JP2019517001A - 膜厚の検出装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 151
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 39
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 63
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 34
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 19
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 8
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 8
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/08—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/003—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring position, not involving coordinate determination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
- G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/14—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
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- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/16—Testing the dimensions
- G07D7/164—Thickness
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
- H01L22/34—Circuits for electrically characterising or monitoring manufacturing processes, e. g. whole test die, wafers filled with test structures, on-board-devices incorporated on each die, process control monitors or pad structures thereof, devices in scribe line
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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Abstract
Description
本願の他の実施例において、図1に示すように、上記共通手段1は、第1の基板10をさらに含み、上記共通電極11は、上記第1の基板10の第1の表面に設けられ、検出手段2は、第2の基板20を含み、第2の基板は、上記共通手段1に対して上記第1方向に間隔を置いて設けられ、上記第1の基板10の第1の表面は、上記第2の基板20の第1の表面に向き、図5に示すように、上記センサチップ21は、上記第2の基板20の第1の表面に設けられ、上記信号処理手段23は、上記第2の基板20の第2の表面に設けられ、かつ上記第1の基板10の第1の表面及び上記第2の基板20の第1の表面は、それぞれ上記第1の平面に平行である。図1に示すように、信号入力部13は、第1の基板10の第1の表面と対向する第2の表面に設けられている。
この装置は、少なくとも1つのセンサチップを有し、かつ各チップは、複数の、第2方向に沿って間隔を置いて設けられる検出電極を含み、検出電極の密度によって検出信号の解像度が決められ、さらに検出精度が決められ、実際の検出過程において、ニーズに応じてセンサチップにおける検出電極の数を調整したり、センサチップの数を調整したりすることができ、これにより、膜厚の検出装置の精度を柔軟に調整することができ、このため、該検出装置は、より高い検出精度を獲得することができる。
Claims (11)
- 少なくとも1つの共通電極を有する共通手段と、検出手段と、を備える膜厚の検出装置であって、前記検出手段は、
少なくとも1つのセンサチップであって、各前記センサチップは、前記共通手段に対して第1方向に対向しかつ間隔を置いて設けられ、前記共通手段と各前記センサチップとの間隔により被検膜の搬送通路が構成され、各前記センサチップは、少なくとも1行の、第2方向に沿って配列される複数の検出電極を含み、前記第2方向が被検膜の移動方向に垂直であり、前記第1方向が第1の平面に垂直であり、前記第1の平面が前記第2方向に平行であり、各前記センサチップは、前記共通電極における電気信号を誘導して出力するセンサチップと、
各前記センサチップに電気的に接続され、各前記センサチップから出力される電気信号を処理して出力する信号処理手段と、
を有することを特徴とする膜厚の検出装置。 - 前記センサチップは、前記センサチップの作動を制御する制御信号を入力し、前記センサチップで検出された電気信号を出力する制御電極をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の膜厚の検出装置。
- 前記検出手段は、前記第2方向に沿って間隔を置いて設けられる複数の前記センサチップを含むことを特徴とする請求項1に記載の膜厚の検出装置。
- 前記信号処理手段は、
各前記センサチップに電気的に接続される信号処理回路と、
前記信号処理回路に電気的に接続され、制御信号を入力し、前記信号処理回路で処理された電気信号を出力する信号インターフェースと、
を含むことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の膜厚の検出装置。 - 前記信号処理回路は、
一端が各前記センサチップに電気的に接続され、前記センサチップから出力される電気信号を増幅する増幅回路と、
一端が前記増幅回路の他端に電気的に接続され、前記増幅回路で増幅された電気信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路と、
前記アナログデジタル変換回路の一端に電気的に接続される入力側を有し、前記デジタル信号を補正して出力する第1の補正回路と、
前記増幅回路の信号制御側、アナログデジタル変換回路の信号制御側及び前記第1の補正回路の信号制御側に電気的に接続され、他端が前記信号インターフェースに電気的に接続される制御回路と、
を含むことを特徴とする請求項4に記載の膜厚の検出装置。 - 前記第1の補正回路は、第1の出力側と第2の出力側とを有し、前記信号処理回路は、
一端が前記第1の出力側に電気的に接続され、前記第1の補正回路から出力されるデジタル信号を蓄積し、遅延デジタル信号を出力するレジスタと、
前記レジスタの他端に電気的に接続される第1の入力側と、前記第2の出力側に電気的に接続される第2の入力側と、前記制御回路に電気的に接続される信号制御側と、を有し、補正されたデジタル信号と前記遅延デジタル信号との差を増幅して出力する遅延差分増幅回路と、
をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の膜厚の検出装置。 - 前記レジスタがシフトレジスタであり、前記シフトレジスタに登録されるデジタル信号の個数は、前記検出手段の前記第2方向に設けられた前記検出電極の総数の整数倍と等しくなく、かつ前記シフトレジスタに登録されるデジタル信号の個数は、前記検出手段の第2方向に設けられた前記検出電極の総数よりも大きいことを特徴とする請求項6に記載の膜厚の検出装置。
- 前記信号処理回路は、
一端が前記遅延差分増幅回路の出力側に電気的に接続され、他端が前記信号インターフェースに電気的に接続される第2の補正回路をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の膜厚の検出装置。 - 前記共通手段は、
電源の電気信号を前記共通電極に入力する信号入力部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の膜厚の検出装置。 - 前記共通手段は、
第1の基板をさらに含み、前記共通電極が前記第1の基板の第1の表面に設けられ、
前記検出手段は、
前記共通手段に対して前記第1方向に間隔を置いて設けられる第2の基板を含み、前記第1の基板の第1の表面は、前記第2の基板の第1の表面に向き、前記センサチップが前記第2の基板の第1の表面に設けられ、前記信号処理手段が前記第2の基板の第2の表面に設けられ、かつ前記第1の基板の第1の表面及び前記第2の基板の第1の表面は、それぞれ前記第1の平面に平行であることを特徴とする請求項9に記載の膜厚の検出装置。 - 第1の収容空間を有し、前記第1の基板をカバーするように設けられ、かつ前記共通手段が前記第1の収容空間内に位置する第1の筐体と、
前記第1の筐体に接続され、各前記共通電極を保護する第1の保護基板と、
第2の収容空間を有し、前記第2の基板をカバーするように設けられ、かつ前記検出手段が前記第2の収容空間内に位置する第2の筐体と、
前記第2の筐体に接続され、各前記検出電極を保護する第2の保護基板と、
をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載の膜厚の検出装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610366988.2A CN106091910B (zh) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | 膜厚的检测装置 |
CN201610366988.2 | 2016-05-26 | ||
PCT/CN2016/099938 WO2017201932A1 (zh) | 2016-05-26 | 2016-09-23 | 膜厚的检测装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019517001A true JP2019517001A (ja) | 2019-06-20 |
JP6667675B2 JP6667675B2 (ja) | 2020-03-18 |
Family
ID=57230941
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018561614A Active JP6667675B2 (ja) | 2016-05-26 | 2016-09-23 | 膜厚の検出装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10746524B2 (ja) |
JP (1) | JP6667675B2 (ja) |
KR (1) | KR102079146B1 (ja) |
CN (1) | CN106091910B (ja) |
WO (1) | WO2017201932A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9335296B2 (en) | 2012-10-10 | 2016-05-10 | Westinghouse Electric Company Llc | Systems and methods for steam generator tube analysis for detection of tube degradation |
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JP7027286B2 (ja) | 2018-09-13 | 2022-03-01 | 株式会社東芝 | 検出素子および検出器 |
CN109559423B (zh) * | 2018-11-23 | 2020-11-06 | 威海华菱光电股份有限公司 | 检测方法、检测装置、存储介质和处理器 |
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-
2016
- 2016-05-26 CN CN201610366988.2A patent/CN106091910B/zh active Active
- 2016-09-23 KR KR1020187029799A patent/KR102079146B1/ko active IP Right Grant
- 2016-09-23 JP JP2018561614A patent/JP6667675B2/ja active Active
- 2016-09-23 WO PCT/CN2016/099938 patent/WO2017201932A1/zh active Application Filing
- 2016-09-23 US US16/099,443 patent/US10746524B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106091910B (zh) | 2018-05-25 |
JP6667675B2 (ja) | 2020-03-18 |
WO2017201932A1 (zh) | 2017-11-30 |
US10746524B2 (en) | 2020-08-18 |
KR102079146B1 (ko) | 2020-02-19 |
US20190145751A1 (en) | 2019-05-16 |
CN106091910A (zh) | 2016-11-09 |
KR20180122437A (ko) | 2018-11-12 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R250 | Receipt of annual fees |
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