JP2021144817A - 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 - Google Patents

端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 Download PDF

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Abstract

【課題】端子圧着の検査に用いられる基準波形の不適切な更新を防止すること。【解決手段】端子圧着検査装置50は、基準波形を記憶する記憶部41と、N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着の圧力波形を取得する圧力波形取得部42と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定部46と、N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出部45と、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定部47と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新部48と、を備える。【選択図】図4

Description

本発明は、電線の端部に端子が良好に圧着されたか否かを検査する端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法に関する。
従来から、ワイヤハーネスの製造等において、電線の端部に端子を圧着する端子圧着装置が用いられている。端子が良好に圧着されなかった端子付き電線は不良品となるため、端子圧着の際に、端子が良好に圧着されたか否かを検査することが望まれる。そこで従来から、電線の端部に端子が良好に圧着されたか否かを検査する端子圧着検査装置が利用されている。
特許文献1には、端子圧着装置のベース板が受ける圧力を圧力センサにより検出し、その圧力に基づいて端子圧着の良否を検査する装置が記載されている。この装置では、まず、良品について、端子圧着処理の経過時間に対する圧力の変化を表す圧力波形を生成する。以下、この圧力波形を基準波形という。そして、検査品の圧力波形と基準波形とを比較し、それらの差が予め定めた規定値以下か否かに基づいて、検査品が良品か不良品かを判定する。
特開2005−135820号公報 特開2016−154115号公報
ところで、端子圧着装置の設置環境の変化や経年劣化等により、良品の圧力波形は微妙に相違する。そのため、いったん設定した基準波形が、その後に不適切となってしまう場合がある。そこで、基準波形は適宜に更新することが好ましい。しかし、知識や経験に乏しいユーザが基準波形の更新を行う場合、更新後の基準波形が不適切であることに気づかずに更新を行ってしまうおそれがある。基準波形の不適切な更新を防止するために、更新について一定の制限を設けることが考えられる。
特許文献2には、基準データと較正データとの差が大きくなることを防止するために、基準データの較正範囲を所定範囲内に制限することが記載されている。しかし、特許文献2には、較正する範囲を制限するという一般的な考え方が述べられているだけであり、具体的な手法は何ら開示されていない。
本発明の目的は、基準波形の不適切な更新を防止することができる端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法を提供することである。
本発明に係る端子圧着検査装置は、端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を用いて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査装置であって、前記圧力波形の基準波形を記憶する記憶部と、N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行ったときに各回の圧力波形を取得する圧力波形取得部と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定部と、N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出部と、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定部と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新部と、を備えている。
本発明に係る端子圧着検査の基準波形の更新方法は、端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形と基準波形との差に基づいて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査において、前記基準波形を更新する方法であって、N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行い、各回の圧力波形を取得する圧力波形取得工程と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定工程と、N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出工程と、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定工程と、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新工程と、を含む。
上記端子圧着検査装置および上記端子圧着検査の基準波形の更新方法によれば、基準波形の更新を行う際にN回の端子圧着を行い、それらの端子圧着から取得される平均の圧力波形と基準波形との差が第2の規定値よりも大きい場合には、基準波形の更新は禁止される。加えて、N回の端子圧着の各々について、取得した圧力波形と前記基準波形との差が第1の規定値以内でなければ、基準波形の更新が禁止される。これにより、知識や経験に乏しいユーザであっても、基準波形の不適切な更新を行ってしまうことが防止される。
前記端子圧着検査装置の前記更新部は、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形として前記記憶部に記憶させるように構成されていてもよい。
前記基準波形の更新方法の前記更新工程において、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形としてもよい。
上記端子圧着検査装置および上記基準波形の更新方法によれば、それぞれ基準波形との差が第1の規定値以内であるN個の圧力波形の平均の圧力波形が、更新後の基準波形となる。これにより、更新後の基準波形として適切な波形を容易に設定することができる。
前記端子圧着検査装置は、基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知部を備えていてもよい。
前記基準波形の更新方法は、基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知工程を含んでいてもよい。
上記端子圧着検査装置および上記端子圧着検査の基準波形の更新方法によれば、ユーザは基準波形の更新が禁止されたことを迅速かつ正確に認識することができ、その後の処理を迅速かつ的確に進めやすくなる。
本発明によれば、基準波形の不適切な更新を防止することができる端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法を提供することができる。
端子圧着装置の正面図である。 端子圧着装置の側面図である。 端子圧着検査装置の構成図である。 端子圧着検査装置の機能ブロック図である。 端子圧着検査方法のフローチャートである。 圧力波形の説明図である。 基準波形の更新方法のフローチャートである。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の一形態について説明する。詳細は後述するが、本実施形態に係る端子圧着検査装置50は、端子圧着装置1による端子圧着の進行度合いと端子圧着装置1に発生する圧力との関係を表す圧力波形を用いて、端子圧着の良否を検査する装置である。
まず、図1および図2を参照しながら、端子圧着装置1の構成について説明する。なお、以下に説明する端子圧着装置1は一例に過ぎず、本発明が適用される端子圧着装置の構成は何ら限定されない。本発明は、公知の任意の端子圧着装置に適用可能である。
図1は端子圧着装置1の正面図、図2は端子圧着装置1の側面図である。端子圧着装置1は、アンビル2と、昇降可能なクリンパ3と、クリンパ3を昇降させるモータ4とを備えている。ここではモータ4は、回転位置を検出可能なサーボモータにより構成されている。ただし、モータ4の種類は特に限定されず、サーボモータ以外のモータであってもよい。モータ4は、アンビル2に対しクリンパ3を接近および離反させる電動式のアクチュエータの一例である。しかし、アクチュエータはモータ4に限定される訳ではない。アクチュエータとして、クリンパ3を昇降可能な任意のアクチュエータを用いることができる。
図1に示すように、アンビル2の側方には、端子供給装置5が配置されている。端子供給装置5は、複数の端子10が繋がってなる端子群11をアンビル2に向けて順次供給するように構成されている。クリンパ3とアンビル2との間に電線12および端子10を配置した状態でクリンパ3が下降すると、端子10はクリンパ3により、隣の端子10から切り離されると共に電線12に圧着される。本実施形態では、モータ4、クリンパ3、およびアンビル2は、端子10に圧力を加えることによって端子10を電線12に圧着させる圧着部を構成している。
電線12の端部に端子10を圧着する際に、圧着部には圧力が生じる。本実施形態では、圧着部に発生する圧力を検出する圧力センサ21が設けられている。ここでは圧力センサ21は、アンビル2に接続された圧電素子により構成されている。ただし、圧力センサ21の具体的構成は何ら限定されない。圧電素子に限らず、圧力を検出し得る任意のセンサを好適に用いることができる。圧力センサ21はアンビル2に直接接続されていてもよいが、本実施形態では間接的に接続されている。すなわち、圧力センサ21とアンビル2との間に、他の部材が介在している。圧力センサ21は、圧着部のいずれかの箇所に発生する圧力を検出するように配置されていればよく、必ずしもアンビル2に接続されている必要はない。圧力センサ21は、例えば、クリンパ3に接続されていてもよい。また、端子圧着に伴って発生する圧力を検出できる限り、圧着部以外の箇所に接続されていてもよい。
圧力センサ21は、コントローラ20に電気的に接続されている。なお、「電気的に接続されている」とは、有線または無線により通信可能に接続されていることを意味する。コントローラ20は、端子圧着装置1に内蔵されたマイクロコンピュータであってもよく、端子圧着装置1の外部に設置されたコンピュータ(例えばパーソナルコンピュータ)であってもよい。本実施形態では、圧力センサ21とコントローラ20とは、電線により接続されている。圧力センサ21は、圧力を受けると、その圧力の大きさに応じた電圧値または電流値を出力するように構成されている。コントローラ20は、圧力センサ21から受ける電圧または電流の値に基づいて、圧着部に発生した圧力を検出する。
次に、端子圧着検査装置50について説明する。図3に示すように、本実施形態に係る端子圧着検査装置50は、前述の圧力センサ21と、A/D変換器22と、コントローラ20と、ディスプレイ26とを備えている。端子圧着検査装置50は、更に、ハードディスクなどの外部の記憶装置27を備えていてもよい。コントローラ20は、CPU30と、ROM24と、RAM25とを含んでいる。モータ4にはサーボアンプ8が接続され、サーボアンプ8はコントローラ20に接続されている。
図4は、コントローラ20の機能ブロック図である。コントローラ20は、圧力波形の基準波形を記憶する記憶部41と、端子圧着装置1において端子圧着を行ったときに圧力波形を取得する圧力波形取得部42と、取得した圧力波形と基準波形との差を算出する算出部43と、取得した圧力波形と基準波形との差が規定値以内か否かを判定する良否判定部44とを備えている。また、コントローラ20は、平均圧力波形算出部45と、第1判定部46と、第2判定部47と、更新部48と、通知部49とを備えている。本実施形態では、圧力波形取得部42、算出部43、良否判定部44、平均圧力波形算出部45、第1判定部46、第2判定部47、更新部48、および通知部49は、CPU30が所定のプログラムを実行することにより実現される。記憶部41はROM24により実現される。ただし、記憶部41として外部の記憶装置27を用いることも可能である。
次に、図5のフローチャートを参照しながら、端子圧着の検査方法について説明する。端子圧着の良否の検査は、端子圧着装置1による端子圧着の度に行われる。まず、端子圧着装置1において端子圧着が行われ、圧力波形取得部42が圧力波形Wを取得する(ステップS1)。なお、圧力波形Wとは、端子圧着装置1による端子圧着の進行度合いと端子圧着装置1に発生する圧力との関係を表す波形である。ここでは図6(a)に示すように、端子圧着の進行度合いをクリンパ3の位置(以下、クリンパ位置という)で表すものとする。ただし、端子圧着の進行度合いを表すパラメータはクリンパ位置に限らず、例えば、クリンパ3の移動距離、クリンパ3の速度、クリンパ3の加速度、モータ4に供給される電流、モータ4の回転位置、端子圧着動作開始後の経過時間などの他のパラメータであってもよい。
端子圧着の際、クリンパ3は下降する。図中のP0はクリンパ3が端子10に接触したときのクリンパ位置を表し、P1はクリンパ3の下死点の位置を表す。図6(a)に示すように、圧力は、クリンパ3が端子10に接触した後、下死点に至るまで上昇する。端子圧着の検査の際、圧力波形WとしてP0からP1の全体領域の波形を用いてもよいが、例えば図6(b)に示すように、P0からP1のうちの一部の領域(例えば、P2からP3の領域)の波形を用いてもよい。例えば、良品と不良品との差が顕著に発生する領域の波形を利用することにより、検査の精度を高めることができる。また、圧力波形Wとして、P0からP1のうちの複数の領域の波形を組み合わせて利用してもよい。圧力波形Wの利用態様は特に限定されない。
圧力波形取得部42が圧力波形Wを取得した後、算出部43は記憶部41から基準波形WTを読み出し、圧力波形Wと基準波形WTとの差を算出する(ステップS2)。なお、基準波形WTとは、予め良好であることが確認された端子圧着時に取得された圧力波形のことである。ここで、圧力波形Wと基準波形WTとの差とは、例えば、圧力波形Wと基準波形WTの積分値との差である。例えば、図6(a)に示す例において、圧力波形Wと基準波形WTとの差W−WT=ΔW2−ΔW1であってもよい。なお、図6(a)において、ΔW1>0、ΔW2>0である。あるいは、圧力波形Wと基準波形WTとの差とは、圧力波形Wと基準波形WTとの差の絶対値の積分値であってもよい。例えば、図6(a)に示す例において、圧力波形Wと基準波形WTとの差W−WT=ΔW1+ΔW2であってもよい。取得した圧力波形Wと基準波形WTとの差が規定値以内であれば、その圧力波形Wに関する端子圧着は良好と推定される。なお、規定値は記憶部41に予め記憶されている。
次に、良否判定部44が記憶部41から規定値を読み込み、圧力波形Wと基準波形WTとの差が規定値以内か否かを判定する(ステップS3)。そして、良否判定部44は、上記差が規定値以内であれば端子圧着は良好と判定し(ステップS4)、上記差が規定値よりも大きければ不良と判定する(ステップS5)。以上が端子圧着の検査方法である。
上述の通り、端子圧着の検査に当たって、基準波形が用いられる。ところが、同一の端子圧着装置1であっても、設置環境の変化や経年劣化等により、良品の圧力波形は微妙に相違する。そのため、いったん設定した基準波形が、その後に不適切となってしまう場合がある。そこで、基準波形は適宜に更新可能であることが好ましい。本実施形態に係る端子圧着検査装置50は、基準波形WTの更新が可能に構成されている。次に、基準波形の更新方法について説明する。
図7は、基準波形の更新方法のフローチャートである。まず、ステップS11において、端子圧着装置1によりN本の電線の端子圧着を行い、圧力波形取得部42がN回の端子圧着の各々について圧力波形を取得する。なお、Nは予め定められた2以上の自然数である。Nの数値は特に限定されないが、例えば5〜30であってもよく、10〜30であってもよい。
次にステップS12において、第1判定部46が、取得した各回の圧力波形と記憶部41に記憶されている基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて、第1の規定値以内か否かを判定する。なお、第1の規定値以内か否かの判定は、各回の端子圧着の直後に行ってもよく、N回の端子圧着の終了後に一括して行ってもよい。
N回の端子圧着において1回でも不良が発生すると、それらN回の結果に基づく基準波形の更新は不適切と考えられる。そこで、ステップS12の判定結果がNOの場合は、更新部48は基準波形の更新を禁止し、ステップS16において、通知部49はユーザに対し基準波形の更新が禁止されたことを通知する。本実施形態では、通知部49はディスプレイ26に表示を行うことによりユーザに通知する。ただし、通知の方法は何ら限定されず、通知部49は音、光、振動等により通知するようにしてもよい。ステップS12の判定結果がYESの場合、ステップS13に進む。
ステップS13では、平均圧力波形算出部45が、N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する。次にステップS14に進み、第2判定部47が、平均の圧力波形と記憶部41に記憶されている基準波形との差が、第2の規定値以内か否かを判定する。本実施形態では、ステップS12において用いられる第1の規定値とステップS14において用いられる第2の規定値とは相違している。第1の規定値は、例えば、良品の正規分布の6σまたは3σである。第2の規定値は、例えば、基準波形の30%、20%、または10%である。ただし、特に限定される訳ではなく、ステップS12における第1の規定値とステップS14における第2の規定値とは同一であってもよい。第1の規定値および第2の規定値の一方または両方は、前述の端子圧着の良否検査において用いられる規定値(ステップS3参照)と同一であってもよく、異なっていてもよい。なお、第1の規定値および第2の規定値は、記憶部41に予め記憶されている。ステップS14の判定結果がNOの場合、更新部48により基準波形の更新が禁止され、ステップS16において、基準波形の更新が禁止されたことが通知部49により通知される。ステップS14の判定結果がYESの場合、ステップS15に進む。
ステップS15では、更新部48により基準波形が更新される。ここでは、更新部48は、N回の端子圧着の平均の圧力波形を、更新後の基準波形として記憶部41に記憶させる。言い換えると、更新部48は、N回の端子圧着の平均の圧力波形を更新後の基準波形とし記憶部41に再登録する。以後、この更新後の基準波形に基づいて、端子圧着の良否が検査されることになる(図5参照)。
以上が基準波形の更新方法である。なお、本実施形態のステップS11、ステップS12、ステップS13、ステップS14、ステップS15、ステップS16は、それぞれ圧力波形取得工程、第1判定工程、平均圧力波形算出工程、第2判定工程、更新工程、通知工程に対応する。
以上のように、本実施形態によれば、基準波形の更新を行う際にN回の端子圧着を行い、平均の圧力波形と基準波形との差が第2の規定値よりも大きい場合(ステップS14の判定結果がNOの場合)には、基準波形の更新は禁止される。よって、基準波形の不適切な更新を行ってしまうことが防止される。
ところで、平均の圧力波形と基準波形との差が結果的に第2の規定値以内であっても、例えば個々の圧力波形にばらつきがあった場合、N個の圧力波形の中に不適切な圧力波形が含まれてしまうことがあり得る。そのため、不適切な圧力波形に基づいて基準波形の更新を行ってしまうおそれがある。ところが本実施形態では、平均の圧力波形と基準波形との差が第2の規定値以内であっても、N回のうち1回でも圧力波形と基準波形との差が第1の規定値を超える場合(ステップS12の判定結果がNOの場合)には、基準波形の更新は禁止される。したがって、知識や経験に乏しいユーザであっても、基準波形の不適切な更新を行ってしまうことが防止される。
基準波形を更新する際、更新後の基準波形をどのように設定するかは特に限定されないが、本実施形態では、更新の可否を判断する際に利用される上述の平均の圧力波形を更新後の基準波形とすることとした。これにより、更新後の基準波形として適切な波形を容易に設定することができる。
本実施形態によれば、基準波形の更新が禁止されると、ユーザに対して通知が行われる(ステップS16)。そのため、ユーザは基準波形の更新が禁止されたことを迅速かつ正確に認識することができ、更新作業のやり直し等、その後の処理を迅速かつ的確に進めることができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、前述の実施形態は例示に過ぎない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、他にも様々な実施形態が可能である。
基準波形の更新に関して、ステップS11の後にステップS13およびステップS14を実行し、その後にステップS12を実行するようにしてもよい。すなわち、第1判定工程および第2判定工程の順序は特に限定されない。第1判定工程の後に第2判定工程を行ってもよく、第2判定工程の後に第1判定工程を行ってもよい。
1 端子圧着装置
2 アンビル
3 クリンパ
4 モータ
10 端子
12 電線
20 コントローラ
21 圧力センサ
41 記憶部
42 圧力波形取得部
45 平均圧力波形算出部
46 第1判定部
47 第2判定部
48 更新部
49 通知部
50 端子圧着検査装置

Claims (6)

  1. 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を用いて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査装置であって、
    前記圧力波形の基準波形を記憶する記憶部と、
    N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行ったときに各回の圧力波形を取得する圧力波形取得部と、
    取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定部と、
    N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出部と、
    前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定部と、
    取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新部と、
    を備えた端子圧着検査装置。
  2. 前記更新部は、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形として前記記憶部に記憶させるように構成されている、請求項1に記載の端子圧着検査装置。
  3. 基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知部を備えた、請求項1または2に記載の端子圧着検査装置。
  4. 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形と基準波形との差に基づいて端子圧着の良否を検査する端子圧着検査において、前記基準波形を更新する方法であって、
    N(ただし、Nは2以上の自然数)回の端子圧着を行い、各回の圧力波形を取得する圧力波形取得工程と、
    取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて第1の規定値以内か否かを判定する第1判定工程と、
    N回の端子圧着の平均の圧力波形を算出する平均圧力波形算出工程と、
    前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が第2の規定値以内か否かを判定する第2判定工程と、
    取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に前記基準波形の更新を許可する更新工程と、
    を含む端子圧着検査の基準波形の更新方法。
  5. 前記更新工程において、取得した各回の圧力波形と前記基準波形との差がN回の端子圧着の全てにおいて前記第1の規定値以内と判定されること、および、前記平均の圧力波形と前記基準波形との差が前記第2の規定値以内と判定されること、の両方が満たされる場合に、前記平均の圧力波形を更新後の基準波形とする、請求項4に記載の端子圧着検査の基準波形の更新方法。
  6. 基準波形の更新が禁止されたときに通知を行う通知工程を含む、請求項4または5に記載の端子圧着検査方法。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0299834A (ja) * 1988-10-07 1990-04-11 Lion Corp 生産ラインにおける不良品の検出方法
JPH08160096A (ja) * 1994-12-02 1996-06-21 Sumitomo Wiring Syst Ltd 圧着端子の圧着良否判定装置
US5697146A (en) * 1994-12-28 1997-12-16 Yazaki Corporation Apparatus for crimping terminal to electrical wire
JP2001035628A (ja) * 1999-07-23 2001-02-09 Yazaki Corp 端子圧着状態判別方法および装置
JP2005190604A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Toshiba Corp 半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法
JP2007333562A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
US20120054996A1 (en) * 2009-04-09 2012-03-08 Schleuniger Holding Ag Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product
JP2013140041A (ja) * 2011-12-28 2013-07-18 Keyence Corp 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
JP2019066212A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 オムロン株式会社 状態判定ユニット、検知装置、状態判定方法、および状態判定プログラム

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0299834A (ja) * 1988-10-07 1990-04-11 Lion Corp 生産ラインにおける不良品の検出方法
JPH08160096A (ja) * 1994-12-02 1996-06-21 Sumitomo Wiring Syst Ltd 圧着端子の圧着良否判定装置
US5697146A (en) * 1994-12-28 1997-12-16 Yazaki Corporation Apparatus for crimping terminal to electrical wire
JP2001035628A (ja) * 1999-07-23 2001-02-09 Yazaki Corp 端子圧着状態判別方法および装置
JP2005190604A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Toshiba Corp 半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法
JP2007333562A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
US20120054996A1 (en) * 2009-04-09 2012-03-08 Schleuniger Holding Ag Method of monitoring a crimping process, crimping press and computer program product
JP2012523663A (ja) * 2009-04-09 2012-10-04 シュロニガー ホールディング アーゲー 圧着工程監視方法、圧着プレス及びコンピュータプログラム製品
JP2013140041A (ja) * 2011-12-28 2013-07-18 Keyence Corp 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
JP2019066212A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 オムロン株式会社 状態判定ユニット、検知装置、状態判定方法、および状態判定プログラム

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