JP2020050829A - Resin material and multilayer printed board - Google Patents

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Abstract

To provide a resin material that 1) can effectively remove smear by desmear treatment, 2) can reduce a dielectric loss tangent of a cured product, and 3) can improve adhesion between an insulating layer and a metal layer.SOLUTION: A resin material has an epoxy compound and a curing agent, the curing agent containing a first compound having a structure in which two aryl groups are bound to each other through a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and an active ester compound.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、エポキシ化合物を含む樹脂材料に関する。また、本発明は、上記樹脂材料を用いた多層プリント配線板に関する。   The present invention relates to a resin material containing an epoxy compound. The present invention also relates to a multilayer printed wiring board using the above resin material.

従来、半導体装置、積層板及びプリント配線板等の電子部品を得るために、様々な樹脂材料が用いられている。例えば、多層プリント配線板では、内部の層間を絶縁するための絶縁層を形成したり、表層部分に位置する絶縁層を形成したりするために、樹脂材料が用いられている。上記絶縁層の表面には、一般に金属である配線が積層される。また、上記絶縁層を形成するために、上記樹脂材料がフィルム化された樹脂フィルムが用いられることがある。上記樹脂材料及び上記樹脂フィルムは、ビルドアップフィルムを含む多層プリント配線板用の絶縁材料等として用いられている。   Conventionally, various resin materials have been used to obtain electronic components such as a semiconductor device, a laminated board, and a printed wiring board. For example, in a multilayer printed wiring board, a resin material is used to form an insulating layer for insulating internal layers or to form an insulating layer located on a surface portion. On the surface of the insulating layer, a wiring generally made of metal is laminated. Further, in order to form the insulating layer, a resin film in which the resin material is formed into a film may be used. The resin material and the resin film are used as insulating materials for multilayer printed wiring boards including build-up films.

上記樹脂材料の一例として、下記の特許文献1には、(A)エポキシ樹脂、(B)活性エステル化合物及び(C)スミア抑制成分を含有する樹脂組成物であり、該樹脂組成物の不揮発成分を100質量%とした場合に、(C)スミア抑制成分が0.001〜10質量%である樹脂組成物が開示されている。   As an example of the resin material, Patent Document 1 below describes a resin composition containing (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) a smear suppressing component, and a non-volatile component of the resin composition. Is defined as 100% by mass, and a resin composition containing 0.001 to 10% by mass of the smear suppressing component (C) is disclosed.

特開2014−5464号公報JP 2014-564 A

従来の樹脂材料では、絶縁層(硬化物)の誘電正接が十分に低くならないことがある。   With a conventional resin material, the dielectric loss tangent of the insulating layer (cured product) may not be sufficiently low.

また、絶縁層を形成する際には、樹脂材料を硬化させた硬化物層(絶縁層)を形成し、次に、硬化物層にビアを形成した後、硬化物層がデスミア処理されることがある。しかしながら、従来の樹脂材料では、デスミア処理によって、ビア内のスミアが十分に除去されないことがある。特に、硬化物の誘電正接が低くなるように単に配合設計された従来の樹脂材料や、硬化剤として活性エステル化合物を含む従来の樹脂材料では、ビア内のスミアを十分に除去することが困難である。   When forming the insulating layer, a cured material layer (insulating layer) obtained by curing a resin material is formed, and then, after forming a via in the cured material layer, the cured material layer is desmeared. There is. However, in the conventional resin material, smear in the via may not be sufficiently removed by the desmear process. In particular, it is difficult to sufficiently remove the smear in the via with a conventional resin material simply blended and designed so that the dielectric loss tangent of the cured product is reduced or a conventional resin material containing an active ester compound as a curing agent. is there.

特許文献1に記載の樹脂材料では、硬化物の誘電正接をある程度低くすることができ、また、(C)スミア抑制成分を含むため、デスミア処理によってスミアをある程度効果的に除去することができる。しかしながら、特許文献1に記載の樹脂材料では、絶縁層と金属層との密着性が十分に高くならないことがある。   In the resin material described in Patent Document 1, the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced to some extent, and (C) a smear suppressing component is included. Therefore, smear can be removed to some extent by desmear treatment. However, in the resin material described in Patent Document 1, the adhesion between the insulating layer and the metal layer may not be sufficiently high.

このように、1)デスミア処理によってスミアを効果的に除去することができ、2)硬化物の誘電正接を低くすることができ、3)絶縁層と金属層との密着性を高めるという、1)−3)の効果を全て発揮する樹脂材料を得ることは極めて困難であるという現状がある。   Thus, 1) smear can be effectively removed by the desmear treatment, 2) the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced, and 3) the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be increased. At present, it is extremely difficult to obtain a resin material exhibiting all the effects of 3) to 3).

本発明の目的は、1)デスミア処理によってスミアを効果的に除去することができ、2)硬化物の誘電正接を低くすることができ、3)絶縁層と金属層との密着性を高めることができる樹脂材料を提供することである。また、本発明は、上記樹脂材料を用いた多層プリント配線板を提供することも目的とする。   An object of the present invention is to 1) effectively remove smear by desmear treatment, 2) reduce the dielectric loss tangent of the cured product, and 3) increase the adhesion between the insulating layer and the metal layer. It is to provide a resin material which can be used. Another object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board using the above resin material.

本発明の広い局面によれば、エポキシ化合物と、硬化剤とを含み、前記硬化剤が、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物と、活性エステル化合物とを含む。   According to a broad aspect of the present invention, a first compound comprising an epoxy compound and a curing agent, wherein the curing agent has a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom. And an active ester compound.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、前記第1の化合物が、スルホニル基を介して2個の前記アリール基が結合した構造を有する化合物である。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the first compound is a compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a sulfonyl group.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、前記第1の化合物が、ヒドロキシ基又はアミノ基を有する化合物である。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the first compound is a compound having a hydroxy group or an amino group.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、前記第1の化合物の分子量が、150以上500以下である。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the first compound has a molecular weight of 150 or more and 500 or less.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、前記樹脂材料は、無機充填材を含む。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the resin material includes an inorganic filler.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、前記無機充填材の含有量が30重量%以上である。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the content of the inorganic filler is 30% by weight or more based on 100% by weight of components other than the solvent in the resin material.

本発明に係る樹脂材料のある特定の局面では、前記樹脂材料は、樹脂フィルムである。   In a specific aspect of the resin material according to the present invention, the resin material is a resin film.

本発明に係る樹脂材料は、多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために好適に用いられる。   The resin material according to the present invention is suitably used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board.

本発明の広い局面によれば、回路基板と、前記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、複数の前記絶縁層間に配置された金属層とを備え、複数の前記絶縁層の内の少なくとも1層が、上述した樹脂材料の硬化物である、多層プリント配線板が提供される。   According to a broad aspect of the present invention, a circuit board includes a plurality of insulating layers disposed on a surface of the circuit board, and a metal layer disposed between the plurality of insulating layers. Wherein at least one of the layers is a cured product of the resin material described above.

本発明に係る樹脂材料は、エポキシ化合物と、硬化剤とを含み、上記硬化剤が、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物と、活性エステル化合物とを含む。本発明に係る樹脂材料では、上記の構成が備えられているので、1)デスミア処理によってスミアを効果的に除去することができ、2)硬化物の誘電正接を低くすることができ、3)絶縁層と金属層との密着性を高めることができるという、1)−3)の効果を全て発揮することができる。   The resin material according to the present invention includes an epoxy compound and a curing agent, wherein the curing agent has a first compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom. , An active ester compound. Since the resin material according to the present invention has the above configuration, 1) smear can be effectively removed by desmear treatment, 2) the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced, and 3) All of the effects 1) to 3) that the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be enhanced can be exhibited.

図1は、本発明の一実施形態に係る樹脂材料を用いた多層プリント配線板を模式的に示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a multilayer printed wiring board using a resin material according to one embodiment of the present invention.

以下、本発明を詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明に係る樹脂材料は、エポキシ化合物と、硬化剤とを含み、上記硬化剤が、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物と、活性エステル化合物とを含む。   The resin material according to the present invention includes an epoxy compound and a curing agent, wherein the curing agent has a first compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom. , An active ester compound.

本発明に係る樹脂材料では、上記の構成が備えられているので、1)デスミア処理によってスミアを効果的に除去することができ、2)硬化物の誘電正接を低くすることができ、3)絶縁層と金属層との密着性を高めることができるという、1)−3)の効果を全て発揮することができる。例えば、本発明に係る樹脂材料では、3)絶縁層と金属層との密着性として、絶縁層と金属層とのメッキピール強度を高めることができ、また、リフロー耐性を高めることができる。   Since the resin material according to the present invention has the above configuration, 1) smear can be effectively removed by desmear treatment, 2) the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced, and 3) All of the effects 1) to 3) that the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be enhanced can be exhibited. For example, in the resin material according to the present invention, 3) as the adhesion between the insulating layer and the metal layer, the plating peel strength between the insulating layer and the metal layer can be increased, and the reflow resistance can be increased.

本発明に係る樹脂材料は、樹脂組成物であってもよく、樹脂フィルムであってもよい。上記樹脂組成物は、流動性を有する。上記樹脂組成物は、ペースト状であってもよい。上記ペースト状には液状が含まれる。取扱性に優れることから、本発明に係る樹脂材料は、樹脂フィルムであることが好ましい。   The resin material according to the present invention may be a resin composition or a resin film. The resin composition has fluidity. The resin composition may be in the form of a paste. The paste includes a liquid. The resin material according to the present invention is preferably a resin film because of its excellent handleability.

本発明に係る樹脂材料は、熱硬化性材料であることが好ましい。上記樹脂材料が樹脂フィルムである場合には、該樹脂フィルムは、熱硬化性樹脂フィルムであることが好ましい。   The resin material according to the present invention is preferably a thermosetting material. When the resin material is a resin film, the resin film is preferably a thermosetting resin film.

以下、本発明に係る樹脂材料に用いられる各成分の詳細、及び本発明に係る樹脂材料の用途などを説明する。   Hereinafter, the details of each component used in the resin material according to the present invention and the use of the resin material according to the present invention will be described.

[エポキシ化合物]
上記樹脂材料は、エポキシ化合物を含む。上記エポキシ化合物として、従来公知のエポキシ化合物を使用可能である。上記エポキシ化合物は、少なくとも1個のエポキシ基を有する有機化合物である。上記エポキシ化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Epoxy compound]
The resin material contains an epoxy compound. As the epoxy compound, a conventionally known epoxy compound can be used. The epoxy compound is an organic compound having at least one epoxy group. One of the above epoxy compounds may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.

上記エポキシ化合物としては、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型エポキシ化合物、ビスフェノールS型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、ビフェニル型エポキシ化合物、ビフェニルノボラック型エポキシ化合物、ビフェノール型エポキシ化合物、ナフタレン型エポキシ化合物、フルオレン型エポキシ化合物、フェノールアラルキル型エポキシ化合物、ナフトールアラルキル型エポキシ化合物、ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物、アントラセン型エポキシ化合物、アダマンタン骨格を有するエポキシ化合物、トリシクロデカン骨格を有するエポキシ化合物、ナフチレンエーテル型エポキシ化合物、及びトリアジン核を骨格に有するエポキシ化合物等が挙げられる。   Examples of the epoxy compound include a bisphenol A epoxy compound, a bisphenol F epoxy compound, a bisphenol S epoxy compound, a phenol novolak epoxy compound, a biphenyl epoxy compound, a biphenyl novolak epoxy compound, a biphenol epoxy compound, and a naphthalene epoxy compound. , Fluorene type epoxy compound, phenol aralkyl type epoxy compound, naphthol aralkyl type epoxy compound, dicyclopentadiene type epoxy compound, anthracene type epoxy compound, epoxy compound having adamantane skeleton, epoxy compound having tricyclodecane skeleton, naphthylene ether type An epoxy compound and an epoxy compound having a triazine nucleus in a skeleton are exemplified.

誘電正接をより一層低くし、かつ硬化物の熱寸法安定性及び難燃性を高める観点からは、上記エポキシ化合物は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物を含むことが好ましく、ナフタレン骨格又はフェニル骨格を有するエポキシ化合物を含むことがより好ましい。   From the viewpoint of further reducing the dielectric loss tangent and enhancing the thermal dimensional stability and flame retardancy of the cured product, the epoxy compound preferably contains an epoxy compound having an aromatic skeleton, and has a naphthalene skeleton or a phenyl skeleton. It is more preferable to include an epoxy compound having the same.

誘電正接をより一層低くし、かつ硬化物の線膨張係数(CTE)を良好にする観点からは、上記エポキシ化合物は、25℃で液状のエポキシ化合物と、25℃で固形のエポキシ化合物とを含むことが好ましい。   From the viewpoint of further reducing the dielectric loss tangent and improving the linear expansion coefficient (CTE) of the cured product, the epoxy compound contains an epoxy compound which is liquid at 25 ° C. and an epoxy compound which is solid at 25 ° C. Is preferred.

上記25℃で液状のエポキシ化合物の25℃での粘度は、1000mPa・s以下であることが好ましく、500mPa・s以下であることがより好ましい。   The viscosity at 25 ° C. of the liquid epoxy compound at 25 ° C. is preferably 1,000 mPa · s or less, more preferably 500 mPa · s or less.

上記エポキシ化合物の粘度は、例えば動的粘弾性測定装置(レオロジカ・インスツルメンツ社製「VAR−100」)等を用いて測定することができる。   The viscosity of the epoxy compound can be measured using, for example, a dynamic viscoelasticity measuring device (“VAR-100” manufactured by Rheologicals Instruments).

上記エポキシ化合物の分子量は1000以下であることがより好ましい。この場合には、樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、無機充填材の含有量が50重量%以上であっても、絶縁層の形成時に流動性が高い樹脂材料が得られる。このため、樹脂材料の未硬化物又はBステージ化物を回路基板上にラミネートした場合に、無機充填材を均一に存在させることができる。   The molecular weight of the epoxy compound is more preferably 1,000 or less. In this case, even if the content of the inorganic filler is 50% by weight or more based on 100% by weight of the components excluding the solvent in the resin material, a resin material having high fluidity at the time of forming the insulating layer can be obtained. Therefore, when the uncured resin material or the B-staged resin material is laminated on the circuit board, the inorganic filler can be uniformly present.

上記エポキシ化合物の分子量は、上記エポキシ化合物が重合体ではない場合、及び上記エポキシ化合物の構造式が特定できる場合には、当該構造式から算出できる分子量を意味する。また、上記エポキシ化合物の分子量は、上記エポキシ化合物が重合体である場合には、重量平均分子量を意味する。   The molecular weight of the epoxy compound means a molecular weight that can be calculated from the structural formula when the epoxy compound is not a polymer or when the structural formula of the epoxy compound can be specified. The molecular weight of the epoxy compound means a weight average molecular weight when the epoxy compound is a polymer.

上記樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、上記エポキシ化合物の含有量は、好ましくは4重量%以上、より好ましくは8重量%以上、好ましくは30重量%以下、より好ましくは25重量%以下である。上記エポキシ化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化物の熱寸法安定性をより一層高めることができ、硬化物の反りをより一層効果的に抑えることができる。   The content of the epoxy compound in 100% by weight of the resin material excluding the solvent is preferably 4% by weight or more, more preferably 8% by weight or more, preferably 30% by weight or less, more preferably 25% by weight. It is as follows. When the content of the epoxy compound is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the thermal dimensional stability of the cured product can be further increased, and the warpage of the cured product can be suppressed more effectively.

上記樹脂材料中の無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、上記エポキシ化合物の含有量は、好ましくは15重量%以上、より好ましくは20重量%以上、好ましくは50重量%以下、より好ましくは45重量%以下である。上記エポキシ化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化物の熱寸法安定性をより一層高めることができ、硬化物の反りをより一層効果的に抑えることができる。   The content of the epoxy compound in 100% by weight of the resin material excluding the inorganic filler and the solvent is preferably 15% by weight or more, more preferably 20% by weight or more, and preferably 50% by weight or less, more preferably Is 45% by weight or less. When the content of the epoxy compound is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the thermal dimensional stability of the cured product can be further increased, and the warpage of the cured product can be suppressed more effectively.

[硬化剤]
上記樹脂材料は、硬化剤を含む。上記硬化剤は、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物と、活性エステル化合物とを含む。
[Curing agent]
The resin material contains a curing agent. The curing agent includes a first compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and an active ester compound.

<第1の化合物>
上記樹脂材料は、硬化剤として、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物を含む。上記第1の化合物は、上記エポキシ化合物のエポキシ基と反応可能な官能基を有することが好ましい。上記第1の化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
<First compound>
The resin material contains, as a curing agent, a first compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom. The first compound preferably has a functional group capable of reacting with the epoxy group of the epoxy compound. As the first compound, only one kind may be used, or two or more kinds may be used in combination.

上記窒素原子又は硫黄原子を含む基は、窒素原子を含む基であってもよく、硫黄原子を含む基であってもよく、窒素原子と硫黄原子とを含む基であってもよい。   The group containing a nitrogen atom or a sulfur atom may be a group containing a nitrogen atom, a group containing a sulfur atom, or a group containing a nitrogen atom and a sulfur atom.

上記窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造では、上記窒素原子又は硫黄原子を含む基と、アリール基とにより、環が形成されていてもよい。   In a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, a ring may be formed by the group containing a nitrogen atom or a sulfur atom and an aryl group.

上記第1の化合物としては、下記式(1A)で表される化合物、下記式(1B)、及び下記式(1C)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the first compound include a compound represented by the following formula (1A), a compound represented by the following formula (1B), and a compound represented by the following formula (1C).

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(1A)中、Xは、窒素原子又は硫黄原子を含む基を表し、R1及びR2は、任意の基を表す。   In the above formula (1A), X represents a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and R1 and R2 represent any groups.

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(1B)中、Xは、窒素原子又は硫黄原子を含む基を表し、R1及びR2は、任意の基を表す。   In the above formula (1B), X represents a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and R1 and R2 represent any groups.

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(1C)中、Xは、窒素原子又は硫黄原子を含む基を表し、R1及びR2は、任意の基を表す。   In the above formula (1C), X represents a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and R1 and R2 represent any groups.

上記式(1B)で表される化合物では、上記窒素原子又は硫黄原子を含む基と、2個のアリール基とにより、環が形成されている。上記式(1C)で表される化合物では、上記窒素原子又は硫黄原子を含む基と、1個のアリール基とにより、環が形成されている。   In the compound represented by the above formula (1B), a ring is formed by the group containing a nitrogen atom or a sulfur atom and two aryl groups. In the compound represented by the formula (1C), a ring is formed by the group containing a nitrogen atom or a sulfur atom and one aryl group.

上記式(1C)で表される化合物としては、例えば、下記式(11C)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the compound represented by the above formula (1C) include a compound represented by the following formula (11C).

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(11C)中、R1及びR2は、任意の基を表す。   In the above formula (11C), R1 and R2 represent an arbitrary group.

上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮する観点からは、上記第1の化合物は、上記式(1A)で表される化合物と、上記式(1B)で表される化合物と、上記式(1C)で表される化合物とのうち、上記式(1A)で表される化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of more effectively exhibiting the effects of the present invention described in 1) to 3) above, the first compound is a compound represented by the above formula (1A) and a compound represented by the above formula (1B). And the compound represented by the formula (1C), the compound represented by the formula (1A) is preferable.

上記第1の化合物における上記窒素原子を含む基(上記式(1A)中のX、上記式(1B)中のX、及び上記式(1C)中のX)としては、アミノ基、アミド基、イミド基、ニトリル基、カルボジイミド基、アゾ基、及びピペラジン骨格を有する基等が挙げられる。   In the first compound, the group containing the nitrogen atom (X in the formula (1A), X in the formula (1B), and X in the formula (1C)) includes an amino group, an amide group, Examples include an imide group, a nitrile group, a carbodiimide group, an azo group, and a group having a piperazine skeleton.

上記第1の化合物における上記硫黄原子を含む基(上記式(1A)中のX、上記式(1B)中のX、及び上記式(1C)中のX)としては、スルホニル基、チオール基、及びスルフィド基等が挙げられる。   The group containing the sulfur atom (X in the formula (1A), X in the formula (1B), and X in the formula (1C)) in the first compound is a sulfonyl group, a thiol group, And a sulfide group.

上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮する観点からは、上記窒素原子又は硫黄原子を含む基は、硫黄原子を含む基であることが好ましく、スルホニル基であることがより好ましい。すなわち、上記第1の化合物は、硫黄原子を含む基を介して2個の上記アリール基が結合した構造を有する化合物であることが好ましく、スルホニル基を介して2個の上記アリール基が結合した構造を有する化合物であることがより好ましい。   From the viewpoint of more effectively exhibiting the effects of 1) to 3) of the present invention, the group containing a nitrogen atom or a sulfur atom is preferably a group containing a sulfur atom, and is a sulfonyl group. Is more preferable. That is, the first compound is preferably a compound having a structure in which two aryl groups are bonded through a group containing a sulfur atom, and the two aryl groups are bonded through a sulfonyl group. More preferably, the compound has a structure.

上記式(1A)中、R1とR2とは同一であってもよく、異なっていてもよい。上記式(1B)中、R1とR2とは同一であってもよく、異なっていてもよい。上記式(1C)中、R1とR2とは同一であってもよく、異なっていてもよい。   In the above formula (1A), R1 and R2 may be the same or different. In the above formula (1B), R1 and R2 may be the same or different. In the above formula (1C), R1 and R2 may be the same or different.

上記式(1A)、上記式(1B)、及び上記式(1C)中、R1及びR2としては、それぞれ、ヒドロキシ基、アミノ基、シアナト基、エステル基、マレイミド、カルボキシル基、酸無水物基、及び芳香族骨格を含む基等が挙げられる。   In the formulas (1A), (1B), and (1C), R1 and R2 each represent a hydroxy group, an amino group, a cyanato group, an ester group, a maleimide, a carboxyl group, an acid anhydride group, And a group containing an aromatic skeleton.

上記第1の化合物は、アミノ基又はヒドロキシ基を有する化合物であることが好ましい。デスミア処理によってスミアをより一層効果的に除去する観点からは、上記第1の化合物は、アミノ基を有する化合物であることが好ましい。絶縁層と金属層との密着性をより一層高める観点からは、上記第1の化合物は、ヒドロキシ基を有する化合物であることが好ましい。この場合に、上記第1の化合物は、上記式(1A)中、上記式(1B)中、又は上記式(1C)中のXにおいて、ヒドロキシ基又はアミノ基を有していてもよく、R1又はR2において、ヒドロキシ基又はアミノ基を有していてもよい。   The first compound is preferably a compound having an amino group or a hydroxy group. From the viewpoint of more effectively removing smear by desmear treatment, the first compound is preferably a compound having an amino group. From the viewpoint of further increasing the adhesion between the insulating layer and the metal layer, the first compound is preferably a compound having a hydroxy group. In this case, the first compound may have a hydroxy group or an amino group in X in the formula (1A), the formula (1B), or the formula (1C). Alternatively, R2 may have a hydroxy group or an amino group.

上記第1の化合物の分子量は、好ましくは150以上、より好ましくは200以上、好ましくは500以下、より好ましくは400以下である。上記第1の化合物の分子量が上記下限以上及び上記上限以下であると、上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮することができる。   The molecular weight of the first compound is preferably 150 or more, more preferably 200 or more, preferably 500 or less, more preferably 400 or less. When the molecular weight of the first compound is equal to or greater than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the effects of 1) to 3) of the present invention described above can be more effectively exerted.

上記エポキシ化合物100重量部に対する上記第1の化合物の含有量は、好ましくは0.25重量部以上、より好ましくは0.5重量部以上、好ましくは30重量部以下、より好ましくは25重量部以下である。上記第1の化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮することができる。また、上記第1の化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化性により一層優れ、熱寸法安定性をより一層高め、残存未反応成分の揮発をより一層抑制できる。   The content of the first compound with respect to 100 parts by weight of the epoxy compound is preferably 0.25 parts by weight or more, more preferably 0.5 parts by weight or more, preferably 30 parts by weight or less, more preferably 25 parts by weight or less. It is. When the content of the first compound is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the effects of 1) to 3) of the present invention described above can be more effectively exerted. Further, when the content of the first compound is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the curability is more excellent, the thermal dimensional stability is further increased, and the volatilization of the remaining unreacted components can be further suppressed.

上記硬化剤100重量%中、上記第1の化合物の含有量は、好ましくは0.2重量%以上、より好ましくは0.4重量%以上、好ましくは30重量%以下、より好ましくは25重量%以下である。上記第1の化合物の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮することができる。   In 100% by weight of the curing agent, the content of the first compound is preferably 0.2% by weight or more, more preferably 0.4% by weight or more, preferably 30% by weight or less, more preferably 25% by weight. It is as follows. When the content of the first compound is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the effects of 1) to 3) of the present invention described above can be more effectively exerted.

<活性エステル化合物>
上記樹脂材料は、硬化剤として、活性エステル化合物(第2の化合物)を含む。上記活性エステル化合物は、上記エポキシ化合物のエポキシ基と反応可能な官能基を有することが好ましい。上記活性エステル化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
<Active ester compound>
The resin material contains an active ester compound (second compound) as a curing agent. The active ester compound preferably has a functional group capable of reacting with the epoxy group of the epoxy compound. One of the active ester compounds may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.

上記活性エステル化合物は、エステル結合を少なくとも1つ有し、かつエステル結合の両側に、脂肪族鎖、脂肪族環又は芳香族環が結合している化合物である。上記活性エステル化合物は、例えばカルボン酸化合物又はチオカルボン酸化合物と、ヒドロキシ化合物又はチオール化合物との縮合反応によって得られる。上記活性エステル化合物の例としては、下記式(2)で表される化合物が挙げられる。   The active ester compound is a compound having at least one ester bond and having an aliphatic chain, an aliphatic ring, or an aromatic ring bonded to both sides of the ester bond. The active ester compound is obtained, for example, by a condensation reaction of a carboxylic acid compound or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound or a thiol compound. Examples of the active ester compound include a compound represented by the following formula (2).

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(2)中、X1は、脂肪族鎖を含む基、脂肪族環を含む基又は芳香族環を含む基を表し、X2は、芳香族環を含む基を表す。上記芳香族環を含む基の好ましい例としては、置換基を有していてもよいベンゼン環、及び置換基を有していてもよいナフタレン環等が挙げられる。上記置換基としては、炭化水素基が挙げられる。該炭化水素基の炭素数は、好ましくは12以下、より好ましくは6以下、更に好ましくは4以下である。   In the above formula (2), X1 represents a group containing an aliphatic chain, a group containing an aliphatic ring, or a group containing an aromatic ring, and X2 represents a group containing an aromatic ring. Preferred examples of the group containing an aromatic ring include a benzene ring which may have a substituent and a naphthalene ring which may have a substituent. Examples of the substituent include a hydrocarbon group. The number of carbon atoms of the hydrocarbon group is preferably 12 or less, more preferably 6 or less, and still more preferably 4 or less.

上記式(2)中、X1及びX2の組み合わせとしては、置換基を有していてもよいベンゼン環と、置換基を有していてもよいベンゼン環との組み合わせ、置換基を有していてもよいベンゼン環と、置換基を有していてもよいナフタレン環との組み合わせが挙げられる。さらに、上記式(2)中、X1及びX2の組み合わせとしては、置換基を有していてもよいナフタレン環と、置換基を有していてもよいナフタレン環との組み合わせが挙げられる。   In the above formula (2), as the combination of X1 and X2, a combination of a benzene ring which may have a substituent and a benzene ring which may have a substituent, And a naphthalene ring which may have a substituent. Further, in the above formula (2), examples of the combination of X1 and X2 include a combination of a naphthalene ring which may have a substituent and a naphthalene ring which may have a substituent.

上記活性エステル化合物は特に限定されない。熱寸法安定性及び難燃性を高める観点からは、上記活性エステル化合物は、2個以上の芳香族骨格を有する活性エステル化合物であることが好ましい。硬化物の誘電正接を低くし、かつ硬化物の熱寸法安定性を高める観点から、上記活性エステル化合物の主鎖骨格中にナフタレン環を有することがより好ましい。   The active ester compound is not particularly limited. From the viewpoint of enhancing thermal dimensional stability and flame retardancy, the active ester compound is preferably an active ester compound having two or more aromatic skeletons. From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent of the cured product and increasing the thermal dimensional stability of the cured product, it is more preferable that the active ester compound has a naphthalene ring in the main chain skeleton.

上記活性エステル化合物の市販品としては、DIC社製「HPC−8000−65T」、「EXB9416−70BK」、「EXB8100−65T」及び「HPC−8150−60T」等が挙げられる。   Commercial products of the active ester compound include "HPC-8000-65T", "EXB9416-70BK", "EXB8100-65T", and "HPC-8150-60T" manufactured by DIC.

上記エポキシ化合物100重量部に対する上記活性エステル化合物の含有量は、好ましくは70重量部以上、より好ましくは85重量部以上、好ましくは150重量部以下、より好ましくは140重量部以下である。上記活性エステル化合物の含有量が上記下限以上であると、硬化性により一層優れ、また、硬化物の誘電正接を低くすることができ、絶縁層と金属層との密着性を高めることができる。上記活性エステル化合物の含有量が上記上限以下であると、デスミア処理によってスミアをより一層効果的に除去することができる。   The content of the active ester compound with respect to 100 parts by weight of the epoxy compound is preferably 70 parts by weight or more, more preferably 85 parts by weight or more, preferably 150 parts by weight or less, more preferably 140 parts by weight or less. When the content of the active ester compound is equal to or more than the lower limit, the curability is more excellent, the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced, and the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be increased. When the content of the active ester compound is equal to or less than the upper limit, smear can be more effectively removed by desmear treatment.

上記硬化剤100重量%中、上記活性エステル化合物の含有量は、好ましくは50重量%以上、より好ましくは60重量%以上、好ましくは99.8重量%以下、より好ましくは99.6重量%以下である。上記活性エステル化合物の含有量が上記下限以上であると、硬化物の誘電正接を低くすることができ、絶縁層と金属層との密着性を高めることができる。上記活性エステル化合物の含有量が上記上限以下であると、デスミア処理によってスミアをより一層効果的に除去することができる。   The content of the active ester compound in 100% by weight of the curing agent is preferably 50% by weight or more, more preferably 60% by weight or more, preferably 99.8% by weight or less, more preferably 99.6% by weight or less. It is. When the content of the active ester compound is at least the lower limit, the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced, and the adhesion between the insulating layer and the metal layer can be increased. When the content of the active ester compound is equal to or less than the upper limit, smear can be more effectively removed by desmear treatment.

<硬化剤X>
上記樹脂材料は、硬化剤として、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する化合物及び活性エステル化合物の双方とは異なる硬化剤(以下、「硬化剤X」と記載することがある)を含んでいてもよい。上記硬化剤Xは、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
<Curing agent X>
As the curing agent, a curing agent different from both a compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom and an active ester compound (hereinafter referred to as “curing agent X”) May be described as "). As the curing agent X, only one type may be used, or two or more types may be used in combination.

上記硬化剤Xとしては、シアネートエステル化合物(シアネートエステル硬化剤)、アミン化合物(アミン硬化剤)、チオール化合物(チオール硬化剤)、イミダゾール化合物、ホスフィン化合物、ジシアンジアミド、フェノール化合物(フェノール硬化剤)、酸無水物、カルボジイミド化合物(カルボジイミド硬化剤)、マレイミド化合物(マレイミド硬化剤)及びベンゾオキサジン化合物(ベンゾオキサジン硬化剤)等が挙げられる。上記硬化剤Xは、上記エポキシ化合物のエポキシ基と反応可能な官能基を有することが好ましい。   Examples of the curing agent X include a cyanate ester compound (cyanate ester curing agent), an amine compound (amine curing agent), a thiol compound (thiol curing agent), an imidazole compound, a phosphine compound, dicyandiamide, a phenol compound (phenol curing agent), and an acid. Examples thereof include anhydrides, carbodiimide compounds (carbodiimide curing agents), maleimide compounds (maleimide curing agents), and benzoxazine compounds (benzoxazine curing agents). The curing agent X preferably has a functional group capable of reacting with the epoxy group of the epoxy compound.

上記シアネートエステル化合物としては、ノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノール型シアネートエステル樹脂、並びにこれらが一部三量化されたプレポリマー等が挙げられる。上記ノボラック型シアネートエステル樹脂としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂及びアルキルフェノール型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。上記ビスフェノール型シアネートエステル樹脂としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂及びテトラメチルビスフェノールF型シアネートエステル樹脂等が挙げられる。   Examples of the cyanate ester compound include a novolak-type cyanate ester resin, a bisphenol-type cyanate ester resin, and a prepolymer in which these are partially trimerized. Examples of the novolak type cyanate ester resin include a phenol novolak type cyanate ester resin and an alkylphenol type cyanate ester resin. Examples of the bisphenol type cyanate ester resin include a bisphenol A type cyanate ester resin, a bisphenol E type cyanate ester resin, and a tetramethyl bisphenol F type cyanate ester resin.

上記シアネートエステル化合物の市販品としては、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン社製「PT−30」及び「PT−60」)、並びにビスフェノール型シアネートエステル樹脂が三量化されたプレポリマー(ロンザジャパン社製「BA−230S」、「BA−3000S」、「BTP−1000S」及び「BTP−6020S」)等が挙げられる。   Commercially available products of the above cyanate ester compounds include phenol novolak type cyanate ester resins (“PT-30” and “PT-60” manufactured by Lonza Japan) and prepolymers obtained by trimerizing bisphenol type cyanate ester resins (Lonza Japan). “BA-230S”, “BA-3000S”, “BTP-1000S” and “BTP-6020S”).

上記フェノール化合物としては、ノボラック型フェノール、ビフェノール型フェノール、ナフタレン型フェノール、ジシクロペンタジエン型フェノール、アラルキル型フェノール及びジシクロペンタジエン型フェノール等が挙げられる。   Examples of the phenol compound include novolak-type phenol, biphenol-type phenol, naphthalene-type phenol, dicyclopentadiene-type phenol, aralkyl-type phenol, and dicyclopentadiene-type phenol.

上記フェノール化合物の市販品としては、ノボラック型フェノール(DIC社製「TD−2091」)、ビフェニルノボラック型フェノール(明和化成社製「MEH−7851」)、アラルキル型フェノール化合物(明和化成社製「MEH−7800」)、並びにアミノトリアジン骨格を有するフェノール(DIC社製「LA1356」及び「LA3018−50P」)等が挙げられる。   Commercially available phenol compounds include novolak phenol ("TD-2091" manufactured by DIC), biphenyl novolak phenol ("MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei), and aralkyl phenol compounds ("MEH" manufactured by Meiwa Kasei). -7800 "), and phenols having an aminotriazine skeleton (" LA1356 "and" LA3018-50P "manufactured by DIC).

上記酸無水物としては、テトラヒドロフタル酸無水物、及びアルキルスチレン−無水マレイン酸共重合体等が挙げられる。   Examples of the acid anhydride include tetrahydrophthalic anhydride and an alkylstyrene-maleic anhydride copolymer.

上記酸無水物の市販品としては、新日本理化社製「リカシッド TDA−100」等が挙げられる。   Commercial products of the above-mentioned acid anhydride include "Rikashid TDA-100" manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.

上記カルボジイミド化合物は、下記式(3)で表される構造単位を有する化合物である。下記式(3)において、右端部及び左端部は、他の基との結合部位である。上記カルボジイミド化合物は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The carbodiimide compound is a compound having a structural unit represented by the following formula (3). In the following formula (3), the right end and the left end are binding sites to other groups. One kind of the carbodiimide compound may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

Figure 2020050829
Figure 2020050829

上記式(3)中、Xは、アルキレン基、アルキレン基に置換基が結合した基、シクロアルキレン基、シクロアルキレン基に置換基が結合した基、アリーレン基、又はアリーレン基に置換基が結合した基を表し、pは1以上5以下の整数を表す。Xが複数存在する場合、複数のXは同一であってもよく、異なっていてもよい。   In the above formula (3), X represents an alkylene group, a group having a substituent bonded to an alkylene group, a cycloalkylene group, a group having a substituent bonded to a cycloalkylene group, an arylene group, or a substituent having been bonded to an arylene group. And p represents an integer of 1 or more and 5 or less. When there are a plurality of Xs, the plurality of Xs may be the same or different.

上記式(3)中、少なくとも1つのXは、アルキレン基、アルキレン基に置換基が結合した基、シクロアルキレン基、又はシクロアルキレン基に置換基が結合した基であることが好ましい。   In the above formula (3), at least one X is preferably an alkylene group, a group in which a substituent is bonded to an alkylene group, a cycloalkylene group, or a group in which a substituent is bonded to a cycloalkylene group.

上記カルボジイミド化合物の市販品としては、日清紡ケミカル社製「カルボジライト V−02B」、「カルボジライト V−03」、「カルボジライト V−04K」、「カルボジライト V−07」、「カルボジライト V−09」、「カルボジライト 10M−SP」、及び「カルボジライト 10M−SP(改)」、並びに、ラインケミー社製「スタバクゾールP」、「スタバクゾールP400」、及び「ハイカジル510」等が挙げられる。   Commercially available carbodiimide compounds include Nisshinbo Chemical's "Carbodilite V-02B", "Carbodilite V-03", "Carbodilite V-04K", "Carbodilite V-07", "Carbodilite V-09", and "Carbodilite V-09". 10M-SP "and" Carbodilite 10M-SP (revised) ", as well as" STABAXOL P "," STABAXOL P400 ", and" HIKAZIL 510 "manufactured by Rhine Chemie.

上記マレイミド化合物は、ビスマレイミド化合物であってもよい。   The maleimide compound may be a bismaleimide compound.

上記ビスマレイミド化合物としては、芳香族ビスマレイミド化合物、及び脂肪族ビスマレイミド化合物等が挙げられる。   Examples of the bismaleimide compound include an aromatic bismaleimide compound and an aliphatic bismaleimide compound.

上記脂肪族ビスマレイミド化合物としては、N−アルキルビスマレイミド化合物等が挙げられる。   Examples of the aliphatic bismaleimide compound include an N-alkylbismaleimide compound.

誘電正接を低くし、硬化温度を低く抑える観点からは、上記マレイミド化合物は、N−アルキルビスマレイミド化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent and lowering the curing temperature, the maleimide compound is preferably an N-alkylbismaleimide compound.

上記N−アルキルビスマレイミド化合物の市販品としては、Designer Molecules Inc.社製「BMI−1500」、及び「BMI−1700」、「BMI−3000」等が挙げられる。   Commercially available products of the N-alkylbismaleimide compounds include Designer Molecular Inc. "BMI-1500", "BMI-1700", "BMI-3000" and the like.

上記ベンゾオキサジン化合物としては、P−d型ベンゾオキサジン、及びF−a型ベンゾオキサジン等が挙げられる。   Examples of the benzoxazine compound include Pd-type benzoxazine and Fa-type benzoxazine.

上記ベンゾオキサジン化合物の市販品としては、四国化成工業社製「P−d型」等が挙げられる。   Commercially available benzoxazine compounds include "Pd type" manufactured by Shikoku Chemicals.

上記エポキシ化合物100重量部に対する上記硬化剤Xの含有量は、好ましくは2重量部以上、より好ましくは5重量部以上、好ましくは30重量部以下、より好ましくは25重量部以下である。上記硬化剤Xの含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化性により一層優れ、熱寸法安定性をより一層高め、残存未反応成分の揮発をより一層抑制できる。   The content of the curing agent X with respect to 100 parts by weight of the epoxy compound is preferably 2 parts by weight or more, more preferably 5 parts by weight or more, preferably 30 parts by weight or less, more preferably 25 parts by weight or less. When the content of the curing agent X is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, curability is further improved, thermal dimensional stability is further increased, and volatilization of remaining unreacted components can be further suppressed.

上記硬化剤100重量%中、上記硬化剤Xの含有量は、好ましくは1.5重量%以上、より好ましくは3重量%以上、好ましくは40重量%以下、より好ましくは35重量%以下である。上記硬化剤Xの含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、上述した1)−3)の本発明の効果をより一層効果的に発揮することができる。   In 100% by weight of the curing agent, the content of the curing agent X is preferably 1.5% by weight or more, more preferably 3% by weight or more, preferably 40% by weight or less, and more preferably 35% by weight or less. . When the content of the curing agent X is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the effects of the present invention of 1) to 3) described above can be more effectively exerted.

[無機充填材]
上記樹脂材料は、無機充填材を含むことが好ましい。上記無機充填材の使用により、硬化物の誘電正接をより一層低くすることができる。また、上記無機充填材の使用により、硬化物の熱による寸法変化がより一層小さくなる。上記無機充填材は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Inorganic filler]
The resin material preferably contains an inorganic filler. By using the inorganic filler, the dielectric loss tangent of the cured product can be further reduced. In addition, the use of the inorganic filler further reduces the dimensional change of the cured product due to heat. As the inorganic filler, only one kind may be used, or two or more kinds may be used in combination.

上記無機充填材としては、シリカ、タルク、クレイ、マイカ、ハイドロタルサイト、アルミナ、酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、及び窒化ホウ素等が挙げられる。   Examples of the inorganic filler include silica, talc, clay, mica, hydrotalcite, alumina, magnesium oxide, aluminum hydroxide, aluminum nitride, and boron nitride.

硬化物の表面の表面粗さを小さくし、硬化物と金属層とのメッキピール強度をより一層高くし、かつ硬化物の表面により一層微細な配線を形成し、かつ硬化物により良好な絶縁信頼性を付与する観点からは、上記無機充填材は、シリカ又はアルミナであることが好ましく、シリカであることがより好ましく、溶融シリカであることが更に好ましい。シリカの使用により、硬化物の熱膨張率がより一層低くなり、また、硬化物の誘電正接がより一層低くなる。また、シリカの使用により、硬化物の表面の表面粗さが効果的に小さくなり、硬化物と金属層との接着強度が効果的に高くなる。シリカの形状は球状であることが好ましい。   Reduces the surface roughness of the surface of the cured product, further increases the plating peel strength between the cured product and the metal layer, forms finer wiring on the surface of the cured product, and provides better insulation reliability with the cured product From the viewpoint of imparting properties, the inorganic filler is preferably silica or alumina, more preferably silica, and even more preferably fused silica. By using silica, the coefficient of thermal expansion of the cured product is further reduced, and the dielectric loss tangent of the cured product is further reduced. In addition, by using silica, the surface roughness of the surface of the cured product is effectively reduced, and the adhesive strength between the cured product and the metal layer is effectively increased. The shape of the silica is preferably spherical.

硬化環境によらず、樹脂の硬化を進め、硬化物のガラス転移温度を効果的に高くし、硬化物の熱線膨張係数を効果的に小さくする観点からは、上記無機充填材は球状シリカであることが好ましい。   Regardless of the curing environment, advance the curing of the resin, effectively increase the glass transition temperature of the cured product, from the viewpoint of effectively reducing the coefficient of linear thermal expansion of the cured product, the inorganic filler is spherical silica Is preferred.

上記無機充填材の平均粒径は、好ましくは50nm以上、より好ましくは100nm以上、更に好ましくは500nm以上であり、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下、更に好ましくは1μm以下である。上記無機充填材の平均粒径が上記下限以上及び上記上限以下であると、エッチング後の表面粗度を小さくし、かつメッキピール強度を高くすることができ、また、絶縁層と金属層との密着性をより一層高めることができる。   The average particle size of the inorganic filler is preferably 50 nm or more, more preferably 100 nm or more, further preferably 500 nm or more, preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, and still more preferably 1 μm or less. When the average particle size of the inorganic filler is equal to or greater than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the surface roughness after etching can be reduced, and the plating peel strength can be increased. Adhesion can be further improved.

上記無機充填材の平均粒径として、50%となるメディアン径(d50)の値が採用される。上記平均粒径は、レーザー回折散乱方式の粒度分布測定装置を用いて測定可能である。   As the average particle diameter of the inorganic filler, a value of the median diameter (d50) which becomes 50% is adopted. The average particle size can be measured using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device.

上記無機充填材は、球状であることが好ましく、球状シリカであることがより好ましい。この場合には、硬化物の表面の表面粗さが効果的に小さくなり、更に硬化物と金属層との接着強度が効果的に高くなる。上記無機充填材が球状である場合には、上記無機充填材のアスペクト比は好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下である。   The inorganic filler is preferably spherical, and more preferably spherical silica. In this case, the surface roughness of the surface of the cured product is effectively reduced, and the adhesive strength between the cured product and the metal layer is effectively increased. When the inorganic filler is spherical, the aspect ratio of the inorganic filler is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less.

上記無機充填材は、表面処理されていることが好ましく、カップリング剤による表面処理物であることがより好ましく、シランカップリング剤による表面処理物であることが更に好ましい。上記無機充填材が表面処理されていることにより、粗化硬化物の表面の表面粗さがより一層小さくなり、硬化物と金属層との接着強度がより一層高くなる。また、上記無機充填材が表面処理されていることにより、硬化物の表面により一層微細な配線を形成することができ、かつより一層良好な配線間絶縁信頼性及び層間絶縁信頼性を硬化物に付与することができる。   The inorganic filler is preferably surface-treated, more preferably a surface-treated product with a coupling agent, and even more preferably a surface-treated product with a silane coupling agent. By the surface treatment of the inorganic filler, the surface roughness of the surface of the roughened and cured product is further reduced, and the adhesive strength between the cured product and the metal layer is further increased. Further, since the inorganic filler is subjected to the surface treatment, finer wiring can be formed on the surface of the cured product, and more favorable inter-wiring insulation reliability and interlayer insulation reliability can be obtained in the cured product. Can be granted.

上記カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤及びアルミニウムカップリング剤等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、メタクリルシラン、アクリルシラン、アミノシラン、イミダゾールシラン、ビニルシラン、及びエポキシシラン等が挙げられる。   Examples of the coupling agent include a silane coupling agent, a titanium coupling agent, and an aluminum coupling agent. Examples of the silane coupling agent include methacryl silane, acryl silane, amino silane, imidazole silane, vinyl silane, and epoxy silane.

樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、上記無機充填材の含有量は、好ましくは30重量%以上、より好ましくは60重量%以上、更に好ましくは65重量%以上、特に好ましくは68重量%以上、好ましくは90重量%以下、より好ましくは85重量%以下、更に好ましくは80重量%以下、特に好ましくは75重量%以下である。上記無機充填材の含有量が上記下限以上であると、誘電正接が効果的に低くなる。上記無機充填材の含有量が上記上限以下であると、樹脂材料の保存安定性を高めることができ、また、硬化物の熱寸法安定性を高めることができ、また、メッキピール強度のばらつきを効果的に抑えることができる。上記無機充填材の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、硬化物の表面の表面粗さをより一層小さくすることができ、かつ硬化物の表面により一層微細な配線を形成することができる。さらに、この無機充填材の含有量であれば、硬化物の熱膨張率を低くすることと同時に、スミア除去性を良好にすることも可能である。   The content of the inorganic filler is preferably 30% by weight or more, more preferably 60% by weight or more, still more preferably 65% by weight or more, particularly preferably 68% by weight in 100% by weight of the components excluding the solvent in the resin material. % Or less, preferably 90% by weight or less, more preferably 85% by weight or less, still more preferably 80% by weight or less, particularly preferably 75% by weight or less. When the content of the inorganic filler is equal to or more than the lower limit, the dielectric loss tangent is effectively reduced. When the content of the inorganic filler is equal to or less than the upper limit, the storage stability of the resin material can be increased, and the thermal dimensional stability of the cured product can be increased. It can be suppressed effectively. When the content of the inorganic filler is equal to or greater than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the surface roughness of the surface of the cured product can be further reduced, and finer wiring can be formed on the surface of the cured product. Can be. Further, with the content of the inorganic filler, it is possible to lower the coefficient of thermal expansion of the cured product and at the same time to improve the smear removal property.

[硬化促進剤]
上記樹脂材料は、硬化促進剤を含むことが好ましい。上記硬化促進剤の使用により、硬化速度がより一層速くなる。樹脂材料を速やかに硬化させることで、硬化物における架橋構造が均一になると共に、未反応の官能基数が減り、結果的に架橋密度が高くなる。上記硬化促進剤は特に限定されず、従来公知の硬化促進剤を使用可能である。上記硬化促進剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing accelerator]
The resin material preferably contains a curing accelerator. The use of the curing accelerator further increases the curing speed. By rapidly curing the resin material, the crosslinked structure in the cured product becomes uniform, and the number of unreacted functional groups decreases, resulting in an increase in the crosslink density. The curing accelerator is not particularly limited, and a conventionally known curing accelerator can be used. One type of the above-mentioned curing accelerator may be used alone, or two or more types may be used in combination.

上記硬化促進剤としては、例えば、イミダゾール化合物等のアニオン性硬化促進剤、アミン化合物等のカチオン性硬化促進剤、リン化合物及び有機金属化合物等のアニオン性及びカチオン性硬化促進剤以外の硬化促進剤、並びに過酸化物等のラジカル性硬化促進剤等が挙げられる。   Examples of the curing accelerator include anionic curing accelerators such as imidazole compounds, cationic curing accelerators such as amine compounds, and curing accelerators other than anionic and cationic curing accelerators such as phosphorus compounds and organometallic compounds. And radical curing accelerators such as peroxides.

上記イミダゾール化合物としては、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール及び2−フェニル−4−メチル−5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等が挙げられる。   Examples of the imidazole compound include 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl- 2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-un Decylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2 ′ -Methyl Midazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine Isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-dihydroxymethylimidazole and the like No.

上記アミン化合物としては、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン及び4,4−ジメチルアミノピリジン等が挙げられる。   Examples of the amine compound include diethylamine, triethylamine, diethylenetetramine, triethylenetetramine, and 4,4-dimethylaminopyridine.

上記リン化合物としては、トリフェニルホスフィン化合物等が挙げられる。   Examples of the phosphorus compound include a triphenylphosphine compound.

上記有機金属化合物としては、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)及びトリスアセチルアセトナートコバルト(III)等が挙げられる。   Examples of the organometallic compound include zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonatocobalt (II), and trisacetylacetonatocobalt (III).

上記過酸化物としてはジクミルペルオキシド、及びパーヘキシル25B等が挙げられる。   Examples of the peroxide include dicumyl peroxide and perhexyl 25B.

硬化温度をより一層低く抑え、硬化物の反りを効果的に抑える観点からは、上記硬化促進剤は、上記アニオン性硬化促進剤を含むことが好ましく、上記イミダゾール化合物を含むことがより好ましい。   From the viewpoint of further lowering the curing temperature and effectively suppressing the warpage of the cured product, the curing accelerator preferably contains the anionic curing accelerator, and more preferably contains the imidazole compound.

硬化温度をより一層低く抑え、硬化物の反りを効果的に抑える観点からは、上記硬化促進剤100重量%中、上記アニオン性硬化促進剤の含有量は、好ましくは20重量%以上、より好ましくは50重量%以上、更に好ましくは70重量%以上、最も好ましくは100重量%(全量)である。したがって、上記硬化促進剤は、上記アニオン性硬化促進剤であることが最も好ましい。   From the viewpoint of further suppressing the curing temperature and effectively suppressing the warpage of the cured product, the content of the anionic curing accelerator in 100% by weight of the curing accelerator is preferably 20% by weight or more, more preferably Is 50% by weight or more, more preferably 70% by weight or more, and most preferably 100% by weight (total amount). Therefore, the curing accelerator is most preferably the anionic curing accelerator.

上記硬化促進剤の含有量は特に限定されない。樹脂材料中の上記無機充填材及び溶剤を除く成分100重量%中、上記硬化促進剤の含有量は、好ましくは0.01重量%以上、より好ましくは0.05重量%以上、好ましくは5重量%以下、より好ましくは3重量%以下である。上記硬化促進剤の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、樹脂材料が効率的に硬化する。上記硬化促進剤の含有量がより好ましい範囲であれば、樹脂材料の保存安定性がより一層高くなり、かつより一層良好な硬化物が得られる。   The content of the curing accelerator is not particularly limited. The content of the curing accelerator is preferably 0.01% by weight or more, more preferably 0.05% by weight or more, and preferably 5% by weight, based on 100% by weight of the resin material excluding the inorganic filler and the solvent. %, More preferably 3% by weight or less. When the content of the curing accelerator is equal to or greater than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the resin material is efficiently cured. When the content of the curing accelerator is in a more preferable range, the storage stability of the resin material is further increased, and a more favorable cured product is obtained.

[熱可塑性樹脂]
上記樹脂材料は、熱可塑性樹脂を含むことが好ましい。熱可塑性樹脂としては、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド樹脂及びフェノキシ樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Thermoplastic resin]
The resin material preferably contains a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin include a polyvinyl acetal resin, a polyimide resin, and a phenoxy resin. Only one type of thermoplastic resin may be used, or two or more types may be used in combination.

硬化環境によらず、金属配線の密着性を効果的に高める観点からは、熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂であることが好ましい。フェノキシ樹脂の使用により、樹脂フィルムの回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性の悪化及び無機充填材の不均一化が抑えられる。また、フェノキシ樹脂の使用により、溶融粘度を調整可能であるために無機充填材の分散性が良好になり、かつラミネート及び硬化過程で、樹脂組成物又はBステージ化物が意図しない領域に濡れ拡がり難くなる。   Regardless of the curing environment, the thermoplastic resin is preferably a phenoxy resin from the viewpoint of effectively improving the adhesion of the metal wiring. By using the phenoxy resin, deterioration of the embedding property of the resin film into holes or irregularities of the circuit board and non-uniformity of the inorganic filler can be suppressed. In addition, the use of the phenoxy resin makes it possible to adjust the melt viscosity, so that the dispersibility of the inorganic filler is improved, and in the laminating and curing processes, the resin composition or the B-staged product is less likely to spread to unintended regions. Become.

上記樹脂材料に含まれているフェノキシ樹脂は特に限定されない。上記フェノキシ樹脂として、従来公知のフェノキシ樹脂を使用可能である。上記フェノキシ樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The phenoxy resin contained in the resin material is not particularly limited. As the phenoxy resin, a conventionally known phenoxy resin can be used. The phenoxy resin may be used alone or in combination of two or more.

上記フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型の骨格、ビスフェノールF型の骨格、ビスフェノールS型の骨格、ビフェニル骨格、ノボラック骨格、ナフタレン骨格及びイミド骨格等の骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include a phenoxy resin having a skeleton such as a bisphenol A type skeleton, a bisphenol F type skeleton, a bisphenol S type skeleton, a biphenyl skeleton, a novolak skeleton, a naphthalene skeleton, and an imide skeleton.

上記フェノキシ樹脂の市販品としては、例えば、新日鐵住金化学社製の「YP50」、「YP55」及び「YP70」、並びに三菱化学社製の「1256B40」、「4250」、「4256H40」、「4275」、「YX6954BH30」及び「YX8100BH30」等が挙げられる。   Commercially available phenoxy resins include, for example, "YP50", "YP55" and "YP70" manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, and "1256B40", "4250", "4256H40", and "4256H40" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. 4275 "," YX6954BH30 "and" YX8100BH30 ".

ハンドリング性、低粗度でのメッキピール強度及び絶縁層と金属層との密着性を高める観点から、熱可塑性樹脂は、ポリイミド樹脂(ポリイミド化合物)であることが好ましい。   The thermoplastic resin is preferably a polyimide resin (polyimide compound) from the viewpoints of improving handling properties, plating peel strength at low roughness, and adhesion between the insulating layer and the metal layer.

溶解性を良好にする観点からは、上記ポリイミド化合物は、テトラカルボン酸二無水物とダイマージアミンとを反応させる方法によって得られたポリイミド化合物であることが好ましい。   From the viewpoint of improving solubility, the polyimide compound is preferably a polyimide compound obtained by a method of reacting tetracarboxylic dianhydride with dimer diamine.

上記テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−テトラフェニルシランテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フランテトラカルボン酸二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフィド二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルホン二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパン二無水物、3,3’,4,4’−パーフルオロイソプロピリデンジフタル酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(フタル酸)フェニルホスフィンオキサイド二無水物、p−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、m−フェニレン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、ビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルエーテル二無水物、及びビス(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルメタン二無水物等が挙げられる。   Examples of the tetracarboxylic dianhydride include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenylsulfone tetraanhydride Carboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyl ether Tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-dimethyldiphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-tetraphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 1,2 , 3,4-furantetracarboxylic dianhydride, 4,4'-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfide dianhydride, 4,4'-bis (3,4-dicarboxypheno) B) diphenylsulfone dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenylpropane dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-perfluoroisopropylidene diphthalic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (phthalic acid) phenylphosphine oxide dianhydride, p-phenylene-bis (triphenylphthalic acid) dianhydride, m-phenylene-bis (Triphenylphthalic acid) dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenyl ether dianhydride, bis (triphenylphthalic acid) -4,4′-diphenylmethane dianhydride, and the like. .

上記ダイマージアミンとしては、例えば、バーサミン551(商品名BASFジャパン社製、3,4−ビス(1−アミノヘプチル)−6−ヘキシル−5−(1−オクテニル)シクロヘキセン)、バーサミン552(商品名、コグニクスジャパン社製、バーサミン551の水添物)、PRIAMINE1075、PRIAMINE1074(商品名、いずれもクローダジャパン社製)等が挙げられる。   Examples of the dimer diamine include Versamine 551 (trade name, manufactured by BASF Japan, 3,4-bis (1-aminoheptyl) -6-hexyl-5- (1-octenyl) cyclohexene), Versamine 552 (trade name, Cognix Japan Co., Ltd., hydrogenated product of Versamine 551), PRIAMINE 1075, PRIAMINE 1074 (trade names, all manufactured by Croda Japan KK) and the like.

なお、上記ポリイミド化合物は末端に、酸無水物構造、マレイミド構造、シトラコンイミド構造を有していてもよい。この場合には、上記ポリイミド化合物とエポキシ樹脂とを反応させることができる。上記ポリイミド化合物とエポキシ樹脂とを反応させることにより、硬化物の熱寸法安定性を高めることができる。   In addition, the said polyimide compound may have an acid anhydride structure, a maleimide structure, and a citraconimide structure in the terminal. In this case, the polyimide compound can react with the epoxy resin. The thermal dimensional stability of the cured product can be increased by reacting the polyimide compound with the epoxy resin.

保存安定性により一層優れた樹脂材料を得る観点からは、熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の重量平均分子量は、好ましくは5000以上、より好ましくは10000以上、好ましくは100000以下、より好ましくは50000以下である。   From the viewpoint of obtaining a resin material having more excellent storage stability, the thermoplastic resin, the weight average molecular weight of the polyimide resin and the phenoxy resin is preferably 5,000 or more, more preferably 10,000 or more, preferably 100,000 or less, more preferably Is 50,000 or less.

熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の上記重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での重量平均分子量を示す。   The weight average molecular weight of the thermoplastic resin, the polyimide resin, and the phenoxy resin indicates a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

熱可塑性樹脂、上記ポリイミド樹脂及び上記フェノキシ樹脂の含有量は特に限定されない。樹脂材料中の無機充填材及び上記溶剤を除く成分100重量%中、熱可塑性樹脂の含有量(熱可塑性樹脂がポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂である場合には、ポリイミド樹脂又はフェノキシ樹脂の含有量)は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは2重量%以上、好ましくは30重量%以下、より好ましくは20重量%以下である。熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、樹脂材料の回路基板の穴又は凹凸に対する埋め込み性が良好になる。熱可塑性樹脂の含有量が上記下限以上であると、樹脂フィルムの形成がより一層容易になり、より一層良好な絶縁層が得られる。熱可塑性樹脂の含有量が上記上限以下であると、硬化物の熱膨張率がより一層低くなる。熱可塑性樹脂の含有量が上記上限以下であると、硬化物の表面の表面粗さがより一層小さくなり、硬化物と金属層との接着強度がより一層高くなる。   The contents of the thermoplastic resin, the polyimide resin, and the phenoxy resin are not particularly limited. The content of the thermoplastic resin (in the case where the thermoplastic resin is a polyimide resin or a phenoxy resin, the content of the polyimide resin or the phenoxy resin) in 100% by weight of the components excluding the inorganic filler and the solvent in the resin material is , Preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more, preferably 30% by weight or less, more preferably 20% by weight or less. When the content of the thermoplastic resin is equal to or more than the lower limit and equal to or less than the upper limit, the embedding property of the resin material into holes or irregularities of the circuit board is improved. When the content of the thermoplastic resin is equal to or more than the above lower limit, formation of the resin film is further facilitated, and a better insulating layer is obtained. When the content of the thermoplastic resin is equal to or less than the above upper limit, the coefficient of thermal expansion of the cured product is further reduced. When the content of the thermoplastic resin is equal to or less than the upper limit, the surface roughness of the surface of the cured product is further reduced, and the adhesive strength between the cured product and the metal layer is further increased.

[溶剤]
上記樹脂材料は、溶剤を含まないか又は含む。上記溶剤の使用により、樹脂材料の粘度を好適な範囲に制御でき、樹脂材料の塗工性を高めることができる。また、上記溶剤は、上記無機充填材を含むスラリーを得るために用いられてもよい。上記溶剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[solvent]
The resin material does not contain or contains a solvent. By using the solvent, the viscosity of the resin material can be controlled in a suitable range, and the coating property of the resin material can be improved. Further, the solvent may be used to obtain a slurry containing the inorganic filler. The solvent may be used alone or in combination of two or more.

上記溶剤としては、アセトン、メタノール、エタノール、ブタノール、2−プロパノール、2−メトキシエタノール、2−エトキシエタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、2−アセトキシ−1−メトキシプロパン、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、N,N−ジメチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、N−メチル−ピロリドン、n−ヘキサン、シクロヘキサン、シクロヘキサノン及び混合物であるナフサ等が挙げられる。   Examples of the solvent include acetone, methanol, ethanol, butanol, 2-propanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, 1-methoxy-2-propanol, 2-acetoxy-1-methoxypropane, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, Examples thereof include N, N-dimethylformamide, methyl isobutyl ketone, N-methyl-pyrrolidone, n-hexane, cyclohexane, cyclohexanone and naphtha which is a mixture.

上記溶剤の多くは、上記樹脂組成物をフィルム状に成形するときに、除去されることが好ましい。従って、上記溶剤の沸点は好ましくは200℃以下、より好ましくは180℃以下である。上記樹脂組成物中の上記溶剤の含有量は特に限定されない。上記樹脂組成物の塗工性などを考慮して、上記溶剤の含有量は適宜変更可能である。   Most of the solvent is preferably removed when the resin composition is formed into a film. Therefore, the boiling point of the solvent is preferably 200 ° C. or lower, more preferably 180 ° C. or lower. The content of the solvent in the resin composition is not particularly limited. The content of the solvent can be appropriately changed in consideration of the coatability of the resin composition and the like.

上記樹脂材料がBステージフィルムである場合には、上記Bステージフィルム100重量%中、上記溶剤の含有量は、好ましくは1重量%以上、より好ましくは2重量%以上、好ましくは10重量%以下、より好ましくは5重量%以下である。   When the resin material is a B-stage film, the content of the solvent in 100% by weight of the B-stage film is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more, and preferably 10% by weight or less. , More preferably 5% by weight or less.

[他の成分]
耐衝撃性、耐熱性、樹脂の相溶性及び作業性等の改善を目的として、上記樹脂材料は、レベリング剤、難燃剤、カップリング剤、着色剤、酸化防止剤、紫外線劣化防止剤、消泡剤、増粘剤、揺変性付与剤及びエポキシ化合物以外の他の熱硬化性樹脂等を含んでいてもよい。
[Other components]
For the purpose of improving impact resistance, heat resistance, resin compatibility, workability, etc., the above resin materials are used as leveling agents, flame retardants, coupling agents, coloring agents, antioxidants, ultraviolet deterioration inhibitors, defoamers. It may contain a thermosetting resin other than an agent, a thickener, a thixotropic agent and an epoxy compound.

上記カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤及びアルミニウムカップリング剤等が挙げられる。上記シランカップリング剤としては、ビニルシラン、アミノシラン、イミダゾールシラン及びエポキシシラン等が挙げられる。   Examples of the coupling agent include a silane coupling agent, a titanium coupling agent, and an aluminum coupling agent. Examples of the silane coupling agent include vinyl silane, amino silane, imidazole silane and epoxy silane.

上記他の熱硬化性樹脂としては、ポリフェニレンエーテル樹脂、ジビニルベンジルエーテル樹脂、ポリアリレート樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、ベンゾオキサゾール樹脂、及びアクリレート樹脂等が挙げられる。   Examples of the other thermosetting resins include polyphenylene ether resin, divinyl benzyl ether resin, polyarylate resin, diallyl phthalate resin, benzoxazine resin, benzoxazole resin, and acrylate resin.

(樹脂フィルム)
上述した樹脂組成物をフィルム状に成形することにより樹脂フィルム(Bステージ化物/Bステージフィルム)が得られる。上記樹脂材料は、樹脂フィルムであることが好ましい。樹脂フィルムは、Bステージフィルムであることが好ましい。
(Resin film)
A resin film (B-staged product / B-stage film) can be obtained by molding the above-described resin composition into a film. The resin material is preferably a resin film. The resin film is preferably a B-stage film.

樹脂組成物をフィルム状に成形して、樹脂フィルムを得る方法としては、以下の方法が挙げられる。押出機を用いて、樹脂組成物を溶融混練し、押出した後、Tダイ又はサーキュラーダイ等により、フィルム状に成形する押出成形法。溶剤を含む樹脂組成物をキャスティングしてフィルム状に成形するキャスティング成形法。従来公知のその他のフィルム成形法。薄型化に対応可能であることから、押出成形法又はキャスティング成形法が好ましい。フィルムにはシートが含まれる。   As a method of forming the resin composition into a film shape to obtain a resin film, the following method is exemplified. An extrusion molding method in which a resin composition is melt-kneaded using an extruder, extruded, and then formed into a film by a T-die or a circular die. A casting method in which a resin composition containing a solvent is cast to form a film. Other known film forming methods. The extrusion molding method or the casting molding method is preferable because it can cope with thinning. The film includes a sheet.

樹脂組成物をフィルム状に成形し、熱による硬化が進行し過ぎない程度に、例えば50℃〜150℃で1分間〜10分間加熱乾燥させることにより、Bステージフィルムである樹脂フィルムを得ることができる。   The resin composition which is a B-stage film can be obtained by forming the resin composition into a film and heating and drying at 50 ° C. to 150 ° C. for 1 minute to 10 minutes to such an extent that curing by heat does not proceed excessively. it can.

上述のような乾燥工程により得ることができるフィルム状の樹脂組成物をBステージフィルムと称する。上記Bステージフィルムは、半硬化状態にある。半硬化物は、完全に硬化しておらず、硬化がさらに進行され得る。   The film-shaped resin composition obtained by the above-described drying step is referred to as a B-stage film. The B stage film is in a semi-cured state. The semi-cured product is not completely cured, and curing may proceed further.

上記樹脂フィルムは、プリプレグでなくてもよい。上記樹脂フィルムがプリプレグではない場合には、ガラスクロス等に沿ってマイグレーションが生じなくなる。また、樹脂フィルムをラミネート又はプレキュアする際に、表面にガラスクロスに起因する凹凸が生じなくなる。   The resin film need not be a prepreg. When the resin film is not a prepreg, migration does not occur along a glass cloth or the like. Further, when laminating or pre-curing the resin film, the surface does not have irregularities due to the glass cloth.

上記樹脂フィルムは、金属箔又は基材フィルムと、該金属箔又は基材フィルムの表面に積層された樹脂フィルムとを備える積層フィルムの形態で用いることができる。上記金属箔は銅箔であることが好ましい。   The resin film can be used in the form of a laminated film including a metal foil or a base film and a resin film laminated on the surface of the metal foil or the base film. The metal foil is preferably a copper foil.

上記積層フィルムの上記基材フィルムとしては、ポリエチレンテレフタレートフィルム及びポリブチレンテレフタレートフィルム等のポリエステル樹脂フィルム、ポリエチレンフィルム及びポリプロピレンフィルム等のオレフィン樹脂フィルム、並びにポリイミド樹脂フィルム等が挙げられる。上記基材フィルムの表面は、必要に応じて、離型処理されていてもよい。   Examples of the base film of the laminated film include polyester resin films such as polyethylene terephthalate film and polybutylene terephthalate film, olefin resin films such as polyethylene film and polypropylene film, and polyimide resin films. The surface of the base film may be subjected to a release treatment, if necessary.

樹脂フィルムの硬化度をより一層均一に制御する観点からは、上記樹脂フィルムの厚さは、好ましくは5μm以上であり、好ましくは200μm以下である。上記樹脂フィルムを回路の絶縁層として用いる場合、上記樹脂フィルムにより形成された絶縁層の厚さは、回路を形成する導体層(金属層)の厚さ以上であることが好ましい。上記絶縁層の厚さは、好ましくは5μm以上であり、好ましくは200μm以下である。   From the viewpoint of more uniformly controlling the degree of cure of the resin film, the thickness of the resin film is preferably 5 μm or more, and more preferably 200 μm or less. When the resin film is used as an insulating layer of a circuit, the thickness of the insulating layer formed by the resin film is preferably equal to or greater than the thickness of a conductor layer (metal layer) forming the circuit. The thickness of the insulating layer is preferably 5 μm or more, and more preferably 200 μm or less.

(半導体装置、プリント配線板、銅張積層板及び多層プリント配線板)
上記樹脂材料は、半導体装置において半導体チップを埋め込むモールド樹脂を形成するために好適に用いられる。
(Semiconductor devices, printed wiring boards, copper-clad laminates and multilayer printed wiring boards)
The resin material is suitably used for forming a mold resin for embedding a semiconductor chip in a semiconductor device.

上記樹脂材料は、プリント配線板において絶縁層を形成するために好適に用いられる。   The above resin material is suitably used for forming an insulating layer in a printed wiring board.

上記プリント配線板は、例えば、上記樹脂材料を加熱加圧成形することにより得られる。   The printed wiring board is obtained, for example, by heating and pressing the resin material.

上記樹脂フィルムに対して、片面又は両面に金属層を表面に有する積層対象部材を積層できる。金属層を表面に有する積層対象部材と、上記金属層の表面上に積層された樹脂フィルムとを備え、上記樹脂フィルムが、上述した樹脂材料である、積層構造体を好適に得ることができる。上記樹脂フィルムと上記金属層を表面に有する積層対象部材とを積層する方法は特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、平行平板プレス機又はロールラミネーター等の装置を用いて、加熱しながら又は加熱せずに加圧しながら、上記樹脂フィルムを、金属層を表面に有する積層対象部材に積層可能である。   A member to be laminated having a metal layer on one surface or both surfaces can be laminated on the resin film. A laminated structure comprising a member to be laminated having a metal layer on the surface and a resin film laminated on the surface of the metal layer, wherein the resin film is the resin material described above, can be suitably obtained. The method of laminating the resin film and the member to be laminated having the metal layer on the surface is not particularly limited, and a known method can be used. For example, using a device such as a parallel plate press or a roll laminator, the resin film can be laminated on a member to be laminated having a metal layer on the surface while heating or pressing without heating.

上記金属層の材料は銅であることが好ましい。   Preferably, the material of the metal layer is copper.

上記金属層を表面に有する積層対象部材は、銅箔等の金属箔であってもよい。   The member to be laminated having the metal layer on the surface may be a metal foil such as a copper foil.

上記樹脂材料は、銅張積層板を得るために好適に用いられる。上記銅張積層板の一例として、銅箔と、該銅箔の一方の表面に積層された樹脂フィルムとを備える銅張積層板が挙げられる。   The above resin material is suitably used for obtaining a copper-clad laminate. An example of the copper-clad laminate is a copper-clad laminate including a copper foil and a resin film laminated on one surface of the copper foil.

上記銅張積層板の上記銅箔の厚さは特に限定されない。上記銅箔の厚さは、1μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。また、上記樹脂材料の硬化物と銅箔との接着強度を高めるために、上記銅箔は微細な凹凸を表面に有することが好ましい。凹凸の形成方法は特に限定されない。上記凹凸の形成方法としては、公知の薬液を用いた処理による形成方法等が挙げられる。   The thickness of the copper foil of the copper clad laminate is not particularly limited. The thickness of the copper foil is preferably in the range of 1 μm to 50 μm. Further, in order to increase the adhesive strength between the cured product of the resin material and the copper foil, the copper foil preferably has fine irregularities on the surface. The method for forming the irregularities is not particularly limited. Examples of the method for forming the irregularities include a known method using a treatment using a chemical solution.

上記樹脂材料は、多層基板を得るために好適に用いられる。   The above resin material is suitably used for obtaining a multilayer substrate.

上記多層基板の一例として、回路基板と、該回路基板上に積層された絶縁層とを備える多層基板が挙げられる。この多層基板の絶縁層が、上記樹脂材料により形成されている。また、多層基板の絶縁層が、積層フィルムを用いて、上記積層フィルムの上記樹脂フィルムにより形成されていてもよい。上記絶縁層は、回路基板の回路が設けられた表面上に積層されていることが好ましい。上記絶縁層の一部は、上記回路間に埋め込まれていることが好ましい。   As an example of the multilayer substrate, there is a multilayer substrate including a circuit board and an insulating layer laminated on the circuit board. The insulating layer of the multilayer substrate is formed of the above resin material. Further, the insulating layer of the multilayer substrate may be formed by using the laminated film and the resin film of the laminated film. The insulating layer is preferably stacked on a surface of the circuit board on which the circuit is provided. It is preferable that a part of the insulating layer is embedded between the circuits.

上記多層基板では、上記絶縁層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面が粗化処理されていることが好ましい。   In the multilayer substrate, it is preferable that a surface of the insulating layer opposite to a surface on which the circuit board is laminated is subjected to a roughening treatment.

粗化処理方法は、従来公知の粗化処理方法を用いることができ、特に限定されない。上記絶縁層の表面は、粗化処理の前に膨潤処理されていてもよい。   As the roughening method, a conventionally known roughening method can be used, and there is no particular limitation. The surface of the insulating layer may be swelled before the roughening treatment.

また、上記多層基板は、上記絶縁層の粗化処理された表面に積層された銅めっき層をさらに備えることが好ましい。   Preferably, the multilayer substrate further includes a copper plating layer laminated on the roughened surface of the insulating layer.

また、上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された絶縁層と、該絶縁層の上記回路基板が積層された表面とは反対側の表面に積層された銅箔とを備える多層基板が挙げられる。上記絶縁層が、銅箔と該銅箔の一方の表面に積層された樹脂フィルムとを備える銅張積層板を用いて、上記樹脂フィルムを硬化させることにより形成されていることが好ましい。さらに、上記銅箔はエッチング処理されており、銅回路であることが好ましい。   Further, as another example of the multilayer substrate, a circuit board, an insulating layer laminated on the surface of the circuit board, and a surface of the insulating layer opposite to the surface on which the circuit substrate is laminated are laminated on a surface opposite to the surface on which the circuit substrate is laminated. And a multi-layer substrate provided with a copper foil. The insulating layer is preferably formed by curing the resin film using a copper-clad laminate including a copper foil and a resin film laminated on one surface of the copper foil. Further, the copper foil has been subjected to an etching treatment, and is preferably a copper circuit.

上記多層基板の他の例として、回路基板と、該回路基板の表面上に積層された複数の絶縁層とを備える多層基板が挙げられる。上記回路基板上に配置された上記複数層の絶縁層の内の少なくとも1層が、上記樹脂材料を用いて形成される。上記多層基板は、上記樹脂フィルムを用いて形成されている上記絶縁層の少なくとも一方の表面に積層されている回路をさらに備えることが好ましい。   Another example of the multilayer board is a multilayer board including a circuit board and a plurality of insulating layers stacked on the surface of the circuit board. At least one of the plurality of insulating layers disposed on the circuit board is formed using the resin material. It is preferable that the multilayer substrate further includes a circuit laminated on at least one surface of the insulating layer formed using the resin film.

多層基板のうち多層プリント配線板においては、低い誘電正接が求められ、絶縁層による高い絶縁信頼性が求められる。本発明に係る樹脂材料では、上述した1)−3)の本発明の効果を効果的に発揮することによって絶縁信頼性を効果的に高めることができる。従って、本発明に係る樹脂材料は、多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために好適に用いられる。   Among multilayer substrates, a multilayer printed wiring board is required to have a low dielectric loss tangent, and is required to have high insulation reliability by an insulating layer. In the resin material according to the present invention, insulation reliability can be effectively improved by effectively exhibiting the effects of the present invention described in 1) to 3) above. Therefore, the resin material according to the present invention is suitably used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board.

上記多層プリント配線板は、例えば、回路基板と、上記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、複数の上記絶縁層間に配置された金属層とを備える。上記絶縁層の内の少なくとも1層が、上記樹脂材料の硬化物である。   The multilayer printed wiring board includes, for example, a circuit board, a plurality of insulating layers disposed on a surface of the circuit board, and a metal layer disposed between the plurality of insulating layers. At least one of the insulating layers is a cured product of the resin material.

図1は、本発明の一実施形態に係る樹脂材料を用いた多層プリント配線板を模式的に示す断面図である。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a multilayer printed wiring board using a resin material according to one embodiment of the present invention.

図1に示す多層プリント配線板11では、回路基板12の上面12aに、複数層の絶縁層13〜16が積層されている。絶縁層13〜16は、硬化物層である。回路基板12の上面12aの一部の領域には、金属層17が形成されている。複数層の絶縁層13〜16のうち、回路基板12側とは反対の外側の表面に位置する絶縁層16以外の絶縁層13〜15には、上面の一部の領域に金属層17が形成されている。金属層17は回路である。回路基板12と絶縁層13の間、及び積層された絶縁層13〜16の各層間に、金属層17がそれぞれ配置されている。下方の金属層17と上方の金属層17とは、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続の内の少なくとも一方により互いに接続されている。   In the multilayer printed wiring board 11 shown in FIG. 1, a plurality of insulating layers 13 to 16 are laminated on the upper surface 12a of the circuit board 12. The insulating layers 13 to 16 are cured product layers. A metal layer 17 is formed in a partial region of the upper surface 12a of the circuit board 12. Among the plurality of insulating layers 13 to 16, a metal layer 17 is formed on a part of the upper surface of the insulating layers 13 to 15 other than the insulating layer 16 located on the outer surface opposite to the circuit board 12 side. Have been. The metal layer 17 is a circuit. The metal layers 17 are respectively arranged between the circuit board 12 and the insulating layer 13 and between the stacked insulating layers 13 to 16. The lower metal layer 17 and the upper metal layer 17 are connected to each other by at least one of a via-hole connection and a through-hole connection (not shown).

多層プリント配線板11では、絶縁層13〜16が、上記樹脂材料の硬化物により形成されている。本実施形態では、絶縁層13〜16の表面が粗化処理されているので、絶縁層13〜16の表面に図示しない微細な孔が形成されている。また、微細な孔の内部に金属層17が至っている。また、多層プリント配線板11では、金属層17の幅方向寸法(L)と、金属層17が形成されていない部分の幅方向寸法(S)とを小さくすることができる。また、多層プリント配線板11では、図示しないビアホール接続及びスルーホール接続で接続されていない上方の金属層と下方の金属層との間に、良好な絶縁信頼性が付与されている。   In the multilayer printed wiring board 11, the insulating layers 13 to 16 are formed of a cured product of the above resin material. In the present embodiment, since the surfaces of the insulating layers 13 to 16 are roughened, fine holes (not shown) are formed on the surfaces of the insulating layers 13 to 16. Further, the metal layer 17 reaches the inside of the fine hole. Further, in the multilayer printed wiring board 11, the width dimension (L) of the metal layer 17 and the width dimension (S) of the portion where the metal layer 17 is not formed can be reduced. Further, in the multilayer printed wiring board 11, good insulation reliability is provided between an upper metal layer and a lower metal layer that are not connected by via hole connection and through hole connection (not shown).

(膨潤処理及び粗化処理)
上記樹脂材料は、膨潤処理及び粗化処理される硬化物を得るために用いられることが好ましい。上記硬化物には、更に硬化が可能な予備硬化物も含まれる。
(Swelling and roughening)
The resin material is preferably used to obtain a cured product that is subjected to a swelling treatment and a roughening treatment. The cured product also includes a pre-cured product that can be further cured.

上記樹脂材料を予備硬化させることにより得られた硬化物の表面に微細な凹凸を形成するために、硬化物は粗化処理されることが好ましい。粗化処理の前に、硬化物は膨潤処理されることが好ましい。硬化物は、予備硬化の後、かつ粗化処理される前に、膨潤処理されており、さらに粗化処理の後に硬化されていることが好ましい。ただし、硬化物は、必ずしも膨潤処理されなくてもよい。   In order to form fine irregularities on the surface of the cured product obtained by pre-curing the resin material, the cured product is preferably subjected to a roughening treatment. Before the roughening treatment, the cured product is preferably subjected to a swelling treatment. The cured product is preferably subjected to a swelling treatment after the preliminary curing and before the roughening treatment, and is preferably cured after the roughening treatment. However, the cured product does not necessarily have to be subjected to a swelling treatment.

上記膨潤処理の方法としては、例えば、エチレングリコールなどを主成分とする化合物の水溶液又は有機溶媒分散溶液などにより、硬化物を処理する方法が用いられる。膨潤処理に用いる膨潤液は、一般にpH調整剤などとして、アルカリを含む。膨潤液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。具体的には、例えば、上記膨潤処理は、40重量%エチレングリコール水溶液等を用いて、処理温度30℃〜85℃で1分間〜30分間、硬化物を処理することにより行なわれる。上記膨潤処理の温度は50℃〜85℃の範囲内であることが好ましい。上記膨潤処理の温度が低すぎると、膨潤処理に長時間を要し、更に硬化物と金属層との接着強度が低くなる傾向がある。   As a method of the swelling treatment, for example, a method of treating a cured product with an aqueous solution of a compound containing ethylene glycol or the like as a main component or an organic solvent dispersion solution is used. The swelling liquid used for the swelling treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The swelling liquid preferably contains sodium hydroxide. Specifically, for example, the swelling treatment is performed by treating the cured product with a treatment temperature of 30 ° C. to 85 ° C. for 1 minute to 30 minutes using a 40% by weight aqueous solution of ethylene glycol or the like. The temperature of the swelling treatment is preferably in the range of 50C to 85C. If the temperature of the swelling treatment is too low, the swelling treatment requires a long time, and the adhesive strength between the cured product and the metal layer tends to be low.

上記粗化処理には、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物などの化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。粗化処理に用いられる粗化液は、一般にpH調整剤などとしてアルカリを含む。粗化液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   For the roughening treatment, for example, a chemical oxidizing agent such as a manganese compound, a chromium compound or a persulfate compound is used. These chemical oxidants are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The roughening solution used for the roughening treatment generally contains an alkali as a pH adjuster or the like. The roughening liquid preferably contains sodium hydroxide.

上記マンガン化合物としては、過マンガン酸カリウム及び過マンガン酸ナトリウム等が挙げられる。上記クロム化合物としては、重クロム酸カリウム及び無水クロム酸カリウム等が挙げられる。上記過硫酸化合物としては、過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム及び過硫酸アンモニウム等が挙げられる。   Examples of the manganese compound include potassium permanganate and sodium permanganate. Examples of the chromium compound include potassium bichromate and anhydrous potassium chromate. Examples of the above persulfate compound include sodium persulfate, potassium persulfate, and ammonium persulfate.

硬化物の表面の算術平均粗さRaは、好ましくは10nm以上であり、好ましくは300nm未満、より好ましくは200nm未満、更に好ましくは150nm未満である。この場合には、硬化物と金属層との接着強度が高くなり、更に絶縁層の表面により一層微細な配線が形成される。上記算術平均粗さRaは、JIS B0601:1994に準拠して測定される。   The arithmetic average roughness Ra of the surface of the cured product is preferably 10 nm or more, preferably less than 300 nm, more preferably less than 200 nm, and even more preferably less than 150 nm. In this case, the adhesive strength between the cured product and the metal layer is increased, and further finer wiring is formed on the surface of the insulating layer. The arithmetic average roughness Ra is measured according to JIS B0601: 1994.

(デスミア処理)
上記樹脂材料を予備硬化させることにより得られた硬化物に、貫通孔が形成されることがある。上記多層基板などでは、貫通孔として、ビア又はスルーホール等が形成される。例えば、ビアは、COレーザー等のレーザーの照射により形成できる。ビアの直径は特に限定されないが、40μm〜80μm程度である。上記貫通孔の形成により、ビア内の底部には、硬化物に含まれている樹脂成分に由来する樹脂の残渣であるスミアが形成されることが多い。
(Desmear treatment)
Through holes may be formed in the cured product obtained by pre-curing the resin material. In the above-mentioned multilayer substrate or the like, a via or a through hole is formed as a through hole. For example, vias can be formed by irradiation with a laser such as a CO 2 laser. The diameter of the via is not particularly limited, but is about 40 μm to 80 μm. Due to the formation of the through holes, smear, which is a residue of the resin derived from the resin component contained in the cured product, is often formed at the bottom of the via.

上記スミアを除去するために、硬化物の表面は、デスミア処理されることが好ましい。デスミア処理が粗化処理を兼ねることもある。   In order to remove the smear, the surface of the cured product is preferably desmeared. Desmear processing may also serve as roughening processing.

上記デスミア処理には、上記粗化処理と同様に、例えば、マンガン化合物、クロム化合物又は過硫酸化合物等の化学酸化剤等が用いられる。これらの化学酸化剤は、水又は有機溶剤が添加された後、水溶液又は有機溶媒分散溶液として用いられる。デスミア処理に用いられるデスミア処理液は、一般にアルカリを含む。デスミア処理液は、水酸化ナトリウムを含むことが好ましい。   In the desmear treatment, for example, a chemical oxidizing agent such as a manganese compound, a chromium compound, or a persulfate compound is used in the same manner as in the roughening treatment. These chemical oxidants are used as an aqueous solution or an organic solvent dispersion after water or an organic solvent is added. The desmear treatment liquid used for the desmear treatment generally contains an alkali. The desmear treatment liquid preferably contains sodium hydroxide.

上記樹脂材料の使用により、デスミア処理された硬化物の表面の表面粗さが十分に小さくなる。   By using the above resin material, the surface roughness of the surface of the desmeared cured product becomes sufficiently small.

以下、実施例及び比較例を挙げることにより、本発明を具体的に説明する。本発明は、以下の実施例に限定されない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited to the following examples.

以下の材料を用意した。   The following materials were prepared.

(エポキシ化合物)
ビフェニルノボラック型エポキシ化合物(日本化薬社製「NC−3000」)
グリシジルアミン型エポキシ化合物(三菱ケミカル社製「630」)
ジシクロペンタジエン型エポキシ化合物(ADEKA社製「EP−4088S」)
(Epoxy compound)
Biphenyl novolak type epoxy compound ("NC-3000" manufactured by Nippon Kayaku)
Glycidylamine type epoxy compound ("630" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
Dicyclopentadiene type epoxy compound (“EP-4088S” manufactured by ADEKA)

(硬化剤)
<第1の化合物>
4,4’−Diaminodiphenyl sulfone(セイカ社製、分子量248)
N−(4−Aminophenyl)−4−aminobenzamide(セイカ社製、分子量227)
2−(4−Aminophenyl)−6−aminobenzoxazole(セイカ社製、分子量225)
Bis(4−hydroxyphenyl) sulfone(東京化成工業社製、分子量250)
Bis[4−(4−aminophenoxy)phenyl]sulfone(東京化成工業社製、分子量432)
(Curing agent)
<First compound>
4,4'-Diaminodiphenyl sulfone (manufactured by Seika, molecular weight 248)
N- (4-Aminophenyl) -4-aminobenzamide (manufactured by Seika, molecular weight 227)
2- (4-Aminophenyl) -6-aminobenzoxazole (Seika, molecular weight 225)
Bis (4-hydroxyphenyl) sulfone (Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd., molecular weight 250)
Bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., molecular weight 432)

<活性エステル化合物>
活性エステル化合物含有液(DIC社製「EXB−9416−70BK」、固形分70重量%)
<Active ester compound>
Liquid containing active ester compound ("EXB-9416-70BK" manufactured by DIC, solid content 70% by weight)

<硬化剤X>
2,2−Bis(4−hydroxyphenyl)propane(東京化成工業社製、分子量228)(第1の化合物に相当しない化合物)
<Curing agent X>
2,2-Bis (4-hydroxyphenyl) propane (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., molecular weight 228) (a compound not corresponding to the first compound)

(無機充填材)
シリカ含有スラリー(シリカ75重量%:アドマテックス社製「SC4050−HOA」、平均粒径1.0μm、フェニルアミノシラン処理、シクロヘキサノン25重量%)
(Inorganic filler)
Silica-containing slurry (silica 75% by weight: “SC4050-HOA” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 1.0 μm, phenylaminosilane treatment, cyclohexanone 25% by weight)

(熱可塑性樹脂)
フェノキシ樹脂含有液(三菱ケミカル社製、「YX6954BH30」、固形分30重量%)
(Thermoplastic resin)
Phenoxy resin-containing liquid (Mitsubishi Chemical Corporation, "YX6954BH30", solid content 30% by weight)

(硬化促進剤)
ジメチルアミノピリジン(和光純薬工業社製「DMAP」)
(Curing accelerator)
Dimethylaminopyridine (“DMAP” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.)

(実施例1〜5及び比較例1)
下記の表1に示す成分を下記の表1に示す配合量(単位は固形分重量部)で配合し、均一な溶液となるまで常温で攪拌し、樹脂材料を得た。
(Examples 1 to 5 and Comparative Example 1)
The components shown in Table 1 below were blended in the amounts shown in Table 1 (units: parts by weight of solids), and stirred at room temperature until a uniform solution was obtained, to obtain a resin material.

樹脂フィルムの作製:
アプリケーターを用いて、離型処理されたPETフィルム(東レ社製「XG284」、厚み25μm)の離型処理面上に得られた樹脂材料を塗工した後、100℃のギヤオーブン内で2分間乾燥し、溶剤を揮発させた。このようにして、PETフィルム上に、厚さが40μmである樹脂フィルム(Bステージフィルム)が積層されている積層フィルム(PETフィルムと樹脂フィルムとの積層フィルム)を得た。
Preparation of resin film:
Using an applicator, the obtained resin material was coated on the release-treated surface of a release-treated PET film (“XG284” manufactured by Toray Industries, Inc., thickness: 25 μm), and then applied in a gear oven at 100 ° C. for 2 minutes. Dry and evaporate the solvent. Thus, a laminated film (a laminated film of a PET film and a resin film) in which a resin film (B-stage film) having a thickness of 40 μm was laminated on the PET film was obtained.

(評価)
(1)スミアの除去性
ラミネート工程及び半硬化処理:
両面銅張積層板(CCL基板)(各面の銅箔の厚み18μm、基板の厚み0.7mm、基板サイズ100mm×100mm、日立化成社製「MCL−E679FG」)を用意した。この両面銅張積層板の銅箔面の両面をメック社製「Cz8100」に浸漬して、銅箔の表面を粗化処理した。粗化処理された銅張積層板の両面に、名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500−IIA」を用いて、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側を銅張積層板上に重ねてラミネートして、積層構造体を得た。ラミネートは、30秒減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃及び圧力0.7MPaで30秒間ラミネートし、次いで、100℃及びプレス圧力0.8MPaで60秒間プレスすることにより行った。その後、PETフィルムを剥離して、180℃で30分間加熱し、樹脂フィルムを半硬化させた。このようにして、CCL基板に樹脂フィルムの半硬化物が積層されている積層体を得た。
(Evaluation)
(1) Removal of smear Laminating step and semi-curing treatment:
A double-sided copper-clad laminate (CCL substrate) (a copper foil thickness of 18 μm on each surface, a substrate thickness of 0.7 mm, a substrate size of 100 mm × 100 mm, “MCL-E679FG” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was prepared. Both surfaces of the copper foil surface of this double-sided copper-clad laminate were immersed in “Cz8100” manufactured by MEC to roughen the surface of the copper foil. On both sides of the roughened copper-clad laminate, the resin film (B-stage film) side of the laminated film was placed on the copper-clad laminate using “Machine Seisakusho Co., Ltd.” “Batch type vacuum laminator MVLP-500-IIA”. And laminated to obtain a laminated structure. The lamination was performed by reducing the pressure to 13 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, laminating at 100 ° C. and a pressure of 0.7 MPa for 30 seconds, and then pressing at 100 ° C. and a pressing pressure of 0.8 MPa for 60 seconds. Thereafter, the PET film was peeled off and heated at 180 ° C. for 30 minutes to semi-cure the resin film. Thus, a laminate in which the semi-cured resin film was laminated on the CCL substrate was obtained.

ビアホール形成工程:
COレーザー加工機(ビアメカニクス社製「LC−4KF212」)を用いて、バーストモード、エネルギー0.4mJ、パルス27μsec、3ショットの条件で、直径約60μmのビアホールを形成した。
Via hole forming process:
Using a CO 2 laser beam machine (“LC-4KF212” manufactured by Via Mechanics Co., Ltd.), a via hole having a diameter of about 60 μm was formed under the conditions of burst mode, energy 0.4 mJ, pulse 27 μsec, and 3 shots.

粗化処理及びデスミア処理:
(a)膨潤処理:
60℃の膨潤液(アトテックジャパン社製「スウェリングディップセキュリガントP」)に、得られた積層体を入れて、10分間揺動させた。その後、純水で洗浄した。
Roughening and desmearing:
(A) Swelling treatment:
The obtained laminate was put into a swelling liquid at 60 ° C. (“Swelling Dip Securiganto P” manufactured by Atotech Japan) and rocked for 10 minutes. Thereafter, the substrate was washed with pure water.

(b)過マンガン酸塩処理(粗化処理及びデスミア処理):
80℃の過マンガン酸カリウム(アトテックジャパン社製「コンセントレートコンパクトCP」)粗化水溶液に、膨潤処理後の積層体を入れて、30分間揺動させた。次に、25℃の洗浄液(アトテックジャパン社製「リダクションセキュリガントP」)を用いて2分間処理した後、純水で洗浄を行い、デスミア処理後の積層体を得た。
(B) Permanganate treatment (roughening treatment and desmear treatment):
The laminated body after the swelling treatment was put into a roughened aqueous solution of potassium permanganate (“Concentrate Compact CP” manufactured by Atotech Japan) at 80 ° C. and rocked for 30 minutes. Next, after treating for 2 minutes using a washing liquid at 25 ° C. (“Reduction Securiganto P” manufactured by Atotech Japan), washing was performed with pure water to obtain a laminate after desmear treatment.

ビア底の観察:
デスミア処理後の積層体のビアの底部を走査電子顕微鏡(SEM)にて観察し、ビア底の壁面からのスミアの最大長さを測定した。ビア底の残渣の除去性を下記の基準で判定した。
Observation of via bottom:
The bottom of the via of the laminate after the desmear treatment was observed with a scanning electron microscope (SEM), and the maximum length of smear from the wall surface of the via bottom was measured. The removability of the residue at the via bottom was determined based on the following criteria.

[スミアの除去性の判定基準]
○○:スミアの最大長さが2μm未満
○:スミアの最大長さが2μm以上3.5μm未満
△:スミアの最大長さが3.5μm以上5μm未満
×:スミアの最大長さが5μm以上
[Criteria for Smear Removal]
○: The maximum length of smear is less than 2 μm ○: The maximum length of smear is 2 μm or more and less than 3.5 μm △: The maximum length of smear is 3.5 μm or more and less than 5 μm ×: The maximum length of smear is 5 μm or more

(2)絶縁層と金属層との密着性
(2−1)絶縁層と金属層との密着性(ピール強度)
ラミネート工程:
両面銅張積層板(各面の銅箔の厚み18μm、基板の厚み0.7mm、基板サイズ100mm×100mm、日立化成社製「MCL−E679FG」)を用意した。この両面銅張積層板の銅箔面の両面をメック社製「Cz8101」に浸漬して、銅箔の表面を粗化処理した。粗化処理された銅張積層板の両面に、名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500−IIA」を用いて、積層フィルムの樹脂フィルム(Bステージフィルム)側を銅張積層板上に重ねてラミネートして、積層構造体を得た。ラミネート条件は、30秒減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃及び圧力0.7MPaで30秒間ラミネートする条件とした。
(2) Adhesion between insulating layer and metal layer (2-1) Adhesion between insulating layer and metal layer (peel strength)
Laminating process:
A double-sided copper-clad laminate (a copper foil thickness of 18 μm on each surface, a substrate thickness of 0.7 mm, a substrate size of 100 mm × 100 mm, “MCL-E679FG” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was prepared. Both surfaces of the copper foil surface of this double-sided copper-clad laminate were immersed in “Cz8101” manufactured by MEC to roughen the surface of the copper foil. On both sides of the roughened copper-clad laminate, the resin film (B-stage film) side of the laminated film was placed on the copper-clad laminate using “Machine Seisakusho Co., Ltd.” “Batch type vacuum laminator MVLP-500-IIA”. And laminated to obtain a laminated structure. The lamination conditions were such that the pressure was reduced to 13 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, and then laminating at 100 ° C. and a pressure of 0.7 MPa for 30 seconds.

フィルム剥離工程:
得られた積層構造体において、両面のPETフィルムを剥離した。
Film peeling process:
In the obtained laminated structure, the PET films on both sides were peeled off.

銅箔貼り付け工程:
銅箔(厚み35μm、三井金属社製)のシャイニー面をCz処理(メック社製「Cz8101」)して、銅箔表面を1μm程度エッチングした。名機製作所社製「バッチ式真空ラミネーターMVLP−500−IIA」を用いて、PETフィルムを剥離した上記積層構造体に、エッチング処理した銅箔をラミネートにて貼り合せて、銅箔付き基板を得た。ラミネートの条件は、30秒減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃及び圧力0.7MPaで30秒間ラミネートし、更にプレス温度100℃及びプレス圧力0.8MPaで60秒間プレスする条件とした。
Copper foil attaching process:
The shiny surface of the copper foil (thickness: 35 μm, manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) was subjected to Cz treatment (“Cz8101” manufactured by MEC), and the copper foil surface was etched by about 1 μm. Using Meiki Seisakusho's “Batch type vacuum laminator MVLP-500-IIA”, an etched copper foil is laminated on the laminated structure from which the PET film has been peeled to obtain a substrate with a copper foil. Was. The conditions for lamination were such that the pressure was reduced to 13 hPa or less by reducing the pressure for 30 seconds, then laminating at 100 ° C. and a pressure of 0.7 MPa for 30 seconds, and further pressing for 60 seconds at a pressing temperature of 100 ° C. and a pressing pressure of 0.8 MPa. .

得られた銅箔付き基板をギアオーブン内で180℃で30分間加熱し、その後200℃で60分間熱処理し、評価サンプルを得た。   The obtained substrate with a copper foil was heated in a gear oven at 180 ° C. for 30 minutes, and then heat-treated at 200 ° C. for 60 minutes to obtain an evaluation sample.

評価サンプルの銅箔の表面に1cm幅の短冊状の切込みを入れた。90°剥離試験機(テスター産業社製「TE−3001」)に評価サンプルをセットし、つかみ具で切込みの入った銅箔の端部をつまみあげ、銅箔を20mm剥離して剥離強度(ピール強度)を測定した。   A 1 cm wide strip was cut into the surface of the copper foil of the evaluation sample. The evaluation sample was set on a 90 ° peel tester (“TE-3001” manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.), the end of the cut copper foil was picked up with a gripper, and the copper foil was peeled off by 20 mm to obtain peel strength (peel). Strength) was measured.

[絶縁層と金属層との密着性(ピール強度)の判定基準]
○○:ピール強度が0.6kgf/cm以上
〇:ピール強度が0.5kgf/cm以上0.6kgf/cm未満
△:ピール強度が0.4kgf/cm以上0.5kgf/cm未満
×:ピール強度が0.4kgf/cm未満
[Judgment criteria for adhesion (peel strength) between insulating layer and metal layer]
○: Peel strength of 0.6 kgf / cm or more 〇: Peel strength of 0.5 kgf / cm or more and less than 0.6 kgf / cm Δ: Peel strength of 0.4 kgf / cm or more and less than 0.5 kgf / cm ×: Peel strength Is less than 0.4kgf / cm

(2−2)リフロー耐性
上記の(1)スミアの除去性で作製したデスミア処理後の積層体を用意した。
(2-2) Reflow resistance A laminate after desmear treatment prepared in (1) Smear removability described above was prepared.

無電解めっき工程:
上記粗化処理された硬化物の表面を、60℃のアルカリクリーナ(アトテックジャパン社製「クリーナーセキュリガント902」)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、上記硬化物を25℃のプリディップ液(アトテックジャパン社製「プリディップネオガントB」)で2分間処理した。その後、上記硬化物を40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン社製「アクチベーターネオガント834」)で5分間処理し、パラジウム触媒を付けた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン社製「リデューサーネオガントWA」)により、硬化物を5分間処理した。
Electroless plating process:
The surface of the roughened cured product was treated with an alkaline cleaner at 60 ° C. (“Cleaner Securigant 902” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes, and degreased and washed. After washing, the cured product was treated with a pre-dip liquid at 25 ° C. (“Pre-Dip Neo-Gant B” manufactured by Atotech Japan) for 2 minutes. Thereafter, the cured product was treated with an activator solution ("Activator Neo Gant 834" manufactured by Atotech Japan) at 40 ° C for 5 minutes to attach a palladium catalyst. Next, the cured product was treated with a reducing solution at 30 ° C. (“Reducer Neogant WA” manufactured by Atotech Japan) for 5 minutes.

次に、上記硬化物を化学銅液(全てアトテックジャパン社製「ベーシックプリントガントMSK−DK」、「カッパープリントガントMSK」、「スタビライザープリントガントMSK」、「リデューサーCu」)に入れ、無電解めっきをめっき厚さが0.5μm程度になるまで実施した。無電解めっき後に、残留している水素ガスを除去するため、120℃の温度で30分間アニール処理した。無電解めっきの工程までの全ての工程は、ビーカースケールで処理液を2Lとし、硬化物を揺動させながら実施した。   Next, the cured product was placed in a chemical copper solution (all "Basic Print Gant MSK-DK", "Copper Print Gant MSK", "Stabilizer Print Gant MSK", "Reducer Cu" manufactured by Atotech Japan), and electroless plating was performed. Was carried out until the plating thickness became about 0.5 μm. After the electroless plating, annealing was performed at a temperature of 120 ° C. for 30 minutes in order to remove the remaining hydrogen gas. All the processes up to the electroless plating process were performed while making the treatment liquid 2 L on a beaker scale and oscillating the cured product.

電解銅めっき工程:
無電解めっきが形成された後、めっき厚さが25μmとなるまで、電解銅めっきを実施し、電解銅めっき層を形成した。電解銅めっきとして硫酸銅水溶液(和光純薬工業社製「硫酸銅五水和物」、和光純薬工業社製「硫酸」、アトテックジャパン社製「ベーシックレベラーカパラシド HL」、アトテックジャパン社製「補正剤カパラシド GS」)を用いて、0.6A/cmの電流を流した。
Electrolytic copper plating process:
After the electroless plating was formed, electrolytic copper plating was performed until the plating thickness became 25 μm to form an electrolytic copper plating layer. Copper sulfate aqueous solution ("Copper sulfate pentahydrate" manufactured by Wako Pure Chemical Industries, "Sulfuric acid" manufactured by Wako Pure Chemical Industries, "Basic Leveler Capparaside HL" manufactured by Atotech Japan, "Atotech Japan" A current of 0.6 A / cm 2 was passed using the corrector Capalaside GS ”).

本硬化工程:
クイックエッチング後の積層構造体を、200℃のギヤオーブンで60分間加熱し、本硬化させることで、評価用サンプルを作製した。
Full curing process:
The laminated structure after the quick etching was heated in a gear oven at 200 ° C. for 60 minutes and fully cured to prepare a sample for evaluation.

リフロー耐性の評価:
評価用サンプル(100mm×100mm)を用いて、JEDECのLEVEL3に準拠して、評価用サンプルを吸湿(温度60℃及び湿度60RH%で40時間)させた。その後、評価用サンプルに対して窒素リフロー処理(ピークトップ温度260℃)を行った。なお、リフローは30回繰り返した。リフロー後のブリスターの発生の有無を目視により確認した。
Evaluation of reflow resistance:
Using the evaluation sample (100 mm × 100 mm), the evaluation sample was absorbed (at a temperature of 60 ° C. and a humidity of 60 RH% for 40 hours) in accordance with LEVEL3 of JEDEC. Thereafter, the sample for evaluation was subjected to a nitrogen reflow treatment (peak top temperature: 260 ° C.). The reflow was repeated 30 times. The occurrence of blisters after reflow was visually checked.

[リフロー耐性の判定基準]
○○:30回のリフローにてブリスター発生無し
○:25〜29回のリフローにてブリスター発生
△:21〜24回のリフローにてブリスター発生
×:20回以下のリフローでブリスター発生
[Judgment criteria for reflow resistance]
○: No blisters generated after 30 reflows ○: Blisters generated after 25 to 29 reflows △: Blister generated after 21 to 24 reflows ×: Blister generated after 20 or less reflows

(3)誘電正接
得られた樹脂フィルムを幅2mm、長さ80mmの大きさに裁断して5枚を重ね合わせて、厚み200μmの積層体を得た。得られた積層体を200℃で90分間加熱して、硬化物を得た。得られた硬化物について、関東電子応用開発社製「空洞共振摂動法誘電率測定装置CP521」及びキーサイトテクノロジー社製「ネットワークアナライザーN5224A PNA」を用いて、空洞共振法で常温(23℃)にて、周波数5.8GHzにて誘電正接を測定した。
(3) Dielectric loss tangent The obtained resin film was cut into a size of 2 mm in width and 80 mm in length, and five sheets were overlapped to obtain a laminate having a thickness of 200 µm. The obtained laminate was heated at 200 ° C. for 90 minutes to obtain a cured product. The obtained cured product was cooled to room temperature (23 ° C.) by the cavity resonance method using “Cavity Resonance Perturbation Method Permittivity Measurement Apparatus CP521” manufactured by Kanto Electronics Application Development Co., Ltd. and “Network Analyzer N5224A PNA” manufactured by Keysight Technology. The dielectric loss tangent was measured at a frequency of 5.8 GHz.

[誘電正接の判定基準]
○:誘電正接が0.004以下
△:誘電正接が0.004を超え0.0045未満
×:誘電正接が0.0045を超える
[Judgment criteria for dielectric loss tangent]
:: Dielectric tangent is 0.004 or less Δ: Dielectric tangent is more than 0.004 and less than 0.0045 ×: Dielectric tangent is more than 0.0045

組成及び結果を下記の表1に示す。   The composition and results are shown in Table 1 below.

Figure 2020050829
Figure 2020050829

11…多層プリント配線板
12…回路基板
12a…上面
13〜16…絶縁層
17…金属層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Multilayer printed wiring board 12 ... Circuit board 12a ... Upper surface 13-16 ... Insulating layer 17 ... Metal layer

Claims (9)

エポキシ化合物と、硬化剤とを含み、
前記硬化剤が、窒素原子又は硫黄原子を含む基を介して2個のアリール基が結合した構造を有する第1の化合物と、活性エステル化合物とを含む、樹脂材料。
Including an epoxy compound and a curing agent,
A resin material, wherein the curing agent includes a first compound having a structure in which two aryl groups are bonded via a group containing a nitrogen atom or a sulfur atom, and an active ester compound.
前記第1の化合物が、スルホニル基を介して2個の前記アリール基が結合した構造を有する化合物である、請求項1に記載の樹脂材料。   The resin material according to claim 1, wherein the first compound is a compound having a structure in which two of the aryl groups are bonded via a sulfonyl group. 前記第1の化合物が、ヒドロキシ基又はアミノ基を有する化合物である、請求項1又は2に記載の樹脂材料。   The resin material according to claim 1, wherein the first compound is a compound having a hydroxy group or an amino group. 前記第1の化合物の分子量が、150以上500以下である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の樹脂材料。   The resin material according to any one of claims 1 to 3, wherein the first compound has a molecular weight of 150 or more and 500 or less. 無機充填材を含む、請求項1〜4のいずれか1項に記載の樹脂材料。   The resin material according to claim 1, further comprising an inorganic filler. 樹脂材料中の溶剤を除く成分100重量%中、前記無機充填材の含有量が30重量%以上である、請求項5に記載の樹脂材料。   The resin material according to claim 5, wherein the content of the inorganic filler is 30% by weight or more based on 100% by weight of a component excluding the solvent in the resin material. 樹脂フィルムである、請求項1〜6のいずれか1項に記載の樹脂材料。   The resin material according to any one of claims 1 to 6, which is a resin film. 多層プリント配線板において、絶縁層を形成するために用いられる、請求項1〜7のいずれか1項に記載の樹脂材料。   The resin material according to any one of claims 1 to 7, which is used for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board. 回路基板と、
前記回路基板の表面上に配置された複数の絶縁層と、
複数の前記絶縁層間に配置された金属層とを備え、
複数の前記絶縁層の内の少なくとも1層が、請求項1〜8のいずれか1項に記載の樹脂材料の硬化物である、多層プリント配線板。
A circuit board,
A plurality of insulating layers disposed on the surface of the circuit board,
A metal layer disposed between the plurality of insulating layers,
A multilayer printed wiring board, wherein at least one of the plurality of insulating layers is a cured product of the resin material according to claim 1.
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