JP2019149456A - 圧電素子および液体吐出ヘッド - Google Patents
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Abstract
Description
基体の上方に設けられた第1電極と、
カリウム、ナトリウム、およびニオブを含む複数の結晶粒を有し、前記第1電極の上方に設けられた圧電体層と、
前記圧電体層の上方に設けられた第2電極と、
を含み、
前記結晶粒の粒界に含まれるカリウムの原子濃度NK1(atm%)、および前記結晶粒に含まれるカリウムの原子濃度NK2(atm%)は、
1.0<NK1/NK2≦2.4
の関係を満たす。
前記粒界に含まれるナトリウムの原子濃度NNa1(atm%)は、前記結晶粒に含まれるナトリウムの原子濃度NNa2(atm%)よりも低くてもよい。
前記原子濃度NNa1および前記原子濃度NNa2は、
0.55≦NNa1/NNa2≦0.75
の関係を満たしてもよい。
前記原子濃度NK1および前記原子濃度NK2は、
1.5≦NK1/NK2≦2.0
の関係を満たしてもよい。
前記圧電体層は、前記結晶粒を含む層を有し、
前記結晶粒を含む層は、膜厚方向に複数積層され、
前記結晶粒を含む層の前記第2電極側におけるカリウムの原子濃度NK3(atm%)は、前記結晶粒を含む層の前記第1電極側におけるカリウムの原子濃度NK4(atm%)よりも高くてもよい。
前記原子濃度NK3および前記原子濃度NK4は、
2.0≦NK3/NK4≦4.0
の関係を満たしてもよい。
前記結晶粒を含む層の前記第2電極側におけるナトリウムの原子濃度(atm%)は、前記結晶粒を含む層の前記第1電極側におけるナトリウムの原子濃度(atm%)よりも低くてもよい。
前記粒界の中心におけるカリウムの原子濃度(atm%)は、前記粒界の中心から70nm以上離れた領域におけるカリウムの原子濃度(atm%)よりも高くてもよい。
前記粒界の中心におけるナトリウムの原子濃度(atm%)は、前記粒界の中心から70nm以上離れた領域におけるナトリウムの原子濃度(atm%)よりも低くてもよい。
本発明に係る圧電素子を含む。
まず、本実施形態に係る圧電素子について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る圧電素子100を模式的に示す断面図である。
白金層、イリジウム層などの金属層、それらの導電性酸化物層、ルテニウム酸ストロンチウム(SrRuO3:SRO)層などである。第1電極10は、上記に例示した層を複数積層した構造を有していてもよい。
Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy)によって観察される。
を有している。粒界26の中心におけるカリウムの原子濃度(atm%)は、例えば、領域24aにおけるカリウムの原子濃度(atm%)よりも高い。粒界26の中心におけるナトリウムの原子濃度(atm%)は、例えば、領域24aにおけるナトリウムの原子濃度(atm%)よりも低い。なお、便宜上、図2では、領域24aを、1つの結晶粒24のみについて図示している。粒界26の中心は、例えば、カリウムの原子濃度が最も高いところである。また、粒界26の中心は、例えば、ナトリウムの原子濃度が最も低いところである。
てもよいし、圧電体層20の変形を電気信号として検出する圧電センサー(超音波センサー、ジャイロセンサー)等に用いられてもよい。
けるカリウムの原子濃度よりも高い。そのため、圧電素子100は、例えば粒界26の中心におけるカリウムの原子濃度が領域24aにおけるカリウムの原子濃度よりも低い場合に比べて、より確実に、良好な圧電特性を有することができる(詳細は後述する「実験例」参照)。
次に、本実施形態に係る圧電素子100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
ン酸ナトリウム、酢酸ナトリウムなどが挙げられる。ニオブを含む金属錯体としては、例えば、2−エチルヘキサン酸ニオブ、ペンタエトキシニオブなどが挙げられる。マンガンを含む金属錯体としては、例えば、2−エチルヘキサン酸マンガンなどが挙げられる。なお、2種以上の金属錯体を併用してもよい。例えば、カリウムを含む金属錯体として、2−エチルへキサン酸カリウムと酢酸カリウムとを併用してもよい。
次に、本実施形態に係る液体吐出ヘッドについて、図面を参照しながら説明する。図4は、本実施形態に係る液体吐出ヘッド200を模式的に示す分解斜視図である。図5は、本実施形態に係る液体吐出ヘッド200を模式的に示す平面図である。図6は、本実施形態に係る液体吐出ヘッド200を模式的に示す図5のVI−VI線断面図である。なお、図4〜図6では、互いに直交する3軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。
方向側に)位置している。すなわち、第1電極10の−X軸方向側の端部は、圧電体層20によって覆われていない。
次に、本実施形態に係るプリンターについて、図面を参照しながら説明する。図7は、本実施形態に係るプリンター300を模式的に示す斜視図である。
ートSを搬送する搬送手段は、搬送ローラーに限られず、ベルトやドラム等であってもよい。
以下に実験例を示し、本発明をより具体的に説明する。なお、本発明は、以下の実験例によって何ら限定されるものではない。
5.1.1. 実施例1
6インチシリコン基板を熱酸化することで、シリコン基板上に二酸化シリコン層を形成した。次に、二酸化シリコン層上に、スパッタ法によってジルコニウム層を形成し、該ジルコニウム層を熱酸化させて酸化ジルコニウム層を作製した。これにより、二酸化シリコン層および酸化ジルコニウム層からなる振動板を形成した。
実施例2は、第2電極を形成した後のRTA装置による加熱処理(RTA処理)の温度を、650℃としたこと以外は、実施例1と同様である。
実施例3は、FA装置による加熱処理(FA処理)を、600℃で5分間としたこと以外は、実施例1と同様である。
実施例4は、FA処理を600℃で5分間とし、さらに、RTA処理を650℃とした
こと以外は、実施例1と同様である。
比較例1は、RTA処理を、行わなかったこと以外は、実施例1と同様である。
比較例2は、FA処理を600℃としたこと以外は、比較例1と同様である。
比較例3は、A/B=1.00とし、脱脂工程の後の90℃の加熱処理を行わず、塗布から結晶化のための加熱処理までの工程を8回繰り返して厚さ約590nmの圧電体層を形成したこと以外は、比較例1と同様である。
比較例4は、A/B=1.04としたこと以外は、比較例3と同様である。
比較例5は、A/B=1.10としたこと以外は、比較例3と同様である。
上記のように作製した実施例1〜4および比較例1〜5の圧電素子のヒステリシス(P−Eヒステリシス)測定を行った。ヒステリシスは、東陽テクニカ社製「FCE−1A」を用い、周波数1kHzで測定した。図8は、実施例1〜4および比較例1,2の飽和分極値Pmを示す表である。図9は、比較例3〜5の飽和分極値Pmを示す表である。図10は、実施例1,2および比較例1のヒステリシス測定の結果を示すグラフである。
上記のように作製した実施例1,2および比較例1の圧電素子のHAADF−STEM測定を行った。HAADF−STEM測定は、日本電子株式会社製「ACCELARM」を用いて行った。
様の周期性が異なる領域の境目や、色(強度)が異なる領域の境目である。
た。
子濃度NNa3(atm%)と、結晶粒含有層の第1電極側に含まれるナトリウムの原子濃度NNa4(atm%)と、の比NNa3/NNa4を示すグラフである。図25は、実施例1および比較例1において、結晶粒含有層の第2電極側に含まれるニオブの原子濃度NNb3(atm%)と、結晶粒含有層の第1電極側に含まれるニオブの原子濃度NNb4(atm%)と、の比NNb3/NNb4を示すグラフである。
Claims (10)
- 基体の上方に設けられた第1電極と、
カリウム、ナトリウム、およびニオブを含む複数の結晶粒を有し、前記第1電極の上方に設けられた圧電体層と、
前記圧電体層の上方に設けられた第2電極と、
を含み、
前記結晶粒の粒界に含まれるカリウムの原子濃度NK1(atm%)、および前記結晶粒に含まれるカリウムの原子濃度NK2(atm%)は、
1.0<NK1/NK2≦2.4
の関係を満たす、圧電素子。 - 請求項1において、
前記粒界に含まれるナトリウムの原子濃度NNa1(atm%)は、前記結晶粒に含まれるナトリウムの原子濃度NNa2(atm%)よりも低い、圧電素子。 - 請求項2において、
前記原子濃度NNa1および前記原子濃度NNa2は、
0.55≦NNa1/NNa2≦0.75
の関係を満たす、圧電素子。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記原子濃度NK1および前記原子濃度NK2は、
1.5≦NK1/NK2≦2.0
の関係を満たす、圧電素子。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記圧電体層は、前記結晶粒を含む層を有し、
前記結晶粒を含む層は、膜厚方向に複数積層され、
前記結晶粒を含む層の前記第2電極側におけるカリウムの原子濃度NK3(atm%)は、前記結晶粒を含む層の前記第1電極側におけるカリウムの原子濃度NK4(atm%)よりも高い、圧電素子。 - 請求項5において、
前記原子濃度NK3および前記原子濃度NK4は、
2.0≦NK3/NK4≦4.0
の関係を満たす、圧電素子。 - 請求項5または6において、
前記結晶粒を含む層の前記第2電極側におけるナトリウムの原子濃度(atm%)は、前記結晶粒を含む層の前記第1電極側におけるナトリウムの原子濃度(atm%)よりも低い、圧電素子。 - 請求項1ないし7のいずれか1項において、
前記粒界の中心におけるカリウムの原子濃度(atm%)は、前記粒界の中心から70nm以上離れた領域におけるカリウムの原子濃度(atm%)よりも高い、圧電素子。 - 請求項1ないし8のいずれか1項において、
前記粒界の中心におけるナトリウムの原子濃度(atm%)は、前記粒界の中心から70nm以上離れた領域におけるナトリウムの原子濃度(atm%)よりも低い、圧電素子
。 - 請求項1ないし9のいずれか1項の圧電素子を含む、液体吐出ヘッド。
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