JP2020074160A - 容量性タッチスクリーンフィルムを試験する方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本願は、米国非仮特許出願第14/134,663号(2013年12月19日出願)の優先権の利益を主張し、上記出願は、その全体が参照により本明細書に引用される。
本発明は、概して、タッチスクリーンセンサ製造に関し、より具体的には、限定ではないが、完成したタッチスクリーンセンサへの統合の前にタッチスクリーン材料の層を試験することに関する。
例えば、本願は以下の項目を提供する。
(項目1)
容量性接合部に結合されている端子を有する容量性タッチスクリーン材料の層を試験するための試験固定具であって、前記試験固定具は、
互に対して移動可能である第1および第2の試験台であって、少なくとも1つの試験台は、少なくとも1つの電気コネクタに結合されているインピーダンス測定回路を含む、試験台と、
少なくとも1つの試験台を他方の試験台に対して移動させ、容量性接合部に結合されている端子を有する容量性タッチスクリーン材料の層を前記第1の試験台と第2の試験台との間に固定し、前記少なくとも1つの電気コネクタを前記端子と電気的に接触させるように構成されている少なくとも1つの締め付けアクチュエータと、
前記層が前記試験台の間に固定されているときに、前記層の少なくとも1つの接合部の電気インピーダンスを試験するように動作可能である前記インピーダンス測定回路と
を備えている、試験固定具。
(項目2)
前記インピーダンス測定回路は、インピーダンスを決定するようにプログラムされているプロセッサを備えている、項目1に記載の試験固定具。
(項目3)
前記層に対して横断または回転自由度のうちの少なくとも1つにおいて少なくとも1つの試験台を移動させるように構成されている少なくとも1つの配向アクチュエータをさらに備えている、項目1に記載の試験固定具。
(項目4)
少なくとも1つの試験台は、前記層が前記試験台の間に固定されているとき、前記層の前記接合部との接触を防止するように構成されているスペーサを備えている、項目1に記載の試験固定具。
(項目5)
前記スペーサは、前記層が前記試験台の間に固定されているとき、電気コネクタを固定し、前記電気コネクタが横方向に変位することを実質的に抑えるように構成されている開口をさらに備えている、項目4に記載の試験固定具。
(項目6)
少なくとも1つの試験台は、伝導性材料を含むスペーサを備え、前記スペーサは、前記層が前記試験台の間に固定されているとき、前記層の前記接合部に接触するように構成されている、項目1に記載の試験固定具。
(項目7)
前記少なくとも1つの電気コネクタは、エラストマー電気コネクタを備えている、項目1に記載の試験固定具。
(項目8)
前記試験固定具に対する前記層の向きを示すデータを捕捉することと、前記少なくとも1つの配向アクチュエータを制御して前記試験固定具を前記層と整列させることとを行うように構成されている少なくとも1つのセンサをさらに備えている、項目3に記載の試験固定具。
(項目9)
前記少なくとも1つのセンサは、カメラを備えている、項目8に記載の試験固定具。
(項目10)
少なくとも1つの試験台の除去および交換を可能にするように構成されている装置と、
前記試験固定具内に前記少なくとも1つの試験台を解放可能に固定するように構成されている少なくとも1つのラッチと
を備えている、項目1に記載の試験固定具。
(項目11)
容量性接合部に結合されている端子を有する容量性タッチスクリーン材料の層を試験する方法であって、
第1の試験台と第2の試験台との間に前記層を固定することであって、少なくとも1つの試験台は、インピーダンス測定回路と電気コネクタとを備え、前記端子は、前記少なくとも1つの試験台の前記電気コネクタと電気的に接触する、ことと、
プロセッサを用いて、前記層の少なくとも1つの接合部の電気インピーダンスを計算することと、
前記試験台から前記層を解放することと
を含む、方法。
(項目12)
前記少なくとも1つの試験台の前記電気コネクタに対する前記層の向きを監視することをさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目13)
前記監視するステップは、
前記層上に配置されている第1の基準の位置を特定することと、
前記試験固定具上に配置されている第2の基準の位置を特定することと、
前記第1の基準と第2の基準との前記位置を比較することと
を含む、項目12に記載の方法。
(項目14)
前記第1の基準と第2の基準との前記位置の比較に基づいて、前記層に対する少なくとも1つの試験台の向きを調節することをさらに含む、項目13に記載の方法。
(項目15)
前記第1の基準と第2の基準との前記位置の比較に基づいて、前記層の前進を制御することをさらに含む、項目13に記載の方法。
(項目16)
前記層の前記少なくとも1つの接合部の前記電気インピーダンスに基づいて、前記層にマークすることをさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目17)
前記層の前記少なくとも1つの接合部の前記電気インピーダンスを示すデータをメモリに記憶することをさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目18)
前記層の前記接合部は、複数の細長い駆動電極と感知電極とによって画定され、
前記計算するステップは、
(a)前記層の第1の駆動電極を選択することと、
(b)交流電流信号を前記第1の駆動電極に印加することと、
(c)第1の感知電極を選択することと、
(d)前記第1の駆動電極と前記第1の感知電極とによって画定される前記接合部に対応する応答信号を測定することと、
(e)前記応答信号に基づいて、前記接合部の電気インピーダンスを計算することと、
(f)各感知電極が選択されるまで、ステップ(c)から(e)を繰り返すことと、
(g)各駆動電極が選択されるまで、ステップ(a)から(f)を繰り返すことと
を含む、項目11に記載の方法。
(項目19)
容量性タッチスクリーン材料の層を試験するための試験台であって、
測定回路およびコネクタであって、前記測定回路は、前記コネクタを介して容量性タッチスクリーン材料の層と電気的に接触するように構成され、前記層は、容量性接合部に結合されている端子を有する、測定回路およびコネクタと、
前記測定回路が前記層と電気的に接触しているとき、前記試験台が前記層の前記容量性接合部に接触しないように、前記試験台と前記層との間に配置されるように構成されているスペーサと
を備えている、試験台。
(項目20)
前記スペーサは、前記コネクタが前記スペーサを通過するように構成されており、前記コネクタは、前記スペーサによって固定され、圧縮下で横方向に変位することを実質的に抑えられている、項目19に記載の試験台。
5002 Zebra High Performance Silver Connector、またはZ−Axis Connector Companyから入手可能なZ−Silver Connector等の接触方向に垂直に向けられた伝導性層と非伝導性層との薄い交互エラストマー層から構築される、エラストマーコネクタを備え得る。そのような電気コネクタは、コネクタとタッチスクリーン回路パターンの任意の端子との間の正しい接触場所を必要とすることなく、タッチスクリーン材料101の層上でインピーダンス測定回路(107、107a、107b1、107b2、または107c)とタッチスクリーン回路パターン(102、102a、102b、102c、または102d)との間に所望の接続を行うことが可能であり、例えば、たとえ電気コネクタがわずかにシフトさせられたとしても、薄い伝導性層が回路パターンの任意の端子を試験台のインピーダンス測定回路の任意の回路と正しく接続するであろう。しかしながら、例えば、試験台がタッチスクリーン材料の層と接触させられるときに、電気コネクタ108fの任意の横方向変位を抑えることによって、電気コネクタが試験状態中に実質的に固定されたままであることを確実にするように、そのようなエラストマー電気コネクタを固定することが有利であり得る。示される実施形態では、インピーダンス測定回路を含む、スペーサ803および接点PCB802は、別個の構成要素であり、整列穴806の中のピンの挿入を通して、互に対して整列させられ得る。ねじおよび/または整列穴806とピンとの間の摩擦嵌めは、スペーサ803および接点PCB802が試験中に互に対して移動しないことを確実にし得る。しかしながら、他の実施形態では、接点PCB802は、接点プリント回路基板802とスペーサ803とが試験中に互に対する整列を維持するように、(例えば、留め具、連結特徴、および/または同等物を通して)本開示に説明される機能性を可能にする任意の方法でスペーサ803に結合され得る。加えて、他の実施形態では、スペーサ803は、試験台の一体部分を形成し得る。例えば、接点PCB802およびスペーサ803は、単一の材料片から構築され得る。
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