JP2020150247A - セラミックス回路複合構造およびその製造方法 - Google Patents
セラミックス回路複合構造およびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020150247A JP2020150247A JP2019165485A JP2019165485A JP2020150247A JP 2020150247 A JP2020150247 A JP 2020150247A JP 2019165485 A JP2019165485 A JP 2019165485A JP 2019165485 A JP2019165485 A JP 2019165485A JP 2020150247 A JP2020150247 A JP 2020150247A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- ceramic
- curved surface
- composite structure
- plasma control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 231
- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims abstract description 103
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 238000010276 construction Methods 0.000 title abstract 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 53
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 49
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 43
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 230000001788 irregular Effects 0.000 claims description 23
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 21
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 13
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 12
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 12
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 9
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 claims description 9
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 7
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 7
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 5
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 claims 2
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 claims 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 12
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 17
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 10
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 5
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 201000001880 Sexual dysfunction Diseases 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000005469 granulation Methods 0.000 description 1
- 230000003179 granulation Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229920006015 heat resistant resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000011268 mixed slurry Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
- H01L21/6833—Details of electrostatic chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68785—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by the mechanical construction of the susceptor, stage or support
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0284—Details of three-dimensional rigid printed circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0014—Shaping of the substrate, e.g. by moulding
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4626—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
- H05K3/4629—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
Description
図1は本発明のセラミックス回路複合構造100の凹曲面回路を示す断面図である。図2は本発明のセラミックス回路複合構造100の凸曲面回路を示す断面図である。図3は本発明のセラミックス回路複合構造100の不規則曲面回路を示す断面図である。
図4〜図6は本発明のセラミックス回路複合構造200の第二実施形態を示す断面図である。セラミックス回路複合構造200はプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路24を備え、それぞれ凹曲面回路(配線幅は同じでも異なっても良い)、凸曲面回路(配線幅は同じでも異なっても良い)及び不規則曲面回路(配線幅は同じでも異なっても良い)を有する。
図7〜図9は本発明のセラミックス回路複合構造300の第三実施形態を示す断面図である。セラミックス回路複合構造300は静電回路35を有し、それぞれ凹曲面加熱回路、凸曲面加熱回路及び不規則曲面加熱回路を有する。
図10〜図12は本発明のセラミックス回路複合構造400の第四実施形態を示す断面図である。セラミックス回路複合構造400はプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路44及び静電回路45を有し、それぞれ凹曲面加熱回路、凸曲面加熱回路及び不規則曲面加熱回路を有する。
図13は本発明のセラミックス回路複合構造500の第五実施形態を示す断面図である。
セラミックス回路複合構造の製造方法は、次の工程を含む。
ここで提供するセラミックス回路複合構造の製造方法は、次の工程を含む。
11 セラミックス板
111 凹型ステージ
12 曲面回路
13 電力供給ユニット
16 セラミック管
161 金属電極
200 セラミックス回路複合構造
21 セラミックス板
211 凹型ステージ
22 曲面回路
23 電力供給ユニット
24 プラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路
26 セラミック管
261 金属電極
300 セラミックス回路複合構造
31 セラミックス板
311 凹型ステージ
32 曲面回路
33 電力供給ユニット
35 曲面回路
36 セラミック管
361 金属電極
400 セラミックス回路複合構造
41 セラミックス板
411 凹型ステージ
42 曲面回路
43 電力供給ユニット
44 プラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路
45 曲面回路
46 セラミック管
461 金属電極
500 セラミックス回路複合構造
51 セラミックス板
52 曲面回路
53 電力供給ユニット
P 積載物
Claims (18)
- セラミックス板と、
前記セラミックス板に埋設される曲面回路と、
前記曲面回路と電気的に接続される電力供給ユニットとを備えることを特徴とするセラミックス回路複合構造。 - 前記セラミックス板は凹型ステージを備えることを特徴とする請求項1に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記曲面回路は、凹曲面加熱回路、凸曲面加熱回路または不規則曲面加熱回路であることを特徴とする請求項1に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記曲面回路は、凹曲面静電回路、凸曲面静電回路または不規則曲面静電回路であることを特徴とする請求項1に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス回路複合構造はさらに、前記セラミックス板に埋設されるプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路を備え、前記プラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路は前記曲面回路の上方に設置されることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス回路複合構造はさらに、前記セラミックス板に埋設される静電回路を備え、前記静電回路は前記曲面回路の上に位置することを特徴とする請求項3に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス回路複合構造はさらに、前記セラミックス板に埋設され、前記静電回路の上に位置するプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路を備えることを特徴とする請求項6に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス回路複合構造はさらに、前記セラミックス板と前記電力供給ユニットの間に設置されるセラミック管を備え、前記セラミック管はその中に一対の金属電極を備え、前記曲面回路及び前記電力供給ユニットと電気的に接続されることを特徴とする請求項5に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス回路複合構造はさらに、前記セラミックス板と前記電力供給ユニットの間に設置されるセラミック管を備え、前記セラミック管はその中に一対の金属電極を備え、
前記曲面回路、前記静電回路及び前記プラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路及び前記電力供給ユニットと電気的に接続されることを特徴とする請求項6または7に記載のセラミックス回路複合構造。 - 前記セラミックス板の材料は、窒化アルミニウム、酸化イットリウム及びカーボンの組み合わせ、窒化アルミニウム及び酸化マグネシウムの組み合わせ、窒化ケイ素、炭化ケイ素、樹脂、半導体材料及び絶縁材料からなる群から選ばれることを特徴とする請求項5に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記セラミックス板の材料は、窒化アルミニウム、酸化イットリウム及びカーボンの組み合わせ、窒化アルミニウム及び酸化マグネシウムの組み合わせ、窒化ケイ素、炭化ケイ素、樹脂、半導体材料及び絶縁材料からなる群から選ばれることを特徴とする請求項6または7に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記曲面回路の材料は、金属または導電材料であることを特徴とする請求項5に記載のセラミックス回路複合構造。
- 前記金属は、モリブデン、タングステン、ニッケル、チタン及びカーボンの組み合わせから成ることを特徴とする請求項12に記載のセラミックス回路複合構造。
- 請求項1に記載のセラミックス回路複合構造の製造方法であって、
(a)セラミックス粒子から成る成形体を高圧曲面モールドで成型、またはプレス成型後曲面加工を行う工程と、
(b)前記成形体の側面にスクリーン印刷、孔版印刷、インクジェット、既製の回路またはプリントにより1以上の曲面回路を形成する工程と、
(c)前記成形体をプレス成型後、焼結前のセラミックス板を得る工程と、
(d)前記焼結前のセラミックス板を脱脂、焼結及び研磨し、前記セラミックス回路複合構造を得る工程と
を含み、前記焼結は、普通焼結、高圧焼結または油圧焼結であることを特徴とするセラミックス回路複合構造の製造方法。 - 前記(b)はさらに、1以上の前記曲面回路上にプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路を設置する工程を含むことを特徴とする請求項14に記載の製造方法。
- 前記製造方法はさらに、
(e)セラミック管を前記セラミックス回路複合構造と接着した後、一対の金属電極を前記セラミック管の中に設置し、前記セラミックス回路複合構造と共に焼結し結合する工程
を含むことを特徴とする請求項14または15に記載の製造方法。 - 請求項1に記載のセラミックス回路複合構造の製造方法であって、
(a)セラミックス粒子から成る成形体をグリーン加工する工程と、
(b)前記成形体の側面にスクリーン印刷、孔版印刷、インクジェット、既製の回路またはプリントにより1以上の曲面回路を形成する工程と、
(c)前記成形体をグリーン加工後、冷間等方圧加圧法または水圧プレスし、焼結前のセラミックス板を得る工程と、
(d)前記焼結前のセラミックス板を脱脂、焼結及び研磨し、前記セラミックス回路複合構造を得る工程と
を含み、前記焼結は、普通焼結、高圧焼結または油圧焼結であることを特徴とするセラミックス回路複合構造の製造方法。 - 前記(b)はさらに、1以上の前記曲面回路上にプラズマ制御メッシュまたはプラズマ制御回路を設置する工程を含むことを特徴とする請求項17に記載の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108108306 | 2019-03-12 | ||
TW108108306A TWI811307B (zh) | 2019-03-12 | 2019-03-12 | 陶瓷電路複合結構及其製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020150247A true JP2020150247A (ja) | 2020-09-17 |
Family
ID=72423758
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019165485A Pending JP2020150247A (ja) | 2019-03-12 | 2019-09-11 | セラミックス回路複合構造およびその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11462430B2 (ja) |
JP (1) | JP2020150247A (ja) |
TW (1) | TWI811307B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113939904A (zh) * | 2020-01-15 | 2022-01-14 | 日本特殊陶业株式会社 | 保持装置 |
JP7414747B2 (ja) * | 2021-01-20 | 2024-01-16 | 日本碍子株式会社 | ウエハ載置台及びその製造方法 |
TW202326927A (zh) * | 2021-10-15 | 2023-07-01 | 日商東京威力科創股份有限公司 | 基板處理裝置 |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06302678A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-28 | Tokyo Electron Ltd | 静電チャック |
JP2001217060A (ja) * | 1999-11-19 | 2001-08-10 | Ibiden Co Ltd | セラミックヒータ |
JP2002015840A (ja) * | 2000-06-28 | 2002-01-18 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体加熱用セラミックヒーターおよびその製造方法 |
JP2002134484A (ja) * | 2000-10-19 | 2002-05-10 | Asm Japan Kk | 半導体基板保持装置 |
JP2003017377A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Kyocera Corp | セラミックヒータ |
JP2003017223A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-17 | Onahama Seisakusho:Kk | セラミックヒータ及びセラミックヒータ内臓型静電チャック |
JP2003086663A (ja) * | 2001-09-11 | 2003-03-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被処理物保持体、処理装置および半導体製造装置用セラミックスサセプタ |
JP2004179364A (ja) * | 2002-11-27 | 2004-06-24 | Kyocera Corp | 静電チャック |
JP2005109169A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Ngk Insulators Ltd | 基板加熱装置とその製造方法 |
JP2006005095A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Ngk Insulators Ltd | 基板加熱装置とその製造方法 |
JP2006245610A (ja) * | 2002-03-13 | 2006-09-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用保持体 |
JP2008182129A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用ウェハ保持体、その製造方法およびそれを搭載した半導体製造装置 |
JP2011014641A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Covalent Materials Corp | 静電チャック |
JP2012204447A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Covalent Materials Corp | 静電チャック |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0493089B1 (en) * | 1990-12-25 | 1998-09-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Wafer heating apparatus and method for producing the same |
US6316116B1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-11-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ceramic circuit board and method of manufacturing the same |
WO2002003434A1 (fr) * | 2000-07-03 | 2002-01-10 | Ibiden Co., Ltd. | Radiateur ceramique pour appareil de fabrication ou de test de semi-conducteurs |
JP2004055608A (ja) * | 2002-07-16 | 2004-02-19 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 電極内蔵型サセプタ |
JP2005085657A (ja) * | 2003-09-10 | 2005-03-31 | Ibiden Co Ltd | セラミックヒータ |
US9404176B2 (en) * | 2012-06-05 | 2016-08-02 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with radio frequency (RF) return path |
DE102012212465B3 (de) * | 2012-07-17 | 2013-11-07 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Elektroadhäsionsgreifer zum Halten von Werkstücken |
US9034417B2 (en) * | 2012-08-20 | 2015-05-19 | E I Du Pont De Nemours And Company | Photonic sintering of polymer thick film conductor compositions |
TWI729447B (zh) * | 2016-09-22 | 2021-06-01 | 美商應用材料股份有限公司 | 用於寬範圍溫度控制的加熱器基座組件 |
US11640917B2 (en) * | 2018-12-07 | 2023-05-02 | Applied Materials, Inc. | Ground electrode formed in an electrostatic chuck for a plasma processing chamber |
-
2019
- 2019-03-12 TW TW108108306A patent/TWI811307B/zh active
- 2019-09-11 JP JP2019165485A patent/JP2020150247A/ja active Pending
- 2019-12-05 US US16/704,604 patent/US11462430B2/en active Active
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06302678A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-10-28 | Tokyo Electron Ltd | 静電チャック |
JP2001217060A (ja) * | 1999-11-19 | 2001-08-10 | Ibiden Co Ltd | セラミックヒータ |
JP2002015840A (ja) * | 2000-06-28 | 2002-01-18 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体加熱用セラミックヒーターおよびその製造方法 |
JP2002134484A (ja) * | 2000-10-19 | 2002-05-10 | Asm Japan Kk | 半導体基板保持装置 |
JP2003017377A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Kyocera Corp | セラミックヒータ |
JP2003017223A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-17 | Onahama Seisakusho:Kk | セラミックヒータ及びセラミックヒータ内臓型静電チャック |
JP2003086663A (ja) * | 2001-09-11 | 2003-03-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被処理物保持体、処理装置および半導体製造装置用セラミックスサセプタ |
JP2006245610A (ja) * | 2002-03-13 | 2006-09-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用保持体 |
JP2004179364A (ja) * | 2002-11-27 | 2004-06-24 | Kyocera Corp | 静電チャック |
JP2005109169A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Ngk Insulators Ltd | 基板加熱装置とその製造方法 |
JP2006005095A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Ngk Insulators Ltd | 基板加熱装置とその製造方法 |
JP2008182129A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用ウェハ保持体、その製造方法およびそれを搭載した半導体製造装置 |
JP2011014641A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Covalent Materials Corp | 静電チャック |
JP2012204447A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Covalent Materials Corp | 静電チャック |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20200294837A1 (en) | 2020-09-17 |
TWI811307B (zh) | 2023-08-11 |
TW202034424A (zh) | 2020-09-16 |
US11462430B2 (en) | 2022-10-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9269600B2 (en) | Electrostatic chuck device | |
JP5018244B2 (ja) | 静電チャック | |
US9466518B2 (en) | Electrostatic chuck device | |
JP4744855B2 (ja) | 静電チャック | |
JP2020150247A (ja) | セラミックス回路複合構造およびその製造方法 | |
EP2402298B1 (en) | Method of fabricating a ceramic-metal junction | |
JP6064908B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP6319023B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
KR101531647B1 (ko) | 정전 척 기구의 제조 방법 | |
JP2014138164A (ja) | 静電チャック装置 | |
KR20010076378A (ko) | 반도체 제조 장치용 웨이퍼 지지체와 그 제조 방법 및반도체 제조 장치 | |
KR20030072324A (ko) | 세라믹 히터 및 세라믹 접합체 | |
WO2008018341A1 (fr) | Dispositif de fixation électrostatique | |
JP2008153194A (ja) | 加熱装置 | |
JP5982887B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP2019009270A (ja) | 基板固定装置 | |
JP2016058748A (ja) | 静電チャック装置 | |
WO2001011921A1 (fr) | Dispositif de chauffe en ceramique | |
JP4275682B2 (ja) | 静電チャック | |
JP6424563B2 (ja) | 静電チャック装置およびその製造方法 | |
JP2008177339A (ja) | 静電チャック | |
JP6667386B2 (ja) | 保持装置 | |
JPH10209257A (ja) | 静電チャック装置およびその製造方法 | |
JP2000216232A (ja) | 静電チャックおよびその製造方法 | |
JPH10335439A (ja) | 静電チャック |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200831 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201127 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210118 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210513 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20210513 |
|
C11 | Written invitation by the commissioner to file amendments |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C11 Effective date: 20210525 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20210714 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20210720 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20210820 |
|
C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211 Effective date: 20210824 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20210914 |
|
C13 | Notice of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13 Effective date: 20211102 |
|
C23 | Notice of termination of proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23 Effective date: 20220308 |
|
C03 | Trial/appeal decision taken |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03 Effective date: 20220412 |
|
C30A | Notification sent |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012 Effective date: 20220412 |