JP2021144817A - 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 - Google Patents
端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021144817A JP2021144817A JP2020041680A JP2020041680A JP2021144817A JP 2021144817 A JP2021144817 A JP 2021144817A JP 2020041680 A JP2020041680 A JP 2020041680A JP 2020041680 A JP2020041680 A JP 2020041680A JP 2021144817 A JP2021144817 A JP 2021144817A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- terminal crimping
- reference waveform
- difference
- pressure waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000002788 crimping Methods 0.000 claims description 129
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Processing Of Terminals (AREA)
Abstract
Description
2 アンビル
3 クリンパ
4 モータ
10 端子
12 電線
20 コントローラ
21 圧力センサ
41 記憶部
42 圧力波形取得部
45 平均圧力波形算出部
46 第1判定部
47 第2判定部
48 更新部
49 通知部
50 端子圧着検査装置
Claims (6)
- 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を用いて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査装置であって、
前記圧力波形の基準波形を記憶する記憶部と、
N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行ったときに各回の圧力波形を取得する圧力波形取得部と、
取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定部と、
N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出部と、
前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定部と、
取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新部と、
を備えた端子圧着検査装置。 - 前記更新部は、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形として前記記憶部に記憶させるように構成されている、請求項1に記載の端子圧着検査装置。
- 基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知部を備えた、請求項1または2に記載の端子圧着検査装置。
- 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形と基準波形との差に基づいて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査において、前記基準波形を更新する方法であって、
N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行い、各回の圧力波形を取得する圧力波形取得工程と、
取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定工程と、
N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出工程と、
前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定工程と、
取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新工程と、
を含む端子圧着検査の基準波形の更新方法。 - 前記更新工程において、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形とする、請求項4に記載の端子圧着検査の基準波形の更新方法。
- 基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知工程を含む、請求項4または5に記載の端子圧着検査方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020041680A JP7343424B2 (ja) | 2020-03-11 | 2020-03-11 | 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 |
CN202110256734.6A CN113391241A (zh) | 2020-03-11 | 2021-03-09 | 端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020041680A JP7343424B2 (ja) | 2020-03-11 | 2020-03-11 | 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021144817A true JP2021144817A (ja) | 2021-09-24 |
JP7343424B2 JP7343424B2 (ja) | 2023-09-12 |
Family
ID=77617415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020041680A Active JP7343424B2 (ja) | 2020-03-11 | 2020-03-11 | 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7343424B2 (ja) |
CN (1) | CN113391241A (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0299834A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-11 | Lion Corp | 生産ラインにおける不良品の検出方法 |
JPH08160096A (ja) * | 1994-12-02 | 1996-06-21 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 圧着端子の圧着良否判定装置 |
US5697146A (en) * | 1994-12-28 | 1997-12-16 | Yazaki Corporation | Apparatus for crimping terminal to electrical wire |
JP2001035628A (ja) * | 1999-07-23 | 2001-02-09 | Yazaki Corp | 端子圧着状態判別方法および装置 |
JP2005190604A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Toshiba Corp | 半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法 |
JP2007333562A (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
US20120054996A1 (en) * | 2009-04-09 | 2012-03-08 | Schleuniger Holding Ag | Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product |
JP2013140041A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Keyence Corp | 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム |
JP2019066212A (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-25 | オムロン株式会社 | 状態判定ユニット、検知装置、状態判定方法、および状態判定プログラム |
-
2020
- 2020-03-11 JP JP2020041680A patent/JP7343424B2/ja active Active
-
2021
- 2021-03-09 CN CN202110256734.6A patent/CN113391241A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0299834A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-11 | Lion Corp | 生産ラインにおける不良品の検出方法 |
JPH08160096A (ja) * | 1994-12-02 | 1996-06-21 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 圧着端子の圧着良否判定装置 |
US5697146A (en) * | 1994-12-28 | 1997-12-16 | Yazaki Corporation | Apparatus for crimping terminal to electrical wire |
JP2001035628A (ja) * | 1999-07-23 | 2001-02-09 | Yazaki Corp | 端子圧着状態判別方法および装置 |
JP2005190604A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Toshiba Corp | 半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法 |
JP2007333562A (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-27 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
US20120054996A1 (en) * | 2009-04-09 | 2012-03-08 | Schleuniger Holding Ag | Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product |
JP2012523663A (ja) * | 2009-04-09 | 2012-10-04 | シュロニガー ホールディング アーゲー | 圧着工程監視方法、圧着プレス及びコンピュータプログラム製品 |
JP2013140041A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Keyence Corp | 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム |
JP2019066212A (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-25 | オムロン株式会社 | 状態判定ユニット、検知装置、状態判定方法、および状態判定プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7343424B2 (ja) | 2023-09-12 |
CN113391241A (zh) | 2021-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8671538B2 (en) | Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product | |
JP4031214B2 (ja) | 端子圧着状態判別方法 | |
CN105702595A (zh) | 晶圆的良率判断方法以及晶圆合格测试的多变量检测方法 | |
JP6013847B2 (ja) | 端子圧着状態の検査方法及びその装置 | |
JP6052787B2 (ja) | 打ち抜き加工による切断面の良否判定方法 | |
JP2021144817A (ja) | 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 | |
JP4657880B2 (ja) | 端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 | |
CN108780974B (zh) | 端子压接的优劣判断装置以及优劣判断方法 | |
CN110658426B (zh) | 一种电感器失效模式及耐压值的测试方法 | |
CN115963766A (zh) | 一种多种局部放电传感器快速切换方法、系统及存储介质 | |
JP2007103220A (ja) | 端子圧着不良検出装置およびその圧着不良判定データ調整方法 | |
CN110057330B (zh) | 一种线宽测量方法和线宽测量系统 | |
JP2021150187A (ja) | 端子付き電線の芯線切れ本数の推定方法、端子圧着検査の良否判定に用いられる閾値の決定方法、および端子圧着検査装置 | |
JP5525144B2 (ja) | 波形判定装置および該波形判定装置における時間軸位置調整方法 | |
JP7105724B2 (ja) | 検査システムおよび検査方法 | |
US20070150220A1 (en) | Method for monitoring a technical device | |
JP2013044550A (ja) | 抵抗検査装置、抵抗検査方法、及び抵抗検査プログラム | |
JP2007059110A (ja) | 端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法 | |
JP2007103184A (ja) | 端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ設定方法 | |
JP2007059112A (ja) | 端子圧着不良検出装置 | |
JP2007248200A (ja) | 半導体試験装置の保守システムおよび保守方法 | |
US8904616B2 (en) | Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product | |
KR101003951B1 (ko) | 와이어링 하네스의 단자 압착을 시뮬레이션 하는 시뮬레이션 프로그램을 이용한 압착 제원 시뮬레이션 방법 | |
JP5111297B2 (ja) | 情報生成装置および基板検査システム | |
CN111829761A (zh) | 端子压接不良检测装置的压接不良判定数据制作方法以及压接不良判定数据检查方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210310 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221013 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230704 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230809 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230831 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7343424 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |