JP2020181897A - 半導体ウェーハの分析方法、半導体ウェーハ製造工程評価方法および半導体ウェーハの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
以上に鑑み本発明者は更に鋭意検討を重ねた結果、本発明の一態様にかかる半導体ウェーハの分析方法を完成させた。
半導体ウェーハの表面を観察して、この表面上の分析対象の異物を決定すること、
上記異物の近傍にマーキングを形成すること、
上記マーキングの形成後に半導体ウェーハから上記分析対象の異物および上記マーキングを含む試料片を切り出すこと、ならびに、
マーキング検出用顕微鏡を搭載したAFM−IR装置により、上記試料片を分析すること、
を含み、
上記試料片の分析は、
上記マーキング検出用顕微鏡により上記マーキングを検出することによって、上記試料片の上記分析対象の異物の位置を特定し、特定された位置に存在する上記分析対象の異物のIRスペクトルを取得することを含む、半導体ウェーハの分析方法(以下、単に「分析方法」とも記載する。)、
に関する。
評価対象の半導体ウェーハ製造工程において製造された半導体ウェーハを、上記分析方法によって分析すること、および、
上記分析の結果に基づき、上記評価対象の半導体ウェーハ製造工程に起因する半導体ウェーハの表面への異物の付着に関する評価を行うこと、
を含む、半導体ウェーハ製造工程の評価方法(以下、「製造工程評価方法」とも記載する。)、
に関する。
半導体ウェーハ製造工程を、上記製造工程評価方法によって評価すること、
上記評価の結果に基づき、異物付着低減処理の要否を判定すること、および、
上記判定の結果、異物付着低減処理が不要と判断された場合、異物付着低減処理なしで上記半導体ウェーハ製造工程において半導体ウェーハを製造し、異物付着低減処理を要すると判断された場合、上記半導体ウェーハ製造工程において、異物付着低減処理を行った後に半導体ウェーハを製造すること、
を含む、半導体ウェーハの製造方法(以下、単に「製造方法」とも記載する。)、
に関する。
本発明の一態様は、半導体ウェーハの表面を観察して、この表面上の分析対象の異物を決定すること、上記異物の近傍にマーキングを形成すること、上記マーキングの形成後に半導体ウェーハから上記分析対象の異物および上記マーキングを含む試料片を切り出すこと、ならびに、マーキング検出用顕微鏡を搭載したAFM−IR装置により、上記試料片を分析することを含む、半導体ウェーハの分析方法に関する。上記分析方法において、上記試料片の分析は、上記マーキング検出用顕微鏡により上記マーキングを検出することによって、上記試料片の上記分析対象の異物の位置を特定し、特定された位置に存在する上記分析対象の異物のIRスペクトルを取得することを含む。
以下、上記分析方法について、更に詳細に説明する。
上記分析方法の分析対象の半導体ウェーハとしては、シリコンウェーハ等の半導体ウェーハとして公知の各種ウェーハを挙げることができる。本発明および本明細書において、シリコンウェーハとは、シリコン単結晶ウェーハ(ベアウェーハ;p型でもn型でもよい)およびベアウェーハ上に一層以上の層を有するウェーハが包含される。上記の一層以上の層の具体例としては、エピタキシャル層、酸化膜等を挙げることができる。分析対象の異物が付着している表面とは、分析対象の半導体ウェーハの最表面であり、ベアウェーハ上に一層以上の層が形成されている場合には、半導体ウェーハの最表層の表面である。上記半導体ウェーハの直径は、例えば、200mm〜450mmの範囲であることができるが、この範囲に限定されるものではない。
半導体ウェーハの表面には、半導体ウェーハの製造工程での汚染により異物が付着し得る。そのような異物は、一般にパーティクルと呼ばれ、有機物を含むものもあり、無機物を含むものもある。AFM−IR装置によれば、有機物であっても無機物であってもIRスペクトルにより成分分析を行うことが可能である。
先に記載したように、AFM−IR装置には半導体ウェーハをウェーハ形状のまま導入することは困難である。そこで、半導体ウェーハ表面に付着した異物を分析するために、半導体ウェーハから分析対象の異物が付着した部分を含む試料片を切り出し、この試料片をAFM−IR装置に導入する。上記半導体ウェーハの分析方法では、AFM−IR装置へ導入される試料片を半導体ウェーハから切り出す前に、半導体ウェーハの表面を観察して分析対象の異物を決定したうえで、この異物の近傍にマーキングを形成する。これにより、AFM−IR装置への導入のために半導体ウェーハから試料片を切り出した後にも、マーキングに基づき、試料片上で分析対象の異物の位置を特定することができる。
上記分析方法では、半導体ウェーハの表面上の分析対象の異物を決定した後、半導体ウェーハ表面の分析対象の異物の近傍にマーキングを形成する。マーキングの形成は、公知の方法で行うことができる。マーキングと分析対象の異物との距離は、例えば10μm以上100μm未満であることができる。この距離とは、マーキングの末端と異物の末端との間の距離をいうものとする。
上記分析方法では、分析対象の異物の決定およびマーキングの形成は、半導体ウェーハ上で行われる。即ち、半導体ウェーハからAFM−IR装置に導入可能な大きさの試料片を切り出す工程は、マーキングの形成後に行われる。試料片の切り出しは、切り出しの容易性の観点からは、劈開により行うことが好ましい。ただし公知の切断装置を使用して半導体ウェーハの任意の部分から試料片を切り出すことも可能である。試料片の形状はAFM−IR装置に導入可能な形状であればよく、特に限定されるものではない。
半導体ウェーハから切り出された試料片上には、分析対象の異物とマーキングが含まれる。上記分析方法では、この試料片を分析するための装置として、マーキング検出用顕微鏡を搭載したAFM−IR装置を使用する。かかる装置は、公知の構成のAFM−IR装置にマーキング検出用顕微鏡を組み込むことにより作製することができる。マーキング検出用顕微鏡としては、試料片上のマーキングを検出可能な顕微鏡であれば使用可能である。そのような顕微鏡としては、例えば暗視野顕微鏡を挙げることができる。暗視野顕微鏡とは、暗視野照明の光学顕微鏡であり、例えば局所酸化膜として形成されたマーキングは、暗視野顕微鏡により他の部分より明るい部分として検出され得る。また、マーキング検出用顕微鏡としては、共焦点レーザー顕微鏡、微分干渉顕微鏡等を挙げることもできる。
本発明の一態様は、評価対象の半導体ウェーハ製造工程において製造された半導体ウェーハを、上記分析方法によって分析すること、および、上記分析の結果に基づき、上記評価対象の半導体ウェーハ製造工程に起因する半導体ウェーハの表面への異物の付着に関する評価を行うことを含む半導体ウェーハ製造工程の評価方法に関する。
本発明の一態様は、半導体ウェーハ製造工程を、上記製造工程評価方法によって評価すること、上記評価の結果に基づき、異物付着低減処理の要否を判定すること、および、上記判定の結果、異物付着低減処理が不要と判断された場合、異物付着低減処理なしで上記半導体ウェーハ製造工程において半導体ウェーハを製造し、異物付着低減処理を要すると判断された場合、上記半導体ウェーハ製造工程において、異物付着低減処理を行った後に半導体ウェーハを製造することを含む半導体ウェーハの製造方法に関する。
微小な分析対象試料として、市販の2つの標準粒子(ポリスチレン粒子およびシリカ粒子;いずれも直径20〜30nmの球状粒子)をシリコンウェーハ表面上に並べて付着させた。これら粒子を付着させたシリコンウェーハ表面を光散乱式表面検査装置により分析し、ポリスチレン標準粒子およびシリカ標準粒子をそれぞれLPDとして検出することにより、各粒子のシリコンウェーハ表面上での位置(X座標およびY座標)を特定した(位置情報の取得)。
次いで、AFMを使用して陽極酸化法によって半導体ウェーハ表面の上記粒子の近傍にマーキングを形成した。マーキングは、4本の線状の局所酸化膜が中央部で交差するように形成した。各局所酸化膜の長さは約70μm、幅は約1μmであった。マーキングは、半導体ウェーハ表面にポリスチレン粒子とシリカ粒子が付着した箇所を挟むように2箇所形成した。ポリスチレン粒子側に形成したマーキングとポリスチレン粒子との距離、シリカ粒子側に形成したマーキングとシリカ粒子との距離は、それぞれ10μm程度であった。
上記のようにマーキングを形成した半導体ウェーハを幅が約15mm、長さが約15mm程度の四角形のチップサイズに劈開し、上記粒子およびマーキングを含む試料片を得た。
市販のAFM−IR装置にマーキング検出用顕微鏡として暗視野顕微鏡を搭載させて上記試料片を分析するためのAFM−IR装置とした。
このAFM−IR装置に上記試料片を導入し、暗視野顕微鏡により試料片上のマーキングを検出した。検出されたマーキングの顕微鏡像を図1に示す。
次に、検出されたマーキングの周囲でAFMのラインスキャンを行い、付着している粒子の位置を特定した。図2に、AFMラインスキャン像(左)およびラインプロファイル(右)を示す。なお図2中のAFMラインスキャン像に記されている2箇所の四角プロットは、ラインスキャンの始点および終点を示し、実線はラインスキャンした領域を示し、符号Aはポリスチレン粒子の中心位置、符号Bはシリカ粒子の中心位置を示している。
次に、ラインスキャンにより特定された各粒子の中心位置に先端径が50nmのAFMプローブ先端を移動させてIR測定を行った。これにより、ポリスチレン粒子およびシリカ粒子について、それぞれIRスペクトルが取得された。取得されたIRスペクトルを図3に示す。図3中、図2中のAの位置(即ちポリスチレン粒子)について取得されたIRスペクトル(図3中の上方のIRスペクトル)では、波数1490cm−1および1450nm−1付近にポリスチレンに特徴的なピークが観察された。また、図3中、図2のBの位置(即ちシリカ粒子)について取得されたIRスペクトル(図3中の下方のIRスペクトル)では、波数1000〜1100−1付近にシリカに特徴的なブロードなピークが観察された。なお図3中、「a.u.」は、任意単位(arbitrary unit)を示す。
Claims (12)
- 半導体ウェーハの表面を観察して該表面上の分析対象の異物を決定すること、
前記異物の近傍にマーキングを形成すること、
前記マーキングの形成後に半導体ウェーハから前記分析対象の異物および前記マーキングを含む試料片を切り出すこと、ならびに、
マーキング検出用顕微鏡を搭載したAFM−IR装置により、前記試料片を分析すること、
を含み、
前記試料片の分析は、
前記マーキング検出用顕微鏡により前記マーキングを検出することによって、前記試料片の前記分析対象の異物の位置を特定し、特定された位置に存在する前記分析対象の異物のIRスペクトルを取得することを含む、半導体ウェーハの分析方法。 - 前記マーキングの形成を、前記半導体ウェーハの表面に局所的に酸化膜を形成することにより行う、請求項1に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記マーキング検出用顕微鏡は、暗視野顕微鏡である、請求項1または2に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記異物のIRスペクトルに基づき、前記分析対象の異物の構成成分を同定することを含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記試料片の切り出しを、前記半導体ウェーハを劈開して行う、請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記分析対象の異物のサイズは、100nm未満である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記半導体ウェーハの表面の観察を、光散乱式表面検査装置により行う、請求項1〜6のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記光散乱式表面検査装置による半導体ウェーハの表面の観察において、前記分析対象の異物の前記半導体ウェーハの表面上での位置情報を取得することを更に含む、請求項7に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記分析対象の異物は、有機物を含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 前記分析対象の異物は、無機物を含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法。
- 評価対象の半導体ウェーハ製造工程において製造された半導体ウェーハを、請求項1〜10のいずれか1項に記載の半導体ウェーハの分析方法によって分析すること、および、
前記分析の結果に基づき、前記評価対象の半導体ウェーハ製造工程に起因する半導体ウェーハの表面への異物の付着に関する評価を行うこと、
を含む、半導体ウェーハ製造工程の評価方法。 - 半導体ウェーハ製造工程を、請求項11に記載の半導体ウェーハ製造工程の評価方法によって評価すること、
前記評価の結果に基づき、異物付着低減処理の要否を判定すること、および、
前記判定の結果、異物付着低減処理が不要と判断された場合、異物付着低減処理なしで前記半導体ウェーハ製造工程において半導体ウェーハを製造し、異物付着低減処理を要すると判断された場合、前記半導体ウェーハ製造工程において、異物付着低減処理を行った後に半導体ウェーハを製造すること、
を含む、半導体ウェーハの製造方法。
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