JP2019170807A5 - - Google Patents

Description

上記課題を解決するために本発明の撮像装置は、眼底上で光を第１の方向に走査する第１の走査手段と、前記眼底上で前記光を、前記第１の方向とは異なる方向である第２の方向に走査する第２の走査手段と、前記第１の走査手段から前記第２の走査手段への光路を２つの光路に分岐し、前記分岐された一方の光路を、前記第２の走査手段を介さずに前記第２の走査手段を介した前記分岐された他方の光路へ合流する光学系と、前記光学系を介すことにより、第１の光源からの光を分岐した第１の測定光を、前記第２の走査手段を介さずに前記第１の走査手段を介して前記眼底に照射し、第２の光源からの第２の測定光を前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介して前記眼底に照射する共通光学系と、前記共通光学系により前記第１の走査手段を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、前記共通光学系により前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段とを有する。

また、本発明の撮像装置は、眼底の撮像範囲の画像を取得する撮像装置であって、前記撮像範囲の所定の位置を第１の光源からの光を分岐した第１の測定光で直線走査することによる前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、前記の撮像範囲を第２の測定光で２次元走査することによる前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、前記第２の生成手段により生成された前記眼底画像に基づいて、前記第１の測定光と前記第２の測定光の前記眼底の照射位置を補正する補正手段とを有する。

Claims (12)

1. 眼底上で光を第１の方向に走査する第１の走査手段と、
   前記眼底上で前記光を、前記第１の方向とは異なる方向である第２の方向に走査する第２の走査手段と、
   前記第１の走査手段から前記第２の走査手段への光路を２つの光路に分岐し、前記分岐された一方の光路を、前記第２の走査手段を介さずに前記第２の走査手段を介した前記分岐された他方の光路へ合流する光学系と、
   前記光学系を介すことにより、第１の光源からの光を分岐した第１の測定光を、前記第２の走査手段を介さずに前記第１の走査手段を介して前記眼底に照射し、第２の光源からの第２の測定光を前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介して前記眼底に照射する共通光学系と、
   前記共通光学系により前記第１の走査手段を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、
   前記共通光学系により前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段とを有することを特徴とする撮像装置。
2. 前記共通光学系は、波面収差を測定する波面センサと、波面収差を補正する波面補正装置を含み、
   前記波面センサが、前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光の波面収差、又は、前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光の波面収差を測定し、
   前記波面補正装置が、前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光の波面、及び、前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光の波面を補正することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記眼底の動きを検知する検知手段と、
   前記共通光学系に設けられた、前記動きを補正するために前記第１の測定光及び前記第２の測定光の照射位置を変更する第３の走査手段を更に有することを特徴とする請求項１又は２に記載の撮像装置。
4. 前記一方の光路には、
   前記第２の走査手段への光路に配置され、前記第１の測定光を分離する分離手段と、
   前記分離手段で分離された前記第１の測定光を反射する反射手段と、
   前記反射手段で反射された前記第１の測定光を、前記第２の走査手段からの光路に合流する合流手段とが配置され、
   前記第１の測定光が、前記分離手段と前記合流手段により、前記第２の走査手段を介さず前記第１の走査手段を介して前記眼底に照射されることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の撮像装置。
5. 前記分離手段がビームスプリッタを含み、前記合流手段がミラーを含むことを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
6. 前記第２の走査手段は、前記第１の走査手段よりも速い周波数で駆動されることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の撮像装置。
7. 眼底の撮像範囲の画像を取得する撮像装置であって、
   前記撮像範囲の所定の位置を第１の光源からの光を分岐した第１の測定光で直線走査することによる前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、
   前記の撮像範囲を第２の測定光で２次元走査することによる前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段と、
   前記第２の生成手段により生成された前記眼底画像に基づいて、前記第１の測定光と前記第２の測定光の前記眼底の照射位置を補正する補正手段とを有することを特徴とする撮像装置。
8. 前記撮像範囲を前記第１および前記第２の測定光で第１の方向に走査する第１の走査手段と、
   前記撮像範囲を前記第２の測定光で、前記第１の方向とは異なる方向である第２の方向に走査する第２の走査手段と、
   前記第１の測定光を、前記第１の走査手段を介し前記第２の走査手段を介さずに前記眼底に照射し、前記第２の測定光を前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介して前記眼底に照射する共通光学系とを更に有することを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
9. 前記共通光学系は、波面収差を測定する波面センサと、波面収差を補正する波面補正装置を含み、
   前記波面センサが、前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光の波面収差、又は、前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光の波面収差を測定し、
   前記波面補正装置が、前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光の波面、及び、前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光の波面を補正することを特徴とする請求項７または８に記載の撮像装置。
10. 前記共通光学系は、
    前記第２の走査手段への光路に配置され、前記第１の測定光を分離する分離手段と、
    前記分離手段で分離された前記第１の測定光を反射する反射手段と、
    前記反射手段で反射された前記第１の測定光を、前記第２の走査手段からの光路に合流する合流手段を有し、
    前記第１の測定光が、前記分離手段と前記合流手段により、前記第２の走査手段を介さず前記第１の走査手段を介して前記眼底に照射される
    ことを特徴とする請求項７乃至９の何れか１項に記載の撮像装置。
11. 眼底上で光を第１の方向に走査する第１の走査手段と、
    前記眼底上で前記光を、前記第１の方向とは異なる方向である第２の方向に走査する第２の走査手段と、
    前記第１の走査手段から前記第２の走査手段への光路を２つの光路に分岐し、前記分岐された一方の光路を、前記第２の走査手段を介さずに前記第２の走査手段を介した前記分岐された他方の光路へ合流する光学系と、
    前記光学系を介すことにより、第１の光源からの光を分岐した第１の測定光を、前記第２の走査手段を介さずに前記第１の走査手段を介して前記眼底に照射し、第２の光源からの第２の測定光を前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介して前記眼底に照射する共通光学系と、
    前記共通光学系により前記第１の走査手段を介した前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成手段と、
    前記共通光学系により前記第１の走査手段と前記第２の走査手段を介した前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成手段とを有する撮像装置の制御方法であって、
    前記第１の生成手段が、前記第２の生成手段で生成される前記眼底画像の所定の位置の断層画像を生成することを特徴とする撮像装置の制御方法。
12. 眼底の撮像範囲の画像を取得する撮像装置の制御方法であって、
    前記撮像範囲の所定の位置を第１の光源からの光を分岐した第１の測定光で直線走査することによる前記眼底からの前記第１の測定光の戻り光と、前記第１の光源からの光を分岐した参照光とを干渉させることによる干渉光に基づき、前記眼底の断層画像を生成する第１の生成工程と、
    前記の撮像範囲を第２の測定光で２次元走査することによる前記眼底からの前記第２の測定光の戻り光に基づき、前記眼底の眼底画像を生成する第２の生成工程と、
    前記第２の生成工程において生成された前記眼底画像に基づいて、前記第１の測定光と前記第２の測定光の前記眼底の照射位置を補正する補正工程とを有することを特徴とする撮像装置の制御方法。