JP2019191239A - 表示パネル - Google Patents
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Abstract
【課題】マークを観測可能な構成としつつ、光漏れを抑制する。【解決手段】画像が表示される表示領域A1と、画像が表示されない非表示領域A2と、非表示領域A2に配される第1マーク51と、非表示領域A2において第1マーク51が配された層とは異なる層に配され、平面視において第1マーク51と隣接する第2マーク52と、非表示領域A2において、第1マーク51と平面視において重なる形で配される開口53と、非表示領域A2において、第1マーク51及び第2マーク52に対して開口53と反対側に配されると共に、平面視において開口と重なる遮光部58と、を備えることに特徴を有する。【選択図】図5
Description
本発明は、表示パネルに関する。
従来、表示パネルとして、非表示領域にマークが設けられたものが知られている。下記特許文献1では、マークとしてアライメントマークが記載されており、アライメントマークをカメラで観察することで液晶表示パネルとバックライトとを高精度で位置合わせすることが可能となっている。また、非表示領域に設けられるマークとしては、一対のマークを備え、一方のマークに対して他方のマークの位置ずれ量を測定することで、一方のマークを基準として他方のマークが設けられた部材の位置精度を確認することが可能なものも知られている。
上記構成においては、マークを観測するために、表示パネルの一部に開口などの透光部を設ける必要がある。しかしながら、透光部を設けると透光部を通じて光が漏れる事態が懸念される。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、マークを観測可能な構成としつつ、光漏れを抑制することが可能な表示パネルを提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の表示パネルは、画像が表示される表示領域と、画像が表示されない非表示領域と、前記非表示領域に配される第1マークと、前記非表示領域において前記第1マークが配された層とは異なる層に配され、平面視において前記第1マークと隣接又は重畳する第2マークと、前記非表示領域において、前記第1マークと平面視において重なる形で配される透光部と、前記非表示領域において、前記第1マーク及び前記第2マークに対して前記透光部と反対側に配されると共に、平面視において前記透光部と重なる遮光部と、を備えることに特徴を有する。上記構成によれば、透光部を通じて第1マーク及び第2マークを観測することができ、第1マークを基準とした第2マークの位置ずれ量を計測することができる。これにより、例えば、第2マークと特定の位置関係を有する部材(例えば、第2マークが設けられた基板など)の位置精度を確認することができる。しかしながら、非表示領域に透光部を設けた場合には、例えば、透光部を通過して表示パネルの外部に光が漏れる事態が懸念される。透光部と重なる遮光部を備えることで、このような光漏れを抑制できる。そして、遮光部は、第1マーク及び第2マークに対して透光部と反対側に配されることから、透光部を通じて第1マーク及び第2マークを観測する際に観測の妨げになることがない。
本発明によれば、マークを観測可能な構成としつつ、光漏れを抑制することができる。
<実施形態1>
本発明の実施形態1を図1から図7によって説明する。液晶表示装置10は、図1に示すように、液晶パネル11(表示パネル)と、液晶パネル11が備えるドライバ17に対して各種入力信号を供給する制御回路基板12と、液晶パネル11と制御回路基板12とを電気的に接続するフレキシブル基板13と、液晶パネル11に光を供給するバックライト装置14(照明装置)と、を備える。バックライト装置14は、図1に示すように、表側(液晶パネル11側)に向けて開口した略箱形をなすシャーシ18と、シャーシ18内に配された図示しない光源(例えば冷陰極管、LED、有機ELなど)と、シャーシ18の開口部を覆う形で配される図示しない光学部材と、を備える。光学部材は、光源から発せられる光を面状に変換する等の機能を有するものである。
本発明の実施形態1を図1から図7によって説明する。液晶表示装置10は、図1に示すように、液晶パネル11(表示パネル)と、液晶パネル11が備えるドライバ17に対して各種入力信号を供給する制御回路基板12と、液晶パネル11と制御回路基板12とを電気的に接続するフレキシブル基板13と、液晶パネル11に光を供給するバックライト装置14(照明装置)と、を備える。バックライト装置14は、図1に示すように、表側(液晶パネル11側)に向けて開口した略箱形をなすシャーシ18と、シャーシ18内に配された図示しない光源(例えば冷陰極管、LED、有機ELなど)と、シャーシ18の開口部を覆う形で配される図示しない光学部材と、を備える。光学部材は、光源から発せられる光を面状に変換する等の機能を有するものである。
また、液晶表示装置10は、図1に示すように、相互に組み付けられた液晶パネル11及びバックライト装置14を収容するための表裏一対の外装部材15,16を備えており、表側の外装部材15には、液晶パネル11の表示領域A1に表示された画像を外部から視認させるための開口部19が形成されている。本実施形態に係る液晶表示装置10は、例えば、携帯電話(スマートフォンなどを含む)、ノートパソコン(タブレット型ノートパソコンなどを含む)、ウェアラブル端末(スマートウォッチなどを含む)、携帯型情報端末(電子ブックやPDAなどを含む)、携帯型ゲーム機、デジタルフォトフレームなどの各種電子機器(図示せず)に用いられるものである。
液晶パネル11は、図1に示すように、対向状に配される一対の基板21,30と、一対の基板21,30間に配され、電界印加に伴って光学特性が変化する物質である液晶分子を含む液晶層23(媒質層)と、一対の基板21,30の間に配されると共に液晶層23を囲むことで液晶層23を封止するシール部材24と、を備える。一対の基板21,30のうち表側(正面側、図1の上側)の基板がCF基板21(対向基板)とされ、裏側(背面側)の基板がアレイ基板30(アクティブマトリクス基板、素子側基板)とされる。液晶パネル11は画像が表示される表示領域A1と、画像が表示されない非表示領域A2を有する。非表示領域A2は、図3の平面視において表示領域A1を取り囲む枠状をなす。また、両基板21,30の外面側には、偏光板(図示しない)がそれぞれ貼り付けられており、両基板21,30のうち液晶層23に接する内面には、液晶層23に含まれる液晶分子を配向させるための配向膜(図示しない)がそれぞれ設けられている。
図2に示すように、CF基板21は、ガラス基板22を備え、ガラス基板22の内面側(後述するガラス基板31側)に、ブラックマトリクス25、カラーフィルタ26、オーバーコート膜27が積層されることで構成されている。カラーフィルタ26は、マトリクス状に配列されるR(赤色),G(緑色),B(青色)の三色の着色部26R,26G,26B(着色層)を備える。また、CF基板21は、セルギャップを保持するためのスペーサ28を備える。ガラス基板22の表面には、透明電極膜29が設けられており、この透明電極膜29は、導電ペースト29Aを介してアレイ基板30に設けられたグランドパッド(図示せず)に接続されている。これにより透明電極膜29によって外部からのノイズを遮蔽することができる。
アレイ基板30は、ガラス基板22と対向状に配されるガラス基板31を備える。ガラス基板31の内面側には、図2に示すように、画素回路部32、周辺回路部33、平坦化膜34、タッチパネル配線35、共通電極36、絶縁膜37、画素電極38が設けられている。画素回路部32は、表示領域A1に配され、走査信号を伝送するゲート配線39(図3参照)と、画像信号を伝送するソース配線40(図3参照)と、ゲート配線39及びソース配線40に接続されるスイッチング素子であるTFT(Thin Film Transistor、図示せず)と、を少なくとも備える。ゲート配線39は、金属膜からなり、図3に示すように、X軸方向に沿って延在し、Y軸方向に沿って多数本が間隔を空けて並んで配される。ソース配線40は、金属膜からなり、Y軸方向に沿って延在し、X軸方向に沿って多数本が間隔を空けて並んで配される。図4に示すように、ゲート配線39とソース配線40の間には絶縁膜42が介在されている。TFTは、半導体膜からなるチャネル部などを有する既知の構成であり、画素電極38に接続されている。TFTは、ゲート配線39に伝送される走査信号に基づいて駆動され、ソース配線40に伝送される画像信号をチャネル部を介して画素電極38に供給することで、画素電極38を所定の電位に充電する。TFT及び画素電極38は、ゲート配線39及びソース配線40により囲まれた領域に配されており、X軸方向及びY軸方向に沿って多数個ずつマトリクス状に並んで配されている。
画素電極38及び共通電極36は、透明電極膜からなる。共通電極36は、全体として表示領域A1と同等の大きさを有しているものの格子状に分割されており、その分割されたセグメント(タッチ電極41)が複数の画素電極38と重畳するとともにタッチパネル配線35を介してドライバ17と接続されている。共通電極36は、少なくとも表示期間においてはほぼ一定の基準電位が供給されるものであり、画素電極38との間には、画素電極38に充電された電位に基づく電位差が生じ得るものとされる。共通電極36と画素電極38との間の電位差に基づいて発生する電界には、アレイ基板30の板面に沿う成分に加えて、アレイ基板30の板面に対する法線方向の成分を含むフリンジ電界(斜め電界)が含まれる。従って、この液晶パネル11は、フリンジ電界を利用して液晶層23に含まれる液晶分子の配向状態を制御する、いわゆるFFS(Fringe Field Switching)モードとされている。なお、液晶の駆動方式はFFSモードに限定されない。また、共通電極36は、非表示期間には位置入力に伴う静電容量の変化を検出するタッチ電極の役割を果たし、ドライバ17により静電容量の変化を演算することで、表示領域A1における入力位置を特定するインセルタッチパネル機能を有する。周辺回路部33としては、ゲートドライバ回路を例示することができ、非表示領域A2において、ガラス基板31上にモノリシックに形成されている。ゲートドライバ回路は各ゲート配線39に接続されることで、各ゲート配線39を順次に走査して各TFTを駆動することが可能とされる。
上述した各配線(タッチパネル配線35、ゲート配線39、ソース配線40)は、例えば、銅、チタン、アルミニウム、モリブデン、タングステン等の導電膜からなる。上述した絶縁膜37,42は、例えば、窒化ケイ素(SiNx)、酸化ケイ素(SiO2)等の無機材料からなる。上述した平坦化膜34は、例えば、アクリル樹脂(例えばPMMA等)等の有機材料からなる。上述した各透明電極膜(透明電極膜29、共通電極36、画素電極38)は、例えばITO(Indium Tin Oxide)やIZO(Indium Zinc Oxide)等の透明電極材料からなる。なお、各配線、各絶縁膜、平坦化膜、各透明電極膜の材料はここで例示したものに限定されず適宜変更可能である。
非表示領域A2には、図3に示すように、一対の基板21,30の貼り合わせの位置精度を測定するためのバーニア43が配されている。バーニア43は、図5及び図6に示すように、アレイ基板30のガラス基板31(一方の基板)に設けられた第1マーク51と、CF基板21のガラス基板22(他方の基板)に設けられた第2マーク52と、を備える。第1マーク51は、図6に示すように、Y軸方向(又はX軸方向)に沿って並ぶ複数の目盛を有するバーニアパターンである。第1マーク51は、ソース配線40(配線)と同じ層に配されると共に、ソース配線40と同じ材質の導電膜(導電部材)によって構成されている。
第2マーク52は、第1マーク51が配された層とは異なる層に配され、液晶パネル11の平面視(液晶パネル11を表側又は裏側から視た状態、図6に示す状態)において第1マーク51と隣接する形で配されている。第2マーク52は、複数の目盛を有するバーニアパターンである。第2マーク52が有する複数の目盛は、第1マーク51が有する複数の目盛と並び方向が平行となっている。図6では、第1マーク51及び第2マーク52を構成する各目盛がアレイ基板30の長辺方向(Y軸方向)に沿って並ぶものを例示している。第1マーク51及び第2マーク52は、一対の基板21,30の貼り合わせの位置精度を測定するためのもので、目盛の並び方向(図6ではY軸方向)について一対の基板21,30がどれだけ位置ずれしているかを測定するためのものである。
第2マーク52は、ブラックマトリクス25に形成された櫛型の開口53の縁部によって構成されている。この開口53(透光部)は、非表示領域A2において、第1マーク51と平面視において重なる形で配されている。図6は、第1マーク51と第2マーク52とがY軸方向において位置ずれしていない状態を示している。この状態では、第1マーク51の目盛のうち、中央に配される目盛54(基準となる目盛)と、第2マーク52の目盛のうち、中央に配される目盛55(基準となる目盛)とがY軸方向について一致する形で配されている。また、第1マーク51を構成する目盛の線幅は、第2マーク52を構成する目盛の線幅と等しいものとされ、第1マーク51を構成する各目盛のピッチP1は、第2マーク52を構成する各目盛のピッチP2よりもわずかに大きい値で設定されている。
ピッチP1とピッチP2の差をDPとし、平面視(図6参照)において、目盛54,55を基準(0番)としたN番目の目盛同士の位置ずれ量(目盛の並び方向における位置ずれ量)をDVとした場合、DV=N*DPとなる。このため、第1マーク51を構成する各目盛と第2マーク52を構成する各目盛のうち、何番目の目盛同士が目盛の並び方向において一致しているかをカメラ等を用いて確認することで、第1マーク51に対する第2マーク52の位置ずれ量を計測することができる。図7を用いて具体的に説明すると、図7では、目盛54,55を基準として、図7の上側(Y軸方向の一方側)に配された4番目の目盛56,57同士が一致している(目盛56,57の端部同士が完全に重なっている)。このため、図7に示す例では、第1マーク51に対して第2マーク52が図7の上側にずれており、その位置ずれ量DVは4*DPであることが確認できる。
なお、本実施形態では、図3に示すように、X軸方向に延びるバーニア43及びY軸方向に延びるバーニア43が液晶パネル11の4隅にそれぞれ配されている。X軸方向に延びるバーニア43は、一対の基板21,30のX軸方向における位置ずれ量を測定するためのもので、Y軸方向に延びるバーニア43は、一対の基板21,30のY軸方向における位置ずれ量を測定するためのものである。
本実施形態では、ブラックマトリクス25に開口53を形成することで、開口53を通じて第1マーク51を表側から観測することができ、第1マーク51と第2マーク52との位置関係を観測することができる。しかしながら、開口53を設けることで、バックライト装置14(図1参照)からの光が開口53を通じて表側に漏れる事態が懸念される。そこで本実施形態では、図6に示すように、非表示領域A2において、第1マーク51及び第2マーク52に対して開口53と反対側に配される遮光部58を備える。言い換えると、ブラックマトリクス25は、第1マーク51に対して遮光部58と反対側に配される反対側遮光部である。
遮光部58は平面視において開口53と重なる形で配されている。図3に示すように、非表示領域A2には、グランド配線59が配されている。グランド配線59は、ガラス基板31上に配され、ガラス基板31の外周端部に沿って延びる形で配されている。グランド配線59の端部60,60は、フレキシブル基板13を介してグランドに接続されている。グランド配線59は、例えば外部からの電気ノイズの侵入を防止する機能を有している。各バーニア43は、グランド配線59の経路上に配されており、上述した遮光部58は、グランド配線59の一部によって構成されている。グランド配線59は、ゲート配線39と同じ層に配されると共に、ゲート配線39と同じ材質で構成されている。これにより、ゲート配線39を形成する工程でグランド配線59を形成することができる。遮光部58は、平面視において、開口53よりも一回り大きい方形状をなしており、遮光部58の外周端面は、開口53の外側に配されている。なお、遮光部58は、開口53を確実に覆う大きさにすることが好ましい。具体的には、遮光部58の外周端面と開口53の内面との距離が、遮光部58の全周に亘って、例えば10μm以上となることが好ましい。そして、第1マーク51は、図5に示すように、絶縁膜42に形成されたコンタクトホール61を介して遮光部58に対して電気的に接続されている。なお、遮光部58としてゲート配線39の他に、トランジスタのライトシールド層を使用することが出来る。ライトシールド層とは、トランジスタのチャネル部に光が当たることを防ぐための遮光膜のことである。トランジスタのチャネル部にバックライトの強い光が当たると、SDリークが発生するため、表示品位が低下する。この対策のため、ライトシールド層は画素容量の小さい高精細パネルで必要となる。このライトシールド層もコンタクトホールを介してグランドに接続することが可能である。
次に本実施形態の効果について説明する。本実施形態では、開口53を通じて第1マーク51及び第2マーク52を観測することができ、第1マーク51を基準とした第2マーク52の位置ずれ量を計測することができる。これにより、第1マーク51が設けられたアレイ基板30と、第2マーク52が設けられたCF基板21との貼り合わせに係る精度を確認することができる。この結果、例えば、CF基板21とアレイ基板30とを貼り合わせた後に、貼り合わせに係る精度を容易に確認して管理することができる。例えば、製造工程において、CF基板21とアレイ基板30の貼り合わせに係る精度が低下した場合には、これを早急に発見することができ、対策を講じることができる。
しかしながら、非表示領域A2に開口53を設けた場合には、例えば、バックライト装置14から一対の基板21,30に向けて出射された光が開口53を通過して外部に漏れる事態が懸念される。開口53と重なる遮光部58を備えることで、バックライト装置14側から開口53に向かう光を遮ることができ、開口53に起因した光漏れを抑制できる。そして、遮光部58は、第1マーク51及び第2マーク52に対して開口53と反対側に配されることから、開口53を通じて第1マーク51及び第2マーク52を観測する際に観測の妨げになることがない。
また、非表示領域A2において、第1マーク51に対して遮光部58と反対側に配されるブラックマトリクス25を備え、第1マーク51は複数の目盛であり、第2マーク52は、第1マーク51の複数の目盛と平行に並ぶ複数の目盛であり、ブラックマトリクス25に形成された櫛型の開口53の縁部によって構成されている。ブラックマトリクス25を備えることで、光漏れをより確実に抑制できる。また、ブラックマトリクス25に開口53を形成することで、第1マーク51を観測するための透光部と第2マーク52とを同時に形成することができるため、工数を減らすことができる。
また、遮光部58は、グランドに接続されるグランド配線59の一部であり、第1マーク51は、導電部材によって構成され、遮光部58に対して電気的に接続されている。遮光部58とグランド配線59を兼用させることで、より簡易な構成とすることができる。また、第1マーク51とグランド配線59を電気的に接続することで、配線抵抗をより低くすることができ、好適である。また、表示領域A1に配されるソース配線40を備え、第1マーク51は、ソース配線40と同じ層に配されると共に、ソース配線40と同じ材質で構成されている。このような構成とすれば、ソース配線40を形成する工程で第1マーク51を形成することが可能となる。
<実施形態2>
次に、本発明の実施形態2を図8によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態では、図8に示すように、第1マーク251が十字状をなしており、ブラックマトリクス25には、第1マーク251よりも一回り大きい十字状の開口253が形成されている。第1マーク251と開口253は、平面視において、X軸方向及びY軸方向の双方において中心軸が同一となっている。本実施形態では、第2マーク及び透光部が開口253によって構成されている。X軸方向及びY軸方向の双方において第1マーク251に対する開口253の位置ずれ量を計測することで、一対の基板21,30の貼り合わせに係る精度を確認することができる。また、ブラックマトリクス25に開口253を形成することで、第1マーク51を観測するための透光部と第2マークを同時に形成することができるため、工数を減らすことができる。なお、第1マーク251及び開口253の形状は十字状に限定されず、適宜変更可能である。第1マーク251及び開口253は、方形状、多角形状、円形状、L字状等であってもよい。
次に、本発明の実施形態2を図8によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態では、図8に示すように、第1マーク251が十字状をなしており、ブラックマトリクス25には、第1マーク251よりも一回り大きい十字状の開口253が形成されている。第1マーク251と開口253は、平面視において、X軸方向及びY軸方向の双方において中心軸が同一となっている。本実施形態では、第2マーク及び透光部が開口253によって構成されている。X軸方向及びY軸方向の双方において第1マーク251に対する開口253の位置ずれ量を計測することで、一対の基板21,30の貼り合わせに係る精度を確認することができる。また、ブラックマトリクス25に開口253を形成することで、第1マーク51を観測するための透光部と第2マークを同時に形成することができるため、工数を減らすことができる。なお、第1マーク251及び開口253の形状は十字状に限定されず、適宜変更可能である。第1マーク251及び開口253は、方形状、多角形状、円形状、L字状等であってもよい。
<実施形態3>
次に、本発明の実施形態3を図9によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態では、図9に示すように、ブラックマトリクス25には、L字状の開口353が4つ形成されている。これによりブラックマトリクス25において、4つの開口353に囲まれた部分は、十字状をなす第2マーク352となっている。第1マーク251と第2マーク352は、平面視において、X軸方向及びY軸方向の双方において中心軸が同一となっている。本実施形態では、X軸方向及びY軸方向の双方において第1マーク251に対する第2マーク352の位置ずれ量を計測することで、一対の基板21,30の貼り合わせに係る精度を確認することができる。
次に、本発明の実施形態3を図9によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態では、図9に示すように、ブラックマトリクス25には、L字状の開口353が4つ形成されている。これによりブラックマトリクス25において、4つの開口353に囲まれた部分は、十字状をなす第2マーク352となっている。第1マーク251と第2マーク352は、平面視において、X軸方向及びY軸方向の双方において中心軸が同一となっている。本実施形態では、X軸方向及びY軸方向の双方において第1マーク251に対する第2マーク352の位置ずれ量を計測することで、一対の基板21,30の貼り合わせに係る精度を確認することができる。
<実施形態4>
次に、本発明の実施形態4を図10から図11によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態の液晶パネル411では、図10に示すように、バーニア443を構成する第1マーク451及び第2マーク452を備える。第2マーク452は、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配されると共に、着色部と同じ材質で構成されている。図10では、第2マーク452が青色の着色部26Bと同じ材質で構成されているものを例示している。第1マーク451及び第2マーク452は、図11に示すように、ピッチの異なる複数の目盛をそれぞれ有しており、実施形態1のバーニア43と同様の方法で、第1マーク451と第2マーク452との位置ずれ量を計測することが可能となっている。なお、図11は、第1マーク451及び第2マーク452を液晶パネル411の裏側から視た図である。
次に、本発明の実施形態4を図10から図11によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態の液晶パネル411では、図10に示すように、バーニア443を構成する第1マーク451及び第2マーク452を備える。第2マーク452は、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配されると共に、着色部と同じ材質で構成されている。図10では、第2マーク452が青色の着色部26Bと同じ材質で構成されているものを例示している。第1マーク451及び第2マーク452は、図11に示すように、ピッチの異なる複数の目盛をそれぞれ有しており、実施形態1のバーニア43と同様の方法で、第1マーク451と第2マーク452との位置ずれ量を計測することが可能となっている。なお、図11は、第1マーク451及び第2マーク452を液晶パネル411の裏側から視た図である。
本実施形態では、図10に示すように、第1マーク451及び第2マーク452は、表側からブラックマトリクス25によって完全に覆われており、第1マーク451及び第2マーク452を観測する際には、液晶パネル411の裏側から透光性を有するガラス基板31越しに観測を行う。つまり、本実施形態では、ガラス基板31の一部が、第1マーク451及び第2マークと平面視において重なる形で配される透光部31Aであり、この透光部31Aを通じて第1マーク451及び第2マーク452を観測することが可能となっている。また、ブラックマトリクス25の一部が平面視において透光部31Aと重なる遮光部25Aである。遮光部25Aは、第1マーク451及び第2マーク452に対して透光部31Aと反対側に配されている。本実施形態によれば、着色部(例えば着色部26B)を形成する工程で第2マーク452を形成することができる。また、ブラックマトリクス25に開口が形成されていないため、光漏れをより確実に抑制することができる。
<実施形態5>
次に、本発明の実施形態5を図12から図13によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態の液晶パネル511では、図12に示すように、隣接する2つの第1マーク551A,551Bがアレイ基板30側に設けられている。また、CF基板21側には、第2マーク552R,552G,552Bが設けられている。第2マーク552R,552G,552Bは、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配される。第2マーク552Rは、着色部26Rと同じ材質で構成され、着色部26Rを形成する工程で着色部26Rを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク552Gは、着色部26Gと同じ材質で構成され、着色部26Gを形成する工程で着色部26Gを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク552Bは、着色部26Bと同じ材質で構成され、着色部26Bを形成する工程で着色部26Bを形成するためのマスクを用いて形成される。つまり、第2マークは着色部と共通のマスクを用いて形成されている。このため、第2マークの形成精度(第1マークに対する位置ずれ量)を確認することで、着色部の形成精度を確認することができる。本実施形態では、図12に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク551A,551B及び第2マーク552R,552G,552Bと平面視において重なる形で配される透光部531Aであり、この透光部531Aを通じて第1マーク551A,551B及び第2マーク552R,552G,552Bを観測することが可能となっている。また、ブラックマトリクス25の一部が平面視において透光部531Aと重なる遮光部525Aである。
次に、本発明の実施形態5を図12から図13によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、第1マーク及び第2マークの構成が上記実施形態と異なる。本実施形態の液晶パネル511では、図12に示すように、隣接する2つの第1マーク551A,551Bがアレイ基板30側に設けられている。また、CF基板21側には、第2マーク552R,552G,552Bが設けられている。第2マーク552R,552G,552Bは、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配される。第2マーク552Rは、着色部26Rと同じ材質で構成され、着色部26Rを形成する工程で着色部26Rを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク552Gは、着色部26Gと同じ材質で構成され、着色部26Gを形成する工程で着色部26Gを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク552Bは、着色部26Bと同じ材質で構成され、着色部26Bを形成する工程で着色部26Bを形成するためのマスクを用いて形成される。つまり、第2マークは着色部と共通のマスクを用いて形成されている。このため、第2マークの形成精度(第1マークに対する位置ずれ量)を確認することで、着色部の形成精度を確認することができる。本実施形態では、図12に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク551A,551B及び第2マーク552R,552G,552Bと平面視において重なる形で配される透光部531Aであり、この透光部531Aを通じて第1マーク551A,551B及び第2マーク552R,552G,552Bを観測することが可能となっている。また、ブラックマトリクス25の一部が平面視において透光部531Aと重なる遮光部525Aである。
図13に示すように、第2マーク552R,552Gは第1マーク551Aと平面視において隣接する形で配され、第2マーク552G,552Bは第1マーク551Bと平面視において隣接する形で配されている。第1マーク551A,551B及び第2マーク552R,552G,552Bは、それぞれ目盛を有しており、実施形態1のバーニア43と同様の方法によって、第1マークと第2マークとの位置ずれ量を計測することが可能となっている。本実施形態では、第1マーク551Aに対する第2マーク552R(又は第2マーク552G)の位置ずれ量を計測することができ、第1マーク551Bに対する第2マーク552G(又は第2マーク552B)の位置ずれ量を計測することができる。つまり、第1マーク551A又は第1マーク551Bを基準とした着色部26R,26G,26Bの形成精度(例えば、着色部を形成するためのマスクの移動量の精度等)を確認することができる。
<実施形態6>
次に、本発明の実施形態6を図14によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして有機ELパネル611を例示する。図14は、有機ELパネル611の非表示領域A2を示す断面図である。図14に示すように、有機ELパネル611の非表示領域A2においては、ガラス基板31上に第1マーク651A,651B、平坦化膜634、第2マーク652R,652G,652B、カバー膜627、遮光層625、ガラス基板22が積層されている。また、有機ELパネル611は、図示しない発光層や発光層に接続されて電流を制御するTFTなどを備える。本実施形態では、R(赤色),G(緑色),B(青色)の三色の発光層を備える。第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bは、それぞれ目盛(図示せず)を有しており、実施形態1のバーニア43と同様の方法によって、第1マークと第2マークとの位置ずれ量を計測することが可能となっている。本実施形態では、図14に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bと平面視において重なる形で配される透光部631Aであり、この透光部631Aを通じて第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bを観測することが可能となっている。また、遮光層625の一部が平面視において透光部631Aと重なる遮光部625Aである。
次に、本発明の実施形態6を図14によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして有機ELパネル611を例示する。図14は、有機ELパネル611の非表示領域A2を示す断面図である。図14に示すように、有機ELパネル611の非表示領域A2においては、ガラス基板31上に第1マーク651A,651B、平坦化膜634、第2マーク652R,652G,652B、カバー膜627、遮光層625、ガラス基板22が積層されている。また、有機ELパネル611は、図示しない発光層や発光層に接続されて電流を制御するTFTなどを備える。本実施形態では、R(赤色),G(緑色),B(青色)の三色の発光層を備える。第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bは、それぞれ目盛(図示せず)を有しており、実施形態1のバーニア43と同様の方法によって、第1マークと第2マークとの位置ずれ量を計測することが可能となっている。本実施形態では、図14に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bと平面視において重なる形で配される透光部631Aであり、この透光部631Aを通じて第1マーク651A,651B及び第2マーク652R,652G,652Bを観測することが可能となっている。また、遮光層625の一部が平面視において透光部631Aと重なる遮光部625Aである。
本実施形態では、第2マーク652Rは、赤色の発光層と同じ材質で構成され、赤色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク652Gは、緑色の発光層と同じ材質で構成され、緑色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク652Bは、青色の発光層と同じ材質で構成され、青色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。本実施形態によれば、各第1マークと各第2マークの位置ずれ量を計測することで、第1マーク651A又は第1マーク651Bを基準とした各発光層の形成精度(例えば、各発光層を形成するためのマスクの移動量の精度等)を確認することができる。
<実施形態7>
次に、本発明の実施形態7を図15から図16によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして液晶パネル711を例示する。液晶パネル711では、図15に示すように、隣接する3つの第1マーク751R,751G,751Bがアレイ基板30側に設けられている。また、CF基板21側には、第2マーク752R,752G,752Bが設けられている。第2マーク752R,752G,752Bは、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配される。第2マーク752Rは、着色部26Rと同じ材質で構成され、着色部26Rを形成する工程で着色部26Rを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク752Gは、着色部26Gと同じ材質で構成され、着色部26Gを形成する工程で着色部26Gを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク752Bは、着色部26Bと同じ材質で構成され、着色部26Bを形成する工程で着色部26Bを形成するためのマスクを用いて形成される。本実施形態では、図15に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク751R,751G,751B及び第2マーク752R,752G,752Bと平面視において重なる形で配される透光部731Aであり、この透光部731Aを通じて第1マーク751R,751G,751B及び第2マーク752R,752G,752Bを観測することが可能となっている。また、ブラックマトリクス25の一部が平面視において透光部731Aと重なる遮光部725Aである。
次に、本発明の実施形態7を図15から図16によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして液晶パネル711を例示する。液晶パネル711では、図15に示すように、隣接する3つの第1マーク751R,751G,751Bがアレイ基板30側に設けられている。また、CF基板21側には、第2マーク752R,752G,752Bが設けられている。第2マーク752R,752G,752Bは、着色部26R,26G,26B(図2参照)と同じ層に配される。第2マーク752Rは、着色部26Rと同じ材質で構成され、着色部26Rを形成する工程で着色部26Rを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク752Gは、着色部26Gと同じ材質で構成され、着色部26Gを形成する工程で着色部26Gを形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク752Bは、着色部26Bと同じ材質で構成され、着色部26Bを形成する工程で着色部26Bを形成するためのマスクを用いて形成される。本実施形態では、図15に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク751R,751G,751B及び第2マーク752R,752G,752Bと平面視において重なる形で配される透光部731Aであり、この透光部731Aを通じて第1マーク751R,751G,751B及び第2マーク752R,752G,752Bを観測することが可能となっている。また、ブラックマトリクス25の一部が平面視において透光部731Aと重なる遮光部725Aである。
図16に示すように、第1マーク751R,751G,751Bは、方形状をなしている。第2マーク752Rは、平面視において、第1マーク751Rよりも一回り大きい方形枠状をなしている。第2マーク752Gは、平面視において、第1マーク751Gよりも一回り大きい方形枠状をなしている。第2マーク752Bは、平面視において、第1マーク751Bよりも一回り大きい方形枠状をなしている。第1マーク及び第2マークの位置ずれがない場合(図16の状態)には、第1マークは、対応する第2マークに対して平面視において嵌合するようになっている。本実施形態では、各第1マーク751R,751G,751Bと各第2マーク752R,752G,752Bの位置ずれ量をそれぞれ計測することで、各第1マーク751R,751G,751Bを基準とした各着色部26R,26G,26Bの形成精度を確認することができる。
<実施形態8>
次に、本発明の実施形態8を図17によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして有機ELパネル811を例示する。図17に示すように、有機ELパネル811の非表示領域A2においては、ガラス基板631上に第1マーク851R,851G,851B、平坦化膜634、第2マーク852R,852G,852B、カバー膜627、遮光層625、ガラス基板622が積層されている。第2マーク852Rは、赤色の発光層と同じ材質で構成され、赤色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク852Gは、緑色の発光層と同じ材質で構成され、緑色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク852Bは、青色の発光層と同じ材質で構成され、青色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。本実施形態では、図17に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク851R,851G,851B及び第2マーク852R,852G,852Bと平面視において重なる形で配される透光部831Aであり、この透光部831Aを通じて第1マーク851R,851G,851B及び第2マーク852R,852G,852Bを観測することが可能となっている。また、遮光層625の一部が平面視において透光部831Aと重なる遮光部825Aである。
次に、本発明の実施形態8を図17によって説明する。上記実施形態と同一部分には、同一符号を付して重複する説明を省略する。本実施形態では、表示パネルとして有機ELパネル811を例示する。図17に示すように、有機ELパネル811の非表示領域A2においては、ガラス基板631上に第1マーク851R,851G,851B、平坦化膜634、第2マーク852R,852G,852B、カバー膜627、遮光層625、ガラス基板622が積層されている。第2マーク852Rは、赤色の発光層と同じ材質で構成され、赤色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク852Gは、緑色の発光層と同じ材質で構成され、緑色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。第2マーク852Bは、青色の発光層と同じ材質で構成され、青色の発光層を形成するためのマスクを用いて形成される。本実施形態では、図17に示すように、ガラス基板31の一部が、第1マーク851R,851G,851B及び第2マーク852R,852G,852Bと平面視において重なる形で配される透光部831Aであり、この透光部831Aを通じて第1マーク851R,851G,851B及び第2マーク852R,852G,852Bを観測することが可能となっている。また、遮光層625の一部が平面視において透光部831Aと重なる遮光部825Aである。
各第1マーク851R,851G,851Bは、方形状をなしており、各第2マーク852R,852G,852Bは、対応する第1マークよりも一回り大きい方形枠状をなしている。上記実施形態7と同様、第1マーク及び第2マークの位置ずれがない場合には、第1マークは、対応する第2マークに対して平面視において嵌合するようになっている。本実施形態によれば、各第1マーク851R,851G,851Bと各第2マーク852R,852G,852Bの位置ずれ量を計測することで、各第1マーク851R,851G,851Bを基準とした各発光層の形成精度(例えば、各発光層を形成するためのマスクの移動量の精度等)を確認することができる。
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
(1)上記実施形態では、表示パネルとして液晶パネル及び有機ELパネルを例示したが、これに限定されない。表示パネルとして、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)表示パネル等を例示することができる。
(2)上記実施形態では、第1マーク及び第2マークとして、部材を形成した後の位置精度を確認するためのものを例示したが、これに限定されない。例えば、実施形態2,3,7の第1マーク及び第2マークは、アライメントマークとして用いてもよい。
(3)上記実施形態では、第1マークが、ソース配線と同じ層に配され、ソース配線を形成する工程で同時に形成される場合を例示したが、これに限定されない。第1マークがソース配線以外の配線と同じ層に配され、その配線と同時に形成されてもよい。
(4)上記実施形態では、第1マーク及び第2マークが一対のガラス基板22,31の間に配される構成を例示したが、これに限定されない。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
(1)上記実施形態では、表示パネルとして液晶パネル及び有機ELパネルを例示したが、これに限定されない。表示パネルとして、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)表示パネル等を例示することができる。
(2)上記実施形態では、第1マーク及び第2マークとして、部材を形成した後の位置精度を確認するためのものを例示したが、これに限定されない。例えば、実施形態2,3,7の第1マーク及び第2マークは、アライメントマークとして用いてもよい。
(3)上記実施形態では、第1マークが、ソース配線と同じ層に配され、ソース配線を形成する工程で同時に形成される場合を例示したが、これに限定されない。第1マークがソース配線以外の配線と同じ層に配され、その配線と同時に形成されてもよい。
(4)上記実施形態では、第1マーク及び第2マークが一対のガラス基板22,31の間に配される構成を例示したが、これに限定されない。
11,411,511,711…液晶パネル(表示パネル)、22…ガラス基板(一対の基板のうち他方の基板)、25…ブラックマトリクス(反対側遮光部)、25A,525A,625A,725A,825A…遮光部、26R,26B,26G…着色部、31…ガラス基板(一対の基板のうち一方の基板)、31A,531A,631A,731A,831A…透光部、40…ソース配線(表示領域に配される配線)、51,251,451,551A,551B,651A,651B,751R,751G,751B,851R,851G,851B…第1マーク、52,352,452,552R,552G,552B,652R,652G,652B,752R,752G,752B,852R,852G,852B…第2マーク、53…開口(透光部)、58…遮光部、59…グランド配線、253…開口(第2マーク及び透光部)、353…開口(透光部)、611,811…有機ELパネル(表示パネル)、625…遮光層、A1…表示領域、A2…非表示領域
Claims (7)
- 画像が表示される表示領域と、
画像が表示されない非表示領域と、
前記非表示領域に配される第1マークと、
前記非表示領域において、前記第1マークが配された層とは異なる層に配され、平面視において前記第1マークと隣接又は重畳する第2マークと、
前記非表示領域において、少なくとも前記第1マークと平面視において重なる形で配される透光部と、
前記非表示領域において、前記第1マーク及び前記第2マークに対して前記透光部と反対側に配されると共に、平面視において前記透光部と重なる遮光部と、を備える表示パネル。 - 対向状に配される一対の基板を備え、
前記第1マークは、前記一対の基板のうち一方の基板に設けられ、
前記第2マークは、前記一対の基板のうち他方の基板に設けられている請求項1に記載の表示パネル。 - 前記非表示領域において、前記第1マークに対して前記遮光部と反対側に配される反対側遮光部を備え、
前記第1マークは複数の目盛を有し、
前記第2マークは、前記複数の目盛と並び方向が平行である複数の目盛を有し、
前記第2マークが有する前記複数の目盛は、前記反対側遮光部に形成された櫛型の開口の縁部によって構成されており、
前記透光部が前記開口である請求項1又は請求項2に記載の表示パネル。 - 前記非表示領域において、前記第1マークに対して前記遮光部と反対側に配される反対側遮光部を備え、
前記透光部は、前記反対側遮光部に形成された開口であり、
前記第2マークは、前記開口である請求項2に記載の表示パネル。 - 前記表示領域に配される着色部を備え、
前記第2マークは、前記着色部と同じ層に配されると共に、前記着色部と同じ材質で構成されている請求項2に記載の表示パネル。 - グランドに接続されるグランド配線を備え、
前記遮光部は、前記グランド配線の一部であり、
前記第1マークは、導電部材によって構成され、前記遮光部に対して電気的に接続されている請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の表示パネル。 - 前記表示領域に配される配線を備え、
前記第1マークは、前記配線と同じ層に配されると共に、前記配線と同じ材質で構成されている請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示パネル。
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