JP2019173009A - Cured body, resin material and multilayer printed board - Google Patents

Cured body, resin material and multilayer printed board Download PDF

Info

Publication number
JP2019173009A
JP2019173009A JP2019061452A JP2019061452A JP2019173009A JP 2019173009 A JP2019173009 A JP 2019173009A JP 2019061452 A JP2019061452 A JP 2019061452A JP 2019061452 A JP2019061452 A JP 2019061452A JP 2019173009 A JP2019173009 A JP 2019173009A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
compound
weight
cured
resin material
cured body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019061452A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
悠子 川原
Yuko Kawahara
悠子 川原
達史 林
Tatsuji Hayashi
達史 林
奨 馬場
Susumu Baba
奨 馬場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Publication of JP2019173009A publication Critical patent/JP2019173009A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

To provide a cured body that 1) can lower a dielectric loss tangent and can improve 2) thermal dimensional stability, 3) elastic moduli, 4) plating peel strength, 5) adhesion between an insulating layer and a metal layer.SOLUTION: The present invention provides a cured body of a resin material containing a bismaleimide compound or bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler, the cured body having a sea-island structure having a sea part and an island part.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、エポキシ化合物と、無機充填材とを含む樹脂材料の硬化体に関する。また、本発明は、エポキシ化合物と、無機充填材とを含む樹脂材料に関する。また、本発明は、上記硬化体を用いた多層プリント配線板に関する。   The present invention relates to a cured body of a resin material containing an epoxy compound and an inorganic filler. The present invention also relates to a resin material containing an epoxy compound and an inorganic filler. Moreover, this invention relates to the multilayer printed wiring board using the said hardening body.

従来、半導体装置、積層板及びプリント配線板等の電子部品を得るために、様々な樹脂材料が用いられている。例えば、多層プリント配線板では、内部の層間を絶縁するための絶縁層を形成したり、表層部分に位置する絶縁層を形成したりするために、樹脂材料が用いられている。上記絶縁層の表面には、一般に金属である配線が積層される。また、上記絶縁層を形成するために、上記樹脂材料がフィルム化された樹脂フィルムが用いられることがある。上記樹脂材料及び上記樹脂フィルムは、ビルドアップフィルムを含む多層プリント配線板用の絶縁材料等として用いられている。   Conventionally, various resin materials have been used to obtain electronic components such as semiconductor devices, laminated boards, and printed wiring boards. For example, in a multilayer printed wiring board, a resin material is used to form an insulating layer for insulating internal layers or to form an insulating layer located in a surface layer portion. On the surface of the insulating layer, a wiring generally made of metal is laminated. Moreover, in order to form the said insulating layer, the resin film in which the said resin material was turned into a film may be used. The resin material and the resin film are used as insulating materials for multilayer printed wiring boards including build-up films.

下記の特許文献1には、マレイミド基と、少なくとも2つのイミド結合を有する2価の基及び飽和又は不飽和の2価の炭化水素基とを有する化合物を含有する樹脂組成物が開示されている。特許文献1には、この樹脂組成物の硬化物を、多層プリント配線板等の絶縁層として用いることができることが記載されている。   The following Patent Document 1 discloses a resin composition containing a compound having a maleimide group, a divalent group having at least two imide bonds, and a saturated or unsaturated divalent hydrocarbon group. . Patent Document 1 describes that a cured product of this resin composition can be used as an insulating layer such as a multilayer printed wiring board.

下記の特許文献2には、(A)多官能エポキシ樹脂(但し、フェノキシ樹脂を除く)、(B)フェノール系硬化剤及び/又は活性エステル系硬化剤、(C)熱可塑性樹脂、(D)無機充填材、並びに(E)4級ホスホニウム系硬化促進剤を含有する樹脂組成物が開示されている。(C)熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、及びポリスルホン樹脂から選択される熱可塑性樹脂である。(E)4級ホスホニウム系硬化促進剤は、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、及びブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネートから選ばれる1種以上の4級ホスホニウム系硬化促進剤である。   Patent Document 2 below includes (A) a polyfunctional epoxy resin (excluding a phenoxy resin), (B) a phenol-based curing agent and / or an active ester-based curing agent, (C) a thermoplastic resin, and (D). A resin composition containing an inorganic filler and (E) a quaternary phosphonium-based curing accelerator is disclosed. (C) The thermoplastic resin is a thermoplastic resin selected from phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide, polyamideimide resin, polyethersulfone resin, and polysulfone resin. (E) The quaternary phosphonium curing accelerator is one or more quaternary compounds selected from tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, and butyltriphenylphosphonium thiocyanate. It is a phosphonium-based curing accelerator.

WO2016/114286A1WO2016 / 114286A1 特開2015−145498号公報JP2015-145498A

特許文献1に記載のような従来の樹脂組成物(樹脂材料)を用いて絶縁層(硬化物)を形成した場合には、硬化物の電気特性をある程度高めることができる。しかしながら、特許文献1に記載のような従来の樹脂材料を用いて絶縁層を形成した場合には、硬化物の熱寸法安定性が十分に高くならない。その結果、冷熱サイクル試験を行ったときに接続信頼性が低くなることがある。また、従来の樹脂材料を用いて絶縁層を形成した場合には、該絶縁層の弾性率が小さく、十分な強度が得られないことがある。さらに、従来の樹脂材料を用いて、セミアディティブ工法により多層プリント配線板等を製造すると、エッチング性が高くなることによって絶縁層の表面粗度が大きくなり、結果として、メッキピール強度が十分に高くならないことがある。また、特許文献2に記載のような従来の樹脂材料を用いて絶縁層を形成した場合には、絶縁層の表面粗度が過度に大きくなったり、誘電正接が十分に小さくならなかったりすることがある。   When an insulating layer (cured product) is formed using a conventional resin composition (resin material) as described in Patent Document 1, the electrical characteristics of the cured product can be enhanced to some extent. However, when the insulating layer is formed using a conventional resin material as described in Patent Document 1, the thermal dimensional stability of the cured product is not sufficiently increased. As a result, connection reliability may be lowered when a thermal cycle test is performed. In addition, when an insulating layer is formed using a conventional resin material, the elastic modulus of the insulating layer is small and sufficient strength may not be obtained. Furthermore, when a multilayer printed wiring board or the like is manufactured using a conventional resin material by a semi-additive method, the surface roughness of the insulating layer is increased due to high etching properties, and as a result, the plating peel strength is sufficiently high. It may not be. In addition, when an insulating layer is formed using a conventional resin material as described in Patent Document 2, the surface roughness of the insulating layer may be excessively increased, or the dielectric loss tangent may not be sufficiently reduced. There is.

このように、1)誘電正接を低くし、2)熱寸法安定性、3)弾性率、4)メッキピール強度、5)絶縁層と金属層との密着性を高めるという、1)−5)の全ての効果を発揮する硬化体を得ることは極めて困難であるという現状がある。   In this way, 1) lowering the dielectric tangent, 2) thermal dimensional stability, 3) elastic modulus, 4) plating peel strength, 5) enhancing adhesion between the insulating layer and the metal layer, 1) -5) It is extremely difficult to obtain a cured product that exhibits all of the above effects.

本発明の目的は、1)誘電正接を低くし、2)熱寸法安定性、3)弾性率、4)メッキピール強度、5)絶縁層と金属層との密着性を高めることができる硬化体を提供することである。また、本発明は、上記硬化体を得ることができる樹脂材料を提供することも目的とする。また、本発明は、上記硬化体を用いた多層プリント配線板を提供することも目的とする。   The objects of the present invention are: 1) a cured product capable of reducing dielectric loss tangent, 2) thermal dimensional stability, 3) elastic modulus, 4) plating peel strength, and 5) enhancing adhesion between an insulating layer and a metal layer. Is to provide. Another object of the present invention is to provide a resin material from which the cured product can be obtained. Another object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board using the cured body.

本発明の広い局面によれば、ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含む樹脂材料の硬化体であり、前記硬化体は、海部と島部とを有する海島構造を有する、硬化体が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, a cured body of a resin material including a bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler, the cured body has a sea-island structure having a sea part and an island part. A cured body is provided.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記ビスマレイミド化合物が、N−アルキルビスマレイミド化合物である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said bismaleimide compound is a N-alkyl bismaleimide compound.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記N−アルキルビスマレイミド化合物が、ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスマレイミド化合物である。   In a specific aspect of the cured product according to the present invention, the N-alkylbismaleimide compound is an N-alkylbismaleimide compound having a skeleton derived from dimer diamine.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記島部の平均長径が5μm以下である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the average major axis of the said island part is 5 micrometers or less.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記島部が前記ビスマレイミド化合物又は前記ビスベンゾオキサジン化合物を含む。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said island part contains the said bismaleimide compound or the said bisbenzoxazine compound.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記樹脂材料が、フェノール化合物、シアネートエステル化合物、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物の内の少なくとも1種の成分を含む硬化剤を含む。   In a specific aspect of the cured product according to the present invention, the resin material is a benzoxazine compound different from a phenol compound, a cyanate ester compound, an acid anhydride, an active ester compound, a carbodiimide compound, and a bisbenzoxazine compound. A curing agent comprising at least one component is included.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記成分が芳香族骨格を有する成分である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said component is a component which has an aromatic skeleton.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記エポキシ化合物が芳香族骨格を有するエポキシ化合物である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said epoxy compound is an epoxy compound which has an aromatic skeleton.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記ビスマレイミド化合物の分子量が500以上15000以下である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the molecular weight of the said bismaleimide compound is 500-15000.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記硬化体100重量%中、前記無機充填材の含有量が50重量%以上である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, content of the said inorganic filler is 50 weight% or more in 100 weight% of said hardening bodies.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記無機充填材の平均粒径が5μm以下である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the average particle diameter of the said inorganic filler is 5 micrometers or less.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記樹脂材料が、熱可塑性樹脂を含み、前記樹脂材料中の前記無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、前記熱可塑性樹脂の含有量が1重量%以上20重量%以下である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said resin material contains a thermoplastic resin, Content of the said thermoplastic resin in 100 weight% of components except the said inorganic filler and solvent in the said resin material. Is 1% by weight or more and 20% by weight or less.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記熱可塑性樹脂の分子量が15000以上である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the molecular weight of the said thermoplastic resin is 15000 or more.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記熱可塑性樹脂がポリイミド化合物である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said thermoplastic resin is a polyimide compound.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記樹脂材料が、硬化促進剤を含み、前記硬化促進剤が、アニオン性硬化促進剤又はラジカル性硬化促進剤を含む。   In a specific aspect of the cured body according to the present invention, the resin material includes a curing accelerator, and the curing accelerator includes an anionic curing accelerator or a radical curing accelerator.

本発明に係る硬化体のある特定の局面では、前記樹脂材料が、前記アニオン性硬化促進剤を含み、前記アニオン性硬化促進剤が、イミダゾール化合物である。   On the specific situation with the hardening body which concerns on this invention, the said resin material contains the said anionic hardening accelerator, and the said anionic hardening accelerator is an imidazole compound.

本発明に係る硬化体は、多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために好適に用いられる。   The cured body according to the present invention is suitably used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board.

本発明の広い局面によれば、ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含み、樹脂材料の硬化体が海部と島部とを有する海島構造を有する、樹脂材料が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, there is provided a resin material having a sea-island structure including a bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler, and a cured body of the resin material having a sea part and an island part. Is done.

本発明の広い局面によれば、回路基板と、前記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、複数の前記絶縁層間に配置された金属層とを備え、複数の前記絶縁層の内の少なくとも1層の前記絶縁層の材料が、上述した硬化体である、多層プリント配線板が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, a circuit board, a plurality of insulating layers disposed on a surface of the circuit board, and a plurality of metal layers disposed between the insulating layers, the plurality of insulating layers are provided. A multilayer printed wiring board is provided in which the material of at least one of the insulating layers is the above-described cured body.

本発明に係る硬化体は、ビスマレイミド化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含む樹脂材料の硬化体である。本発明に係る硬化体は、海部と島部とを有する海島構造を有する。本発明に係る硬化体では、上記の構成が備えられているので、1)誘電正接を低くし、2)熱寸法安定性、3)弾性率、4)メッキピール強度、5)絶縁層と金属層との密着性を高めることができるという、1)−5)の効果を全て発揮することができる。   The cured body according to the present invention is a cured body of a resin material containing a bismaleimide compound, an epoxy compound, and an inorganic filler. The cured body according to the present invention has a sea-island structure having a sea part and an island part. Since the cured body according to the present invention has the above-described configuration, 1) the dielectric loss tangent is lowered, 2) thermal dimensional stability, 3) elastic modulus, 4) plating peel strength, 5) insulating layer and metal. All the effects 1) -5) that the adhesion to the layer can be enhanced can be exhibited.

図1は、本発明の一実施形態に係る硬化体を用いた多層プリント配線板を模式的に示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a multilayer printed wiring board using a cured body according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明を詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明に係る硬化体は、ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含む樹脂材料の硬化体である。本発明に係る硬化体は、海部と島部とを有する海島構造を有する。本発明に係る硬化体は、ビスマレイミド化合物を含んでいてもよく、ビスベンゾオキサジン化合物を含んでいてもよく、ビスマレイミド化合物とビスベンゾオキサジン化合物とを含んでいてもよい。   The cured product according to the present invention is a cured product of a resin material containing a bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler. The cured body according to the present invention has a sea-island structure having a sea part and an island part. The cured product according to the present invention may contain a bismaleimide compound, may contain a bisbenzoxazine compound, and may contain a bismaleimide compound and a bisbenzoxazine compound.

本発明に係る硬化体では、上記の構成が備えられているので、1)誘電正接を低くし、2)熱寸法安定性、3)弾性率、4)メッキピール強度、5)絶縁層と金属層との密着性を高めることができるという、1)−5)の効果を全て発揮することができる。例えば、2)熱寸法安定性として、線膨張係数を小さくすることができる。その結果、例えば、冷熱サイクル試験において、接続信頼性を高めることができる。また、4)メッキピール強度として、粗化処理された硬化物(絶縁層)と、該絶縁層の表面上にめっき処理することにより積層した金属層とのピール強度を高めることができる。また、上記粗化処理された硬化物(絶縁層)の粗度が小さい場合であっても、メッキピール強度を高めることができる。また、ビスベンゾオキサジン化合物を含む硬化物(絶縁層)では、線膨張係数を一層低くすることができ、また、絶縁層と金属層との接着強度を一層高めることができる。   Since the cured body according to the present invention has the above-described configuration, 1) the dielectric loss tangent is lowered, 2) thermal dimensional stability, 3) elastic modulus, 4) plating peel strength, 5) insulating layer and metal. All the effects 1) -5) that the adhesion to the layer can be enhanced can be exhibited. For example, 2) As the thermal dimensional stability, the linear expansion coefficient can be reduced. As a result, connection reliability can be enhanced, for example, in a thermal cycle test. 4) As the plating peel strength, the peel strength between the roughened cured product (insulating layer) and the metal layer laminated by plating on the surface of the insulating layer can be increased. Moreover, even if the roughness of the roughened cured product (insulating layer) is small, the plating peel strength can be increased. Moreover, in the hardened | cured material (insulating layer) containing a bisbenzoxazine compound, a linear expansion coefficient can be made still lower and the adhesive strength of an insulating layer and a metal layer can be raised further.

また、本発明に係る硬化体では、上記の構成が備えられているので、エッチング後の表面粗度を小さくすることができ、表面を良好にすることができる。また、本発明に係る硬化体では、硬化温度を低く抑える(例えば200℃以下)ことができる。また、本発明に係る硬化体では、該硬化体を用いて得られる多層プリント配線板等の積層基板において、表皮効果による導体損失を低くすることができる。   In addition, since the cured body according to the present invention has the above-described configuration, the surface roughness after etching can be reduced and the surface can be improved. Moreover, in the hardening body which concerns on this invention, hardening temperature can be restrained low (for example, 200 degrees C or less). Moreover, in the cured body according to the present invention, conductor loss due to the skin effect can be reduced in a multilayer substrate such as a multilayer printed wiring board obtained using the cured body.

本発明に係る硬化体は、海部と島部とを有する海島構造を有する。   The cured body according to the present invention has a sea-island structure having a sea part and an island part.

本発明に係る樹脂材料は、ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含む。本発明に係る樹脂材料では、樹脂材料の硬化体が海部と島部とを有する海島構造を有する。本発明に係る樹脂材料は、ビスマレイミド化合物を含んでいてもよく、ビスベンゾオキサジン化合物を含んでいてもよく、ビスマレイミド化合物とビスベンゾオキサジン化合物とを含んでいてもよい。   The resin material according to the present invention includes a bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler. In the resin material according to the present invention, the cured body of the resin material has a sea-island structure having a sea part and an island part. The resin material according to the present invention may contain a bismaleimide compound, may contain a bisbenzoxazine compound, and may contain a bismaleimide compound and a bisbenzoxazine compound.

誘電正接を低くし、メッキピール強度及び絶縁層と金属層との密着性を高める観点からは、上記島部は、上記ビスマレイミド化合物又は上記ビスベンゾオキサジン化合物を含むことが好ましい。上記硬化体において上記ビスマレイミド化合物又は上記ビスベンゾオキサジン化合物が反応している場合には、上記島部に含まれる上記ビスマレイミド化合物又は上記ビスベンゾオキサジン化合物は反応物である。特に、島部が、比較的柔軟な骨格であるダイマージアミンに由来する骨格を有するビスマレイミド化合物を含む場合には、線膨張係数をより一層低くすることができる。そのためビスマレイミド化合物が有するダイマージアミンに由来する骨格の含有率を多くすることも可能である。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent and increasing the peel strength of the plating and the adhesion between the insulating layer and the metal layer, the island part preferably contains the bismaleimide compound or the bisbenzoxazine compound. When the bismaleimide compound or the bisbenzoxazine compound is reacted in the cured product, the bismaleimide compound or the bisbenzoxazine compound contained in the island is a reactant. In particular, when the island portion contains a bismaleimide compound having a skeleton derived from dimer diamine, which is a relatively flexible skeleton, the linear expansion coefficient can be further reduced. Therefore, it is possible to increase the content of the skeleton derived from dimer diamine which the bismaleimide compound has.

誘電正接を低くし、熱寸法安定性及び弾性率を高め、また、絶縁層の表面粗さを小さくする観点からは、上記海部は、上記エポキシ化合物に由来する成分と上記無機充填材を含むことが好ましい。また、上記樹脂材料が硬化剤を含む場合には、上記海部は、上記硬化剤に由来する成分を含むことが好ましい。また、上記樹脂材料が硬化促進剤を含む場合には、上記海部は、硬化促進剤に由来する成分を含むことが好ましい。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent, increasing the thermal dimensional stability and elastic modulus, and reducing the surface roughness of the insulating layer, the sea part contains the component derived from the epoxy compound and the inorganic filler. Is preferred. Moreover, when the said resin material contains a hardening | curing agent, it is preferable that the said sea part contains the component originating in the said hardening | curing agent. Moreover, when the said resin material contains a hardening accelerator, it is preferable that the said sea part contains the component originating in a hardening accelerator.

上記海部100重量%中に含まれる無機充填材の含有量は、上記島部100重量%中に存在する無機充填材の含有量よりも多いことが好ましい。この場合には、熱寸法安定性及び弾性率をより一層高めることができる。上記海部100重量%中に含まれる無機充填材の含有量が30重量%以上である場合に、特に優れた効果が得られる。   The content of the inorganic filler contained in 100% by weight of the sea part is preferably larger than the content of the inorganic filler present in 100% by weight of the island part. In this case, thermal dimensional stability and elastic modulus can be further increased. A particularly excellent effect is obtained when the content of the inorganic filler contained in 100% by weight of the sea part is 30% by weight or more.

誘電正接を低くし、熱寸法安定性を高め、また、絶縁層の表面粗さを小さくする観点からは、上記島部の平均長径は、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下、更に好ましくは1.5μm以下である。上記島部の平均長径の下限は特に限定されない。上記島部の平均長径は0.1μm以上であってもよい。   From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent, increasing the thermal dimensional stability, and reducing the surface roughness of the insulating layer, the average major axis of the island is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, and still more preferably. It is 1.5 μm or less. The lower limit of the average major axis of the island is not particularly limited. The average major axis of the island part may be 0.1 μm or more.

上記硬化体の25℃以上150℃以下での平均線膨張係数(CTE)は、好ましくは30ppm/℃以下、より好ましくは25ppm/℃以下である。上記平均線膨張係数が上記上限以下であると、熱寸法安定性により一層優れる。   The average linear expansion coefficient (CTE) at 25 ° C. or more and 150 ° C. or less of the cured body is preferably 30 ppm / ° C. or less, more preferably 25 ppm / ° C. or less. When the average linear expansion coefficient is not more than the above upper limit, the thermal dimensional stability is further improved.

上記硬化体を190℃で90分間加熱して硬化物(絶縁層)を得た場合に、上記硬化物の25℃以上150℃以下での平均線膨張係数(CTE)は、好ましくは30ppm/℃以下、より好ましくは25ppm/℃以下である。上記平均線膨張係数が上記上限以下であると、熱寸法安定性により一層優れる。   When the cured product is heated at 190 ° C. for 90 minutes to obtain a cured product (insulating layer), the average linear expansion coefficient (CTE) of the cured product at 25 ° C. to 150 ° C. is preferably 30 ppm / ° C. Hereinafter, it is more preferably 25 ppm / ° C. or less. When the average linear expansion coefficient is not more than the above upper limit, the thermal dimensional stability is further improved.

上記硬化体の周波数1.0GHzでの誘電正接は、好ましくは0.005以下、より好ましくは0.004以下である。上記誘電正接が上記上限以下であると、伝送損失がより一層抑えられる。   The dielectric loss tangent of the cured body at a frequency of 1.0 GHz is preferably 0.005 or less, more preferably 0.004 or less. When the dielectric loss tangent is less than or equal to the upper limit, transmission loss is further suppressed.

上記硬化体を190℃で90分間加熱して硬化物(絶縁層)を得た場合に、上記硬化物の周波数1.0GHzでの誘電正接は、好ましくは0.005以下、より好ましくは0.004以下である。上記誘電正接が上記上限以下であると、伝送損失がより一層抑えられる。   When the cured body is heated at 190 ° C. for 90 minutes to obtain a cured product (insulating layer), the dielectric loss tangent of the cured product at a frequency of 1.0 GHz is preferably 0.005 or less, more preferably 0.8. 004 or less. When the dielectric loss tangent is less than or equal to the upper limit, transmission loss is further suppressed.

なお、上記硬化体の使用時に、上記硬化体は、190℃及び90分間以外の条件で、加熱して硬化されてもよい。   In addition, at the time of use of the said hardening body, the said hardening body may be hardened by heating on conditions other than 190 degreeC and 90 minutes.

以下、本発明に係る硬化体及び該硬化体を得るための樹脂材料に用いられる各成分の詳細、及び本発明に係る硬化体の用途などを説明する。   Hereinafter, the details of each component used for the cured body according to the present invention and the resin material for obtaining the cured body, and the use of the cured body according to the present invention will be described.

[ビスマレイミド化合物]
上記樹脂材料は、ビスマレイミド化合物を含むことが好ましい。上記ビスマレイミド化合物は特に限定されない。上記ビスマレイミド化合物は、マレイミド基を有する。上記ビスマレイミド化合物として、従来公知のビスマレイミド化合物を使用可能である。なお、本発明に係るビスマレイミド化合物には、シトラコンイミド化合物が含まれる。上記シトラコンイミド化合物とは、マレイミド基における炭素原子間の二重結合を構成する炭素原子の一方にメチル基が結合した化合物である。上記ビスマレイミド化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Bismaleimide compounds]
The resin material preferably contains a bismaleimide compound. The bismaleimide compound is not particularly limited. The bismaleimide compound has a maleimide group. A conventionally known bismaleimide compound can be used as the bismaleimide compound. The bismaleimide compound according to the present invention includes a citraconimide compound. The citraconimide compound is a compound in which a methyl group is bonded to one of carbon atoms constituting a double bond between carbon atoms in a maleimide group. As for the said bismaleimide compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記ビスマレイミド化合物としては、芳香族ビスマレイミド化合物、及び脂肪族ビスマレイミド化合物等が挙げられる。   Examples of the bismaleimide compound include aromatic bismaleimide compounds and aliphatic bismaleimide compounds.

上記脂肪族ビスマレイミド化合物としては、N−アルキルビスマレイミド化合物等が挙げられる。   Examples of the aliphatic bismaleimide compound include N-alkyl bismaleimide compounds.

誘電正接を低くし、硬化温度を低く抑える観点からは、上記ビスマレイミド化合物は、N−アルキルビスマレイミド化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent and keeping the curing temperature low, the bismaleimide compound is preferably an N-alkyl bismaleimide compound.

上述した1)−5)の本発明の効果をより一層効果的に発揮する観点からは、上記N−アルキルビスマレイミド化合物は、マレイミド基における窒素原子に脂肪族骨格が結合した構造を有することが好ましい。また、エッチング性能を高める観点からは、N−アルキルビスマレイミド化合物は、イミド結合、又はダイマージアミンに由来する骨格を有していることが好ましい。   From the viewpoint of more effectively exerting the effects of the present invention 1) -5) described above, the N-alkylbismaleimide compound has a structure in which an aliphatic skeleton is bonded to a nitrogen atom in a maleimide group. preferable. From the viewpoint of improving the etching performance, the N-alkylbismaleimide compound preferably has an imide bond or a skeleton derived from dimer diamine.

誘電正接をより一層低くする観点からは、上記N−アルキルビスマレイミド化合物は、ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスマレイミド化合物であることがより好ましい。ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスマレイミド化合物において、ダイマージアミン骨格は、部分骨格として存在する。   From the viewpoint of further reducing the dielectric loss tangent, the N-alkylbismaleimide compound is more preferably an N-alkylbismaleimide compound having a skeleton derived from dimer diamine. In the N-alkyl bismaleimide compound having a skeleton derived from dimeramine amine, the dimeramine skeleton exists as a partial skeleton.

上記ビスマレイミド化合物は、例えば、テトラカルボン酸二無水物とジアミン化合物とを反応させて両末端がアミノ基である化合物を得た後、該化合物と無水マレイン酸とを反応させて得ることができる。また、上記ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスマレイミド化合物は、例えば、テトラカルボン酸二無水物とダイマージアミンを反応させて両末端がダイマージアミンに由来する骨格を有する化合物を得た後、該化合物と無水マレイン酸とを反応させて得ることができる。   The bismaleimide compound can be obtained, for example, by reacting a tetracarboxylic dianhydride and a diamine compound to obtain a compound having amino groups at both ends, and then reacting the compound with maleic anhydride. . In addition, the N-alkylbismaleimide compound having a skeleton derived from dimeramine is obtained by reacting, for example, tetracarboxylic dianhydride and dimeramine to obtain a compound having a skeleton derived from dimeramine at both ends. It can be obtained by reacting the compound with maleic anhydride.

上記テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−テトラフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フランテトラカルボン酸二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフィド二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルホン二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパン二無水物、3,3’,4,4’−パーフルオロイソプロピリデンジフタル酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(フタル酸)フェニルホスフィンオキサイド二無水物、p−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、m−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、ビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルエーテル二無水物、及びビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルメタン二無水物等が挙げられる。   Examples of the tetracarboxylic dianhydride include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, and 3,3 ′, 4,4′-biphenylsulfonetetra. Carboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyl ether Tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-dimethyldiphenylsilane tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-tetraphenylsilane tetracarboxylic dianhydride, 1,2 , 3,4-furantetracarboxylic dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfide dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxypheno) Ii) diphenylsulfone dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenylpropane dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-perfluoroisopropylidenediphthalic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (phthalic acid) phenylphosphine oxide dianhydride, p-phenylene-bis (triphenylphthalic acid) dianhydride, m-phenylene-bis (Triphenylphthalic acid) dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenyl ether dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenylmethane dianhydride, etc. .

上記ジアミン化合物としては、1,3−ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、1,4−ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、ビス(アミノメチル)ノルボルナン、3(4),8(9)−ビス(アミノメチル)トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン、1,3−シクロヘキサンジアミン、1,4−シクロヘキサンジアミン、イソホロンジアミン、4,4’−メチレンビス(シクロヘキシルアミン)、4,4’−メチレンビス(2−メチルシクロヘキシルアミン)、1,4−ジアミノブタン、1,10−ジアミノデカン、1,12−ジアミノドデカン、1,7−ジアミノヘプタン、1,6−ジアミノヘキサン、1,5−ジアミノペンタン、1,8−ジアミノオクタン、1,3−ジアミノプロパン、1,11−ジアミノウンデカン、2−メチル−1,5−ジアミノペンタン、及びダイマージアミン等が挙げられる。   Examples of the diamine compound include 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (aminomethyl) cyclohexane, bis (aminomethyl) norbornane, and 3 (4), 8 (9) -bis (aminomethyl). Tricyclo [5.2.1.02,6] decane, 1,3-cyclohexanediamine, 1,4-cyclohexanediamine, isophoronediamine, 4,4′-methylenebis (cyclohexylamine), 4,4′-methylenebis (2 -Methylcyclohexylamine), 1,4-diaminobutane, 1,10-diaminodecane, 1,12-diaminododecane, 1,7-diaminoheptane, 1,6-diaminohexane, 1,5-diaminopentane, 1, 8-diaminooctane, 1,3-diaminopropane, 1,11-diaminoundecane, 2-me Le-1,5-diaminopentane, and dimer diamine, and the like.

本発明の効果により一層優れることから、上記ジアミン化合物は、脂環族骨格を有するジアミン化合物であることが好ましい。この場合に、上記ビスマレイミド化合物は、テトラカルボン酸二無水物と脂肪族骨格を有するジアミン化合物との反応物に由来する骨格を有していてもよく、テトラカルボン酸二無水物と、脂肪族骨格を有するジアミン化合物と、脂肪族骨格を有するジアミン化合物とは異なるアミン化合物との反応物に由来する骨格を有していてもよい。また、上記ビスマレイミド化合物は、両末端のジアミン骨格が上記脂肪族骨格を有するジアミン化合物に由来したジアミン骨格を有し、かつ両末端以外のジアミン骨格が芳香族骨格を有するジアミン化合物に由来したジアミン骨格を有してもよい。   The diamine compound is preferably a diamine compound having an alicyclic skeleton because it is more excellent due to the effects of the present invention. In this case, the bismaleimide compound may have a skeleton derived from a reaction product of a tetracarboxylic dianhydride and a diamine compound having an aliphatic skeleton, and the tetracarboxylic dianhydride and the aliphatic It may have a skeleton derived from a reaction product of a diamine compound having a skeleton and an amine compound different from the diamine compound having an aliphatic skeleton. The bismaleimide compound has a diamine skeleton derived from a diamine compound in which both diamine skeletons have the aliphatic skeleton, and a diamine skeleton derived from a diamine compound in which the diamine skeleton other than both ends has an aromatic skeleton. It may have a skeleton.

上記ダイマージアミンの市販品としては、例えば、バーサミン551(商品名、BASFジャパン社製、3,4−ビス(1−アミノヘプチル)−6−ヘキシル−5−(1−オクテニル)シクロヘキセン)、バーサミン552(商品名、コグニクスジャパン社製、バーサミン551の水添物)、PRIAMINE1075、PRIAMINE1074(商品名、いずれもクローダジャパン社製)等が挙げられる。   Examples of commercially available dimeramine amines include Versamine 551 (trade name, manufactured by BASF Japan, 3,4-bis (1-aminoheptyl) -6-hexyl-5- (1-octenyl) cyclohexene), Versamine 552. (Brand name, Cognics Japan Co., Ltd., hydrogenated product of Versamine 551), PRIAMINE 1075, PRIAMINE 1074 (Brand name, both manufactured by Claude Japan Co., Ltd.) and the like.

上記N−アルキルビスマレイミド化合物の市販品としては、Designer Molecules Inc.社製「BMI−1500」、及び「BMI−1700」、「BMI−3000」等が挙げられる。   As a commercial item of the said N-alkyl bismaleimide compound, Designer Molecules Inc. is mentioned. “BMI-1500”, “BMI-1700”, “BMI-3000” and the like manufactured by the company are listed.

上記ビスマレイミド化合物の含有量の、上記エポキシ化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比を、重量比(上記ビスマレイミド化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)と記載する。上記樹脂材料が上記ビスマレイミド化合物を含む場合に、上記重量比(上記ビスマレイミド化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.05以上、より好ましくは0.1以上、更に好ましくは0.15以上である。上記重量比(上記ビスマレイミド化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.75以下、より好ましくは0.6以下、更に好ましくは0.5以下である。上記重量比(上記ビスマレイミド化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。上記ビスマレイミド化合物を含む島部を容易に形成させ、海島構造を更により一層容易に形成させる観点からは、上記重量比(上記ビスマレイミド化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、0.1以上、0.5以下であることが好ましい。   The weight ratio of the content of the bismaleimide compound to the total content of the epoxy compound and the component X described later is expressed as a weight ratio (content of the bismaleimide compound / total of the epoxy compound and the component X). Content). When the resin material contains the bismaleimide compound, the weight ratio (the content of the bismaleimide compound / the total content of the epoxy compound and the component X) is preferably 0.05 or more, more preferably Is 0.1 or more, more preferably 0.15 or more. The weight ratio (content of the bismaleimide compound / total content of the epoxy compound and the component X) is preferably 0.75 or less, more preferably 0.6 or less, and even more preferably 0.5 or less. It is. When the weight ratio (content of the bismaleimide compound / total content of the epoxy compound and the component X) is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the sea-island structure can be formed more easily. Further, the dielectric loss tangent can be further lowered, and the thermal dimensional stability, the elastic modulus, and the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be further enhanced. From the viewpoint of easily forming an island portion containing the bismaleimide compound and forming a sea-island structure even more easily, the weight ratio (content of the bismaleimide compound / total of the epoxy compound and the component X) Is preferably 0.1 or more and 0.5 or less.

上記樹脂材料が上記ビスマレイミド化合物を含む場合に、上記樹脂材料中の無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、上記ビスマレイミド化合物の含有量は、好ましくは8重量%以上、より好ましくは10重量%以上、好ましくは65重量%以下、より好ましくは50重量%以下、特に好ましくは40重量%以下である。上記ビスマレイミド化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   When the resin material contains the bismaleimide compound, the content of the bismaleimide compound is preferably 8% by weight or more, more preferably 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and the solvent in the resin material. It is 10% by weight or more, preferably 65% by weight or less, more preferably 50% by weight or less, and particularly preferably 40% by weight or less. When the content of the bismaleimide compound is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed, the dielectric loss tangent is further lowered, the thermal dimensional stability, the elastic modulus, and the insulating layer And the metal layer can be further improved in adhesion.

上記硬化体が上記ビスマレイミド化合物を含む場合に、上記硬化体中の無機充填材を除く成分100重量%中、上記ビスマレイミド化合物の含有量は、好ましくは8重量%以上、より好ましくは10重量%以上、好ましくは65重量%以下、より好ましくは60重量%以下、更に好ましくは50重量%以下である。上記ビスマレイミド化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   When the cured body contains the bismaleimide compound, the content of the bismaleimide compound is preferably 8% by weight or more, more preferably 10% by weight in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler in the cured body. % Or more, preferably 65% by weight or less, more preferably 60% by weight or less, and still more preferably 50% by weight or less. When the content of the bismaleimide compound is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed, the dielectric loss tangent is further lowered, the thermal dimensional stability, the elastic modulus, and the insulating layer And the metal layer can be further improved in adhesion.

上記ビスマレイミド化合物の分子量の大きさを変更することにより、海島構造の形成しやすさ、及び島部の大きさを任意に制御することが可能である。上記樹脂材料の保存安定性をより一層高くし、Bステージフィルムの回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性をより一層高める観点からは、上記ビスマレイミド化合物の分子量は、好ましくは500以上、より好ましくは600以上、好ましくは15000以下、より好ましくは10000未満、更に好ましくは5000未満である。また、上記ビスマレイミド化合物の分子量が上述の範囲を満足すると、海島構造を形成しやすくなり、熱膨張係数をより一層小さくすることができ、弾性率を高めることができる。特に、上記ビスマレイミド化合物の分子量が15000以下であると、他の樹脂成分と十分に混合することができるため、より一層粗面を良好にすることができる。また、上記ビスマレイミド化合物の分子量が15000以下であると、分子量が15000以上の高分子量成分を添加する場合と比較して、溶融粘度の上昇を効果的に抑えることができる。そのため、分子量が15000以下であるビスマレイミド化合物の添加量を上記高分子量成分の添加量よりも多くすることができる。その結果、誘電正接と埋め込み性との双方を良好にすることができる。   By changing the molecular weight of the bismaleimide compound, it is possible to arbitrarily control the ease of forming a sea-island structure and the size of the island. From the viewpoint of further increasing the storage stability of the resin material and further enhancing the embedding property of the B stage film in the holes or irregularities of the circuit board, the molecular weight of the bismaleimide compound is preferably 500 or more, more preferably 600 or more, preferably 15000 or less, more preferably less than 10,000, and still more preferably less than 5000. Moreover, when the molecular weight of the bismaleimide compound satisfies the above range, it becomes easy to form a sea-island structure, the thermal expansion coefficient can be further reduced, and the elastic modulus can be increased. In particular, when the molecular weight of the bismaleimide compound is 15000 or less, it can be sufficiently mixed with other resin components, and thus the rough surface can be further improved. Further, when the molecular weight of the bismaleimide compound is 15000 or less, an increase in melt viscosity can be effectively suppressed as compared with the case where a high molecular weight component having a molecular weight of 15000 or more is added. Therefore, the addition amount of the bismaleimide compound having a molecular weight of 15000 or less can be made larger than the addition amount of the high molecular weight component. As a result, both the dielectric loss tangent and the embedding property can be improved.

上記ビスマレイミド化合物の分子量は、上記ビスマレイミド化合物が重合体ではない場合、及び上記ビスマレイミド化合物の構造式が特定できる場合は、当該構造式から算出できる分子量を意味する。また、上記ビスマレイミド化合物の分子量は、上記ビスマレイミド化合物が重合体である場合は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The molecular weight of the bismaleimide compound means a molecular weight that can be calculated from the structural formula when the bismaleimide compound is not a polymer and when the structural formula of the bismaleimide compound can be specified. Moreover, the molecular weight of the said bismaleimide compound shows the weight average molecular weight in polystyrene conversion measured by gel permeation chromatography (GPC), when the said bismaleimide compound is a polymer.

[ビスベンゾオキサジン化合物]
上記樹脂材料は、ビスベンゾオキサジン化合物を含むことが好ましい。上記ビスベンゾオキサジン化合物は特に限定されない。上記ビスベンゾオキサジン化合物として、従来公知のビスベンゾオキサジン化合物を使用可能である。上記ビスベンゾオキサジン化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Bisbenzoxazine compound]
The resin material preferably contains a bisbenzoxazine compound. The bisbenzoxazine compound is not particularly limited. As the bisbenzoxazine compound, a conventionally known bisbenzoxazine compound can be used. As for the said bisbenzoxazine compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記ビスベンゾオキサジン化合物としては、芳香族ビスベンゾオキサジン化合物、及び脂肪族ビスベンゾオキサジン化合物等が挙げられる。   Examples of the bisbenzoxazine compound include aromatic bisbenzoxazine compounds and aliphatic bisbenzoxazine compounds.

上記ビスベンゾオキサジン化合物は、上述したビスマレイミド化合物のマレイミド骨格が、ベンゾオキサジン骨格に置換された化合物であることが好ましい。   The bisbenzoxazine compound is preferably a compound in which the maleimide skeleton of the bismaleimide compound described above is substituted with a benzoxazine skeleton.

上記脂肪族ビスベンゾオキサジン化合物としては、N−アルキルビスベンゾオキサジン化合物等が挙げられる。   Examples of the aliphatic bisbenzoxazine compound include N-alkylbisbenzoxazine compounds.

誘電正接を低くし、硬化温度を低く抑える観点からは、上記ビスベンゾオキサジン化合物は、N−アルキルビスベンゾオキサジン化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent and keeping the curing temperature low, the bisbenzoxazine compound is preferably an N-alkylbisbenzoxazine compound.

エッチング性能を高める観点からは、N−アルキルビスベンゾオキサジン化合物は、イミド結合、又はダイマージアミンに由来する骨格を有していることが好ましい。   From the viewpoint of improving the etching performance, the N-alkylbisbenzoxazine compound preferably has an imide bond or a skeleton derived from dimer diamine.

上記ビスベンゾオキサジン化合物は、例えば、上述したテトラカルボン酸二無水物と上述したジアミン化合物とを反応させて両末端がアミノ基である化合物を得た後、該化合物とフェノールとパラホルムアルデヒドとを反応させて得ることができる。また、上記ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスベンゾオキサジン化合物は、例えば、テトラカルボン酸二無水物とダイマージアミンを反応させて両末端がダイマージアミンに由来する骨格を有する化合物を得た後、該化合物とフェノールとパラホルムアルデヒドとを反応させて得ることができる。   The bisbenzoxazine compound is obtained by, for example, reacting the above-described tetracarboxylic dianhydride with the above-described diamine compound to obtain a compound having both amino groups, and then reacting the compound with phenol and paraformaldehyde. Can be obtained. In addition, the N-alkylbisbenzoxazine compound having a skeleton derived from dimerized amine was obtained by, for example, reacting tetracarboxylic dianhydride and dimerized amine to obtain a compound having a skeleton derived from dimerized amine at both ends. Thereafter, the compound can be obtained by reacting phenol with paraformaldehyde.

上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量の、上記エポキシ化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比を、重量比(上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)と記載する。上記樹脂材料が上記ビスベンゾオキサジン化合物を含む場合に、上記重量比(上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.05以上、より好ましくは0.1以上、更に好ましくは0.15以上である。上記重量比(上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.75以下、より好ましくは0.6以下、更に好ましくは0.5以下である。上記重量比(上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。上記ビスベンゾオキサジン化合物を含む島部を容易に形成させ、海島構造を更により一層容易に形成させる観点からは、上記重量比(上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、0.1以上、0.5以下であることが好ましい。   The weight ratio of the content of the bisbenzoxazine compound to the total content of the epoxy compound and the component X described later is expressed as a weight ratio (content of the bisbenzoxazine compound / the epoxy compound and the component X). Total content). When the resin material contains the bisbenzoxazine compound, the weight ratio (content of the bisbenzoxazine compound / total content of the epoxy compound and the component X) is preferably 0.05 or more, More preferably, it is 0.1 or more, More preferably, it is 0.15 or more. The weight ratio (content of the bisbenzoxazine compound / total content of the epoxy compound and the component X) is preferably 0.75 or less, more preferably 0.6 or less, and still more preferably 0.5. It is as follows. When the weight ratio (content of the bisbenzoxazine compound / total content of the epoxy compound and the component X) is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed. In addition, the dielectric loss tangent can be further lowered, and the thermal dimensional stability, the elastic modulus, and the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be further enhanced. From the viewpoint of easily forming an island portion containing the bisbenzoxazine compound and further easily forming a sea-island structure, the weight ratio (content of the bisbenzoxazine compound / epoxy compound and the component X) Is preferably 0.1 or more and 0.5 or less.

上記樹脂材料が上記ビスベンゾオキサジン化合物を含む場合に、上記樹脂材料中の無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量は、好ましくは8重量%以上、より好ましくは10重量%以上、好ましくは65重量%以下、より好ましくは50重量%以下、特に好ましくは40重量%以下である。上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   When the resin material contains the bisbenzoxazine compound, the content of the bisbenzoxazine compound is preferably 8% by weight or more in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and the solvent in the resin material. Preferably it is 10 weight% or more, Preferably it is 65 weight% or less, More preferably, it is 50 weight% or less, Most preferably, it is 40 weight% or less. When the content of the bisbenzoxazine compound is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed, the dielectric loss tangent is further lowered, the thermal dimensional stability, the elastic modulus and the insulation. The adhesion between the layer and the metal layer can be further enhanced.

上記硬化体が上記ビスベンゾオキサジン化合物を含む場合に、上記硬化体中の無機充填材を除く成分100重量%中、上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量は、好ましくは8重量%以上、より好ましくは10重量%以上、好ましくは65重量%以下、より好ましくは60重量%以下、更に好ましくは50重量%以下である。上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、熱寸法安定性、弾性率及び絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   When the cured body contains the bisbenzoxazine compound, the content of the bisbenzoxazine compound is preferably 8% by weight or more, more preferably 100% by weight of the component excluding the inorganic filler in the cured body. It is 10% by weight or more, preferably 65% by weight or less, more preferably 60% by weight or less, and still more preferably 50% by weight or less. When the content of the bisbenzoxazine compound is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed, the dielectric loss tangent is further lowered, the thermal dimensional stability, the elastic modulus and the insulation. The adhesion between the layer and the metal layer can be further enhanced.

上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量の大きさを変更することにより、海島構造の形成しやすさ、及び島部の大きさを任意に制御することが可能である。上記樹脂材料の保存安定性をより一層高くし、Bステージフィルムの回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性をより一層高める観点からは、上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量は、好ましくは500以上、より好ましくは600以上、好ましくは15000以下、より好ましくは10000未満、更に好ましくは5000未満である。また、上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量が上述の範囲を満足すると、海島構造を形成しやすくなり、熱膨張係数をより一層小さくすることができ、弾性率を高めることができる。特に、上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量が15000以下であると、他の樹脂成分と十分に混合することができるため、より一層粗面を良好にすることができる。また、上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量が15000以下であると、分子量が15000以上の高分子量成分を添加する場合と比較して、溶融粘度の上昇を効果的に抑えることができる。そのため、分子量が15000以下であるビスベンゾオキサジン化合物の添加量を上記高分子量成分の添加量よりも多くすることができる。その結果、誘電正接と埋め込み性との双方を良好にすることができる。   By changing the molecular weight of the bisbenzoxazine compound, it is possible to arbitrarily control the ease of forming the sea-island structure and the size of the island. From the viewpoint of further increasing the storage stability of the resin material and further enhancing the embedding property of the B-stage film in the holes or irregularities of the circuit board, the molecular weight of the bisbenzoxazine compound is preferably 500 or more, more preferably Is 600 or more, preferably 15000 or less, more preferably less than 10,000, and still more preferably less than 5000. Moreover, when the molecular weight of the bisbenzoxazine compound satisfies the above range, a sea-island structure is easily formed, the thermal expansion coefficient can be further reduced, and the elastic modulus can be increased. In particular, when the molecular weight of the bisbenzoxazine compound is 15000 or less, it can be sufficiently mixed with other resin components, so that the rough surface can be further improved. Further, when the molecular weight of the bisbenzoxazine compound is 15000 or less, an increase in melt viscosity can be effectively suppressed as compared with the case where a high molecular weight component having a molecular weight of 15000 or more is added. Therefore, the addition amount of the bisbenzoxazine compound having a molecular weight of 15000 or less can be made larger than the addition amount of the high molecular weight component. As a result, both the dielectric loss tangent and the embedding property can be improved.

上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量は、上記ビスベンゾオキサジン化合物が重合体ではない場合、及び上記ビスベンゾオキサジン化合物の構造式が特定できる場合は、当該構造式から算出できる分子量を意味する。また、上記ビスベンゾオキサジン化合物の分子量は、上記ビスベンゾオキサジン化合物が重合体である場合は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The molecular weight of the bisbenzoxazine compound means a molecular weight that can be calculated from the structural formula when the bisbenzoxazine compound is not a polymer and when the structural formula of the bisbenzoxazine compound can be specified. Moreover, the molecular weight of the said bisbenzoxazine compound shows the weight average molecular weight in polystyrene conversion measured by gel permeation chromatography (GPC), when the said bisbenzoxazine compound is a polymer.

[エポキシ化合物]
上記樹脂材料は、エポキシ化合物を含む。上記エポキシ化合物として、従来公知のエポキシ化合物を使用可能である。上記エポキシ化合物は、少なくとも1個のエポキシ基を有する有機化合物をいう。上記エポキシ化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Epoxy compound]
The resin material includes an epoxy compound. A conventionally well-known epoxy compound can be used as said epoxy compound. The epoxy compound refers to an organic compound having at least one epoxy group. As for the said epoxy compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記エポキシ化合物としては、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型エポキシ化合物、ビスフェノールS型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、ビフェニル型エポキシ化合物、ビフェニルノボラック型エポキシ化合物、ビフェノール型エポキシ化合物、ナフタレン型エポキシ化合物、フルオレン型エポキシ化合物、フェノールアラルキル型エポキシ化合物、ナフトールアラルキル型エポキシ化合物、ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物、アントラセン型エポキシ化合物、アダマンタン骨格を有するエポキシ化合物、トリシクロデカン骨格を有するエポキシ化合物、ナフチレンエーテル型エポキシ化合物、及びトリアジン核を骨格に有するエポキシ化合物等が挙げられる。   Examples of the epoxy compounds include bisphenol A type epoxy compounds, bisphenol F type epoxy compounds, bisphenol S type epoxy compounds, phenol novolac type epoxy compounds, biphenyl type epoxy compounds, biphenyl novolac type epoxy compounds, biphenol type epoxy compounds, and naphthalene type epoxy compounds. Fluorene type epoxy compound, phenol aralkyl type epoxy compound, naphthol aralkyl type epoxy compound, dicyclopentadiene type epoxy compound, anthracene type epoxy compound, epoxy compound having adamantane skeleton, epoxy compound having tricyclodecane skeleton, naphthylene ether type Examples thereof include an epoxy compound and an epoxy compound having a triazine nucleus in the skeleton.

誘電正接をより一層低くする観点からは、上記エポキシ化合物は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物を含むことが好ましく、ナフタレン骨格又はフェニル骨格を有するエポキシ化合物を含むことが好ましく、芳香族骨格を有するエポキシ化合物であることがより好ましい。また、上記エポキシ化合物が芳香族骨格を有するエポキシ化合物である場合には、相分離が起こりやすく、海島構造をより一層容易に形成させることができる。また、上記エポキシ化合物がナフタレン骨格を有するエポキシ化合物である場合には、誘電正接をより一層小さくすることができ、また、線膨張係数をより一層小さくすることができる。   From the viewpoint of further lowering the dielectric loss tangent, the epoxy compound preferably includes an epoxy compound having an aromatic skeleton, preferably includes an epoxy compound having a naphthalene skeleton or a phenyl skeleton, and an epoxy having an aromatic skeleton. More preferably, it is a compound. Further, when the epoxy compound is an epoxy compound having an aromatic skeleton, phase separation is likely to occur, and a sea-island structure can be formed more easily. Further, when the epoxy compound is an epoxy compound having a naphthalene skeleton, the dielectric loss tangent can be further reduced, and the linear expansion coefficient can be further reduced.

誘電正接をより一層低くし、かつ硬化物の線膨張係数(CTE)を良好にする観点からは、上記エポキシ化合物は、25℃で液状のエポキシ化合物と、25℃で固形のエポキシ化合物とを含むことが好ましい。   From the viewpoint of further reducing the dielectric loss tangent and improving the linear expansion coefficient (CTE) of the cured product, the epoxy compound includes an epoxy compound that is liquid at 25 ° C. and an epoxy compound that is solid at 25 ° C. It is preferable.

上記25℃で液状のエポキシ化合物の25℃での粘度は、1000mPa・s以下であることが好ましく、500mPa・s以下であることがより好ましい。   The viscosity of the epoxy compound that is liquid at 25 ° C. at 25 ° C. is preferably 1000 mPa · s or less, and more preferably 500 mPa · s or less.

上記エポキシ化合物の粘度を測定する際には、例えば動的粘弾性測定装置(レオロジカ・インスツルメンツ社製「VAR−100」)等が用いられる。   When measuring the viscosity of the epoxy compound, for example, a dynamic viscoelasticity measuring device (“VAR-100” manufactured by Rheologicala Instruments) or the like is used.

上記エポキシ化合物の分子量は1000以下であることがより好ましい。この場合には、樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%、無機充填材の含有量が50重量%以上であっても、絶縁層の形成時に流動性が高い樹脂材料が得られる。このため、樹脂材料の未硬化物又はBステージ化物を回路基板上にラミネートした場合に、無機充填材を均一に存在させることができる。   The molecular weight of the epoxy compound is more preferably 1000 or less. In this case, a resin material with high fluidity can be obtained when the insulating layer is formed even if the component in the resin material is 100% by weight excluding the solvent and the content of the inorganic filler is 50% by weight or more. For this reason, when an uncured resin material or a B-stage product is laminated on the circuit board, the inorganic filler can be uniformly present.

上記エポキシ化合物の分子量は、上記エポキシ化合物が重合体ではない場合、及び上記エポキシ化合物の構造式が特定できる場合は、当該構造式から算出できる分子量を意味する。また、上記エポキシ化合物が重合体である場合は、重量平均分子量を意味する。   The molecular weight of the epoxy compound means a molecular weight that can be calculated from the structural formula when the epoxy compound is not a polymer and when the structural formula of the epoxy compound can be specified. Moreover, when the said epoxy compound is a polymer, a weight average molecular weight is meant.

絶縁層と金属層との接着強度をより一層高める観点からは、樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、上記エポキシ化合物の含有量は、好ましくは15重量%以上、より好ましくは20重量%以上、好ましくは50重量%以下、より好ましくは40重量%以下である。   From the viewpoint of further enhancing the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer, the content of the epoxy compound is preferably 15% by weight or more, more preferably 20% by weight in 100% by weight of the component excluding the solvent in the resin material. % Or more, preferably 50% by weight or less, more preferably 40% by weight or less.

上記エポキシ化合物の含有量の、上記ビスマレイミド化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比を、重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスマレイミド化合物と上記成分Xとの合計の含有量)と記載する。上記樹脂材料が上記ビスマレイミド化合物を含む場合に、上記重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスマレイミド化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.2以上、より好ましくは0.25以上、好ましくは0.5以下、より好ましくは0.45以下である。上記重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスマレイミド化合物と上記成分Xとの合計の含有量)が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、難燃性、熱寸法安定性及び弾性率をより一層高めることができる。   The weight ratio of the content of the epoxy compound to the total content of the bismaleimide compound and the component X described later is expressed as a weight ratio (content of the epoxy compound / total of the bismaleimide compound and the component X). Content). When the resin material contains the bismaleimide compound, the weight ratio (content of the epoxy compound / total content of the bismaleimide compound and the component X) is preferably 0.2 or more, more preferably Is 0.25 or more, preferably 0.5 or less, more preferably 0.45 or less. When the weight ratio (content of the epoxy compound / total content of the bismaleimide compound and the component X) is not less than the lower limit and not more than the upper limit, a sea-island structure can be formed more easily. Further, the dielectric loss tangent can be further lowered, and the flame retardancy, thermal dimensional stability and elastic modulus can be further increased.

上記エポキシ化合物の含有量の、上記ビスベンゾオキサジン化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比を、重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスベンゾオキサジン化合物と上記成分Xとの合計の含有量)と記載する。上記樹脂材料が上記ビスベンゾオキサジン化合物を含む場合に、上記重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスベンゾオキサジン化合物と上記成分Xとの合計の含有量)は、好ましくは0.2以上、より好ましくは0.25以上、好ましくは0.5以下、より好ましくは0.45以下である。上記重量比(上記エポキシ化合物の含有量/上記ビスベンゾオキサジン化合物と上記成分Xとの合計の含有量)が上記下限以上及び上記上限以下であると、海島構造をより一層容易に形成させることができ、誘電正接をより一層低くし、難燃性、熱寸法安定性及び弾性率をより一層高めることができる。   The weight ratio of the content of the epoxy compound to the total content of the bisbenzoxazine compound and the component X described later is the weight ratio (content of the epoxy compound / the content of the bisbenzoxazine compound and the component X). Total content). When the resin material contains the bisbenzoxazine compound, the weight ratio (content of the epoxy compound / total content of the bisbenzoxazine compound and the component X) is preferably 0.2 or more, More preferably, it is 0.25 or more, preferably 0.5 or less, more preferably 0.45 or less. When the weight ratio (content of the epoxy compound / total content of the bisbenzoxazine compound and the component X) is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the sea-island structure can be more easily formed. The dielectric loss tangent can be further reduced, and the flame retardancy, thermal dimensional stability and elastic modulus can be further increased.

[無機充填材]
上記樹脂材料は、無機充填材を含む。上記無機充填材の使用により、硬化物の誘電正接をより一層低くすることができる。また、上記無機充填材の使用により、熱寸法安定性を高めることができる。上記無機充填材は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Inorganic filler]
The resin material includes an inorganic filler. By using the inorganic filler, the dielectric loss tangent of the cured product can be further reduced. Moreover, thermal dimensional stability can be improved by using the said inorganic filler. As for the said inorganic filler, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記無機充填材としては、シリカ、タルク、クレイ、マイカ、ハイドロタルサイト、アルミナ、酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、及び窒化ホウ素等が挙げられる。   Examples of the inorganic filler include silica, talc, clay, mica, hydrotalcite, alumina, magnesium oxide, aluminum hydroxide, aluminum nitride, and boron nitride.

絶縁層の表面の表面粗さを小さくし、絶縁層と金属層との接着強度をより一層高くし、かつ硬化物の表面により一層微細な配線を形成し、かつ硬化物により良好な絶縁信頼性を付与する観点からは、上記無機充填材は、シリカ又はアルミナであることが好ましく、シリカであることがより好ましく、溶融シリカであることが更に好ましい。シリカの使用により、硬化物の熱膨張率がより一層低くなり、また、硬化物の誘電正接がより一層低くなる。また、シリカの使用により、絶縁層の表面の表面粗さが効果的に小さくなり、絶縁層と金属層との接着強度が効果的に高くなる。シリカの形状は球状であることが好ましい。   The surface roughness of the insulating layer is reduced, the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer is further increased, finer wiring is formed on the surface of the cured product, and better insulation reliability is achieved by the cured product. From the viewpoint of imparting the above, the inorganic filler is preferably silica or alumina, more preferably silica, and still more preferably fused silica. By using silica, the thermal expansion coefficient of the cured product is further lowered, and the dielectric loss tangent of the cured product is further reduced. Further, the use of silica effectively reduces the surface roughness of the insulating layer, and effectively increases the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer. The shape of silica is preferably spherical.

硬化環境によらず、樹脂の硬化を進め、硬化物のガラス転移温度を効果的に高くし、硬化物の熱線膨張係数を効果的に小さくする観点からは、上記無機充填材は球状シリカであることが好ましい。   Regardless of the curing environment, the inorganic filler is spherical silica from the viewpoint of promoting the curing of the resin, effectively increasing the glass transition temperature of the cured product, and effectively reducing the thermal linear expansion coefficient of the cured product. It is preferable.

上記無機充填材の平均粒径は、好ましくは50nm以上、より好ましくは100nm以上、更に好ましくは500nm以上、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下、更に好ましくは2μm以下である。上記無機充填材の平均粒径が上記下限以上及び上記上限以下であると、絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   The average particle size of the inorganic filler is preferably 50 nm or more, more preferably 100 nm or more, further preferably 500 nm or more, preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, and even more preferably 2 μm or less. The adhesiveness of an insulating layer and a metal layer can be improved further as the average particle diameter of the said inorganic filler is more than the said minimum and below the said upper limit.

上記無機充填材の平均粒径として、50%となるメディアン径(d50)の値が採用される。上記平均粒径は、レーザー回折散乱方式の粒度分布測定装置を用いて測定可能である。   A median diameter (d50) value of 50% is employed as the average particle diameter of the inorganic filler. The average particle size can be measured using a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus.

上記無機充填材は、球状であることが好ましく、球状シリカであることがより好ましい。この場合には、絶縁層の表面の表面粗さが効果的に小さくなり、更に絶縁層と金属層との接着強度が効果的に高くなる。上記無機充填材が球状である場合には、上記無機充填材のアスペクト比は好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下である。   The inorganic filler is preferably spherical and more preferably spherical silica. In this case, the surface roughness of the surface of the insulating layer is effectively reduced, and the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer is effectively increased. When the inorganic filler is spherical, the aspect ratio of the inorganic filler is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less.

上記無機充填材は、表面処理されていることが好ましく、カップリング剤による表面処理物であることがより好ましく、シランカップリング剤による表面処理物であることが更に好ましい。上記無機充填材が表面処理されていることにより、絶縁層の表面の表面粗さがより一層小さくなり、絶縁層と金属層との接着強度がより一層高くなる。また、上記無機充填材が表面処理されていることにより、硬化物の表面により一層微細な配線を形成することができ、かつより一層良好な配線間絶縁信頼性及び層間絶縁信頼性を硬化物に付与することができる。   The inorganic filler is preferably surface-treated, more preferably a surface-treated product with a coupling agent, and still more preferably a surface-treated product with a silane coupling agent. Since the inorganic filler is surface-treated, the surface roughness of the surface of the insulating layer is further reduced, and the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer is further increased. Further, since the inorganic filler is surface-treated, it is possible to form finer wiring on the surface of the cured product, and to further improve the inter-wiring insulation reliability and interlayer insulation reliability to the cured product. Can be granted.

上記カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤及びアルミニウムカップリング剤等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、アミノフェニルシラン、メタクリルシラン、アクリルシラン、アミノシラン、イミダゾールシラン、ビニルシラン、及びエポキシシラン等が挙げられる。   Examples of the coupling agent include silane coupling agents, titanium coupling agents, and aluminum coupling agents. Examples of the silane coupling agent include aminophenyl silane, methacryl silane, acrylic silane, amino silane, imidazole silane, vinyl silane, and epoxy silane.

樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中及び上記硬化体100重量%中、上記無機充填材の含有量は、好ましくは50重量%以上、より好ましくは60重量%以上、更に好ましくは65重量%以上、特に好ましくは68重量%以上である。樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、上記無機充填材の含有量は、好ましくは90重量%以下、より好ましくは85重量%以下、更に好ましくは80重量%以下、特に好ましくは75重量%以下である。上記無機充填材の含有量が上記下限以上であると、硬化後の相分離により、ビスマレイミド化合物を含まない海島構造部分に上記無機充填材が偏在しやすくなる。このため、上記ビスマレイミド化合物と上記無機充填材との組み合わせによって、熱膨張率を効果的に小さくすることができ、絶縁層の熱による寸法変化を効果的に小さくことができる。この効果は、上記無機充填材が上記シリカである場合、上記無機充填材の上記含有量が30重量%以上である場合に、特に発揮される。また、この効果は、上記無機充填材の上記含有量が30重量%以上であり、かつ上記ビスマレイミド化合物の含有量の、上記エポキシ化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比(ビスマレイミド化合物の含有量/エポキシ化合物と成分Xとの合計の含有量)が、0.1以上、0.6以下である場合に、特に発揮される。また、この効果は、上記無機充填材の上記含有量が30重量%以上であり、かつ上記ビスベンゾオキサジン化合物の含有量の、上記エポキシ化合物と後述する成分Xとの合計の含有量に対する重量比(ビスベンゾオキサジン化合物の含有量/エポキシ化合物と成分Xとの合計の含有量)が、0.1以上、0.6以下である場合に、特に発揮される。上記無機充填材の含有量が上記上限以下であると、低粗度でのメッキピール強度を高めることができる。上記無機充填材の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、絶縁層の表面の表面粗さがより一層小さくすることができ、かつ硬化物の表面により一層微細な配線を形成することができる。さらに、この無機充填材量であれば、硬化物の熱膨張率を低くすることと同時に、弾性率を高め、スミア除去性を良好にすることも可能である。   The content of the inorganic filler is preferably 50% by weight or more, more preferably 60% by weight or more, and still more preferably 65% by weight in 100% by weight of the component excluding the solvent in the resin material and in 100% by weight of the cured product. % Or more, particularly preferably 68% by weight or more. In 100% by weight of the component excluding the solvent in the resin material, the content of the inorganic filler is preferably 90% by weight or less, more preferably 85% by weight or less, still more preferably 80% by weight or less, particularly preferably 75% by weight. % Or less. When the content of the inorganic filler is equal to or more than the lower limit, the inorganic filler is likely to be unevenly distributed in the sea-island structure portion that does not contain the bismaleimide compound due to phase separation after curing. For this reason, the combination of the bismaleimide compound and the inorganic filler can effectively reduce the coefficient of thermal expansion, and can effectively reduce the dimensional change due to heat of the insulating layer. This effect is particularly exerted when the inorganic filler is the silica and when the content of the inorganic filler is 30% by weight or more. In addition, this effect is that the content of the inorganic filler is 30% by weight or more, and the weight ratio of the content of the bismaleimide compound to the total content of the epoxy compound and the component X described later ( This is particularly exhibited when the content of the bismaleimide compound / the total content of the epoxy compound and the component X) is 0.1 or more and 0.6 or less. Further, the effect is that the content of the inorganic filler is 30% by weight or more, and the weight ratio of the content of the bisbenzoxazine compound to the total content of the epoxy compound and the component X described later. This is particularly exhibited when the content of the bisbenzoxazine compound / the total content of the epoxy compound and the component X is 0.1 or more and 0.6 or less. When the content of the inorganic filler is not more than the above upper limit, the plating peel strength at low roughness can be increased. When the content of the inorganic filler is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the surface roughness of the surface of the insulating layer can be further reduced, and finer wiring can be formed on the surface of the cured product. Can do. Furthermore, with this amount of the inorganic filler, it is possible to improve the elastic modulus and improve the smear removability at the same time as reducing the coefficient of thermal expansion of the cured product.

[硬化剤]
上記樹脂材料は、硬化剤を含むことが好ましい。上記硬化剤は特に限定されない。上記硬化剤として、従来公知の硬化剤を使用可能である。上記硬化剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing agent]
The resin material preferably contains a curing agent. The said hardening | curing agent is not specifically limited. As the curing agent, a conventionally known curing agent can be used. As for the said hardening | curing agent, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記硬化剤としては、シアネートエステル化合物(シアネートエステル硬化剤)、アミン化合物(アミン硬化剤)、チオール化合物(チオール硬化剤)、ホスフィン化合物、ジシアンジアミド、フェノール化合物(フェノール硬化剤)、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物(カルボジイミド硬化剤)、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物(ベンゾオキサジン硬化剤)等が挙げられる。上記硬化剤は、上記エポキシ化合物のエポキシ基と反応可能な官能基を有することが好ましい。   Examples of the curing agent include a cyanate ester compound (cyanate ester curing agent), an amine compound (amine curing agent), a thiol compound (thiol curing agent), a phosphine compound, dicyandiamide, a phenol compound (phenol curing agent), an acid anhydride, and an activity. Examples include ester compounds, carbodiimide compounds (carbodiimide curing agents), and benzoxazine compounds (benzoxazine curing agents) different from bisbenzoxazine compounds. The curing agent preferably has a functional group capable of reacting with the epoxy group of the epoxy compound.

熱寸法安定性及び弾性率を高める観点から、上記硬化剤は、フェノール化合物、シアネートエステル化合物、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物の内の少なくとも1種の成分を含むことが好ましい。すなわち、上記樹脂材料は、フェノール化合物、シアネートエステル化合物、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物の内の少なくとも1種の成分を含む硬化剤を含むことが好ましい。   From the viewpoint of increasing thermal dimensional stability and elastic modulus, the curing agent is at least one of benzoxazine compounds different from phenol compounds, cyanate ester compounds, acid anhydrides, active ester compounds, carbodiimide compounds, and bisbenzoxazine compounds. It preferably contains one component. That is, the resin material includes a curing agent including at least one component selected from a phenol compound, a cyanate ester compound, an acid anhydride, an active ester compound, a carbodiimide compound, and a benzoxazine compound different from a bisbenzoxazine compound. It is preferable.

本明細書において、「フェノール化合物、シアネートエステル化合物、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物の内の少なくとも1種の成分」を「成分X」と記載することがある。   In this specification, “component at least one of benzoxazine compounds different from phenolic compounds, cyanate ester compounds, acid anhydrides, active ester compounds, carbodiimide compounds, and bisbenzoxazine compounds” is referred to as “component X”. May be described.

したがって、上記樹脂材料は、成分Xを含む硬化剤を含むことが好ましく、フェノール化合物を含む硬化剤を含むことがより好ましい。上記成分Xは、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   Therefore, the resin material preferably contains a curing agent containing component X, and more preferably contains a curing agent containing a phenol compound. As for the said component X, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記フェノール化合物としては、ノボラック型フェノール、ビフェノール型フェノール、ナフタレン型フェノール、ジシクロペンタジエン型フェノール、アラルキル型フェノール及びジシクロペンタジエン型フェノール等が挙げられる。   Examples of the phenol compound include novolak type phenol, biphenol type phenol, naphthalene type phenol, dicyclopentadiene type phenol, aralkyl type phenol, dicyclopentadiene type phenol and the like.

上記フェノール化合物の市販品としては、ノボラック型フェノール(DIC社製「TD−2091」)、ビフェニルノボラック型フェノール(明和化成社製「MEH−7851」)、アラルキル型フェノール化合物(明和化成社製「MEH−7800」)、並びにアミノトリアジン骨格を有するフェノール(DIC社製「LA1356」及び「LA3018−50P」)等が挙げられる。   Examples of commercially available phenol compounds include novolak type phenol (“TD-2091” manufactured by DIC), biphenyl novolac type phenol (“MEH-7851” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.), and aralkyl type phenol compound (“MEH manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.). -7800 "), and phenols having an aminotriazine skeleton (" LA1356 "and" LA3018-50P "manufactured by DIC).

上記シアネートエステル化合物としては、ノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノール型シアネートエステル樹脂、並びにこれらが一部三量化されたプレポリマー等が挙げられる。上記ノボラック型シアネートエステル樹脂としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂及びアルキルフェノール型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。上記ビスフェノール型シアネートエステル樹脂としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂及びテトラメチルビスフェノールF型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。   Examples of the cyanate ester compounds include novolak-type cyanate ester resins, bisphenol-type cyanate ester resins, and prepolymers in which these are partially trimerized. Examples of the novolac type cyanate ester resin include phenol novolac type cyanate ester resins and alkylphenol type cyanate ester resins. Examples of the bisphenol type cyanate ester resin include bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol E type cyanate ester resin, and tetramethylbisphenol F type cyanate ester resin.

上記シアネートエステル化合物の市販品としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン社製「PT−30」及び「PT−60」)、及びビスフェノール型シアネートエステル樹脂が三量化されたプレポリマー(ロンザジャパン社製「BA−230S」、「BA−3000S」、「BTP−1000S」及び「BTP−6020S」)等が挙げられる。   Commercially available products of the above cyanate ester compounds include phenol novolac type cyanate ester resins ("PT-30" and "PT-60" manufactured by Lonza Japan) and prepolymers (Lonza Japan) in which bisphenol type cyanate ester resins are trimerized. "BA-230S", "BA-3000S", "BTP-1000S", and "BTP-6020S") manufactured by the company.

上記酸無水物としては、テトラヒドロフタル酸無水物、及びアルキルスチレン−無水マレイン酸共重合体等が挙げられる。   Examples of the acid anhydride include tetrahydrophthalic anhydride and alkylstyrene-maleic anhydride copolymer.

上記酸無水物の市販品としては、新日本理化社製「リカシッド TDA−100」等が挙げられる。   Examples of commercially available acid anhydrides include “Ricacid TDA-100” manufactured by Shin Nippon Chemical Co., Ltd.

上記活性エステル化合物とは、構造体中にエステル結合を少なくとも1つ含み、かつ、エステル結合の両側に芳香族環が結合している化合物をいう。活性エステル化合物は、例えばカルボン酸化合物又はチオカルボン酸化合物と、ヒドロキシ化合物又はチオール化合物との縮合反応によって得られる。活性エステル化合物の例としては、下記式(1)で表される化合物が挙げられる。   The active ester compound means a compound containing at least one ester bond in the structure and having an aromatic ring bonded to both sides of the ester bond. The active ester compound is obtained, for example, by a condensation reaction between a carboxylic acid compound or thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound or thiol compound. Examples of the active ester compound include a compound represented by the following formula (1).

Figure 2019173009
Figure 2019173009

上記式(1)中、X1は、脂肪族鎖を含む基、脂肪族環を含む基又は芳香族環を含む基を表し、X2は、芳香族環を含む基を表す。上記芳香族環を含む基の好ましい例としては、置換基を有していてもよいベンゼン環、及び置換基を有していてもよいナフタレン環等が挙げられる。上記置換基としては、炭化水素基が挙げられる。該炭化水素基の炭素数は、好ましくは12以下、より好ましくは6以下、更に好ましくは4以下である。   In the above formula (1), X1 represents a group containing an aliphatic chain, a group containing an aliphatic ring or a group containing an aromatic ring, and X2 represents a group containing an aromatic ring. Preferable examples of the group containing an aromatic ring include a benzene ring which may have a substituent and a naphthalene ring which may have a substituent. A hydrocarbon group is mentioned as said substituent. The carbon number of the hydrocarbon group is preferably 12 or less, more preferably 6 or less, and still more preferably 4 or less.

X1及びX2の組み合わせとしては、置換基を有していてもよいベンゼン環と、置換基を有していてもよいベンゼン環との組み合わせ、置換基を有していてもよいベンゼン環と、置換基を有していてもよいナフタレン環との組み合わせが挙げられる。さらに、X1及びX2の組み合わせとしては、置換基を有していてもよいナフタレン環と、置換基を有していてもよいナフタレン環との組み合わせが挙げられる。   As a combination of X1 and X2, a combination of a benzene ring which may have a substituent and a benzene ring which may have a substituent, a benzene ring which may have a substituent and a substitution The combination with the naphthalene ring which may have a group is mentioned. Furthermore, examples of the combination of X1 and X2 include a combination of a naphthalene ring which may have a substituent and a naphthalene ring which may have a substituent.

上記活性エステル化合物は特に限定されない。熱寸法安定性及び弾性率を一層高める観点からは、上記活性エステルは、2個以上の芳香族骨格を有する活性エステル化合物であることが好ましい。硬化物の誘電正接を低くし、かつ硬化物の熱寸法安定性を高める観点から、活性エステルの主鎖骨格中にナフタレン環を有することがより好ましい。   The active ester compound is not particularly limited. From the viewpoint of further improving thermal dimensional stability and elastic modulus, the active ester is preferably an active ester compound having two or more aromatic skeletons. From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent of the cured product and increasing the thermal dimensional stability of the cured product, it is more preferable to have a naphthalene ring in the main chain skeleton of the active ester.

上記活性エステル化合物の市販品としては、DIC社製「HPC−8000−65T」、「EXB9416−70BK」、「EXB8100−65T」、及び「HPC−8150−60T」等が挙げられる。   Examples of commercially available active ester compounds include “HPC-8000-65T”, “EXB9416-70BK”, “EXB8100-65T”, and “HPC-8150-60T” manufactured by DIC.

上記カルボジイミド化合物は、下記式(2)で表される構造単位を有する。下記式(2)において、右端部及び左端部は、他の基との結合部位である。上記カルボジイミド化合物は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The carbodiimide compound has a structural unit represented by the following formula (2). In the following formula (2), the right end and the left end are binding sites with other groups. As for the said carbodiimide compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

Figure 2019173009
Figure 2019173009

上記式(2)中、Xは、アルキレン基、アルキレン基に置換基が結合した基、シクロアルキレン基、シクロアルキレン基に置換基が結合した基、アリーレン基、又はアリーレン基に置換基が結合した基を表し、pは1〜5の整数を表す。Xが複数存在する場合、複数のXは同一であってもよく、異なっていてもよい。   In the above formula (2), X is an alkylene group, a group having a substituent bonded to an alkylene group, a cycloalkylene group, a group having a substituent bonded to a cycloalkylene group, an arylene group, or a substituent bonded to an arylene group. Represents a group, and p represents an integer of 1 to 5. When two or more X exists, several X may be the same and may differ.

好適な一つの形態において、少なくとも1つのXは、アルキレン基、アルキレン基に置換基が結合した基、シクロアルキレン基、又はシクロアルキレン基に置換基が結合した基である。   In one preferred embodiment, at least one X is an alkylene group, a group having a substituent bonded to the alkylene group, a cycloalkylene group, or a group having a substituent bonded to a cycloalkylene group.

上記カルボジイミド化合物の市販品としては、日清紡ケミカル社製「カルボジライト V−02B」、「カルボジライト V−03」、「カルボジライト V−04K」、「カルボジライト V−07」、「カルボジライト V−09」、「カルボジライト 10M−SP」、及び「カルボジライト 10M−SP(改)」、並びに、ラインケミー社製「スタバクゾールP」、「スタバクゾールP400」、及び「ハイカジル510」等が挙げられる。   Commercially available products of the above carbodiimide compounds include “Carbodilite V-02B”, “Carbodilite V-03”, “Carbodilite V-04K”, “Carbodilite V-07”, “Carbodilite V-09”, “Carbodilite” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. 10M-SP "and" Carbodilite 10M-SP (modified) ", and" STABAXOL P "," STABAXOL P400 ", and" HIKAZIL 510 "manufactured by Rhein Chemie.

上記ベンゾオキサジン化合物としては、P−d型ベンゾオキサジン、及びF−a型ベンゾオキサジン等が挙げられる。   As said benzoxazine compound, Pd type benzoxazine, Fa type benzoxazine, etc. are mentioned.

上記ベンゾオキサジン化合物の市販品としては、四国化成工業社製「P−d型」等が挙げられる。   As a commercial item of the said benzoxazine compound, "Pd type" by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. etc. are mentioned.

上記エポキシ化合物100重量部に対する上記成分Xの含有量は、好ましくは70重量部以上、より好ましくは85重量部以上、好ましくは150重量部以下、より好ましくは120重量部以下である。上記成分Xの含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化性により一層優れ、熱寸法安定性をより一層高め、残存未反応成分の揮発をより一層抑制できる。   The content of the component X with respect to 100 parts by weight of the epoxy compound is preferably 70 parts by weight or more, more preferably 85 parts by weight or more, preferably 150 parts by weight or less, more preferably 120 parts by weight or less. When the content of the component X is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the curability is further improved, the thermal dimensional stability can be further improved, and volatilization of the remaining unreacted components can be further suppressed.

上記樹脂材料中の無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量は、好ましくは50重量%以上、より好ましくは60重量%以上、好ましくは90重量%以下、より好ましくは85重量%以下である。上記エポキシ化合物と上記成分Xとの合計の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化性により一層優れ、熱寸法安定性をより一層高めることができる。   In 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and the solvent in the resin material, the total content of the epoxy compound and the component X is preferably 50% by weight or more, more preferably 60% by weight or more, preferably It is 90 weight% or less, More preferably, it is 85 weight% or less. When the total content of the epoxy compound and the component X is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the curability is further improved and the thermal dimensional stability can be further enhanced.

[硬化促進剤]
上記樹脂材料は、硬化促進剤を含むことが好ましい。上記硬化促進剤の使用により、硬化速度がより一層速くなる。樹脂材料を速やかに硬化させることで、硬化物における架橋構造が均一になると共に、未反応の官能基数が減り、結果的に架橋密度が高くなる。上記硬化促進剤は特に限定されず、従来公知の硬化促進剤を使用可能である。上記硬化促進剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing accelerator]
The resin material preferably contains a curing accelerator. By using the curing accelerator, the curing rate is further increased. By quickly curing the resin material, the crosslinked structure in the cured product becomes uniform, the number of unreacted functional groups is reduced, and as a result, the crosslinking density is increased. The said hardening accelerator is not specifically limited, A conventionally well-known hardening accelerator can be used. As for the said hardening accelerator, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記硬化促進剤としては、例えば、イミダゾール化合物等のアニオン性硬化促進剤、アミン化合物等のカチオン性硬化促進剤、リン化合物及び有機金属化合物等のアニオン性及びカチオン性硬化促進剤以外の硬化促進剤、並びに過酸化物等のラジカル性硬化促進剤等が挙げられる。   Examples of the curing accelerator include anionic curing accelerators such as imidazole compounds, cationic curing accelerators such as amine compounds, and curing accelerators other than anionic and cationic curing accelerators such as phosphorus compounds and organometallic compounds. And radical curing accelerators such as peroxides.

上記イミダゾール化合物としては、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール及び2−フェニル−4−メチル−5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等が挙げられる。   Examples of the imidazole compound include 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl- 2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-un Decylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2 ′ -Methyl Midazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 [2′-Ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine Isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole and 2-phenyl-4-methyl-5-dihydroxymethylimidazole Can be mentioned.

上記アミン化合物としては、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン及び4,4−ジメチルアミノピリジン等が挙げられる。   Examples of the amine compound include diethylamine, triethylamine, diethylenetetramine, triethylenetetramine and 4,4-dimethylaminopyridine.

上記リン化合物としては、トリフェニルホスフィン化合物等が挙げられる。   Examples of the phosphorus compound include a triphenylphosphine compound.

上記有機金属化合物としては、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)及びトリスアセチルアセトナートコバルト(III)等が挙げられる。   Examples of the organometallic compound include zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonate cobalt (II), and trisacetylacetonate cobalt (III).

上記過酸化物としてはジクミルペルオキシド、及びパーヘキシル25B等が挙げられる。   Examples of the peroxide include dicumyl peroxide and perhexyl 25B.

上記硬化促進剤は、アニオン性硬化促進剤又はラジカル性硬化促進剤を含むことが好ましい。この場合に、上記硬化促進剤は、アニオン性硬化促進剤を含んでいてもよく、ラジカル性硬化促進剤を含んでいてもよく、アニオン性硬化促進剤とラジカル性硬化促進剤との双方を含んでいてもよい。   The curing accelerator preferably contains an anionic curing accelerator or a radical curing accelerator. In this case, the curing accelerator may include an anionic curing accelerator, may include a radical curing accelerator, and includes both an anionic curing accelerator and a radical curing accelerator. You may go out.

上記硬化促進剤は、アニオン性硬化促進剤を含むことが好ましく、該アニオン性硬化促進剤が、イミダゾール化合物であることが好ましい。樹脂材料の硬化が十分に進行しない場合には、誘電正接が高くなり、また、線膨張係数が大きくなることがあるが、これらの硬化促進剤を用いることで樹脂材料の硬化を良好に進行させることができる。また、上記硬化促進剤は、上記ラジカル性硬化促進剤と上記イミダゾール化合物とを含むことも好ましい。ラジカル性硬化促進剤は、ラジカル性硬化促進剤存在下の反応温度がエッチング前の仮硬化温度よりも高く、かつエッチング後の本硬化温度よりも低いラジカル性硬化促進剤が好ましい。   The curing accelerator preferably contains an anionic curing accelerator, and the anionic curing accelerator is preferably an imidazole compound. When the curing of the resin material does not proceed sufficiently, the dielectric loss tangent increases and the linear expansion coefficient may increase. However, the curing of the resin material proceeds favorably by using these curing accelerators. be able to. The curing accelerator preferably contains the radical curing accelerator and the imidazole compound. The radical curing accelerator is preferably a radical curing accelerator whose reaction temperature in the presence of the radical curing accelerator is higher than the temporary curing temperature before etching and lower than the main curing temperature after etching.

上記硬化促進剤の含有量は特に限定されない。樹脂材料中の無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中及び上記硬化体中の上記無機充填材を除く成分100重量%中、上記硬化促進剤の含有量は好ましくは0.01重量%以上、より好ましくは0.05重量%以上、好ましくは5重量%以下、より好ましくは3重量%以下である。上記硬化促進剤の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、樹脂材料が効率的に硬化する。上記硬化促進剤の含有量がより好ましい範囲であれば、樹脂材料の保存安定性がより一層高くなり、かつより一層良好な硬化体が得られる。   The content of the curing accelerator is not particularly limited. The content of the curing accelerator is preferably 0.01% by weight or more in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and solvent in the resin material and in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler in the cured body. , More preferably 0.05% by weight or more, preferably 5% by weight or less, more preferably 3% by weight or less. When the content of the curing accelerator is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the resin material is efficiently cured. If content of the said hardening accelerator is a more preferable range, the storage stability of a resin material will become still higher and a much more preferable hardening body will be obtained.

[熱可塑性樹脂]
上記樹脂材料は、熱可塑性樹脂を含むことが好ましい。上記熱可塑性樹脂としては、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド樹脂及びフェノキシ樹脂等が挙げられる。上記熱可塑性樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Thermoplastic resin]
The resin material preferably contains a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin include polyvinyl acetal resin, polyimide resin, and phenoxy resin. As for the said thermoplastic resin, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

硬化環境によらず、誘電正接を効果的に低くし、かつ、金属配線の密着性を効果的に高める観点からは、上記熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂であることが好ましい。フェノキシ樹脂の使用により、樹脂フィルムの回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性の悪化及び無機充填材の不均一化が抑えられる。また、フェノキシ樹脂の使用により、溶融粘度を調整可能であるために無機充填材の分散性が良好になり、かつ硬化過程で、意図しない領域に樹脂材料又はBステージ化物が濡れ拡がり難くなる。   Regardless of the curing environment, the thermoplastic resin is preferably a phenoxy resin from the viewpoint of effectively reducing the dielectric loss tangent and effectively improving the adhesion of the metal wiring. By using the phenoxy resin, deterioration of the embedding property of the resin film with respect to the holes or irregularities of the circuit board and non-uniformity of the inorganic filler can be suppressed. In addition, since the melt viscosity can be adjusted by using a phenoxy resin, the dispersibility of the inorganic filler is improved, and the resin material or the B-staged product is difficult to wet and spread in an unintended region during the curing process.

上記樹脂材料に含まれているフェノキシ樹脂は特に限定されない。上記フェノキシ樹脂として、従来公知のフェノキシ樹脂を使用可能である。上記フェノキシ樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The phenoxy resin contained in the resin material is not particularly limited. A conventionally known phenoxy resin can be used as the phenoxy resin. As for the said phenoxy resin, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型の骨格、ビスフェノールF型の骨格、ビスフェノールS型の骨格、ビフェニル骨格、ノボラック骨格、ナフタレン骨格及びイミド骨格などの骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include phenoxy resins having a skeleton such as a bisphenol A skeleton, a bisphenol F skeleton, a bisphenol S skeleton, a biphenyl skeleton, a novolac skeleton, a naphthalene skeleton, and an imide skeleton.

上記フェノキシ樹脂の市販品としては、例えば、新日鐵住金化学社製の「YP50」、「YP55」及び「YP70」、並びに三菱化学社製の「1256B40」、「4250」、「4256H40」、「4275」、「YX6954BH30」及び「YX8100BH30」等が挙げられる。   Examples of commercially available phenoxy resins include “YP50”, “YP55” and “YP70” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., and “1256B40”, “4250”, “4256H40” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “ 4275 "," YX6954BH30 "," YX8100BH30 ", and the like.

誘電正接を低める観点、ハンドリング性、低粗度でのメッキピール強度及び絶縁層と金属層との密着性を高める観点から、上記熱可塑性樹脂は、ポリイミド樹脂(ポリイミド化合物)であることが好ましい。   From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent, handling properties, plating peel strength at low roughness, and the adhesion between the insulating layer and the metal layer, the thermoplastic resin is preferably a polyimide resin (polyimide compound).

溶解性を良好にする観点からは、ポリイミド化合物は、テトラカルボン酸二無水物とダイマージアミンとを反応させる方法によって得られたポリイミド化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of improving solubility, the polyimide compound is preferably a polyimide compound obtained by a method of reacting tetracarboxylic dianhydride and dimer diamine.

上記テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−テトラフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フランテトラカルボン酸二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフィド二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルホン二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパン二無水物、3,3’,4,4’−パーフルオロイソプロピリデンジフタル酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(フタル酸)フェニルホスフィンオキサイド二無水物、p−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、m−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、ビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルエーテル二無水物、及びビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルメタン二無水物等が挙げられる。   Examples of the tetracarboxylic dianhydride include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, and 3,3 ′, 4,4′-biphenylsulfonetetra. Carboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyl ether Tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-dimethyldiphenylsilane tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-tetraphenylsilane tetracarboxylic dianhydride, 1,2 , 3,4-furantetracarboxylic dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfide dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxypheno) Ii) diphenylsulfone dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenylpropane dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-perfluoroisopropylidenediphthalic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (phthalic acid) phenylphosphine oxide dianhydride, p-phenylene-bis (triphenylphthalic acid) dianhydride, m-phenylene-bis (Triphenylphthalic acid) dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenyl ether dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenylmethane dianhydride, etc. .

上記ダイマージアミンとしては、例えば、バーサミン551(商品名BASFジャパン社製、3,4−ビス(1−アミノヘプチル)−6−ヘキシル−5−(1−オクテニル)シクロヘキセン)、バーサミン552(商品名、コグニクスジャパン社製、バーサミン551の水添物)、PRIAMINE1075、PRIAMINE1074(商品名、いずれもクローダジャパン社製)等が挙げられる。   Examples of the dimeramine include Versamine 551 (trade name, manufactured by BASF Japan, 3,4-bis (1-aminoheptyl) -6-hexyl-5- (1-octenyl) cyclohexene), Versamine 552 (trade name, Cognix Japan Co., Ltd., hydrogenated product of Versamine 551), PRIAMINE 1075, PRIAMINE 1074 (trade names, both of which are manufactured by Claude Japan Co., Ltd.) and the like.

保存安定性により一層優れた樹脂材料を得る観点からは、上記熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の重量平均分子量は、好ましくは5000以上、より好ましくは10000以上、更に好ましくは15000以上、好ましくは100000以下、より好ましくは50000以下である。   From the viewpoint of obtaining a more excellent resin material due to storage stability, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin, the polyimide resin, and the phenoxy resin is preferably 5000 or more, more preferably 10,000 or more, still more preferably 15000 or more, Preferably it is 100,000 or less, More preferably, it is 50000 or less.

上記熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の上記重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The weight average molecular weight of the thermoplastic resin, the polyimide resin, and the phenoxy resin indicates a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

上記熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の含有量は特に限定されない。樹脂材料中の上記無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中及び上記硬化体100重量%中、上記熱可塑性樹脂の含有量(上記熱可塑性樹脂がポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂である場合にはポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂の含有量)は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは2重量%以上である。樹脂材料中の上記無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中及び上記硬化体100重量%中、上記熱可塑性樹脂の含有量(上記熱可塑性樹脂がポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂である場合にはポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂の含有量)は、好ましくは30重量%以下、より好ましくは20重量%以下である。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、樹脂材料の回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性が良好になる。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上であると、樹脂フィルムの形成がより一層容易になり、より一層良好な絶縁層が得られる。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記上限以下であると、硬化物の熱膨張率がより一層低くなる。上記熱可塑性樹脂の含有量が上記上限以下であると、絶縁層の表面の表面粗さがより一層小さくなり、絶縁層と金属層との接着強度がより一層高くなる。   Content of the said thermoplastic resin, the said polyimide resin, and the said phenoxy resin is not specifically limited. The content of the thermoplastic resin in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and solvent in the resin material and 100% by weight of the cured body (if the thermoplastic resin is a polyimide resin or a phenoxy resin, polyimide The content of the resin or phenoxy resin) is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more. The content of the thermoplastic resin in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and solvent in the resin material and 100% by weight of the cured body (if the thermoplastic resin is a polyimide resin or a phenoxy resin, polyimide The content of the resin or phenoxy resin) is preferably 30% by weight or less, more preferably 20% by weight or less. When the content of the thermoplastic resin is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the embedding property of the resin material in the holes or irregularities of the circuit board becomes good. When the content of the thermoplastic resin is not less than the above lower limit, the resin film can be formed more easily, and a better insulating layer can be obtained. When the content of the thermoplastic resin is not more than the above upper limit, the thermal expansion coefficient of the cured product is further reduced. When the content of the thermoplastic resin is not more than the above upper limit, the surface roughness of the surface of the insulating layer is further reduced, and the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer is further increased.

[溶剤]
上記樹脂材料は、溶剤を含まないか又は含む。上記溶剤の使用により、樹脂材料の粘度を好適な範囲に制御でき、樹脂材料の塗工性を高めることができる。また、上記溶剤は、上記無機充填材を含むスラリーを得るために用いられてもよい。上記溶剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[solvent]
The resin material does not contain or contains a solvent. By using the solvent, the viscosity of the resin material can be controlled within a suitable range, and the coatability of the resin material can be improved. Moreover, the said solvent may be used in order to obtain the slurry containing the said inorganic filler. As for the said solvent, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記溶剤としては、アセトン、メタノール、エタノール、ブタノール、2−プロパノール、2−メトキシエタノール、2−エトキシエタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、2−アセトキシ−1−メトキシプロパン、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、N,N−ジメチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、N−メチル−ピロリドン、n−ヘキサン、シクロヘキサン、シクロヘキサノン及び混合物であるナフサ等が挙げられる。   Examples of the solvent include acetone, methanol, ethanol, butanol, 2-propanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, 1-methoxy-2-propanol, 2-acetoxy-1-methoxypropane, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, Examples thereof include N, N-dimethylformamide, methyl isobutyl ketone, N-methyl-pyrrolidone, n-hexane, cyclohexane, cyclohexanone, and naphtha as a mixture.

上記溶剤の多くは、上記樹脂材料をフィルム状に成形するときに、除去されることが好ましい。従って、上記溶剤の沸点は好ましくは200℃以下、より好ましくは180℃以下である。上記樹脂材料における上記溶剤の含有量は特に限定されない。上記樹脂材料の塗工性などを考慮して、上記溶剤の含有量は適宜変更可能である。   Most of the solvent is preferably removed when the resin material is formed into a film. Therefore, the boiling point of the solvent is preferably 200 ° C. or lower, more preferably 180 ° C. or lower. The content of the solvent in the resin material is not particularly limited. The content of the solvent can be appropriately changed in consideration of the coating property of the resin material.

[他の成分]
耐衝撃性、耐熱性、樹脂の相溶性及び作業性等の改善を目的として、上記樹脂材料には、レベリング剤、難燃剤、カップリング剤、着色剤、酸化防止剤、紫外線劣化防止剤、消泡剤、増粘剤、揺変性付与剤並びにビスマレイミド化合物、ビスベンゾオキサジン化合物及びエポキシ化合物以外の他の熱硬化性化合物等を添加してもよい。
[Other ingredients]
For the purpose of improving impact resistance, heat resistance, resin compatibility and workability, etc., the above resin materials include leveling agents, flame retardants, coupling agents, colorants, antioxidants, UV degradation inhibitors, You may add foaming agents, thickeners, thixotropic agents, and other thermosetting compounds other than bismaleimide compounds, bisbenzoxazine compounds and epoxy compounds.

上記カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤及びアルミニウムカップリング剤等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、ビニルシラン、アミノシラン、イミダゾールシラン及びエポキシシラン等が挙げられる。   Examples of the coupling agent include silane coupling agents, titanium coupling agents, and aluminum coupling agents. Examples of the silane coupling agent include vinyl silane, amino silane, imidazole silane, and epoxy silane.

上記他の熱硬化性化合物としては、ポリマレイミド化合物、ポリフェニレンエーテル化合物、ジビニルベンジルエーテル化合物、ポリアリレート化合物、ジアリルフタレート化合物、ビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物、ベンゾオキサゾール化合物、及びアクリレート化合物等が挙げられる。例えば、上記他の熱硬化性化合物として、上記ポリマレイミド化合物を含む場合であっても、本発明の効果が発揮される。また、ポリマレイミド化合物以外の他の熱硬化性化合物を含む場合であっても、本発明の効果が発揮される。   Other thermosetting compounds include polymaleimide compounds, polyphenylene ether compounds, divinyl benzyl ether compounds, polyarylate compounds, diallyl phthalate compounds, benzoxazine compounds, benzoxazole compounds, and acrylate compounds that are different from bisbenzoxazine compounds. Is mentioned. For example, even when the polymaleimide compound is included as the other thermosetting compound, the effect of the present invention is exhibited. Moreover, even if it is a case where other thermosetting compounds other than a polymaleimide compound are included, the effect of this invention is exhibited.

(樹脂フィルム及び積層フィルム)
上述した樹脂材料をフィルム状に成形することにより樹脂フィルム(Bステージ化物/Bステージフィルム)が得られる。上記樹脂材料は、樹脂フィルムであることが好ましい。樹脂フィルムは、Bステージフィルムであることが好ましい。上記樹脂フィルムを硬化させることによって、フィルム状の上記硬化体を得ることができる。上記硬化体は、フィルム状であることが好ましい。
(Resin film and laminated film)
A resin film (B-staged product / B-stage film) can be obtained by molding the resin material described above into a film. The resin material is preferably a resin film. The resin film is preferably a B stage film. By curing the resin film, the film-shaped cured body can be obtained. The cured body is preferably in the form of a film.

樹脂組成物をフィルム状に成形して、樹脂フィルムを得る方法としては、以下の方法が挙げられる。押出機を用いて、樹脂組成物を溶融混練し、押出した後、Tダイ又はサーキュラーダイ等により、フィルム状に成形する押出成形法。溶剤を含む樹脂組成物をキャスティングしてフィルム状に成形するキャスティング成形法。従来公知のその他のフィルム成形法。薄型化に対応可能であることから、押出成形法又はキャスティング成形法が好ましい。フィルムにはシートが含まれる。   Examples of a method for forming a resin composition into a film to obtain a resin film include the following methods. An extrusion molding method in which a resin composition is melt-kneaded and extruded using an extruder, and then molded into a film shape by a T die or a circular die. A casting molding method in which a resin composition containing a solvent is cast to form a film. Other known film forming methods. The extrusion molding method or the casting molding method is preferable because it can cope with the reduction in thickness. The film includes a sheet.

樹脂組成物をフィルム状に成形し、熱による硬化が進行し過ぎない程度に、例えば50℃〜150℃で1分間〜10分間加熱乾燥させることにより、Bステージフィルムである樹脂フィルムを得ることができる。   A resin film that is a B-stage film can be obtained by forming the resin composition into a film and drying it by heating at, for example, 50 ° C. to 150 ° C. for 1 minute to 10 minutes to such an extent that curing by heat does not proceed excessively. it can.

上述のような乾燥工程により得ることができるフィルム状の樹脂材料をBステージフィルムと称する。上記Bステージフィルムは、半硬化状態にある。半硬化物は、完全に硬化しておらず、硬化がさらに進行され得る。   A film-like resin material that can be obtained by the drying process as described above is referred to as a B-stage film. The B-stage film is in a semi-cured state. The semi-cured product is not completely cured and curing can proceed further.

上記樹脂フィルムは、プリプレグでなくてもよい。上記樹脂フィルムがプリプレグではない場合には、ガラスクロス等に沿ってマイグレーションが生じなくなる。また、樹脂フィルムをラミネート又はプレキュアする際に、表面にガラスクロスに起因する凹凸が生じなくなる。上記樹脂フィルムは、金属箔又は基材と、該金属箔又は基材の表面に積層された樹脂フィルムとを備える積層フィルムの形態で用いることができる。上記金属箔は銅箔であることが好ましい。   The resin film may not be a prepreg. When the resin film is not a prepreg, migration does not occur along the glass cloth or the like. Further, when laminating or precuring the resin film, the surface is not uneven due to the glass cloth. The said resin film can be used with the form of a laminated film provided with metal foil or a base material, and the resin film laminated | stacked on the surface of this metal foil or base material. The metal foil is preferably a copper foil.

上記積層フィルムの上記基材としては、ポリエチレンテレフタレートフィルム及びポリブチレンテレフタレートフィルム等のポリエステル樹脂フィルム、ポリエチレンフィルム及びポリプロピレンフィルム等のオレフィン樹脂フィルム、及びポリイミド樹脂フィルム等が挙げられる。上記基材の表面は、必要に応じて、離型処理されていてもよい。   Examples of the substrate of the laminated film include polyester resin films such as polyethylene terephthalate film and polybutylene terephthalate film, olefin resin films such as polyethylene film and polypropylene film, and polyimide resin film. The surface of the base material may be subjected to a release treatment as necessary.

樹脂フィルムの硬化度をより一層均一に制御する観点からは、上記樹脂フィルムの厚さは、好ましくは5μm以上であり、好ましくは200μm以下である。上記樹脂フィルムを回路の絶縁層として用いる場合、上記樹脂フィルムにより形成された絶縁層の厚さは、回路を形成する導体層(金属層)の厚さ以上であることが好ましい。上記絶縁層の厚さは、好ましくは5μm以上であり、好ましくは200μm以下である。   From the viewpoint of more uniformly controlling the degree of cure of the resin film, the thickness of the resin film is preferably 5 μm or more, and preferably 200 μm or less. When using the said resin film as an insulating layer of a circuit, it is preferable that the thickness of the insulating layer formed with the said resin film is more than the thickness of the conductor layer (metal layer) which forms a circuit. The thickness of the insulating layer is preferably 5 μm or more, and preferably 200 μm or less.

島部を容易に形成させ、海島構造を容易に形成させる観点からは、硬化体を得るために樹脂材料を乾燥させる際の乾燥温度は、80℃以上、110℃以下であることが好ましい。   From the viewpoint of easily forming the island portion and easily forming the sea-island structure, the drying temperature when the resin material is dried to obtain a cured product is preferably 80 ° C. or higher and 110 ° C. or lower.

(半導体装置、プリント配線板、銅張積層板及び多層プリント配線板)
上記樹脂材料及び上記硬化体は、プリント配線板において絶縁層を形成するために好適に用いられる。
(Semiconductor devices, printed wiring boards, copper-clad laminates and multilayer printed wiring boards)
The resin material and the cured body are suitably used for forming an insulating layer in a printed wiring board.

上記プリント配線板は、例えば、上記樹脂材料を加熱加圧成形することにより得られる。   The printed wiring board can be obtained, for example, by heat-pressing the resin material.

上記樹脂フィルムに対して、片面又は両面に金属箔を積層できる。上記樹脂フィルムと金属箔とを積層する方法は特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、平行平板プレス機又はロールラミネーター等の装置を用いて、加熱しながら又は加熱せずに加圧しながら、上記樹脂フィルムを金属箔に積層可能である。   A metal foil can be laminated on one side or both sides of the resin film. The method for laminating the resin film and the metal foil is not particularly limited, and a known method can be used. For example, the resin film can be laminated on the metal foil using an apparatus such as a parallel plate press or a roll laminator while applying pressure while heating or without heating.

上記樹脂材料及び上記硬化体は、銅張積層板を得るために好適に用いられる。上記銅張積層板の一例として、銅箔と、該銅箔の一方の表面に積層された樹脂フィルムとを備える銅張積層板が挙げられる。   The resin material and the cured body are suitably used for obtaining a copper-clad laminate. An example of the copper-clad laminate includes a copper-clad laminate including a copper foil and a resin film laminated on one surface of the copper foil.

上記銅張積層板の上記銅箔の厚さは特に限定されない。上記銅箔の厚さは、1μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。また、上記樹脂材料の硬化物と銅箔との接着強度を高めるために、上記銅箔は微細な凹凸を表面に有することが好ましい。凹凸の形成方法は特に限定されない。上記凹凸の形成方法としては、公知の薬液を用いた処理による形成方法等が挙げられる。   The thickness of the copper foil of the copper clad laminate is not particularly limited. The thickness of the copper foil is preferably in the range of 1 μm to 50 μm. Moreover, in order to increase the adhesive strength between the cured product of the resin material and the copper foil, the copper foil preferably has fine irregularities on the surface. The method for forming the unevenness is not particularly limited. Examples of the method for forming the unevenness include a formation method by treatment using a known chemical solution.

上記樹脂材料及び上記硬化体は、多層基板を得るために好適に用いられる。   The resin material and the cured body are preferably used for obtaining a multilayer substrate.

上記多層基板の一例として、回路基板と、該回路基板上に積層された絶縁層とを備える多層基板が挙げられる。この多層基板の絶縁層の材料が、上述した硬化体である。また、多層基板の絶縁層が、積層フィルムを用いて、上記積層フィルムの上記樹脂フィルムにより形成されていてもよい。上記絶縁層は、回路基板の回路が設けられた表面上に積層されていることが好ましい。上記絶縁層の一部は、上記回路間に埋め込まれていることが好ましい。   As an example of the multilayer substrate, a multilayer substrate including a circuit substrate and an insulating layer stacked on the circuit substrate can be given. The material of the insulating layer of this multilayer substrate is the above-described cured body. Moreover, the insulating layer of the multilayer substrate may be formed of the resin film of the laminated film using a laminated film. The insulating layer is preferably laminated on the surface of the circuit board on which the circuit is provided. A part of the insulating layer is preferably embedded between the circuits.

上記多層基板では、上記絶縁層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面が粗化処理されていることが好ましい。   In the multilayer substrate, it is preferable that the surface of the insulating layer opposite to the surface on which the circuit substrate is laminated is roughened.

粗化処理方法は、従来公知の粗化処理方法を用いることができ、特に限定されない。上記絶縁層の表面は、粗化処理の前に膨潤処理されていてもよい。   As the roughening treatment method, a conventionally known roughening treatment method can be used, and it is not particularly limited. The surface of the insulating layer may be subjected to a swelling treatment before the roughening treatment.

また、上記多層基板は、上記絶縁層の粗化処理された表面に積層された銅めっき層をさらに備えることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said multilayer substrate is further equipped with the copper plating layer laminated | stacked on the surface by which the roughening process of the said insulating layer was carried out.

また、上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された絶縁層と、該絶縁層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面に積層された銅箔とを備える多層基板が挙げられる。この多層基板の絶縁層の材料が、上述した硬化体である。上記絶縁層が、銅箔と該銅箔の一方の表面に積層された樹脂フィルムとを備える銅張積層板を用いて、上記樹脂フィルムを硬化させることにより形成されていることが好ましい。さらに、上記銅箔はエッチング処理されており、銅回路であることが好ましい。   As another example of the multilayer board, the circuit board, the insulating layer laminated on the surface of the circuit board, and the surface of the insulating layer opposite to the surface on which the circuit board is laminated are laminated. And a multilayer substrate provided with copper foil. The material of the insulating layer of this multilayer substrate is the above-described cured body. The insulating layer is preferably formed by curing the resin film using a copper-clad laminate including a copper foil and a resin film laminated on one surface of the copper foil. Furthermore, it is preferable that the copper foil is etched and is a copper circuit.

上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された複数の絶縁層とを備える多層基板が挙げられる。上記回路基板上に配置された上記複数層の絶縁層の内の少なくとも1層が、上記樹脂材料を用いて形成される。この多層基板の絶縁層の材料が、上述した硬化体である。上記多層基板は、上記樹脂フィルムを用いて形成されている上記絶縁層の少なくとも一方の表面に積層されている回路をさらに備えることが好ましい。   Another example of the multilayer substrate is a multilayer substrate including a circuit board and a plurality of insulating layers stacked on the surface of the circuit board. At least one of the plurality of insulating layers disposed on the circuit board is formed using the resin material. The material of the insulating layer of this multilayer substrate is the above-described cured body. It is preferable that the multilayer substrate further includes a circuit laminated on at least one surface of the insulating layer formed using the resin film.

多層基板のうち多層プリント配線板においては、低い誘電正接が求められ、絶縁層による高い絶縁信頼性が求められる。本発明に係る樹脂材料では、誘電正接を低くし、熱寸法安定性を高めることができ、絶縁信頼性を効果的に高めることができる。従って、本発明に係る硬化体は、多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために好適に用いられる。   Among multilayer substrates, multilayer printed wiring boards are required to have a low dielectric loss tangent and to have high insulation reliability due to an insulating layer. In the resin material according to the present invention, the dielectric loss tangent can be lowered, the thermal dimensional stability can be increased, and the insulation reliability can be effectively increased. Therefore, the cured body according to the present invention is suitably used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board.

上記多層プリント配線板は、例えば、回路基板と、上記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、複数の上記絶縁層間に配置された金属層とを備える。上記絶縁層の内の少なくとも1層の絶縁層の材料が、上述した硬化体である。   The multilayer printed wiring board includes, for example, a circuit board, a plurality of insulating layers arranged on the surface of the circuit board, and a metal layer arranged between the plurality of insulating layers. The material of at least one of the insulating layers is the above-described cured body.

図1は、本発明の一実施形態に係る硬化体を用いた多層プリント配線板を模式的に示す断面図である。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a multilayer printed wiring board using a cured body according to an embodiment of the present invention.

図1に示す多層プリント配線板11では、回路基板12の上面12aに、複数層の絶縁層13〜16が積層されている。絶縁層13〜16は、硬化物層である。回路基板12の上面12aの一部の領域には、金属層17が形成されている。複数層の絶縁層13〜16のうち、回路基板12側とは反対の外側の表面に位置する絶縁層16以外の絶縁層13〜15には、上面の一部の領域に金属層17が形成されている。金属層17は回路である。回路基板12と絶縁層13の間、及び積層された絶縁層13〜16の各層間に、金属層17がそれぞれ配置されている。下方の金属層17と上方の金属層17とは、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続の内の少なくとも一方により互いに接続されている。   In the multilayer printed wiring board 11 shown in FIG. 1, a plurality of insulating layers 13 to 16 are laminated on the upper surface 12 a of the circuit board 12. Insulating layers 13-16 are hardened material layers. A metal layer 17 is formed in a partial region of the upper surface 12 a of the circuit board 12. Among the plurality of insulating layers 13 to 16, the metal layer 17 is formed in a partial region of the upper surface of the insulating layers 13 to 15 other than the insulating layer 16 located on the outer surface opposite to the circuit board 12 side. Has been. The metal layer 17 is a circuit. Metal layers 17 are respectively disposed between the circuit board 12 and the insulating layer 13 and between the stacked insulating layers 13 to 16. The lower metal layer 17 and the upper metal layer 17 are connected to each other by at least one of via hole connection and through hole connection (not shown).

多層プリント配線板11では、絶縁層13〜16が、上記硬化体により形成されている。多層プリント配線板11では、絶縁層13〜16の材料が、上記硬化体である。本実施形態では、絶縁層13〜16の表面が粗化処理されているので、絶縁層13〜16の表面に図示しない微細な孔が形成されている。また、微細な孔の内部に金属層17が至っている。また、多層プリント配線板11では、金属層17の幅方向寸法(L)と、金属層17が形成されていない部分の幅方向寸法(S)とを小さくすることができる。また、多層プリント配線板11では、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続で接続されていない上方の金属層と下方の金属層との間に、良好な絶縁信頼性が付与されている。   In the multilayer printed wiring board 11, the insulating layers 13-16 are formed with the said hardening body. In the multilayer printed wiring board 11, the material of the insulating layers 13-16 is the said hardening body. In this embodiment, since the surfaces of the insulating layers 13 to 16 are roughened, fine holes (not shown) are formed on the surfaces of the insulating layers 13 to 16. Further, the metal layer 17 reaches the inside of the fine hole. Moreover, in the multilayer printed wiring board 11, the width direction dimension (L) of the metal layer 17 and the width direction dimension (S) of the part in which the metal layer 17 is not formed can be made small. In the multilayer printed wiring board 11, good insulation reliability is imparted between an upper metal layer and a lower metal layer that are not connected by via-hole connection and through-hole connection (not shown).

(粗化処理及び膨潤処理)
上記樹脂材料は、粗化処理又はデスミア処理される硬化体を得るために用いられることが好ましい。上記硬化体には、更に硬化が可能な予備硬化体も含まれる。海島構造を容易に形成させる観点からは、上記硬化体は、更に硬化が可能な予備硬化体であることが好ましい。また、上記予備硬化体を得るために、樹脂材料を硬化させる際の硬化温度は、120℃以上、180℃以下であることが好ましい。
(Roughening treatment and swelling treatment)
The resin material is preferably used for obtaining a cured body to be roughened or desmeared. The cured body includes a precured body that can be further cured. From the viewpoint of easily forming a sea-island structure, the cured body is preferably a pre-cured body that can be further cured. Moreover, in order to obtain the said precured body, it is preferable that the curing temperature at the time of hardening a resin material is 120 degreeC or more and 180 degrees C or less.

上記樹脂材料を予備硬化させることにより得られた硬化体の表面に微細な凹凸を形成するために、硬化体は粗化処理されることが好ましい。粗化処理の前に、硬化体は膨潤処理されることが好ましい。硬化体は、予備硬化の後、かつ粗化処理される前に、膨潤処理されており、さらに粗化処理の後に硬化されていることが好ましい。ただし、硬化体は、必ずしも膨潤処理されなくてもよい。   In order to form fine irregularities on the surface of the cured body obtained by pre-curing the resin material, the cured body is preferably roughened. Prior to the roughening treatment, the cured body is preferably subjected to a swelling treatment. The cured body is preferably swelled after preliminary curing and before the roughening treatment, and further cured after the roughening treatment. However, the cured body does not necessarily have to undergo a swelling treatment.

上記膨潤処理の方法としては、例えば、エチレングリコールなどを主成分とする化合物の水溶液又は有機溶媒分散溶液などにより、硬化体を処理する方法等が用いられる。膨潤処理に用いる膨潤液は、一般にpH調整剤などとして、アルカリを含む。膨潤液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。具体的には、例えば、上記膨潤処理は、40重量%エチレングリコール水溶液等を用いて、処理温度30℃〜85℃で1分間〜30分間、硬化体を処理することにより行なわれる。上記膨潤処理の温度は50℃〜85℃の範囲内であることが好ましい。上記膨潤処理の温度が低すぎると、膨潤処理に長時間を要し、更に硬化体と金属層との接着強度が低くなる傾向がある。   As a method for the swelling treatment, for example, a method of treating a cured product with an aqueous solution or an organic solvent dispersion of a compound mainly composed of ethylene glycol or the like is used. The swelling liquid used for the swelling treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The swelling liquid preferably contains sodium hydroxide. Specifically, for example, the swelling treatment is performed by treating the cured body with a 40 wt% ethylene glycol aqueous solution at a treatment temperature of 30 ° C. to 85 ° C. for 1 minute to 30 minutes. The swelling treatment temperature is preferably in the range of 50 ° C to 85 ° C. When the temperature of the swelling treatment is too low, it takes a long time for the swelling treatment, and the adhesive strength between the cured body and the metal layer tends to be low.

上記粗化処理には、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物などの化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。粗化処理に用いられる粗化液は、一般にpH調整剤などとしてアルカリを含む。粗化液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   For the roughening treatment, for example, a chemical oxidizing agent such as a manganese compound, a chromium compound, or a persulfuric acid compound is used. These chemical oxidizers are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The roughening liquid used for the roughening treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The roughening solution preferably contains sodium hydroxide.

上記マンガン化合物としては、過マンガン酸カリウム及び過マンガン酸ナトリウム等が挙げられる。上記クロム化合物としては、重クロム酸カリウム及び無水クロム酸カリウム等が挙げられる。上記過硫酸化合物としては、過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム及び過硫酸アンモニウム等が挙げられる。   Examples of the manganese compound include potassium permanganate and sodium permanganate. Examples of the chromium compound include potassium dichromate and anhydrous potassium chromate. Examples of the persulfate compound include sodium persulfate, potassium persulfate, and ammonium persulfate.

硬化体の表面の算術平均粗さRaは好ましくは10nm以上であり、好ましくは300nm未満、より好ましくは200nm未満、更に好ましくは150nm未満である。この場合には、絶縁層と金属層との接着強度が高くなり、更に絶縁層の表面により一層微細な配線が形成される。さらに、導体損失を抑えることができ、信号損失を低く抑えることができる。上記算術平均粗さRaは、JIS B0601:1994に準拠して測定される。   The arithmetic average roughness Ra of the surface of the cured body is preferably 10 nm or more, preferably less than 300 nm, more preferably less than 200 nm, and still more preferably less than 150 nm. In this case, the adhesive strength between the insulating layer and the metal layer is increased, and further finer wiring is formed on the surface of the insulating layer. Furthermore, conductor loss can be suppressed and signal loss can be suppressed low. The arithmetic average roughness Ra is measured in accordance with JIS B0601: 1994.

(デスミア処理)
上記樹脂材料を予備硬化させることにより得られた硬化体に、貫通孔が形成されることがある。上記多層基板などでは、貫通孔として、ビア又はスルーホール等が形成される。例えば、ビアは、COレーザー等のレーザーの照射により形成できる。ビアの直径は特に限定されないが、60μm〜80μm程度である。上記貫通孔の形成により、ビア内の底部には、硬化体に含まれている樹脂成分に由来する樹脂の残渣であるスミアが形成されることが多い。
(Desmear treatment)
A through-hole may be formed in the cured body obtained by precuring the resin material. In the multilayer substrate or the like, a via or a through hole is formed as a through hole. For example, the via can be formed by irradiation with a laser such as a CO 2 laser. The diameter of the via is not particularly limited, but is about 60 μm to 80 μm. Due to the formation of the through hole, a smear that is a resin residue derived from the resin component contained in the cured body is often formed at the bottom of the via.

上記スミアを除去するために、硬化体の表面は、デスミア処理されることが好ましい。デスミア処理が粗化処理を兼ねることもある。   In order to remove the smear, the surface of the cured body is preferably desmeared. The desmear process may also serve as a roughening process.

上記デスミア処理には、上記粗化処理と同様に、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物等の化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。デスミア処理に用いられるデスミア処理液は、一般にアルカリを含む。デスミア処理液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   In the desmear treatment, for example, a chemical oxidant such as a manganese compound, a chromium compound, or a persulfate compound is used as in the roughening treatment. These chemical oxidizers are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The desmear treatment liquid used for the desmear treatment generally contains an alkali. The desmear treatment liquid preferably contains sodium hydroxide.

上記樹脂材料の使用により、デスミア処理された絶縁層の表面の表面粗さが十分に小さくなる。   By using the resin material, the surface roughness of the desmeared insulating layer becomes sufficiently small.

以下、実施例及び比較例を挙げることにより、本発明を具体的に説明する。本発明は、以下の実施例に限定されない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described by giving examples and comparative examples. The present invention is not limited to the following examples.

(ビスマレイミド化合物)
N−アルキルビスマレイミド化合物1(Designer Molecules Inc.社製「BMI−1500」、分子量1500)
N−アルキルビスマレイミド化合物2(Designer Molecules Inc.社製「BMI−1700」、分子量1700)
N−アルキルビスマレイミド化合物3(Designer Molecules Inc.社製「BMI−3000」、分子量3000(重量平均分子量8000))
N−アルキルビスマレイミド化合物4(Designer Molecules Inc.社製「BMI−3000J」、分子量3000(重量平均分子量11000))
N−アルキルビスマレイミド化合物5(Designer Molecules Inc.社製「BMI−3000J」をトルエン溶液に溶解させた後、イソプロパノールを入れ、再沈殿した高分子成分を回収した化合物(表中、BMI−3000J処理品と記載)、重量平均分子量15000)
(Bismaleimide compound)
N-alkyl bismaleimide compound 1 (designer Moleculars Inc. "BMI-1500", molecular weight 1500)
N-alkyl bismaleimide compound 2 (Designer Moleculars Inc. "BMI-1700", molecular weight 1700)
N-alkyl bismaleimide compound 3 (designer Moleculars Inc. "BMI-3000", molecular weight 3000 (weight average molecular weight 8000))
N-alkylbismaleimide compound 4 (“BMI-3000J” manufactured by Designer Molecules Inc., molecular weight 3000 (weight average molecular weight 11000))
N-alkyl bismaleimide compound 5 (designer molecules Inc. "BMI-3000J" was dissolved in a toluene solution, isopropanol was added, and the reprecipitated polymer component was recovered (BMI-3000J treatment in the table) And weight average molecular weight 15000)

(ビスベンゾオキサジン化合物)
N−アルキルベンゾオキサジン化合物(合成例1に従い合成、分子量3000、重量平均分子量7700)
(Bisbenzoxazine compound)
N-alkylbenzoxazine compound (synthesized according to Synthesis Example 1, molecular weight 3000, weight average molecular weight 7700)

(合成例1)
撹拌機、分水器、温度計及び窒素ガス導入管を備えた反応容器に、ピロメリット酸二無水物(東京化成工業社製、分子量218.12)65gとシクロヘキサノン500mLとを入れ、続いて、ダイマージアミン(クローダジャパン社製「PRIAMINE1075」)164gをシクロヘキサノンに溶解させた後、滴下して入れた。その後、ディーンスタークトラップとコンデンサーとをフラスコに取り付け、混合物を2時間還流に熱し、両末端にアミン構造を有するイミド化合物を得た。得られたイミド化合物とフェノール(東京化成工業社製、分子量94.11)38gとパラホルムアルデヒド(東京化成工業社製)12gとを混合して得られた混合物をさらに12時間還流して、ベンゾオキサジン化を行った。その後イソプロパノールで再沈殿することにより、N−アルキルベンゾオキサジン化合物を得た。
(Synthesis Example 1)
In a reaction vessel equipped with a stirrer, a water separator, a thermometer and a nitrogen gas introduction tube, 65 g of pyromellitic dianhydride (Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., molecular weight 218.12) and 500 mL of cyclohexanone were added, After 164 g of dimer diamine (“PRIAMINE 1075” manufactured by Croda Japan Co., Ltd.) was dissolved in cyclohexanone, it was added dropwise. Thereafter, a Dean-Stark trap and a condenser were attached to the flask, and the mixture was heated to reflux for 2 hours to obtain an imide compound having an amine structure at both ends. A mixture obtained by mixing the obtained imide compound, 38 g of phenol (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., molecular weight 94.11) and 12 g of paraformaldehyde (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was further refluxed for 12 hours to obtain benzoxazine. Made. Then, N-alkylbenzoxazine compound was obtained by reprecipitation with isopropanol.

(その他)
N−フェニルマレイミド化合物(大和化成工業社製「BMI−4000」)
(Other)
N-phenylmaleimide compound (“BMI-4000” manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.)

(エポキシ化合物)
ビフェニル型エポキシ化合物(日本化薬社製「NC−3000」)
ナフタレン型エポキシ化合物(DIC社製「HP−4032D」)
レゾルシノールジグリシジルエーテル(ナガセケムテックス社製「EX−201」
ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物(アデカ社製「EP4088S」)
ナフトールアラルキル型エポキシ化合物(新日鐵住金化学社製「ESN−475V」)
(Epoxy compound)
Biphenyl type epoxy compound (“NC-3000” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Naphthalene type epoxy compound (“HP-4032D” manufactured by DIC)
Resorcinol diglycidyl ether ("EX-201" manufactured by Nagase ChemteX Corporation)
Dicyclopentadiene type epoxy compound ("EP4088S" manufactured by Adeka)
Naphthol aralkyl-type epoxy compound (“ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.)

(無機充填材)
シリカ含有スラリー(シリカ75重量%:アドマテックス社製「SC4050−HOA」、平均粒径1.0μm、アミノシラン処理、シクロヘキサノン25重量%)
(Inorganic filler)
Silica-containing slurry (silica 75% by weight: “SC4050-HOA” manufactured by Admatechs, average particle size 1.0 μm, aminosilane treatment, cyclohexanone 25% by weight)

(硬化剤)
成分X:
シアネートエステル化合物含有液(ロンザジャパン社製「BA−3000S」、固形分75重量%)
活性エステル化合物1含有液(DIC社製「EXB−9416−70BK」、固形分70重量%)
活性エステル化合物2含有液(DIC社製「HPC−8000L」、固形分65重量%)
活性エステル化合物3含有液(DIC社製「HPC−8150」、固形分62重量%)
フェノール化合物含有液(DIC社製「LA−1356」、固形分60重量%)
カルボジイミド化合物含有液(日清紡ケミカル社製「V−03」、固形分50重量%)
(Curing agent)
Component X:
Cyanate ester compound-containing liquid (Lonza Japan "BA-3000S", solid content 75 wt%)
Active ester compound 1-containing liquid (DIC Corporation "EXB-9416-70BK", solid content 70 wt%)
Active ester compound 2 containing liquid (“HPC-8000L” manufactured by DIC, solid content 65% by weight)
Active ester compound 3 containing liquid (“HPC-8150” manufactured by DIC, 62 wt% solid content)
Phenol compound-containing liquid (DIC Corporation "LA-1356", solid content 60% by weight)
Carbodiimide compound-containing liquid (Nisshinbo Chemical "V-03", solid content 50 wt%)

(硬化促進剤)
ジメチルアミノピリジン(和光純薬工業社製「DMAP」)
2−フェニル−4−メチルイミダゾール(四国化成工業社製「2P4MZ」)
2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化成工業社製「2E4MZ」)
パークミルD(日油社製)
(Curing accelerator)
Dimethylaminopyridine (“DMAP” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.)
2-Phenyl-4-methylimidazole (“2P4MZ” manufactured by Shikoku Chemicals)
2-Ethyl-4-methylimidazole (“2E4MZ” manufactured by Shikoku Chemicals)
Park Mill D (manufactured by NOF Corporation)

(熱可塑性樹脂)
フェノキシ樹脂(三菱化学社製「YX6954BH30」)
ポリイミド化合物(ポリイミド樹脂):
テトラカルボン酸二無水物とダイマージアミンとの反応物であるポリイミド化合物含有溶液(不揮発分26.8重量%)を以下の合成例2に従って合成した。
(Thermoplastic resin)
Phenoxy resin (Mitsubishi Chemical "YX6954BH30")
Polyimide compound (polyimide resin):
A polyimide compound-containing solution (nonvolatile content: 26.8% by weight), which is a reaction product of tetracarboxylic dianhydride and dimer diamine, was synthesized according to Synthesis Example 2 below.

(合成例2)
撹拌機、分水器、温度計及び窒素ガス導入管を備えた反応容器に、テトラカルボン酸二無水物(SABICジャパン合同会社製「BisDA−1000」)300.0gと、シクロヘキサノン665.5gとを入れ、反応容器中の溶液を60℃まで加熱した。次いで、反応容器中に、ダイマージアミン(クローダジャパン社製「PRIAMINE1075」)89.0gと、1,3−ビスアミノメチルシクロヘキサン(三菱ガス化学社製)54.7gとを滴下した。次いで、反応容器中に、メチルシクロヘキサン121.0gと、エチレングリコールジメチルエーテル423.5gとを添加し、140℃で10時間かけてイミド化反応を行った。このようにして、ポリイミド化合物含有溶液(不揮発分26.8重量%)を得た。得られたポリイミド化合物の分子量(重量平均分子量)は20000であった。なお、酸成分/アミン成分のモル比は1.04であった。
(Synthesis Example 2)
In a reaction vessel equipped with a stirrer, a water separator, a thermometer, and a nitrogen gas introduction tube, 300.0 g of tetracarboxylic dianhydride (“BisDA-1000” manufactured by SABIC Japan LLC) and 665.5 g of cyclohexanone And the solution in the reaction vessel was heated to 60 ° C. Subsequently, 89.0 g of dimer diamine (“PRIAMINE 1075” manufactured by Claude Japan) and 54.7 g of 1,3-bisaminomethylcyclohexane (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company) were dropped into the reaction vessel. Next, 121.0 g of methylcyclohexane and 423.5 g of ethylene glycol dimethyl ether were added to the reaction vessel, and an imidization reaction was performed at 140 ° C. for 10 hours. In this way, a polyimide compound-containing solution (non-volatile content: 26.8% by weight) was obtained. The molecular weight (weight average molecular weight) of the obtained polyimide compound was 20000. The molar ratio of acid component / amine component was 1.04.

合成例2で合成したポリイミド化合物の分子量は、以下のようにして求めた。   The molecular weight of the polyimide compound synthesized in Synthesis Example 2 was determined as follows.

GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)測定:
島津製作所社製高速液体クロマトグラフシステムを使用し、テトラヒドロフラン(THF)を展開媒として、カラム温度40℃、流速1.0ml/分で測定を行った。検出器として「SPD−10A」を用い、カラムはShodex社製「KF−804L」(排除限界分子量400,000)を2本直列につないで使用した。標準ポリスチレンとして、東ソー社製「TSKスタンダードポリスチレン」を用い、重量平均分子量Mw=354,000、189,000、98,900、37,200、17,100、9,830、5,870、2,500、1,050、500の物質を使用して較正曲線を作成し、分子量の計算を行った。
GPC (gel permeation chromatography) measurement:
Using a high-performance liquid chromatograph system manufactured by Shimadzu Corporation, measurement was performed at a column temperature of 40 ° C. and a flow rate of 1.0 ml / min using tetrahydrofuran (THF) as a developing medium. “SPD-10A” was used as a detector, and two columns of “KF-804L” (exclusion limit molecular weight 400,000) manufactured by Shodex were connected in series. “TSK standard polystyrene” manufactured by Tosoh Corporation is used as the standard polystyrene, and the weight average molecular weight Mw = 354,000, 189,000, 98,900, 37,200, 17,100, 9,830, 5,870, 2, Calibration curves were generated using 500, 1,050, 500 substances and molecular weight calculations were performed.

(実施例1〜17及び比較例1〜3)
下記の表1,2に示す成分を下記の表1,2に示す配合量(単位は固形分重量部)で配合し、均一な溶液となるまで常温で攪拌し、樹脂材料を得た。
(Examples 1-17 and Comparative Examples 1-3)
The components shown in Tables 1 and 2 below were blended in the blending amounts shown in Tables 1 and 2 (units are solid parts by weight) and stirred at room temperature until a uniform solution was obtained, to obtain resin materials.

アプリケーターを用いて、離型処理されたPETフィルム(東レ社製「XG284」、厚み25μm)の離型処理面上に得られた樹脂材料を塗工した後、100℃のギヤオーブン内で2分30秒間乾燥し、溶剤を揮発させた。このようにして、PETフィルム上に、厚さが40μmである樹脂フィルム(Bステージフィルム)が積層されている積層フィルム(PETフィルムと樹脂フィルムとの積層フィルム)を得た。   Using an applicator, the resin material obtained on the release-treated surface of the release-treated PET film (“XG284” manufactured by Toray Industries Inc., thickness 25 μm) was applied, and then in a gear oven at 100 ° C. for 2 minutes. It was dried for 30 seconds to volatilize the solvent. In this way, a laminated film (laminated film of PET film and resin film) in which a resin film (B stage film) having a thickness of 40 μm was laminated on the PET film was obtained.

その後、積層フィルムを、190℃で90分間加熱して、樹脂フィルムが硬化した硬化体を作製した。   Thereafter, the laminated film was heated at 190 ° C. for 90 minutes to produce a cured body in which the resin film was cured.

(評価)
(1)海島構造の状態
得られた硬化体の断面を、走査型電子顕微鏡(SEM)にて、反射電子モードにて1500倍で観察し、3200μm内の相分離の有無を評価した。さらに、海島構造が存在する場合に、観察画像から各島部の長径を測定した。各島部の長径の測定値を平均して、島部の平均長径を求めた。
(Evaluation)
(1) State of sea-island structure A cross section of the obtained cured body was observed with a scanning electron microscope (SEM) at a magnification of 1500 times in a reflected electron mode, and the presence or absence of phase separation within 3200 μm 2 was evaluated. Furthermore, when the sea-island structure exists, the major axis of each island part was measured from the observation image. The average major axis of each island was obtained by averaging the measured values of the major axis of each island.

(2)誘電正接
得られた樹脂フィルムを幅2mm、長さ80mmの大きさに裁断して5枚を重ね合わせて、厚み200μmの積層体を得た。得られた積層体を190℃で90分間加熱して、硬化体を得た。得られた硬化体について、関東電子応用開発社製「空洞共振摂動法誘電率測定装置CP521」及びキーサイトテクノロジー社製「ネットワークアナライザーN5224A PNA」を用いて、空洞共振法で常温(23℃)にて、周波数1.0GHzにて誘電正接を測定した。
(2) Dielectric loss tangent The obtained resin film was cut into a size of 2 mm in width and 80 mm in length, and five sheets were laminated to obtain a laminate having a thickness of 200 μm. The obtained laminate was heated at 190 ° C. for 90 minutes to obtain a cured body. About the obtained hardened | cured material, it uses a "cavity resonance perturbation method dielectric constant measuring device CP521" made by Kanto Electronics Application Development Co., Ltd. and "Network Analyzer N5224A PNA" made by Keysight Technology Co., Ltd. at room temperature (23 ° C) by the cavity resonance method. The dielectric loss tangent was measured at a frequency of 1.0 GHz.

(3)熱寸法安定性(平均線膨張係数(CTE))
得られた厚さ40μmの樹脂フィルム(Bステージフィルム)を190℃で90分間加熱して得られた硬化体を3mm×25mmの大きさに裁断した。熱機械的分析装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製「EXSTAR TMA/SS6100」)を用いて、引っ張り荷重33mN及び昇温速度5℃/分の条件で、裁断された硬化体の25℃〜150℃までの平均線膨張係数(ppm/℃)を算出した。平均線膨張係数を以下の基準で判定した。
(3) Thermal dimensional stability (average coefficient of linear expansion (CTE))
The cured body obtained by heating the obtained resin film (B stage film) having a thickness of 40 μm at 190 ° C. for 90 minutes was cut into a size of 3 mm × 25 mm. Using a thermomechanical analyzer (“EXSTAR TMA / SS6100” manufactured by SII Nano Technology), the cured product cut at 25 ° C. to 150 ° C. under conditions of a tensile load of 33 mN and a heating rate of 5 ° C./min. The average linear expansion coefficient (ppm / ° C.) was calculated. The average linear expansion coefficient was determined according to the following criteria.

[平均線膨張係数の判定基準]
○○:平均線膨張係数が25ppm/℃以下
○:平均線膨張係数が25ppm/℃を超え30ppm/℃以下
×:平均線膨張係数が30ppm/℃を超える
[Criteria for average linear expansion coefficient]
○○: Average linear expansion coefficient is 25 ppm / ° C. or less ○: Average linear expansion coefficient exceeds 25 ppm / ° C. and 30 ppm / ° C. or less X: Average linear expansion coefficient exceeds 30 ppm / ° C.

(4)弾性率
得られた厚さ40μmの樹脂フィルム(Bステージフィルム)を190℃で90分間加熱して得られた硬化体を10mm×100mmの大きさに裁断した。引張試験機(SHIMADZU社製「AGS−J 100N」)を用いて、チャック間距離:60mm、引張速度:5mm/min、初期張力:0.35N、予備負荷速度:100mm/min、サンプリング周期:50msの条件で引っ張り試験を行い、ストローク(変位)と試験力の最大傾きにおける弾性率を算出した。測定は5回行い、弾性率の平均値を算出して平均弾性率を求めた。弾性率を以下の基準で判定した。
(4) Elastic modulus The cured product obtained by heating the obtained resin film (B stage film) having a thickness of 40 μm at 190 ° C. for 90 minutes was cut into a size of 10 mm × 100 mm. Using a tensile tester (“AGS-J 100N” manufactured by SHIMADZU), distance between chucks: 60 mm, tensile speed: 5 mm / min, initial tension: 0.35 N, preload speed: 100 mm / min, sampling cycle: 50 ms The tensile test was performed under the conditions of the above, and the elastic modulus at the maximum inclination of the stroke (displacement) and the test force was calculated. The measurement was performed 5 times, and the average value of the elastic modulus was calculated to obtain the average elastic modulus. The elastic modulus was determined according to the following criteria.

[弾性率の判定基準]
○○:平均弾性率が7MPaを超える
○:平均弾性率が4MPaを超え7MPa以下
×:平均弾性率が4MPa以下
[Criteria for elastic modulus]
◯: Average elastic modulus exceeds 7 MPa ○: Average elastic modulus exceeds 4 MPa and 7 MPa or less X: Average elastic modulus is 4 MPa or less

(5)表面粗さ(粗化処理後の表面粗度)
ラミネート工程及び半硬化処理:
両面銅張積層板(CCL基板)(日立化成社製「E679FG」)を用意した。この両面銅張積層板の銅箔面の両面をメック社製「Cz8101」に浸漬して、銅箔の表面を粗化処理した。粗化処理された銅張積層板の両面に、名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500−IIA」を用いて、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側を銅張積層板上に重ねてラミネートして、積層構造体を得た。ラミネートの条件は、30秒減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃及び圧力0.4MPaでプレスする条件とした。その後、180℃で30分間加熱し、樹脂フィルムを半硬化させた。このようにして、CCL基板に硬化体が積層されている積層体を得た。
(5) Surface roughness (surface roughness after roughening treatment)
Lamination process and semi-curing treatment:
A double-sided copper-clad laminate (CCL substrate) (“E679FG” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was prepared. Both surfaces of the copper foil surface of this double-sided copper-clad laminate were immersed in “Cz8101” manufactured by MEC, and the surface of the copper foil was roughened. Using a “batch type vacuum laminator MVLP-500-IIA” manufactured by Meiki Seisakusho on both sides of the roughened copper clad laminate, the resin film (B stage film) side of the laminate film is on the copper clad laminate. And laminated to obtain a laminated structure. The laminating conditions were such that the pressure was reduced to 30 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, and then pressing was performed at 100 ° C. and a pressure of 0.4 MPa for 30 seconds. Then, it heated at 180 degreeC for 30 minute (s), and the resin film was semi-hardened. Thus, the laminated body by which the hardening body was laminated | stacked on the CCL board | substrate was obtained.

粗化処理:
(a)膨潤処理:
60℃の膨潤液(アトテックジャパン社製「スウェリングディップセキュリガントP」)に、得られた積層体を入れて、10分間揺動させた。その後、純水で洗浄した。
Roughening process:
(A) Swelling treatment:
The obtained laminate was put in a swelling liquid at 60 ° C. (“Swelling Dip Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) and rocked for 10 minutes. Thereafter, it was washed with pure water.

(b)過マンガン酸塩処理(粗化処理及びデスミア処理):
80℃の過マンガン酸カリウム(アトテックジャパン社製「コンセントレートコンパクトCP」)粗化水溶液に、膨潤処理後の積層体を入れて、30分間揺動させた。次に、25℃の洗浄液(アトテックジャパン社製「リダクションセキュリガントP」)を用いて2分間処理した後、純水で洗浄を行い、評価サンプルを得た。
(B) Permanganate treatment (roughening treatment and desmear treatment):
The layered product after the swelling treatment was put into a roughened aqueous solution of potassium permanganate (“Concentrate Compact CP” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) at 80 ° C. and rocked for 30 minutes. Next, after processing for 2 minutes using a 25 degreeC washing | cleaning liquid ("Reduction securigant P" by Atotech Japan), it wash | cleaned with the pure water and the evaluation sample was obtained.

表面粗さの測定:
評価サンプル(粗化処理された硬化体)の表面を、非接触3次元表面形状測定装置(Veeco社製「WYKO NT1100」)を用いて、94μm×123μmの測定領域で算術平均粗さRaを測定した。なお、上記算術平均粗さRaは、JIS B0601(1994)に準拠して測定した。表面粗さを以下の基準で判定した。
Surface roughness measurement:
Using a non-contact three-dimensional surface shape measuring device (“WYKO NT1100” manufactured by Veeco), the arithmetic average roughness Ra is measured on the surface of the evaluation sample (roughened cured body) in a measurement area of 94 μm × 123 μm. did. The arithmetic average roughness Ra was measured according to JIS B0601 (1994). The surface roughness was determined according to the following criteria.

[表面粗さの判定基準]
○○:Raが50nm未満
○:Raが50nm以上200nm未満
×:Raが200nm以上
[Surface roughness criteria]
○○: Ra is less than 50 nm ○: Ra is 50 nm or more and less than 200 nm ×: Ra is 200 nm or more

(6)メッキピール強度
無電解めっき処理:
(5)表面粗さの評価で得られた粗化処理された硬化体の表面を、60℃のアルカリクリーナ(アトテックジャパン社製「クリーナーセキュリガント902」)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、上記硬化体を25℃のプリディップ液(アトテックジャパン社製「プリディップネオガントB」)で2分間処理した。その後、上記硬化体を40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン社製「アクチベーターネオガント834」)で5分間処理し、パラジウム触媒を付けた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン社製「リデューサーネオガントWA」)により、硬化体を5分間処理した。
(6) Peeling peel strength Electroless plating treatment:
(5) The surface of the roughened cured body obtained by the evaluation of the surface roughness was treated with a 60 ° C. alkaline cleaner (“Cleaner Securigant 902” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes and degreased and washed. After washing, the cured product was treated with a 25 ° C. pre-dip solution (“Pre-Dip Neogant B” manufactured by Atotech Japan) for 2 minutes. Thereafter, the cured body was treated with an activator solution at 40 ° C. (“Activator Neo Gantt 834” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes to attach a palladium catalyst. Next, the cured body was treated with a reducing solution at 30 ° C. (“Reducer Neogant WA” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes.

次に、上記硬化体を化学銅液(アトテックジャパン社製「ベーシックプリントガントMSK−DK」、「カッパープリントガントMSK」、「スタビライザープリントガントMSK」、及び「リデューサーCu」)に入れ、無電解めっきをめっき厚さが0.5μm程度になるまで実施した。無電解めっき後に、残留している水素ガスを除去するため、120℃の温度で30分間アニール処理した。なお、無電解めっきの工程までの全ての工程は、ビーカースケールで処理液を2Lとし、硬化体を揺動させながら実施した。   Next, the cured product is placed in a chemical copper solution (“Basic Print Gantt MSK-DK”, “Copper Print Gantt MSK”, “Stabilizer Print Gantt MSK”, and “Reducer Cu” manufactured by Atotech Japan) and electroless plating. Was carried out until the plating thickness reached about 0.5 μm. After electroless plating, annealing was performed at a temperature of 120 ° C. for 30 minutes in order to remove the remaining hydrogen gas. In addition, all the processes up to the electroless plating process were performed while using a beaker scale with a treatment liquid of 2 L and swinging the cured body.

電解めっき処理:
次に、無電解めっき処理された硬化体に、電解めっきをめっき厚さが25μmとなるまで実施した。電解銅めっきとして硫酸銅溶液(和光純薬工業社製「硫酸銅五水和物」、和光純薬工業社製「硫酸」、アトテックジャパン社製「ベーシックレベラーカパラシド HL」、アトテックジャパン社製「補正剤カパラシド GS」)を用いて、0.6A/cmの電流を流しめっき厚さが25μm程度となるまで電解めっきを実施した。銅めっき処理後、硬化体を190℃で90分間加熱し、硬化体を更に硬化させた。このようにして、銅めっき層が上面に積層された硬化物を得た。
Electroplating treatment:
Next, electrolytic plating was performed on the cured body subjected to the electroless plating treatment until the plating thickness became 25 μm. As an electrolytic copper plating, a copper sulfate solution (“copper sulfate pentahydrate” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, “sulfuric acid” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, “basic leveler kaparaside HL” manufactured by Atotech Japan, “ using the correction agent Cupracid GS "), plating thickness passing a current of 0.6 a / cm 2 was carried out electrolytic plating until approximately 25 [mu] m. After the copper plating treatment, the cured body was heated at 190 ° C. for 90 minutes to further cure the cured body. Thus, the hardened | cured material with which the copper plating layer was laminated | stacked on the upper surface was obtained.

メッキピール強度の測定:
得られた銅めっき層が上面に積層された硬化物の銅めっき層の表面に0.5cm幅の短冊状の切込みを入れた。90°剥離試験機(テスター産業社製「TE−3001」)に銅めっき層が上面に積層された硬化物をセットし、つかみ具で切込みの入った銅めっき層の端部をつまみあげ、銅めっき層を15mm剥離して剥離強度(メッキピール強度)を測定した。
Measurement of plating peel strength:
A strip-shaped cut having a width of 0.5 cm was made on the surface of the copper plating layer of the cured product obtained by laminating the obtained copper plating layer on the upper surface. Set a cured product with a copper plating layer laminated on the top surface in a 90 ° peel tester ("TE-3001" manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.), pick up the end of the copper plating layer with the notch, The plating layer was peeled by 15 mm and the peel strength (plating peel strength) was measured.

[メッキピール強度の判定基準]
○○:メッキピール強度が0.5kgf以上
○:メッキピール強度が0.3kgf以上0.5kgf未満
×:メッキピール強度が0.3kgf未満
[Criteria for plating peel strength]
◯: Plating peel strength is 0.5 kgf or more ○: Plating peel strength is 0.3 kgf or more and less than 0.5 kgf ×: Plating peel strength is less than 0.3 kgf

(7)絶縁層と金属層との密着性(ピール強度)
ラミネート工程:
両面銅張積層板(各面の銅箔の厚み18μm、基板の厚み0.7mm、基板サイズ100mm×100mm、日立化成社製「MCL−E679FG」)を用意した。この両面銅張積層板の銅箔面の両面をメック社製「Cz8101」に浸漬して、銅箔の表面を粗化処理した。粗化処理された銅張積層板の両面に、名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500−IIA」を用いて、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側を銅張積層板上に重ねてラミネートして、積層構造体を得た。ラミネートの条件は、30秒減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃及び圧力0.4MPaでプレスする条件とした。
(7) Adhesion between the insulating layer and the metal layer (peel strength)
Lamination process:
A double-sided copper clad laminate (copper foil thickness of 18 μm on each side, substrate thickness of 0.7 mm, substrate size of 100 mm × 100 mm, “MCL-E679FG” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was prepared. Both surfaces of the copper foil surface of this double-sided copper-clad laminate were immersed in “Cz8101” manufactured by MEC, and the surface of the copper foil was roughened. Using a “batch type vacuum laminator MVLP-500-IIA” manufactured by Meiki Seisakusho on both sides of the roughened copper clad laminate, the resin film (B stage film) side of the laminate film is on the copper clad laminate. And laminated to obtain a laminated structure. The laminating conditions were such that the pressure was reduced to 30 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, and then pressing was performed at 100 ° C. and a pressure of 0.4 MPa for 30 seconds.

フィルム剥離工程:
得られた積層構造体において、両面のPETフィルムを剥離した。
Film peeling process:
In the obtained laminated structure, the PET films on both sides were peeled off.

銅箔貼り付け工程:
銅箔(厚み35μm、三井金属社製)のシャイニー面をCz処理(メック社製「Cz8101」)して、銅箔表面を1μm程度エッチングした。PETフィルムを剥離した上記積層構造体に、エッチング処理した銅箔を貼り合せて、銅箔付き基板を得た。得られた銅箔付き基板をギアオーブン内で190℃で90分熱処理し、評価サンプルを得た。
Copper foil pasting process:
The shiny surface of the copper foil (thickness 35 μm, manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) was subjected to Cz treatment (“Cz8101” manufactured by MEC), and the copper foil surface was etched by about 1 μm. An etched copper foil was bonded to the laminated structure from which the PET film was peeled to obtain a substrate with a copper foil. The obtained substrate with copper foil was heat-treated at 190 ° C. for 90 minutes in a gear oven to obtain an evaluation sample.

ピール強度の測定:
評価サンプルの銅箔の表面に1cm幅の短冊状の切込みを入れた。90°剥離試験機(テスター産業社製「TE−3001」)に評価サンプルをセットし、つかみ具で切込みの入った銅箔の端部をつまみあげ、銅箔を20mm剥離して剥離強度(ピール強度)を測定した。
Peel strength measurement:
A 1 cm wide strip-shaped cut was made on the surface of the copper foil of the evaluation sample. Set an evaluation sample on a 90 ° peel tester ("TE-3001" manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.), pick up the edge of the cut copper foil with a gripping tool, peel the copper foil 20mm, and peel strength (peel) Strength) was measured.

[絶縁層と金属層との密着性(ピール強度)の判定基準]
○○:ピール強度が0.6kgf以上
○:ピール強度が0.4kgf以上0.6kgf未満
×:ピール強度が0.4kgf未満
[Judgment criteria for adhesion (peel strength) between insulating layer and metal layer]
○○: Peel strength is 0.6 kgf or more ○: Peel strength is 0.4 kgf or more and less than 0.6 kgf ×: Peel strength is less than 0.4 kgf

(8)冷熱衝撃試験
冷熱衝撃試験用の評価基板(銅張積層板と6層の絶縁−配線回路複合層とを備える評価基板)を下記に従い作製した。なお、評価基板において、各層に形成されたビアホール連なっている。すなわち、多段スタックビアを有する評価基板にて、下記の評価を行った。
(8) Thermal shock test An evaluation board (an evaluation board provided with a copper-clad laminate and six insulating-wiring circuit composite layers) for a thermal shock test was produced according to the following. In the evaluation substrate, via holes formed in each layer are connected. That is, the following evaluation was performed on an evaluation board having a multistage stacked via.

1層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
(a1)ラミネート工程:
両面銅張積層板(CCL基板)(各面の銅箔の厚み18μm、基板の厚み0.7mm、基板サイズ100mm×100mm、日立化成社製「MCL−E679FG」)を用意した。この両面銅張積層板の銅箔面の両面をメック社製「Cz8101」に浸漬して、銅箔の表面を粗化処理した。粗化処理された銅張積層板の両面に、名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500/600−IIA」を用いて、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側を銅張積層板上に重ねてラミネートした。ラミネートの条件は、30秒減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃及び圧力0.4MPaでプレスする条件とした。PETフィルムを剥がした後130℃で60分間加熱し、樹脂フィルムを半硬化(予備硬化)させた。このようにして、CCL基板に樹脂フィルムの半硬化物が積層されている積層体(1)を得た。
Formation of the first insulation-wiring circuit composite layer:
(A1) Laminating step:
A double-sided copper-clad laminate (CCL substrate) (copper foil thickness 18 μm on each side, substrate thickness 0.7 mm, substrate size 100 mm × 100 mm, “MCL-E679FG” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was prepared. Both surfaces of the copper foil surface of this double-sided copper-clad laminate were immersed in “Cz8101” manufactured by MEC, and the surface of the copper foil was roughened. Using a “batch type vacuum laminator MVLP-500 / 600-IIA” manufactured by Meiki Seisakusho on both sides of the roughened copper clad laminate, the resin film (B stage film) side of the laminate film is copper clad. Laminated on the plate. The laminating conditions were such that the pressure was reduced to 30 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, and then pressing was performed at 100 ° C. and a pressure of 0.4 MPa for 30 seconds. After peeling off the PET film, it was heated at 130 ° C. for 60 minutes to semi-cure (pre-cure) the resin film. Thus, the laminated body (1) by which the semi-cured material of the resin film was laminated | stacked on the CCL board | substrate was obtained.

(b1)ビアホール形成工程:
COレーザー加工機(ビアメカニクス社製「LC−4KF212」)を用いて、バーストモード、エネルギー0.4mJ、パルス27μsec、3ショットの条件で、直径約60μmのビアホールを形成した。
(B1) Via hole forming step:
Using a CO 2 laser processing machine (“LC-4KF212” manufactured by Via Mechanics, Inc.), a via hole having a diameter of about 60 μm was formed under the conditions of burst mode, energy 0.4 mJ, pulse 27 μsec, and 3 shots.

(c1)デスミア処理及び粗化処理:
(c1−1)膨潤処理:
60℃の膨潤液(アトテックジャパン社製「スウェリングディップセキュリガントP」)に、得られた積層体(1)を入れて、10分間揺動させた。その後、純水で洗浄した。
(C1) Desmear treatment and roughening treatment:
(C1-1) Swelling treatment:
The obtained laminate (1) was placed in a swelling liquid at 60 ° C. (“Swelling Dip Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) and rocked for 10 minutes. Thereafter, it was washed with pure water.

(c1−2)過マンガン酸塩処理(粗化処理及びデスミア処理):
80℃の過マンガン酸カリウム(アトテックジャパン社製「コンセントレートコンパクトCP」)粗化水溶液に、膨潤処理後の積層体(1)を入れて、30分間揺動させた。次に、25℃の洗浄液(アトテックジャパン社製「リダクションセキュリガントP」)を用いて2分間処理した後、純水で洗浄を行い、粗化処理後の積層体(1)を得た。
(C1-2) Permanganate treatment (roughening treatment and desmear treatment):
The layered product (1) after the swelling treatment was placed in a roughened aqueous solution of potassium permanganate (“Concentrate Compact CP” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) at 80 ° C. and rocked for 30 minutes. Next, after processing for 2 minutes using a 25 degreeC washing | cleaning liquid ("Reduction securigant P" by Atotech Japan), it wash | cleaned with the pure water and obtained the laminated body (1) after a roughening process.

(c1−3)表面粗さの測定:
粗化処理後の積層体(1)(粗化処理された硬化物)の表面を、非接触3次元表面形状測定装置(Bruker社製「Contour GT−K」)を用いて、95.6μm×71.7μmの測定領域で算術平均粗さRaを測定した。なお、上記算術平均粗さRaは、JIS B0601:1994に準拠して測定した。粗化処理された硬化物の表面の表面粗さが200nm以下であることを確認した。
(C1-3) Measurement of surface roughness:
Using a non-contact three-dimensional surface shape measuring device (“Contour GT-K” manufactured by Bruker), the surface of the layered product (1) (roughened cured product) after the roughening treatment was 95.6 μm × Arithmetic mean roughness Ra was measured in a measurement area of 71.7 μm. The arithmetic average roughness Ra was measured according to JIS B0601: 1994. It was confirmed that the surface roughness of the roughened cured product was 200 nm or less.

(d1)無電解めっき処理:
粗化処理後の積層体(1)の硬化物の表面を、60℃のアルカリクリーナ(アトテックジャパン社製「クリーナーセキュリガント902」)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、上記硬化物を25℃のプリディップ液(アトテックジャパン社製「プリディップネオガントB」)で2分間処理した。その後、上記硬化物を40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン社製「アクチベーターネオガント834」)で5分間処理し、パラジウム触媒を付けた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン社製「リデューサーネオガントWA」)により、硬化物を5分間処理した。
(D1) Electroless plating treatment:
The surface of the cured product of the laminate (1) after the roughening treatment was treated with an alkali cleaner (“Cleaner Securigant 902” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes and degreased and washed. After washing, the cured product was treated with a 25 ° C. pre-dip solution (“Pre-Dip Neogant B” manufactured by Atotech Japan) for 2 minutes. Thereafter, the cured product was treated with an activator solution at 40 ° C. (“Activator Neo Gantt 834” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes to attach a palladium catalyst. Next, the cured product was treated with a reducing solution at 30 ° C. (“Reducer Neogant WA” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes.

次に、上記硬化物を化学銅液(アトテックジャパン社製「ベーシックプリントガントMSK−DK」、「カッパープリントガントMSK」、「スタビライザープリントガントMSK」、及び「リデューサーCu」)に入れ、無電解めっきをめっき厚さが0.5μm程度になるまで実施した。無電解めっき後に、残留している水素ガスを除去するため、120℃の温度で30分間アニール処理した。なお、無電解めっきの工程までの全ての工程は、ビーカースケールで処理液を2Lとし、硬化物を揺動させながら実施した。   Next, the cured product is placed in a chemical copper solution (“Basic Print Gantt MSK-DK”, “Copper Print Gantt MSK”, “Stabilizer Print Gantt MSK”, and “Reducer Cu” manufactured by Atotech Japan), and electroless plating is performed. Was carried out until the plating thickness reached about 0.5 μm. After the electroless plating, annealing was performed at a temperature of 120 ° C. for 30 minutes in order to remove the remaining hydrogen gas. In addition, all processes up to the electroless plating process were performed while setting the treatment liquid to 2 L on a beaker scale and swinging the cured product.

(e1)レジスト形成:
ドライフィルムレジスト(日立化成社製「RY5125」)を、ホットロールラミネーターを用いて貼り付けた。ラミネート条件は、温度100℃、圧力0.4MPa及びラミネート速度1.5m/分とする条件とし、その後、15分ホールドした。次いで、85mJ/cmで露光した後、1wt%の炭酸ナトリウム水溶液を27℃で、スプレー圧1.2MPa、30秒間スプレー処理して現像を行った。
(E1) Resist formation:
A dry film resist (“RY5125” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was attached using a hot roll laminator. Lamination conditions were set to a temperature of 100 ° C., a pressure of 0.4 MPa, and a lamination speed of 1.5 m / min, and then held for 15 minutes. Next, after exposure at 85 mJ / cm 2 , development was performed by spraying a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution at 27 ° C. and a spray pressure of 1.2 MPa for 30 seconds.

(f1)電解めっき処理:
次に、無電解めっき処理された硬化物に、電解めっきをめっき厚さが25μmとなるまで実施した。電解銅めっきとして硫酸銅溶液(和光純薬工業社製「硫酸銅五水和物」、和光純薬工業社製「硫酸」、アトテックジャパン社製「ベーシックレベラーカパラシド HL」、アトテックジャパン社製「補正剤カパラシド GS」)を用いて、0.6A/cmの電流を流しめっき厚さが25μm程度となるまで電解めっきを実施した。
(F1) Electroplating treatment:
Next, electrolytic plating was performed on the cured product that had been subjected to electroless plating until the plating thickness reached 25 μm. As an electrolytic copper plating, a copper sulfate solution (“copper sulfate pentahydrate” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, “sulfuric acid” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, “basic leveler kaparaside HL” manufactured by Atotech Japan, “ using the correction agent Cupracid GS "), plating thickness passing a current of 0.6 a / cm 2 was carried out electrolytic plating until approximately 25 [mu] m.

(g1)DFR剥離及びエッチング処理:
3wt%の水酸化ナトリウム水溶液を用いてスプレー処理することによりドライフィルムレジスト(DFR)を剥離した。次いで、過水硫酸系の酸性エッチング液(JCU社製「SACプロセス」)にてクイックエッチングを行った。
(G1) DFR peeling and etching treatment:
The dry film resist (DFR) was peeled off by spraying using a 3 wt% aqueous sodium hydroxide solution. Next, quick etching was performed with a perhydrosulfuric acid-based acidic etching solution (“SAC process” manufactured by JCU).

(h1)本硬化工程:
ピーク温度Tに対し、190℃で1.5時間加熱した。
このようにして、銅張積層板上に1層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。
2層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
(H1) Main curing step:
With respect to the peak temperature T, it heated at 190 degreeC for 1.5 hours.
In this way, a first insulating-wiring circuit composite layer was formed on the copper clad laminate.
Formation of the second insulating-wiring circuit composite layer:

(a2)ラミネート工程:
(a1)ラミネート工程で実施した粗化処理条件と同様にして、1層目の配線回路層の粗化処理を行った。その後、(a1)ラミネート工程で実施したラミネート条件で、1層目の絶縁−配線回路複合層上に、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側をラミネートした。その後、PETフィルムを剥がた後130℃で60分間加熱して樹脂フィルムを半硬化させた。このようにして、1層目の絶縁−配線回路複合層上に樹脂フィルムの半硬化物が積層されている積層体(2)を得た。
(A2) Lamination process:
(A1) The roughening process of the 1st wiring circuit layer was performed like the roughening process conditions implemented at the lamination process. Thereafter, the resin film (B stage film) side of the laminated film was laminated on the first insulating-wiring circuit composite layer under the laminating conditions carried out in the (a1) laminating step. Then, after peeling off the PET film, the resin film was semi-cured by heating at 130 ° C. for 60 minutes. In this way, a laminate (2) in which a semi-cured resin film was laminated on the first insulating-wiring circuit composite layer was obtained.

(b2)ビアホール形成工程:
(b1)ビアホール形成工程で実施した工程を、積層体(1)を積層体(2)に変更したこと以外は同様にして、ビアホールを形成した。
(B2) Via hole formation process:
(B1) A via hole was formed in the same manner as in the step of forming the via hole except that the stacked body (1) was changed to the stacked body (2).

(c2)デスミア処理及び粗化処理:
(c1)デスミア処理及び粗化処理で実施した工程を、積層体(1)を積層体(2)に変更したこと以外は同様にして、粗化処理後の積層体(2)を得た。
(C2) Desmear treatment and roughening treatment:
(C1) Except having changed the laminated body (1) into the laminated body (2), the process implemented by the desmear process and the roughening process was performed similarly, and the laminated body (2) after the roughening process was obtained.

(d2)無電解めっき処理:
(d1)無電解めっき処理で実施した工程を、粗化処理後の積層体(1)を粗化処理後の積層体(2)に変更したこと以外は同様にして、無電解めっき処理を行った。
(D2) Electroless plating treatment:
(D1) The electroless plating treatment is performed in the same manner as in the step performed by the electroless plating treatment except that the roughened laminate (1) is changed to the roughened laminate (2). It was.

(f2)電解めっき処理:
(d2)無電解めっき処理を行った後、(f1)電解めっき処理と同様にして、無電解めっき処理を行った。
(F2) Electroplating treatment:
(D2) After performing the electroless plating treatment, the electroless plating treatment was performed in the same manner as (f1) electrolytic plating treatment.

(h2)本硬化工程:
(h1)本硬化工程と同様にして、190℃で1.5時間加熱した。
(H2) Main curing step:
(H1) It heated at 190 degreeC for 1.5 hours similarly to this hardening process.

このようにして、1層目の絶縁−配線回路複合層上に2層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。   In this way, a second insulating-wiring circuit composite layer was formed on the first insulating-wiring circuit composite layer.

3層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
2層目の絶縁−配線回路複合層の形成で実施した工程と同様にして、2層目の絶縁−配線回路複合層上に3層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。
Formation of third layer insulation-wiring circuit composite layer:
A third insulating-wiring circuit composite layer was formed on the second insulating-wiring circuit composite layer in the same manner as the process performed in the formation of the second insulating-wiring circuit composite layer.

4層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
2層目の絶縁−配線回路複合層の形成で実施した工程と同様にして、3層目の絶縁−配線回路複合層上に4層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。
Formation of the fourth insulation-wiring circuit composite layer:
A fourth insulating-wiring circuit composite layer was formed on the third insulating-wiring circuit composite layer in the same manner as in the process of forming the second insulating-wiring circuit composite layer.

5層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
(a5)ラミネート工程:
(a2)ラミネート工程で実施した工程と同様にして、4層目の絶縁−配線回路複合層上に樹脂フィルムの半硬化物が積層されている積層体(5)を得た。
Formation of fifth-layer insulation-wiring circuit composite layer:
(A5) Lamination process:
(A2) A laminate (5) in which a semi-cured product of a resin film was laminated on the fourth insulating-wiring circuit composite layer was obtained in the same manner as in the laminating step.

(b5)ビアホール形成工程:
(b1)ビアホール形成工程で実施した工程を、積層体(1)を積層体(5)に変更したこと以外は同様にして、ビアホールを形成した。
(B5) Via hole formation process:
(B1) A via hole was formed in the same manner as in the step of forming the via hole, except that the laminate (1) was changed to the laminate (5).

(c5)デスミア処理及び粗化処理:
(c1)デスミア処理及び粗化処理で実施した工程を、積層体(1)を積層体(5)に変更したこと以外は同様にして、粗化処理後の積層体(5)を得た。
(C5) Desmear treatment and roughening treatment:
(C1) Except having changed the laminated body (1) into the laminated body (5), the process implemented by the desmear process and the roughening process was performed similarly, and the laminated body (5) after the roughening process was obtained.

(d5)無電解めっき処理:
(d1)無電解めっき処理で実施した工程を、粗化処理後の積層体(1)を粗化処理後の積層体(5)に変更したこと以外は同様にして、無電解めっき処理を行った。
(D5) Electroless plating treatment:
(D1) The electroless plating treatment is performed in the same manner as in the step performed by the electroless plating treatment except that the roughened laminate (1) is changed to the roughened laminate (5). It was.

(e5)レジスト形成:
(e1)レジスト形成で実施した工程と同様にして、現像を行った。
(E5) Resist formation:
(E1) Development was performed in the same manner as in the step performed for resist formation.

(f5)電解めっき処理:
ドライフィルムレジストのパターンが形成された後、(f1)電解めっき処理と同様にして、無電解めっき処理を行った。
(F5) Electroplating treatment:
After the pattern of the dry film resist was formed, electroless plating treatment was performed in the same manner as (f1) electrolytic plating treatment.

(g5)DFR剥離及びエッチング処理:
(g1)DFR剥離及びエッチング処理で実施した工程と同様にして、DFR剥離及びエッチング処理を行った。
(G5) DFR peeling and etching treatment:
(G1) DFR peeling and etching were performed in the same manner as the steps performed in DFR peeling and etching.

(h5)本硬化工程:
(h1)本硬化工程と同様にして、190℃で1.5時間加熱した。
このようにして、4層目の絶縁−配線回路複合層上に5層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。
(H5) Main curing step:
(H1) It heated at 190 degreeC for 1.5 hours similarly to this hardening process.
In this way, a fifth insulating-wiring circuit composite layer was formed on the fourth insulating-wiring circuit composite layer.

6層目の絶縁−配線回路複合層の形成:
2層目の絶縁−配線回路複合層の形成で実施した工程と同様にして、5層目の絶縁−配線回路複合層上に6層目の絶縁−配線回路複合層を形成した。
Formation of the sixth insulating-wiring circuit composite layer:
A sixth insulating-wiring circuit composite layer was formed on the fifth insulating-wiring circuit composite layer in the same manner as the process performed in the formation of the second insulating-wiring circuit composite layer.

このようにして、銅張積層板上に1層目〜6層目の絶縁−配線回路複合層が形成された評価基板を作製した。得られた評価基板では、1層目〜6層目の配線回路層のうち、1層目及び5層目の配線回路層のみがパターンを有している。   Thus, the evaluation board | substrate with which the 1st-6th insulating-wiring circuit composite layer was formed on the copper clad laminated board was produced. In the obtained evaluation board, only the first and fifth wiring circuit layers have patterns in the first to sixth wiring circuit layers.

得られた評価基板において、以下の条件で液漕冷熱衝撃試験を行った。
試験条件:−55℃〜125℃、各5分、1000サイクル
The obtained evaluation substrate was subjected to a liquid-cooling thermal shock test under the following conditions.
Test conditions: -55 ° C to 125 ° C, 5 minutes each, 1000 cycles

液漕冷熱衝撃試験の実施前後において、抵抗計(日置電機社製「RM3545」)を用いてビア接続部位の抵抗を測定した。液漕冷熱衝撃試験の実施前後にて、評価基板の抵抗値変化率(液漕冷熱衝撃試験実施後の抵抗値/液漕冷熱衝撃試験実施後の抵抗値×100)を求めた。   Before and after the liquid-cooling thermal shock test, the resistance at the via connection site was measured using a resistance meter ("RM3545" manufactured by Hioki Electric Co., Ltd.). Before and after the liquid-cooling thermal shock test, the resistance value change rate of the evaluation substrate (resistance value after the liquid-cooling thermal shock test / resistance value after the liquid-cooling thermal shock test × 100) was determined.

[冷熱衝撃試験の判定基準]
○:抵抗値変化率が10%未満
×:抵抗値変化率が10%以上
[Criteria for thermal shock test]
○: Resistance value change rate is less than 10% ×: Resistance value change rate is 10% or more

組成及び結果を下記の表1,2に示す。なお、表1,2中、ポリイミド化合物、硬化剤及びシリカの含有量は、純分量で記載した。   The compositions and results are shown in Tables 1 and 2 below. In Tables 1 and 2, the contents of the polyimide compound, the curing agent, and silica are described in pure amounts.

Figure 2019173009
Figure 2019173009

Figure 2019173009
Figure 2019173009

11…多層プリント配線板
12…回路基板
12a…上面
13〜16…絶縁層
17…金属層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Multilayer printed wiring board 12 ... Circuit board 12a ... Upper surface 13-16 ... Insulating layer 17 ... Metal layer

Claims (19)

ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含む樹脂材料の硬化体であり、
前記硬化体は、海部と島部とを有する海島構造を有する、硬化体。
A cured product of a resin material containing a bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound, and an inorganic filler,
The said hardening body is a hardening body which has a sea island structure which has a sea part and an island part.
前記ビスマレイミド化合物が、N−アルキルビスマレイミド化合物である、請求項1に記載の硬化体。   The cured body according to claim 1, wherein the bismaleimide compound is an N-alkyl bismaleimide compound. 前記N−アルキルビスマレイミド化合物が、ダイマージアミンに由来する骨格を有するN−アルキルビスマレイミド化合物である、請求項2に記載の硬化体。   The cured body according to claim 2, wherein the N-alkyl bismaleimide compound is an N-alkyl bismaleimide compound having a skeleton derived from dimer diamine. 前記島部の平均長径が5μm以下である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の硬化体。   The hardening body of any one of Claims 1-3 whose average major axis of the said island part is 5 micrometers or less. 前記島部が前記ビスマレイミド化合物又は前記ビスベンゾオキサジン化合物を含む、請求項1〜4のいずれか1項に記載の硬化体。   The hardened | cured material of any one of Claims 1-4 in which the said island part contains the said bismaleimide compound or the said bisbenzoxazine compound. 前記樹脂材料が、フェノール化合物、シアネートエステル化合物、酸無水物、活性エステル化合物、カルボジイミド化合物、及びビスベンゾオキサジン化合物とは異なるベンゾオキサジン化合物の内の少なくとも1種の成分を含む硬化剤を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の硬化体。   The resin material includes a curing agent including at least one component of a phenol compound, a cyanate ester compound, an acid anhydride, an active ester compound, a carbodiimide compound, and a benzoxazine compound different from a bisbenzoxazine compound. Item 6. The cured product according to any one of items 1 to 5. 前記成分が芳香族骨格を有する成分である、請求項6に記載の硬化体。   The cured body according to claim 6, wherein the component is a component having an aromatic skeleton. 前記エポキシ化合物が芳香族骨格を有するエポキシ化合物である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の硬化体。   The cured body according to any one of claims 1 to 7, wherein the epoxy compound is an epoxy compound having an aromatic skeleton. 前記ビスマレイミド化合物の分子量が500以上15000以下である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の硬化体。   The cured body according to any one of claims 1 to 8, wherein the molecular weight of the bismaleimide compound is 500 or more and 15000 or less. 前記硬化体100重量%中、前記無機充填材の含有量が50重量%以上である、請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化体。   The cured body according to any one of claims 1 to 9, wherein a content of the inorganic filler is 50% by weight or more in 100% by weight of the cured body. 前記無機充填材の平均粒径が5μm以下である、請求項1〜10のいずれか1項に記載の硬化体。   The hardened | cured material of any one of Claims 1-10 whose average particle diameter of the said inorganic filler is 5 micrometers or less. 前記樹脂材料が、熱可塑性樹脂を含み、
前記樹脂材料中の前記無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、前記熱可塑性樹脂の含有量が1重量%以上20重量%以下である、請求項1〜11のいずれか1項に記載の硬化体。
The resin material includes a thermoplastic resin;
The content of the thermoplastic resin is 1% by weight or more and 20% by weight or less in 100% by weight of the component excluding the inorganic filler and the solvent in the resin material. Cured body.
前記熱可塑性樹脂の分子量が15000以上である、請求項12に記載の硬化体。   The hardening body of Claim 12 whose molecular weight of the said thermoplastic resin is 15000 or more. 前記熱可塑性樹脂がポリイミド化合物である、請求項12又は13に記載の硬化体。   The cured body according to claim 12 or 13, wherein the thermoplastic resin is a polyimide compound. 前記樹脂材料が、硬化促進剤を含み、
前記硬化促進剤が、アニオン性硬化促進剤又はラジカル性硬化促進剤を含む、請求項1〜14のいずれか1項に記載の硬化体。
The resin material includes a curing accelerator;
The hardened | cured material of any one of Claims 1-14 in which the said hardening accelerator contains an anionic hardening accelerator or a radical hardening accelerator.
前記硬化促進剤が、前記アニオン性硬化促進剤を含み、
前記アニオン性硬化促進剤が、イミダゾール化合物である、請求項15に記載の硬化体。
The curing accelerator comprises the anionic curing accelerator;
The cured body according to claim 15, wherein the anionic curing accelerator is an imidazole compound.
多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために用いられる、請求項1〜16のいずれか1項に記載の硬化体。   The cured body according to any one of claims 1 to 16, which is used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board. ビスマレイミド化合物又はビスベンゾオキサジン化合物とエポキシ化合物と無機充填材とを含み、
樹脂材料の硬化体が海部と島部とを有する海島構造を有する、樹脂材料。
A bismaleimide compound or a bisbenzoxazine compound, an epoxy compound and an inorganic filler,
A resin material having a sea-island structure in which a cured body of the resin material has a sea part and an island part.
回路基板と、
前記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、
複数の前記絶縁層間に配置された金属層とを備え、
複数の前記絶縁層の内の少なくとも1層の前記絶縁層の材料が、請求項1〜17のいずれか1項に記載の硬化体である、多層プリント配線板。
A circuit board;
A plurality of insulating layers disposed on a surface of the circuit board;
A metal layer disposed between the plurality of insulating layers,
The multilayer printed wiring board whose material of the at least 1 layer of the said insulating layer of the said some insulating layers is the hardening body of any one of Claims 1-17.
JP2019061452A 2018-03-28 2019-03-27 Cured body, resin material and multilayer printed board Pending JP2019173009A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018062906 2018-03-28
JP2018062906 2018-03-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019173009A true JP2019173009A (en) 2019-10-10

Family

ID=68168219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019061452A Pending JP2019173009A (en) 2018-03-28 2019-03-27 Cured body, resin material and multilayer printed board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2019173009A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020084182A (en) * 2018-11-15 2020-06-04 ユニチカ株式会社 Composition for flexible copper-clad laminate sheet
JP2021123687A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2021123688A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2021123689A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2022061730A (en) * 2020-10-07 2022-04-19 株式会社Fpcコネクト Laminate with flexible metal
WO2022097684A1 (en) * 2020-11-06 2022-05-12 日本化薬株式会社 Photosensitive resin composition, cured product thereof and multilayer material
WO2022264292A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-22 Showa Denko Materials Co., Ltd. Bismaleimide composition, cured product, sheet, laminated body, and flexible printed wiring board
WO2023063000A1 (en) * 2021-10-14 2023-04-20 三菱瓦斯化学株式会社 Epoxy resin composition, cured product thereof, prepreg, fiber-reinforced composite material, and high-pressure gas container
JP7434727B2 (en) 2019-05-31 2024-02-21 株式会社レゾナック Adhesive compositions, laminates and adhesive sheets

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012509961A (en) * 2008-11-21 2012-04-26 ヘンケル コーポレイション Phase separation curable composition
JP2012087192A (en) * 2010-10-18 2012-05-10 Yokohama Rubber Co Ltd:The Thermosetting epoxy resin composition
US20150045517A1 (en) * 2012-04-25 2015-02-12 Henkel Ag & Co. Kgaa Curable resin composition, cured product and method of producing a cured product
JP2015038197A (en) * 2013-07-19 2015-02-26 味の素株式会社 Resin composition
JP2016131243A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 日立化成株式会社 Resin film, resin film with support, prepreg, metal-clad laminated sheet for high multilayer, and high multilayer printed wiring board
WO2017027482A1 (en) * 2015-08-08 2017-02-16 Designer Molecules, Inc. Anionic curable compositions
JP2018502937A (en) * 2014-11-11 2018-02-01 廣東生益科技股▲ふん▼有限公司Shengyi Technology Co.,Ltd. Non-halogen resin composition, and prepreg and laminate produced using the same
JP2019044180A (en) * 2017-09-04 2019-03-22 味の素株式会社 Resin composition
JP2019044128A (en) * 2017-09-06 2019-03-22 味の素株式会社 Resin composition

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012509961A (en) * 2008-11-21 2012-04-26 ヘンケル コーポレイション Phase separation curable composition
JP2012087192A (en) * 2010-10-18 2012-05-10 Yokohama Rubber Co Ltd:The Thermosetting epoxy resin composition
US20150045517A1 (en) * 2012-04-25 2015-02-12 Henkel Ag & Co. Kgaa Curable resin composition, cured product and method of producing a cured product
JP2015038197A (en) * 2013-07-19 2015-02-26 味の素株式会社 Resin composition
JP2018502937A (en) * 2014-11-11 2018-02-01 廣東生益科技股▲ふん▼有限公司Shengyi Technology Co.,Ltd. Non-halogen resin composition, and prepreg and laminate produced using the same
JP2016131243A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 日立化成株式会社 Resin film, resin film with support, prepreg, metal-clad laminated sheet for high multilayer, and high multilayer printed wiring board
WO2017027482A1 (en) * 2015-08-08 2017-02-16 Designer Molecules, Inc. Anionic curable compositions
JP2019044180A (en) * 2017-09-04 2019-03-22 味の素株式会社 Resin composition
JP2019044128A (en) * 2017-09-06 2019-03-22 味の素株式会社 Resin composition

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020084182A (en) * 2018-11-15 2020-06-04 ユニチカ株式会社 Composition for flexible copper-clad laminate sheet
JP7434727B2 (en) 2019-05-31 2024-02-21 株式会社レゾナック Adhesive compositions, laminates and adhesive sheets
JP2022163079A (en) * 2020-02-07 2022-10-25 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2021123688A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2021123687A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2021123689A (en) * 2020-02-07 2021-08-30 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP7112438B2 (en) 2020-02-07 2022-08-03 積水化学工業株式会社 Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP7112439B2 (en) 2020-02-07 2022-08-03 積水化学工業株式会社 Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP7112440B2 (en) 2020-02-07 2022-08-03 積水化学工業株式会社 Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP2022159323A (en) * 2020-02-07 2022-10-17 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2022159324A (en) * 2020-02-07 2022-10-17 積水化学工業株式会社 Cured body, b-stage film, and multilayer printed wiring board
JP2022061730A (en) * 2020-10-07 2022-04-19 株式会社Fpcコネクト Laminate with flexible metal
JP7130177B1 (en) * 2020-11-06 2022-09-02 日本化薬株式会社 Photosensitive resin composition, its cured product and multilayer material
WO2022097684A1 (en) * 2020-11-06 2022-05-12 日本化薬株式会社 Photosensitive resin composition, cured product thereof and multilayer material
WO2022264292A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-22 Showa Denko Materials Co., Ltd. Bismaleimide composition, cured product, sheet, laminated body, and flexible printed wiring board
WO2023063000A1 (en) * 2021-10-14 2023-04-20 三菱瓦斯化学株式会社 Epoxy resin composition, cured product thereof, prepreg, fiber-reinforced composite material, and high-pressure gas container
JP7279868B1 (en) * 2021-10-14 2023-05-23 三菱瓦斯化学株式会社 Epoxy resin composition and its cured product, prepreg, fiber-reinforced composite material, high-pressure gas container

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6660513B1 (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP6805338B2 (en) Resin material, laminated structure and multi-layer printed wiring board
JP2019173009A (en) Cured body, resin material and multilayer printed board
JP7332479B2 (en) Resin material, laminated structure and multilayer printed wiring board
JP2023156362A (en) Resin material, laminate film and multilayer printed wiring board
JP2020023714A (en) Resin material and multilayer printed board
WO2021182207A1 (en) Resin material and multilayer printed wiring board
WO2021020563A1 (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP2022063605A (en) Laminate, multilayer printed wiring board, laminate manufacturing method, and laminate preparation kit
JPWO2018062405A1 (en) Cured body and multilayer substrate
JP2022161968A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP6978472B2 (en) Manufacturing method of multi-layer printed wiring board, resin film and multi-layer printed wiring board
JP2021025051A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP2020094089A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP7437215B2 (en) Resin materials and multilayer printed wiring boards
JP7112438B2 (en) Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP7112439B2 (en) Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP7112440B2 (en) Cured body, B stage film and multilayer printed wiring board
JP7254528B2 (en) Resin materials and multilayer printed wiring boards
JP2022134490A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP2022134491A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP2021025052A (en) Resin material and multilayer printed wiring board
JP2020036010A (en) Method for manufacturing multilayer printed wiring board, resin film and multilayer printed wiring board
JP2021054967A (en) Resin film and multilayer printed board
JP2020050829A (en) Resin material and multilayer printed board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211222

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221017

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221206

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230530