JP2021150603A - 積層薄膜の製造方法、太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法 - Google Patents

積層薄膜の製造方法、太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】実施形態は、良質な積層薄膜の製造方法、太陽電池の製造方法、多接合型太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法を提供する。【解決手段】積層薄膜の製造方法は、第1透明電極1上にCu2Oを主体とする光電変換層2を形成する工程と、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を1時間以上1600時間以下、酸素濃度が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]の第1雰囲気下に置く工程と、を有する。【選択図】図1

Description

実施形態は、積層薄膜の製造方法、太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法に関する。
高効率な太陽電池として多接合型(タンデム)太陽電池がある。タンデム太陽電池は、波長帯毎に分光感度が高いセルを用いることができるため、単接合よりも高効率化できる。またタンデム太陽電池のトップセルとして、安価な材料でかつバンドギャップが広い亜酸化銅化合物が期待されている。しかし、これまでに銅箔を酸化させて作製した亜酸化銅太陽電池で8%程度の効率が報告されているが理論限界効率に比べると低い。これは銅箔を酸化させたのち最表面の酸化銅などの異相をエッチングして取り除いているが完全に除去できないこと及びエッチング溶液の構成元素が残るなどの理由で良好なpn接合ができていないためと考えられる。また、この方法では0.1mm程度の厚さの箔を酸化させたのち20μm程度まで研磨する必要があり、大面積化が困難である。
亜酸化銅の薄膜を作製する方法としてスパッタリング法が知られておりこの方法で作製した報告例もあるが変換効率のさらなる向上が求められる。
Sang Woon Lee , Yun Seog Lee, et al Adv. Energy Mater. 2014, 4, 1301916
実施形態は、良質な積層薄膜の製造方法、太陽電池の製造方法、多接合型太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュールの製造方法を提供する。
実施形態の積層薄膜の製造方法は、実施形態の積層薄膜の製造方法は、第1透明電極上にCuOを主体とする光電変換層を形成する工程と、第1透明電極上に光電変換層が形成された部材を1時間以上1600時間以下、酸素濃度が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]の第1雰囲気下に置く工程と、を有する。
実施形態の積層薄膜の断面概念図。 実施形態の積層薄膜の製造方法のフローチャート。 実施形態の積層薄膜の断面概念図。 実施形態の太陽電池の断面概念図。 実施形態の多接合型太陽電池の断面概念図。 実施形態の太陽電池モジュールの断面概念図。 実施形態の太陽電池モジュールの断面概念図。 実施形態の太陽光発電システムの概念図。 実施形態の車両の概念図。
(第1実施形態)
第1実施形態は、積層薄膜と積層薄膜の製造方法に関する。図1に積層薄膜100の断面概念図を示す。図1に示す積層薄膜100は、第1透明電極1、第1透明電極1上に形成された光電変換層2とを有する。光電変換層2の第1透明電極1側とは反対側の表面には、CuOを含む領域20が存在する。明細書中において、特に記載が無い限り、25℃、1気圧の値を示している。
第1透明電極1は、光電変換層2と積層する層である。図1では、第1透明電極1は、光電変換層2と直接接している。第1透明電極1の主面は、光電変換層2の主面と対向し、界面を有する。光電変換層2の第1透明電極1と対向する面の全面は、第1透明電極1と直接接していることが好ましい。第1透明電極1は、p型の光電変換層2と直接的に接するp型の電極である。第1透明電極1の厚さは、例えば、100nm以上1000nm以下であることが好ましい。
第1透明電極1としては、透明導電性酸化物膜含むものが好ましい。透明導電性酸化物膜としては、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide:ITO)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(Al-doped Zinc Oxide:AZO)、ボロンドープ酸化亜鉛(Boron-doped Zinc Oxide:BZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(Gallium-doped Zinc Oxide:GZO)、フッ素ドープ酸化スズ(Fluorine-doped Tin Oxide:FTO)、アンチモンドープ酸化スズ(Antimony-doped Tin Oxide:ATO)、チタンドープ酸化インジウム(Titanium-doped Indium Oxide:ITiO)、酸化インジウム酸化亜鉛(Indium Zinc Oxide:IZO)や酸化インジウムガリウム亜鉛(Indium Gallium Zinc Oxide:IGZO)、タンタルドープ酸化スズ(Ta-doped Tin Oxide:SnO:Ta)、ニオブドープ酸化スズ(Nb-doped Tin Oxide: SnO2:Nb)、タングステンドープ酸化スズ(W-doped Tin Oxide:SnO:W)、モリブデンドープ酸化スズ(Mo-doped Tin Oxide:SnO:Mo)、フッ素ドープ酸化スズ(F-doped Tin Oxide:SnO:F)、水素ドープ酸化インジウム(Hydrogen-doped Indium Oxide:IOH)など特に限定されない。透明導電性酸化物膜は、複数の膜を持つ積層膜であってもよく、上記酸化物の他に酸化スズなどの膜が積層膜に含まれていてもよい。酸化スズなどの膜へのドーパントとしては、In、Si、Ge、Ti、Cu、Sb、Nb、F、Ta、W、Mo、Br、I及びClなどからなる群より選ばれる1種以上であれば特に限定されない。光電変換層2は、第1透明電極1に含まれる透明導電性酸化物膜と直接的に接していることが好ましい。
第1透明電極1としては、酸化インジウムスズ膜とドープされた酸化スズ膜が積層した積層構造を含むものが好ましい。第1透明電極1としては、具体的には、酸化インジウムスズ膜とアンチモンドープ酸化スズ膜の積層膜、酸化インジウムスズ膜とフッ素ドープ酸化スズ膜の積層膜、酸化インジウムスズ膜とタンタルドープ酸化スズ膜の積層膜及び酸化インジウムスズ膜とニオブドープ酸化スズ膜の積層膜からなる群より選ばれる1種以上の積層構造を含むことが好ましい。ドープされた酸化スズ膜が第1透明電極1に含まれる場合は、ドープされた酸化スズ膜が光電変換層2と直接接していることが好ましい。
第1透明電極1には、10nm以下の厚さの金属膜が含まれていてもよい。金属膜としては、Mo、Au、Cu、Ag、Al、Ta、Pt、Ru及びWからなる群より選ばれる1種以上の膜など特に限定されない。また、第1透明電極1は、透明導電性酸化物膜上部あるいは下部のいずれかにドット状、ライン状もしくはメッシュ状の金属を設けた電極でもよい。このとき、ドット状、ライン状もしくはメッシュ状の金属は、透明導電導電性酸化物膜と光電変換層2間に配置される。ドット状、ライン状もしくはメッシュ状の金属は、透明導電性酸化物膜に対して開口率が50%以上であることが好ましい。ドット状、ライン状もしくはメッシュ状の金属は、Mo、Au、Cu、Ag、Al、Ta、Pt、RuやWなど特に限定されない。ドット状、ライン上もしくはメッシュ状の金属を設けた場合、透過性は確保されるため、金属膜の厚さに限定はない。
光電変換層2の結晶性を向上させる観点から第1透明電極1の光電変換層2が形成される面はSnを主成分とする金属の酸化物(透明導電性酸化物膜)の薄膜であることが好ましい。Snを主成分とする金属の酸化物の金属の90atom%以上は、Snであることが好ましい。Snを主成分とする金属の酸化物の薄膜には、Snの他にZn、Al、Ga、In、Si、Ge、Ti、Cu、Sb、Nb、F及びTaからなる群より選ばれる1種以上の金属(金属の酸化物)が含まれていてもよい。Inを主成分とする金属の酸化物(例えば、ITO)の膜上に光電変換層2を直接成膜すると、ITO膜と基板の積層体が高温で変形し易いためITO膜上にCuO膜を成膜することは適していない。
光電変換層2は、亜酸化銅を主体とするp型の化合物半導体層である。亜酸化銅は、CuOで表される酸化物半導体である。亜酸化銅は、ノンドープ又はドープされた亜酸化銅である。光電変換層2の厚さは、例えば、500nm以上10μm以下である。光電変換層2の厚さは、1000nm以上5μm以下が好ましく、1500nm以上3μm以下がより好ましい。光電変換層2の厚さは例えば、断面観察により求められる。
光電変換層2は、大きな亜酸化銅の結晶を多く含み、積層薄膜100を用いた太陽電池の変換効率及び透光性に優れることが好ましい。実施形態の製造方法で積層薄膜100を作製することで、亜酸化銅の結晶が大きくなり、変換効率及び透光性の向上に寄与する。光電変換層2の95wt%以上は亜酸化銅で構成されていることが好ましい。光電変換層2の98wt%以上が亜酸化銅で構成されていることが好ましい。つまり、光電変換層2は、CuOやCu等の異相をほとんど(実質的に)含まないことが好ましい。光電変換層2には、CuOやCuなどの異相が含まれず、実質的にCuO単相の薄膜であると、非常に高い透光性となるため好ましい。光電変換層2が実質的にCuOの単相であることは、フォトルミネッセンス法(Photo Luminescence;PL法)により測定することで確認できる。
光電変換層2は、Cuが60.0atom%以上67.0atom%以下であり、O(酸素)が32.5atom%以上34.0atom%以下であることが好ましい。Cuと酸素以外は、Cu以外の金属、ドーパント及び不純物からなる群より選ばれる元素を含む場合がある。光電変換層2にはCu以外の金属が酸化物として含まれていて、光電変換層2が複合酸化物である場合がある。光電変換層2に含まれる金属は、Cuに加えて、Sn、Sb、Ag、Li、Na、K、Cs、Rb、Al、Ga、In、Zn、Mg及びCaからなる群より選ばれる1種以上の金属である。Cu以外にAg、Li、Na、K、Cs、Rb、Al、Ga、In、Zn、Mg、Ta及びCaからなる群より選ばれる1種以上の金属が含まれると、光電変換層2のバンドギャップを調整することができる。光電変換層2の第1透明電極1側にはSi、Ge及びNのうちのいずれか1種以上のp型ドーパントが高濃度に分散したp+型領域が存在していてもよい。
光電変換層2のバンドギャップは、2.0eV以上2.2eV以下であることが好ましい。かかる範囲のバンドギャップであると、Siを光吸収層に用いた太陽電池をボトムセルに用い、実施形態の薄膜を用いた太陽電池をトップセルに用いた多接合型太陽電池において、トップセル及びボトムセルの両方で太陽光を効率よく利用できる。光電変換層2の組成は、Cuで表すことができる。Mは、Si、Ge、N、Sn、Sb、Ag、Li、Na、K、Cs、Rb、Al、Ga、In、Zn、Mg、Ta及びCaからなる群より選ばれる1種以上の元素である。a、b及びcは、1.80≦a≦2.01、0.00≦b≦0.20及び0.98≦c≦1.02を満たすことが好ましい。上記光電変換層2の組成比は、光電変換層2の全体の組成比である。また、上記の光電変換層2の化合物組成比は、光電変換層2において全体的に満たすことが好ましい。光電変換層2には、その他、添加剤が含まれることがある。
CuOを含む領域20は、n型層が設けられる面に存在する。光電変換層2の表面の極薄い領域にCuOが存在する積層薄膜100を用いて太陽電池を作製するとかかるCuOを含む領域20が存在しない積層薄膜を用いて作製した太陽電池よりも開放電圧(Voc)が向上する。CuOを含む領域20は、光電変換層2の第1透明電極1側とは反対側の表面から光電変換層2の内部に向かって5nmまでの領域である。CuOを含む領域20には、1.0mol%以上のCuOが含まれる。CuOを含む領域20を除く光電変換層2におけるCuO、CuOとCuに対するCuOの比率([CuOの質量]/([CuOの質量]+[CuOの質量]+[Cuの質量])は99.5%以上100.0%以下であることが好ましい。CuOを含む領域20は、できるだけ表面の薄い領域にのみ存在することが好ましいことから、CuOを含む領域20は、光電変換層2の第1透明電極1側とは反対側の表面から光電変換層2の内部に向かって3nmまでの領域であることが好ましく、光電変換層2の第1透明電極1側とは反対側の表面から光電変換層2の内部に向かって1nmまでの領域であることがより好ましい。光電変換層2の表面から第1透明電極1側に向かって20nmの深さ(起点)から25nmまでの深さにおけるCuO濃度は0.5mol%以下であることが好ましい。
非常に薄い領域にのみCuOが存在するため、CuOが存在する領域20においてCuOの存在する比率は高くてもよく、CuOを含む領域20において、CuOとCuOに対するCuOの比率([CuOを含む領域20のCuOのモル数]/([CuOを含む領域20のCuOのモル数]+[CuOを含む領域20のCuOのモル数]))は、1.0mol%以上100mol%以下のCuOが含まれることが好ましく、20mol%以上100mol%以下のCuOが含まれることがより好ましい。CuOを含む領域20において、CuOとCuに対するCuOの比率([CuOを含む領域20のCuOのモル数]/([CuOを含む領域20のCuOのモル数]+[CuOを含む領域20のCuのモル数]))は99.5mol%以上100.0mol%以下(CuOを含む領域20に100mol%のCuOが含まれる場合を除く)であることが好ましい。CuOを含む領域20の存在を含めた光電変換層2の組成は、積層薄膜100をXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)やRBS(Rutherford Back-Scattering Spectroscopy)で分析することで確認することができる。
次に、積層薄膜100の製造方法を説明する。図2に積層薄膜100の製造方法のフローチャートを示す。積層薄膜100の製造方法は、第1透明電極1上にCuOを主体とする光電変換層2を成膜する工程(S01)と、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を1時間以上1600時間以下の間、酸素濃度が5.0×10−3[Pa]以上5.0[Pa]以下の低酸素雰囲気(第1雰囲気)下に置く工程(S02)を含む。光電変換層2の成膜工程(S01)の前に、減圧工程(S00)を任意に行なうことができる。低酸素雰囲気(第1雰囲気)下に置く工程(S02)とは、低酸素雰囲気中で、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を、例えば、保管して行なわれる。以下、便宜的に、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気下に置くことを、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管すると表現する。この保管は、酸素濃度及び水蒸気濃度を管理することのできる容器内で行なわれることが好ましい。
亜酸化銅を主体とする光電変換層2は、Cuをターゲットに用い、酸化性雰囲気でスパッタ法で成膜されることが好ましい。光電変換層2は、高温でスパッタして成膜することが好ましい。実施形態の製造方法で作製した積層薄膜100は、光電変換層2のCuOが大粒径であって、太陽電池の変換効率の向上に寄与する。
銅を主成分とするターゲットは、銅の純度が99.99%以上であるターゲットである。銅の純度は、99.995%以上が好ましく、99.999%以上がより好ましい。高純度の銅をターゲットに用いることで、実質的にCuO単相の光電変換層2を得ることが出来る。光電変換層2に含まれる元素(例えば、Siなど)をターゲットに含んでいる場合は、銅の純度はこの限りではない。
スパッタの雰囲気は、不活性ガスと酸素ガスが混合した酸化性雰囲気であることが好ましい。スパッタの雰囲気は、不活性ガスと酸素ガスからなる雰囲気であることがより好ましい。不活性ガスとしては、窒素ガス、アルゴンガス、又は窒素ガスとアルゴンガスの混合ガスが好ましい。
スパッタは、例えば、第1透明電極1をガラスなどの基板10に成膜した基材に対して行なう。図3に基板10を含む積層薄膜100の断面模式図を示す。スパッタは、第1透明電極1の面に行ない、第1透明電極1上に光電変換層2を堆積させる。スパッタを行なう前には、第1透明電極1が配置されたチャンバー内を5.0×10−3[Pa]以下に減圧する工程(S00)を行なうことが好ましい。減圧工程(S00)は、スパッタを行なうチャンバーで行なってもよいし、サブチャンバー内で行なってもよい。減圧の工程においては、スパッタとは異なり酸素を導入しない。基板10は、薄膜100を用いた太陽電池の基板として用いることができる。第1透明電極1は、例えば、基板10上にスパッタするなどして成膜される。基板10としては、例えば、白板ガラス、ソーダライムガラス化学強化ガラスや石英ガラスなどのガラスを用いることが好ましい。基板10としては、他にもアクリル、ポリカーボネート、やポリイミドなどの有機系の材料を用いることができる。
CuO(光電変換層2)の膜厚をTとするとき、光電変換層2のCuOの結晶の膜厚方向の直径が50nm以下の微小なCuO相を除いたCuOの結晶の膜厚方向の平均直径は、0.7T以上1.0T以下であることが好ましい。微小なCuO相が多いと粒界が多くなるため変換効率が低下しやすい。CuOの結晶の膜厚方向の直径が50nm以下の微小なCuO相が占める断面積は、光電変換層2の断面積の10%以下を占めることが好ましい。光電変換層2が小粒径のCuO結晶で構成されていると、後の低酸素雰囲気で保管する工程において酸化が光電変換層2の深部にまで進んでしまい、CuOの異相が生じて光電変換層2の結晶性が低下してしまう。CuOを含む領域20が存在する領域が、光電変換層2の表面の極薄い領域にする観点から、大きなCuOの結晶を多く含むことが好ましく、具体的には、光電変換層2の断面において、直径が50nm以下の結晶は断面面積の10%以下であることが好ましい。CuOの吸収帯波長はSiを用いた太陽電池の吸収帯波長と重複するため、多接合型の太陽電池に実施形態の積層薄膜100を用いる観点からもCuOが大粒径な光電変換層2が好ましい。
さらに、光電変換層2がSnを主体とする金属酸化物の膜上で成膜されると、CuO膜の成膜中にCuO膜にSnが拡散するため、ガラス基板上に同温度でスパッタするよりも大粒径化しやすく、結晶性を向上させることができる。加熱しながらSnを主成分とする金属の酸化物の膜上にCuOスパッタすることで、非加熱のスパッタでは実現できなかった膜厚程度の大きさにまで成長したCuO結晶を有するCuO膜を成膜することができる。このCuO膜は前述の通り、実質的にCuO単相であるため、膜全体の結晶性も良く、透過型の太陽電池の光電変換層として理想的である。
Cuのシートを高温で酸化させることで厚くて、CuOが膜厚程度の大きさにまで成長したCuO膜を成膜することができる。しかし、この場合は、Cuシートの酸化後に透明電極をCuO膜上に形成する。CuO膜上に直接、透明電極をスパッタで形成するとCuOの結晶が破壊されてしまうため、太陽電池化した際に発電効率が低くなってしまう。実施形態の積層薄膜は、透明電極1上に光電変換層2を成膜するため、太陽電池化後も良質な光電変換層2を維持することができる。
実施形態では、ガラス上に光電変換層2を成膜せずに、第1透明電極1上に光電変換層2を成膜している。ガラス上に光電変換層2を成膜するとガラス内に存在する不純物が光電変換層2に拡散し、成膜条件を変えてしまったり、不純物準位を形成して光電変換層2の膜質を低下させたりする要因になりうる。また、光電変換層2を電極として使用可能な金属膜上に成膜すると、積層薄膜100に透光性がない。実施形態において、透光性は必要な特性であるため、光電変換層2を金属膜上に成膜して得られた積層薄膜は、透光性の観点から実用性に欠ける。スクライブで一部ガラス部分が出ている程度であれば概ね問題ない。亜酸化銅太陽電池を単体で用いる分にはこの限りではない。
スパッタ後に加熱処理を行なってもよい。加熱処理は、室温以上スパッタ時の温度以下で所望の時間、積層部材をチャンバー内で保持することが好ましい。
次に、低酸素雰囲気で保管する工程(S02)について説明する。第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管する。低酸素雰囲気で保管することで、光電変換層2の表面の極薄い領域にCuOを含む領域20が形成される。低酸素雰囲気は、酸素濃度(質量/体積)が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]以下の雰囲気であることが好ましく、酸素濃度が5.0×10−8[g/L]以上3.5×10−5[g/L]以下の雰囲気であることがより好ましい。低酸素の雰囲気で第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管することで光電変換層2の表面の極薄い領域にCuOを含む領域20が形成される。大気雰囲気などの酸素濃度の高い雰囲気で短時間保管しても光電変換層2の表面にごく薄いCuOを含む領域20は形成されない。また、大気雰囲気などの酸素濃度の高い雰囲気で長時間保管すると光電変換層2の表面だけでなく内部にもCuOが形成されてしまう。そこで、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管する工程(S02)の前に1時間以下、第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を0℃以上50℃以下の大気雰囲気(第2雰囲気)下に置く(保管する)工程(S03)を行なってもよい。
低酸素雰囲気にはオゾンが含まれていてもよい。酸素濃度は、酸素分子及びオゾン分子の濃度の合計値である。例えば、大気の酸素濃度及び水蒸気濃度を下げることで低酸素雰囲気を得ることができる。低酸素雰囲気において、他の酸化性ガスや還元性ガスが多く含まれるとCuO膜の表面の極薄い領域を適度に酸化させるのに適さない。そこで、大気から低酸素雰囲気を得る場合は、低酸素雰囲気における全圧[Pa]の95%以上は不活性ガスであることが好ましく、低酸素雰囲気における全圧[Pa]の99%以上が不活性ガスであることがより好ましく、低酸素雰囲気における全圧[Pa]の99.9%以上が不活性ガスであることがさらにより好ましい。なお、二酸化炭素は酸性であるが、二酸化炭素はCuOを酸化させにくいため、二酸化炭素の濃度は特に限定されない。
低酸素雰囲気の全圧は特に限定されないが、大気中の酸素を減らして低酸素雰囲気を得る場合は、典型的には、8.0×10[Pa]以上1.2×10[Pa]以下であることが好ましい。真空チャンバー内で第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管する場合、低酸素雰囲気の全圧は100[Pa]以下であることが好ましい。
第1透明電極1上に光電変換層2を成膜した成膜室から第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を大気雰囲気中に取り出してから低酸素雰囲気で保管する場合は、低酸素雰囲気にする容器内に第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を移してから1時間以内に上記又は下記の低酸素雰囲気になるように酸素濃度及び水蒸気濃度を下げることが好ましい。
低酸素雰囲気で第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を保管する時間は1時間以上1600時間以下が好ましい。保管時間が1時間未満であると、CuOがほとんど生成されない。また、保管時間を長くしても、更なる開放電圧の増加は少ないため、生産性への影響の方が大きくなる。そこで、保管時間は、1時間以上1600時間以下が好ましい。
低酸素雰囲気で保管する工程において、低酸素雰囲気の水蒸気濃度(質量/体積)は5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]以下であることが好ましく、5.0×10−8[g/L]以上4.0×10−5[g/L]以下がより好ましい。低酸素雰囲気中の水蒸気濃度が高いと酸化が進行し易くなり、光電変換層2の深部も酸化されやすい。そこで、酸素と同様に水蒸気の濃度も低い雰囲気で光電変換層2を保管することが好ましい。
低酸素雰囲気で保管する工程の低酸素雰囲気の温度は、0℃以上100℃以下であることが好ましい。低酸素雰囲気で保管する際の温度が低すぎると光電変換層2の表面のCuOの酸化がほとんど進まない。一方、低酸素雰囲気で保管する温度が高すぎると光電変換層2の酸化反応が深部でも起きるため、長時間大気中で保管することと同様の反応が起きてしまう。低酸素雰囲気で保管する工程の低酸素雰囲気の温度は、0℃以上50℃以下であることがより好ましい。
酸素濃度、水蒸気濃度及び温度が上記範囲の下限に近い条件であると光電変換層2の表面の酸化が進行しにくく、短い時間ではCuOの生成が非常に少なくVocがほとんど向上しないことがある。そこで、低酸素雰囲気での保管時間は、72時間以上1600時間以下であることが好ましい。
酸素濃度、水蒸気濃度及び温度が上記範囲の上限に近い条件であると光電変換層2の表面の酸化が進行しすぎてしまい光電変換層2の膜質が低下する場合がある。そこで、低酸素雰囲気での保管時間は、1時間以上1000時間以下であることが好ましい。
光電変換層2の表面の極薄い領域を適度に酸化させる観点から、低酸素雰囲気の保管時間は、72時間以上1000時間以下が好ましく、500時間以上1000時間以下がより好ましい。
低酸素雰囲気で保管する工程において、低酸素雰囲気の保管時間をt[hrs]とし、低酸素雰囲気の酸素濃度をC[g/L]とし、低酸素雰囲気の水蒸気濃度をC[g/L]とするとき、1.0×10−7[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦1.6×10−3[hrs・g/L]を満たし、1.0×10−7[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦6.5×10−2[hrs・g/L]を満たすことが好ましく、1.0×10−6[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦2.5×10−4[hrs・g/L]を満たし、1.0×10−6[hrs・g/L]≦t×P[hrs・g/L]≦2.0×10−3[hrs・g/L]を満たすことがより好ましく、1.0×10−5[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦2.5×10−4[hrs・g/L]を満たし、5.0×10−5[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦2.5×10−4[hrs・g/L]を満たすことがさらにより好ましい。酸素濃度及び水蒸気濃度が高い場合は、保管時間を短くしてもCuOが光電変換層2の表面に形成されやすい。酸素濃度及び水蒸気濃度が低い場合は、保管時間を長くすることで太陽電池化した際にVocが向上する程度のCuOが光電変換層2の表面に形成されやすい。酸素濃度及び水蒸気濃度を考慮すると、上記の範囲を満たすように保管時間を選択することが好ましい。酸素濃度又は水蒸気濃度と時間との積は、低酸素雰囲気に保管中の酸素濃度の平均値又は水蒸気濃度の平均値と時間との積である。
気体(低酸素雰囲気)中の酸素濃度は、例えば、ガルバニ電池式センサ又はジルコニアオキサイドセンサなどを用いて、気体中の酸素濃度から酸素濃度を求めることができる。また、気体(低酸素雰囲気)中の水蒸気濃度は、例えば、静電容量式や鏡面反射式の露点計で求めた露点と温度から求めることができる。
第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を低酸素雰囲気で保管する工程(S02)の前に1時間以下、0℃以上50℃以下の大気雰囲気で第1透明電極1上に光電変換層2が形成された部材を保管する工程(S03)を行なってもよい。
かかる方法で製造した積層薄膜100は、700nm以上1000nm以下の波長の光の透過率が50%以上であり、非常に優れた透光性を有する。透光性に優れた積層薄膜100は、光透過型の太陽電池やボトムセルにおいても高効率に発電することのできる多接合型太陽電池のトップセルに好適に用いられる。
(第2実施形態)
第2実施形態は、太陽電池と太陽電池の製造方法に関する。図4に太陽電池200の断面概念図を示す。図4に示す太陽電池200は、第1透明電極1、光電変換層2、n型層3、第2透明電極4とを有する。第1透明電極1と光電変換層2が積層した積層体は、第1実施形態の積層薄膜100である。光電変換層2は、第1透明電極1とn型層3の間に配置される。n型層3は、光電変換層2と第2透明電極4との間に配置される。光電変換層2とn型層3は、pn接合を形成する。第1透明電極1と光電変換層2は、第1実施形態と共通するためその説明は省略される。例えば、n型層3と第2透明電極4の間などに図示しない中間層を配置することも出来る。光電変換層2よりもナローバンドギャップな光電変換層を有する太陽電池(例えば、Si太陽電池)を第2実施形態の太陽電池200と積層させて多接合型太陽電池とすることが出来る。
n型層3は、n型の半導体層である。n型層3は、光電変換層2とn電極4との間に配置される。n型層3は、p型光吸収層3の第1p電極2aと接した面とは反対側の面と直接接している。n型層3としては、酸化物層や硫化物層を含む層が好ましい。より具体的には、n型層3に用いる酸化物層は、Zn(1−x)(A=Si、Ge、Sn、0≦x≦0.6、0.9≦y≦1.1)、Cu(2−x)O(M=Mn、Mg、Ca、Zn、Sr、Ba、0≦x≦0.3)、A(2−x―y)AlGa(A=Si、Ge、Sn、1.3≦x≦2、0≦y≦0.7、x+y≦2)、Al(2−x)Ga(1.3≦x≦2)からなる群から選ばれる層が好ましい。n型層3に用いる硫化物層は、ZnIn(2−2x)(3−2x)(1≦x≦1.5)、ZnS、InGa(1−x)S(0≦x≦1)からなる群から選ばれる1種以上の硫化物からなる層が好ましい。n型層3は上記酸化物層や硫化物層の積層構造でもよい。
n型層3の膜厚は、典型的には、5nm以上100nm以下である。n型層3の厚さが5nm以下であるとn型層3のカバレッジが悪い場合にリーク電流が発生し、特性を低下させてしまう場合がある。カバレッジが良い場合は上記膜厚に限定されない。n型層3の厚さが100nmを超えるとn型層4の過度の高抵抗化による特性低下や、透過率低下による短絡電流低下が起こる場合がある。従って、n型層3の厚さは10nm以上50nm以下がより好ましい。また、カバレッジの良い膜を実現するためにn型層3の表面粗さは5nm以下が好ましい。n型層3の質が高い場合は200nm程度の膜厚でも動作する太陽電池が構成できる。
光電変換層2の伝導帯下端(Conduction Band Minimum:CBM)の位置(Ecp(eV))とn型層3の伝導帯下の位置(Ecn(eV))の差である伝導帯オフセット(ΔE=Ecp−Ecn)は、−0.2eV以上0.6eV以下(−0.2eV≦ΔE≦+0.6eV)であることが好ましい。伝導帯オフセットが0より大きいとpn接合界面の伝導帯が不連続となりスパイクが生じる。伝導帯オフセットが0より小さいとpn接合界面の伝導帯が不連続となりクリフが生じる。スパイク及びクリフはどちらも光生成電子の障壁となるため小さい方が好ましい。従って、伝導帯オフセットは、0.0eV以上0.4eV以下(0.0eV≦ΔE≦+0.4eV)であることがより好ましい。ただし、ギャップ内準位を利用して伝導する場合はこの限りではない。CBMの位置は、以下の手法を用いて見積もることができる。電子占有準位の評価法である光電子分光により価電子帯上端(Valence Band Maximum:VBM)を実測し、続いて測定対象の材料のバンドギャップを仮定してCBMを算出する。しかしながら、実際のpn接合界面では、相互拡散や陽イオンの空孔発生など理想的な界面を維持していないため、バンドギャップが変化する可能性が高い。このため、CBMも直接的に光電子放出の逆過程を利用する逆光電子分光により評価することが好ましい。具体的には、太陽電池表面を低エネルギーイオンエッチングと正・逆光電子分光測定の繰り返しにより、pn接合界面の電子状態を評価できる。
n型層3の成膜前には、0℃以上50℃以下で、1時間以内、大気雰囲気で保管することが好ましい。大気雰囲気での保管時間が長くなると光電変換層2の内部が酸化されてしまうため好ましくない。積層薄膜100の製造後、速やかにn型層3を成膜することが好ましい。
第2透明電極4は、第1透明電極1で挙げた透明導電性酸化物膜、又は、その積層体を用いることが好ましい。
第2実施形態において、第1実施形態の積層薄膜100の製造方法を採用することで、透光性に優れた太陽電池を製造することが出来る。光電変換層2に透光性に優れた膜を用い、他の層も透光性の高い膜を成膜することで、透光性に優れた太陽電池を得ることができる。
(第3実施形態)
第3実施形態は多接合型太陽電池に関する。図5に第3実施形態の多接合型太陽電池の断面概念図を示す。図5の多接合型太陽電池200は、光入射側に第2実施形態の太陽電池(第1太陽電池)200と、第2太陽電池201を有する。第1太陽電池200は、第1実施形態の製造方法で製造された積層薄膜100を用いて製造されている。第2太陽電池201の光吸収層のバンドギャップは、第2実施形態の太陽電池200の光電変換層2よりも小さいバンドギャップを有する。なお、実施形態の多接合型太陽電池は、3以上の太陽電池を接合させた太陽電池も含まれる。
第1実施形態の積層薄膜100の光電変換層のバンドギャップが2.0eV−2.2eV程度であるため、第2太陽電池201の光吸収層のバンドギャップは、1.0eV以上1.6eV以下であることが好ましい。第2太陽電池の光吸収層としては、Inの含有比率が高いCIGS系及びCdTe系からなる群から選ばれる1種以上の化合物半導体層、結晶シリコン及びペロブスカイト型化合物からなる群より選ばれる1種であることが好ましい。
(第4実施形態)
第4実施形態は、太陽電池モジュールに関する。図6に第6実施形態の太陽電池モジュール300の斜視図を示す。図6の太陽電池モジュール300は、第1太陽電池モジュール301と第2太陽電池モジュール302を積層した太陽電池モジュールである。第1太陽電池モジュール301は、光入射側であり、第1実施形態の製造方法で製造された積層薄膜100を用いて製造された太陽電池200を用いている。第2の太陽電池モジュール302には、第2太陽電池201を用いることが好ましい。
図7に太陽電池モジュール300の断面図を示す。図7では、第1太陽電池モジュール301の構造を詳細に示し、第2太陽電池モジュール302の構造は示していない。第2太陽電池モジュール301では、用いる太陽電池の光吸収層などに応じて適宜、太陽電池モジュールの構造を選択する。図7の太陽電池モジュールは、複数の太陽電池100(太陽電池セル)が横方向に並んで配線304で電気的に直列に接続した破線で囲われたサブモジュール303が複数含まれ、複数のサブモジュール303が電気的に並列もしくは直列に接続している。隣り合うサブモジュール303は、バスバー305で電気的に接続している。
隣り合う太陽電池200は、上部側の第2透明電極4と下部側の第1透明電極1が配線304によって接続している。サブモジュール303中の太陽電池200の両端は、バスバー305と接続し、バスバー305が複数のサブモジュール303を電気的に並列もしくは直列に接続し、第2太陽電池モジュール302との出力電圧を調整するように構成されていることが好ましい。なお、第4実施形態に示す太陽電池200の接続形態は一例であり、他の接続形態によって太陽電池モジュールを構成することができる。
(第5実施形態)
第5実施形態は太陽光発電システムに関する。第4実施形態の太陽電池モジュールは、第5実施形態の太陽光発電システムにおいて、発電を行う発電機として用いることができる。実施形態の太陽光発電システムは、太陽電池モジュールを用いて発電を行うものであって、具体的には、発電を行う太陽電池モジュールと、発電した電気を電力変換する手段と、発電した電気をためる蓄電手段又は発電した電気を消費する負荷とを有する。図8に実施形態の太陽光発電システム400の構成図を示す。図8の太陽光発電システムは、太陽電池モジュール401(300)と、コンバーター402と、蓄電池403と、負荷404とを有する。蓄電池403と負荷404は、どちらか一方を省略しても良い。負荷404は、蓄電池403に蓄えられた電気エネルギーを利用することもできる構成にしてもよい。コンバーター402は、DC−DCコンバーター、DC−ACコンバーター、AC−ACコンバーターなど変圧や直流交流変換などの電力変換を行う回路又は素子を含む装置である。コンバーター402の構成は、発電電圧、蓄電池403や負荷404の構成に応じて好適な構成を採用すればよい。
太陽電池モジュール300に含まれる受光したサブモジュール301に含まれる太陽電池セルが発電し、その電気エネルギーは、コンバーター402で変換され、蓄電池403で蓄えられるか、負荷404で消費される。太陽電池モジュール401には、太陽電池モジュール401を常に太陽に向けるための太陽光追尾駆動装置を設けたり、太陽光を集光する集光体を設けたり、発電効率を向上させるための装置等を付加することが好ましい。
太陽光発電システム400は、住居、商業施設や工場などの不動産に用いられたり、車両、航空機や電子機器などの動産に用いられたりすることが好ましい。実施形態の変換効率に優れた光電変換素子を太陽電池モジュールに用いることで、発電量の増加が期待される。
太陽光発電システム400の利用例として車両を示す。図9に車両500の構成概念図を示す。図9の車両500は、車体501、太陽電池モジュール502、電力変換装置503、蓄電池504、モーター505とタイヤ(ホイール)506を有する。車体501の上部に設けられた太陽電池モジュール501で発電した電力は、電力変換装置503変換されて、蓄電池504にて充電されるか、モーター505等の負荷で電力が消費される。太陽電池モジュール501又は蓄電池504から供給される電力を用いてモーター505によってタイヤ(ホイール)506を回転させることにより車両500を動かすことができる。太陽電池モジュール501としては、多接合型ではなく、第1実施形態の太陽電池100等を備えた第1太陽電池モジュールだけで構成されていてもよい。透過性のある太陽電池モジュール501を採用する場合は、車体501の上部に加え、車体501の側面に発電する窓として太陽電池モジュール501を使用することも好ましい。
以下、実施例に基づき本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
チャンバー内で白板ガラス基板上に、裏面側の第1透明電極としてITO透明導電膜、その上にSbドープしたSnO透明導電膜を堆積する。透明な第1透明電極が形成された部材を1×10−3[Pa]以下になるまでチャンバー内を減圧する。次に、酸素とアルゴンガスの雰囲気中でスパッタリング法により光電変換層として亜酸化銅化合物を2μm成膜する。そして、25℃で30分大気雰囲気で保管した後に、大気の酸素濃度と水蒸気濃度を減らして得た低酸素雰囲気(温度25℃、酸素濃度:1.5×10−7[g/L]、水蒸気濃度:1.2×10−6[g/L])に1時間保管する。その後、室温でスパッタリング法によりp−亜酸化銅層上にn型のZn0.8Ge0.2Oを堆積し、その後、表面側の第2透明電極としてAZO透明導電膜を堆積する。その上に反射防止膜として、MgFを堆積する。
(実施例2−41、参考例1、比較例1−5)
表1に実施例、参考例及び比較例の保管条件をまとめて示す。表1に示した条件で実施例1と同様に実施例2−36、参考例1、比較例1−5の太陽電池を作製する。なお、実施例41と比較例5は、p−亜酸化銅層上にn型のZn0.8Ge0.2Oの代わりにIn0.7Ga0.3Sを堆積している。
Figure 2021150603
n型層の成膜前に、XPSで光電変換層の表面から1nmまでの深さの領域を調べ、CuOの存在の有無を確認した。光電変換層の表面から1nmまでの深さの領域20mol%以上100mol%以下のCuOが確認できた場合をAと評価し、1mol%以上20mol%未満の場合をBと評価し、1mol%未満の場合をCと評価する。また、得られた太陽電池の変換効率からVocを求め、Vocが0.95V以上の場合をAと評価し、0.85V以上0.95V未満の場合をBと評価し、0.85V未満の場合をCと評価した。得られた太陽電池の波長が700nmの光の透光率を評価した。得られた太陽電池の700nmから1000の波長の光の透光率が50%以上の場合をAと評価し、透光率が10%以上50%未満の場合をBと評価し、透光率が10%未満の場合をCと評価した。結果を表2に示す。
Figure 2021150603
酸素濃度及び水蒸気濃度が低いところ、長時間保管する事により、〜1nmと極薄いCuOが生成できる。酸素濃度及び水蒸気濃度が濃いところで、同様に長時間保管すれば、CuOが生成できると考えられるが、CuOが深くまで生成し、電圧が低下してしまう。濃度が低いところ、時間をかけて、CuOをCuOにすることが良いと考えられる。
低酸素雰囲気での保管時間が0.5時間程度では光電変換層の表面にCuOの形成は確認できなかったが、保管時間が1時間や10時間で場合では、少量のCuOの形成が確認できる。そして、72時間以上の間、低酸素で保管することで、光電変換層の表面の極薄い領域に選択的にCuOが多く形成される。このとき、低酸素雰囲気で保管する前には0.5時間、室温で大気暴露させているある程度低酸素雰囲気の保管時間を長くすることが十分なCuOが形成されるため、参考例のように2000時間低酸素雰囲気に保管しても、さらなるVocの向上が確認されないため、2000時間といった長期間の保管は経済性が良くないが、Vocを向上させる観点では好適な処理である。
実施例9−22に示すように酸素濃度と水蒸気濃度を変えても極薄い領域にCuOが形成され、Vocが向上する。実施例23−24に示すように酸素濃度(水蒸気濃度)と時間の積の値が非常に大きくても、他の実施例と同様に表面の極薄い領域にCuOが形成される。比較例2に示すように、酸素濃度が低すぎるとCuOが形成されず、比較例3−4に示すように酸素濃度が高すぎると、CuOが形成されるが、酸化が進行しすぎるためVocが低下してしまう。
実施例25−27に示すように、温度を0℃から100℃まで変えてもCuOは形成される。低温ではCuOの形成速度が遅く、高温ではCuOの形成速度が速いため、温度に応じて上記範囲内で酸素濃度、水蒸気濃度及び時間を調整することが好ましい。
また、実施例28−31のように大気暴露の条件を変えても、あまり高温にせず、長時間の処理を行なわなければ光電変換層の深いところにまで酸化が進行しない。実施例29では、高温であるため、また、実施例31では時間が長いために他の実施例よりも比較的光電変換層の深部にまで酸化が進むが、この程度であればVocが低下するほどの悪影響は無い。
実施例32と33では、保管時間を72時間で比較的高めの酸素濃度を採用し、水蒸気濃度を変えている。いずれの実施例でも光電変換層の表面の極薄い領域にCuOが比較的多く存在し、深部にはCuOの生成が進行しない、Vocが向上する。実施例32よりは低いが比較的高めの酸素濃度を採用した実施例34では、保管時間が50時間であるため、実施例32と33よりは生成したCuO量が少ないが比較的多くのCuOが生成しているため、Vocが向上する。
また、実施例35−39のように大気暴露の条件を変えても、あまり高温にせず、長時間の処理を行なわなければ光電変換層の深いところにまで酸化が進行しない。実施例36では、高温であるため、また、実施例39では時間が長いために他の実施例よりも比較的光電変換層の深部にまで酸化が進むが、この程度であればVocが低下するほどの悪影響は無い。
実施例40では、全圧を大気圧から下げているが、全圧が低くても同様に光電変換層の表面の極薄い領域にCuOが形成される。実施例41と比較例5はn型層が硫化物であるが、n型層が酸化物ではなくても良い結果となる。
実施例41では、保管時間は短いが酸素濃度を高めているため、長時間保管した場合と同様にCuO比率が高く、Vocも優れる。
明細書中、一部の元素は、元素記号のみで表している。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は上記実施形態そのままに限定解釈されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成することができる。例えば、変形例の様に異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
100…積層薄膜、1…第1透明電極、2…光電変換層、3…n型層、4…第2透明電極、10…基板、
200…太陽電池(第1太陽電池)、201…第2太陽電池、
300…太陽電池モジュール、301第1太陽電池モジュール、302…第2太陽電池モジュール、303…サブモジュール、304…バスバー、
400…太陽光発電システム、401…太陽電池モジュール、402…コンバーター、403…蓄電池、404…負荷
500…車両、501…車体、502…太陽電池モジュール、503…電力変換装置、504…蓄電池、505…モーター、506…タイヤ(ホイール)


実施形態の積層薄膜の製造方法は、実施形態の積層薄膜の製造方法は、第1透明電極上にCuOを主体とする光電変換層を形成する工程と、第1透明電極上にCu Oを主体とする光電変換層を形成する工程の次に第1透明電極上に光電変換層が形成された部材を1時間以上1600時間以下、酸素濃度が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]の第1雰囲気下に置く工程と、を有する。第1雰囲気下に置く工程において、第1雰囲気の水蒸気濃度は濃度が5.0×10 −8 [g/L]以上5.0×10 −5 [g/L]以下であり、第1雰囲気下に置く工程の第1雰囲気の温度は、0℃以上100℃以下であることが好ましい。

Claims (10)

  1. 第1透明電極上にCuOを主体とする光電変換層を形成する工程と、
    前記第1透明電極上に前記光電変換層が形成された部材を1時間以上1600時間以下、酸素濃度が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]の第1雰囲気下に置く工程と、
    を有する積層薄膜の製造方法。
  2. 前記第1雰囲気下に置く工程において、前記第1雰囲気の水蒸気濃度は濃度が5.0×10−8[g/L]以上5.0×10−5[g/L]以下である請求項1に記載の積層薄膜の製造方法。
  3. 前記第1雰囲気下に置く工程の前に1時間以下、0℃以上50℃以下の大気の第2雰囲気で前記第1透明電極上に前記光電変換層が形成された部材に置く工程を有する請求項1又は2に記載の積層薄膜の製造方法。
  4. 前記第1雰囲気下に置く工程の第1雰囲気の温度は、0℃以上100℃以下である請求項1ないし3のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法。
  5. 前記第1雰囲気下に置く工程の第1雰囲気の保管時間は72時間以上1600時間以下である請求項1ないし4のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法。
  6. 前記第1雰囲気下に置く工程の低酸素雰囲気の酸素濃度は、濃度が5.0×10−8[g/L]以上3.5×10−5[g/L]以下であり、
    前記第1雰囲気下に置く工程の低酸素雰囲気の水蒸気濃度は、5.0×10−8[g/L]以上4.0×10−5[g/L]である請求項1ないし6のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法。
  7. 前記第1雰囲気下に置く工程において、第1雰囲気の保管時間をt[hrs]とし、第1雰囲気の酸素濃度をC[g/L]とし、第1雰囲気の水蒸気濃度をC[g/L]とするとき、
    1.0×10−7[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦1.6×10−3[hrs・g/L]を満たし、
    1.0×10−7[hrs・g/L]≦t×C[hrs・g/L]≦6.5×10−2[hrs・g/L]を満たす請求項1ないし6のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法。
  8. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法で積層薄膜を製造する太陽電池の製造方法。
  9. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法で積層薄膜を製造する多接合型太陽電池の製造方法。
  10. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の積層薄膜の製造方法で積層薄膜を製造する太陽電池モジュールの製造方法。

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023156234A (ja) * 2022-04-12 2023-10-24 株式会社東芝 太陽電池の製造方法
JP2023156235A (ja) * 2022-04-12 2023-10-24 株式会社東芝 太陽電池の製造方法
JP7559250B2 (ja) 2022-03-23 2024-10-01 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7052114B1 (ja) * 2021-03-24 2022-04-11 株式会社東芝 太陽電池用の積層薄膜の製造方法及び太陽電池の製造方法
EP4333088A1 (en) * 2021-04-26 2024-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion element, photoelectric conversion module having same, photoelectric conversion device, moving body, and building material
WO2023199705A1 (en) * 2022-04-12 2023-10-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Manufacturing method for solar cell
TWI812265B (zh) * 2022-06-08 2023-08-11 國立臺灣大學 熱載子太陽能電池及疊層太陽能電池
JP2024135402A (ja) * 2023-03-22 2024-10-04 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017054917A (ja) * 2015-09-09 2017-03-16 国立大学法人豊橋技術科学大学 光電変換層及び光電変換層の製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006009083A (ja) * 2004-06-25 2006-01-12 Bridgestone Corp Cu2O膜の成膜方法及び太陽電池
JP2006124753A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Bridgestone Corp Cu2O膜、その成膜方法及び太陽電池
CN101058484A (zh) * 2007-03-28 2007-10-24 杭州电子科技大学 一种p型掺氮的氧化亚铜薄膜材料及其制造方法
CN101435024B (zh) * 2008-12-15 2011-09-07 阳谷祥光铜业有限公司 一种基于数学模型指导的粗铜吹炼工艺
KR101327553B1 (ko) * 2010-10-22 2013-11-11 한국전자통신연구원 태양전지
US8647915B2 (en) * 2010-12-21 2014-02-11 Ut-Battelle, Llc Hetero-junction photovoltaic device and method of fabricating the device
US10115847B2 (en) * 2014-04-04 2018-10-30 Trustees Of Tufts College Cupric oxide semiconductors
JP6592676B2 (ja) 2015-09-07 2019-10-23 株式会社ハイスピードボーイズ プログラム、情報処理方法、及び通信システム
JP2019057536A (ja) * 2017-09-19 2019-04-11 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム
JP7362317B2 (ja) 2019-07-02 2023-10-17 株式会社東芝 太陽電池、積層体、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017054917A (ja) * 2015-09-09 2017-03-16 国立大学法人豊橋技術科学大学 光電変換層及び光電変換層の製造方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHUNLEI WANG ET AL.: ""Redox Properties of Cu2O(100) and (111) Surfaces"", THE JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, vol. 122, JPN6020025432, 2018, pages 28684 - 28691, ISSN: 0004305331 *
DANNY CHUA ET AL.: ""Enhancement of the open circuit voltage of Cu2O/Ga2O3 heterojunction solar cells through the mitiga", AIP ADVANCES, vol. 9, JPN7020002012, 2019, pages 055203 - 1, ISSN: 0004305334 *
L. DE LOS SANTOS VALLADARES ET AL.: ""Crystallization and electrical resistivity of Cu2O and CuO obtained by thermal oxidation of Cu thin", THIN SOLID FILMS, vol. 520, JPN6020025434, 2012, pages 6368 - 6374, XP028427362, ISSN: 0004305333, DOI: 10.1016/j.tsf.2012.06.043 *
S. POULSTON ET AL.: ""Surface Oxidation and Reduction of CuO and Cu2O Studied Using XPS and XAES"", SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, vol. 24, JPN6020025433, 1996, pages 811 - 820, ISSN: 0004305332 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7559250B2 (ja) 2022-03-23 2024-10-01 株式会社東芝 太陽電池、多接合型太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽光発電システム
JP2023156234A (ja) * 2022-04-12 2023-10-24 株式会社東芝 太陽電池の製造方法
JP2023156235A (ja) * 2022-04-12 2023-10-24 株式会社東芝 太陽電池の製造方法
JP7494347B2 (ja) 2022-04-12 2024-06-03 株式会社東芝 太陽電池の製造方法
JP7494348B2 (ja) 2022-04-12 2024-06-03 株式会社東芝 太陽電池の製造方法

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