JP2021135219A5 - - Google Patents

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次いで、図の中央部に示すように、撮像素子30の焦点を光透過性積層体10の第1主面10aの表面から厚み方向(Z方向)内方に所定距離Pずらして、光透過性積層体10の厚み方向内方の所定の位置に焦点を合わせる。この状態で、上記と同様に図4に示すようにして撮像素子30で光透過性積層体10のXY平面全体を走査して、欠点のXY座標マップ(第2のXY座標マップ)を作成する。第2のXY座標マップにおいては、光透過性積層体10の厚み方向内方の所定位置近傍(当該所定位置から所定の距離まで)の欠点は、例えば図5とは実質的に異なる位置にある画像上の点として認識される。なお、本明細書においては、所定距離Pを撮像ピッチと称する場合がある。撮像素子の焦点合わせは、任意の適切な手段を用いて実現され得る。例えば、撮像素子自体をZ方向に移動させてもよく、レンズ等により撮像素子の焦点距離を変更してもよく、これらを組み合わせてもよい。図示例は、レンズ等により撮像素子の焦点距離を変更する形態を示している。

Claims (20)

  1. 枚葉の光透過性積層体を中空に固定した状態で透過検査を行い、該光透過性積層体における8μm~50μmサイズの欠点を検出する、光透過性積層体の検査方法。
  2. 前記欠点の検出が、
    所定倍率の光学系の焦点を前記光透過性積層体の第1主面の表面に合わせ、該光学系で該光透過性積層体を走査して欠点のXY座標マップを作成すること;
    該光学系の焦点を該光透過性積層体の第1主面の表面から厚み方向内方に所定距離ずらして、該光学系で該光透過性積層体を走査して別の欠点のXY座標マップを作成すること;および
    該作成した欠点のXY座標マップを統合すること;
    を含む、請求項1に記載の光透過性積層体の検査方法。
  3. 前記欠点の検出が、前記光学系の焦点を前記光透過性積層体の厚み方向内方に前記所定距離さらにずらして該光学系で該光透過性積層体を走査することを所定回数繰り返し、所定数の欠点のXY座標マップを作成することを含む、請求項2に記載の光透過性積層体の検査方法。
  4. 前記欠点の検出が、前記統合した欠点のXY座標マップの欠点発生座標のみにおいて、前記所定倍率よりも高倍率の光学系を用いて該欠点の厚み方向の位置を測定することを含む、請求項2または3に記載の光透過性積層体の検査方法。
  5. 前記欠点の厚み方向の位置の測定が、前記高倍率の光学系の焦点を前記光透過性積層体の第1主面の表面に合わせること、および、該焦点を該光透過性積層体の厚み方向内方に移動させて該第1主面の表面から該欠点までの距離を測定すること、を含む、請求項4に記載の光透過性積層体の検査方法。
  6. 前記所定距離が10μm~100μmである、請求項2から5のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  7. 前記所定倍率が5倍以下である、請求項2から6のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  8. 前記高倍率が10倍以上である、請求項4から7のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  9. 前記光透過性積層体が、光学フィルム、粘着剤シート、およびこれらの組み合わせから選択される、請求項1から8のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  10. 前記光学フィルムが、偏光板、位相差板、およびこれらを含む積層体から選択される、請求項9に記載の光透過性積層体の検査方法。
  11. 前記光透過性積層体の厚みが300μm以下である、請求項1から10のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  12. 前記所定倍率の光学系による走査距離1000μmあたりの前記光透過性積層体の第1主面の厚み方向の変動量が±10μm以内となるような領域で、前記欠点の検出が行われる、請求項2から11のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  13. 前記光透過性積層体の撓み角度が水平方向に対して±0.57°以内となるような領域で、前記欠点の検出が行われる、請求項1から12のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  14. 前記光透過性積層体を横架した状態で前記欠点の検出が行われる、請求項1から13のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  15. 前記光透過性積層体における非製品領域である対向する端部を相対的に近接または離間可能な一対の支持部材に固定した状態で、前記欠点の検出が行われる、請求項14に記載の光透過性積層体の検査方法。
  16. 前記一対の支持部材が、スライド可能であり、かつ、互いに離間する方向に付勢されている、請求項15に記載の光透過性積層体の検査方法。
  17. 前記光透過性積層体が粘着剤層を含み、該光透過性積層体が該粘着剤層を介して前記一対の支持部材に固定されている、請求項15または16に記載の光透過性積層体の検査方法。
  18. 前記光透過性積層体の前記粘着剤層を介した固定が、該光透過性積層体の一方の端部のセパレーターを剥離除去して露出した該粘着剤層を介して一方の支持部材に貼り合わせること、次いで、他方の端部のセパレーターを剥離除去して露出した該粘着剤層を介して他方の支持部材に貼り合わせること、を含む、請求項17に記載の光透過性積層体の検査方法。
  19. 前記光透過性積層体が少なくとも一方の表面に剥離可能に仮着された表面保護フィルムを含み、該光透過性積層体を前記一対の支持部材に固定した後で、該表面保護フィルムを一時的に剥離することを含む、請求項15から18のいずれかに記載の光透過性積層体の検査方法。
  20. 前記欠点の検出の後、前記光透過性積層体の少なくとも一方の表面に、前記一時的に剥離した前記表面保護フィルムまたは該表面保護フィルムとは別の表面保護フィルムを剥離可能に仮着することを含む、請求項19に記載の光透過性積層体の検査方法。
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