JP2021106214A - 洗浄装置、研磨装置 - Google Patents
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 849
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims description 60
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 237
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 30
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 14
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 16
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 13
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 12
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 11
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 5
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000002940 repellent Effects 0.000 description 5
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 5
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 4
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 3
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004401 flow injection analysis Methods 0.000 description 2
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000012487 rinsing solution Substances 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 238000005201 scrubbing Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
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- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
ウェハの洗浄を行う洗浄空間を画定する洗浄槽と、
前記洗浄槽の内側に配置され、前記ウェハを保持して回転させるウェハ回転機構と、
前記ウェハの表面に接触して洗浄する洗浄部材であって、横方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、軸線方向の長さが前記ウェハの半径よりも長い洗浄部材と、
前記洗浄部材を、前記洗浄槽の内側に位置する揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側の待避位置から前記ウェハの直上の洗浄位置まで移動させる揺動機構と、
前記ウェハの表面を洗浄する第2洗浄手段と、
前記第2洗浄手段を、前記洗浄槽の内側に位置する第2揺動軸線回りに揺動させて前記ウェハの中心の直上を通過させる第2揺動機構と、
を備える。
前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離は、前記ウェハの直径より小さく、
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記揺動軸線回りに揺動させる際に、前記洗浄部材は前記ウェハの中心の直上を通過する。
前記揺動軸線は、前記洗浄部材の前記中心軸線の延長線上から離れた位置にある。
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記待避位置から前記洗浄位置まで移動させる際の揺動角は90°より小さい。
前記第2洗浄手段は、前記ウェハの表面にジェット流を噴射して非接触で洗浄するジェット洗浄手段である。
前記第2洗浄手段は、縦方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、前記ウェハの表面に接触して洗浄するペン洗浄手段である。
前記第2洗浄手段の中心から前記第2揺動軸線までの距離は、前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離より大きく、かつ、前記ウェハの直径より小さい。
前記第2揺動機構は、前記第2洗浄手段を前記第2揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側であって前記洗浄槽の内側である第2待避位置と、前記ウェハの直上の第2洗浄位置と、前記洗浄槽の外側のメンテナンス位置と、の間で移動させる。
前記第2揺動機構は、前記洗浄槽の内側にて前記洗浄部材が交換またはメンテナンスされるときに、前記第2洗浄手段を前記洗浄槽の外側に待避させる。
前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置するか否かを監視する監視手段
をさらに備える。
前記監視手段は、前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置する場合には、前記第2洗浄手段の動作を停止させる。
前記揺動軸線と前記第2揺動軸線とは、前記ウェハの中心から見て互いに逆側に位置決めされている。
ウェハの研磨を行う研磨ユニットと、
研磨後のウェハの洗浄を行う洗浄ユニットと、
を備え、
前記洗浄ユニットは、
ウェハの洗浄を行う洗浄空間を画定する洗浄槽と、
前記洗浄槽の内側に配置され、前記ウェハを保持して回転させるウェハ回転機構と、
前記ウェハの表面に接触して洗浄する洗浄部材であって、横方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、軸線方向の長さが前記ウェハの半径よりも長い洗浄部材と、
前記洗浄部材を、前記洗浄槽の内側に位置する揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側の待避位置から前記ウェハの直上の洗浄位置まで移動させる揺動機構と、
前記ウェハの表面を洗浄する第2洗浄手段と、
前記第2洗浄手段を、前記洗浄槽の内側に位置する第2揺動軸線回りに揺動させて前記ウェハの中心の直上を通過させる第2揺動機構と、
を備える。
前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離は、前記ウェハの直径より小さく、
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記揺動軸線回りに揺動させる際に、前記洗浄部材は前記ウェハの中心の直上を通過する。
前記揺動軸線は、前記洗浄部材の前記中心軸線の延長線上から離れた位置にある。
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記待避位置から前記洗浄位置まで移動させる際の揺動角は90°より小さい。
前記第2洗浄手段は、前記ウェハの表面にジェット流を噴射して非接触で洗浄するジェット洗浄手段である。
前記第2洗浄手段は、縦方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、前記ウェハの表面に接触して洗浄するペン洗浄手段である。
前記第2洗浄手段の中心から前記第2揺動軸線までの距離は、前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離より大きく、かつ、前記ウェハの直径より小さい。
前記第2揺動機構は、前記第2洗浄手段を前記第2揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側であって前記洗浄槽の内側である第2待避位置と、前記ウェハの直上の第2洗浄位置と、前記洗浄槽の外側のメンテナンス位置と、の間で移動させる。
前記第2揺動機構は、前記洗浄槽の内側にて前記洗浄部材が交換またはメンテナンスされるときに、前記第2洗浄手段を前記洗浄槽の外側に待避させる。
前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置するか否かを監視する監視手段
をさらに備える。
前記監視手段は、前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置する場合には、前記第2洗浄手段の動作を停止させる。
前記揺動軸線と前記第2揺動軸線とは、前記ウェハの中心から見て互いに逆側に位置決めされている。
図1は、一実施の形態に係る基板処理装置(研磨装置ともいう)1の全体構成を示す平面図である。
次に、一実施の形態に係る洗浄装置16について説明する。図2は、洗浄装置16の洗浄槽41を透過して示す斜視図であって、洗浄部材43が待避位置に位置する状態を示す図である。図3は、図2に示す洗浄装置16を上方から見たときの内部平面図である。図4は、図2に示す洗浄装置16を奥側から見たときの内部斜視図である。図5は、図2に示す洗浄装置16を左側から見たときの内部斜視図である。
10 ハウジング
12 ロードポート
14a〜14d 研磨ユニット
16 洗浄装置
16a 第1洗浄ユニット(洗浄装置)
16b 第2洗浄ユニット(洗浄装置)
20 乾燥ユニット
22 第1搬送ロボット
24 搬送ユニット
26 第2搬送ロボット
28 第3搬送ロボット
30 研磨制御装置
41 洗浄槽
41a、41b ウェハ搬入出口
42 ウェハ回転機構
42a〜42d ローラ
43 洗浄部材
431 ホルダ
44 揺動機構
45 昇降機構
45a 柱部
45b 腕部
45c 駆動手段
46a、46b 液供給ノズル
47 裏面洗浄部材
471 ホルダ
48 第2洗浄手段
49 第2揺動機構
50a、50b シャッタ
51 クリーニング手段
60 監視手段
61 鍔部
62 スイッチ
Claims (24)
- ウェハの洗浄を行う洗浄空間を画定する洗浄槽と、
前記洗浄槽の内側に配置され、前記ウェハを保持して回転させるウェハ回転機構と、
前記ウェハの表面に接触して洗浄する洗浄部材であって、横方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、軸線方向の長さが前記ウェハの半径よりも長い洗浄部材と、
前記洗浄部材を、前記洗浄槽の内側に位置する揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側の待避位置から前記ウェハの直上の洗浄位置まで移動させる揺動機構と、
前記ウェハの表面を洗浄する第2洗浄手段と、
前記第2洗浄手段を、前記洗浄槽の内側に位置する第2揺動軸線回りに揺動させて前記ウェハの中心の直上を通過させる第2揺動機構と、
を備えたことを特徴とする洗浄装置。 - 前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離は、前記ウェハの直径より小さく、
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記揺動軸線回りに揺動させる際に、前記洗浄部材は前記ウェハの中心の直上を通過する
ことを特徴とする請求項1に記載の洗浄装置。 - 前記揺動軸線は、前記洗浄部材の前記中心軸線の延長線上から離れた位置にある
ことを特徴とする請求項1または2に記載の洗浄装置。 - 前記揺動機構が前記洗浄部材を前記待避位置から前記洗浄位置まで移動させる際の揺動角は90°より小さい
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の洗浄装置。 - 前記第2洗浄手段は、前記ウェハの表面にジェット流を噴射して非接触で洗浄するジェット洗浄手段である
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の洗浄装置。 - 前記第2洗浄手段は、縦方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、前記ウェハの表面に接触して洗浄するペン洗浄手段である
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の洗浄装置。 - 前記第2洗浄手段の中心から前記第2揺動軸線までの距離は、前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離より大きく、かつ、前記ウェハの直径より小さい
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の洗浄装置。 - 前記第2揺動機構は、前記第2洗浄手段を前記第2揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側であって前記洗浄槽の内側である第2待避位置と、前記ウェハの直上の第2洗浄位置と、前記洗浄槽の外側のメンテナンス位置と、の間で移動させる
ことを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の洗浄装置。 - 前記第2揺動機構は、前記洗浄槽の内側にて前記洗浄部材が交換またはメンテナンスされるときに、前記第2洗浄手段を前記洗浄槽の外側に待避させる
ことを特徴とする請求項8に記載の洗浄装置。 - 前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置するか否かを監視する監視手段
をさらに備えたことを特徴とする請求項8または9に記載の洗浄装置。 - 前記監視手段は、前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置する場合には、前記第2洗浄手段の動作を停止させる
ことを特徴とする請求項10に記載の洗浄装置。 - 前記揺動軸線と前記第2揺動軸線とは、前記ウェハの中心から見て互いに逆側に位置決めされている
ことを特徴とする請求項1〜11のいずれかに記載の洗浄装置。 - ウェハの研磨を行う研磨ユニットと、
研磨後のウェハの洗浄を行う洗浄ユニットと、
を備え、
前記洗浄ユニットは、
ウェハの洗浄を行う洗浄空間を画定する洗浄槽と、
前記洗浄槽の内側に配置され、前記ウェハを保持して回転させるウェハ回転機構と、
前記ウェハの表面に接触して洗浄する洗浄部材であって、横方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、軸線方向の長さが前記ウェハの半径よりも長い洗浄部材と、
前記洗浄部材を、前記洗浄槽の内側に位置する揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側の待避位置から前記ウェハの直上の洗浄位置まで移動させる揺動機構と、
前記ウェハの表面を洗浄する第2洗浄手段と、
前記第2洗浄手段を、前記洗浄槽の内側に位置する第2揺動軸線回りに揺動させて前記ウェハの中心の直上を通過させる第2揺動機構と、
を備えたことを特徴とする研磨装置。 - 前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離は、前記ウェハの直径より小さく、
前記揺動機構が前記洗浄部材を前記揺動軸線回りに揺動させる際に、前記洗浄部材は前記ウェハの中心の直上を通過する
ことを特徴とする請求項13に記載の研磨装置。 - 前記揺動軸線は、前記洗浄部材の前記中心軸線の延長線上から離れた位置にある
ことを特徴とする請求項13または14に記載の研磨装置。 - 前記揺動機構が前記洗浄部材を前記待避位置から前記洗浄位置まで移動させる際の揺動角は90°より小さい
ことを特徴とする請求項13〜15のいずれかに記載の研磨装置。 - 前記第2洗浄手段は、前記ウェハの表面にジェット流を噴射して非接触で洗浄するジェット洗浄手段である
ことを特徴とする請求項13〜16のいずれかに記載の研磨装置。 - 前記第2洗浄手段は、縦方向に延びる中心軸線回りに回転可能であり、前記ウェハの表面に接触して洗浄するペン洗浄手段である
ことを特徴とする請求項13〜17のいずれかに記載の研磨装置。 - 前記第2洗浄手段の中心から前記第2揺動軸線までの距離は、前記洗浄部材の中心から前記揺動軸線までの距離より大きく、かつ、前記ウェハの直径より小さい
ことを特徴とする請求項13〜18のいずれかに記載の研磨装置。 - 前記第2揺動機構は、前記第2洗浄手段を前記第2揺動軸線回りに揺動させて、前記ウェハの外側であって前記洗浄槽の内側である第2待避位置と、前記ウェハの直上の第2洗浄位置と、前記洗浄槽の外側のメンテナンス位置と、の間で移動させる
ことを特徴とする請求項13〜19のいずれかに記載の研磨装置。 - 前記第2揺動機構は、前記洗浄槽の内側にて前記洗浄部材が交換またはメンテナンスされるときに、前記第2洗浄手段を前記洗浄槽の外側に待避させる
ことを特徴とする請求項20に記載の研磨装置。 - 前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置するか否かを監視する監視手段
をさらに備えたことを特徴とする請求項20または21に記載の研磨装置。 - 前記監視手段は、前記第2洗浄手段が前記洗浄槽の外側に位置する場合には、前記第2洗浄手段の動作を停止させる
ことを特徴とする請求項22に記載の研磨装置。 - 前記揺動軸線と前記第2揺動軸線とは、前記ウェハの中心から見て互いに逆側に位置決めされている
ことを特徴とする請求項13〜23のいずれかに記載の研磨装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019236734A JP7450386B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 洗浄装置、研磨装置 |
US17/128,643 US11948811B2 (en) | 2019-12-26 | 2020-12-21 | Cleaning apparatus and polishing apparatus |
KR1020200180657A KR20210083192A (ko) | 2019-12-26 | 2020-12-22 | 세정 장치, 연마 장치 |
TW109146118A TW202132049A (zh) | 2019-12-26 | 2020-12-25 | 清洗裝置及研磨裝置 |
CN202011560759.7A CN113043158B (zh) | 2019-12-26 | 2020-12-25 | 清洗装置、研磨装置 |
US18/444,981 US20240194498A1 (en) | 2019-12-26 | 2024-02-19 | Cleaning apparatus and polishing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019236734A JP7450386B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 洗浄装置、研磨装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021106214A true JP2021106214A (ja) | 2021-07-26 |
JP7450386B2 JP7450386B2 (ja) | 2024-03-15 |
Family
ID=76919322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019236734A Active JP7450386B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | 洗浄装置、研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7450386B2 (ja) |
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2019
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---|---|
JP7450386B2 (ja) | 2024-03-15 |
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