JP2021135161A - 回転検出装置 - Google Patents

回転検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021135161A
JP2021135161A JP2020031467A JP2020031467A JP2021135161A JP 2021135161 A JP2021135161 A JP 2021135161A JP 2020031467 A JP2020031467 A JP 2020031467A JP 2020031467 A JP2020031467 A JP 2020031467A JP 2021135161 A JP2021135161 A JP 2021135161A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
pulse signal
detection
detection signal
rotation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2020031467A
Other languages
English (en)
Inventor
達之 山口
Tatsuyuki Yamaguchi
達之 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Tokai Rika Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokai Rika Co Ltd filed Critical Tokai Rika Co Ltd
Priority to JP2020031467A priority Critical patent/JP2021135161A/ja
Publication of JP2021135161A publication Critical patent/JP2021135161A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】分解能を向上可能にした回転検出装置を提供する。【解決手段】回転検出装置1は、磁石の磁界を検出する複数の磁気抵抗素子22をブリッジ状に接続して形成された2つのブリッジ回路21を備えている。回転検出装置1は、2つのブリッジ回路21からそれぞれ出力される互いに位相差を有する検出信号V1及び検出信号V2の一方に対して、位相が反転した反転信号V3を出力する反転出力部26を備えている。また、回転検出装置1は、検出信号V1及び検出信号V2及び反転信号V3を基に、信号状態の切り替わり位置が、検出信号V1及び検出信号V2の間の位相差の半値の間隔で連続するパルス信号を生成するパルス信号生成部30を備えている。パルス信号生成部30は、パルス信号を外部の制御装置に出力して、制御装置に磁石の回転の検出を実行させる。【選択図】図3

Description

本発明は、磁気式の回転検出装置に関する。
従来、被検出体と同期回転する磁石の磁界を検出して、被検出体の回転を検出する回転検出装置が周知である。特許文献1の回転検出装置は、複数の磁気抵抗素子をブリッジ状に接続して形成され、配置向きが互いに異なる2つのブリッジ回路を備えている。
特開2018−96779号公報
ところで、回転検出装置では、2つのブリッジ回路からそれぞれ出力された2つの検出信号をパルス信号に変換して、このパルス信号を、回転検出を実行する制御装置に出力することが考えられている。また、パルス信号に変換して出力する場合であっても、回転検出装置の分解能を向上するニーズがあった。
本発明の目的は、分解能を向上可能にした回転検出装置を提供することにある。
上記課題を解決するための回転検出装置は、被検出体と同期回転する磁石の磁界を検出する複数の磁気抵抗素子をブリッジ状に接続して形成され、配置向きが互いに異なる2つのブリッジ回路を備える回転検出装置であって、前記ブリッジ回路からそれぞれ出力される互いに位相差を有する2つの検出信号の一方に対して、位相が反転した反転信号を出力する反転出力部と、2つの前記検出信号及び前記反転信号を基に、信号状態の切り替わり位置が、前記検出信号同士の間の前記位相差の半値の間隔で連続するパルス信号を生成し、前記パルス信号を外部装置に出力して、前記外部装置に前記磁石の回転の検出を実行させるパルス信号生成部と、を備える。
本発明の回転検出装置は、分解能を向上可能にする。
回転検出装置の構成図。 磁気センサの磁気抵抗素子の配列を示す模式図。 回転検出装置の回路図。 磁気センサからの出力を示すグラフ。 パルス信号生成部によって生成されるパルス信号を示すグラフ。 磁気センサからの出力振幅が変化した場合を説明するグラフ。
以下、回転検出装置の一実施形態を、図面を参照して説明する。
図1に示すように、回転検出装置1は、図示しない被検出体と同期回転するように設けられた磁石10と、磁石10の磁界を検知する磁気センサ20とを備えている。また、回転検出装置1は、磁気センサ20の出力を変換して、図示しない外部の制御装置へ出力するパルス信号生成部30を備えている。制御装置が「外部装置」に該当する。制御装置は、パルス信号生成部30からの出力に基づいて、回転検出を実行する。本実施形態の場合、磁気センサ20及びパルス信号生成部30は、磁石10と同一の平面上に設けられた基板2上に配置されている。
磁石10には、自身の回転方向に1組以上の磁極11が配置されている。磁石10は、所謂円状多極磁石であり、その周方向に複数の磁極11を有している。図1では、一例として、4組の磁極11、すなわちS極及びN極を合わせて8つの磁極11を有する磁石10を示している。
磁気センサ20は、磁界を検出する複数の磁気抵抗素子22をブリッジ接続して形成された2つのブリッジ回路21を備えている。ブリッジ回路21は、第1ブリッジ回路21A及び第2ブリッジ回路21Bを備えている。各磁気抵抗素子22は、磁界の方向に応じて電気抵抗値が変わる金属薄膜をパターニングして形成されている。磁気センサ20の一例は、異方性磁気抵抗(AMR:Anisotropic Magneto-Resistive)センサである。
図2に示すように、第1ブリッジ回路21Aは、第1磁気抵抗素子22a〜第4磁気抵抗素子22dをブリッジ状に組んだ配線パターンによって形成されている。第2ブリッジ回路21Bは、第5磁気抵抗素子22e〜第8磁気抵抗素子22hをブリッジ状に組んだ配線パターンによって形成されている。なお、第1磁気抵抗素子22a〜第8磁気抵抗素子22hは、配線パターンの向きが異なるだけで、同一の巻数、幅、厚さに形成されている。
磁気抵抗素子22は、磁気センサ20において一つの円を8等分した各領域にそれぞれ配置されている。すなわち、磁気抵抗素子22は、円の中心に設けられた配線パターン中心23回りに、隣同士の間で45°ずつ傾いて配置されている。また、磁気抵抗素子22は、配線パターン中心23に対して右回りに、第1磁気抵抗素子22a、第5磁気抵抗素子22e、第2磁気抵抗素子22b、第6磁気抵抗素子22f、第3磁気抵抗素子22c、第7磁気抵抗素子22g、第4磁気抵抗素子22d、第8磁気抵抗素子22hの順に並んでいる。これにより、第1ブリッジ回路21Aと第2ブリッジ回路21Bとは、配置向きが「45°」だけ異なっている。
図3に示すように、第1ブリッジ回路21Aにおいて、第1磁気抵抗素子22a及び第4磁気抵抗素子22dには、電源からの電源電圧VCCが印加されている。また、第1ブリッジ回路21Aは、第1磁気抵抗素子22a及び第2磁気抵抗素子22bのハーフブリッジ回路と、第3磁気抵抗素子22c及び第4磁気抵抗素子22dのハーフブリッジ回路とを接続したフルブリッジ回路からなる。また、第2磁気抵抗素子22b及び第3磁気抵抗素子22cは、低電位GNDに接続されている。
第2ブリッジ回路21Bにおいて、第5磁気抵抗素子22e及び第8磁気抵抗素子22hには、電源電圧VCCが印加されている。また、第2ブリッジ回路21Bは、第5磁気抵抗素子22e及び第6磁気抵抗素子22fのハーフブリッジ回路と、第7磁気抵抗素子22g及び第8磁気抵抗素子22hのハーフブリッジ回路とを接続したフルブリッジ回路からなる。また、第6磁気抵抗素子22f及び第7磁気抵抗素子22gは、低電位GNDに接続されている。
磁気センサ20は、第1ブリッジ回路21A及び第2ブリッジ回路21Bにそれぞれ接続された差動増幅回路25a及び差動増幅回路25bを有している。差動増幅回路25a及び差動増幅回路25bは、各ブリッジ回路21からの出力を差動増幅した検出信号V1及び検出信号V2をそれぞれ出力する。
差動増幅回路25aは、第1磁気抵抗素子22a及び第2磁気抵抗素子22bの中点電位M1と、第3磁気抵抗素子22c及び第4磁気抵抗素子22dの中点電位M2とを入力する。差動増幅回路25aにおいて、正入力端子に中点電位M1が入力され、負入力端子に中点電位M2が入力される。差動増幅回路25aは、中点電位M1と中点電位M2とを差動増幅した検出信号V1を、パルス信号生成部30へ出力する。
差動増幅回路25bは、第5磁気抵抗素子22e及び第6磁気抵抗素子22fの中点電位M3と、第7磁気抵抗素子22g及び第8磁気抵抗素子22hの中点電位M4とを入力する。差動増幅回路25bにおいて、正入力端子に中点電位M3が入力され、負入力端子に中点電位M4が入力される。差動増幅回路25bは、中点電位M3と中点電位M4とを差動増幅した検出信号V2を、パルス信号生成部30へ出力する。
磁気センサ20は、検出信号V1に対して、位相が反転した反転信号V3を出力する反転出力部26を備えている。反転出力部26は、例えば差動増幅回路25a及び差動増幅回路25bと同様の差動増幅回路である。反転出力部26は、第1ブリッジ回路21Aの各中点電位M1,M2に接続されている。反転出力部26において、正入力端子に中点電位M2が入力され、負入力端子に中点電位M1が入力される。すなわち、反転出力部26は、第1ブリッジ回路21Aの各中点電位M1,M2を、差動増幅回路25aとは正負逆に入力する。反転出力部26は、中点電位M2及び中点電位M1を差動増幅した反転信号V3を、パルス信号生成部30へ出力する。
パルス信号生成部30は、第1比較器31a、第2比較器31b、第3比較器31c、及び第4比較器31dを備えている。第1比較器31aは、検出信号V1と基準電圧Vrefとを比較して第1パルス信号S1を生成する。本実施形態の場合、基準電圧Vrefは、電源電圧VCCの1/2、すなわち「VCC/2」となるように設定されている。第2比較器31bは、検出信号V2と基準電圧Vrefとを比較して第2パルス信号S2を生成する。第3比較器31cは、検出信号V1と検出信号V2とを比較して第3パルス信号S3を生成する。第4比較器31dは、検出信号V2と反転信号V3とを比較して第4パルス信号S4を生成する。
パルス信号生成部30は、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を基に、これら信号の合成を行う論理回路部32を備えている。論理回路部32は、第1パルス信号S1及び第2パルス信号S2を入力して第5パルス信号S5を出力する第1論理ゲート33aと、第3パルス信号S3及び第4パルス信号S4を入力して第6パルス信号S6を出力する第2論理ゲート33bとを備えている。第1論理ゲート33a及び第2論理ゲート33bは、それぞれ排他的論理和の演算を行う。パルス信号生成部30は、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6を外部の制御装置へ出力し、制御装置に回転検出を実行させる。
以下、本実施形態の作用について説明する。
図4に示すように、検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3は、磁石10から付与される磁界の方向に応じて変化する。図4において、縦軸は信号強度であり、横軸は磁界方向の回転角度(以降、単に回転角度と記載する)を示している。検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3の信号波形は、基準電圧Vref、すなわち「VCC/2」を基準とし、近似的に正弦波又は余弦波となる。検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3は、回転角度が「θ」だけ変化した場合に、一周期となる。θは、例えば磁気抵抗素子22がAMR素子の場合、「180°」である。ここでは、検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3は、互いに位相が異なるだけで、同じ周期及び振幅を有する信号として扱う。
検出信号V1及び検出信号V2の間には、第1ブリッジ回路21A及び第2ブリッジ回路21Bの間の配置向きの傾きにより、45°、すなわち「θ/4」の位相差がある。また、反転信号V3は、検出信号V1に対して差動増幅の入力の正負を入れ替えた信号であり、検出信号V1と位相が反転している。すなわち、検出信号V1及び反転信号V3の間には、「θ/2」の位相差がある。
図5に示すように、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4は、回転角度に応じて、ハイレベル及びローレベルの間で信号状態が変化する。第1パルス信号S1は、検出信号V1と基準電圧Vrefとの比較により、例えば検出信号V1が基準電圧Vrefよりも、高い場合にハイレベルを、低い場合にローレベルを出力する。第2パルス信号S2は、検出信号V2と基準電圧Vrefとの比較により、例えば検出信号V2が基準電圧Vrefよりも、高い場合にローレベルを、低い場合にハイレベルを出力する。第3パルス信号S3は、検出信号V1と検出信号V2との比較により、例えば検出信号V1が検出信号V2よりも、高い場合にハイレベルを、低い場合にローレベルを出力する。第4パルス信号S4は、検出信号V2と反転信号V3との比較により、例えば検出信号V2が反転信号V3よりも、高い場合にローレベルを、低い場合にハイレベルを出力する。なお、これら第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4のハイレベル及びローレベルを一往復する周期は、「θ」である。
図4及び図5に示す通り、回転角度において、第1パルス信号S1及び第2パルス信号S2の各信号状態の切り替わり位置は、検出信号V1及び検出信号V2の各々と、「VCC/2」の基準電圧Vrefが交わる位置に対応している。また、回転角度において、第3パルス信号S3の信号状態の切り替わり位置は、検出信号V1及び検出信号V2が交わる位置に対応している。さらに、回転角度において、第4パルス信号S4の信号状態の切り替わり位置は、検出信号V2及び反転信号V3が交わる位置に対応している。これら第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の信号状態の切り替わり位置は、回転角度において、「θ/8」の間隔、すなわち、検出信号V1及び検出信号V2の位相差の半値の間隔で連続している。
図5に示す通り、パルス信号生成部30は、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を基に、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6を生成する。第5パルス信号S5は、第1パルス信号S1及び第2パルス信号S2の排他的論理和の演算結果となっている。第6パルス信号S6は、第3パルス信号S3及び第4パルス信号S4の排他的論理和の演算結果となっている。第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6において、ハイレベル/ローレベルを一往復する周期は、「θ/2」である。すなわち、周波数が元のパルス波形の2倍になっている。また、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6は、回転角度において、「θ/8」の間隔で、交互に信号状態が切り替わる。パルス信号生成部30は、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6を、外部の制御装置に出力する。制御装置は、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6の信号状態の切り替わりを検出することで、回転を検出する。
ところで、例えば環境温度の変化や、磁石からの磁束密度の変化などの外的環境の変化により、検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3の出力波形の振幅が変化することがある。以下、これら信号の振幅変化と、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の信号状態の切り替わり位置との考え方を説明する。
図6に示すように、外的環境が変化した場合、検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3は、全てが同じように振幅が変化する。同図では、変化後の検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3を、それぞれ「V1´」、「V2´」、及び「V3´」で示している。
ここで、仮に、基準電圧Vrefとは異なる値の閾値電圧Aを別に設ける場合を考える。例えば、検出信号V1が「V1´」に振幅が変化した場合、回転角度において、閾値電圧Aと検出信号V1との大小関係が切り替わる位置、すなわち閾値電圧Aと検出信号V1との交点の位置が、差dだけずれる。この差dによって、回転検出の検出精度が悪化するおそれがあった。
一方、回転角度において、検出信号V1と検出信号V2との交点の位置は、各々が「V1´」及び「V2´」に変化した後も、変わらない。これは、検出信号V2及び反転信号V3においても同様である。また、検出信号V1及び検出信号V2の各々と、「VCC/2」の基準電圧Vrefとの交点の位置も、変わらない。したがって、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の信号状態の切り替わり位置は、外的環境の変化による検出信号V1、検出信号V2、及び反転信号V3の振幅変化に影響されない。すなわち、外的環境の変化による検出精度の悪化を抑制できる。
上記の通り、パルス信号生成部30は、信号状態の切り替わりが「θ/8」間隔で連続する第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6を制御装置に出力する。したがって、制御装置において検出される最小の回転角度の回転角度、すなわち分解能は、「θ/8」となる。これにより、単に、検出信号V1及び検出信号V2を基準電圧Vrefと比較して変換された2つの信号、すなわち第1パルス信号S1及び第2パルス信号S2のみを制御装置に出力する場合の分解能「θ/4」と比べて、分解能を向上することができる。
また、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6の2つを出力することにより、制御装置にとっては、例えば第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6の一方の信号状態が切り替わった時、他方側の信号状態を確認することで、回転方向の正負を判定できる。
パルス信号生成部30は、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を基に、これらより高周波数の第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6を出力する。これにより、外部へ出力する信号数を、信号状態の切り替わりの間隔を維持したまま、4つから2つへ減らすことができる。そのため、配線や制御装置側の入力ポートの個数などの構成を簡略化することができ、全体としてのコスト低減に寄与できる。
パルス信号生成部30は、第1比較器31a〜第4比較器31dによって、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を生成する。これによれば、簡易な比較器によって、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を生成することができる。
以下、本実施形態の効果について説明する。
(1)回転検出装置1は、磁石10の磁界を検出する複数の磁気抵抗素子22をブリッジ状に接続して形成された2つのブリッジ回路21を備えている。回転検出装置1は、2つのブリッジ回路21からそれぞれ出力される互いに位相差を有する検出信号V1及び検出信号V2の一方に対して、位相が反転した反転信号V3を出力する反転出力部26を備えている。また、回転検出装置1は、検出信号V1及び検出信号V2及び反転信号V3を基に、信号状態の切り替わり位置が、検出信号V1及び検出信号V2の間の位相差の半値の間隔で連続するパルス信号を生成するパルス信号生成部30を備えている。パルス信号生成部30は、パルス信号を外部の制御装置に出力して、制御装置に磁石10の回転の検出を実行させる。この構成によれば、検出信号V1及び検出信号V2の位相差の半値の間隔に応じた分解能で、回転検出を実行させることができる。単に検出信号V1及び検出信号V2を基準電圧Vrefでパルス信号に変換した場合と比較して、分解能を向上することができる。
(2)パルス信号生成部30は、信号状態の切り替わり位置が、「θ/8」間隔で連続する第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を生成する。第1パルス信号S1は、検出信号V1と基準電圧Vrefとを第1比較器31aで比較して生成される。また、第2パルス信号S2は、検出信号V2と基準電圧Vrefとを第2比較器31bで比較して生成される。また、第3パルス信号S3は、検出信号V1と検出信号V2とを第3比較器31cで比較して生成される。さらに、第4パルス信号S4は、検出信号V2と反転信号V3とを第4比較器31dで比較して生成される。この構成によれば、簡易な比較器を用いて、検出信号V1及び検出信号V2の位相差の半値の間隔で信号状態の切り替え位置が連続する第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を生成することができる。
(3)パルス信号生成部30は、第1パルス信号S1及び第2パルス信号S2の排他的論理和によって生成される第5パルス信号S5と、第3パルス信号S3及び第4パルス信号S4の排他的論理和によって生成される第6パルス信号S6とを出力する。第5パルス信号S5及び前記第6パルス信号S6の信号状態は、検出信号V1及び検出信号V2の位相差の半値の間隔で交互に切り替わる。この構成によれば、信号状態の切り替わりの間隔を維持したまま、外部装置に出力する信号数を減らすことができる。また、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6の2つを出力することにより、これらの信号状態の組み合わせに基づいて、例えば磁石10の回転方向の正負を判定できる。したがって、単一の信号を出力する場合と比較して、好適に回転検出を行うことができる。
(4)2つのブリッジ回路21は、磁気抵抗素子22の実装面上で互いに45度傾いた配置向きで配置されている。この構成によれば、検出信号V1,V2の間に、45°分だけ位相差を設けることができる。また、パルス信号生成部30は、45°の半値、すなわち22.5°の間隔で信号状態の切り替えが連続するパルス信号を出力できる。
(5)第1ブリッジ回路21Aには、第1ブリッジ回路21Aの各中点電位M1,M2をそれぞれ正入力及び負入力に入力して検出信号V1を生成する差動増幅回路25aが接続されている。反転出力部26は、第1ブリッジ回路21Aの中点電位M1,M2を、差動増幅回路25aとは正負逆に入力し、差動増幅することにより反転信号V3を出力する。この構成によれば、反転出力部26及び差動増幅回路25aの間で、中点電位M1,M2を同時に入力し、且つ同様の差動増幅の処理を行うので、検出信号V1の出力処理と反転信号V3の出力処理との間に遅延が生じにくい。したがって、検出信号V1に対して、精度のよい反転信号V3を得ることができる。
なお、本実施形態は、以下のように変更して実施することができる。本実施形態及び以下の変更例は、技術的に矛盾しない範囲で互いに組み合わせて実施することができる。
・反転出力部26は、ブリッジ回路21から出力された検出信号V1を入力して、検出信号V1の位相を反転させて反転信号V3を出力してもよい。例えば、反転出力部26は、反転回路を用いて、入力した検出信号V1の反対位相の反転信号V3を出力してもよい。この場合、簡易な反転回路を用いることができ、回路構成の簡略化に寄与できる。すなわち、反転出力部26は、本実施形態に限定されず、各種回路を用いることができる。
・各差動増幅回路には、オペアンプを用いてもよいし、計装アンプを用いてもよい。
・2つのブリッジ回路21は、45°傾いて配置されていてもよいし、60°傾いて配置されていてもよい。すなわち、ブリッジ回路21同士の間の配置向きの角度は、特に限定されない。
・第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6は、排他的論理和によって生成されることに限定されない。例えば、その他の論理演算によって生成されてもよい。
・パルス信号生成部30は、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を、外部装置に出力してもよい。そして、外部装置において、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の信号状態の組み合わせを基に、回転検出を行ってもよい。すなわち、第5パルス信号S5及び第6パルス信号S6は、省略可能である。
・パルス信号生成部30から外部装置へ出力されるパルス信号の個数は、特に限定されず、1つでもよいし、2つでもよいし、3つ以上でもよい。例えば「θ/8」の間隔で信号状態が切り替わる単一のパルス信号を生成し、これを外部装置に出力してもよい。
・第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の生成方法は、本実施形態に限定されない。例えば、第1パルス信号S1は、検出信号V1及び基準電圧Vrefの比較により生成されることに限定されず、検出信号V1及び反転信号V3の比較により生成されてもよい。
・基準電圧Vrefは、「VCC/2」に限定されず、仕様に応じて適宜変更可能である。
・第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4の各々において、出力のハイレベル及びローレベルが逆であってもよい。
・パルス信号生成部30は、パルス信号として、第1パルス信号S1〜第4パルス信号S4を生成することに限定されない。例えば、第3パルス信号S3及び第4パルス信号S4のうち、いずれか一方を省略してもよい。
・パルス信号生成部30は、パルス信号の生成に比較器を用いることに限定されない。
・2つのブリッジ回路21において、第1ブリッジ回路21A及び第2ブリッジ回路21Bは、本実施形態に限定されず、逆であってもよい。また、検出信号V1,V2も逆であってもよいし、反転信号V3は、検出信号V2に対して位相が反転した信号であってもよい。
・外部装置は、回転検出装置と一体に設けられていてもよいし、別個に設けられていてもよい。
・磁石10と磁気センサ20との位置関係は、本実施形態に限定されない。例えば、磁気センサ20が、磁石10に対して磁石10の回転軸方向に配置されてもよい。
・磁石10の極数は特に限定されない。
・磁気センサ20は、特に限定されず、例えば、ホール素子、異方性磁気抵抗素子、巨大磁気抵抗素子、又はトンネル磁気抵抗素子を用いたセンサを適用することができる。
・回転検出装置1は、被検出体の回転角度を検出するものであってもよいし、回転の有無を検出するものであってもよい。
1…回転検出装置、10…磁石、20…磁気センサ、21…ブリッジ回路、22…磁気抵抗素子、25a…差動増幅回路、25b…差動増幅回路、26…反転出力部、30…パルス信号生成部、31a…第1比較器、31b…第2比較器、31c…第3比較器、31d…第4比較器、32…論理回路部、33a…第1論理ゲート、33b…第2論理ゲート、S1…第1パルス信号、S2…第2パルス信号、S3…第3パルス信号、S4…第4パルス信号、S5…第5パルス信号、S6…第6パルス信号、V1…検出信号、V2…検出信号、V3…反転信号。

Claims (5)

  1. 被検出体と同期回転する磁石の磁界を検出する複数の磁気抵抗素子をブリッジ状に接続して形成され、配置向きが互いに異なる2つのブリッジ回路を備える回転検出装置であって、
    前記ブリッジ回路からそれぞれ出力される互いに位相差を有する2つの検出信号の一方に対して、位相が反転した反転信号を出力する反転出力部と、
    2つの前記検出信号及び前記反転信号を基に、信号状態の切り替わり位置が、前記検出信号同士の間の前記位相差の半値の間隔で連続するパルス信号を生成し、前記パルス信号を外部装置に出力して、前記外部装置に前記磁石の回転の検出を実行させるパルス信号生成部と、を備える回転検出装置。
  2. 前記パルス信号は、前記検出信号の一方と基準電圧とを第1比較器で比較して生成される第1パルス信号と、前記検出信号の他方と前記基準電圧とを第2比較器で比較して生成される第2パルス信号と、前記検出信号同士を第3比較器で比較して生成される第3パルス信号と、2つの前記検出信号のうち前記反転信号の生成に使用しなかった信号と前記反転信号とを第4比較器で比較して生成される第4パルス信号と、を含む
    請求項1に記載の回転検出装置。
  3. 前記パルス信号は、前記第1パルス信号及び前記第2パルス信号の排他的論理和によって生成される第5パルス信号と、前記第3パルス信号及び前記第4パルス信号の排他的論理和によって生成された第6パルス信号と、を含み、
    前記第5パルス信号及び前記第6パルス信号の前記信号状態は、前記位相差の半値の間隔で交互に切り替わる
    請求項2に記載の回転検出装置。
  4. 2つの前記ブリッジ回路は、前記磁気抵抗素子の実装面上で互いに45度傾いた前記配置向きで配置されている
    請求項1から請求項3のうちいずれか一項に記載の回転検出装置。
  5. 前記各ブリッジ回路は、前記磁気抵抗素子を直列接続して形成された2つのハーフブリッジ回路の中点電位を、差動増幅回路の正入力及び負入力にそれぞれ入力し、差動増幅することによって前記検出信号を出力し、
    前記反転出力部は、2つの前記ブリッジ回路のうち一方の前記中点電位を、前記差動増幅回路とは正負逆に入力し、差動増幅することにより前記反転信号を出力する
    請求項1から請求項4のうちいずれか一項に記載の回転検出装置。
JP2020031467A 2020-02-27 2020-02-27 回転検出装置 Pending JP2021135161A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020031467A JP2021135161A (ja) 2020-02-27 2020-02-27 回転検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020031467A JP2021135161A (ja) 2020-02-27 2020-02-27 回転検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021135161A true JP2021135161A (ja) 2021-09-13

Family

ID=77660988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020031467A Pending JP2021135161A (ja) 2020-02-27 2020-02-27 回転検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021135161A (ja)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5979806A (ja) * 1982-10-29 1984-05-09 Hitachi Ltd 多相磁気回転センサおよび多相−2相出力変換方法
JPS60135768A (ja) * 1983-12-24 1985-07-19 Sony Corp 回転検出装置
JPS61120014A (ja) * 1984-11-16 1986-06-07 Nakamura Seisakusho:Kk 位置および角度検出装置
JPS6432118A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Sankyo Seiki Seisakusho Kk Encoder device
JPH0167519U (ja) * 1987-10-23 1989-05-01
JPH04125089A (ja) * 1990-09-14 1992-04-24 Fuji Electric Co Ltd モータの回転速度検出用パルス発生装置
JP2000105134A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Hitachi Metals Ltd 磁気式エンコーダ
JP2001056238A (ja) * 1999-08-20 2001-02-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd インクリメンタル型エンコーダ
JP2006098322A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Hitachi Metals Ltd 磁気式位置回転検出用素子
JP2016180727A (ja) * 2015-03-25 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5979806A (ja) * 1982-10-29 1984-05-09 Hitachi Ltd 多相磁気回転センサおよび多相−2相出力変換方法
JPS60135768A (ja) * 1983-12-24 1985-07-19 Sony Corp 回転検出装置
JPS61120014A (ja) * 1984-11-16 1986-06-07 Nakamura Seisakusho:Kk 位置および角度検出装置
JPS6432118A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Sankyo Seiki Seisakusho Kk Encoder device
JPH0167519U (ja) * 1987-10-23 1989-05-01
JPH04125089A (ja) * 1990-09-14 1992-04-24 Fuji Electric Co Ltd モータの回転速度検出用パルス発生装置
JP2000105134A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Hitachi Metals Ltd 磁気式エンコーダ
JP2001056238A (ja) * 1999-08-20 2001-02-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd インクリメンタル型エンコーダ
JP2006098322A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Hitachi Metals Ltd 磁気式位置回転検出用素子
JP2016180727A (ja) * 2015-03-25 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101890610B1 (ko) 원형 수직 홀 검출 엘리먼트를 셀프-테스트하거나 및/또는 원형 수직 홀 검출 엘리먼트를 사용한 자기장 센서를 셀프-테스트하기 위한 구성들
KR101078078B1 (ko) 자기식 회전각 검출기
JP5105200B2 (ja) 角度検出装置、及び角度検出方法
JP3848670B1 (ja) 回転角度検出装置
JP4859903B2 (ja) 移動方向検出装置
TWI650528B (zh) 旋轉角度檢測裝置及旋轉角度檢測方法
JP4646044B2 (ja) 磁気検出装置
JP4317855B2 (ja) 磁気検出装置
KR100978707B1 (ko) 자기식 로터리 인코더 및 자기센서에 상대적으로 자석을반복 정렬하는 방법
JP2014185884A (ja) 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器
JP5116751B2 (ja) 磁気検出装置
CN109416263B (zh) 旋转检测装置
JP5762567B2 (ja) 回転角度検出装置
US7557567B2 (en) Magnetic detection device
JP2021135161A (ja) 回転検出装置
JP3598984B2 (ja) 回転検出装置
JP2003106866A (ja) 磁気センサ
JP2012230021A (ja) 回転角度計測装置
JPH02166825A (ja) エンコーダ装置
EP2447674B1 (en) Magnetic detection device
JP2021076471A (ja) 回転検出装置
US11796350B2 (en) Rotation detection device having detector and signal processor
JP5195787B2 (ja) 回転センサ
JP5013135B2 (ja) 磁気式位置検出装置
JP2018200284A (ja) 検出装置および検出システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220826

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230410

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230418

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20231010