JP2011242177A5 - - Google Patents

Description

上記課題を解決するため、本発明の一態様は、
光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を取得するための撮像装置であって、
光源から出射された光を参照光と測定光とに分割する第１の光分割手段と、
前記参照光を第１の参照光と第２の参照光とに分割する第２の光分割手段と、
前記測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記第１の参照光とを干渉させた干渉光が入射される第１の検出領域と、前記第２の参照光が入射される第２の検出領域とを有する検出手段と、
前記第２の検出領域で検出された第２の検出信号を用いて前記第１の検出領域で検出された第１の検出信号を補正する補正手段と、を備える。

Claims (24)

1. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を取得するための撮像装置であって、
   光源から出射された光を参照光と測定光とに分割する第１の光分割手段と、
   前記参照光を第１の参照光と第２の参照光とに分割する第２の光分割手段と、
   前記測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記第１の参照光とを干渉させた干渉光が入射される第１の検出領域と、前記第２の参照光が入射される第２の検出領域とを有する検出手段と、
   前記第２の検出領域で検出された第２の検出信号を用いて前記第１の検出領域で検出された第１の検出信号を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。
2. 前記第１および第２の検出信号はそれぞれ周波数成分毎の強度分布を示し、
   前記補正手段は、前記第２の検出信号を前記第１の検出領域で検出された前記第１の検出信号から減算することにより前記第１の検出信号を補正し、前記第１の参照光に対応するノイズ成分を低減することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記補正手段により補正された第１の検出信号に基づいて前記被検査物の断層画像を生成する生成手段を更に備えることを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
4. 前記第１の検出領域において検出される前記第１の参照光の光量と前記第２の検出領域において検出される前記第２の参照光の光量とが一致するように前記第２の参照光の光量を調整する光量調整手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
5. 前記光量調整手段は、可変アッテネーターを含み、入射された前記第２の参照光の光量を減衰させて出力することを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
6. 前記測定光の光路を遮断する遮断手段と、
   前記遮断手段により前記測定光の光路が遮断されている状態において、前記第１の検出領域で検出された前記第１の参照光の検出信号と、前記第２の検出領域で検出された前記第２の参照光の検出信号とに基づいて前記光量調整手段のための調整値を算出する調整値算出手段と、を更に備えることを特徴とする請求項４または５に記載の撮像装置。
7. 前記干渉光を波長にしたがって分光して前記第１の検出領域へ導き、前記第２の参照光を波長にしたがって分光して前記第２の検出領域へ導く分光手段を更に備え、
   前記補正手段は、さらに、前記分光手段と前記第１の検出領域と前記第２の検出領域との位置関係により生じる、前記第１の検出信号と前記第２の検出信号との間の波長間隔に対する画素間隔の相違を補正することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
8. 前記測定光の光路を遮断する遮断手段と、
   前記遮断手段により前記測定光の光路が遮断されている状態において、前記第１の検出領域で検出された前記第１の参照光の検出信号と、前記第２の検出領域で検出された前記第２の参照光の検出信号とに基づいて前記波長間隔に対する画素間隔の相違を補正するための補正値を算出する補正値算出手段と、を更に備えることを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
9. 前記分光手段は、前記干渉光と前記第２の参照光をそれぞれ前記第１の検出領域と前記第２の検出領域に照射するための単一の回折格子を備え、
   前記相違は、前記単一の回折格子への前記干渉光と前記第２の参照光の入射角度の違いに起因することを特徴とする請求項７または８に記載の撮像装置。
10. 前記干渉光と前記第２の参照光をそれぞれ前記第１の検出領域と前記第２の検出領域に照射するための単一の回折格子を備え、
    前記回折格子と、前記干渉光と前記第２の参照光のそれぞれの前記単一の回折格子への照射部とが、前記干渉光と前記第２の参照光の前記単一の回折格子への入射角度が同じになるように配置されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
11. 前記光源とは別の光源から出射された光を第２の測定光と第３の参照光とに分割する第３の光分割手段と、
    第１の撮像モードと第２の撮像モードとのいずれかを設定する設定手段と、
    前記第１の撮像モードが設定されている場合には前記第２の測定光により得られる第２の戻り光と前記第３の参照光とを干渉させた第２の干渉光が前記第２の検出領域に入射し、前記第２の撮像モードが設定されている場合には前記第２の参照光が前記第２の検出領域に入射するように光路を切り換える切替手段とを更に備えることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置。
12. 前記第１の撮像モードが設定されている場合は、前記第１の検出領域で検出された前記干渉光の検出信号と、前記第２の検出領域で検出された前記第２の干渉光の検出信号のそれぞれから前記被検査物の断層画像を生成し、前記第２の撮像モードが設定されている場合は、前記補正手段により補正された検出信号を用いて前記被検査物の断層画像を生成する生成手段を更に備えることを特徴とする請求項１１に記載の撮像装置。
13. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を取得するための撮像装置であって、
    光源から出射された光を参照光と第１の測定光とに分割する第１の光分割手段と、
    前記参照光を第１の参照光と第２の参照光とに分割する第２の光分割手段と、
    前記第１の測定光の戻り光と前記第１の参照光とを干渉させた第１の干渉光を検出する検出手段と、
    前記光源とは別の光源から出射された光を第２の測定光と第３の参照光とに分割する第３の光分割手段と、
    第１の撮像モードと第２の撮像モードとのいずれかを設定する設定手段と、
    前記第１の撮像モードが設定されている場合には前記第２の測定光により得られる第２の戻り光と前記第３の参照光とを干渉させた第２の干渉光が検出され、前記第２の撮像モードが設定されている場合には前記第２の参照光が検出されるように光路を切り換える切替手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。
14. 前記被検査物は被検眼であることを特徴とする請求項１乃至１３のいずれか1項に記載の撮像装置。
15. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を取得する撮像装置の撮像方法であって、
    光源から出射された光を参照光と測定光とに分割し、
    前記参照光を第１の参照光と第２の参照光とに分割し、
    前記測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記第１の参照光とを干渉させた干渉光を検出手段の第１の検出領域に入射し、前記第２の参照光を前記検出手段の前記第１の検出領域とは異なる第２の検出領域へ入射し、
    前記第２の検出領域で検出された第２の検出信号を用いて前記第１の検出領域で検出された第１の検出信号を補正することを特徴とする撮像方法。
16. 前記第１および第２の検出信号はそれぞれ周波数成分毎の強度分布を示し、
    前記第１の検出信号の補正では、前記第２の検出信号を前記第１の検出領域で検出された前記第１の検出信号から減算することにより、前記第１の参照光に対応するノイズ成分を低減することを特徴とする請求項１５に記載の撮像方法。
17. 前記補正された検出信号に基づいて前記被検査物の断層画像を生成することを特徴とする請求項１５または１６に記載の撮像方法。
18. 前記第１の検出領域において検出される前記第１の参照光の光量と前記第２の検出領域において検出される前記第２の参照光の光量とが一致するように前記第２の参照光の光量を調整することを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれか１項に記載の撮像方法。
19. 前記干渉光は分光手段により波長にしたがって分光されて前記第１の検出領域へ導かれ、前記第２の参照光は分光手段により波長にしたがって分光されて前記第２の検出領域へ導かれ、
    前記分光手段と前記第１の検出領域と前記第２の検出領域との位置関係により生じる、前記第１の検出信号と前記第２の検出信号との間の波長間隔に対する画素間隔の相違を補正することを特徴とする請求項１５乃至１８のいずれか１項に記載の撮像方法。
20. 前記光源とは別の光源から出射された光を第２の測定光と第３の参照光とに分割し、
    第１の撮像モードが設定されている場合は、前記第２の測定光により得られる第２の戻り光と前記第３の参照光とを干渉させた第２の干渉光が前記第２の検出領域に入射し、前記第２の撮像モードが設定されている場合は、前記第２の参照光が前記第２の検出領域に入射する用に光路を切り替えることを特徴とする請求項１５乃至１９のいずれか１項に記載の撮像方法。
21. 前記第１の撮像モードが設定されている場合には、前記第１の検出領域で検出された前記干渉光の検出信号と、前記第２の検出領域で検出された前記第２の干渉光の検出信号のそれぞれから前記被検査物の断層画像を生成し、前記第２の撮像モードが設定されている場合には、前記補正された前記第１の検出領域で検出された検出信号を用いて前記被検査物の断層画像を生成することを特徴とする請求項２０に記載の撮像方法。
22. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を取得するための撮像方法であって、
    光源から出射された光を参照光と第１の測定光とに分割し、
    前記参照光を第１の参照光と第２の参照光とに分割し、
    前記第１の測定光の戻り光と前記第１の参照光とを干渉させた第１の干渉光を検出し、
    前記光源とは別の光源から出射された光を第２の測定光と第３の参照光とに分割し、
    第１の撮像モードと第２の撮像モードとのいずれかを設定し、
    前記第１の撮像モードが設定されている場合には前記第２の測定光により得られる第２の戻り光と前記第３の参照光とを干渉させた第２の干渉光が検出され、前記第２の撮像モードが設定されている場合には前記第２の参照光が検出されるように光路を切り換えることを特徴とする撮像方法。
23. 前記被検査物は被検眼であることを特徴とする請求項１５乃至２２のいずれか1項に記載の撮像方法。
24. コンピュータに、請求項１５乃至２３のいずれか１項に記載された撮像方法を実行させるためのプログラム。