測定する温度センサ２７と、を備える。経路２２と経路２３は、ＰＡ２１の入力側に接続されているスイッチ（以後、ＳＷと称する。）２４、及びＰＡ２１の出力側に接続されているスイッチ（以後、ＰＡＳＷと称する。）２５を用いて切り替え可能になっている。ＲＦコンバータ制御部３１は、経路２２と経路２３との切り替えを行う。

ＲＦコンバータ２０は、ＩＦ信号が入力され、ＩＦ信号が周波数変換されたＲＦ信号を出力する。ＲＦコンバータ２０は、アナログ信号を増幅するパワーアンプ、アナログ信号の振幅を調整するＡＴＴ（Ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ）２６を備える。

周波数キャリブレーション実行部３３は、各サブキャリアの中心周波数の振幅が所望の値になるよう、ＩＦ信号の振幅を調整する。例えば、周波数キャリブレーション実行部３３は、ＲＦベースモジュール１２から出力されるＩＦ信号の振幅のピーク値が所望の値になるよう、ＲＦベースモジュール１２に備わるＤＡコンバータを制御する。また、周波数キャリブレーション実行部３３は、ＰＡＳＷ２５から出力されるアナログ信号の振幅のピーク値が所望の値になるよう、ＡＴＴ２６を制御する。

ＲＦコンバータ２０の出力端におけるレベル（以後、ＳＧ出力レベルと称する。）をＸ［ｄＢｍ］（ＲＭＳ（Ｒｏｏｔ Ｍｅａｎ Ｓｑｕａｒｅ）値）、ＰＡ２１の出力端からＲＦコンバータ２０の出力端までの挿入損失（以下、ＰＡ以降の挿入損失と称する。）をＷ［ｄＢ］とすると、ＰＡＳＷ２５の入力レベル（＝ＰＡ２１の出力端における出力レベル）Ｙ［ｄＢｍ］（ピーク値）は次式で表される。
（数１）
Ｙ＝Ｘ＋Ｗ＋Γ＋Δ＋ε （１）

ただし、Γ［ｄＢ］はクレストファクタ（Ｃｒｅｓｔ Ｆａｃｔｏｒ）であり、Δ［ｄＢ］はＲＦコンバータ２０内でのＳＧ出力レベルＸの変動分であり、ε［ｄＢ］はＲＦベースモジュール１２に入力されるデジタルベースバンド信号のデジタルゲイン（ＲＭＳ）の変動分である。

ＳＧ出力レベルＸの変動分であるΔ［ｄＢ］は、次式で表される。
（数２）
Δ＝Ｔ・Δ_Ｔ＋Δ_Ｃ （２）

ここで、Ｔ［℃］は周波数キャリブレーション後の温度変動である。Δ_Ｔは温度変動に起因する出力レベルの変動を表すパラメータであり、例えば−０．１７［ｄＢ／℃］である。Δ_Ｃはケーブルに起因する出力レベルの変動を表すパラメータであり、例えば|Δ_Ｃ|＞０．５である。

周波数キャリブレーション実行時に温度センサ２７で検出される温度をＴ_ｒｅｆ［℃］、周波数キャリブレーション実行後に温度センサ２７で検出される現在温度をＴ_ｃｕｒ［℃］とすると、Ｔ＝Ｔ_ｃｕｒ−Ｔ_ｒｅｆで表される。温度が５℃下がった場合、すなわちＴ＝−５の場合、Ｔ・Δ_Ｔ＝＋０．８５となる。温度が１０℃上がった場合、すなわちＴ＝＋１０の場合、Ｔ・Δ_Ｔ＝−１．７となる。

ε［ｄＢ］は、ＲＦベースモジュール１２に入力されるデジタルベースバンド信号のデジタルゲイン（ＲＭＳ）をｇ［ｄＢ Ｆｓ（Ｆｕｌｌ Ｓｃａｌｅ）］、ＲＦベースモジュール１２に備わるＤＡコンバータの基準レベルをｒ［ｄＢ Ｆｓ］とすると、
（数３）
ε＝ｇ−ｒ （３）
で表される。

ｒ＝−１０の場合、（３）式は
（数４）
ε＝ｇ＋１０ （４）
となる。ｇ＝ｒの条件下では（４）式はε＝０となる。

一方、ＰＡＳＷ２５への最大入力レベルＭ［ｄＢｍ］（ピーク値）は次式で定義される。
（数５）
Ｍ＝Ｙ_ｍａｘ （５）
（数６）
Ｍ＝Ｘ_ｍａｘ＋Ｗ＋Γ＋Δ＋ε （６）
が成立する。ここで、Ｘ_ｍａｘは設定可能なＳＧ出力信号の最大値であり、例えばＸ_ｍａｘ＝＋５である。

発明者らが、ＰＡ２１以降の挿入損失を測定したところ、約１０ｄＢ、すなわちＷ＝＋１０であった。そのため、Ｍ＝＋２７、Ｗ＝＋１０の場合、
（数７）
２７≦５＋１０＋Γ＋Δ＋ε （７）
すなわち、
（数８）
Γ＋Δ＋ε≧１２ （８）
が成立するとき、ＰＡＳＷ２５に過大な負荷がかかる過大入力状態となる。

そこで、本開示は、式（８）に含まれるパラメータ「Γ」を調整し、ＲＦコンバータ２０の有する入力限界値以下になるようにすることで、過大入力状態を防ぐ。

本実施形態では、信号源１０はクリッピング量を設定する為の参照テーブルを有し、ＲＦベースモジュール１２は参照テーブルに基づいてＩＦ信号をクリッピングする。クリッピング量は、ＳＧ出力レベルＸ［ｄＢｍ］及びクレストファクタΓの上限値に応じて定められる。ＲＦベースモジュール１２のクレストファクタのマージンが１６ｄＢに予め定められている場合、クレストファクタΓの上限値は１６ｄＢ以下の許容範囲に制限される。

図２に、ＲＦベースモジュール１２のクレストファクタのマージンが１６ｄＢに予め定められ、例えば、Δ＝２［ｄＢ］、ε＝０［ｄＢ］である場合に、１ｄＢステップで段階的にＩＦ信号をクリッピングする場合の参照テーブルの一例を示す。

クリッピング処理は以下のステップ１からステップ３までの手順に従って行われる。
・ステップ１
試験インタフェース４０から出力したいアナログＲＦ信号のレベルすなわちＳＧ出力レベルが設定される。
・ステップ２
ＣＴＭ１８は参照テーブルに従って、ステップ１で設定されたアナログＲＦ信号のレベルと、それに対応したクリッピングの有無及びクリッピング有りのときにはクリッピング量に応じてクリッピングするパワーの閾値を算出する。そして、クリッピングの有無、及びクリッピングするパワーの閾値をＲＦベースモジュール１２に設定する。この設定後、信号源１０でのアナログ信号の生成が開始される。
・ステップ３
信号源１０でのアナログ信号の生成開始後、ＲＦベースモジュール１２に入力されたデジタルベースバンド信号のパワーが閾値を超えていた場合に、ＲＦベースモジュール１２はクリッピングを行う。

ＣＴＭ１８は、ＳＧ出力レベルが設定されると（ステップ１）、参照テーブルに従って、ＳＧ出力レベルからクリッピング量を算出する（ステップ２）。それとともにＣＴＭ１８は、算出したクリッピング量を用いて、クリッピングするパワーの閾値を算出する。クリッピング処理が必要な場合、ＣＴＭ１８は、算出したクリッピング量とクリッピングするパワーの閾値をＲＦベースモジュール１２に書き込む。

ここでは、クリッピングするパワーの閾値を

とした。

ステップ３では、送信するデジタルベースバンド信号のパワーが
（数１０）
Ｉ^２＋Ｑ^２＞Ｐ_Ｃｌｉｐ （１０）
の場合、クリッピング処理を実行する。

ただし、実際のクリッピング処理は、簡略化のためＩ、Ｑそれぞれの振幅に対して

以下になるようにクリッピング処理を施す。ここで、Ｐ_{Ｃｌｉｐ＿ｄＢ}［ｄＢ］は、参照テーブルのクリッピング量［ｄＢ］に相当する。

また、Ｐ_{ＦｕｌｌＳｃａｌｅ}はフルスケールでのデジタルベースバンド信号のデジタルゲイン（ＲＭＳ）であり、
（数１２）
Ｐ_{ＦｕｌｌＳｃａｌｅ}＝（Ｉ_{ＦｕｌｌＳｃａｌｅ}）^２＋（Ｑ_{ＦｕｌｌＳｃａｌｅ}）^２ （１２）
である。

ＣＴＭ１８は、起動時にクリッピング処理発生の有無の状態を、アナログＲＦ信号の種類毎に初期値「クリッピング処理無し」で保持する。
ＣＴＭ１８は、ＲＦコンバータ２０からＳＧ出力レベルＸの情報を受信すると、ＳＧ出力レベルからクリッピング量を算出しＲＦベースモジュール１２に書き込む。これにより、ＲＦベースモジュール１２がＳＧ出力レベルＸに基づいて、ＲＦベースモジュール１２から出力されるＩＦ信号がクリップされる。

ＣＴＭ１８は、「クリッピング処理発生無し」から「クリッピング処理発生有り」への遷移が発生した場合、前述のステップ１及び２を実行し、その旨のメッセージを試験インタフェース４０に通知する。試験インタフェース４０は、この通知を受信すると、クリッピング処理が施された旨を表示する。

ＣＴＭ１８は、クリッピング処理発生有りからクリッピング処理発生なしへの遷移が発生した場合、その旨のメッセージを試験インタフェース４０に通知する。試験インタフェース４０は、この通知を受信すると、クリッピング処理が解除される旨を表示する。

クリッピング処理が施された旨及びクリッピング処理が解除された旨の表示は任意である。例えば、クリッピング処理が施された場合、試験インタフェース４０は、「［ＷＡＲＮＩＮＧ］ Ｏｕｔｐｕｔ ｓｉｇｎａｌ ｍｉｇｈｔ ｂｅ ｃｌｉｐｐｅｄ ｗｉｔｈ ｔｈｅ ｓｅｔ ｏｕｔｐｕｔ ｌｅｖｅｌ． Ｐｌｅａｓｅ ａｄｊｕｓｔ ｏｕｔｐｕｔ ｌｅｖｅｌ．」というメッセージをユーザに通知する。例えば、クリッピング処理が解除された場合、試験インタフェース４０は、「Ｓｉｇｎａｌ ｃｌｉｐｐｉｎｇ ｈａｓ ｂｅｅｎ ｒｅｌｅａｓｅｄ．」というメッセージをユーザに通知する。

（第２の実施形態）
図３に、本実施形態に係るシステム構成の一例を示す。本実施形態の信号源１０は、信号源１０の電源のＯＮ／ＯＦＦを検出する起動センサ１７を備える。本実施形態のＲＦコンバータ２０は、ＲＦケーブル３０の接続／接続断を検出するケーブルセンサ２８を備える。

ＰＡ２１で増幅後のアナログ信号の出力レベルがＲＦコンバータ２０に予め定められている絶対最大定格を超える場合、ＰＡＳＷ２５に過大な負荷がかかる過大入力状態となる。そこで、本開示は、経路２２と経路２３とを切り替えることで、過大入力状態を防ぐ。

図４に、実施形態に係るＳＧ信号出力の状態遷移図の一例を示す。本実施形態は、過大入力状態Ｓ１０２と適正入力状態Ｓ１０３の２状態を有する。過大入力状態Ｓ１０２は、ＰＡＳＷ２５に過大な負荷がかかる可能性のある状態である。適正入力状態Ｓ１０３は、適正な電流がＰＡＳＷ２５へ流入する状態である。

信号源１０が起動すると（Ｓ１０１）、起動センサ１７は、信号源１０を起動した旨をＲＦコンバータ制御部３１に通知する。ＲＦコンバータ制御部３１は、この通知を契機に、ＳＷ２４及びＰＡＳＷ２５を経路２３に接続する。このように、本開示では、信号源１０が起動した直後ではで過大入力状態Ｓ１０２に遷移し、過大入力状態Ｓ１０２では経路２２に接続されることはない。

ユーザが試験インタフェース４０から、周波数キャリブレーションの操作を行うと、周波数キャリブレーション実行部３３は、周波数キャリブレーションを実行する。周波数キャリブレーション実行部３３は、周波数キャリブレーションの実行を完了すると、周波数キャリブレーションの実行を完了した旨をＲＦコンバータ制御部３１に通知し、ＲＦコンバータ２０は適正入力状態Ｓ１０３に遷移する。ＲＦコンバータ制御部３１は、ＳＧ出力レベルによっては、ＳＷ２４及びＰＡＳＷ２５を経路２２に接続することが可能となる。またＲＦコンバータ制御部３１は、温度センサ２７の検出する温度をＴ_ｒｅｆ［℃］として温度記憶部３２に記録する。

適正入力状態Ｓ１０３への遷移後、ＲＦコンバータ制御部３１は、過大入力状態Ｓ１０２に遷移したか否かを判定する。判定の間隔は、例えば１０秒ごとである。過大入力状態Ｓ１０２に遷移した場合、ＲＦコンバータ制御部３１はＳＷ２４及びＰＡＳＷ２５を経路２３に切り替える。

温度変動Ｔを用いた過大入力状態Ｓ１０２への遷移の判定方法は任意である。例えば、ＲＦコンバータ制御部３１は、温度センサ２７の検出する温度の変動に基づいて、ＲＦコンバータ２０が過大入力状態Ｓ１０２に遷移したか否かを判定する。例えば、ＲＦコンバータ制御部３１は、温度センサ２７から現在の温度Ｔ_ｃｕｒ［℃］を取得し、温度変動Ｔ＝Ｔ_ｃｕｒ−Ｔ_ｒｅｆを求める。そして、ＲＦコンバータ制御部３１は、温度変動Ｔを用いて、ＲＦコンバータ２０の出力端におけるアナログＲＦ信号の出力レベルの変動Δを求める。ＲＦコンバータ制御部３１は、変動Δが予め定められた値以上になる場合、過大入力状態Ｓ１０２に遷移したと判定する。ここで、予め定められた閾値は、後述する（２１）式より、例えば９である。

過大入力状態Ｓ１０２への遷移は、ＲＦコンバータ２０内の温度の他に、信号源１０及びＲＦコンバータ２０間の接続断によっても発生しうる。そこで、ＲＦコンバータ制御部３１は、ケーブルセンサ２８を用いて、ＲＦケーブル３０の接続／接続断を検出する。ケーブルの接続／接続断の検出は、例えば、ケーブルの接続されているポートからの信号の有無に基づいて行うことができる。

ケーブルセンサ２８は、さらに、信号源１０及びＲＦコンバータ２０間の制御ケーブル（付図示）の接続／接続断、ＲＦコンバータ２０の電源ケーブル（不図示）の接続／接続断を検出してもよい。この場合、ＲＦコンバータ制御部３１は、ＲＦケーブル３０の接続／接続断と同様の動作を行う。

適正入力状態Ｓ１０３から過大入力状態Ｓ１０２に遷移した場合、ＲＦコンバータ制御部３１は、過大入力状態である旨のアラートをユーザに通知してもよい。例えば、ＲＦコンバータ制御部３１は、過大入力状態である旨とその原因を試験インタフェース４０に表示する。例えば、温度変動によって過大入力状態に遷移した旨、又は、ケーブルの接続断によって過大入力状態に遷移した旨、を試験インタフェース４０に表示する。

ＲＦベースモジュール１２からのアナログ信号がＣＷ（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｗａｖｅ）で、基準レベル（ε＝０）でＲＦコンバータ２０へ入力される場合は、Γ＝３である。そのため、
（数２１）
Δ≧９ （２１）
が成立するとき、ＲＦコンバータ２０への過大入力状態Ｓ１０２となる。

具体的には、常温環境下（２３℃）で周波数キャリブレーションを実行後、低温環境下（５℃）で周波数キャリブレーションを実行するためにＳＧ出力レベルＸを＋１０ｄＢｍに設定したところ、ＰＡＳＷ２５が故障した。ここで、温度変化によるＳＧ出力レベルＸの変動Δは（２）式より約３ｄＢである。また、ＲＦコンバータ２０の経路を経路２２に設定した場合、反射の影響で１ｄＢ程度出力レベルが上がる。このため、低温環境下（周波数キャリブレーションを未実行時）において、ＰＡＳＷ２５の入力レベルＹ［ｄＢｍ］（ピーク値）は（１）式より
（数２２）
Ｙ＝Ｘ＋Ｗ＋Γ＋Δ＋ε
＝＋１０＋１０＋３＋（３＋１＋α）＋０
＝＋２７＋α （２２）
であったことが判る。ただし、α［ｄＢ］は個体差による誤差である。結果として、最大入力レベルを超える信号がＰＡＳＷ２５に入力されたと考えられる。

周波数キャリブレーションを未実行状態において（２１）式が成立した場合、すなわち、
・高温で周波数キャリブレーションを実行後、低温で周波数キャリブレーションを実行しない場合、
・信号源１０とＲＦコンバータ２０を損失が大きいＲＦケーブル３０で接続して周波数キャリブレーションを実行し、その後に損失の少ないＲＦケーブル３０に交換して周波数キャリブレーションを実行しない場合、
の少なくともいずれかの場合に過大入力状態Ｓ１０２となりうる。

適正入力状態Ｓ１０３におけるＳＧ出力レベルＸの設定上限値Ｘ_ｍａｘは、例えばＸ_ｍａｘ＝＋５［ｄＢｍ］である。過大入力状態Ｓ１０２におけるＳＧ出力レベルＸの設定上限値Ｘ_ｍａｘは、例えばＸ_ｍａｘ＝−１３［ｄＢｍ］である。これにより、ＲＦコンバータ２０への過大入力条件をΔ≧２７に緩和することができる。

試験インタフェース４０においてＸ_ｍａｘを超えるＳＧ出力レベルＸが設定された場合、ＲＦコンバータ制御部３１は、ＳＧ出力レベルＸをＸ_ｍａｘに丸めてもよい。また、試験インタフェース４０においてＸ_ｍａｘ＝−１３に設定可能であってもよい。この場合、常に過大入力状態Ｓ１０２であるとして経路２３が適用され、ＰＡＳＷ２５が故障しないことを物理的に保証することができる。

本開示は情報通信産業に適用することができる。

１０：信号源
１１：ＢＢＭ
１２：ＲＦベースモジュール
１７：起動センサ
１８：ＣＴＭ（制御部）
１９：参照テーブル記憶部
２０：ＲＦコンバータ
２１：ＰＡ
２２、２３：経路
２４：ＳＷ
２５：ＰＡＳＷ
２６：ＡＴＴ
２７：温度センサ
２８：ケーブルセンサ
２９：出力端
３０：ＲＦケーブル
３１：ＲＦコンバータ制御部
３２：温度記憶部
３３：周波数キャリブレーション実行部
４０：試験インタフェース

Claims (5)

1. 試験用のデジタルベースバンド信号をＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号に変換して出力するＲＦベースモジュール（１２）と、制御部（１８）と、を備える信号発生装置において、
   前記ＲＦベースモジュールは、前記ＩＦ信号が入力され、前記ＩＦ信号が周波数変換されたアナログＲＦ信号を出力するＲＦコンバータ（２０）に接続され、
   前記制御部は、前記ＲＦコンバータから出力される前記アナログＲＦ信号の出力レベルに基づいて、前記ＩＦ信号をクリップするように前記ＲＦベースモジュールを制御することを特徴とする、
   信号発生装置。
2. 前記アナログＲＦ信号の出力レベルに応じたクリッピング量を定める参照テーブルをさらに備え、
   前記制御部は、前記アナログＲＦ信号の出力レベルが設定されると、前記参照テーブルに基づいてクリッピングするパワーの閾値を算出し、
   前記ＲＦベースモジュールは、前記デジタルベースバンド信号のパワーが前記閾値を超えていた場合に、前記参照テーブルで定められたクリッピング量のクリッピングを行う、
   請求項１に記載の信号発生装置。
3. 前記デジタルベースバンド信号を発生させ、前記ＲＦベースモジュールに出力するベースバンドモジュール（１１）と、
   前記ＲＦコンバータ（２０）と、
   をさらに備えることを特徴とする、
   請求項１又は２に記載の信号発生装置。
4. 前記ＲＦコンバータは、パワーアンプ（２１）と、前記パワーアンプを経由する経路と前記パワーアンプをバイパスする経路とを切り替えるスイッチ（２４、２５）と、を備えることを特徴とする、
   請求項１から３のいずれかに記載の信号発生装置。
5. 試験用のデジタルベースバンド信号をＩＦ（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号に変換して出力するＲＦベースモジュール（１２）と、制御部（１８）と、を備える信号発生装置が実行する信号発生方法において、
   前記ＲＦベースモジュールは、前記ＩＦ信号が入力され、前記ＩＦ信号が周波数変換されたアナログＲＦ信号を出力するＲＦコンバータ（２０）に接続され、
   前記制御部は、前記ＲＦコンバータから出力される前記アナログＲＦ信号の出力レベルに基づいて、前記ＲＦベースモジュールから出力される前記ＩＦ信号をクリップすることを特徴とする、
   信号発生方法。

Images