JP2020051892A - 計測システムおよび穴付きシャフトの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
ここで、距離を測定するための方法としては、さまざまな方法が活用できるが、ひとつは光が測定対象に当たって返ってくるのに要する時間を測定する方法がある。たとえば、OCT(Optical Coherence Tomography)、FMCW(Frequency Modulated Continuous Wave)といった方法が挙げられる。さらには、TOF(Time Of Flight)法のようなパルスあるいはバースト状の光を照射して、パルスあるいはバーストが受光されるまでの時間を測定する方法、Phase Shift法、光コム測距法のような連続的に強度変調された光を照射して、受光した信号の位相を測定する方法が使用できる。
以下、図2を用いて外周用測定ヘッド106、内周用測定ヘッド107について詳述する。光ファイバ108から伝送された光は光ファイバ端120から空間に射出する。射出した光はレンズ121によって集光光に変換される。この光は反射ミラー122で折り曲げられて、保護窓123を通って被測定物300に照射される。被測定物の表面で反射・散乱された光は元来た光路を保護窓123、反射ミラー122、レンズ121と戻って、光ファイバ端120から光ファイバ108に戻る。上記の説明は、外周用測定ヘッド106の測定光150、及び内周用測定ヘッド107の測定光151において共に同じである。なお、反射ミラー122の導入により、光ファイバ端120から伸びる光ファイバ108は概ねロッド104と平行に伸ばせるため、曲げる必要がない。その結果として外周用測定ヘッド106及び内周用測定ヘッド107の高さを小さくすることができ、結果として穴の径が小さな中空シャフトの測定が可能となる。しかし、反射ミラーは省略し、光ファイバ108を曲げることで、光ファイバ端120から紙面の上下方向に光を照射させてもよい。
測距装置101のハードウェア構成は、上記した距離測定方法の違いに依って、種々の構成が考えられる。なお、図2等のように測定用ヘッド106、107に光ファイバで光を送る場合は、測距装置101がレーザ光源を有する。図示は省略するが、例えばOCTを採用した場合には、レーザ光源からの光をハーフミラーで分割し、一方のレーザ光は、光ファイバ、測定ヘッドを経由して被測定物で反射して、再び測距装置101へ戻ってくる。もう一方のレーザ光は参照ミラーで反射されて、戻ってきたレーザ光と重ね合わされて光検出器により干渉ビート信号を取り出す。AD変換をして、例えばFPGAに実装された論理機能により、ビート信号の周波数より距離を変換して(言い方を変えれば距離を測定して)、距離データを計測制御装置102へ出力する。
計測制御装置102のハードウェア構成は、図示は省略するが、プロセッサ(CPU)、メモリ、補助記憶装置、入力装置、出力装置、及び通信インターフェースを有する汎用的な計算機が用いられる。補助記憶装置に格納されたプログラムの実行により、中空シャフト、または止まり穴付きシャフトの内外周の形状を光学的に測定する処理、及び内周と外周の同軸度の高いシャフトに仕上げるための補正・仕上げ加工用のNCデータを生成する処理のための複数の機能を実現する。なお、プロセッサ(CPU)、メモリが実現する各機能を複数の集積回路に分散した構成や、専用の電子回路(DSP)が各機能を実現する構成も採用され得る。なお、計測制御装置は、NC制御装置220であってもよく、又図1の通り別な装置であってもよい。なお、計測制御装置102は、上記処理を行う一部の処理として、NC制御装置220に主軸202の回転角や回転数の変更指示や、測定器100の位置を変更するための芯押し台204の位置変更指示を、送信してもよい。また、計測制御装置は、これら指示を作業者に送信(例えば表示したり、メール送信することが考えられる)してもよい。
測定開始S501すると、まず断面番号(図1に示す測定位置を表す括弧付き番号を指す。測定したい断面位置のZ座標が断面番号ごとに予め定義されている。断面番号0は特別に測定ヘッド間の距離Sを校正するために、被測定物300の外側の位置が定義されている。)を0にセットする(S502)。
S504において、断面番号を1にセットする。
S507において、計測制御装置102は、所定のサンプルタイムごとに(または、所定の回転角間隔δθごとに)、主軸202の回転角θに対応させて、測距装置101から得られる外周用測定ヘッド106の窓の外側表面から被測定物300の外周面までの距離O、および内周用測定ヘッド107の窓の外側表面から被測定物300の内周面までの距離Iを記録する。
S508において、S507で(θ、O、I)を記録する毎に、主軸202の1回転に相当する(θ、O、I)データが記録されたかを判定する。記録された場合には計測制御装置102は主軸202の回転を終了してS509へ移行し、未だ記録されていなければ再びS507へ移行する。
S510において、断面番号を1増加させて、S505へ移行する。
S512において、測定処理を終了する。
101…測距装置、
102…計測制御装置、
103…測定器ベース、
104…外周用ロッド、
105…内周用ロッド、
106…外周用測定ヘッド、
107…内周用測定ヘッド、
108…光ファイバ、
108’…配線、
109…光ファイバコネクタ、
110…光ファイバ、
120…光ファイバ端、
121…レンズ、
122…反射ミラー、
123…保護窓、
140…高輝度発光素子、
141…投影レンズ、
142…検出レンズ、
143…リニアイメージセンサ、
150…測定光(外周用)、
150’…測定光(外周用、ワークが無い時)、
151…測定光(内周用)、
151’…内径を測定する場合の追加の測定光、
152…散乱光(ワークが無い時:測定ヘッド間距離を測定時)
201…加工装置/測定装置、
202…主軸(旋削軸)、
203…チャック、
204…測定器保持部/工具軸/芯押し台、
205…振れ止め、
206…タッチプローブ、
210…回転軸、
220…NC制御装置、
290…工具、
300…被測定物/ワーク/中空シャフト、
310…チャック面、
311…振れ止め受け面
Claims (8)
- 加工装置の主軸に固定された穴付き被測定物を対象に、距離測定する計測システムであって、前記計測システムは:
測定器と、
計測制御装置と、
前記計測制御装置に接続する測距装置と、
を有し、
前記測定器は:
前記加工装置の工具軸、刃物台、または芯押し台に固定するためのベースと、
前記ベースに接続された第1のロッドと、
前記ベースに接続された第2のロッドと、
前記第1のロッドに固定され、前記測距装置に接続された第1の光ファイバの端から射出する測定光を前記被測定物に照射する、第1の測定ヘッドと、
前記第2のロッドに固定され、前記測距装置に接続された第2の光ファイバの端から射出する測定光を前記被測定物に照射する、第2の測定ヘッドと、
を有し、
前記測距装置は、前記測定光の光源を有し、前記第1の測定ヘッド及び前記第2の測定ヘッドから戻る前記測定光の反射又は散乱光に基づいて、前記被測定物までの距離を測定し、
前記計測制御装置は:
(1)前記測距装置から、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の穴の内周面までの距離Iを取得し、
(2)前記測距装置から、前記第2の測定ヘッドから前記被測定物の外周面までの距離0を取得し、
(3)前記距離I、距離O、及び前記第1の測定ヘッドと前記第2の測定ヘッドとの間隔、に基づいて前記被測定物の肉厚を算出する、
ことを特徴とした計測システム。 - 加工装置の主軸に固定された穴付き被測定物を対象に、距離測定する計測システムであって、前記計測システムは:
測定器と、
計測制御装置と、
前記計測制御装置に接続する測距装置と、
を有し、
前記測定器は:
前記加工装置の工具軸、刃物台、又は芯押し台に固定するためのベースと、
前記ベースに接続された第1のロッドと、
前記ベースに接続された第2のロッドと、
高輝度発光素子と、前記高輝度発光素子が照射した測定光の散乱光を結像するリニアイメージセンサと、を有し、前記第1のロッドに固定された第1の測定ヘッドと、
高輝度発光素子と、前記高輝度発光素子が照射した測定光の散乱光を結像するリニアイメージセンサと、を有し、前記第2のロッドに固定された第2の測定ヘッドと、
を有し、
前記測距装置は、前記リニアイメージセンサに結像した位置情報に基づいて、前記被測定物までの距離を測定し、
前記計測制御装置は:
(1)前記測距装置から、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の穴の内周面までの距離Iを取得し、
(2)前記測距装置から、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の外周面までの距離0を取得し、
(3)前記距離I、距離O、及び前記第1の測定ヘッドと前記第2の測定ヘッドとの間隔、に基づいて前記被測定物の肉厚を算出する、
ことを特徴とした計測システム。 - 請求項1乃至2記載の計測システムであって、
前記第1の測定ヘッドは、測定光を透過する保護窓を有し、
前記第2の測定ヘッドは、測定光を透過する保護窓を有し、
前記距離Iは、前記第1の測定ヘッドの保護窓からの距離であり、
前記距離Oは、前記第2の測定ヘッドの保護窓からの距離であり、
前記計測制御装置は:
(5)前記第1の測定ヘッド又は第2の測定ヘッドのいずれか一方の保護窓から、他方の測定ヘッドの保護窓までの距離を測定した距離を取得し、
(6)前記第1の測定ヘッドと前記第2の測定ヘッドとの間隔を校正する、
ことを特徴とする計測システム。 - 請求項3記載の計測システムであって、
前記測距装置が出力する、前記第1の測定ヘッド及び前記第2の測定ヘッドからの距離は、各測定ヘッドの保護窓の外側表面からの距離である、
ことを特徴とする計測システム。 - 請求項1乃至4記載の計測システムであって、
前記計測制御装置は、
(1)乃至(3)の前に、前記主軸を所定の回転数で回転させる、又は前記主軸を所定の回転角まで回転させるための指示を、前記加工装置のCNCまたは加工装置の作業者に送信し、
(1)乃至(3)の時に、前記加工装置が有する主軸の回転軸に沿って前記工具軸、刃物台、または芯押し台を移動させる指示を、前記加工装置のCNCまたは加工装置の作業者に送信する、
ことを特徴とした計測システム。 - 請求項1乃至5に記載の計測システムであって、
前記第1の測定ヘッドは、前記主軸の回転軸方向と略直角な複数方向に測定光を照射し、
前記測距装置は、各複数方向毎に前記被測定物までの距離を測定し、
前記計測制御装置は、前記各複数方向毎の距離を円にフィッティングさせることで、前記被測定物の穴の内径を計算する、
ことを特徴とした計測システム。 - チャックに固定された穴付き被測定物を対象に、距離測定する計測システムであって、前記計測システムは:
測定器と、
計測制御装置と、
前記計測制御装置に接続する測距装置と、
を有し、
前記測定器は:
移動機構に固定するためのベースと、
前記ベースに接続された第1のロッドと、
前記ベースに接続された第2のロッドと、
前記第1のロッドに固定され、前記測距装置に接続された第1の光ファイバの端から射出する測定光を前記被測定物に照射する、第1の測定ヘッドと、
前記第2のロッドに固定され、前記測距装置に接続された第2の光ファイバの端から射出する測定光を前記被測定物に照射する、第2の測定ヘッドと、
を有し、
前記測距装置は、前記測定光の光源を有し、前記第1の測定ヘッド及び前記第2の測定ヘッドから戻る前記測定光の反射又は散乱光に基づいて、前記被測定物までの距離を測定し、
前記計測制御装置は:
(1)前記測距装置から、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の穴の内周面までの距離Iを取得し、
(2)前記測距装置から、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の外周面までの距離0を取得し、
(3)前記距離I、距離O、及び前記第1の測定ヘッドと前記第2の測定ヘッドとの間隔、に基づいて前記被測定物の肉厚を算出する、
ことを特徴とした計測システム。 - 加工装置を用いた、穴付きシャフトの製造方法であって、
(A)測定光を照射する第1の測定ヘッドと、前記第1の測定ヘッドを固定する第1のロッドと、測定光を照射する第2の測定ヘッドと、前記第2の測定ヘッドを固定する第2のロッドと、を有する測定器を、前記加工装置の工具軸、刃物台、又は芯押し台に固定し、
(B)前記第1の測定ヘッドから戻る前記測定光の反射又は散乱光に基づいて、前記第1の測定ヘッドから前記被測定物の穴の内周面までの距離Iを取得し、
(C)前記第2の測定ヘッドから戻る前記測定光の反射又は散乱光に基づいて、前記第2の測定ヘッドから前記被測定物の外周面までの距離0を取得し、
(D)加工中の前記シャフトの複数の断面位置に於いて、前記距離I、前記距離O、及び前記第1の測定ヘッドと前記第2の測定ヘッドとの間隔、に基づいて内径、外径、及び肉厚、各々の分布を算出し、
(E)複数の断面位置の前記内径、前記外径、及び肉厚分布に基づいて、加工中の前記シャフトの内周の中心軸と外周の中心軸との偏芯量を算出し、
(F)前記偏芯量ずらした方向に、に基づいて、第1の外周面及び第2の外周面を偏芯旋削あるいは偏芯ターンミルで加工し、
(G)前記第1の外周面を、前記加工装置の主軸が備えるチャックで把持し、
(H)前記第2の外周面を、前記加工装置が備える前記振れ止めで受け、
(I)前記主軸の回転軸に沿って、前記シャフトの外周面を加工する、
ことを特徴とした穴付きシャフトの製造方法。
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