JP2020501474A - 電圧クランプ回路 - Google Patents

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Abstract

一例が、電圧クランプ回路(10)を含む。電圧クランプ回路(10)は、コンパレータループ回路(14)を含む。コンパレータループ回路(14)は、入力ノード(12)において提供される入力電圧をクランピング電圧と比較するように構成されるコンパレータ(16)を含む。また、コンパレータループ回路(14)は、電圧レール及び入力ノード(12)を相互接続するトランジスタネットワーク(18)を含む。コンパレータ(16)は、入力電圧が、対応するクランピング電圧を超えることに応答して、入力電圧をクランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため、トランジスタネットワーク(18)をアクティベートするように構成され得る。

Description

本発明は、概して電子回路に関し、更に特定して言えば、電圧クランプ回路に関連する。
アナログ及びデジタル回路は、しばしば、種々のスイッチング応用例において典型的に用いられる薄い酸化物ゲート材料を用いる電子デバイスにおいて共に実装される。このような応用例の一つは、アナログ入力信号に応答してデジタル信号を生成し得るアナログデジタルコンバータ(ADC)におけるものである。一層小さなサイズで電子デバイスを製造するために薄い酸化物ゲート材料が実装され得るが、このような薄い酸化物デバイスは大きな電圧スイングにより応力を受け得、これは、薄い酸化物デバイスを実装する電子デバイスの信頼性及び寿命の問題につながり得る。その結果、このような薄い酸化物デバイスに提供され得る電圧の振幅をクランプするためにクランプ回路が用いられ得る。その結果、このようなデバイスに提供される電圧の振幅は安全なレベルに制限され得、そのため、デバイスに対する損傷が緩和される。
一つの例が、電圧クランプ回路を含む。電圧クランプ回路はコンパレータループ回路を含む。コンパレータループ回路は、入力ノードにおいて提供される入力電圧をクランピング電圧と比較するように構成されるコンパレータを含む。また、コンパレータループ回路は、電圧レール及び入力ノードを相互接続するトランジスタネットワークを含む。コンパレータは、入力電圧が、対応するクランピング電圧を超えることに応答して、入力電圧がクランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するためにトランジスタネットワークをアクティベートするように構成され得る。
別の例が、電圧クランプ回路を含む。この回路は、入力電圧を低クランピング電圧と比較し、入力電圧が低クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため少なくとも一つの第1のトランジスタをアクティベートするために、入力電圧が低クランピング電圧より小さく低減することに応答して出力をアサートするように構成される、第1のコンパレータを含む第1のコンパレータループ回路を含む。また、この回路は、入力電圧を高クランピング電圧と比較し、入力電圧を高クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため少なくとも一つの第2のトランジスタをアクティベートするために、入力電圧が高クランピング電圧より大きく増大することに応答して出力をアサートするように構成される、第2のコンパレータを含む第2のコンパレータループ回路を含む。
別の例が、アナログデジタルコンバータ(ADC)システムを含む。このシステムは、アナログ電圧入力とADC入力ノードとを相互接続する入力抵抗器、及びADC入力ノードに結合される電圧クランプ回路を含む。電圧クランプ回路は、入力ノードにおいて提供される入力電圧をクランピング電圧と比較するように構成されるコンパレータを含むコンパレータループ回路を含む。また、コンパレータループ回路は、電圧レール及び入力ノードを相互接続するトランジスタネットワークを含む。コンパレータは、入力電圧が、対応するクランピング電圧を超えることに応答して、入力電圧がクランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するためにトランジスタネットワークをアクティベートするように構成され得る。このシステムは、ADC入力ノードに結合され、入力電圧に基づいてデジタル信号を生成するように構成されるADCを更に含む。
電圧クランプ回路の一例を図示する。
電圧クランプ回路の別の例を図示する。
電圧クランプ回路の更に別の例を図示する。
電圧クランプ回路の更に別の例を図示する。
アナログデジタルコンバータシステムの一例を図示する。
この記載において、電圧クランプ回路は、入力電圧を受信し、少なくとも一つのクランピング電圧に対して入力電圧の振幅クランピングを提供するように構成される。電圧クランプ回路は、少なくとも一つのコンパレータループ回路を含む。少なくとも一つのコンパレータループ回路は、入力ノードにおいて提供される入力電圧をそれぞれの少なくとも一つのクランピング電圧と比較するように構成される、一つ又は複数のそれぞれのコンパレータを含む。また、コンパレータループ回路は、入力電圧がそれぞれの少なくとも一つのクランピング電圧の振幅を超えること(例えば、振幅が高クランピング電圧より大きく増大すること又は振幅が低クランピング電圧より小さく減少すること)に応答して、入力電圧が、一つまたは複数のクランピング電圧の一つにほぼ等しくなるように設定するために、トランジスタネットワークをアクティベートするように構成される。一例として、少なくとも一つのコンパレータループ回路は、入力電圧を高クランピング電圧と比較し、入力電圧が高クランピング電圧より大きく増大することに応答して、入力電圧を高クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するように構成される、第1のコンパレータループ回路を含み得、及び、入力電圧を低クランピング電圧と比較し、入力電圧が低クランピング電圧より小さく低減することに応答して、入力電圧が低クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するように構成される、第2のコンパレータループ回路を含み得る。
一例として、一つまたは複数のコンパレータは、トランジスタのセルフバイアス共通ゲート配置として構成され得る。例えば、一つまたは複数のコンパレータは、それぞれの少なくとも一つのコンパレータの出力に対応する共通結合制御端子(例えば、電界効果トランジスタ(FET)のゲート端子)を含む、トランジスタの第1の対を含み得る。出力は、入力電圧の振幅に基づくそれぞれのコンパレータのアクティベーションに応答して、入力ノードを高電圧レール又は低電圧レールのそれぞれに結合するように構成されるコンパレータループ回路に関連付けられるトランジスタネットワークに結合され得る。トランジスタの第1の対は更に、それぞれ、入力ノード、及びそれぞれの少なくとも一つのクランピング電圧の一つに結合される第1の端子を含み得る。一つまたは複数のコンパレータは更に、静的電流源により制御される電流ミラーとして配され、電圧レールに結合されるそれぞれの第1の端子と、トランジスタの第1の対の第2のそれぞれの端子に結合される第2の端子とを更に含む、トランジスタの第2の対を含み得る。そのため、トランジスタのこれらの対は、トランジスタの配置を介する電流フローが、コンパレータループ回路に関連付けられるトランジスタのアクティベーション及びディアクティベーションを制御し得るように、入力電圧及びそれぞれのクランピング電圧のそれぞれの振幅に基づいて電流を導通し得る。従って、コンパレータループ回路に関連付けられるトランジスタネットワークは、ほぼ、一つまたは複数のクランピング電圧のそれぞれの振幅で、入力電圧をクランプするため、入力ノードへ及び入力ノードから電流を提供し得る。
図1は、電圧クランプ回路10の一例を図示する。電圧クランプ回路10は、少なくとも一つのクランピング電圧Vの一つにほぼ等しい振幅で入力ノード12において提供される入力電圧VINをクランプするように構成され得る。一例として、(例えば、ピンに提供される電圧、可変抵抗器、又は種々のその他の方式を介して)一つまたは複数のクランピング電圧Vは、プログラム可能であり得、そのため、応用例毎に変わり得る。例えば、一つまたは複数のクランピング電圧Vは、電圧クランプ回路10が、入力電圧VINの振幅を高クランピング電圧VCHと低クランピング電圧VCLとの間となるように制限するように構成され得るように、高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLを含み得る。一例として、入力電圧VINの振幅を制限することから利点を受け得るアナログデジタルコンバータ(ADC)など、入力ノード12に付加的な回路要素が結合され得る。
電圧クランプ回路10は、高電圧レールVDDと図1の例で接地として示した低電圧レールとの間に示される。電圧クランプ回路10は、コンパレータ16を介して入力電圧VINの振幅をそれぞれの一つまたは複数のクランピング電圧Vと比較するように構成される少なくとも一つのコンパレータループ回路14を含む。入力電圧VINが、それぞれの一つまたは複数のクランピング電圧Vの一つを超える振幅を有することに応答して、一つまたは複数のコンパレータループ回路14のそれぞれは、入力電圧VINをそれぞれのクランピング電圧Vにほぼ等しく設定するため、トランジスタネットワーク18をアクティベートするためにそれぞれのコンパレータ16を介して出力をアクティベートし得る。
一例として、トランジスタネットワーク18は、レール電圧(例えば、高電圧レールVDD又は接地)又はそれぞれのクランピング電圧Vなどに対応して、入力ノード12を電圧源に結合するように構成され得る。その結果、トランジスタネットワーク18は、入力電圧が低クランピング電圧より小さく低減することなどに応答して、電圧(例えば、レール電圧又はそれぞれのクランピング電圧V)から入力ノード12へ電流を提供し得る。同様に、トランジスタネットワーク18は、入力電圧VINがクランピング電圧Vより大きく増大することなどに応答して、入力ノード12から電圧源へ電流を提供し得る。従って、入力電圧VINの振幅は、ほぼ、クランピング電圧V間のそれぞれのクランピング電圧の振幅までクランプされ得る。
図2は、電圧クランプ回路50の別の例を図示する。電圧クランプ回路50は、高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLの一方にほぼ等しい振幅で入力ノード52において提供される入力電圧VINをクランプするように構成され得る。一例として、クランピング電圧VCH及びVCLは各々プログラム可能であり得、そのため、応用例毎に変わり得る。従って、電圧クランプ回路50は、入力電圧VINの振幅を高クランピング電圧VCHと低クランピング電圧VCLとの間となるように制限するように構成され得る。一例として、入力電圧VINの振幅を制限することから利点を受け得るADCなど、付加的な回路要素が入力ノード52に結合され得る。
電圧クランプ回路50は、高電圧レールVDDと、図2の例で接地として示した低電圧レールとの間に示される。電圧クランプ回路50は、第1のコンパレータループ回路54及び第2のコンパレータループ回路56を含む。第1のコンパレータループ回路54はコンパレータ58を含み、コンパレータ58は、反転入力において入力電圧VINを及び非反転入力において低クランピング電圧VCLを受け取り、出力信号CL1を提供する。また、第1のコンパレータループ回路54は、第1のNチャネル電界効果トランジスタ(FET)N(例えば、Nチャネル金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET))を含み、第1のNチャネルFET Nは、コンパレータ58の出力に結合されるゲートを有し、制御ノード60に結合されるドレインを有し、入力ノード52に結合されるソースを有する。第1のコンパレータループ回路54はまた、第1のP−FET(例えば、MOSFET)Pを含み、第1のP−FET Pは、静的バイアス電圧VB1が提供されるゲート、制御ノード60に結合されるドレイン、及び高電圧レールVDDに結合されるソースを有する。また、第1のコンパレータループ回路54は第2のP−FET Pを含み、第2のP−FET Pは、制御ノード60に結合されるゲートを有し、入力ノード52に結合されるドレインを有し、高電圧レールVDDに結合されるソースを有する。N−FET N、P−FET P、及びP−FET Pは、第1のコンパレータループ回路54のトランジスタネットワーク18に対応し得る。一例として、第2のP−FET Pは、N−FET N及びP−FET Pの各々のゲートサイズ(例えば、ゲート幅及び/又はゲート幅対長さ比)より実質的に大きいゲートサイズ(例えば、ゲート幅及び/又はゲート幅対長さ比)を有し得る。
コンパレータ58は、入力電圧VINの振幅を低クランピング電圧VCLと比較するように構成される。定常状態の間、及びそのため、低クランピング電圧VCLより大きい振幅を有する入力電圧VINに基づいて、静的バイアス電圧VB1は、(例えば、線形モードにおけるP−FET Pのオペレーションを提供するため低ゲート・ソース電圧に基づいて)P−FET Pを弱くアクティベートされた状態に保ち、出力信号CL1は論理低状態を有し、そのため、N−FET Nをイナクティブにされた状態に保つ。その結果、制御ノード60は、P−FET Pをアクティベートするために充分な電圧を有する。しかし、低クランピング電圧VCLより小さく低減する振幅を有する入力電圧VINに応答して、コンパレータ58は、N−FET Nをアクティベートするために出力信号CL1をアサートし得る。N−FET Nのアクティベーションに応答して、制御ノード60は、制御ノード60の電圧をほぼ入力電圧の振幅VINまでシンクするためN−FET Nを介して入力ノード52に結合される。従って、電流を高電圧レールVDDから入力ノード52へ提供するため、P−FET Pがアクティベートされる。従って、高電圧レールVDDから入力ノード52への電流フローは、入力電圧VINの振幅を、ほぼ低クランピング電圧VCLの振幅までクランプし得る。従って、入力ノード52、コンパレータ58、及びP−FET Pは、入力電圧が低クランピング電圧より小さいとき、コンパレータ58の出力信号CL1に基づいて入力電圧VINをほぼ低クランピング電圧VCLの振幅に維持するためループ回路として動作し得る。入力電圧VINの振幅が低クランピング電圧VCLから増大することに応答して、コンパレータ58は、N−FET Nをディアクティベートするために出力信号CL1をデアサートし、そのため、P−FET Pをディアクティベートする。従って、第1のコンパレータループ回路54は、低クランピング電圧VCLの振幅で入力電圧VINをクランピングするのをやめるためディアクティベートする。
第2のコンパレータループ回路56は、第1のコンパレータループ回路54に実質的に類似して構成される。図2の例において、第2のコンパレータループ回路56は、反転入力において入力電圧VINを及び非反転入力において高クランピング電圧VCHを受け取るコンパレータ62を含み、これは、出力信号CL2を提供する。第1のコンパレータループ回路56はまた、第1のP−FET Pを含み、第1のP−FET Pは、コンパレータ62の出力に結合されるゲートを有し、制御ノード64に結合されるドレインを有し、入力ノード52に結合されるソースを有する。また、第2のコンパレータループ回路56は第1のN−FET Nを含み、第1のN−FET Nは、静的バイアス電圧VB2が提供されるゲート、制御ノード64に結合されるドレイン、及び低電圧レールに結合されるソースを有する。また、第2のコンパレータループ回路56は第2のN−FET Nを含み、第2のN−FET Nは、制御ノード64に結合されるゲートを有し、入力ノード52に結合されるドレインを有し、低電圧レールに結合されるソースを有する。P−FET N、N−FET N、及びN−FET Nは、第2のコンパレータループ回路56のトランジスタネットワーク18に対応し得る。一例として、第2のN−FET Nは、N−FET N及びP−FET Pの各々のゲートサイズより実質的に大きいゲートサイズを有し得る。
コンパレータ62は、入力電圧VINの振幅を高クランピング電圧VCHと比較するように構成される。定常状態の間、及びそのため、入力電圧VINが高クランピング電圧VCHより小さい振幅を有することに基づいて、静的バイアス電圧VB2は、N−FET Nを弱くアクティベートされた状態に保ち、出力信号CL2は論理低状態を有し、そのため、P−FET Pをイナクティブにされた状態に保つ。その結果、制御ノード64は、N−FET Nをアクティベートするために充分な電圧を有する。しかし、入力電圧VINは高クランピング電圧VCHより大きく増大する振幅を有することに応答して、コンパレータ62は、P−FET Pをアクティベートするために出力信号CL2をアサートし得る。P−FET Pのアクティベーションに応答して、制御ノード64は、入力電圧VINから制御ノード64の電圧をソースするため、P−FET Pを介して入力ノード52に結合される。従って、入力ノード52から低電圧レールへ電流を提供するため、N−FET Nがアクティベートされる。従って、入力ノード52から低電圧レールへの電流フローは、入力電圧VINの振幅をほぼ、高クランピング電圧VCHの振幅までクランプし得る。従って、入力ノード52、コンパレータ62、及びN−FET Nは、入力電圧が低クランピング電圧より大きいとき、コンパレータ62の出力信号CL2に基づいて入力電圧VINをほぼ高クランピング電圧VCHの振幅に維持するため、ループ回路として動作し得る。入力電圧VINの振幅が高クランピング電圧VCHから低減することに応答して、コンパレータ62は、N−FET Nをディアクティベートするために出力信号CL2をデアサートし、そのため、P−FET Pをディアクティベートする。従って、第2のコンパレータループ回路56は、高クランピング電圧VCHの振幅での入力電圧VINのクランピングを中止するためディアクティベートする。
そのため、電圧クランプ回路50は、入力電圧VINを高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLの振幅間に維持するための、入力電圧VINの高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLへのクランピングの有効で効率的な方式を提供し得る。上述したように、高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLはプログラム可能であり得、そのため、ダイオード接続を実装する従来のクランピング回路とは対照的に、入力電圧VINのクランピング振幅の動的な方式での設定を提供し得る。また、第1及び第2のコンパレータループ回路54及び56の配置は、P−FET P及びN−FET Nのみが、大きな電流フローを扱い、電圧クランプ回路10の漏れ電流を実質的に緩和するため非クランピング状態においてほぼゼロの電流を導通することが可能であるように、寸法付けられ構成される。また、電圧クランプ回路50は、電圧クランプ回路50がイナクティブにされるとき(即ち、入力信号INが、高クランピング電圧VCHと低クランピング電圧VCLとの間の振幅を有する)高インピーダンスノードとして示される。従って、電圧クランプ回路50は、ディアクティベートされた状態で入力信号INを歪ませない。
一例として、コンパレータ58及び62は、トランジスタのセルフバイアス共通・ゲート配置として構成され得る。図3は、電圧クランプ回路100の更に別の例を図示する。本明細書に記載するように、電圧クランプ回路100は、図2の例における電圧クランプ回路50に対応し得、そのため、入力ノード102において提供される入力電圧VINを、高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLの一方にほぼ等しい振幅でクランプするように構成され得る。一例として、クランピング電圧VCH及びVCLは各々プログラム可能であり得、そのため、応用例毎に変わり得る。
電圧クランプ回路100は、高電圧レールVDDと、図3の例で接地として示した低電圧レールとの間に示される。電圧クランプ回路100は、第1のコンパレータループ回路104及び第2のコンパレータループ回路106を含む。第1のコンパレータループ回路104は、トランジスタのセルフバイアス共通・ゲート配置として構成されるコンパレータ108を含む。コンパレータ108は、図3の例でN−FET N及びN−FET Nとして示したトランジスタの第1の対を含む。N‐FET N及びNは、N−FET Nのゲートに同様に結合される共通結合されるゲートを含む。従って、N−FET N及びNの共通結合されたゲートは、上に出力信号CL1が提供されるコンパレータ108の出力に対応する。N−FET Nは、入力ノード102に結合されるソースを有し、N−FET Nは、低クランピング電圧VCLに結合されるソースを有する。また、N−FET Nはダイオード接続される。
コンパレータ108はまたトランジスタの第2の対を含み、これは、図3の例でP−FET P及びP−FET Pとして示される共通結合されるゲートを含み、電流ミラーとして配される。図3の例において、P−FET P及びPは、P−FET P及びPの実質的に弱いアクティベーションを提供するため、ゲートから接地へ流れる非常に小さな振幅電流IB1(例えば、約1μA)を提供するように静的電流源110により制御されるゲートを有する。P−FET P及びPは、高電圧レールVDDに結合されるソースを有し、N−FET N及びNのぞれぞれのドレインに結合されるドレインを有する。P−FET P及びPの電流ミラー構成は、それぞれのP−FET P及びPを介する電流フローがほぼ等しくなるように駆動されるようにする。
コンパレータ108は、図2の例において記載されるものに類似して、入力電圧VINの振幅を低クランピング電圧VCLと比較するように動作する。定常状態の間、及びそのため、入力電圧VINが、低クランピング電圧VCLより大きい振幅を有することに基づいて、N−FET Nは、ゲート・ソース電圧より小さなN−FET Nを有する。従って、N−FET Nの比較的小さなゲート・ソース電圧に基づいて比較的小さな振幅を有する電流Iが、高電圧レールVDDから入力ノード102へP−FET P及びN−FET Nを介して流れる。そのため、電流Iは、P−FET P及びPの電流ミラー構成に基づいてP−FET P及びN−FET Nを介して流れ、電流Iにほぼ等しい電流振幅を有する電流Iとしてミラーされる。上述したように、N−FET N及びNの電流ミラー構成は、それぞれのN−FET N及びNを介する電流フローがほぼ等しくなるように駆動されるようにする。そのため、電流Iの比較的小さな振幅に基づいて、N−FET Nのドレイン・ゲート電圧は、電流Iを電流Iの比較的小さな振幅にほぼ等しく維持するため、N−FET Nのゲート・ソース電圧を調節するために減少する。従って、電流Iの及びそのため電流Iの比較的小さな振幅の結果、N−FET Nは、低減されたゲート・ソース電圧を有するように駆動される。従って、N−FET Nのドレイン電圧の振幅の減少は、同様に、N−FET N、N、及びNの全てのゲート電圧の振幅の低減となる。そのため、N−FET Nのゲート電圧は、電流Iの振幅を更に低減し、そのため、同様に電流Iを低減する。その結果、N−FET N、N、及びNのゲート電圧の振幅の継続する低減は、出力信号CL1の論理低状態に対応し、そのため、これは、N−FET Nのディアクティベーションに対応する。従って、第1のコンパレータループ回路104は、定常状態において動作し得、一方、入力電圧VINは、低クランピング電圧より大きい振幅を有する。
入力電圧VINが低クランピング電圧VCLより小さく低減することに応答して、N−FET Nは、N−FET Nより大きなゲート・ソース電圧を有する。従って、P−FET P及びN−FET Nを介して高電圧レールVDDから入力ノード102へ流れる電流Iは、振幅が定常状態に対して増大する。そのため、電流Iは、定常状態に関連して同様に増大された電流振幅を有する電流Iとしてミラーされ、従って、P−FET P及びPの電流ミラー構成に基づいてP−FET P及びN−FET Nを介して流れる。そのため、N−FET Nは、N−FET Nの比較的より大きなゲート・ソース電圧にほぼ等しいゲート・ソース電圧を有するように駆動される。N−FET Nのダイオード接続構成及び一定のソース電圧に基づいて、N−FET Nのゲート・ソース電圧の増大は、N−FET Nのドレイン電圧の振幅の増大、及びそのためN−FET N、N、及びNのゲート電圧の振幅の増加となる。そのため、N−FET Nのゲート電圧は、電流Iの振幅を更に増大させ、そのため、同様に電流Iを増大させる。その結果、N−FET N、N、及びNのゲート電圧の振幅における継続した増大は、出力信号CL1の論理高状態に対応し、そのため、これは、N−FET Nをアクティベートする。従って、N−FET N及びP−FET Pは、そのため、電流フローを入力ノード102に提供するため上述したようにアクティベートし得る。電流I及びI2ほぼ等しく維持するためのP−FET P及びPの電流ミラー構成に基づいて、コンパレータ108は、入力電圧VINを、ほぼ、低クランピング電圧VCLの振幅でクランプするため、それぞれのN−FET N及びNのゲート・ソース電圧をほぼ等しくなるように維持し得る。
第2のコンパレータループ回路106は、トランジスタのセルフバイアス共通・ゲート配置として構成されるコンパレータ112を含む。コンパレータ112は、図3の例でP−FET P及びP−FET Pとして示したトランジスタの第1の対を含む。P−FET P及びPは、P−FET Pのゲートに同様に結合される共通結合されるゲートを含む。従って、P−FET P及びPの共通結合されたゲートは、上に出力信号CL2が提供されるコンパレータ112の出力に対応する。P−FET Pは、入力ノード102に結合されるソースを有し、P−FET Pは、高クランピング電圧VCHに結合されるソースを有する。また、P−FET Pはダイオード接続される。
コンパレータ112はトランジスタの第2の対も含み、トランジスタの第2の対は、共通結合されるゲートを含み、そのため電流ミラーとして配されるN−FET N及びN−FET Nとして図3の例で示される。図3の例において、N−FET N及びNは、N−FET N及びNの実質的に弱いアクティベーションを提供するため、高電圧レールVDDからゲートに流れる非常に小さな振幅電流IB2(例えば、約1μA)を提供するため静的電流源114により制御されるゲートを有する。N−FET N及びNは、低電圧レールに結合されるソースを有し、P−FET P及びPのそれぞれのドレインに結合されるドレインを有する。N−FET N及びNの電流ミラー構成は、それぞれのN−FET N及びNを介する電流フローがほぼ等しくなるように駆動される。
コンパレータ112は、入力電圧VINの振幅を高クランピング電圧VCHと比較するため、図2の例において記載されるものに類似して動作する。定常状態の間、及びそのため、高クランピング電圧VCHより小さい振幅を有する入力電圧VINに基づいて、P−FET Pは、P−FET Pより小さなゲート・ソース電圧を有する。従って、P−FET Pの比較的小さなゲート・ソース電圧に基づいて、比較的小さな振幅を有する電流Iが、入力ノード102から低電圧レールへN−FET N及びP−FET Pを介して流れる。そのため、電流Iは、N−FET N及びNの電流ミラー構成に基づいてN−FET N及びP−FET Pを介して流れ、電流Iの振幅にほぼ等しい電流を有する電流Iとしてミラーされる。上述したように、N−FET N及びNの電流ミラー構成は、それぞれのP−FET P及びPを介する電流フローがほぼ等しくなるよう駆動されるようにされる。そのため、電流Iの比較的小さな振幅に基づいて、P−FET Pのドレイン・ゲート電圧は、電流Iが電流Iの比較的小さな振幅にほぼ等しくなるように維持するためP−FET Pのゲート・ソース電圧を調節するために増大される。従って、電流Iの、またそのため電流Iの比較的小さな振幅の結果、P−FET Pは、増大されたゲート・ソース電圧を有するように駆動される。従って、P−FET Pのドレイン電圧の振幅の増大は、同様に、P−FET P、P、及びPの全てのゲート電圧の振幅の増大となる。そのため、P−FET Pのゲート電圧は、電流Iの振幅を更に低減し、そのため、同様に電流Iを低減する。その結果、P−FET P、P、及びPのゲート電圧の振幅における継続した増大は、出力信号CL2の論理高状態に対応し、そのため、P−FET Pのディアクティベーションに対応する。従って、第2のコンパレータループ回路106は定常状態において動作し得、一方、入力電圧VINは、高クランピング電圧VCHより小さい振幅を有する。
入力電圧VINが高クランピング電圧VCHより大きく増大することに応答して、P−FET Pは、P−FET Pより大きなゲート・ソース電圧を有する。従って、入力ノード102から低電圧レールにN−FET N及びP−FET Pを介して流れる電流Iは、定常状態に対して振幅が増大する。そのため、電流Iは、定常状態に対して同様に増大された電流振幅を有し、従って、N−FET N及びNの電流ミラー構成に基づいてN−FET N及びP−FET Pを介して流れる電流Iとしてミラーされる。P−FET Pのダイオード接続構成及び一定のソース電圧に基づいて、P−FET Pのゲート・ソース電圧の減少は、P−FET Pのドレイン電圧の振幅の減少、及びそのためP−FETP、P、及びPのゲート電圧の振幅の低減となる。そのため、P−FET Pのゲート電圧は電流Iの振幅を更に増大させ、そのため、同様に電流Iを増大させる。その結果、P−FET P、P、及びPのゲート電圧の振幅の継続した低減は、出力信号CL2の論理低状態に対応し、そのため、P−FET Pをアクティベートする。従って、N−FET N及びP−FET Pは、そのため、上述したように入力ノード102からの電流フローを提供するためアクティベートし得る。電流I及びIがほぼ等しくなるように維持するためのN−FET N及びNの電流ミラー構成に基づいて、コンパレータ112は、入力電圧VINを、ほぼ、高クランピング電圧VCHの振幅においてクランプするため、それぞれのP−FET P及びPのゲート・ソース電圧をほぼ等しくなるように維持し得る。
コンパレータ108及び112がトランジスタのセルフバイアス共通・ゲート配置として配されることに基づいて、電圧クランプ回路100は、従来の電圧クランプ回路に対して一層効率的な電圧クランプ回路であり得る。例えば、自己バイアスアーキテクチャは、薄い酸化物デバイスにおける入力電圧VINの急速な電圧クランピングを促進するため、低電圧環境における電圧クランプ回路100のオペレーションを促進し得る。また、自己バイアスアーキテクチャは、それぞれ、N−FET N及びP−FET Pを介する実質的にゼロ非線形の電流フローを提供するため、非クランピング状態の間、N−FET N及びP−FET Pがディアクティベートされることも提供する。また、それぞれ、P−FET P及びP及びN−FET N及びNに対する静的バイアス電流IB1及びIB2の利用は、入力電圧VINに対するクランピングの実質的に最小オーバーシュートを有する実質的に一層速いクランピングを提供する。従って、電圧クランプ回路100は、ダイオードベースのクランピングを実装するものなどの従来のクランピング回路に対して著しい利点を提供し得る。
図4は、電圧クランプ回路150の更に別の例を図示する。電圧クランプ回路150は、入力ノード152において提供される入力電圧VINを、高クランピング電圧VCH及び低クランピング電圧VCLの一方にほぼ等しい振幅でクランプするように構成され得る。電圧クランプ回路150は、それぞれ、図2及び図3の例における電圧クランプ回路50及び100に類似して構成され得る。
電圧クランプ回路150は、高電圧レールVDD(例えば、約1.8ボルト)と、図4の例で接地として示した低電圧レールとの間に示される。電圧クランプ回路150は第1の電圧生成器154を含み、第1の電圧生成器154は、低電圧レールに結合され、高電圧レールVDDなどに基づいて、低クランピング電圧VCL(例えば、約0.55ボルト)を生成するように構成される。電圧クランプ回路150はまた第2の電圧生成器156を含み、第2の電圧生成器156は、高電圧レールVDDに結合され、高電圧レールVDDなどに基づいて、低クランピング電圧VCH(例えば、約1.55ボルト)を生成するように構成される。従って、例えば、電圧クランプ回路150は、デュアル電源を含む種々のサブミクロンCMOS技術の任意のものにおいて実装され得る。
電圧クランプ回路150は、第1のコンパレータループ回路158及び第2のコンパレータループ回路160を含む。第1のコンパレータループ回路158は、反転入力において入力電圧VINを及び非反転入力において低クランピング電圧VCLを受け取るコンパレータ162を含み、出力信号CL1を提供する。第1のコンパレータループ回路158はまた、第1のN−FET(例えば、MOSFET)Nを含み、第1のN−FET Nは、コンパレータ162の出力に結合されるゲートを有し、制御ノード164に結合されるドレインを有し、入力ノード152に結合されるソースを有する。第1のコンパレータループ回路158はまた、第1のP−FET(例えば、MOSFET)Pを含み、第1のP−FET Pは、静的バイアス電圧VB1が提供されるゲート、制御ノード164に結合されるドレイン、及び第2の電圧生成器156、及び従って、高クランピング電圧VCHに結合されるソースを有する。また、第1のコンパレータループ回路158は第2のP−FET Pを含み、第2のP−FET Pは、制御ノード164に結合されるゲートを有し、入力ノード152に結合されるドレインを有し、並びに、第2の電圧生成器156、及び従って、高クランピング電圧VCLに結合されるソースを有する。一例として、第2のP−FET P2は、N−FET N及びP−FET Pの各々のゲートサイズより実質的に大きいゲートサイズを有し得る。
コンパレータ162は、入力電圧VINの振幅を低クランピング電圧VCLと比較するように構成される。定常状態の間、及びそのため、入力電圧VINが低クランピング電圧VCLより大きい振幅を有することに基づいて、静的バイアス電圧VB1は、P−FET Pを弱くアクティベートされた状態に保ち、出力信号CLは論理低状態を有し、そのため、N−FET Nをディアクティベートされた状態に保つ。その結果、制御ノード164は、P−FET Pをアクティベートするために充分な電圧を有する。しかし、入力電圧VINが低クランピング電圧VCLより小さく低減する振幅を有することに応答して、コンパレータ162は、N−FET Nをアクティベートするために出力信号CL1をアサートし得る。N−FET Nのアクティベーションに応答して、制御ノード164の電圧を、ほぼ、入力電圧の振幅VINまでシンクするため、制御ノード164はN−FET Nを介して入力ノード152に結合される。従って、電流を高クランピング電圧VCHから入力ノード152へ提供するため、P−FET Pがアクティベートされる。従って、高クランピング電圧VCHから入力ノード152への電流フローは、入力電圧VINの振幅を、ほぼ、低クランピング電圧VCLの振幅までクランプし得る。従って、入力ノード152、コンパレータ162、及びP−FET Pは、コンパレータ162の出力信号CL1に基づいて、入力電圧VINをほぼ低クランピング電圧VCLの振幅に維持するため、ループ回路として動作し得る。
第2のコンパレータループ回路160は、第1のコンパレータループ回路158に実質的に類似して構成される。図4の例において、第2のコンパレータループ回路160は、反転入力において入力電圧VINを及び非反転入力において高クランピング電圧VCHを受け取るコンパレータ166を含み、出力信号CL2を提供する。第1のコンパレータループ回路160は第1のP−FET Pも含み、第1のP−FET Pは、コンパレータ166の出力に結合されるゲートを有し、制御ノード168に結合されるドレインを有し、及び入力ノード152に結合されるソースを有する。第2のコンパレータループ回路160はまた第1のN−FET Nを含み、第1のN−FET Nは、静的バイアス電圧VB2が提供されるゲート、制御ノード168に結合されるドレイン、並びに、第1の電圧生成器154、及び従って低クランピング電圧VCLに結合されるソースを有する。また、第2のコンパレータループ回路160は第2のN−FET Nを含み、第2のN−FET Nは、制御ノード168に結合されるゲートを有し、入力ノード152に結合されるドレインを有し、並びに、第1の電圧生成器154、及び従って低クランピング電圧VCLに結合されるソースを有する。一例として、第2のN−FET Nは、N−FET N及びP−FET Pの各々のゲートサイズより実質的に大きいゲートサイズを有し得る。
コンパレータ166は、入力電圧VINの振幅を高クランピング電圧VCHと比較するように構成される。定常状態の間、及びそのため、入力電圧VINが高クランピング電圧VCHより小さい振幅を有することに基づいて、静的バイアス電圧VB2は、N−FET Nを弱くアクティベートされた状態に保ち、出力信号CL2は論理低状態を有し、そのため、P−FET Pをディアクティベートされた状態に保つ。その結果、制御ノード168は、N−FET Nをアクティベートするために充分な電圧を有する。しかし、入力電圧VINが高クランピング電圧VCHより大きく増大する振幅を有することに応答して、コンパレータ166は、P−FET Pをアクティベートするために出力信号CL2をアサートし得る。P−FET Pのアクティベーションに応答して、制御ノード168は、入力電圧VINから制御ノード168の電圧をソースするため、P−FET Pを介して入力ノード152に結合される。従って、入力ノード152から低クランピング電圧VCLへ電流を提供するため、N−FET Nがアクティベートされる。従って、入力ノード152から低クランピング電圧VCLへの電流フローは、入力電圧VINの振幅を、ほぼ、高クランピング電圧VCHの振幅までクランプし得る。従って、入力ノード152、コンパレータ166、及びN−FET Nは、コンパレータ166の出力信号CL2に基づいて、入力電圧VINをほぼ高クランピング電圧VCHの振幅に維持するためループ回路として動作し得る。
図5は、ADCシステム200の一例を図示する。ADCシステム200は、アナログ電圧Vをデジタル信号DIGに変換するため、種々の応用例の任意のものにおいて実装され得る。ADCシステム200は、上にアナログ電圧Vが提供される第1のノード202と、図1〜4のそれぞれの例における入力ノード12、52、102、及び152に対応し得る入力ノード204とを分離する抵抗器RINを含む。そのため、入力ノード204は、図1〜4のそれぞれの例における電圧VINに対応し得る電圧VINを有する。従って、入力電圧VINは、ADC206を介してデジタル信号DIGに変換され得る。
ADCシステム200は更に、プログラマブルであるか又はそれぞれの電圧生成器(例えば、図4の例における電圧生成器154及び156)を介して生成されるなどの、高クランピング電圧VCHと低クランピング電圧VCLとの間まで、入力電圧VINをクランプするように構成される電圧クランプ回路208を含み得る。そのため、アナログ電圧VがVMAXの最大振幅及びVMINの最小振幅を有するように提供され得る一方で、電圧クランプ回路208は、入力電圧を高クランピング電圧VCHにほぼ等しい最大振幅を有するように及び高クランピング電圧VCLにほぼ等しい最小振幅を有するようにクランプするように構成され得る。従って、電圧クランプ回路208は、アナログ電圧Vの最大電圧VMAXと最小電圧VMINとの間の電圧スイングに起因するなどの損傷からADC206を実質的に保護し得る。
本発明の特許請求の範囲内で、説明した例示の実施例に改変が成され得、他の実施例が可能である。

Claims (20)

  1. 電圧クランプ回路であって、
    コンパレータループ回路を含み、
    前記コンパレータループ回路が、
    入力ノードにおいて提供される入力電圧をクランピング電圧と比較するように構成されるコンパレータと、
    電圧レール及び前記入力ノードを相互接続するトランジスタネットワークと、
    を含み、
    前記コンパレータが、前記入力電圧が対応するクランピング電圧を超えることに応答して、前記入力電圧を前記クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するために前記トランジスタネットワークをアクティベートするように構成される、
    電圧クランプ回路。
  2. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、少なくとも一つの前記コンパレータの各々が、トランジスタの自己バイアス共通・ゲート配置として構成される、電圧クランプ回路。
  3. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、
    前記コンパレータが、
    前記コンパレータの前記出力に対応する共通結合制御端子を含むトランジスタの第1の対であって、トランジスタの前記第1の対の一方が、前記入力ノードに結合される端子を含み、トランジスタの前記第1の対の他方が、前記クランピング電圧に結合される端子を含む、トランジスタの前記第1の対、及び
    静的電流源により制御される電流ミラーとして配されるトランジスタの第2の対であって、前記第2の対のトランジスタの各々が、前記電圧レールに結合される第1の端子と、トランジスタの前記第1の対の各々の第2のそれぞれの端子に結合される第2の端子とを含む、前記第2の対のトランジスタ、
    を含む、
    電圧クランプ回路。
  4. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、
    前記トランジスタネットワークが、
    前記コンパレータの前記出力によりアクティベートされる第1のトランジスタ、
    前記入力ノード及び前記電圧レールを相互接続し、前記第1のトランジスタにより制御される第2のトランジスタ、
    を含む、
    電圧クランプ回路。
  5. 請求項4に記載の電圧クランプ回路であって、前記トランジスタネットワークが、前記電圧レール及び前記第1のトランジスタに結合される第3のトランジスタを含み、前記第3のトランジスタが、前記第2のトランジスタを制御するため前記第1のトランジスタと協働するように第1のバイアス電圧を介して制御される、電圧クランプ回路。
  6. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、前記クランピング電圧がプログラム可能であり、前記コンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記クランピング電圧を超えることに応答して、前記入力ノードを前記電圧レールに結合するように構成される、電圧クランプ回路。
  7. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、更に、前記電圧レールと前記コンパレータループ回路との間に結合される電圧生成器を含み、前記電圧生成器が、前記クランピング電圧を生成するように構成され、
    前記コンパレータループ回路が、前記コンパレータが、前記入力電圧を前記クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記クランピング電圧を超えることを検出することに基づいて、前記入力ノードを前記電圧生成器の前記クランピング電圧に結合するように構成される、
    電圧クランプ回路。
  8. 請求項1に記載の電圧クランプ回路であって、前記クランピング電圧が、低クランピング電圧及び高クランピング電圧を含み、
    前記コンパレータループ回路が、
    第1のコンパレータループ回路、及び
    第2のコンパレータループ回路、
    を含み、
    前記第1のコンパレータループ回路が、
    前記入力電圧を前記低クランピング電圧と比較し、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して前記第1のコンパレータの出力をアサートするように構成される第1のコンパレータと、
    前記入力ノード及び前記高電圧レールを相互接続し、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して、前記入力電圧を前記低クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記第1のコンパレータが前記第1のトランジスタネットワークをアクティベートするように構成される第1のトランジスタネットワークと、
    を含み、
    前記第2のコンパレータループ回路が、
    前記入力電圧を前記高クランピング電圧と比較し、前記入力電圧が前記高クランピング電圧より大きく増大することに応答して前記第2のコンパレータの出力をアサートするように構成される第2のコンパレータと、
    前記入力ノード及び前記低電圧レールを相互接続し、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より大きく増大することに応答して、前記入力電圧が前記高クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため、前記第1のコンパレータが前記第1のトランジスタネットワークをアクティベートするように構成される第2のトランジスタネットワークと、
    を含む、
    電圧クランプ回路。
  9. 請求項1の前記電圧クランプ回路を含むアナログデジタルコンバータ(ADC)システムであって、前記ADCシステムが更に、
    アナログ電圧入力と前記入力ノードとの間に接続される入力抵抗器であって、前記入力電圧が、前記アナログ電圧入力において提供されるアナログ電圧に基づいて前記入力ノードにおいて生成される、前記入力抵抗器、及び
    前記入力ノードに結合され、前記入力電圧に基づいてデジタル信号を生成するように構成されるADC、
    を含む、電圧クランプ回路。
  10. 電圧クランプ回路であって、
    入力電圧を低クランピング電圧と比較するように、及び、前記入力電圧を前記低クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するために、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して第1のトランジスタネットワークをアクティベートするために出力をアサートするように構成される第1のコンパレータを含む第1のコンパレータループ回路、及び
    前記入力電圧を高クランピング電圧と比較するように、及び、前記入力電圧を前記高クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するために、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より大きく増大することに応答してをアクティベートするために第2のトランジスタネットワーク出力をアサートするように構成される第2のコンパレータを含む第2のコンパレータループ回路、
    を含む、電圧クランプ回路。
  11. 請求項10に記載の電圧クランプ回路であって、前記第1のコンパレータ及び前記第2のコンパレータの各々が、トランジスタの自己バイアス共通・ゲート配置として構成される、電圧クランプ回路。
  12. 請求項10に記載の電圧クランプ回路であって、
    前記第1のトランジスタネットワークが第1のトランジスタ配置を含み、前記第1のトランジスタ配置が、前記第1のコンパレータによりアクティベートされ、前記入力ノード及び高電圧レールを相互接続する第2のトランジスタを制御するように構成され、
    前記第2のトランジスタネットワークが第3のトランジスタを含み、前記第3のトランジスタが、前記第2のコンパレータによりアクティベートされ、前記入力ノード及び低電圧レールを相互接続する第4のトランジスタを制御するように構成される、
    電圧クランプ回路。
  13. 請求項12に記載の電圧クランプ回路であって、
    前記第2のトランジスタが更に、前記高電圧レールに結合されて第1のバイアス電圧を介して制御される、第5のトランジスタにより制御され、
    前記第4のトランジスタが更に、前記低電圧レールに結合されて第2のバイアス電圧を介して制御される、第6のトランジスタにより制御される、
    電圧クランプ回路。
  14. 請求項10に記載の電圧クランプ回路であって、
    前記高及び低クランピング電圧の各々がプログラム可能であり、
    前記第1のコンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記低クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して前記入力ノードを高電圧レールに結合するように構成され、
    前記第2のコンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記高クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より大きく増大することに応答して前記入力ノードを低電圧レールに結合するように構成される、
    電圧クランプ回路。
  15. 請求項10に記載の電圧クランプ回路であって、更に、
    低電圧レールに結合され、前記低クランピング電圧を生成するように構成される第1の電圧生成器、及び
    高電圧レールに結合され、前記高クランピング電圧を生成するように構成される第2の電圧生成器、
    を含み、
    前記第1のコンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記低クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して前記入力ノードを前記第2の電圧生成器に結合するように構成され、
    前記第2のコンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記高クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より大きく増大することに応答して前記入力ノードを前記第1の電圧生成器に結合するように構成される、
    電圧クランプ回路。
  16. 請求項11に記載の前記電圧クランプ回路を含むアナログデジタルコンバータ(ADC)システムであって、前記ADCシステムが更に、
    アナログ電圧入力及び前記入力ノードを相互接続する入力抵抗器であって、前記入力電圧が、前記アナログ電圧入力において提供されるアナログ電圧に基づいて生成される、前記入力抵抗器、及び
    前記入力ノードに結合され、前記入力電圧に基づいてデジタル信号を生成するように構成されるADC、
    を含む、ADCシステム。
  17. アナログデジタルコンバータ(ADC)回路システムであって、
    アナログ電圧入力とADC入力ノードとの間に接続される入力抵抗器、
    前記ADC入力ノードに結合され、コンパレータループ回路を含む電圧クランプ回路であって、前記コンパレータループ回路が、
    入力ノードにおいて提供される入力電圧をクランピング電圧と比較するように構成されるコンパレータと、
    電圧レール及び前記入力ノードを相互接続するトランジスタネットワークであって、前記コンパレータが、前記入力電圧が対応するクランピング電圧を超えることに応答して、前記入力電圧を前記クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するために前記トランジスタネットワークをアクティベートするように構成される、前記トランジスタネットワークと、
    を含む、前記コンパレータループ回路、及び
    前記ADC入力ノードに結合され、前記入力電圧に基づいてデジタル信号を生成するように構成されるADC、
    を含む、ADC回路システム。
  18. 請求項17に記載のADC回路システムであって、前記トランジスタネットワークが第1のトランジスタを含み、前記第1のトランジスタが、前記コンパレータによりアクティベートされ、前記入力ノード及び前記電圧レールを相互接続する第2のトランジスタを制御するように構成される、ADC回路システム。
  19. 請求項17に記載のADC回路システムであって、
    前記電圧レールに結合され、前記クランピング電圧を生成するように構成される電圧生成器を更に含み、
    前記コンパレータループ回路が、前記入力電圧を前記クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため、前記入力電圧が前記クランピング電圧を超えることに応答して前記入力ノードを前記電圧生成器に結合するように構成される、
    ADC回路システム。
  20. 請求項17に記載のADC回路システムであって、
    前記クランピング電圧が、低クランピング電圧及び高クランピング電圧を含み、
    前記コンパレータループ回路が、第1のコンパレータループ回路、及び第2のコンパレータループ回路を含み、
    前記第1のコンパレータループ回路が、
    前記入力電圧を前記低クランピング電圧と比較し、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して前記第1のコンパレータの出力をアサートするように構成される、第1のコンパレータと、
    前記入力ノード及び前記高電圧レールを相互接続し、前記入力電圧が前記低クランピング電圧より小さく低減することに応答して、前記入力電圧を前記低クランピング電圧にほぼ等しくなるよう設定するため前記第1のコンパレータが前記第1のトランジスタネットワークをアクティベートするように構成される、第1のトランジスタネットワークと、
    を含み、
    前記第2のコンパレータループ回路が、
    前記入力電圧を前記高クランピング電圧と比較し、前記入力電圧が前記高クランピング電圧より大きく増大することに応答して前記第2のコンパレータの出力をアサートするように構成される、第2のコンパレータと、
    前記入力ノード及び前記低電圧レールを相互接続し、前記入力電圧が前記高クランピング電圧より大きく増大することに応答して、前記入力電圧が前記高クランピング電圧にほぼ等しくなるように設定するため前記第1のコンパレータが前記第1のトランジスタネットワークをアクティベートするように構成される、第2のトランジスタネットワークと、
    を含む、
    ADC回路システム。
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