JP2021065818A - 排気ガス浄化用触媒、排気ガスの浄化方法、及び排気ガス浄化用触媒の製造方法 - Google Patents

排気ガス浄化用触媒、排気ガスの浄化方法、及び排気ガス浄化用触媒の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】排気ガスの浄化性能が向上した排気ガス浄化用触媒と、効率的に排気ガスを浄化することができる排気ガスの浄化方法と、排気ガスの浄化性能が向上した排気ガス浄化用触媒の製造方法とを提供することを目的とする。【解決手段】排気ガス浄化用触媒は、多孔質体20と、酸化セリウム30と、酸化セリウム30に担持された貴金属40である触媒成分Cを含み、貴金属40の酸化数は0以上、2.3以下である。貴金属40の量は、酸化セリウム30の量1モルに対して1モル%以上、40モル%以下でよい。【選択図】図1

Description

本発明は、排気ガス浄化用触媒と、排気ガスの浄化方法と、排気ガス浄化用触媒の製造方法とに関する。
自動車等の内燃機関から排出される排気ガスを浄化するために、様々な触媒が使用されている。ガソリンエンジン車においては、排気ガス中の一酸化炭素(CO)、炭化水素(HC)、及び窒素酸化物(NO)の三成分を同時に浄化する三元触媒が知られている。三元触媒の主要な成分はパラジウム等の貴金属と、セリウム・ジルコニウム複合酸化物等の酸素貯蔵材(OSC;Oxygen Storage Component)である(特許文献1)。
排気ガスに関する規制は世界的に年々厳しくなっており、将来的に、更に厳しくなっていくことが想定される。そのため、より優れた排気ガスの浄化性能を発揮する触媒の開発が求められている。
特開2006−263582号公報
排気ガスを浄化するための触媒の浄化性能を低下させる原因の一つは、貴金属の被毒である。過剰の一酸化炭素(CO)等が貴金属上に強く吸着することで排気ガスが貴金属と接触できなくなり、排気ガスの浄化率が低下する。
本発明は、上記課題を踏まえてなされたものであり、排気ガスの浄化性能が向上した排気ガス浄化用触媒と、効率的に排気ガスを浄化することができる排気ガスの浄化方法と、排気ガスの浄化性能が向上した排気ガス浄化用触媒の製造方法とを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明者は鋭意検討を重ねた。その結果、酸化セリウムに還元状態の貴金属を担持させることにより、触媒の被毒を軽減できるとの知見を得るに至った。かかる知見に鑑み、上記課題を解決するべく、本願は以下の態様を採用する。
(1)第一の態様に係る排気ガス浄化用触媒は、多孔質体と、酸化セリウムと、前記酸化セリウムに担持された貴金属である触媒成分を含み、前記貴金属の酸化数は0以上、2.3以下である。
(2)上記態様に係る排気ガス浄化用触媒は、前記貴金属の量が、前記酸化セリウムの量1モルに対して1モル%以上、40モル%以下でよい。
(3)上記態様に係る排気ガス浄化用触媒は、前記酸化セリウムの量が、前記多孔質体の量1モルに対して0.1モル%以上、10モル%以下でよい。
(4)上記態様に係る排気ガス浄化用触媒は、前記多孔質体がLa含有Alを含んでよい。
(5)上記態様に係る排気ガス浄化用触媒は、前記触媒成分が三次元構造体に担持されていてよい。
(6)第二の態様に係る排気ガスの浄化方法は、上記態様に係る排気ガス浄化用触媒に排気ガスを流す工程を含む。
(7)第三の態様に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法は、上記態様に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法であって、多孔質体と、酸化セリウムとの混合物を得る第1工程と、第1工程で得られた前記混合物に含まれる酸化セリウムを還元して還元混合物を得る第2工程と、第2工程で得られた前記還元混合物と貴金属イオンとを接触させて触媒成分を得る第3工程と、を含む。
(8)第四の態様に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法は、上記態様に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法であって、多孔質体と、酸化セリウムとの混合物を得る第1工程と、第1工程で得られた前記混合物に含まれる酸化セリウムを還元して還元混合物を得る第2工程と、第2工程で得られた前記還元混合物と貴金属イオンとを接触させて触媒成分を得る第3工程と、第3工程で得られた前記触媒成分を、成形する、又は三次元構造体に担持する第4工程と、を含む。
上記態様に係る排気ガス浄化用触媒は、優れた排気ガスの浄化性能を提供することができる。
また、上記態様に係る排気ガスの浄化方法は、効率的に排気ガスを浄化することができる。
また、上記態様に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法は、優れた排気ガスの浄化性能を有する排気ガス浄化用触媒を提供することができる。
本実施形態に係る排気ガス浄化用触媒の断面模式図である。 触媒A、B、Cの透過電子顕微鏡‐エネルギー分散型蛍光X線分析(TEM−EDX)による測定結果を示す図である。 触媒AからEの触媒回転頻度(TOF)を示す図である。
以下、本実施形態について、図を適宜参照しながら詳細に説明する。
[排気ガス浄化用触媒]
図1は、三次元構造体10に触媒成分Cが担持された本実施形態に係る排気ガス浄化用触媒の断面模式図を示す。本実施形態に係る触媒成分Cは、多孔質体20と、酸化セリウム30と、酸化セリウム30に担持された貴金属40と、を含む。本実施形態に係る触媒成分Cは、三次元構造体10に担持されていることが好ましい。
「三次元構造体」
三次元構造体は、一般的な排気ガス浄化用触媒に使用されるものを用いることができる。三次元構造体はハニカム状の構造を有し、排気ガスを流通させることができる開口を内部に有する構造体が好ましい。
具体的には、三次元構造体として、フロースルー型(オープンフロー型)を使用することができる。フロースルー型の三次元構造体はガス流路がガス導入側からガス排出側まで連通しており、ガスは流路をそのまま通過することができる。
三次元構造体の全長は、特に制限されず、好ましくは10mm以上、1000mm以下、より好ましくは15mm以上、300mm以下、さらに好ましくは20mm以上、150mm以下である。「三次元構造体の全長」とは、排気ガスの流入側から流出側までの三次元構造体の長さである。
三次元構造体の開口部の孔(セル)数は、処理すべき排気ガスの種類、ガス流量、圧力損失、除去効率等を考慮して適当な範囲に設定することができる。例えばセル密度(セル数/単位断面積)は100セル/平方インチ以上、1200セル/平方インチ以下であれば十分に使用可能であり、200セル/平方インチ以上、900セル/平方インチ以下であることが好ましく、400セル/平方インチ以上、700セル/平方インチ以下であることが更に好ましい。前記孔の形状(セル形状)は、六角形、四角形、三角形またはコルゲーション形等とすることができる。
三次元構造体の材料は、一般的な排気ガス浄化用触媒に使用されるものと同様のものでよい。三次元構造体は、金属製、セラミックス製などを用いることができ、好ましくは、コージェライト、ステンレス、炭化ケイ素(SiC)、ムライト、アルミナ(α−アルミナ)、又はシリカであり、より好ましくはコージェライト、ステンレス、又はSiCである。三次元構造体の材料がコージェライト、ステンレス、又はSiCであることにより、耐久性が向上する。
「触媒成分」
触媒成分は、多孔質体、酸化セリウム及び貴金属である。触媒調製の都合、排気ガスの状態等に応じて、触媒成分は、適宜、他の成分を含むことができる。
(多孔質体)
多孔質体は、排気ガス浄化用触媒に通常用いられるものを使用することができる。例えば、γ−アルミナ、δ−アルミナ、η−アルミナ、θ−アルミナ等のアルミナ、ジルコニア、酸化珪素(シリカ)等の単独酸化物、ゼオライト、ジルコニア−アルミナ等の複合酸化物又は混合物、並びにこれらの混合物を用いることができる。好ましくは、多孔質体は、γ−アルミナ、θ−アルミナ、ジルコニア、ゼオライト、ジルコニア−アルミナ、又はランタン−アルミナである。
多孔質体は更にランタン、イットリウム、ネオジム、プラセオジム(以下、「ランタン等」と記載することがある)を含むことができる。多孔質体がランタン等を含むことによって、多孔質体の耐熱性が向上する。特に、ランタン等を含む多孔質体として、ランタンを含むアルミナ(以下、「La含有Al」、「ランタン含有アルミナ」と記載することがある。)が好ましい。多孔質体に含まれるランタン等の比率は、ランタン等の質量と多孔質体の質量との合計を100質量%としたとき、1質量%以上、20質量%以下でよく、好ましくは2質量%以上、10質量%以下である。なお、ランタン等の質量は便宜上、ランタンをLa、イットリウムをY、ネオジムをNd、プラセオジムをPr11に換算した質量を用いて、多孔質体に含まれるランタン等の比率を算出する。
多孔質体のBET(Brunauer−Emmett−Teller)比表面積は、窒素ガスを用いたBET比表面積測定において、30m/g以上、1000m/g以下が好ましく、40m/g以上、500m/g以下がより好ましく、50m/g以上、300m/g以下が更に好ましい。多孔質体が上記範囲のBET比表面積を有することにより、酸化セリウムを分散して担持することができる。その結果、排気ガス浄化用触媒の触媒性能が向上する。
触媒の製造工程におけるスラリーの均一性等を考慮すると、多孔質体の平均粒径は0.5μm以上、150μm以下が好ましく、1μm以上、100μm以下がより好ましく、2μm以上、50μm以下が更に好ましい。ここで、本明細書中、「平均粒径」は、レーザー回折法によって測定されたメジアン径(D50)である。
多孔質体の量は、通常、排気ガス浄化用触媒に用いられる量であればよい。触媒成分が三次元構造体に担持される場合、多孔質体の担持量は、三次元構造体の体積に対して20g/L(「g/L」は、三次元構造体1リットル(L)に対して酸化物、化合物、貴金属などの質量(g)を示す。以下に同じ。)以上、200g/L以下が好ましく、30g/L以上、100g/L以下がより好ましく、40g/L以上、60g/L以下が更に好ましい。この範囲の担持量を採用することによって、酸化セリウム及び貴金属を十分に分散して担持することができ、高い触媒性能を得ることができる。
(酸化セリウム)
酸化セリウム(CeO)は一酸化炭素(CO)の吸着力が強い。その結果、触媒成分が酸化セリウムを含むことによって、貴金属のCOによる被毒を低減することができる。
更に、酸化セリウムは、酸素貯蔵材(OSC;Oxygen Storage Component)の機能を有し、排気ガスが還元雰囲気である場合には酸素を放出し、排気ガスが酸化雰囲気である場合には酸素を吸収する。酸素貯蔵材の機能を有することにより、排気ガスの雰囲気が還元雰囲気及び酸化雰囲気の間を大きく変動した場合でも、排気ガス浄化用触媒は高い触媒性能を示すことができる。
酸化セリウムは、酸化アルミニウム(Al)や酸化ジルコニウム(ZrO)等を更に含むことで、耐熱性が高く比表面積が大きな酸化物と複合酸化物を形成することができる。
酸化セリウムの量は、通常、排気ガス浄化用触媒に用いることができる量であればよい。触媒成分が三次元構造体に担持される場合、酸化セリウムの担持量は、0.1g/L以上、20g/L以下が好ましく、1g/L以上、10g/L以下がより好ましく、2g/L以上、5g/L以下が更に好ましい。この範囲の担持量を採用することによって、被毒成分を十分に吸着することができ、高い触媒性能を得ることができる。
また、多孔質体の量1モルに対する酸化セリウムの量は、0.1モル%以上、10モル%以下が好ましく、1モル%以上、7モル%以下がより好ましく、2モル%以上、5モル%以下が更に好ましい。この範囲の比率を採用することによって、酸化セリウムを十分に分散することができ、高い触媒性能を得ることができる。
(貴金属)
貴金属の酸化数は0以上、2.3以下であり、好ましくは1以上、2.3以下であり、より好ましくは1.5以上、2.2以下であり、最も好ましくは2.0を超え、2.2以下である。貴金属の酸化数が上記範囲であれば、貴金属は、触媒反応に有利な還元状態となる。貴金属が還元状態であることで、貴金属は高い触媒性能を発揮できる。
パラジウムを貴金属の例として、貴金属の酸化数を求める方法を説明する。なお、X線光電子分光(XPS)により得られるデータをピーク分離する際、パラジウムの場合には、酸化数が0、2及び4を用いる。白金の場合は、酸化数が0、2及び4を用いる。ロジウムの場合は、酸化数が0、1、3、4を用いる。
(1)対象となる触媒成分において、XPSを用いて得られるパラジウムの結合エネルギー・ピーク(縦軸は強度、横軸は結合エネルギーで示される結合エネルギーのピーク)の面積を測定する。
(2)次に、(1)で得られたパラジウムの結合エネルギー・ピークの面積を、パラジウム酸化数が0、パラジウム酸化数が2及びパラジウム酸化数が4であるピークの要素に分離し、パラジウム酸化数が0の面積、パラジウム酸化数が2の面積及びパラジウム酸化数が4の面積を得る。ピーク分離は、既存の解析ソフトにより行うことができる。
(3)酸化数毎に、(2)おいて得られた酸化数と酸化数に対応する面積とを乗じて値を得る。
(4)(3)で得られた酸化数毎の値を合計して合計値を得る。
(5)(4)で得られた合計値を、(1)で得られたパラジウムの結合エネルギー・ピークの面積で除して、対象となる触媒成分の酸化数を得る。
貴金属は、通常、排気ガスの浄化に用いられる貴金属であればよく、好ましくは白金(Pt)、パラジウム(Pd)、及びロジウム(Rh)からなる群から選択された一以上である。貴金属は単一で使用してもよいし、複数の貴金属を併用してもよい。浄化する対象により、貴金属を適宜変更して使用できる。例えば、炭化水素(HC)、一酸化炭素(CO)及び窒素酸化物(NOx)を処理するときは白金又はパラジウムとロジウムとを用いることができ、特に、パラジウム及びロジウムが好ましい。また、HC又はCOの処理に対して白金及び/又はパラジウムを用いることができる。本発明の効果を最も発揮する貴金属はパラジウムである。
貴金属の量は、触媒単位体積当たりの排気ガス流量(SV(h−1))や排気ガスの組成等に応じて適宜変更することができる。
酸化セリウムの量1モルに対する貴金属の量は、1モル%以上、40モル%以下であることが好ましく、より好ましくは10モル%以上、30モル%以下であり、更に好ましくは15モル%以上、25モル%以下である。酸化セリウムの量に対する貴金属の量が上記範囲内である場合、被毒の影響を効率的に低減することができる。
多孔質体の量1モルに対する貴金属の量は、0.01モル%以上、10モル%以下であることが好ましく、より好ましくは0.1モル%以上、3モル%以下であり、更に好ましくは0.3モル%以上、1モル%以下である。多孔質体の量に対する貴金属40の量が上記範囲内である場合、貴金属を十分に分散することができ、高い触媒性能を得ることができる。
触媒成分が三次元構造体に担持される場合、貴金属の担持量は、金属換算で、0.01g/L以上、30g/L以下であることが好ましく、0.01g以上、10g以下がより好ましく、0.1g以上、5g以下が更に好ましく、0.2g以上、2g以下が最も好ましい。この範囲の担持量を採用することによって、貴金属の凝集を回避しつつ、十分な浄化性能を得ることができる。貴金属が複数種類の貴金属を含む場合、上記担持量は、各貴金属の担持量を合計した担持量を意味する。
パラジウムの担持量は0.01g/L以上、10g/L以下でよく、好ましくは0.1g/L以上、5g/L以下であり、更に好ましくは0.2g/L以上、2g/L以下である。この範囲の担持量を採用することによって、パラジウムの凝集を回避しつつ、十分な浄化性能を得ることができる。
ロジウムの担持量は0.01g/L以上、10g/L以下でよく、好ましくは0.1g/L以上、5g/L以下である。この範囲の担持量を採用することによって、ロジウムの凝集を回避しつつ、十分な浄化性能を得ることができる。
白金の担持量は0.01g/L以上、10g/L以下でよく、好ましくは0.1g/L以上、5g/L以下である。この範囲の担持量を採用することによって、白金の凝集を回避しつつ、十分な浄化性能を得ることができる。
(他の成分)
触媒成分は、浄化対象に応じて他の成分を含むことができる。例えばNOxを浄化するときはNOxを吸蔵できるゼオライトを含んでもよく、炭化水素(HC)又は一酸化炭素(CO)の酸化性能を向上させるためにペロブスカイトを含んでもよい。
また、触媒成分が三次元構造体から剥離してしまうのを防ぐために、触媒成分は無機バインダー含んでもよい。例えばベーマイト、シリカゲル、ジルコニアゲル等を無機バインダーとして使用することができる。
[排気ガスの浄化方法]
本発明に係る排気ガスの浄化方法は、上記排気ガス浄化用触媒に排気ガスを流す工程を含むものである。
本発明に係る排気ガスの浄化方法は、一般的な排気ガスに対して用いることができるが、所定の排気ガスに対して特に効果的である。所定の排気ガスとは、COを10ppm以上、50000ppm以下含み、炭化水素(HC)を炭素(C1)換算で10ppm以上、50000ppm以下含み、窒素酸化物(NOx)を10ppm以上、50000ppm以下含む排気ガスである。排気ガスに含まれるCOは100ppm以上、10000ppm以下であることが好ましく、1000ppm以上、5000ppm以下であることが更に好ましい。排気ガスに含まれる炭化水素は炭素換算で1000ppm以上、30000ppm以下であることが好ましく、3000ppm以上、20000ppm以下であることが更に好ましい。排気ガスに含まれる窒素酸化物は100ppm以上、10000ppm以下であることが好ましく、300ppm以上、3000ppm以下であることが更に好ましい。
また、対象とする排気ガスの温度は、内燃機関から通常排出されている排気ガスの温度であれば適用することができる。例えば、100℃以上、1000℃以下の排気ガスが触媒に供給されてよく、200℃以上、600℃以下の排気ガスが供給されることが好ましい。このような温度の排気ガスを供給することによって、触媒の熱劣化を抑制しつつ、高効率で排気ガスを浄化することができる。
空間速度(単位時間当たりに排出される排気ガスの体積(m/h)を、排気ガス浄化用触媒の体積(m)で除した値(h−1))は、1000h−1以上、500000h−1以下、好ましくは5000h−1以上、150000h−1以下である。また、線速(単位時間当たりに排出される排気ガスの体積(m/秒)を、排気ガスが通過する排気ガス浄化用触媒の断面積(m)で除した値(m/秒))は、0.1m/秒以上、8.5m/秒以下、好ましくは0.2m/秒以上、4.2m/秒以下である。このような流速で排気ガスが供給されることにより、排気ガスを効率的に浄化することができる。
対象となる排気ガスは、ガソリンエンジン等の内燃機関からの排気ガスであり、特に、効率よく浄化できる排気ガスはガソリンエンジンからの排気ガスである。
[排気ガス浄化用触媒の製造方法]
本実施形態に係る排気ガス浄化用触媒の製造方法は、第1工程、第2工程、及び第3工程を順に行う。一実施形態において、排気ガス浄化用触媒の製造方法は、第3工程の後に第4工程を行う。なお、以下に説明する各工程は、触媒原料、製造装置などに応じて、適宜変更することができる。
(第1工程)
第1工程は、多孔質体と、酸化セリウムとの混合物を得る工程である。
混合物を得る方法は、多孔質体と酸化セリウムとを、乾式又は湿式で混合する方法(混合法)を用いることができる。混合物を得る他の方法として、セリウムを含む溶液を多孔質体に含侵した後、乾燥及び/又は焼成することにより、酸化セリウムを多孔質体に担持する方法(担持法)を用いることができる。多孔質体及び/又は酸化セリウムが大きな粒子であるときは、混合する前に原料となる粒子を一般的に用いられる粉砕方法を用いて混合に適した粒子径とした後に混合することもできる。また、混合物を得た後に、混合物を粉砕する工程を経ることもできる。
乾燥及び焼成は、それぞれ独立に、任意の雰囲気で行われてよい。例えば、大気中、水素等の還元ガスを含む還元雰囲気中、不活性ガス雰囲気中、又は真空中で、乾燥及び焼成することである。乾燥の温度は、0℃以上、200℃以下、好ましくは50℃以上、150℃以下である。焼成の温度は、200℃以上、1000℃以下、好ましくは300℃以上、600℃以下である。
(第2工程)
第2工程は、第1工程で得られた混合物に含まれる酸化セリウムを還元して、還元混合物を得る工程である。
酸化セリウムの還元は還元剤を用いて行うことができる。用いる還元剤の例は、水素ガス(H)などの気体、ヒドラジン、水素化ホウ素ナトリウム(NaBH)などの無機化合物及びアスコルビン酸などの有機酸などである。還元は、固相反応でもよいし、液相反応でもよいし、気相反応でもよいが、液相反応又は気相反応により還元を行うことが好ましい。液相反応又は気相反応を用いることで、酸化セリウムを均一に還元することができるからである。
還元剤として水素ガス(H)を用いる場合、300℃以上、800℃以下で、10分以上、10時間以下で還元を行うことが好ましく、400℃以上、600℃以下で、1時間以上、4時間以下で還元を行うことが更に好ましい。このような条件で還元を行うことにより、他の成分を損傷することなく酸化セリウムを還元することができる。
(第3工程)
第3工程は、第2工程で得られた還元混合物と貴金属イオンとを接触させて触媒成分を得る工程である。触媒成分は、酸化数が0以上、2.3以下である貴金属が担持された酸化セリウムと、多孔質体と、で構成される。還元混合物と貴金属イオンとの接触が有効にできる限り、任意の方法を用いて第3工程を行うことができる。好ましくは、貴金属イオンが含まれる溶液と、第2工程で得られた還元混合物とを接触させることによって第3工程を行えばよい。接触によって、溶液に含まれる貴金属イオンが還元物質(還元された酸化セリウム)により還元され、酸化セリウム上に貴金属が析出する。即ち、貴金属は酸化セリウム上に選択的に担持される。
貴金属が溶解した溶液と還元混合物とを接触させる前に、溶液に不活性ガスを流通させ、溶液中の溶存酸素を除去することが好ましい。溶存酸素を除去することにより、貴金属イオンが還元され易くなる。また、接触は、不活性雰囲気下で行われることが好ましい。不活性雰囲気下で接触させることにより、貴金属イオンが還元され易くなる。不活性ガスとしてはアルゴンや窒素等を用いることができる。
第3工程後、乾燥工程及び焼成工程を行うことができる。乾燥及び焼成は、それぞれ独立に、任意の雰囲気で行うことができる。例えば、大気中、水素等の還元ガスを含む還元雰囲気中、不活性ガス雰囲気中、又は真空中で、乾燥及び焼成が行われてよい。乾燥は0℃から200℃、好ましくは50℃から150℃の温度で行うことができ、焼成は200℃から1000℃、好ましくは300℃から600℃の温度で行うことができる。
(第4工程)
第4工程は、第3工程で得られた触媒成分を用いて、排気カス浄化用触媒を調製する工程である。具体的には、触媒成分を成型し排気ガス浄化用触媒を調製する方法(成型法)や、排気ガス浄化用触媒に一般的に用いられる三次元構造体に触媒成分を担持し排気ガス浄化用触媒を調製する方法(担持法)がある。成型法では、第3工程で得られた触媒成分を粉砕などして所定の粒子径に調整し排気ガス浄化用触媒を得ることができる。担持法では、一般的に排気ガス浄化用触媒の調製に用いられる湿式粉砕により、触媒成分をスラリーとした後、スラリーを三次元構造体に塗布する。排気ガス触媒用触媒の耐久性、耐熱性を考慮すると、調製方法は担持法を用いることが好ましい。
以下、実施例及び比較例を示しつつ本発明を具体的に説明するが、本発明の効果を生じるものであれば、本発明は実施例に限定されるものではない。
<排気ガス浄化用触媒の製造>
[実施例1]
ランタン含有アルミナ(La含有Al;ランタン(La換算)の含有率はLa含有Alの100質量部に対して4質量部であり、BET表面積は146m/g)を20mLのエタノールに分散させ、分散液a1を得た。次に、15mLのエタノールに硝酸セリウムを分散させ、分散液a2を得た。次に、分散液a1と分散液a2を混合し、エバポレーターを用いて室温で溶媒を除去した。得られた粉体を、大気中、500℃で10時間焼成し、酸化セリウムが担持されたランタン含有アルミナA1を得た。
次に、ガラス管にA1を2.0g封入し、水素を10%含むアルゴン(Ar)ガスを100mL/分の速度でガラス管に流しながら、ガラス管を500℃で2時間加熱した。次に、90mL/分の速度でガラス管にArガスを流しながら、室温まで冷却して、還元混合物A2を得た。その後、ガラス管にゴム栓をして密栓し、還元混合物A2をAr雰囲気中に密封した。
40mLの水に硝酸パラジウムを0.0495g溶解させ、硝酸を0.01μg加えた。次に、30分間Arバブリングを行うことでパラジウム溶液a3を得た。Ar雰囲気下で、還元混合物A2とパラジウム溶液a3を混合した後、吸引ろ過で、固液分離した。次いで、吸引ろ過しながらイオン交換水を用いて固体を洗浄した。固体の洗浄は、ろ液のpHが中性になるまで行った。洗浄後の固体を、大気雰囲気下、120℃で10時間乾燥した後、500℃で2時間焼成し、触媒Aを得た。表1に、得られた触媒Aの触媒成分量を示した。
[実施例2]
実施例1において硝酸パラジウム水溶液に硝酸を添加しないことを除き、実施例1と同様の操作を行い、触媒Bを得た。表1に、得られた触媒Bの触媒成分量を示した。
[比較例1]
40mLの水に0.0495gの硝酸パラジウムを溶解させた後、硝酸を0.01μg加えてパラジウム溶液c3を得た。実施例1と同様の操作を行って得られた酸化セリウムが担持されたランタン含有アルミナを2.0g秤量し、パラジウム溶液c3に加えて1時間攪拌した後、吸引ろ過で、固液分離した。次いで、吸引ろ過しながらイオン交換水を用いて固体を洗浄した。固体の洗浄は、ろ液のpHが中性になるまで行った。洗浄後の固体を120℃で10時間乾燥した後、500℃で2時間焼成し、触媒Cを得た。表1に、得られた触媒Cの触媒成分量を示した。
[比較例2]
実施例1と同様の操作を行って得られた酸化セリウムが担持されたランタン含有アルミナを、イオン交換水に分散し、次いで硝酸パラジウム溶液を加えて十分に混合した。更に、大気雰囲気下、120℃で10時間乾燥した後、500℃で2時間焼成し、触媒Dを得た。表1に、得られた触媒Dの触媒成分量を示した。
[比較例3]
実施例1と同じランタン含有Alをイオン交換水に分散し、次いで硝酸パラジウム溶液を加えて十分に混合した。更に、大気雰囲気下、120℃で10時間乾燥した後、大気雰囲気下、500℃で2時間焼成し、触媒Eを得た。表1に、得られた触媒Eの触媒成分量を示した。
各実施例及び比較例で得られた触媒の組成を表1に示す。組成は誘導結合プラズマ発光分析(ICP発光分析)により同定した。表1の質量は、触媒成分50mgに含まれる各成分の質量(mg)を示す。また、モル%は、分母となる化合物1モルに対して、分子となる金属又は化合物のモルを基準とする百分率である。
Figure 2021065818
<排気ガス浄化用触媒の評価>
[X線光電子分光法(XPS)による評価]
XPS測定により、各触媒のパラジウムの3d5/2の結合エネルギーのピークを測定した。XPS測定は、ULVAC−PHI社製 Quantera SXM(X線源:Al Kα)を用いて行った。各触媒を乳鉢にて粉砕し粉状としたものを試料とした。ビーム径は100μm、ビーム出力は25W−15kV、ビーム照射時間は1点あたり200msとした。0−1100eVの範囲で結合エネルギーを測定した。スキャンステップは0.5eVとした。パスエネルギーは280eVであった。測定されたパラジウムの3d5/2の結合エネルギーのピークの値から、パラジウムの酸化数を算出した。XPS測定から求められた各触媒のパラジウムの酸化数を表2に示す。
Figure 2021065818
表2を参照すると、実施例1及び2で製造された触媒A及びBは、パラジウムが還元状態で存在していることが分かる。一方、比較例1から3で製造された触媒C、D、Eは、実施例1及び2と比べて、パラジウムが酸化状態で存在していることが分かる。
[透過電子顕微鏡(TEM)による評価]
実施例1及び2の触媒A及びBと、比較例1の触媒Cについて、透過電子顕微鏡‐エネルギー分散型蛍光X線分析(TEM−EDX)による測定を行い、パラジウム、セリウム、及びアルミニウムが検出される位置を比較した。TEM−EDXによる測定結果を図2に示す。図2を参照すると、触媒A及びBでは、パラジウムとセリウムは同じ位置で検出されており、アルミニウムは異なる位置で検出されている。即ち、触媒A及びBでは、パラジウムは酸化セリウム上に選択的に存在している。一方、比較例の触媒Cでは、パラジウム、セリウム、及びアルミニウムは、それぞれ独立した位置で検出された。即ち、触媒Cでは、パラジウムの位置に特段の規則性は見られない。
<模擬排気ガスの浄化性能の評価>
実施例及び比較例で得られた触媒に、ガソリン車両の排気ガスを模擬した模擬排気ガスを流通させて、触媒の浄化性能を評価した。具体的には、250〜500μmに整粒した触媒50mgを常圧固定床流通式反応器に充填した。5%のOを含むArガスを500℃で15分間、100mL/分の流速で流通させた。その後、5%のHを含むArガスを500℃で15分間、100mL/分の流速で流通させ、前処理を行った。その後、Arガスを流しながら240℃まで降温した。その後、240℃で模擬排気ガスを流通させた。模擬排気ガスは、157mL/分の流速で流通させた。模擬排気ガスの成分は、CO:3600ppm、NO:1370ppm、C:3500ppm、HO:10%、Ar:89.1%とした。
反応器を通過した後のガスの組成を測定し、240℃におけるNOの分解速度(mol/秒)を求めた。240℃における分解速度を、活性点数(mol)で割ることで、触媒回転頻度(Turnover Frequency、TOF)を算出した。触媒活性点1個当たり、COが1分子吸着すると仮定し、触媒の単位質量に対して、CO吸着量を測定することで、触媒の単位質量当たりの触媒活性点を算出することができる。以下に、触媒活性点の算出方法を説明する。まず、実施例及び比較例で調製した各触媒の単位質量毎に、CO吸着量をCOパルス法で測定した。測定結果を表3に示す。次に、得られたCO吸着量(cm)を22.4×10cm(ガス体1モルの体積)で除することで、触媒の単位質量あたりに吸着されたCOの分子数を算出した。1分子のCOが1活性点に吸着するので、算出されたCOの分子数が、触媒の単位質量当たりの触媒活性点となる。
Figure 2021065818
上記に従って算出された、触媒AからEの、NOxについてのTOFを図3に示す。
図3から、パラジウムの還元度合が高い実施例1及び2の触媒は、パラジウムの還元度合が低い比較例1から3の触媒よりも高いTOFを有することが分かる。これは、実施例1及び2の触媒では酸化セリウム上にパラジウムが選択的に担持されているので、パラジウム近傍の被毒成分が酸化セリウムに吸着され、パラジウムの被毒が低減されためであると理解することができる。
C 触媒成分
10 三次元構造体
20 多孔質体
30 酸化セリウム
40 貴金属

Claims (8)

  1. 多孔質体と、酸化セリウムと、前記酸化セリウムに担持された貴金属である触媒成分を含み、
    前記貴金属の酸化数は0以上、2.3以下である、
    排気ガス浄化用触媒。
  2. 前記貴金属の量が、前記酸化セリウムの量1モルに対して1モル%以上、40モル%以下である、請求項1に記載の排気ガス浄化用触媒。
  3. 前記酸化セリウムの量が、前記多孔質体の量1モルに対して0.1モル%以上、10モル%以下である、請求項1又は2に記載の排気ガス浄化用触媒。
  4. 前記多孔質体がLa含有Alを含む、請求項1から3のいずれか一項に記載の排気ガス浄化用触媒。
  5. 前記触媒成分が三次元構造体に担持された、請求項1から4のいずれか一項に記載の排気ガス浄化用触媒。
  6. 請求項1から5のいずれか一項に記載の排気ガス浄化用触媒に排気ガスを流す工程を含む、排気ガスの浄化方法。
  7. 請求項1から4のいずれか一項に記載の排気ガス浄化用触媒の製造方法であって、
    多孔質体と、酸化セリウムとの混合物を得る第1工程と、
    第1工程で得られた前記混合物に含まれる酸化セリウムを還元して還元混合物を得る第2工程と、
    第2工程で得られた前記還元混合物と貴金属イオンとを接触させて触媒成分を得る第3工程と、
    を含む、排気ガス浄化用触媒の製造方法。
  8. 請求項5に記載の排気ガス浄化用触媒の製造方法であって、
    多孔質体と、酸化セリウムとの混合物を得る第1工程と、
    第1工程で得られた前記混合物に含まれる酸化セリウムを還元して還元混合物を得る第2工程と、
    第2工程で得られた前記還元混合物と貴金属イオンとを接触させて触媒成分を得る第3工程と、
    第3工程で得られた前記触媒成分を、成形する、又は三次元構造体に担持する第4工程と、
    を含む、排気ガス浄化用触媒の製造方法。
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