JP2019510881A - 容器をプラズマ処理するための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
2…プラズマホイール
3…プラズマステーション
4…チャンバー内部
5…容器
5.1…容器内部
6…装入部
7…個別化ホイール
8…移送ホイール
9…担持アーム
10…台座
11…装入ホイール
12…搬出ホイール
13…搬出部
14…運搬リング
15…機械台座
16…ステーションフレーム
17…プラズマチャンバー
18…チャンバー壁
19…マイクロ波発生器
20…回転分配器
21…環状本管
23…ガイドロッド
24…キャリッジ
25…デフレクタ
26…アダプタ
27…連結チャネル
28…保持要素
29…チャンバー床面
30…チャンバー台座
31…チャンバー台座
32…フランジ
33…シール
34…内側フランジ
35…シール
36…ガスランス
37…ランスキャリッジ
38…プロセスガスチャネル
39…ガス接続部
40…処理場所
70…真空チャネル
70.1…第1側
70.2…第2側
71…第1真空ライン
71.1…弁装置
72…第2真空ライン
72.1…弁装置
73…第3真空ライン
73.1…弁装置
74…第4真空ライン
74.1…弁装置
75…第5真空ライン
75.1…弁装置
76…通気ライン
76.1…弁装置
77…真空装置
78…圧力測定装置
78.1…弁装置
80…中央プロセスガスライン
80.1…弁装置
81…第1プロセスガスライン
81.1…弁装置
82…第2プロセスガスライン
82.2…弁装置
83…第3プロセスガスライン
83.1…弁装置
84…バイパスライン
84.1…第1側
84.2…第2側
84.3…弁装置
84.4…絞り弁装置
85…第6真空ライン
85.1…第1側
85.2…第2側
85.3…弁装置
86…圧力測定装置
Claims (14)
- プラズマホイール(2)に複数のプラズマステーション(3)を備えるプラズマモジュール(1)によって容器(5)をプラズマ処理するための方法であって、各プラズマステーション(3)は、少なくとも1つの処理場所(40)を有する少なくとも1つのプラズマチャンバー(17)を備え、前記方法は、
容器内部(5.1)を有する少なくとも1つの容器(5)を、対応するプラズマステーション(3)の前記処理場所(40)にかかる前記プラズマチャンバー(17)内に挿入して位置決めするステップと、
前記各プラズマチャンバー(17)および前記少なくとも1つの容器内部(5.1)を少なくとも部分的に排気するステップと、
前記少なくとも部分的に排気されたプラズマチャンバー(17)内の前記容器内部(5.1)にプロセスガスを少なくとも部分的に導入するステップであって、中央プロセスガス供給部によって少なくとも1つのプラズマステーション(3)で同時に行われるステップと、
プラズマ処理によって少なくとも前記容器内部(5.1)に内部コーティングを施すステップと、
前記プラズマ処理後、前記プラズマチャンバー(17)および前記容器(5)の前記少なくとも1つの容器内部(5.1)の両方を少なくとも部分的に通気する通気工程を実行するステップと、を備え、
前記プラズマステーション(3)の1つの少なくとも1つの処理場所(40)における作動不良および/または遮断の場合、前記プロセスガスは、前記処理場所(40)および/またはそこに保持されている前記容器(5)に供給される前に、バイパスライン(84)によって、少なくとも部分的に、だが特に完全に、運び去られることを特徴とする、方法。 - 前記作動不良を有しおよび/または遮断された少なくとも1つの処理場所(40)において、この処理場所(40)が損傷しないで作動している場合の該処理場所(40)に対して予め定められたプロセスガス量に対応する量のプロセスガスが運び去られることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 作動不良および/または遮断の場合、その処理場所(40)の全てを有する少なくとも1つのプラズマステーション(3)の全体に対して、前記プロセスガスが供給される前に運び去られることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 前記バイパスライン(84)内の前記プロセスガスは、少なくとも1つの弁装置(84.3)および/または絞り弁装置(84.4)によって調整および/または制御されて運び去られることを特徴とする、請求項1から3の何れかに記載の方法。
- 前記バイパスライン(84)内の前記運び去られるプロセスガスの体積流量は、前記絞り弁装置(84.4)によって調整および/または制御され得ることを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 前記作動不良を有しおよび/または遮断された少なくとも1つの処理場所(40)の前記バイパスライン(84)の前記絞り弁装置(84.4)は、バイパスライン(84)によって運び去られるプロセスガスの体積流量が、前記作動不良を有しおよび/または遮断された少なくとも1つの処理場所(40)に向けて1つ以上の他の弁装置(81.1〜83.1)によって加えられるプロセスガスの体積流量に対応するように、制御および/または調整されることを特徴とする、請求項4または5に記載の方法。
- 前記作動不良を有しおよび/または遮断された少なくとも1つのプラズマチャンバー(17)の1つ以上の弁装置(81.1〜83.1)が開かれると同時またはそれより少し前に、前記弁装置(84.3)は開かれ、前記プロセスガスは前記バイパスライン(84)によって運び去られることを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 前記プロセスガスは、中央プロセスガス供給部の1つ以上のプロセスガスライン(81〜83)によって、前記作動不良を有する少なくとも1つの処理場所(40)に向けて、所定のプロセスガス量および/またはタイムシーケンスで運ばれることを特徴とする、請求項6または7に記載の方法。
- 前記作動不良を有する少なくとも1つの処理場所(40)の前記プロセスガスは、前記バイパスライン(84)によって中央真空装置(77)に運び去られることを特徴とする、請求項1から8の何れかに記載の方法。
- 前記作動不良を有しおよび/または遮断された少なくとも1つの処理場所(40)の前記プロセスガスは、プロセスガスのポンピングに適する前記中央真空装置(77)の真空レベルを有する真空ライン(71〜75)に、前記バイパスライン(84)によって運び去られることを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 容器(5)をプラズマ処理するための装置であって、プラズマホイール(2)に配置された複数のプラズマステーション(3)を備え、各プラズマステーション(3)は、少なくとも1つの処理場所(40)を有する少なくとも1つのプラズマチャンバー(17)を備え、容器内部(5.1)を有する少なくとも1つの容器(5)が前記処理場所(40)の前記プラズマチャンバー(17)内に挿入されて位置決めされることが可能であり、前記各プラズマチャンバー(17)は、少なくとも部分的に排気され得るように構成され、前記プラズマステーション(3)は、少なくとも2つの処理場所(40)で同時に前記各容器(5)の前記少なくとも1つの容器内部(5.1)にプロセスガスを少なくとも部分的に導入するように設けられ、前記プラズマステーション(3)は、プラズマ処理によって、少なくとも、前記少なくとも部分的に排気されたプラズマチャンバー(17)内の前記容器内部(5.1)に、内部コーティングを施すようにも設けられ、前記プラズマステーション(3)は、前記プラズマ処理後に前記処理場所(40)で前記プラズマチャンバー(17)および前記少なくとも1つの容器内部(5.1)の両方を少なくとも部分的に通気するための少なくとも1つの通気ライン(76)を備え、
前記各プラズマステーション(3)は、前記プラズマステーション(3)の前記処理場所(40)の少なくとも1つにおける作動不良および/または遮断の場合、前記プロセスガスが、前記プラズマチャンバー(17)および/または前記処理場所(40)に供給される前に、1つ以上のバイパスライン(84)によって運び去られ得るように、少なくとも1つのバイパスライン(84)を備えることを特徴とする装置。 - 前記バイパスライン(84)の第1端(84.1)は中央プロセスガスライン(80)に流体機密に開口し、前記バイパスライン(84)の第2端(84.2)は中央真空装置(77)に流体機密に開口することを特徴とする、請求項11に記載の装置。
- 前記バイパスライン(84)は、少なくとも1つの可変および/または制御可能な弁装置(84.3)および絞り弁装置(84.4)を備えることを特徴とする、請求項11または12に記載の装置。
- 前記バイパスライン(84)は、プロセスガスライン(80)の真空のガイド値と略等しい真空のガイド値を作り出すことを特徴とする、請求項11から13の何れかに記載の装置。
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