JP2013165961A5 - - Google Patents

Description

本件の制御装置の一つは、
被測定物に測定光を照射する照射手段と、
前記被測定物への前記測定光の入射を制限するとともに、前記測定光を反射又は散乱する制限手段と、
前記制限手段により反射又は散乱された前記測定光に基づいて前記測定光の偏光を制御する偏光制御手段と、
前記被測定物に関する画像を取得する画像取得手段と、
前記偏光制御手段に前記測定光の偏光を制御させる第１モードと、前記画像を取得する第２モードとを備える制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記第１モードにおいて前記制限手段を前記光路に挿入し、前記第２モードにおいて前記制限手段を前記光路から外す。

Claims (16)

1. 被測定物に測定光を照射する照射手段と、
   前記被測定物への前記測定光の入射を制限するとともに、前記測定光を反射又は散乱する制限手段と、
   前記制限手段により反射又は散乱された前記測定光に基づいて前記測定光の偏光を制御する偏光制御手段と、
   前記被測定物に関する画像を取得する画像取得手段と、
   前記偏光制御手段に前記測定光の偏光を制御させる第１モードと、前記画像を取得する第２モードとを備える制御手段と、を備え、
   前記制御手段は、前記第１モードにおいて前記制限手段を前記測定光の光路に挿入し、前記第２モードにおいて前記制限手段を前記光路から外すことを特徴とする制御装置。
2. 前記制限手段は、前記被測定物と前記照射手段とを結ぶ光路上に挿脱自在に備えられることを特徴とする請求項１記載の制御装置。
3. 前記被測定物に前記測定光を照射することにより得られる戻り光を異なる偏光の光に分割する分割手段を更に備え、
   前記画像取得手段は、前記異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて前記画像を取得することを特徴とする請求項１または２記載の制御装置。
4. 前記分割手段は、前記制限手段により反射又は散乱された前記測定光を異なる偏光の光に分割し、
   前記偏光制御手段は、前記異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて、前記測定光の偏光を制御することを特徴とする請求項３記載の制御装置。
5. 前記被測定物に前記測定光を照射することにより得られる戻り光と参照光との第１の合波光を異なる偏光の光に分割する分割手段を更に備え、
   前記画像取得手段は、前記異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて前記画像を取得することを特徴とする請求項１または２記載の制御装置。
6. 前記分割手段は、前記制限手段により反射又は散乱された前記測定光と参照光との第２の合波光を異なる偏光の光に分割し、
   前記偏光制御手段は、前記異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて、前記測定光の偏光を制御することを特徴とする請求項５記載の制御装置。
7. 被測定物に測定光を照射する照射手段と、
   前記測定光の偏光を制御する偏光制御手段と、
   前記被測定物に関する画像を取得する画像取得手段と、を備え、
   前記測定光の偏光が制御される場合には反射手段が前記測定光の光路に配置され、前記画像が取得される場合には前記反射手段が前記測定光の光路から外れるように構成されることを特徴とする制御装置。
8. 前記反射手段により反射又は散乱された前記測定光を異なる偏光の光に分割する分割手段を更に備え、
   前記偏光制御手段は、前記異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて、前記測定光の偏光を制御することを特徴とする請求項７記載の制御装置。
9. 前記被測定物に前記測定光を照射することにより得られる戻り光と参照光との第１の合波光を異なる偏光の光に分割し、前記反射手段により反射又は散乱された前記測定光と前記測定光に対応する参照光との第２の合波光を異なる偏光の光に分割する分割手段を更に備え、
   前記画像取得手段は、前記第１の合波光を分割して得た異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて前記画像を取得し、
   前記偏光制御手段は、前記第２の合波光を分割して得た異なる偏光の光の少なくとも一方に基づいて前記測定光の偏光を制御することを特徴とする請求項７記載の制御装置。
10. 前記偏光制御手段による前記偏光の制御は、キャリブレーションであることを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載の制御装置。
11. 前記偏光が制御された後に前記画像が取得されるように構成されることを特徴とする請求項１〜１０のいずれか１項に記載の制御装置。
12. 前記被測定物は、眼であることを特徴とする請求項１〜１１のいずれか１項に記載の制御装置。
13. 光源と、
    前記光源から出射された測定光の偏光を制御する偏光コントローラと、
    前記偏光コントローラによって偏光が制御された前記測定光を被測定物に対して走査するミラーと、
    前記ミラーにより走査された前記測定光の前記被測定物への入射を制限するとともに前記ミラーにより走査された前記測定光を反射又は散乱する部材と、
    を有する照明光学系と、
    前記部材を前記照明光学系に挿脱する第１制御部と、
    前記部材により反射若しくは散乱された前記測定光又は前記被測定物からの戻り光を異なる偏光の光に分割する偏光ビームスプリッタと、
    前記偏光ビームスプリッタにより得られた異なる偏光の光をそれぞれ受光する複数のフォトダイオードと、
    前記第１制御部によって前記部材が前記照明光学系に挿入されている場合、前記複数のフォトダイオードの少なくとも一方の出力に基づいて前記偏光コントローラに前記測定光の偏光を制御させる第２制御部と、
    前記第１制御部によって前記部材が前記照明光学系から抜かれている場合、前記複数のフォトダイオードの少なくとも一方の出力に基づいて被測定物に関する画像を取得する画像取得部と、
    を備えることを特徴とする制御装置。
14. 光源と、
    前記光源から出射された光の偏光を制御する偏光コントローラと、
    前記偏光コントローラによって偏光が制御された前記光を測定光と参照光とに分割するカプラと、
    前記測定光を被測定物に対して走査するミラーと、
    前記ミラーにより走査された前記測定光の前記被測定物への入射を制限するとともに前記ミラーにより走査された前記測定光を反射または散乱する部材と、
    を有する照明光学系と、
    前記部材を前記照明光学系に挿脱する第１制御部と、
    前記部材により反射若しくは散乱された前記測定光または前記被測定物からの戻り光と前記参照光との合波光を生成する第１カプラと、
    前記合波光を異なる偏光の光に分割する第２カプラと、
    前記第２カプラにより得られた異なる偏光の光をそれぞれ受光する複数のラインカメラと、
    前記第１制御部によって前記部材が前記照明光学系に挿入されている場合、前記複数のラインカメラの少なくとも一方の出力に基づいて前記偏光コントローラに前記光の偏光を制御させる第２制御部と、
    前記第１制御部によって前記部材が前記照明光学系から抜かれている場合、前記複数のラインカメラの少なくとも一方の出力に基づいて前記被測定物に関する画像を取得する画像取得部と、
    を備えることを特徴とする制御装置。
15. 被測定物に測定光を照射する照射工程と、
    前記被測定物へ前記測定光の入射を制限するとともに前記測定光を反射又は散乱する制限手段により反射又は散乱された光に基づいて前記測定光の偏光を制御する偏光制御工程と、
    を備えたことを特徴とする制御方法。
16. 請求項１５記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。