JP2015157040A5 - - Google Patents

Description

上記の目的を達成するための、本発明の一様態による偏光ＯＣＴ装置は、光源から照射された光を測定光と参照光とに分割し、測定光路を介して被検査物に照射された前記測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させた干渉光を生成する干渉手段と、前記干渉光を異なる偏光成分の光に分割する分割手段と、前記分割手段により分割された光を検出して信号を生成する生成手段と、前記測定光路中における前記測定光と、前記干渉手段を介した前記測定光の戻り光と、前記干渉手段を経由した前記参照光の各々の偏光状態を検出する検出手段と、前記検出手段によって検出される各々の偏光状態に基づいて、前記測定光の偏光状態を第一の偏光状態に制御し、前記測定光の戻り光と前記参照光の各偏光状態を前記第一の偏光状態とは異なる第二の偏光状態に制御する偏光制御手段と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、各光路の偏光状態を検出し、検出した偏光情報に基づき、各光路の偏光制御を行うことができる。

Claims (15)

1. 光源から照射された光を測定光と参照光とに分割し、測定光路を介して被検査物に照射された前記測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させ干渉光を生成する干渉手段と、
   前記干渉光を異なる偏光成分の光に分割する分割手段と、
   前記分割手段により分割された光を検出して信号を生成する生成手段と、
   前記測定光路中における前記測定光と、前記干渉手段を経由した前記測定光の戻り光と、前記干渉手段を介した前記参照光の各々の偏光状態を検出する検出手段と、
   前記検出される各々の偏光状態に基づいて、前記測定光の偏光状態を第一の偏光状態に制御し、前記測定光の戻り光と前記参照光の各偏光状態を前記第一の偏光状態とは異なる第二の偏光状態に制御する偏光制御手段と、
   を有することを特徴とする偏光ＯＣＴ装置。
2. 前記検出手段が、測定光、測定光の戻り光、参照光の順に偏光状態を検出し、
   前記偏光制御手段が、検出した順に偏光制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の偏光ＯＣＴ装置。
3. 測定光を検出する測定光検出手段が被検査物と共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１または２に記載の偏光ＯＣＴ装置。
4. 測定光の戻り光を検出する時、測定光路中に配置される反射手段を配置して測定光の戻り光を前記生成手段まで戻し、参照光路中に配置される遮光手段を配置して参照光を遮断することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の偏光ＯＣＴ装置。
5. 前記干渉手段がシングルモードファイバで構成され、前記偏光制御手段が前記干渉手段の測定光側ファイバ、参照光側ファイバ、検出光側ファイバに配置されることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の偏光ＯＣＴ装置。
6. 前記偏光制御手段が前記光源と前記干渉手段の間に配置されていることを特徴とする、請求項１乃至５のいずれか１項に記載のＯＣＴ装置。
7. 前記光源と前記干渉手段の間の偏光制御手段と、前記干渉手段の間に、偏光子が配置されていることを特徴とする、請求項１乃至６のいずれか１項に記載のＯＣＴ装置。
8. 装置の起動する時と、撮像する前の少なくともに前記偏光制御を行うことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の偏光ＯＣＴ装置。
9. 光源から照射された光を測定光と参照光とに分割し、測定光路を介して被検査物に照射された前記測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させ干渉光を生成する干渉手段と、前記干渉光を異なる偏光成分の光に分割する分割手段と、前記分割手段により分割された光を検出して信号を生成する生成手段と、を有する偏光ＯＣＴ装置の制御方法において、
   前記測定光路中における前記測定光と、前記干渉手段を経由した前記測定光の戻り光と、前記干渉手段を介した前記参照光の各々の偏光状態を検出する検出工程と、
   前記検出される各々の偏光状態に基づいて、前記測定光の偏光状態を第一の偏光状態に制御し、前記測定光の戻り光と前記参照光の各偏光状態を前記第一の偏光状態とは異なる第二の偏光状態に制御する偏光制御工程と、
   を有することを特徴とする制御方法。
10. 前記検出工程が、
    測定光を測定光検出手段により検出する測定光検出工程と、
    前記測定光路中に光を反射する反射手段を配置し、前記参照光路中に遮光する遮光手段を配置した状態で測定光の戻り光を前記生成手段で検出する工程と、
    前記測定光路中に配置した前記反射手段と参照光路中に配置した前記遮光手段の配置を外し、前記測定光路からの戻り光がない状態で参照光を前記生成手段で検出する工程と、
    を含み
    前記偏光制御工程が、
    検出された前記測定光の偏光状態を所定の偏光状態に制御するように制御する工程と、
    検出された前記測定光の戻り光の偏光状態を所定の偏光状態に制御するように制御する工程と、
    検出された前記参照光の偏光状態を所定の偏光状態に制御するように制御する工程と、
    を有すること特徴とする請求項９に記載の制御方法。
11. 請求項９または１０に記載の方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
12. 前記第一の偏光状態は円偏光であり、前記第二の偏光状態は直線偏光であることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の偏光ＯＣＴ装置。
13. 前記参照光の第二の偏光状態は、直交する２つの偏光軸のそれぞれに対して４５度傾いた直線偏光であることを特徴とする請求項１２に記載の偏光ＯＣＴ装置。
14. 前記戻り光の前記第二の偏光状態は、直交する２つの偏光軸の一方に対して傾きのない直線偏光であることを特徴とする請求項１２又は１３に記載の偏光ＯＣＴ装置。
15. 前記検出手段は、前記測定光の前記偏光状態を検出する第一の検出手段と、前記戻り光と前記参照光の前記偏光状態のそれぞれを検出する第二の検出手段を含むことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の偏光ＯＣＴ装置。