JP2020087967A - プリント配線板およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】複数の導体パッドを有するプリント配線板の接続信頼性の向上。【解決手段】実施形態のプリント配線板は、第1絶縁層10と第1導体層11と第1導体パッド111および第2導体パッド112を露出する第1開口部および第2開口部を備える被覆絶縁層12とを含み、第2導体パッド112の径は第1導体パッド111の径よりも小さく、第1導体パッド111上および第2導体パッド112上に被覆絶縁層21の第1面12Fから略等しい高さで突出する第1金属バンプ21および第2金属バンプ22が形成されており、第2金属バンプ22は、第2開口部12bの周囲の被覆絶縁層21を被覆している。【選択図】図1

Description

本発明はプリント配線板およびその製造方法に関する。
特許文献1には、導体パッドを含む導体層と導体パッドを露出する開口を有する被覆絶縁層と開口内に露出した導体パッド上に形成されたバンプとを備えるプリント配線板が開示されている。バンプは、無電解めっき金属層とバリア金属層と半田層とで形成されている。特許文献1では、合金残渣のバンプ周辺での発生を防止するために、無電解めっき金属層と半田層との間にバリア金属層が形成されている。
特開2017−73497号公報
特許文献1のプリント配線板では、無電解めっき金属層およびバリア金属層は、被覆絶縁層の上面に沿って被覆絶縁層の開口より半径方向外側に張り出している張出し部を有している。そして、半田層は、張出し部上にも形成されている。プリント配線板が異なるサイズの導体パッドを含む場合、全ての導体パッドに対して同様の形状をもつバンプを形成することは困難であると考えられる。プリント配線板の接続信頼性が低下するおそれがあると考えられる。
本発明のプリント配線板は、第1絶縁層と、前記第1絶縁層上に形成されている第1導体層と、前記第1絶縁層および前記第1導体層の上に形成されていて、前記第1導体層の一部を露出して前記第1導体層に第1導体パッドを形成する第1開口部と前記第1導体層の一部を露出して前記第1導体層に第2導体パッドを形成する第2開口部とを備える被覆絶縁層とを有している。そして、前記第2導体パッドの径は前記第1導体パッドの径よりも小さく、前記第1導体パッド上および前記第2導体パッド上にそれぞれ、第1金属バンプおよび第2金属バンプが形成されており、前記第1金属バンプおよび前記第2金属バンプは、前記被覆絶縁層の前記第1絶縁層の反対側の第1面から突出しており、前記第1金属バンプの前記第1面からの突出部の高さと前記第2金属バンプの前記第1面からの突出部の高さとは略等しく、前記第2金属バンプは、前記第2開口部の前記第1面上の周囲の前記被覆絶縁層を被覆している。
本発明のプリント配線板の製造方法は、第1絶縁層上に導体層を形成することと、前記第1絶縁層および前記導体層上に被覆絶縁層を形成することと、前記被覆絶縁層に前記被覆絶縁層の表面側から前記被覆絶縁層を貫通する開口部を形成して、前記被覆絶縁層から第1導体パッドと第1導体パッドの径より小さい径を有する第2導体パッドとを露出させることと、前記開口部内を埋めると共に、前記被覆絶縁層の前記表面から積層方向に同じ高さで突出する突出部を形成する金属バンプを、前記第1および第2の導体パッドに対してそれぞれ形成することとを含んでいる。そして、前記金属バンプを形成することは、前記第2導体パッドにおいて、前記開口部の周囲の前記被覆絶縁層の前記表面を前記突出部で被覆することを含んでいる。
本発明の実施形態によれば、複数のサイズの導体パッドを含み、かつ、各サイズの導体パッド上に所定の同じ高さの接続用金属バンプが形成されている、接続信頼性が向上されたプリント配線板を提供することができる。
本発明の一実施形態のプリント配線板の一例の一部を拡大して示す断面図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法の一例を示す図。 本発明の一実施形態のプリント配線板の一適用例を示す断面図。
本発明の一実施形態のプリント配線板が図面を参照しながら説明される。図1には、一実施形態のプリント配線板の一例であるプリント配線板1(以下、プリント配線板は、単に「配線板」とも称される)の一部の断面図が示されている。プリント配線板1は、図1に示されるように、第1絶縁層10と、第1導体層11と、第1絶縁層10および第1導体層11の上に形成されている被覆絶縁層12と、を備えている。被覆絶縁層12は、第1面12Fおよび第1面12Fと反対側の第2面12Sを備え、第2面12Sを第1絶縁層10および第1導体層11に向けて、第1絶縁層10および第1導体層11上に積層されている。被覆絶縁層12には、第1導体層の一部を露出して第1導体層11に第1導体パッド111を形成する第1開口部12aと、第1導体層の一部を露出して第1導体層11に第2導体パッド112を形成する第2開口部12bと、が形成されている。第1導体パッド111上に、第1金属バンプ21が形成されている。そして、第2導体パッド112上に、第2金属バンプ22が形成されている。第1金属バンプ21および第2金属バンプ22は、被覆絶縁層12の第1面12Fから突出している。
第1絶縁層10は、例えばエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの有機樹脂材料によって形成される。有機樹脂材料は、補強材などを含まないエポキシ樹脂などでもよいが、ガラス繊維のような補強材にエポキシまたは他の樹脂組成物を含浸させた材料であってもよい。エポキシなどの樹脂組成物には、シリカなどの無機フィラーが含有されていてもよい。また、第1絶縁層10はセラミックやシリコン、ガラス等の無機材料で形成されていてもよい。第1絶縁層10は、図1に示されるように、単層であってもよく、また、積層構造すなわち2以上の絶縁層とこれらの絶縁層間に挟まれて積層されている1または2以上の導体層とによって構成されているビルドアップ層であってもよい。第1絶縁層10がビルドアップ層である場合、ビルドアップ層の絶縁層は、各絶縁層の両側の導体層同士を接続するビア導体を含んでいてもよい。
第1導体層11には、異なるサイズの複数の導体パッドが被覆絶縁層12の開口部によって形成されている。図1には、被覆絶縁層12の第1開口部12aおよび第2開口部12bによってそれぞれプリント配線板1の第1導体層11に形成されている、第1導体パッド111および第2導体パッド112が示されている。図1に示されるように、第2導体パッド112の径は、第1導体パッド111の径より小さい。第1導体パッド111の径は、例えば、40μm以上であって、80μm以下である。第2導体パッド112の径は、例えば、20μm以上であって、40μm以下である。なお、便宜上「径」という用語が用いられているが、各導体パッドおよび以下に詳述する被覆絶縁層12の開口部の平面形状は円形に限定されない。例えば、各導体パッドは、楕円形や正方形または正方形以外の多角形などの平面形状に形成されていてもよい。これらは任意の平面形状を有し得る。従って、各導体パッドの「径」は、各導体パッドの外周すなわち被覆絶縁層12の各開口部の第1導体層11に接している部分に属する2点間の距離の内、最大の値を意味している。第1導体層11は、導電性金属で形成されていればよく、例えば銅で形成されている。第1導体層11の厚さは、例えば、3μm以上であって、20μm以下である。
被覆絶縁層12は、例えばソルダーレジスト層であってもよい。このようなソルダーレジスト層を構成する材料としては、熱硬化性エポキシ樹脂が例示される。しかしながら、被覆絶縁層12は、絶縁性の樹脂フィルムで形成されていてもよい。被覆絶縁層12の厚さは、例えば20μm程度に形成される。上述のように、被覆絶縁層12には、第1開口部12aおよび第2開口部12bが形成されている。第1開口部12aによって、第1導体層11に第1導体パッド111が形成されている。第2開口部12bによって、第1導体層11に第1導体パッド111の径より小さい径を有する第2導体パッド112が形成されている。第1開口部12aおよび第2開口部12bは、被覆絶縁層12の第1面12Fへのレーザー光の照射により形成されている。開口部の径は、レーザー光の照射側で大きく、レーザー光の照射側と反対側(奥側)では小さくなる。図1に示される例では、図の上側からレーザー光が照射されるため、第1開口部12aおよび第2開口部12bの上側の径(幅)が大きく、下側の径(幅)が小さい。
図1に示されている例では、第1開口部12aによって第1導体層11に形成されている第1導体パッド111上に、バリアメタル層17と無電解めっき層25と電解めっき層21e(図7参照)とがこの順に形成され、リフローされることで第1金属バンプ21が形成されている。第2開口部12bによって第1導体層11に形成されている第2導体パッド112上には、バリアメタル層17と無電解めっき層25と電解めっき層22e(図7参照)とがこの順に形成され、リフローされることで第2金属バンプ22が形成されている。このバリアメタル層17は、第1導体層11とは異種の金属により形成されている。例えばバリアメタル層17の材料としては、ニッケルを主成分とする金属が例示され得る。好ましくは、バリアメタル層17はニッケルめっき層である。バリアメタル層17をこのように形成することにより、第1導体層11を構成する金属(例えば銅)が、その上に形成される第1金属バンプ21または第2金属バンプ22中へと拡散することが防止され得る。第1導体パッド111と第1金属バンプ21との間、および、第2導体パッド112と第2金属バンプ22との間において良好な接合特性が得られると考えられる。
図1に示されるように、第1導体パッド111において、無電解めっき層25は、第1導体パッド111上に形成されているバリアメタル層17の上面と被覆絶縁層12の第1開口部12aの内壁面とに形成されている。また、第2導体パッド112において、無電解めっき層25は、第2導体パッド112上に形成されているバリアメタル層17の上面と被覆絶縁層12の第2開口部12bの内壁面とに形成されている。そして、第1開口部12a内および第2開口部12b内において、電解めっき層21eおよび電解めっき層22eがそれぞれ、無電解めっき層25を給電層とする電解めっき法により、無電解めっき層25上に形成される。無電解めっき層25は、例えば無電解銅めっき層である。無電解めっき層25の厚みは、例えば0.1μm以上であって、3μm以下である。電解めっき層21eおよび電解めっき層22eは、例えば、Sn/Pb、Sn/Sb、Sn/Ag、Sn/Ag/Cu、Sn/Cu、Sn/Zn、Snなどの複数または単一の金属めっき膜である。したがって、バリアメタル層17、無電解めっき層25および電解めっき層21e、ならびに、バリアメタル層17、無電解めっき層25および電解めっき層22eがそれぞれリフロー処理されて形成される第1金属バンプ21および第2金属バンプ22は、スズを主成分とする金属で形成され得る。
第1金属バンプ21および第2金属バンプ22は、被覆絶縁層12の第1面12Fすなわち上面からプリント配線板1の積層方向である上方に突出している。好ましくは、第1金属バンプ21および第2金属バンプ22それぞれの第1面12Fからの突出部の被覆絶縁層12の第1面12Fからの高さ(h1およびh2)は略等しい。プリント配線板1は、各導体パッド上(図1の例では第1導体パッド111および第2導体パッド112)に形成される金属バンプ(図1の例では第1金属バンプ21および第2金属バンプ22)を介して図示しない電子部品と電気的に接続される。それぞれの金属バンプの第1面12Fからの突出部の、第1面12Fからの高さが略同じであることにより、高い接続信頼性が得られると考えられる。図1に示される突出部の高さh1およびh2は適宜選択され得るが、例えば、20〜45μm程度が例示される。第1および第2の金属バンプ21、22の突出部の高さがこの程度の高さであると、プリント配線板1の使用時にヒートサイクルにより絶縁層の膨張および/または収縮が繰り返されても、応力が各金属バンプにより吸収され得る。第1および第2の金属バンプ21、22と電子部品との接続部のみに応力がかかることがなく、プリント配線板1の信頼性が向上すると考えられる。
図1に示されるように、第2金属バンプ22は、被覆絶縁層12の第2開口部12bの第1面12F上の周囲を被覆している。したがって、第2金属バンプ22は、被覆絶縁層12の第1面12Fに沿って第2開口部12bの外周の外側に延びる張出し部22aを有する。張出し部22aの、被覆絶縁層12の第1面12Fに沿った、第2開口部12bの第1面12F側の周囲から張出し部22aの外縁までの長さwは適宜選択され得るが、長さwは、例えば、第2開口部12bの第1面12F側の径に対して、5%以上であって、30%以下程度とすることができる。
一方、第1金属バンプ21は、第2金属バンプ22の張出し部22aのような被覆絶縁層12の第1面12F上の張出し部分を含まない。すなわち、第1金属バンプ21の第1面12Fにおける外周の長さは第1開口部12aの第1面12F側の外周の長さと略等しい。
プリント配線板1では、図1に示されるように、大きな径を有する第1導体パッド111および小さな径を有する第2導体パッド112に対して、それぞれ、張出し部を含まない第1金属バンプ21および張出し部22aを含む第2金属バンプ22を形成することによって、第1金属バンプ21および第2金属バンプ22の第1面12Fからの突出部の高さh1およびh2が等しくされている。図示しない電子部品などがプリント配線板1へ実装される際には、第1金属バンプ21および第2金属バンプ22の突出部を介して、プリント配線板1の導体パッドと電子部品の電極とが接続される。プリント配線板1の導体パッドは、実装される電子部品の電極のサイズや配置に合わせて形成され得る。プリント配線板1では、異なるサイズの複数の導体パッドに、プリント配線板1の最外層である被覆絶縁層12からの高さが略等しい突出部を含む金属バンプがそれぞれ形成されている。したがって、電子部品のプリント配線板1への実装時、電子部品の複数の電極それぞれと、複数の第1および第2の導体パッド111、112のそれぞれとがほぼ均一に近接し得ると考えられる。電子部品の電極と第1および第2の導体パッド111、112との接続不良が生じ難いと考えられる。プリント配線板1と電子部品などとの接続信頼性を向上することができる。
次に、実施形態のプリント配線板の製造方法の一例が、図1に示されるプリント配線板1を例に、図2〜8を参照して具体的に説明される。なお、添付の図面において配線板の各構成要素のサイズや形状の正確な比率を示すことは意図されていない。
まず図2に示されるように、所定の導体パターンを含む第1導体層11が、任意の方法により第1絶縁層10上に形成される。第1絶縁層10がビルドアップ層である場合、第1導体層11はビルトアップ層の最外層の絶縁層上に形成され、第1導体層11はビルトアップ層の最外層の導体層を形成する。第1導体層11の形成には、例えば、セミアディティブ法が用いられてもよい。この場合、第1絶縁層10の表面全面への無電解めっきなどによるシード金属膜(図示せず)の形成後、所定の箇所に開口を有するめっきレジスト(図示せず)が形成され、開口内に電解めっき膜が形成される。電解めっき膜を含む第1導体層11が形成される。その後、めっきレジストが除去され、不要部分のシード金属膜がエッチングで除去される。しかしながら、第1導体層11は、フルアディティブ法やサブトラクティブ法で形成されてもよい。第1導体層11は、信号線や電源等の配線を含んでいてもよい。
次いで、図3に示されるように、第1絶縁層10および第1導体層11の上に被覆絶縁層12が形成される。被覆絶縁層12は、例えば、ソルダーレジストで形成される。この場合、熱硬化性樹脂フィルムからなるソルダーレジストが第1絶縁層10上および第1導体層11上に形成される。このソルダーレジスト層に、ソルダーレジスト層を貫通して第1導体層11に至る開口(第1開口部12aおよび第2開口部12b)が、例えばレーザー光照射の方法を用いて形成される。レーザーによる開口の形成は、被覆絶縁層12の第1面12FからCO2レーザー光、UVレーザー光等を照射することにより行われる。小径孔の開口、例えばプリント配線板1の第2開口部12b(図1参照)を形成するためには、小径孔形成に適しているUVレーザーが使用されてもよい。開口内壁面が第1導体層11の表面に対し直線的に交差する倒立裁頭円錐状の第1開口部12aおよび第2開口部12bが形成される。被覆絶縁層12に形成される開口(第1開口部12aおよび第2開口部12b)により露出される第1導体層11により、第1導体パッド111および第1導体パッド111の径より小さい径を有する第2導体パッド112が形成される。
しかしながら、第1開口部12aおよび第2開口部12bは、開口内壁面が第1導体層11の表面に対し直角に交差する円筒状に形成されてもよい。このような第1開口部12aおよび第2開口部12bは、レーザーを使用する代わりに、例えばドライエッチング、プラズマエッチング、ライトエッチング等のエッチングを行い、その後にアルカリ脱脂処理を施すことで形成され得る。また、第1開口部12aおよび第2開口部12bは、被覆絶縁層12の材料として感光性のソルダーレジストを用いて、フォトリソグラフィ技術を用いてパターニングすることにより形成されてもよい。
次いで、図4に示されるように、第1導体パッド111上、および、第2導体パッド112上に、それぞれバリアメタル層17が形成される。例えば、第1導体パッド111上、および、第2導体パッド112上に、無電解Niめっき膜を形成することにより、バリアメタル層17が形成され得る。無電解Niめっき膜の代わりに、Ni/Pd/Au、Ni/Auなどのめっき膜が形成されてバリアメタル層17が形成されてもよい。バリアメタル層17は、1μm以上であって、3μm以下程度の厚みで形成される。バリアメタル層17が1μm以上程度の厚みを有することにより、第1導体パッド111または第2導体パッド112を構成する金属の、第1金属バンプ21または第2金属バンプ22中への拡散が良好に防止されると考えられる。一方、バリアメタル層17が3μm以上程度の厚みを有していても、導体パッドを構成する金属に対する拡散防止効果は飽和すると考えられる。
次いで、図5に示されるように、バリアメタル層17および被覆絶縁層12の表面上に、例えば化学めっき(無電解めっき)により無電解めっき層25が形成される。この無電解めっき層25の材料としては、銅が好ましいが、これに限定されない。しかしながら、無電解めっき層25の代わりに、スパッタリングや真空蒸着などにより形成された金属膜がバリアメタル層17および被覆絶縁層12の表面上に形成されてもよい。無電解めっき層25は、後述の図7に示される電解めっき層21eおよび電解めっき層22eを電解めっきによって形成するための給電層となるものである。したがって、無電解めっき層25は導電性の金属膜であればよい。無電解めっき層25の厚さは、0.05μm以上であって、1.0μm以下程度である。
次いで、図6に示されるように、被覆絶縁層12の上面である第1面12F(図1参照)上の無電解めっき層25上に、例えば紫外線硬化型の厚膜のめっきレジスト(ドライフィルムレジスト)層19が積層される。めっきレジスト層19には、被覆絶縁層12の第1開口部12aおよび第2開口部12bに対応する部分に、それぞれ、開口19aおよび開口19bが形成される。この開口19aおよび開口19bは、例えば、めっきレジスト層19の露光と現像により形成される。めっきレジスト層19の開口19aの被覆絶縁層12側の径は、被覆絶縁層12の第1開口部12aの第1面12F側の径よりも大きく形成されている。めっきレジスト層19の開口19bの被覆絶縁層12側の径は、被覆絶縁層12の第2開口部12bの第1面12F側の径よりも大きく形成されている。
次いで、図7に示されるように、被覆絶縁層12の第1開口部12a内およびめっきレジスト層19の開口19a内に、無電解めっき層25を給電層とする電解めっき法により、電解めっき層21eが形成される。また、被覆絶縁層12の第2開口部12b内およびめっきレジスト層19の開口19b内に、無電解めっき層25を給電層とする電解めっき法により、電解めっき層22eが形成される。図7に示されているように、開口19aの径は、開口19bの径よりも大きい。したがって、電解めっき層21eの表面中央部は、電解めっき層22eの表面中央部と比べてより凹んでいる。すなわち、電解めっき層21eには電解めっき層22eと比較してより大きなリセスが上面に形成されている。
続いて、図8に示されるように、めっきレジスト層19(図7参照)が除去される。次いで、めっきレジスト層19の除去により露出する無電解めっき層25が、エッチングにより除去される。除去により、被覆絶縁層12の第1面12Fが露出する。電解めっき層21eの一部および電解めっき層22eの一部は被覆絶縁層12の第1面12Fから突出している。
その後、第1導体パッド111上のバリアメタル層17、無電解めっき層25および電解めっき層21e、ならびに、第2導体パッド112上のバリアメタル層17、無電解めっき層25および電解めっき層22eがそれぞれリフロー処理される。電解めっき層21eの表面中央部のリセスは大きいため、リフローで溶融した金属材料が表面張力による引っ張りのモーメントにより丸くなる際に、被覆絶縁層12の第1面12Fから突出している電解めっき層21eの一部のうち被覆絶縁層12の第1開口部12aの第1面12F側の外周より外側に形成されている部分は、電解めっき層21eの中央付近に強く引き寄せられる。したがって、リフローを経て形成される第1金属バンプ21は、被覆絶縁層12の第1面12F上の張出し部分を含まない。また、被覆絶縁層12の第1面12F上で電解めっき層21eに挟まれていた無電解めっき層25は、リフロー処理の際に電解めっき層21e内に拡散する。したがって、リフロー処理後には、無電解めっき層25は、図1に示されるように、第1開口部12aの第1面12F側の外縁の被覆絶縁層12を被覆していない。一方、電解めっき層22eの表面中央部のリセスは小さいため、リフローによる金属材料の溶融によって発生する表面張力によって溶融された金属材料は丸くなるものの、被覆絶縁層12の第1面12Fから突出している電解めっき層22eの一部のうち被覆絶縁層12の第2開口部12bの第1面12F側の外周より外側に形成されている部分の全ては中央部分へと引き寄せられない。したがって、図1に示されているように、リフローを経て形成される第2金属バンプ22は、被覆絶縁層12の第1面12Fに沿って第2開口部12bの外周の外側に延びる張出し部22aを有している。
本実施形態の製造方法によれば、プリント配線板1が異なるサイズの複数の導体パッドを含んでいても、各々の導体パッド上に、同時に、突出部の高さが略等しい金属バンプを形成することができる。接続信頼性の高いプリント配線板1が簡便に製造され得る。
図9は、実施形態の製造方法によって製造されるプリント配線板1の一適用例を示す断面図である。この適用例では、多層配線板2の最外層の内側に形成されている絶縁層を貫通して形成された凹部100a内に、再配線層を有する半導体基板3が埋設されて、配線板100が形成されている。そして、半導体基板3は、配線板100上に実装される2つの電子部品E1およびE2に形成されている微細化された端子サイズおよびピッチに応じたサイズおよびピッチを有する複数の導体パッドを有しており、該導体パッドは、最外層の絶縁層を貫通するビア導体を介して、多層配線板2の第2導体パッド102(図1の例における第2導体パッド112)に接続されている。多層配線板2は、導体パッド102よりも大きなサイズおよびピッチで形成された導体パッド101(図1の例における第1導体パッド111)を有している。実施形態の製造方法によって、多層配線板2の大径の導体パッド101上には、金属バンプ103(図1の例における第1金属バンプ21)が形成されている。小径の導体パッド102上には、被覆絶縁層105上の張出し部104a(図1の例における張出し部22a)を含む金属バンプ104(図1の例における第2金属バンプ22)が形成されている。配線板100は、互いに同じ電子部品(電子部品E1または電子部品E2)に接続される形の異なる二種の導体パッド101、102を備えている。そして、小径の導体パッド102上の金属バンプ104を介して、電子部品E1およびE2の微細な端子同士が接続されている。その結果、高密度な配線が形成されて、基板上(内)に広帯域信号伝送路が構成されている。
先に説明された製造方法の条件や順序などは適宜変更され得る。製造されるプリント配線板の構造に応じて、一部の工程が省略されてもよく、別の工程が追加されてもよい。また、本実施形態の製造方法は、異なるサイズの複数の導体パッドを含む様々な配線板に適用することができる。
1 プリント配線板
100 配線板
10 第1絶縁層
11 第1導体層
111 第1導体パッド
112 第2導体パッド
12 被覆絶縁層
12F 第1面
12a 第1開口部
12b 第2開口部
17 バリアメタル層
19 めっきレジスト層
19a 開口
19b 開口
21 第1金属バンプ
21e 電解めっき層
22 第2金属バンプ
22a 張出し部
22e 電解めっき層
25 無電解めっき層

Claims (10)

  1. 第1絶縁層と、
    前記第1絶縁層上に形成されている第1導体層と、
    前記第1絶縁層および前記第1導体層の上に形成されていて、前記第1導体層の一部を露出して前記第1導体層に第1導体パッドを形成する第1開口部と前記第1導体層の一部を露出して前記第1導体層に第2導体パッドを形成する第2開口部とを備える被覆絶縁層と、
    を有するプリント配線板であって、
    前記第2導体パッドの径は前記第1導体パッドの径よりも小さく、
    前記第1導体パッド上および前記第2導体パッド上にそれぞれ、第1金属バンプおよび第2金属バンプが形成されており、
    前記第1金属バンプおよび前記第2金属バンプは、前記被覆絶縁層の前記第1絶縁層の反対側の第1面から突出しており、
    前記第1金属バンプの前記第1面からの突出部の高さと前記第2金属バンプの前記第1面からの突出部の高さとは略等しく、
    前記第2金属バンプは、前記第2開口部の前記第1面上の周囲の前記被覆絶縁層を被覆している。
  2. 請求項1記載のプリント配線板であって、前記第1金属バンプの前記第1面における外周が前記第1開口部の前記第1面上の外周と略等しい。
  3. 請求項1記載のプリント配線板であって、前記第1導体パッドと前記第1金属バンプとのあいだ、および、前記第2導体パッドと前記第2金属バンプとのあいだに、前記第1導体パッドおよび前記第2導体パッドを形成する金属とは異なる金属を含むバリアメタル層が形成されている。
  4. 請求項3記載のプリント配線板であって、前記第1導体パッドおよび前記第2導体パッドが銅からなり、前記バリアメタル層がニッケルを主成分とする金属からなる。
  5. 請求項1記載のプリント配線板であって、前記第1導体パッドの径が、40μm以上であって、80μm以下であり、および、第2導体パッドの径が、20μm以上であって、40μm以下である。
  6. 第1絶縁層上に導体層を形成することと、
    前記第1絶縁層および前記導体層上に被覆絶縁層を形成することと、
    前記被覆絶縁層に前記被覆絶縁層の表面側から前記被覆絶縁層を貫通する開口部を形成して、前記被覆絶縁層から第1導体パッドと第1導体パッドの径より小さい径を有する第2導体パッドとを露出させることと、
    前記開口部内を埋めると共に、前記被覆絶縁層の前記表面から積層方向に同じ高さで突出する突出部を形成する金属バンプを、前記第1および第2の導体パッドに対してそれぞれ形成することとを含み、
    前記金属バンプを形成することは、前記第2導体パッドにおいて、前記開口部の周囲の前記被覆絶縁層の前記表面を前記突出部で被覆することを含むプリント配線板の製造方法。
  7. 請求項6記載のプリント配線板の製造方法であって、前記金属バンプを形成することは、前記第1導体パッドにおいて、前記突出部の前記表面における外周が前記開口部の前記表面上の外周と略等しくなるように前記突出部を形成することを含んでいる。
  8. 請求項6記載のプリント配線板の製造方法であって、さらに、前記第1導体パッド上および前記第2導体パッド上に、前記導体層の材料とは異なる金属材料でバリアメタル層を形成することを含んでいる。
  9. 請求項8記載のプリント配線板の製造方法であって、前記金属バンプを形成することは、さらに、前記被覆絶縁層上および前記開口部の内壁上および前記バリアメタル層上に無電解めっき膜を形成することと、前記無電解めっき膜を給電層として電解めっき膜を形成することと、リフローすることと、を含んでいる。
  10. 請求項9記載のプリント配線板の製造方法であって、前記電解めっき膜は、スズを主成分とする金属からなる。
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